JPH01201131A - Airtightness testing method - Google Patents
Airtightness testing methodInfo
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- JPH01201131A JPH01201131A JP2599388A JP2599388A JPH01201131A JP H01201131 A JPH01201131 A JP H01201131A JP 2599388 A JP2599388 A JP 2599388A JP 2599388 A JP2599388 A JP 2599388A JP H01201131 A JPH01201131 A JP H01201131A
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- bellows
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- airtightness
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- Pending
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
ベローズの気密試験方法に関し、
ベローズの耐久性を損なうことなく気密試験を行うこと
を目的とし、
ベローズ内部を真空にすると同時に該ベローズ外部も真
空にすることにより、該ベローズに圧力差に起因する応
力をかけずに気密性を試験することで気密試験方法を構
成する。[Detailed Description of the Invention] [Summary] Regarding the airtightness test method for bellows, the purpose is to conduct the airtightness test without impairing the durability of the bellows, by evacuating the inside of the bellows and simultaneously evacuating the outside of the bellows. , constitutes an airtightness test method by testing the airtightness without applying stress due to pressure difference to the bellows.
本発明はベローズの気密試験方法に関する。 The present invention relates to a method for testing the airtightness of bellows.
大量の情報を高速に処理する必要性から情報処理装置の
進歩は著しく、この装置の主体を構成する半導体素子は
大容量化が進んでLSIやVLSIが実用化されている
。BACKGROUND OF THE INVENTION Due to the need to process large amounts of information at high speed, information processing devices have made remarkable progress, and the semiconductor elements forming the main body of these devices have increased in capacity, and LSIs and VLSIs have come into practical use.
こ\で、これら半導体素子の実装法としてはアルミナ(
α−A l zOi)などのセラミックスからなる多層
配vA基板の上にLSIパッケージをマトリックス状に
装着して使用するが、LSIパッケージに格納しである
LSIチップの消費電力が大きいために、発熱が著しく
、従来のような強制空冷方式ではもはやLSIチップの
温度を最高使用温度内に保持することは困難になってき
ている。Now, as a mounting method for these semiconductor elements, alumina (
LSI packages are mounted in a matrix on a multi-layered VA board made of ceramics such as α-Al zOi), but the LSI chips housed in the LSI package consume a lot of power and generate heat. It has become extremely difficult to maintain the temperature of LSI chips within the maximum operating temperature using the conventional forced air cooling method.
そこで、従来の空冷に代わって液冷による冷却法が+i
討されており、その一つとしてLSIパッケージにおい
て、LSIチップを搭載した伝熱基板の上にベローズを
備えた弾性伝熱素子を密着させ、この弾性伝熱素子の中
に冷却水を通すことにより伝熱基板を強制冷却する方法
が考えられている。Therefore, instead of conventional air cooling, liquid cooling is used as a cooling method.
One example of this is that in LSI packages, an elastic heat transfer element with bellows is placed in close contact with the heat transfer substrate on which the LSI chip is mounted, and cooling water is passed through the elastic heat transfer element. A method of forcibly cooling the heat transfer substrate is being considered.
こ\で、基板上にマトリックス状に配列しているLSI
パッケージのイ云熱基牟反にマトリックス状に配列して
形成されている弾性伝熱素子を密着させて水冷するには
弾性伝熱素子が弾性を備えて形成されていることが必要
である。Here, the LSIs arranged in a matrix on the board
In order to water-cool the elastic heat transfer elements arranged in a matrix on the thermal base of the package in close contact with each other, the elastic heat transfer elements must be formed with elasticity.
本発明はか\る用途に使用されるベローズの試験法に関
するものである。The present invention relates to a method for testing bellows used in such applications.
ベローズはベリリウム・% (Be−Cu) + H青
銅など弾性をもつ金属を用い、側面が“ひだ”からなる
円筒状に形成されているが、こ\で使用するベローズは
一方の端面が銅(Cu)など熱伝導のよい伝熱板で封止
されている。The bellows are made of an elastic metal such as beryllium% (Be-Cu) + H bronze, and are formed into a cylindrical shape with folds on the sides; however, the bellows used here has one end surface made of copper ( It is sealed with a heat transfer plate with good thermal conductivity such as Cu).
か\るベローズの気密試験法としては第3図に示すよう
に0リング1を排気孔2の上部に備えた取りつけ治具3
をヘリウム(He)リークディテクタのテストポートに
挿入した後にOリング1を介して試験すべきベローズ4
を置き、排気系を動作させてベローズ4の内部を10−
’ torr程度に減圧した状態で、ベローズ4の外
側からlieガスを吹き付け、ベローズ4を通過したH
eガスを質量分析する方法で気密性の測定が行われてい
た。As shown in Fig. 3, the airtightness test method for bellows is as follows:
The bellows 4 to be tested through the O-ring 1 after being inserted into the test port of the helium (He) leak detector
and operate the exhaust system to make the inside of bellows 4 10-
' With the pressure reduced to approximately torr, lie gas is blown from the outside of the bellows 4, and the H that has passed through the bellows 4 is
Airtightness was measured by mass spectrometry of e-gas.
然し、この方法によるとベローズ4の内外で生じた大き
な気圧差によりベローズ4に変形が生ずる。However, according to this method, the bellows 4 is deformed due to a large pressure difference between the inside and outside of the bellows 4.
第2図はベローズ4の排気前の断面図(A)と排気後の
断面図(B)であって、ベローズ4が弾性金属で構成さ
れているために排気後には極度の収縮が起って耐久性が
低下し、材質によっては永久変形を起こして不良品とな
ると云う問題があり、試験法の改良が必要であった。FIG. 2 is a cross-sectional view (A) of the bellows 4 before evacuation and a cross-sectional view (B) after evacuation, and since the bellows 4 is made of elastic metal, extreme contraction occurs after evacuation. There were problems in that durability decreased and, depending on the material, permanent deformation occurred, resulting in defective products, and it was necessary to improve the testing method.
(発明が解決しようとする課題〕
以上記したように有底ベローズについて気密性をHeリ
ークディテクタを用いて試験する場合、従来法ではベロ
ーズの内外で大きな気圧差を生ずるために、ベローズに
極度の変形が起こり、耐久性を低下すると共に使用材質
によっては永久変形のため不良となることが問題である
。(Problems to be Solved by the Invention) As described above, when testing the airtightness of a bottomed bellows using a He leak detector, the conventional method creates a large pressure difference between the outside and the outside of the bellows. The problem is that deformation occurs, reducing durability and, depending on the material used, causing permanent deformation and resulting in defects.
上記の問題は第1の電磁弁と第1の電磁リーク弁を持ち
、ヘリウムリークディテクタに接続する排気路を中央に
備えた試料台の上に試験するベローズを設置すると共に
、該試料台を内部に備えた真空チャンバの上部に0リン
グを介して排気系に繋がる排気路を遮断する第2の電磁
弁とヘリウムガス供給用の第3の電磁弁と第2の電磁リ
ーク弁とを備えた気密試験装置を用い、
第1の電磁弁と第2の電磁弁を同時に開き、前記ベロー
ズの内外を真空に減圧した後、第2の電磁弁を閉じて第
3の電磁弁を開け、前記真空チャンバ内を減圧したヘリ
ウムガス雰囲気とし、ベローズの気密性をヘリウムリー
クディテクタにより検出する気密試験方法の使用により
解決することができる。The above problem is solved by installing a bellows to be tested on a sample stand that has a first electromagnetic valve and a first electromagnetic leak valve, and has an exhaust path in the center that connects to a helium leak detector. An airtight vacuum chamber equipped with a second solenoid valve for shutting off the exhaust path connected to the exhaust system via an O-ring, a third solenoid valve for helium gas supply, and a second solenoid leak valve at the top of the vacuum chamber prepared for Using a test device, open the first solenoid valve and the second solenoid valve at the same time to reduce the pressure inside and outside the bellows to a vacuum, then close the second solenoid valve and open the third solenoid valve to reduce the pressure in the vacuum chamber. This can be solved by using an airtightness test method in which a helium gas atmosphere is created under reduced pressure and the airtightness of the bellows is detected using a helium leak detector.
本発明は有底ベローズのように容易に変形する部品の気
密性を試験する場合にHe’J−クディテク夕の感度は
非常に優れていることから従来のように約8桁におよぶ
気圧差(ベローズ外760torr、ベローズ内約10
−’torr)がなくとも1桁程度の気圧差があれば従
来と同じ精度でリークの有無を検出でき、一方、ベロー
ズは殆ど変形しないことを確かめた結果なされたもので
ある。When testing the airtightness of easily deformed parts such as bottomed bellows, the sensitivity of the He'J-Kuditech tester is very excellent. 760 torr outside the bellows, approximately 10 torr inside the bellows
This was done after confirming that the presence or absence of a leak can be detected with the same precision as in the past even if there is an air pressure difference of about 1 digit even without the presence of a pressure difference of -'torr), while the bellows hardly deforms.
そして、Heリークディテクタを構成する質量分析器は
高真空でなければ動作しないことから、この1桁程度の
気圧差を高真空状態で実現することとし、ベローズを気
密容器の中に設置すると共にベローズの内外から同時に
排気して高真空状態とした後、ベローズ外部の排気路を
閉じてHeガスを供給し、ベローズの大きな変形が起こ
らない程度の気圧差を実現するものである。Since the mass spectrometer that makes up the He leak detector cannot operate unless it is in a high vacuum, we decided to achieve this one-digit pressure difference in a high vacuum state, and installed the bellows in an airtight container. After simultaneously evacuating the inside and outside of the bellows to create a high vacuum state, the exhaust path outside the bellows is closed and He gas is supplied to achieve a pressure difference that does not cause large deformation of the bellows.
このような方法をとることによりベローズの耐久性能を
損なうことなくリークの有無を検出することができる。By adopting such a method, the presence or absence of a leak can be detected without impairing the durability of the bellows.
第1図は本発明の実施に使用した気密試験装置の断面図
である。FIG. 1 is a cross-sectional view of the airtightness testing apparatus used in carrying out the present invention.
この装置はベローズ4を設置する真空チャンバ5を内部
に備えた保持部6と蓋部7とから構成されている。This device is composed of a holding part 6 and a lid part 7, each of which has a vacuum chamber 5 in which a bellows 4 is installed.
そして、保持部6は真空チャンバ5の中に試料台8があ
り、Oリング9を介してベローズ4が設置される。The holding unit 6 includes a sample stage 8 in a vacuum chamber 5, and a bellows 4 is installed via an O-ring 9.
こ\で、試料台8の中央に達する排気路10には第1の
電磁弁11と第1の電磁リーク弁12が設けられていて
、排気路10の先端に設けである取り付は部13をli
eリークディテクタのテストポートに挿入して固定する
よう構成されている。Here, the exhaust path 10 reaching the center of the sample stage 8 is provided with a first solenoid valve 11 and a first electromagnetic leak valve 12, and the mounting part 13 is provided at the tip of the exhaust path 10. li
It is configured to be inserted and fixed into the test port of the e-leak detector.
また、か\る保持部6の上面には溝が設けられていてO
リング14が嵌め込まれている。In addition, a groove is provided on the upper surface of the holding part 6.
A ring 14 is fitted.
次に、蓋部7には排気系を開閉する第2の電磁弁15.
第2の電磁リーク弁16およびI(eガスの通路を開閉
する第3の電磁弁17が備えられている。Next, the lid part 7 has a second solenoid valve 15 that opens and closes the exhaust system.
A second electromagnetic leak valve 16 and a third electromagnetic valve 17 for opening and closing the I(e gas passage) are provided.
か\る気密試験装置を用いる試験法としては、全部の電
磁弁11.12.15.16.17が閉じである状態で
ベローズ4をOリング9を介して試料台8の上に設置し
、蓋部7を保持部6の上に0リング14を介して装着す
る。As a test method using such an airtight test device, the bellows 4 is placed on the sample stage 8 via the O-ring 9 with all the solenoid valves 11, 12, 15, 16, 17 closed, The lid part 7 is attached onto the holding part 6 via the O-ring 14.
次に第1の電磁弁11と第2の電磁弁15を同時に開き
、ベローズ4の内外を約1O−6torrにまで排気す
る。Next, the first solenoid valve 11 and the second solenoid valve 15 are simultaneously opened to exhaust the inside and outside of the bellows 4 to approximately 1 O-6 torr.
所定の真空度に達した後は第2の電磁弁15を閉じ、第
3の電磁弁17を開けて少量のHeガスを導入して10
−’torrにまで下げ、この状態で)Heリークディ
テクタによりリークの有無を検出する。After reaching a predetermined degree of vacuum, the second solenoid valve 15 is closed, the third solenoid valve 17 is opened, and a small amount of He gas is introduced.
-'torr, and in this state, the presence or absence of a leak is detected by a He leak detector.
試験終了の後は第1の電磁弁11と第3の電磁弁17を
閉じ、第1の電磁リーク弁12と第2の電磁リーク弁1
6を同時に開いてベローズ4の内外を大気圧にして取り
出す。After the test is completed, the first solenoid valve 11 and the third solenoid valve 17 are closed, and the first solenoid leak valve 12 and the second solenoid leak valve 1 are closed.
6 at the same time to bring the inside and outside of the bellows 4 to atmospheric pressure and take it out.
このような方法をとることによりベローズ4に殆ど変形
を生ずることなく気密試験を行うことができる。By adopting such a method, the airtightness test can be performed without causing almost any deformation of the bellows 4.
本発明の実施により、ベローズの耐久性の低下や永久変
形を生ずることなく、ベローズの気密性試験を行うこと
が可能になる。By implementing the present invention, it becomes possible to perform airtightness tests on bellows without reducing durability or causing permanent deformation of the bellows.
第1図は本発明の実施に使用した気密試験装置の断面図
、
第2図(A)、 (B)はベローズの変形状態を説明
する断面図、
第3図は従来の気密試験法を説明する断面図、である。
図において、
1.9.14はOリング、 4はベローズ、6は保持
部、 7は蓋部、
8は試料台、 11は第1の電磁弁、12は
第1の電磁リーク弁、15は第2の電磁弁、16は第2
の電磁リーク弁、17は第3の電磁弁、である。
坪気府 瀝気伏
芋3 図Figure 1 is a cross-sectional view of the airtightness test device used to implement the present invention, Figures 2 (A) and (B) are cross-sectional views explaining the deformed state of the bellows, and Figure 3 is an explanation of the conventional airtightness test method. FIG. In the figure, 1.9.14 is an O-ring, 4 is a bellows, 6 is a holding part, 7 is a lid part, 8 is a sample stage, 11 is a first electromagnetic valve, 12 is a first electromagnetic leak valve, and 15 is a a second solenoid valve, 16 is a second solenoid valve;
The electromagnetic leak valve 17 is a third electromagnetic valve. Tsubokifu Seikifuimo 3 Figure
Claims (2)
密試験方法において、 ベローズ内部を真空にすると同時に該ベローズ外部も真
空にすることにより、該ベローズに圧力差に起因する応
力をかけずに気密性を試験することを特徴とする気密試
験方法。(1) In a bellows airtightness test method using a helium leak detector, the airtightness is tested without applying stress to the bellows due to pressure differences by creating a vacuum inside the bellows and simultaneously creating a vacuum outside the bellows. An airtightness test method characterized by:
2)を持ち、ヘリウムリークディテクタに接続する排気
路(10)を中央に備えた試料台(8)の上に試験する
ベローズ(4)を設置すると共に、該試料台(8)を内
部に備えた真空チャンバ(5)の上部にOリング(14
)を介して排気系に繋がる排気路を遮断する第2の電磁
弁(15)とヘリウムガス供給用の第3の電磁弁(17
)と第2の電磁リーク弁(16)とを備えた気密試験装
置を用い、 第1の電磁弁(11)と第2の電磁弁(15)を同時に
開き、前記ベローズ(4)の内外を真空に減圧した後、
第2の電磁弁(15)を閉じて第3の電磁弁(17)を
開け、前記真空チャンバ(5)を減圧したヘリウムガス
雰囲気とし、ベローズ(4)の気密性をヘリウムリーク
ディテクタにより検出することを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の気密試験方法。(2) First solenoid valve (11) and first solenoid leak valve (1
2), the bellows (4) to be tested is installed on a sample stand (8) equipped with an exhaust path (10) connected to a helium leak detector in the center, and the sample stand (8) is provided inside. An O-ring (14) is attached to the top of the vacuum chamber (5).
) and a third solenoid valve (17) for supplying helium gas.
) and a second electromagnetic leak valve (16), open the first electromagnetic valve (11) and the second electromagnetic valve (15) at the same time, and check the inside and outside of the bellows (4). After reducing the pressure to vacuum,
The second solenoid valve (15) is closed and the third solenoid valve (17) is opened to create a reduced pressure helium gas atmosphere in the vacuum chamber (5), and the airtightness of the bellows (4) is detected by a helium leak detector. An airtightness test method according to claim 1, characterized in that:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2599388A JPH01201131A (en) | 1988-02-05 | 1988-02-05 | Airtightness testing method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2599388A JPH01201131A (en) | 1988-02-05 | 1988-02-05 | Airtightness testing method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01201131A true JPH01201131A (en) | 1989-08-14 |
Family
ID=12181240
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2599388A Pending JPH01201131A (en) | 1988-02-05 | 1988-02-05 | Airtightness testing method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01201131A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5251471A (en) * | 1992-04-09 | 1993-10-12 | Minten Joseph C | Device to test the bellows of a stern drive motor for leakage |
| JP2002267565A (en) * | 2001-03-08 | 2002-09-18 | Yamaha Fine Technologies Co Ltd | Leak test apparatus and leak test method |
| KR100359995B1 (en) * | 2000-11-22 | 2002-11-07 | 한국기계연구원 | Apparatus for testing leakage of o-ring use for semiconductor equipment |
| CN114486115A (en) * | 2021-12-30 | 2022-05-13 | 合肥鑫波焊接波纹管有限公司 | A bellows vacuum leak detection device |
-
1988
- 1988-02-05 JP JP2599388A patent/JPH01201131A/en active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5251471A (en) * | 1992-04-09 | 1993-10-12 | Minten Joseph C | Device to test the bellows of a stern drive motor for leakage |
| KR100359995B1 (en) * | 2000-11-22 | 2002-11-07 | 한국기계연구원 | Apparatus for testing leakage of o-ring use for semiconductor equipment |
| JP2002267565A (en) * | 2001-03-08 | 2002-09-18 | Yamaha Fine Technologies Co Ltd | Leak test apparatus and leak test method |
| CN114486115A (en) * | 2021-12-30 | 2022-05-13 | 合肥鑫波焊接波纹管有限公司 | A bellows vacuum leak detection device |
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