JPH01161801A - 高速パルス用終端抵抗アレイ - Google Patents
高速パルス用終端抵抗アレイInfo
- Publication number
- JPH01161801A JPH01161801A JP62320968A JP32096887A JPH01161801A JP H01161801 A JPH01161801 A JP H01161801A JP 62320968 A JP62320968 A JP 62320968A JP 32096887 A JP32096887 A JP 32096887A JP H01161801 A JPH01161801 A JP H01161801A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resistor array
- conductor pattern
- resistor
- circuit board
- resistors
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Logic Circuits (AREA)
- Non-Reversible Transmitting Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
この発明は、ハイブリッド型の高速パルス用終端抵抗ア
レイに関するものである。さらに詳しくは、この発明は
、高速パルスに対して反射を少なくするための終端処理
を施すことにより、高い実装密度で、かつ、高速ディジ
タル信号の終端抵抗として利用することのできる垂直取
付は型の高速パルス用終端抵抗アレイに関するものであ
る。
レイに関するものである。さらに詳しくは、この発明は
、高速パルスに対して反射を少なくするための終端処理
を施すことにより、高い実装密度で、かつ、高速ディジ
タル信号の終端抵抗として利用することのできる垂直取
付は型の高速パルス用終端抵抗アレイに関するものであ
る。
(背景技術)
近年、AVa器や産業機器等において、ディジタル信号
処理による高性能化、高品質化が増々重要となってきて
いる。ずなわち、ディジタル処理や大容量のデータを高
速で処理することが必要となってきており、この事情に
応じて高速ディジタル処理技術の開発が各方面で進めら
れてきている。
処理による高性能化、高品質化が増々重要となってきて
いる。ずなわち、ディジタル処理や大容量のデータを高
速で処理することが必要となってきており、この事情に
応じて高速ディジタル処理技術の開発が各方面で進めら
れてきている。
しかしながら、LSI技術の進展によってLSI等の機
能部品の高速化、高集積化は目ざましく進展しているも
のの、これらとは対照的に、抵抗体などの受動部品につ
いてはその高速化、高集積化が遅れているのが現状であ
る。このなめ、高速ディジタル処理回路に使用すること
のできる、インピーダンス整合性能が優れ、実装密度の
高い終端抵抗部品の実現が強く望まれていた。
能部品の高速化、高集積化は目ざましく進展しているも
のの、これらとは対照的に、抵抗体などの受動部品につ
いてはその高速化、高集積化が遅れているのが現状であ
る。このなめ、高速ディジタル処理回路に使用すること
のできる、インピーダンス整合性能が優れ、実装密度の
高い終端抵抗部品の実現が強く望まれていた。
たとえば、従来のロジック回路において用いられている
抵抗アレイには、信号線のバイアス等に使用されるハイ
ブリッド型抵抗アレイがあるが、これは、実装密度が高
く、抵抗値の種類も豊富である反面、高速ロジック回路
に必要な周波数帯域の広い信号に対してはクロストーク
やインピーダンスの周波数特性が悪く、高速ディジタル
回路には使用できないという問題があった。
抵抗アレイには、信号線のバイアス等に使用されるハイ
ブリッド型抵抗アレイがあるが、これは、実装密度が高
く、抵抗値の種類も豊富である反面、高速ロジック回路
に必要な周波数帯域の広い信号に対してはクロストーク
やインピーダンスの周波数特性が悪く、高速ディジタル
回路には使用できないという問題があった。
その具体例としては、現在数も多く使用されているシン
グルインライン垂直取付は型ハイブリッド抵抗アレイ(
抵抗ネットワーク)があるが、基板の同一表面上に導電
パターンと抵抗ノ、<ターンが形成された後に、各抵抗
素子の一端が共通の導電パターンに接続され、この導電
パターンが一つの回路取付は用ピン端子に接続されてい
るのが一般的である。また、抵抗体を分割しているもの
らあるが、一般には一つのスI・ライブ状の抵抗体を用
いて、端子部だけを分割した抵抗アレイとなっている。
グルインライン垂直取付は型ハイブリッド抵抗アレイ(
抵抗ネットワーク)があるが、基板の同一表面上に導電
パターンと抵抗ノ、<ターンが形成された後に、各抵抗
素子の一端が共通の導電パターンに接続され、この導電
パターンが一つの回路取付は用ピン端子に接続されてい
るのが一般的である。また、抵抗体を分割しているもの
らあるが、一般には一つのスI・ライブ状の抵抗体を用
いて、端子部だけを分割した抵抗アレイとなっている。
これらの−殻内な構造を持つ抵抗アレイは、各抵抗素子
に接続される信号のクロストークを増加させ、素子間の
インピーダンスのばらつきを増加させるという問題を有
していた。
に接続される信号のクロストークを増加させ、素子間の
インピーダンスのばらつきを増加させるという問題を有
していた。
また、デュアルインライン水平取付は型抵抗アレイは、
実装密度が低く、かつ基板上の回路パターンから抵抗体
までの距離が長くなりインダクティブとなり易いという
問題を有してもいた。
実装密度が低く、かつ基板上の回路パターンから抵抗体
までの距離が長くなりインダクティブとなり易いという
問題を有してもいた。
(発明の目的)
この発明は、以上の通りの事情に鑑みてなされたもので
あり、従来の抵抗アレイの欠点を改善し、実装密度の高
い垂直取付は型抵抗アレイを基本とし、かつ高速パルス
に対して反射の少ない終端処理を施すことにより、クロ
ストークを除去し、インピーダンス整合性能を良好とし
た高速パルス用終端抵抗アレイを提供することを目的と
している。
あり、従来の抵抗アレイの欠点を改善し、実装密度の高
い垂直取付は型抵抗アレイを基本とし、かつ高速パルス
に対して反射の少ない終端処理を施すことにより、クロ
ストークを除去し、インピーダンス整合性能を良好とし
た高速パルス用終端抵抗アレイを提供することを目的と
している。
(発明の開示)
この発明の高速パルス用終端抵抗アレイは、上記の目的
を実現するために、垂直取付は型ハイブリッド抵抗アレ
イを装着した基板の裏面全体を導体パターンで被覆し、
該導体パターンを抵抗アレイの共通電極としたことを特
徴としている。
を実現するために、垂直取付は型ハイブリッド抵抗アレ
イを装着した基板の裏面全体を導体パターンで被覆し、
該導体パターンを抵抗アレイの共通電極としたことを特
徴としている。
添付した図面により、この発明について詳しく説明する
。
。
第1図(a)(b)は、この発明の高速パルス用終端抵
抗アレイの一例を示している。第1図(a)はその正断
面図、第1図(b)は側断面図を示している。
抗アレイの一例を示している。第1図(a)はその正断
面図、第1図(b)は側断面図を示している。
この例に示したように、抵抗体(1)を装着した基板(
2)の裏面全体を導体パターン(3)でコーティングし
、この導体パターン(3)を抵抗体(1)の共通Thf
liとし、かつグランドパターン(4)としている、こ
れにより、並列に入力した高速パルスの反射を少なくし
、かつ各抵抗体間のクロストークを除くことを可能とし
ている。
2)の裏面全体を導体パターン(3)でコーティングし
、この導体パターン(3)を抵抗体(1)の共通Thf
liとし、かつグランドパターン(4)としている、こ
れにより、並列に入力した高速パルスの反射を少なくし
、かつ各抵抗体間のクロストークを除くことを可能とし
ている。
ここで、基板(2)としては、絶縁性、熱伝導性、抵抗
体、導電体などとの密着性が優れたものが好ましく、た
とえば、アルミナ成分96%以上のアルミナ等のセラミ
ック基板を使用することができる。
体、導電体などとの密着性が優れたものが好ましく、た
とえば、アルミナ成分96%以上のアルミナ等のセラミ
ック基板を使用することができる。
抵抗体(1)としては、酸化ルテニウムおよびガラスを
主成分とする厚膜や、Ni 、Crを用いた薄膜を用い
、基板(2)上にスクリーン印刷やホトリソグラフィ・
マスク蒸着等の手段によりパターン化することができる
。
主成分とする厚膜や、Ni 、Crを用いた薄膜を用い
、基板(2)上にスクリーン印刷やホトリソグラフィ・
マスク蒸着等の手段によりパターン化することができる
。
導体パターン(3)あるいはグランドパターン(4)と
しては、耐熱性、密着性を考慮して、適宜に選択するこ
とができる。現在、半田付けでの電極割れを防止するた
めに使用されている八〇・pd導電ペースト、Niメツ
’r、5n−Pbメツ”f O’)三層構造の電極材料
は、生産ラインの効率性を考えると好適なものの一つで
ある。
しては、耐熱性、密着性を考慮して、適宜に選択するこ
とができる。現在、半田付けでの電極割れを防止するた
めに使用されている八〇・pd導電ペースト、Niメツ
’r、5n−Pbメツ”f O’)三層構造の電極材料
は、生産ラインの効率性を考えると好適なものの一つで
ある。
導体パターン(3)は基板(2)の裏面全体をコーティ
ングし、一方、グランドパターン(4)は各抵抗体(1
)の共通の電極として形成し、両者を接続することがで
きる。電気的接続は、セラミック等からなる基板(2)
の側面まで、両者をコーティングすることによって実現
される。また、−殻内なスルーホールの技術によって両
面の導体パターン(3)とグランドパターン(4)とを
接続することも可能である。
ングし、一方、グランドパターン(4)は各抵抗体(1
)の共通の電極として形成し、両者を接続することがで
きる。電気的接続は、セラミック等からなる基板(2)
の側面まで、両者をコーティングすることによって実現
される。また、−殻内なスルーホールの技術によって両
面の導体パターン(3)とグランドパターン(4)とを
接続することも可能である。
回路基板取付は用ビン端子(5)は、各々の抵抗体(1
)の一端と導体パターン(3)に、超音波ボンダや半田
付は等の手段により取付ける。ピン端子(5)の形状は
、変形ZIPや、たとえば2.54nm間隔DIP、さ
らにはSIPなどを用いることができる。
)の一端と導体パターン(3)に、超音波ボンダや半田
付は等の手段により取付ける。ピン端子(5)の形状は
、変形ZIPや、たとえば2.54nm間隔DIP、さ
らにはSIPなどを用いることができる。
また、実際の表面実装に対応するために、第2図に一例
として示した回路基板(6)への表面実装が容易に可能
な形状とすることもできる。
として示した回路基板(6)への表面実装が容易に可能
な形状とすることもできる。
第1図および第2図には防護膜を示していないが、実際
の製品化のためには、絶縁性の確保や化学メツキ処理か
ら保護する目的で、保護膜をコーティングすることが行
われている0、硼&iH鉛ガラスなどをこのコーティン
グのために用いる。また、抵抗アレイをモールドで封止
することも可能な変形の一つである。
の製品化のためには、絶縁性の確保や化学メツキ処理か
ら保護する目的で、保護膜をコーティングすることが行
われている0、硼&iH鉛ガラスなどをこのコーティン
グのために用いる。また、抵抗アレイをモールドで封止
することも可能な変形の一つである。
もちろん、以上の例においてはデュアルインラインバラ
ゲージ(DIP)を中心に述べたが、使用目的によって
変形ZIPやシングルインラインパラゲージ(S I
P)とすることも可能である。
ゲージ(DIP)を中心に述べたが、使用目的によって
変形ZIPやシングルインラインパラゲージ(S I
P)とすることも可能である。
第1図(a)(b)は、この発明の一実施例を示した■
断面図および側断面図である。 第2図は、他の例について示した抵抗アレイの11’!
lftIr面図テアル。 1・・・抵抗体、 2・・・基板、3・・・導体
パターン、 4・・・グランドパターン、5・・・端子
、 6・・・回路基板。 代理人 弁理士 西 澤 利 大筒 1 図 (a) (b)第 2
図
断面図および側断面図である。 第2図は、他の例について示した抵抗アレイの11’!
lftIr面図テアル。 1・・・抵抗体、 2・・・基板、3・・・導体
パターン、 4・・・グランドパターン、5・・・端子
、 6・・・回路基板。 代理人 弁理士 西 澤 利 大筒 1 図 (a) (b)第 2
図
Claims (3)
- (1)垂直取付け型ハイブリッド抵抗アレイを装着した
基板の裏面全体を導体パターンで被覆し、該導体パター
ンを抵抗アレイの共通電極としたことを特徴としている
高速パルス用終端抵抗アレイ。 - (2)個々独立にパターン化した抵抗体の各々の一端に
は回路基板取付け用ピン端子を設け、他端を共通の導電
パターンに接続し、該導電パターンは基板の裏面全体に
わたって被覆した導体パターンに接続し、かつ回路基板
取付け用ピン端子を有する構造とした特許請求の範囲第
(1)項記載の高速パルス用終端抵抗アレイ。 - (3)回路基板取付け用ピン端子が、変形ZIPまたは
DIPの形状からなる特許請求の範囲第(1)項記載の
高速パルス用終端抵抗アレイ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62320968A JPH01161801A (ja) | 1987-12-18 | 1987-12-18 | 高速パルス用終端抵抗アレイ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62320968A JPH01161801A (ja) | 1987-12-18 | 1987-12-18 | 高速パルス用終端抵抗アレイ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01161801A true JPH01161801A (ja) | 1989-06-26 |
Family
ID=18127309
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62320968A Pending JPH01161801A (ja) | 1987-12-18 | 1987-12-18 | 高速パルス用終端抵抗アレイ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01161801A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5224021A (en) * | 1989-10-20 | 1993-06-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Surface-mount network device |
| EP0797254A3 (en) * | 1996-03-18 | 1999-07-28 | Nec Corporation | LSI package and manufacturing method thereof |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5638402B2 (ja) * | 1977-04-18 | 1981-09-07 | ||
| JPS6295002A (ja) * | 1985-10-22 | 1987-05-01 | Nec Corp | ミリ波終端器 |
-
1987
- 1987-12-18 JP JP62320968A patent/JPH01161801A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5638402B2 (ja) * | 1977-04-18 | 1981-09-07 | ||
| JPS6295002A (ja) * | 1985-10-22 | 1987-05-01 | Nec Corp | ミリ波終端器 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5224021A (en) * | 1989-10-20 | 1993-06-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Surface-mount network device |
| EP0797254A3 (en) * | 1996-03-18 | 1999-07-28 | Nec Corporation | LSI package and manufacturing method thereof |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4722318B2 (ja) | チップ抵抗器 | |
| JP3004071B2 (ja) | 集積回路用パッケージ | |
| JPS60124987A (ja) | 選択的金属被膜付着方法 | |
| US9713252B2 (en) | Ceramic insulator for electronic packaging and method for fabricating the same | |
| US6856516B2 (en) | Ball grid array resistor capacitor network | |
| US8143969B2 (en) | Multiple tap attenuator microchip device | |
| CN100576971C (zh) | 独立焊垫的无导线电镀方法 | |
| JP3167141B2 (ja) | 集積回路用パッケージ | |
| JPH01161801A (ja) | 高速パルス用終端抵抗アレイ | |
| TWM506365U (zh) | 晶粒封裝用的混合阻抗引線 | |
| US5504986A (en) | Method of manufacturing collinear terminated transmission line structure with thick film circuitry | |
| US6348142B1 (en) | Electroplating multi-trace circuit board substrates using single tie bar | |
| US6432291B1 (en) | Simultaneous electroplating of both sides of a dual-sided substrate | |
| US20190172782A1 (en) | Packaging substrate for semiconductor devices, corresponding device and method | |
| CN218514593U (zh) | 一种具有隔绝杂讯功能的芯片封装结构 | |
| JPS6035543A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPH0479257A (ja) | セラミックパッケージの製造方法 | |
| JPS634710B2 (ja) | ||
| JPS62198191A (ja) | マイクロ波用集積回路基板の製法 | |
| JP2593646B2 (ja) | 電子部品 | |
| JPH10503331A (ja) | 基板上に導体路を有する包装されていないic構成素子の電気接続部を接続させる方法 | |
| JPS61251046A (ja) | 集積回路実装基板 | |
| JPS63200602A (ja) | マイクロ波集積回路の回路基板 | |
| JPH02153543A (ja) | フレキシブルプリント基板 | |
| JPH02260550A (ja) | 回路基板のワイヤボンデイング電極 |