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JPH01165928A - Method and apparatus for measuring normalized double refraction of single polarizing fiber - Google Patents

Method and apparatus for measuring normalized double refraction of single polarizing fiber

Info

Publication number
JPH01165928A
JPH01165928A JP62326120A JP32612087A JPH01165928A JP H01165928 A JPH01165928 A JP H01165928A JP 62326120 A JP62326120 A JP 62326120A JP 32612087 A JP32612087 A JP 32612087A JP H01165928 A JPH01165928 A JP H01165928A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
wavelength
fiber
measured
analyzer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62326120A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinya Inagaki
真也 稲垣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP62326120A priority Critical patent/JPH01165928A/en
Publication of JPH01165928A publication Critical patent/JPH01165928A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/33Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
    • G01M11/333Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using modulated input signals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/33Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
    • G01M11/335Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using two or more input wavelengths

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Abstract

PURPOSE:To facilitate measurement and to enhance measuring accuracy, by detecting the variation width of a beam receiving level based on rotation by sweeping the wavelength of a wavelength variable beam source and measuring the interval of a waveform cyclically becoming max. or min. on a wavelength axis in the variation width. CONSTITUTION:The emitted light of a light source 11 such as a semiconductive laser is swept in its wavelength within an oscillation spectrum range by a spectroscope 12 to be incident on a photodetector 19 through a single mode fiber 13, a polarizer 14, a 1/4 wavelength plate 15, a fiber 16 to be measured, a 1/2 wavelength plate 17 rotated by a 1/2 wavelength plate rotating mechanism 22 and a fixed detector 18. Next, the output signal of the photoreceptor 19 as an input signal and the rotary synchronous signal of the mechanism 22 as a reference signal are inputted to a lock-in amplifier 20, and the output signal of the amplifier 20 and the wavelength sweep signal of the spectroscope 12 are inputted to a recorder 21. Herein, since the variation width of the amplitude of the transmitted light of the detector 18 changes corresponding to the polarizing state of the emitted light of the fiber 16, this variation is detected as the variation of the light receiving level of the photodetector 19 to make it possible to specify the polarizing state of the emitted light of the fiber 16.

Description

【発明の詳細な説明】 目    次 概   要  ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ 
・ ・ ・  3頁産業上の利用分野 ・・・・・・・
・ 4頁従来の技術 ・・・・・・・・・・・ 6貞発
明が解決しようとする問題点 ・・ 9頁問題点を解決
するための手段 ・・・1o頁作   用  ・ ・ 
・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ 12真実 
 施  例  ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ 
・ ・ 13頁発明の効果 ・・・・・・・・・・・2
1頁概   要 偏波モード間の伝搬定数差を大きくすることによってモ
ード間の結合を減少するようにした単一偏波ファイバの
正規化複屈折率測定方法及び測定装置に関し、 測定の容易化を目的とし、 波長可変光源からの光を円偏光にして被測定ファイバに
入射させ、該被測定ファイバの出射光の伝搬方向を中心
として該出射光と相対的に回転する透過偏波面を有する
検光手段を介して前記出射光を受光器で受光しておぎ、
前記波長可変光源の波長を掃引して、当該回転に基づく
当該受光レベルの変動幅を検出しこの変動幅が波長軸上
で周期的に最大又は最小となる波長の間隔を測定するよ
うにして構成する。
[Detailed description of the invention] Table of contents Overview ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・
・ ・ ・ 3 pages Industrial application fields ・・・・・・・
・Page 4: Prior art ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 6. Problems to be solved by the invention ・Page 9: Means for solving the problems ・Page 1: Effects ・・
・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ 12 truths
Example ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・
・ ・ Page 13 Effects of the invention ・・・・・・・・・・・・2
1 page summary Concerning a normalized birefringence measurement method and measurement device for a single polarization fiber that reduces coupling between modes by increasing the difference in propagation constant between polarization modes, this paper aims to facilitate measurement. For the purpose of analysis, the light from the wavelength tunable light source is circularly polarized and input into the fiber to be measured, and the transmission polarization plane rotates relative to the emitted light around the propagation direction of the emitted light from the fiber to be measured. receiving the emitted light with a light receiver via a means;
The wavelength tunable light source is configured to sweep the wavelength of the wavelength tunable light source, detect a fluctuation range of the received light level based on the rotation, and measure a wavelength interval at which this fluctuation range is periodically maximum or minimum on the wavelength axis. do.

産業上の利用分野 本発明は、偏波モードの伝搬定数差を大ぎくすることに
よってモード間の結合を減少するようにした単一偏波フ
ァイバの正規化複屈折率測定方法及び測定装置に関する
INDUSTRIAL APPLICATION FIELD The present invention relates to a method and apparatus for measuring the normalized birefringence of a single polarization fiber, which reduces coupling between modes by increasing the difference in propagation constants of polarization modes.

通常の軸対称形の単一モード光ファイバにおいては、互
いに直交する2つの独立な基本モード(I]E11モー
ド)が伝搬可能である。これらのうち光ファイバの軸に
垂直な面内のX方向に電界を有する直線偏波成分をHE
Xモードとし、同じ面内でX方向と垂直なX方向に電界
を有する直線偏波成分をHE、モードとすると、光ファ
イバが完全に軸対称であれば、HExモードとHE、モ
ードとは互いに縮退している。しかし、実際の光ファイ
バには多少なりとも不可避的な非軸対称性や曲りが存在
するから、上記の縮退が解け、且つモード間に結合が生
じる。これによって、(イ) 偏波モード間に結合が生
じると、光ファイバの温度変化等の擾乱によって受信端
で観察される1−IE11モードの偏波状態が激しく変
動し、例えばヘテロダイン受信方式における受信レベル
に致命的な変動が生じる。
In a normal axisymmetric single mode optical fiber, two mutually orthogonal independent fundamental modes (I]E11 mode) can propagate. Among these, the linearly polarized wave component that has an electric field in the X direction in the plane perpendicular to the axis of the optical fiber is
Let the X mode be the linearly polarized wave component that has an electric field in the X direction perpendicular to the It is degenerate. However, since actual optical fibers have some degree of unavoidable non-axial symmetry and bending, the above-mentioned degeneracy is resolved and coupling occurs between modes. As a result, (a) when coupling occurs between polarization modes, the polarization state of the 1-IE11 mode observed at the receiving end fluctuates drastically due to disturbances such as temperature changes in the optical fiber, for example, reception in a heterodyne reception method. A fatal fluctuation occurs in the level.

(ロ) 縮退が解【プると偏波分散が生じ、単一モード
光ファイバ通信の情報伝送速度に制約を与える。
(b) When degeneracy is resolved, polarization dispersion occurs, which limits the information transmission speed of single-mode optical fiber communications.

等の問題を生じるが、これらの問題を解決するためには
単一偏波のみを伝送する単一偏波ファイバを用いること
が必要となる。単一偏波ファイバの主要なファイバパラ
メータの1つに正規化複屈折率があり、その簡易な測定
方法及び測定装置が要望されている。
However, in order to solve these problems, it is necessary to use a single polarization fiber that transmits only a single polarized wave. One of the main fiber parameters of a single polarization fiber is the normalized birefringence, and there is a need for a simple method and apparatus for measuring it.

従来の技術 単一偏波ファイバとしては、一方の偏波モードの伝送損
失が極めて大きくなるような特性(絶対単一偏波特性)
を付与したものと、両偏波モードの伝搬定数差をできる
だけ大ぎくすることによって両モード間の結合を減少す
るようにしたものとが知られているが、実用上及び製造
技術上の面から後者が一般的である。
Conventional technology Single polarization fiber has characteristics such that transmission loss in one polarization mode is extremely large (absolute single polarization characteristics).
There are two known methods: one in which the propagation constant difference between the two polarization modes is made as large as possible, and the coupling between the two modes is reduced. The latter is common.

第11図は一般的な単一・偏波ファイバの断面図である
。同図において41はクラッド、42はコアであって、
それぞれ異なる屈折率を有している。
FIG. 11 is a cross-sectional view of a typical single-polarization fiber. In the figure, 41 is a cladding, 42 is a core,
Each has a different refractive index.

43.44は]ア42の両側に例えばX方向に軸対称に
ファイバの長手方向に設置ブられた応力付与部であって
、周囲の部分とは異なる線熱彫版係数を有し、溶融紡糸
後に収縮して、コア42にX方向とy方向とで異なる応
力分布を生じさせて(7Xる。
43 and 44 are stress-applying parts installed in the longitudinal direction of the fiber axially symmetrically, for example, in the Afterwards, the core 42 contracts, causing different stress distributions in the X direction and the y direction (7X).

これによってコア42に生じた複屈折性′b<X方向と
y方向の伝搬定数差△β(−1β −β、1)× を生じさぜ、単一偏波特性を付与するものである。
This causes birefringence ′b<difference in propagation constants in the X and y directions Δβ(-1β −β, 1)× in the core 42, giving it single polarization characteristics. .

伝搬定数差△βは、一般に偏波複屈折率ある(Aはモー
ド複屈折率と呼ばれ、通常、正規化複屈折率B B−Δβ/k (k=2π/λ:真空中の光の波数)と
して用いられる。
The propagation constant difference Δβ is generally the polarization birefringence (A is called the mode birefringence, and is usually the normalized birefringence B B−Δβ/k (k=2π/λ: the polarization birefringence of light in vacuum). wave number).

第12図は従来の正規化複屈折率測定装置の構成図であ
る。光源51の出射光は、波長掃引用の分光器52、シ
ングルモード光ファイノ\53.1/4波長板54、偏
光子55、被測定コアイノ\56及び検光子57をこの
順で介して光ノくワーメータ58に入射され、光パワー
メータ58の出カイ言号及び分光器52の波長掃引信号
がペンレコーダ等の記録計59によって記録されるもの
である。
FIG. 12 is a configuration diagram of a conventional normalized birefringence measuring device. The emitted light from the light source 51 passes through a spectroscope 52 for wavelength sweeping, a single mode optical fiber \53.1/4 wavelength plate 54, a polarizer 55, a core fiber to be measured\56, and an analyzer 57 in this order. The output signal from the optical power meter 58 and the wavelength sweep signal from the spectroscope 52 are recorded by a recorder 59 such as a pen recorder.

偏光子55及び検光子57の透過偏波面(ま同一方向に
設定され、この方向は被測定コアイノ< 56の主軸(
X軸又はy軸)に対して45°傾りにうにされている。
The transmission polarization planes of the polarizer 55 and the analyzer 57 (or they are set in the same direction, and this direction is the main axis of the core to be measured < 56 (
It is tilted at 45° with respect to the X-axis or the Y-axis.

第13図は記録計59による記録の一例を示すもので、
縦軸は光パワーメータ58の出力、横軸は掃引波長であ
る。波長の増大に伴って周期的に最大値及び最小値(零
)が交互に出現するものである。
FIG. 13 shows an example of recording by the recorder 59.
The vertical axis is the output of the optical power meter 58, and the horizontal axis is the sweep wavelength. Maximum values and minimum values (zero) appear periodically as the wavelength increases.

いま、被測定ファイバ56の長さをし、伝搬光の波長を
λとすると、被測定ファイバ56の2つの主軸間の位相
差φは、 φ −kBL=2  π BL/ λ        
 ・・・ く 1 )と表わされる。この位相差φが2
πn(nは整数)となる波長は離散的に存在するから、
これらを短波長側から順に、 λ 、λ 、・・・、λ 、λに、1.・・・12  
   k とする。隣り合った波長λ 、λ  について考k  
 k+1 えると、当該位相差は2πであるから、(1)式の関係
から、 2π−2πBL (1/λ −1/λ  )k    
      k+1 B=、;l   λ /L(λ  −λ )・・・(2
)ka、1  k     k+1   kが得られる
。従って、位相差2πを与える隣接波長λ 、λ1<+
1を実測することによって、正規化に 複屈折率Bが求まるものである。
Now, assuming that the length of the fiber under test 56 is λ and the wavelength of the propagating light is λ, the phase difference φ between the two main axes of the fiber 56 under test is as follows: φ −kBL=2 π BL/λ
It is expressed as...ku1). This phase difference φ is 2
Since wavelengths of πn (n is an integer) exist discretely,
These are λ, λ, ..., λ, λ in order from the short wavelength side, 1. ...12
Let it be k. Consider the adjacent wavelengths λ and λ
k+1 Since the phase difference is 2π, from the relationship of equation (1), 2π−2πBL (1/λ −1/λ )k
k+1 B=, ;l λ /L(λ −λ )...(2
) ka, 1 k k+1 k is obtained. Therefore, adjacent wavelengths λ giving a phase difference of 2π, λ1<+
By actually measuring 1, the birefringence B can be determined for normalization.

第13図に示される測定結果において、波長λ 及びλ
 のときに光パワーメータの出力が最大となっているの
は、被測定ファイバ56に入射された直線偏光がそのま
まの偏波状態で出射されたことを示し、波長λ 及びλ
14のときに最小値(零)となっているのは、被測定フ
ァイバ56に入射された直線偏光が垂直な偏波面を右す
る直線偏光に変換されて出射されたことを示している。
In the measurement results shown in FIG. 13, the wavelengths λ and λ
The fact that the output of the optical power meter is at its maximum when
The minimum value (zero) at 14 indicates that the linearly polarized light incident on the fiber 56 to be measured is converted into linearly polarized light with a vertical plane of polarization and is emitted.

また、これらの中間の波長においては、楕円偏光または
円偏光となって出射されているものである。
Moreover, at wavelengths intermediate between these, the light is emitted as elliptically polarized light or circularly polarized light.

従って、正規化複屈折率Bの算出に際しては、前記隣接
波長λ 、λ  として、λ 及びλ13のk    
h+i         11組またはλ 及びλ14
の組を用いることができる。
Therefore, when calculating the normalized birefringence B, the adjacent wavelengths λ and λ are set to k of λ and λ13.
h+i 11 pairs or λ and λ14
A set of can be used.

なお通常は測定粘度を向上するために、最小値を与える
波長の間隔を測定している。
Note that in order to improve the measured viscosity, the wavelength interval that gives the minimum value is usually measured.

発明が解決しようとする問題点 しかし、上記従来の測定方法であると、測定原埋土、偏
光子及び検光子の透過偏波面をそれぞれ被測定ファイバ
の入射端側及び出射端側においてその主軸方向に対して
45°傾斜させることを要すから、測定に先立つ各部材
の配置に際して繁雑な作業が要求されるという問題を生
じていた。−方、測定精度を向上するためには、検光子
を90°回転させて例えば第13図に示される測定例に
おける波長λ 及びλ13が最小値を与えるようにして
多数の測定データを得ることが有効であるが、この場合
にも上記主軸方位の再度の設定に手間がかかり問題であ
った。
Problems to be Solved by the Invention However, in the conventional measurement method described above, the transmission polarization planes of the measurement source fill, polarizer, and analyzer are set in the direction of the main axis at the input end and output end of the fiber under test, respectively. Since it is necessary to incline it by 45 degrees with respect to the measurement, a problem arises in that complicated work is required when arranging each member prior to measurement. On the other hand, in order to improve the measurement accuracy, it is possible to obtain a large number of measurement data by rotating the analyzer by 90 degrees so that the wavelengths λ and λ13 in the measurement example shown in FIG. 13 give the minimum values. Although this method is effective, it also takes time and effort to set the main axis direction again in this case, which is a problem.

本発明はこのような問題点に鑑みて創作されたもので、
測定の容易化及び測定精度の向上を目的どしている。
The present invention was created in view of these problems.
The purpose is to facilitate measurement and improve measurement accuracy.

問題点を解決するだめの手段 第1図は本発明の原理図である。A foolproof way to solve problems FIG. 1 is a diagram showing the principle of the present invention.

本発明の単一偏波ファイバの正規化複屈折率測定方法は
、波長可変光源2からの光を円偏光にして被測定ファイ
バ4に入射させ、該被測定ファイバ4の出射光の伝搬方
向を中心として該出射光と相対的に回転する透過偏波面
を有する検光手段5を介して前記出射光を受光器6で受
光しておき、前記波長可変光源2の波長を掃引して、当
該回転に基づく当該受光レベルの変動幅を検出しこの変
動幅が波長軸上で周期的に最大又は最小となる波長の間
隔を測定するようにしたものである。
The method for measuring the normalized birefringence of a single-polarized fiber according to the present invention involves making the light from the wavelength tunable light source 2 circularly polarized and making it enter the fiber 4 to be measured, and changing the propagation direction of the light emitted from the fiber 4 to be measured. The output light is received by a light receiver 6 via an analyzer 5 having a transmission polarization plane that rotates relative to the output light around the center, and the wavelength of the wavelength tunable light source 2 is swept to detect the rotation. The variation width of the received light level based on the wavelength is detected, and the interval between wavelengths at which this variation range is periodically maximum or minimum on the wavelength axis is measured.

また、上記測定方法の実施に直接使用する装置として、
出射光の波長を変化することのできる波長可変光源2と
、該波長可変光源2からの光を円偏光にして被測定ファ
イバ4に入射させる1/4波長板3と、該被測定ファイ
バ4の出射光の伝搬方向を中心として該出射光と相対的
に回転する透過偏波面を有する検光手段5と、該検光手
段5の透過光を受光する受光器6と、前記波長可変光源
2の波長を掃引したときの、当該回転に基づく当該受光
レベルの変動幅を検出する受光レベル変動幅検出手段7
とから構成されることを特徴とする単一偏波ファイバの
正規化複屈折率測定装置を提供する。
In addition, as a device directly used for implementing the above measurement method,
A wavelength tunable light source 2 capable of changing the wavelength of emitted light, a quarter wavelength plate 3 that converts the light from the wavelength tunable light source 2 into circularly polarized light and enters the fiber under test 4, An analyzer 5 having a transmission polarization plane that rotates relative to the output light around the propagation direction of the output light, a light receiver 6 that receives the transmitted light of the analyzer 5, and a wavelength tunable light source 2. Received light level fluctuation range detection means 7 for detecting the fluctuation range of the received light level based on the rotation when the wavelength is swept
Provided is a normalized birefringence measuring device for a single polarization fiber, characterized in that it is comprised of the following.

作   用 波長可変光源からの光を円偏光にして被測定ファイバに
入射させているのは、被測定ファイバの主軸方位の設定
を不要どするためである。被測定ファイバに入射された
円偏光は、被測定ファイバの複屈折性によって直線偏光
、楕円偏光または円偏光に変換されて出射される。この
出射光が入射される検光手段は、該出射光の伝搬方向を
中心として被測定ファイバと相対的に回転する透過偏波
面を有しているから、被測定ファイバの出射光の偏光状
態に応じて検光手段の出射光の強度が変動する。即ち被
測定ファイバの出射光が直線偏光であるとき当該変動幅
は最大となり、円偏光であるとぎ最小となり、楕円偏光
であるときそれらの中間の値となるものである。
The reason why the light from the working wavelength tunable light source is made into circularly polarized light and is made incident on the fiber to be measured is to eliminate the need to set the orientation of the principal axis of the fiber to be measured. The circularly polarized light incident on the fiber to be measured is converted into linearly polarized light, elliptically polarized light, or circularly polarized light by the birefringence of the fiber to be measured, and is emitted. The analyzer into which this emitted light is incident has a transmission polarization plane that rotates relative to the fiber under test around the propagation direction of the emitted light, so the polarization state of the emitted light from the fiber under test is The intensity of the light emitted from the analyzer varies accordingly. That is, when the light emitted from the fiber to be measured is linearly polarized light, the variation range is maximum, when it is circularly polarized light it is minimum, and when it is elliptically polarized light it is an intermediate value.

一方、被測定ファイバの出射光の偏光状態は、測定に使
用した光の波長に応じて変化する。このため当該波長を
掃引して受光器の受光レベルの変動幅の変化を検出しそ
の最大値(直線偏光のとき)または最小値く円偏光のと
き)を与える波長の間隔を測定することによって正規化
複屈折率を求めることができる。
On the other hand, the polarization state of the light emitted from the fiber to be measured changes depending on the wavelength of the light used for measurement. Therefore, by sweeping the relevant wavelength and detecting the change in the fluctuation range of the light reception level of the optical receiver, and measuring the interval of wavelengths that give the maximum value (for linearly polarized light) or the minimum value (for circularly polarized light), the birefringence can be determined.

本発明にかかる測定装置において、検光手段の透過偏波
面は被測定ファイバの出射光と相対的に回転するもので
あるから、その実施の態様は2通りに分けられる。即ち
、被測定ファイバの出射光の偏波面を回転する手段及び
固定検光子から検光手段が構成される場合と、それ自身
が回転する回転検光子から検光手段が構成される場合と
である。
In the measuring device according to the present invention, since the transmitted polarization plane of the analyzing means rotates relative to the output light of the fiber to be measured, its implementation can be divided into two ways. That is, there are two cases in which the analysis means consists of a means for rotating the plane of polarization of the light emitted from the fiber under test and a fixed analyzer, and another case in which the analysis means consists of a rotating analyzer that itself rotates. .

実  施  例 以下本発明の実施例を図面に基づいて説明する。Example Embodiments of the present invention will be described below based on the drawings.

第2図は本発明の第1の実施態様を具体化した単一偏波
ファイバの正規化複屈折率測定装置の全体構成図である
。光+1iii11の出射光は、分光器12、シングル
モードファイバ13、偏光子14.1/4波長板15、
被測定ファイバ16.1/2波長板回転機構22によっ
て回転される1/2波長板17、及び固定検光子18を
介して受光器19に入射される。20は同期増幅を行な
うロック−13= インアンプであり、このロックインアンプ20には、受
光器19の出力信号が入力信号として、1/2波長板回
転機構22の回転同期信号が参照信号として入力されて
いる。21は2パラメータ用のペンレコーダ等の記録謝
であり、ロックインアンプ20の出力信号及び分光器1
2の波長掃引信号が入力されている。
FIG. 2 is an overall configuration diagram of a normalized birefringence measuring device for a single polarization fiber embodying the first embodiment of the present invention. The output light of light +1iii11 is transmitted through a spectroscope 12, a single mode fiber 13, a polarizer 14, a 1/4 wavelength plate 15,
The measured fiber 16 enters the light receiver 19 via the 1/2 wavelength plate 17 rotated by the 1/2 wavelength plate rotation mechanism 22 and the fixed analyzer 18. 20 is a lock-in amplifier that performs synchronous amplification, and this lock-in amplifier 20 receives the output signal of the light receiver 19 as an input signal and the rotation synchronization signal of the 1/2 wavelength plate rotation mechanism 22 as a reference signal. It has been entered. 21 is a recording device such as a pen recorder for two parameters, and the output signal of the lock-in amplifier 20 and the spectrometer 1.
Two wavelength sweep signals are input.

光源11としては、分光器12による波長掃引範囲より
も広い発振波長幅を有するものを用いることができる。
As the light source 11, one having an oscillation wavelength width wider than the wavelength sweep range by the spectroscope 12 can be used.

中心波長に対して±10nm100スペクトル幅を有す
るLD(半導体レーザ)が適している。この実施例では
(1300±8)nmの発振スペクトルを有するLDを
用いている。
An LD (semiconductor laser) having a spectral width of ±10 nm 100 nm with respect to the center wavelength is suitable. In this example, an LD having an oscillation spectrum of (1300±8) nm is used.

ラマン散乱を生じさせたYAGレーザも使用可能である
A YAG laser with Raman scattering can also be used.

分光器12は、光源11の発振スペクトル範囲内で波長
を掃引するだめのもので、0.5nm程度の分解能を有
している。このような分光器12としては、回折格子を
用いて構成されるものが適している。
The spectroscope 12 is only for sweeping wavelengths within the oscillation spectrum range of the light source 11, and has a resolution of about 0.5 nm. As such a spectrometer 12, one constructed using a diffraction grating is suitable.

偏光子14及び固定検光子18としては、複屈折性結晶
を光学接着剤により貼着したグラントムソンプリズムを
用いることができる。
As the polarizer 14 and the fixed analyzer 18, a Glan-Thompson prism having a birefringent crystal attached with an optical adhesive can be used.

シングルモードファイバ13は、分光器12の出射光を
偏光子14に入射させるためのものであり、場合によっ
てはこれを用いずに直接光結合をなすようにしてもよい
The single mode fiber 13 is for making the light emitted from the spectrometer 12 enter the polarizer 14, and depending on the case, it may be omitted and direct optical coupling may be performed.

被測定ファイバ16の長さは、掃引波長範囲内(士約1
0nm)で後述する波長特性が1周期分得られる程度の
ものになっている。
The length of the fiber under test 16 is within the sweep wavelength range (approximately 1
0 nm), the wavelength characteristics described later can be obtained for one period.

1/2波長板回転機構22は、例えば1351−IZで
1/2波長板17を回転させ、これにより被測定ファイ
バ16の出射光の偏波面を270H2で回転さぜる。
The half-wave plate rotation mechanism 22 rotates the half-wave plate 17 by, for example, 1351-IZ, thereby rotating the polarization plane of the light emitted from the fiber to be measured 16 by 270H2.

第3図は1/2波長板17の作用を説明するために示し
た複屈折性結晶の屈折率楕円体であり、便宜上1/2波
長板17が正の単軸結晶からなるとしている。今1/2
波長板17の常光線に対する屈折率をn。とじ、異常光
線に対する屈折率の最大値をn。とする(no<no)
。そして、1/2波長板17の光学軸をy軸とする直交
三次元座標軸の原点Oを光が矢印S方向に伝搬している
とし、矢印SのX7平面への投影がZ軸と一致している
とする。このとき、屈折率楕円体は、x2/n 2+y
2/n 2+Z2/n2−10           
 e            Oで表される。常光線に
対する屈折率n は、常に〇 一定であり、屈折率楕円体がXZ平面で切られる円Aと
原点Oにおいて伝搬方向Sに直交する面で切られる楕円
Bどが交わる点Pまでの原点Oからの距離OPで表され
る。また異常光線に対する屈折率n。′は、伝搬方向S
とyilIlllとがなず角θに応じて変化し、前記楕
円Bとyz平面とが交わる点Qまでの原点Oからの距離
OQで表される。つまり、異常光線に対する屈折率n 
′は、光の伝搬方向Sに応じてn からn。まで連続的
に変化するものである。
FIG. 3 shows a refractive index ellipsoid of a birefringent crystal shown to explain the action of the half-wave plate 17, and for convenience it is assumed that the half-wave plate 17 is made of a positive uniaxial crystal. Now 1/2
The refractive index of the wavelength plate 17 for ordinary rays is n. The maximum value of the refractive index for extraordinary rays is n. (no<no)
. Assume that light is propagating in the direction of arrow S from the origin O of an orthogonal three-dimensional coordinate axis with the optical axis of the half-wave plate 17 as the y-axis, and that the projection of arrow S onto the X7 plane coincides with the Z-axis. Suppose that At this time, the refractive index ellipsoid is x2/n 2+y
2/n 2+Z2/n2-10
Represented by e O. The refractive index n for ordinary rays is always 〇 constant, and the refractive index ellipsoid up to the point P where the circle A cut by the XZ plane and the ellipse B cut by the plane perpendicular to the propagation direction S at the origin O intersect. It is expressed as the distance OP from the origin O. Also, the refractive index n for extraordinary rays. ' is the propagation direction S
and yilIll change according to the angle θ, and are expressed as the distance OQ from the origin O to the point Q where the ellipse B intersects with the yz plane. In other words, the refractive index n for the extraordinary ray
' is from n to n depending on the propagation direction S of the light. It changes continuously until

このように光の伝搬方向Sに応じて屈折率が異なるから
、例えば伝搬方向Sが7 ’tlllに一致するように
(θ−90°)入用光軸を設定し、複屈折性による位相
差がπとなるように1/2波長板17の厚みを設定して
おくことにより、入射光の偏波面を光学軸(y軸)につ
いて対称位置にある偏波面に変換することができる。
In this way, the refractive index differs depending on the propagation direction S of light, so for example, set the desired optical axis so that the propagation direction S coincides with 7' tllll (θ-90°), and calculate the phase difference due to birefringence. By setting the thickness of the 1/2 wavelength plate 17 so that π, the polarization plane of the incident light can be converted to a polarization plane that is symmetrical about the optical axis (y-axis).

第4図は1/2波長板17の回転の作用を説明するだめ
のものであり、1/2波長板17に直線偏光を入射させ
たときの入射光及び出射光の偏波面の方向が示されてい
る。回転の初期状態において入射光の偏波面(A)がy
軸に一致しているとして、1/2波長板17を角速度ω
で等速回転させると、t(時間単位)経過後には光学軸
は初期状態におけるy軸の位置からωを回転したy′軸
にあるから、出射光の偏波面(B)は入射光の偏波面(
A>に対して2ωを回転することになる。
FIG. 4 is for explaining the effect of rotation of the 1/2 wavelength plate 17, and shows the directions of the polarization planes of the incident light and the output light when linearly polarized light is incident on the 1/2 wavelength plate 17. has been done. In the initial state of rotation, the plane of polarization (A) of the incident light is y
Assuming that the 1/2 wavelength plate 17 is aligned with the axis, the angular velocity ω
When rotated at a constant speed, after t (time unit) has elapsed, the optical axis is on the y' axis rotated by ω from the y axis position in the initial state, so the polarization plane (B) of the output light is the polarization of the input light. Wave front (
This results in a rotation of 2ω with respect to A>.

第5図は上記のように1/2波長板17を回転させた場
合における固定検光子18の透過光の振幅と1/2波長
板17の回転角度との関係を示しており、ここでは固定
検光子18の透過偏波面が回転初期状態におりる光学軸
と垂直な方向(X軸)に一致するものとしている。1/
2波長板17の入射光の振幅をAとすると、1/2波長
板17内= 17 = における伝搬光の損失が無視し1qる場合には、固定検
光子18の出射光の振幅は、 A I Sin 2ωt l で表されるものである。このとぎ、つまり1/2波長板
17の入射光が直線偏光であるとき、固定検光子18の
透過光の振幅の変動幅は最大となり、これに対応して受
光器19の受光レベルの変動幅も最大となる。
FIG. 5 shows the relationship between the amplitude of the transmitted light of the fixed analyzer 18 and the rotation angle of the half-wave plate 17 when the half-wave plate 17 is rotated as described above. It is assumed that the transmitted polarization plane of the analyzer 18 coincides with the direction (X-axis) perpendicular to the optical axis in the initial state of rotation. 1/
If the amplitude of the light incident on the two-wave plate 17 is A, and the loss of the propagating light in the half-wave plate 17 is ignored and is 1q, the amplitude of the light emitted from the fixed analyzer 18 is A. It is expressed as I Sin 2ωt l . At this point, that is, when the incident light on the half-wave plate 17 is linearly polarized light, the amplitude fluctuation range of the transmitted light of the fixed analyzer 18 becomes maximum, and correspondingly, the fluctuation range of the light reception level of the light receiver 19 is also maximum.

一方、被測定ファイバ16の出射光が、第6図(a)に
示されるように、その電場ベクトルの先端の集合がCで
示されるような楕円偏光である場合には、固定検光子1
8の透過光の振幅の変動は、同図(b)に示されるよう
に、入射光が直線偏光である場合と比較して小さい。こ
のときの変動幅は当該楕円の楕円率に応じて決定される
On the other hand, if the light emitted from the fiber to be measured 16 is elliptically polarized light with a set of electric field vector tips indicated by C as shown in FIG. 6(a), the fixed analyzer 1
As shown in FIG. 8(b), the fluctuation in the amplitude of the transmitted light in No. 8 is smaller than that in the case where the incident light is linearly polarized light. The range of variation at this time is determined according to the ellipticity of the ellipse.

被測定ファイバ16の出射光が、第7図(a)に示され
るようにその電場ベクトルの先端部の集合がDで示され
るような円偏光である場合には、固定検光子18の透過
光の振幅は、同図(b)に示されるように、全く変動し
ない。これは円偏光−1,8− の性質から理解されるところである。
When the light emitted from the fiber to be measured 16 is circularly polarized light with a set of electric field vectors at the tips indicated by D as shown in FIG. 7(a), the transmitted light of the fixed analyzer 18 The amplitude does not change at all, as shown in FIG. 2(b). This can be understood from the properties of circularly polarized light -1,8-.

このように、被測定ファイバ16の出射光の偏光状態に
応じて固定検光子18の透過光の振幅の変動幅が変化す
るから、この変動を受光器6の受光レベルの変動として
検出することによって、被測定ファイバ4の出射光の偏
光状態を特定することができるものである。
In this way, since the fluctuation range of the amplitude of the transmitted light of the fixed analyzer 18 changes depending on the polarization state of the light emitted from the fiber 16 to be measured, by detecting this fluctuation as a fluctuation of the light reception level of the optical receiver 6, , the polarization state of the light emitted from the fiber 4 to be measured can be specified.

このような1/2波長板17の回転に同期した受光レベ
ル変動を検出するには、同期検波方式を適用してなるロ
ックインアンプが最適であり、これを用いることによっ
て測定精度の向上が可能である。
A lock-in amplifier that uses a synchronous detection method is optimal for detecting such fluctuations in the received light level that are synchronized with the rotation of the 1/2 wavelength plate 17, and by using this, measurement accuracy can be improved. It is.

第8図は分光器12により被測定ファイバ16に入射さ
せる光の波長を掃引したときの記録則21の記録例を示
すものであり、縦軸は受光レベルの変動幅、横軸は波長
を示している。波長λ。において変動幅が最大となり、
波長λ1において変動幅が最小となり、以後この特性が
周期的に出現するものである。
FIG. 8 shows an example of recording according to the recording rule 21 when the wavelength of light incident on the fiber under test 16 is swept by the spectroscope 12, where the vertical axis shows the fluctuation width of the received light level and the horizontal axis shows the wavelength. ing. Wavelength λ. The fluctuation range is maximum at
The fluctuation width becomes minimum at wavelength λ1, and thereafter this characteristic appears periodically.

波長λ。においでは、被測定ファイバ16の出射光の偏
光状態は、第9図にP。で示されるような直線偏光とな
っており、これにより変動幅の最大値を与えるものであ
る。波長を掃引していくと、被測定ファイバ16の出!
)l端に出現する偏波状態は楕円偏光を経て波長λ1に
おいてPlで示される円偏光となり、更に楕円偏光を経
て波長λ2において最大変動幅を与える直線偏光P2と
なり以降これが繰り返されるものである。正規化複屈折
率を算出するIcめには位相差が2πとなるような波侵
間隔が必要であるから、この波長間隔としてはλ と2
4の組合せまたはλ1と25の組合せを用いることがで
きる。このとき、受光レベルの変動幅が最小となる、つ
まり被測定ファイバ16の出射光が円偏光となるときの
波長については極めて精度良く測定することができるか
ら、正規化複屈折率の高精度測定が可能どなる。
Wavelength λ. Regarding odor, the polarization state of the light emitted from the fiber 16 to be measured is shown in FIG. It is linearly polarized light as shown in , and this gives the maximum value of the fluctuation width. As the wavelength is swept, the output of the fiber under test 16!
) The polarization state that appears at the l end passes through elliptically polarized light and becomes circularly polarized light indicated by Pl at wavelength λ1, and further passes through elliptically polarized light and becomes linearly polarized light P2 that gives the maximum fluctuation width at wavelength λ2, and this is repeated thereafter. To calculate the normalized birefringence, Ic requires a wave spacing such that the phase difference is 2π, so this wavelength spacing is λ and 2.
A combination of 4 or a combination of λ1 and 25 can be used. At this time, the wavelength at which the fluctuation width of the received light level is minimum, that is, when the output light from the fiber 16 to be measured becomes circularly polarized light, can be measured with extremely high accuracy, so the normalized birefringence can be measured with high precision. is possible.

第10図は本発明の第2の実施例を示す測定装置の全体
構成図であり、第2図と同一の符号は同一の部材を指し
ている。この実施例では検光手段を構成する回転機構側
き1/2波長板及び固定検= 20− 光子に変えて回転機構付ぎの検光子を用いている。
FIG. 10 is an overall configuration diagram of a measuring device showing a second embodiment of the present invention, and the same reference numerals as in FIG. 2 refer to the same members. In this embodiment, an analyzer with a rotating mechanism is used in place of the 1/2 wavelength plate on the side of the rotating mechanism and the fixed detector = 20-photons, which constitute the analyzing means.

31は被測定ファイバ出射光の伝搬方向を中心としてそ
の透過偏波面が回転するように軸支される検光子であり
、例えばグラントムソンプリズムから構成される。この
検光子31は検光子回転機構32によって回転駆動され
、このときの回転運動に同期した信号はロックインアン
プ20の参照信号として用いられる。この実施例によれ
ば受光レベルの変動周期が前実施例の2倍になる点を除
いて前実施例と同様に受光レベルの変動幅が最大または
最小となる波長間隔を求めることができるものである。
Reference numeral 31 denotes an analyzer which is supported so that its transmission polarization plane rotates around the propagation direction of the light emitted from the fiber to be measured, and is composed of, for example, a Glan-Thompson prism. This analyzer 31 is rotationally driven by an analyzer rotation mechanism 32, and a signal synchronized with the rotational movement at this time is used as a reference signal for the lock-in amplifier 20. According to this example, the wavelength interval at which the fluctuation width of the received light level is the maximum or minimum can be determined in the same way as the previous example except that the period of fluctuation of the received light level is twice that of the previous example. be.

発明の効果 以上詳述したように、本発明によれば、測定に際して被
測定ファイバの主軸方位の設定が不要となるから、測定
作業が容易になると共に測定精度が向上するという効果
を奏する。
Effects of the Invention As described in detail above, according to the present invention, it is not necessary to set the principal axis direction of the fiber to be measured during measurement, so that the measurement work is facilitated and the measurement accuracy is improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の原理図、 第2図は本発明の第1の実施例を示す単一偏波ファイバ
の正規化複屈折率測定装置の全体構成図、第3図は同実
施例におりる1/2波長板の作用を説明するための図、 第4図は同実施例にお(プる1/2波長板の回転の作用
を説明するための図、 第5図は同実施例において被測定ファイバの出射光が直
線偏光であるとぎの固定検光子の透過光の振幅の変動を
説明するための図、 第6図は同実施例において被測定ファイバの出射光が楕
円偏光であるときの固定検光子の透過光の振幅の変動を
説明するだめの図、 第7図は同実施例において被測定ファイバの出射光が円
偏光であるときの固定検光子の透過光の振幅の変動がな
いことを説明するための図、第8図は同実施例における
記録計の記録例を示す図、 第9図は同実施例において被測定ファイバ出射端の偏光
状態が掃引波長に応じて変化することを説明するための
図、 第10図は本発明の第2の実施例を示す単一・偏波ファ
イバの複屈折率測定装置の全体構成図、第11図は一般
的な単一偏波ファイバの断面図、第12図は単一偏波フ
ァイバの従来の正規化複屈折率測定装置の全体構成図、 第13図は従来装置におりる記録計の記録例を示す図で
ある。 2・・・波長可変光源、 3.15・・・1/4波長板、 4.16・・・被測定ファイバ、 5・・・検光手段、   6,19・・・受光器、7・
・・受光レベル変動検出手段、 11・・・光源、    12・・・分光器、14・・
・偏光子、   1ア・・・1/2波長板、18・・・
固定検光子  20・・・ロックインアンプ、22・・
・1/2波長板回転機構、 31・・・検光子、   32・・・検光子回転機構。 會ギ◇ン)Q辱へ祠」y @奴1昌Q@都四専曹
Fig. 1 is a diagram of the principle of the present invention, Fig. 2 is an overall configuration diagram of a normalized birefringence measuring device for a single polarization fiber showing a first embodiment of the present invention, and Fig. 3 is a diagram of the same embodiment. Figure 4 is a diagram for explaining the effect of rotation of the 1/2 wavelength plate, and Figure 5 is a diagram for explaining the effect of rotation of the 1/2 wavelength plate. In the example, the output light of the fiber to be measured is linearly polarized light, and Figure 6 is a diagram for explaining the fluctuation in the amplitude of the transmitted light of the fixed analyzer. Figure 7 is a diagram for explaining the variation in the amplitude of the transmitted light of the fixed analyzer at a certain time. In the same example, Fig. 7 shows the amplitude of the transmitted light of the fixed analyzer when the output light of the fiber under test is circularly polarized light. Figure 8 is a diagram to explain that there is no fluctuation. Figure 8 is a diagram showing an example of recording by the recorder in the same example. Figure 9 is a diagram showing how the polarization state at the output end of the fiber to be measured changes according to the sweep wavelength in the same example. Figure 10 is an overall configuration diagram of a birefringence measuring device for a single polarized fiber showing the second embodiment of the present invention, and Figure 11 is a diagram for explaining the birefringence of a general single polarized fiber. A cross-sectional view of a polarized fiber, Fig. 12 is an overall configuration diagram of a conventional normalized birefringence measurement device for a single polarized fiber, and Fig. 13 is a diagram showing an example of recording by a recorder in a conventional device. 2... wavelength tunable light source, 3.15... 1/4 wavelength plate, 4.16... fiber to be measured, 5... analysis means, 6, 19... light receiver, 7.
...Received light level fluctuation detection means, 11...Light source, 12...Spectrometer, 14...
・Polarizer, 1A...1/2 wavelength plate, 18...
Fixed analyzer 20...Lock-in amplifier, 22...
- 1/2 wavelength plate rotation mechanism, 31... Analyzer, 32... Analyzer rotation mechanism. Kai Gin◇)

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)波長可変光源(2)からの光を円偏光にして被測
定ファイバ(4)に入射させ、 該被測定ファイバ(4)の出射光の伝搬方向を中心とし
て該出射光と相対的に回転する透過偏波面を有する検光
手段(5)を介して前記出射光を受光器(6)で受光し
ておき、 前記波長可変光源(2)の波長を掃引して、当該回転に
基づく当該受光レベルの変動幅を検出しこの変動幅が波
長軸上で周期的に最大又は最小となる波長の間隔を測定
するようにしたことを特徴とする単一偏波ファイバの正
規化複屈折率測定方法。
(1) The light from the wavelength tunable light source (2) is made circularly polarized and input into the fiber to be measured (4), and the light is polarized relative to the emitted light from the fiber to be measured (4) centered on the propagation direction of the emitted light. The emitted light is received by a light receiver (6) through an analysis means (5) having a rotating transmitted polarization plane, and the wavelength of the wavelength variable light source (2) is swept and the wavelength is detected based on the rotation. Normalized birefringence measurement of a single polarization fiber, characterized by detecting the fluctuation range of the received light level and measuring the interval between wavelengths at which this fluctuation range is periodically maximum or minimum on the wavelength axis. Method.
(2)出射光の波長を変化することのできる波長可変光
源(2)と、 該波長可変光源(2)からの光を円偏光にして被測定フ
ァイバ(4)に入射させる1/4波長板(3)と、 該被測定ファイバ(4)の出射光の伝搬方向を中心とし
て該出射光と相対的に回転する透過偏波面を有する検光
手段(5)と、 該検光手段(5)の透過光を受光する受光器(6)と、 前記波長可変光源(2)の波長を掃引したときの、当該
回転に基づく当該受光レベルの変動幅を検出する受光レ
ベル変動幅検出手段(7)とから構成されることを特徴
とする単一偏波ファイバの正規化複屈折率測定装置。
(2) A wavelength tunable light source (2) that can change the wavelength of emitted light, and a quarter-wave plate that converts the light from the wavelength tunable light source (2) into circularly polarized light and enters the fiber under test (4). (3); and an analyzer (5) having a transmission polarization plane that rotates relative to the output light around the propagation direction of the output light of the fiber to be measured (4); and the analyzer (5). a light receiver (6) that receives transmitted light; and a received light level fluctuation range detection means (7) that detects a fluctuation range of the received light level based on the rotation when the wavelength of the variable wavelength light source (2) is swept. A normalized birefringence measurement device for a single polarization fiber, characterized by comprising:
(3)前記検光手段(5)は、前記被測定ファイバ(4
)の出射光の伝搬方向を中心としてその光学軸を回転さ
れる1/2波長板と、固定検光子とから構成されること
を特徴とする特許請求の範囲第2項記載の単一偏波ファ
イバの正規化複屈折率測定装置。
(3) The analysis means (5) includes the fiber to be measured (4).
) and a fixed analyzer.Single polarization according to claim 2, characterized in that it is comprised of a 1/2 wavelength plate whose optical axis is rotated around the propagation direction of the emitted light of ) and a fixed analyzer. Fiber normalized birefringence measuring device.
(4)前記検光手段(5)は、前記被測定ファイバ(4
)の出射光の伝搬方向を中心として透過偏波面を回転さ
れる回転検光子であることを特徴とする特許請求の範囲
第2項記載の単一偏波ファイバの正規化複屈折率測定装
置。
(4) The analysis means (5) includes the fiber to be measured (4).
3. The normalized birefringence measuring device for a single polarization fiber according to claim 2, wherein the device is a rotating analyzer whose transmitted polarization plane is rotated around the propagation direction of the emitted light.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002101439A1 (en) * 2001-06-07 2002-12-19 3M Innovative Properties Company Method and apparatus for aligning the polarization of a polarization maintaining optical fiber to the polarization of a light source

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US6721467B2 (en) 2001-06-07 2004-04-13 3M Innovative Properties Company Method and apparatus for aligning the polarization of a polarization maintaining optical fiber to the polarization of a light source

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