JPH01256045A - Optical disk check device - Google Patents
Optical disk check deviceInfo
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 78
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 18
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は光ディスク検査装置に関し、特に、トラッキ
ング用アクチュエータを用いたサーボ系を有する光ピッ
クアップによって情報が読取られる光ディスクの傷など
を検査するための光ディスク検査装置に関する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to an optical disc inspection device, and particularly to an optical disc inspection device for inspecting scratches on an optical disc from which information is read by an optical pickup having a servo system using a tracking actuator. The present invention relates to an optical disc inspection device.
[従来の技術]
光ディスク検査装置は、光ディスクに情報を記録するた
めの溝に対してトラッキングサーボをかけ、溝全部に対
して該光ディスクの溝の傷などの検査が行なわれる。こ
れら光ディスク装置においては、トラッキング用のアク
チュエータを用いたサーボ系を有する光ピックアップが
用いられる。[Prior Art] An optical disc inspection device applies tracking servo to grooves for recording information on an optical disc, and inspects all grooves for scratches and the like in the grooves of the optical disc. In these optical disk devices, an optical pickup having a servo system using a tracking actuator is used.
このような光検査装置で検査される光ディスクはできる
限り回転軸への取付偏心量の小さいことが望まれる。It is desired that the optical disk inspected by such an optical inspection device has as little eccentricity as possible when attached to the rotating shaft.
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、通常、光ディスクを内径基準で軸に嵌め
合いする場合、数十ミクロンの偏心を避けることができ
ない。また、光ディスク自体の製作工程において、内径
に対して溝が数十ミクロン偏心してしまっている。した
がって、最悪の場合には、溝は回転中心に対して約10
0ミクロン程度偏心していることになる。このように、
偏心を有する溝にトラッキングサーボをかけて光ディス
クの特性を検査する装置では、その光ピックアップの特
性から、許容偏心量と回転数の関係は第6図に示すよう
な関係となっている。すなわち、第6図から明らかなよ
うに、偏心量の大きな光ディスクに対しては、高速回転
での検査が不可能である。光ディスクの偏心量は各光デ
ィスクのそれぞれによって異なっており、しかも生産ロ
ットによっても異なるため、光ディスクの回転数は最悪
の場合の偏心量に対する低い回転数で行なわなければな
らず、検査に要する時間が長くなってしまうという問題
点があった。[Problems to be Solved by the Invention] However, normally, when an optical disk is fitted onto a shaft based on the inner diameter, eccentricity of several tens of microns cannot be avoided. Furthermore, in the manufacturing process of the optical disk itself, the groove is eccentric by several tens of microns with respect to the inner diameter. Therefore, in the worst case, the groove will be approximately 10
This means that it is eccentric by about 0 microns. in this way,
In an apparatus that tests the characteristics of an optical disk by applying a tracking servo to an eccentric groove, the relationship between the allowable eccentricity and the number of revolutions is as shown in FIG. 6, due to the characteristics of the optical pickup. That is, as is clear from FIG. 6, it is impossible to inspect an optical disk with a large amount of eccentricity at high speed rotation. The amount of eccentricity of an optical disk differs for each optical disk and also varies depending on the production lot, so the rotation speed of the optical disk must be lower than the worst case eccentricity, which increases the time required for inspection. There was a problem with this.
それゆえに、この発明の主たる目的は、偏心量が大きく
ても、成る程度の高速回転で光ディスクを検査できると
ともに、検査の初期時に光ディスクの偏心量をn1定し
、その大小に応じて検査回転数と検査モードを最適なも
のに選定できるような光ディスク検査装置を提供するこ
とである。Therefore, the main object of the present invention is to be able to inspect an optical disk at a high speed rotation even if the amount of eccentricity is large, to fix the amount of eccentricity n1 of the optical disk at the initial stage of the inspection, and to adjust the number of inspection rotations according to the size of the eccentricity n1. An object of the present invention is to provide an optical disk inspection device that can select the optimum inspection mode.
[課題を解決するための具体的な手段]この発明は光デ
ィスクの溝に追従してトラックキングサーボをかけるた
めに、トラッキングサーボループを構成する粗動アクチ
ュエータと微動アクチュエータとを含み、光ディスクの
特性をn1定するための光ディスク検査装置であって、
測定開始時に光ディスクの偏心量を判定する偏心量判定
手段と、粗動アクチュエータの位置を検出する検出手段
と、偏心量判定手段によって光ディスクの偏心量が予め
定める値以下であることが判定されたことに応じて、粗
動アクチュエータのトラッキングサーボループを解除し
て、検出手段の検出出力を粗動アクチュエータに与える
ように切換え、偏心量が予め定める値以上であることが
判定されたことに応じて、粗動アクチュエータのサーボ
ループを閉じるように切換える切換制御手段を備えて構
成したものである。[Specific Means for Solving the Problems] This invention includes a coarse movement actuator and a fine movement actuator that constitute a tracking servo loop in order to follow the grooves of an optical disk and apply a tracking servo. An optical disc inspection device for determining n1,
The eccentricity determining means for determining the eccentricity of the optical disc at the start of measurement, the detecting means for detecting the position of the coarse movement actuator, and the eccentricity determining means determine that the eccentricity of the optical disc is less than or equal to a predetermined value. In response to this, the tracking servo loop of the coarse movement actuator is canceled and the detection output of the detection means is switched to be applied to the coarse movement actuator, and in response to it being determined that the amount of eccentricity is greater than or equal to a predetermined value, The structure includes switching control means for switching to close the servo loop of the coarse movement actuator.
より好ましくは、粗動アクチュエータを直線的に移動可
能な直線スライド機構と、この直線スライド機構を駆動
するためのリニアモータとを含んで構成される。More preferably, it is configured to include a linear slide mechanism capable of linearly moving the coarse movement actuator, and a linear motor for driving the linear slide mechanism.
さらに、微動アクチュエータはスライド機構の上に設け
られ、光ディスクの溝に対して光ビームを照射してその
反射光を受光し、その受光出力に基づいてトラッキング
サーボをかけるための光ピックアップを含んで構成され
る。Furthermore, the fine movement actuator is installed on the slide mechanism and includes an optical pickup that irradiates a light beam onto the groove of the optical disc, receives the reflected light, and applies tracking servo based on the received light output. be done.
[作用]
この発明に係る光ディスク検査装置は、測定開始時に測
定された偏心量が予め定める値以下であれば、微動アク
チュエータのみによってトラッキングサーボループを構
成して先ディスクを高速で回転させ、偏心量が予め定め
る値以上であれば粗動アクチュエータと微動アクチュエ
ータとでトラッキングサーボループを構成して光ディス
クを比較的遅い速度で回転させる。 ・
[発明の実施例]
第1図はこの発明の一実施例の概略ブロック図である。[Function] The optical disk inspection device according to the present invention, if the measured eccentricity at the start of measurement is less than a predetermined value, configures a tracking servo loop using only the fine movement actuator to rotate the previous disk at high speed, and corrects the eccentricity. If is equal to or greater than a predetermined value, the coarse movement actuator and the fine movement actuator constitute a tracking servo loop to rotate the optical disk at a relatively slow speed. - [Embodiment of the invention] FIG. 1 is a schematic block diagram of an embodiment of the invention.
まず、第1図を参照して、この発明の一実施例の概略の
構成について説明する。駆動モータ1によって光ディス
ク2が回転駆動され、光ディスク2に対してトラッキン
グサーボをかけるために粗動アクチュエータとしてのス
ライド機構3と、微動アクチュエータとしての光ピック
アップ4が設けられる。スライド機構3はスライドサー
ボ回路6によって制御され、光ピックアップ4はトラッ
キングサーボ回路5によって制御される。偏心判定回路
8は光ディスク2の検査初期時に偏心量を判定するもの
である。サーボ切換回路7は偏心判定回路によって光デ
ィスク2の偏心量が所定の値以下であることが判定され
たことに応じて、トラッキングサーボ回路5によって光
ピックアップ4をトラッキングサーボ制御させるととも
に、スライドサーボ回路6によるスライド機構3のトラ
ッキングサーボループ制御を解除する。First, referring to FIG. 1, a general configuration of an embodiment of the present invention will be described. An optical disk 2 is rotationally driven by a drive motor 1, and a slide mechanism 3 as a coarse movement actuator and an optical pickup 4 as a fine movement actuator are provided to apply tracking servo to the optical disk 2. The slide mechanism 3 is controlled by a slide servo circuit 6, and the optical pickup 4 is controlled by a tracking servo circuit 5. The eccentricity determination circuit 8 determines the amount of eccentricity at the initial stage of inspection of the optical disc 2. The servo switching circuit 7 causes the tracking servo circuit 5 to perform tracking servo control on the optical pickup 4 in response to the eccentricity determination circuit determining that the amount of eccentricity of the optical disc 2 is less than a predetermined value, and also controls the slide servo circuit 6 The tracking servo loop control of the slide mechanism 3 is canceled.
また、サーボ切換回路7は偏心量が所定の値以上である
ことが判定されたことに応じて、トラッキングサーボ回
路5によって光ピックアップ4をトラッキングサーボ制
御させるとともに、スライドサーボ回路6もトラッキン
グサーボループ内に含めてスライド機構3をトラッキン
グサーボ制御させる。すなわち、光ディスクの偏心量が
小さいときには、光ピックアップ4のみをトラッキング
サーボ制御する1段制御となり、偏心量が大きい場合に
はスライド機構3と光ピックアップ4をトラッキングサ
ーボ制御する2段構成となる。Further, in response to the determination that the amount of eccentricity is greater than or equal to a predetermined value, the servo switching circuit 7 causes the tracking servo circuit 5 to perform tracking servo control on the optical pickup 4, and also causes the slide servo circuit 6 to enter the tracking servo loop. The slide mechanism 3 is controlled by tracking servo. That is, when the amount of eccentricity of the optical disk is small, a one-stage control is performed in which only the optical pickup 4 is subjected to tracking servo control, and when the amount of eccentricity is large, a two-stage configuration is performed in which tracking servo control is performed on the slide mechanism 3 and the optical pickup 4.
第2図は第1図に示したスライド機構の一例を示す要部
斜視図であり、第3図は同じく光ピックアップの概要を
示す図である。FIG. 2 is a perspective view of essential parts of an example of the slide mechanism shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a diagram schematically showing the optical pickup.
次に、第2図および第3図を参照して、スライド機構3
と光ピックアップ4の構成について説明する。スライド
機構3はリニアモータ31を含む。Next, referring to FIGS. 2 and 3, the slide mechanism 3
The configuration of the optical pickup 4 will now be explained. The slide mechanism 3 includes a linear motor 31.
このリニアモータ31はスライド部32を光ディスク2
の中心に向けて直線的にスライドさせるものである。ス
ライド部32の上には光ピックアップ4が載置されてい
る。This linear motor 31 moves the slide section 32 to the optical disk 2.
The object is to be slid linearly toward the center of the object. The optical pickup 4 is placed on the slide portion 32.
光ピックアップ4は第3図に示すように、半導体レーザ
41とコリメータレンズ42とビームスプリッタ43と
1/4波長板44と固定ミラー45と二次元アクチュエ
ータ46と対物レンズ47とレンズ48とハーフミラ−
49と光検出器50とシリンドリカルレンズ51と光検
出器52とを含んで構成される。半導体レーザ41はレ
ーザ光を発光するものであって、このレーザ光はコリメ
ータレンズ42.ビームスプリッタ43. 1/4波長
板44.固定ミラー45および対物レンズ47を介して
光ディスク2に照射される。光ディスク2で反射したレ
ーザ光は対物レンズ47.固定ミラー45.1/4波長
板44.ビームスプリッタ43.レンズ48.ハーフミ
ラ−49を介して光検出器50で検出されるとともに、
ハーフミラ−49で反射され、シリンドリカルレンズ5
1を介して光検出器52によって検出される。二次元ア
クチュエータ46は対物レンズ47を第3図においてa
、 b方向に移動させてフォーカス調整を行ない、c
、d方向に移動させてトラッキング制御を行なう。なお
、第3図に示したような光ピックアップ4は従来から既
に知られているので、詳細な説明は省略する。As shown in FIG. 3, the optical pickup 4 includes a semiconductor laser 41, a collimator lens 42, a beam splitter 43, a quarter-wave plate 44, a fixed mirror 45, a two-dimensional actuator 46, an objective lens 47, a lens 48, and a half mirror.
49, a photodetector 50, a cylindrical lens 51, and a photodetector 52. The semiconductor laser 41 emits laser light, and this laser light passes through the collimator lens 42. Beam splitter 43. 1/4 wavelength plate 44. The light is irradiated onto the optical disc 2 via the fixed mirror 45 and the objective lens 47. The laser beam reflected by the optical disk 2 passes through the objective lens 47. Fixed mirror 45. 1/4 wavelength plate 44. Beam splitter 43. Lens 48. It is detected by the photodetector 50 via the half mirror 49, and
It is reflected by the half mirror 49, and the cylindrical lens 5
1 and is detected by a photodetector 52. The two-dimensional actuator 46 moves the objective lens 47 as shown in FIG.
, move in the b direction to adjust the focus, and c
, d direction to perform tracking control. Incidentally, since the optical pickup 4 as shown in FIG. 3 is already known, detailed explanation will be omitted.
第4図はこの発明の一実施例の具体的なブロック図であ
って、第1図に示した構成をより具体的に示したもので
ある。FIG. 4 is a concrete block diagram of one embodiment of the present invention, which more specifically shows the configuration shown in FIG. 1.
第4図において、リニアモータ31の近傍には、このリ
ニアモータ31の位置を検出するための位置検出器9が
設けられる。位置検出器9によって検出されたリニアモ
ータ31の位置は位置決め指令回路10に与えられる。In FIG. 4, a position detector 9 for detecting the position of the linear motor 31 is provided near the linear motor 31. The position of the linear motor 31 detected by the position detector 9 is given to a positioning command circuit 10.
位置決め指令回路10には位置指令信号が与えられてい
る。位置決め指令回路10は位置検出器9によって検出
されたリニアモータ31の位置と位置指令信号との偏差
を出力してサーボ切換回路7に与える。サーボ切換回路
7は第1図に示した偏心判定回路8の判定出力に基づい
て、位置決め指令回路10の出力側またはゲイン調整回
路67の出力側に切換える。The positioning command circuit 10 is supplied with a position command signal. The positioning command circuit 10 outputs the deviation between the position of the linear motor 31 detected by the position detector 9 and the position command signal, and provides it to the servo switching circuit 7 . The servo switching circuit 7 switches to the output side of the positioning command circuit 10 or the output side of the gain adjustment circuit 67 based on the determination output of the eccentricity determination circuit 8 shown in FIG.
スライドサーボ回路6はゲイン調整回路61と位相補償
回路62とノツチフィルタ63とパワーアンプ64とロ
ーパスフィルタ66とゲイン調整回路67とから構成さ
れ、トラッキングサーボ回路5はトラッキングエラー検
出回路51と位相補償回路52とゲイン調整回路53と
パワーアンプ54とから構成される。トラッキングエラ
ー検出回路51は光ピックアップ4から与えられるトラ
ッキング信号に基づいて、エラーであるか否かを検出す
るものである。トラッキングエラー検出回路51によっ
て検出されたトラッキングエラー検出信号は位相補償回
路52に与えられて位相補償が行なわれ、ゲイン調整回
路53によってゲインが調整された後パワーアンプ54
に与えられる。The slide servo circuit 6 includes a gain adjustment circuit 61, a phase compensation circuit 62, a notch filter 63, a power amplifier 64, a low-pass filter 66, and a gain adjustment circuit 67, and the tracking servo circuit 5 includes a tracking error detection circuit 51 and a phase compensation circuit. 52, a gain adjustment circuit 53, and a power amplifier 54. The tracking error detection circuit 51 detects whether or not there is an error based on the tracking signal given from the optical pickup 4. The tracking error detection signal detected by the tracking error detection circuit 51 is given to the phase compensation circuit 52 to perform phase compensation, and after the gain is adjusted by the gain adjustment circuit 53, it is sent to the power amplifier 54.
given to.
パワーアンプ54はそのトラッキングエラー検出信号に
基づいて、光ピックアップ4に対してトラッキングサー
ボをかける。The power amplifier 54 applies tracking servo to the optical pickup 4 based on the tracking error detection signal.
また、トラッキングエラー検出回路51によって検出さ
れたトラッキングエラー信号はローパスフィルタ66に
与えられ、高周波成分が減衰された後、ゲイン調整回路
67によってゲインが調整される。さらに、サーボ切換
回路7を介してゲイン調整回路61に与えられて再びゲ
イン調整が行なわれ、位相補償回路62によって位相補
償が行なわれた後、フィルタ63によって共振ピークが
減衰される。さらに、トラッキングエラー検出信号はパ
ワーアンプ64で増幅され、パワーアンプ64の出力に
基づいてリニアモータ31が駆動される。Further, the tracking error signal detected by the tracking error detection circuit 51 is given to a low-pass filter 66, and after high frequency components are attenuated, the gain is adjusted by a gain adjustment circuit 67. Further, the signal is applied to the gain adjustment circuit 61 via the servo switching circuit 7 for gain adjustment again, and after phase compensation is performed by the phase compensation circuit 62, the resonance peak is attenuated by the filter 63. Further, the tracking error detection signal is amplified by a power amplifier 64, and the linear motor 31 is driven based on the output of the power amplifier 64.
第5図はこの発明の一実施例における回転数と検査可能
偏心量との関係を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing the relationship between the number of rotations and the amount of eccentricity that can be inspected in one embodiment of the present invention.
次に、第1図ないし第5図を参照して、この発明の一実
施例の具体的な動作について説明する。Next, with reference to FIGS. 1 to 5, a specific operation of an embodiment of the present invention will be described.
偏心判定回路8は光ディスク2の検査初期時に偏心信号
に基づいて、光ディスク2がどの程度偏心しているかを
判定する。偏心判定回路8は第5図のA点に示すように
偏心量が比較的小さい場合、第4図に示したサーボ切換
回路7を位置決め指令回路10側に切換える。位置決め
指令回路10は位置検出器9によって検出されたスライ
ド部32の位置と位置指令信号との差の偏心量に対応し
た信号を出力する。この信号はゲイン調整回路61゜位
相補償回路62.ノツチフィルタ63を介してパワーア
ンプ64に与えられる。パワーアンプ64はリニアモー
タ31を駆動する。The eccentricity determining circuit 8 determines how eccentric the optical disc 2 is based on the eccentricity signal at the initial stage of testing the optical disc 2 . When the amount of eccentricity is relatively small as shown at point A in FIG. 5, the eccentricity determination circuit 8 switches the servo switching circuit 7 shown in FIG. 4 to the positioning command circuit 10 side. The positioning command circuit 10 outputs a signal corresponding to the eccentricity difference between the position of the slide portion 32 detected by the position detector 9 and the position command signal. This signal is transmitted to the gain adjustment circuit 61° and the phase compensation circuit 62. The signal is applied to a power amplifier 64 via a notch filter 63. Power amplifier 64 drives linear motor 31.
このとき、トラッキングエラー検出回路51は光ピック
アップ4から出力された信号に基づいてトラッキングエ
ラーを検出し、トラッキングエラー検出信号を位相補償
回路52.ゲイン調整回路53を介してパワーアンプ5
4に与える。応じて、パワーアンプ54は光ピックアッ
プ4を駆動する。At this time, the tracking error detection circuit 51 detects a tracking error based on the signal output from the optical pickup 4, and transmits the tracking error detection signal to the phase compensation circuit 52. Power amplifier 5 via gain adjustment circuit 53
Give to 4. In response, the power amplifier 54 drives the optical pickup 4.
この場合、第5図に示すように、光ディスク2を比較的
高速で回転させても、トラッキングサーボだけでも偏心
に対して光ピックアップ4を十分に追従させることがで
きる。In this case, as shown in FIG. 5, even if the optical disk 2 is rotated at a relatively high speed, the optical pickup 4 can sufficiently follow the eccentricity using just the tracking servo.
逆に、第5図のB点に示すように偏心量が比較的大きい
場合には、偏心判定回路8はサーボ切換回路7をゲイン
調整回路67の出力側に切換える。Conversely, when the amount of eccentricity is relatively large as shown at point B in FIG. 5, the eccentricity determination circuit 8 switches the servo switching circuit 7 to the output side of the gain adjustment circuit 67.
トラッキグエラー検出回路51によって検出されたトラ
ッキングエラー信号はトラッキングサーボ回路5に与え
られるとともに、ローパスフィルタ66、ゲイン調整回
路67、サーボ切換回路7゜ゲイン調整回路611位相
補償回路62.ノツチフィルタ63を介してパワーアン
プ64に与えられる。パワーアンプ64はトラッキング
エラー検出信号を増幅してリニアモータ31を駆動する
。The tracking error signal detected by the tracking error detection circuit 51 is given to the tracking servo circuit 5, and is also applied to a low-pass filter 66, a gain adjustment circuit 67, a servo switching circuit 7, a gain adjustment circuit 611, a phase compensation circuit 62. The signal is applied to a power amplifier 64 via a notch filter 63. The power amplifier 64 amplifies the tracking error detection signal and drives the linear motor 31.
一方、トラッキングサーボ回路5はトラッキングエラー
検出信号に応じて光ピックアップ4をトラッキングサー
ボしている。すなわち、偏心量が大きい場合には、スラ
イドサーボ回路6によるサーボとトラッキングサーボ回
路5によるトラッキングサーボの2段階のサーボをかけ
ることになる。On the other hand, the tracking servo circuit 5 performs tracking servo on the optical pickup 4 according to the tracking error detection signal. That is, when the amount of eccentricity is large, two stages of servo are applied: servo by the slide servo circuit 6 and tracking servo by the tracking servo circuit 5.
この場合、第5図に示すように、光ディスク2を比較的
低速で回転させ、トラッキングサーボとスライドサーボ
をかけることにより、偏心に対して十分に追従させるこ
とができる。In this case, as shown in FIG. 5, by rotating the optical disk 2 at a relatively low speed and applying tracking servo and slide servo, it is possible to sufficiently follow the eccentricity.
[発明の効果]
以上のように、この発明によれば、偏心量が小さい場合
には粗動アクチュエータをトラッキングサーボループ系
から切り離し、粗動アクチュエータの位置検出出力に基
づいて粗動アクチュエータを制御するとともに、微動ア
クチュエータにトラッキングサーボをかけ、偏心量が大
きい場合には粗動アクチュエータと微動アクチュエータ
にトラッキングサーボをかけるようにしたので、検査回
転数と検査モードを最適なものに選ぶことができる。[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, when the amount of eccentricity is small, the coarse actuator is separated from the tracking servo loop system, and the coarse actuator is controlled based on the position detection output of the coarse actuator. In addition, tracking servo is applied to the fine movement actuator, and when the amount of eccentricity is large, tracking servo is applied to the coarse movement actuator and fine movement actuator, so the inspection rotation speed and inspection mode can be optimally selected.
第1図はこの発明の一実施例の概略ブロック図である。
第2図は光ディスクを検査するための直線スライド機構
を示す外観斜視図である。第3図はトラッキングアクチ
ュエータを示す図である。
第4図はこの発明の一実施例の具体的なブロック図であ
る。第5図はこの発明の一実施例における光ディスクの
回転数と検査可能偏心量との関係を示す図である。第6
図は従来のディスク検査装置における回転数と検査可能
な偏心量との関係を示す図である。
図において、1は駆動モータ、2は光ディスク、3はス
ライド機構、4は光ピックアップ、5はトラッキングサ
ーボ回路、6はスライドサーボ回路、判
7はサーボ切換回路、8は偏心錯定回路、9は位置検出
器、51はトラッキングエラー検出回路、52.62は
位相補償回路、53.61.67はゲイン調整回路、5
4.64はパワーアンプ、66はローパスフィルタを示
す。FIG. 1 is a schematic block diagram of an embodiment of the present invention. FIG. 2 is an external perspective view showing a linear slide mechanism for inspecting optical discs. FIG. 3 is a diagram showing the tracking actuator. FIG. 4 is a concrete block diagram of an embodiment of the present invention. FIG. 5 is a diagram showing the relationship between the number of rotations of an optical disk and the amount of eccentricity that can be tested in one embodiment of the present invention. 6th
The figure is a diagram showing the relationship between the rotational speed and the amount of eccentricity that can be tested in a conventional disk testing device. In the figure, 1 is a drive motor, 2 is an optical disk, 3 is a slide mechanism, 4 is an optical pickup, 5 is a tracking servo circuit, 6 is a slide servo circuit, size 7 is a servo switching circuit, 8 is an eccentricity illusion circuit, and 9 is an eccentricity illusion circuit. Position detector, 51 is a tracking error detection circuit, 52.62 is a phase compensation circuit, 53.61.67 is a gain adjustment circuit, 5
4.64 is a power amplifier, and 66 is a low-pass filter.
Claims (3)
をかけるために、トラッキングサーボループを構成する
粗動アクチュエータと微動アクチュエータとを含み、前
記光ディスクの特性を測定するための光ディスク検査装
置であって、測定開始時に前記光ディスクの偏心量を判
定する偏心量判定手段と、 前記粗動アクチュエータの位置を検出する検出手段と、 前記偏心量判定手段によって前記光ディスクの偏心量が
予め定める値以下であることが判定されたことに応じて
、前記粗動アクチュエータのトラッキングサーボループ
を解除して、前記検出手段の検出出力を該粗動アクチュ
エータに与えるように切換え、前記偏心量が予め定める
値以上であることが判定されたことに応じて、前記粗動
アクチュエータのサーボループを閉じるように切換える
切換制御手段を備えた、光ディスク検査装置。(1) An optical disc inspection device for measuring the characteristics of the optical disc, including a coarse movement actuator and a fine movement actuator forming a tracking servo loop in order to follow the grooves of the optical disc and apply a tracking servo, an eccentricity determining means for determining the eccentricity of the optical disc at the start of measurement; a detecting means for detecting the position of the coarse movement actuator; In response to the determination, the tracking servo loop of the coarse movement actuator is canceled and the detection output of the detection means is switched to be applied to the coarse movement actuator, and the eccentricity is determined to be equal to or greater than a predetermined value. An optical disc inspection device comprising a switching control means for switching to close a servo loop of the coarse movement actuator in accordance with the determination.
を含む、請求項1項記載の光ディスク検査装置。(2) The optical disc inspection apparatus according to claim 1, wherein the coarse movement actuator includes: a linear slide mechanism capable of moving linearly; and a linear motor for driving the linear slide mechanism.
上に設けられ、前記光ディスクの溝に対して光ビームを
照射してその反射光を受光し、その受光出力に基づいて
トラッキングサーボをかけるための光ピックアップを含
む、請求項2項記載の光ディスク検査装置。(3) The fine movement actuator is provided on the slide mechanism, irradiates the groove of the optical disk with a light beam, receives the reflected light, and applies a tracking servo based on the received light output. The optical disc inspection device according to claim 2, further comprising a pickup.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8258588A JPH01256045A (en) | 1988-04-04 | 1988-04-04 | Optical disk check device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8258588A JPH01256045A (en) | 1988-04-04 | 1988-04-04 | Optical disk check device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01256045A true JPH01256045A (en) | 1989-10-12 |
Family
ID=13778557
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8258588A Pending JPH01256045A (en) | 1988-04-04 | 1988-04-04 | Optical disk check device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01256045A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6452882B1 (en) | 1997-05-07 | 2002-09-17 | Nec Corporation | Method of compensating for an eccentricity of an optical disc and apparatus for doing the same |
US9141786B2 (en) | 1996-11-08 | 2015-09-22 | Finjan, Inc. | Malicious mobile code runtime monitoring system and methods |
US9219755B2 (en) | 1996-11-08 | 2015-12-22 | Finjan, Inc. | Malicious mobile code runtime monitoring system and methods |
US10552603B2 (en) | 2000-05-17 | 2020-02-04 | Finjan, Inc. | Malicious mobile code runtime monitoring system and methods |
-
1988
- 1988-04-04 JP JP8258588A patent/JPH01256045A/en active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US9141786B2 (en) | 1996-11-08 | 2015-09-22 | Finjan, Inc. | Malicious mobile code runtime monitoring system and methods |
US9189621B2 (en) | 1996-11-08 | 2015-11-17 | Finjan, Inc. | Malicious mobile code runtime monitoring system and methods |
US9219755B2 (en) | 1996-11-08 | 2015-12-22 | Finjan, Inc. | Malicious mobile code runtime monitoring system and methods |
US9444844B2 (en) | 1996-11-08 | 2016-09-13 | Finjan, Inc. | Malicious mobile code runtime monitoring system and methods |
US6452882B1 (en) | 1997-05-07 | 2002-09-17 | Nec Corporation | Method of compensating for an eccentricity of an optical disc and apparatus for doing the same |
US6826135B2 (en) | 1997-05-07 | 2004-11-30 | Nec Corporation | Method of compensating for an eccentricity of an optical disk and apparatus for doing the same |
US10552603B2 (en) | 2000-05-17 | 2020-02-04 | Finjan, Inc. | Malicious mobile code runtime monitoring system and methods |
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