JPH01111088A - Thickness profile control method - Google Patents
Thickness profile control methodInfo
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- JPH01111088A JPH01111088A JP26309887A JP26309887A JPH01111088A JP H01111088 A JPH01111088 A JP H01111088A JP 26309887 A JP26309887 A JP 26309887A JP 26309887 A JP26309887 A JP 26309887A JP H01111088 A JPH01111088 A JP H01111088A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、フィルム等の厚さを均一に制御する制御方
法に関し、特に抄紙工程における絶乾坪量プロフィール
の制御に用いて好適な厚さのプロフィール制御方法に関
するものである。[Detailed Description of the Invention] <Industrial Application Field> The present invention relates to a control method for uniformly controlling the thickness of a film, etc., and in particular to a method for controlling the thickness of a film, etc., which is suitable for controlling the absolute dry basis weight profile in the papermaking process. The present invention relates to a profile control method.
〈従来技術〉
第5図に抄紙装置の概要図を示寸。この図において、原
料であるパルプは種箱1に入れられ、種口弁2でその流
量が調節されてファンポンプ3によりインレットボック
ス4に供給される。インレットボックス4に供給された
パルプはスライスリップ5の間隙からワイヤバート6に
シート状に吐出される。スライスリップ5の間隙のプロ
フィールは複数のスライスボルト7により調節される。<Prior art> Figure 5 shows a schematic diagram of a paper making device. In this figure, pulp as a raw material is put into a seed box 1, its flow rate is adjusted by a seed port valve 2, and the pulp is supplied to an inlet box 4 by a fan pump 3. The pulp supplied to the inlet box 4 is discharged in the form of a sheet from the gap in the slicing lip 5 to the wire bart 6. The gap profile of the slicing lip 5 is adjusted by a plurality of slicing bolts 7.
ワイヤバート6にシート状に吐出されたパルプはプレス
8で水分を除去され、ドライヤ9で蒸気によって加熱乾
燥された後、カレンダ10を経てリール11に巻きとら
れて製品になる。12は白水サイロであり、ワイヤバー
ト6でシートから分離したパルプを回収してインレット
ボックス4にもどす。紙の厚さは1m2当たりの重さで
ある坪量で管理され、この坪量および水分のプロフィー
ルがB/M検出器13で検出される。全体の制御は制御
部14で実行される。制御部14はB/M検出器13の
坪量測定値を入力し、制御la1を演算してスライスボ
ルト7を制御する。また、種口弁2を制御してパルプの
流山を調節し、またワイヤパート6のスピード調節、ド
ライヤ9の蒸気圧制御を行なう。The pulp discharged in the form of a sheet onto the wire bar 6 has its moisture removed by a press 8, is heated and dried with steam by a dryer 9, and is then passed through a calender 10 and wound onto a reel 11 to become a product. 12 is a white water silo, which collects the pulp separated from the sheet by the wire bart 6 and returns it to the inlet box 4. The thickness of the paper is controlled by the basis weight, which is the weight per square meter, and the basis weight and moisture profile are detected by the B/M detector 13. Overall control is executed by the control section 14. The control unit 14 inputs the basis weight measurement value of the B/M detector 13, calculates control la1, and controls the slice bolt 7. It also controls the seed opening valve 2 to adjust the flow of pulp, and also controls the speed of the wire part 6 and the steam pressure of the dryer 9.
第6図に制御部14の構成の一部を示す。第6図におい
て、スライスリップ5の間隙開度信号とB/M検出器1
3の出力である坪mの信号はA/D変換部15でデジタ
ル信号に変換され、I10コントローラ16を経て表示
部17でそのプロフィールが表示される。また坪量信号
は流れフィルタ18に入力されてフィルタリングされ、
PI制御演算部19に入力される。Pr11m演算部1
9は別に入力された目標値との偏差に比例、積分演算を
施し、その結果を分配制御演算部20に出力する。一方
、流れフィルタ18の出力は分配係数演鋒部21に入力
される。分配係数8Ill算部21は分配係数を演算し
、分配制御演算部20に出力する。分配制御演算部20
はPI制m演鐸部19の出力を分配係数に基づいて分配
演算する。この演算結果はD/A変換部22でアナログ
信号に変換され、スライスボルト7の制御信号として出
力される。FIG. 6 shows a part of the configuration of the control section 14. In FIG. 6, the gap opening degree signal of the slice lip 5 and the B/M detector 1
The tsubo m signal outputted from No. 3 is converted into a digital signal by the A/D converter 15, and its profile is displayed on the display 17 via the I10 controller 16. The basis weight signal is also input to the flow filter 18 and filtered,
The signal is input to the PI control calculation section 19. Pr11m calculation unit 1
9 performs proportional and integral calculations on the deviation from the separately input target value, and outputs the results to the distribution control calculation section 20. On the other hand, the output of the flow filter 18 is input to the distribution coefficient operator 21. The distribution coefficient 8Ill calculation unit 21 calculates a distribution coefficient and outputs it to the distribution control calculation unit 20. Distribution control calculation unit 20
calculates the distribution of the output of the PI-based m-taku section 19 based on the distribution coefficient. This calculation result is converted into an analog signal by the D/A converter 22 and output as a control signal for the slice bolt 7.
次に制御信号の演算方法を第7図に基づいて説明する。Next, a method of calculating the control signal will be explained based on FIG. 7.
スライスボルト7を操作するとそのスライスボルトの位
はだけでなくその周辺のスライスリップ5の間隙開度ま
で変化するので、制御信号の演算は周辺の影響を加味し
て行なわなければならない。第7図において、横軸23
は紙の幅方向を、Δ印24は坪mの測定点を、○印25
はスライスボルトの位置を、曲線26は坪量の測定値と
目標値の偏差を表わず。坪量の測定点24には順に1−
5〜l+5の番号が、スライスボルトの位置25には順
にi−2〜1+2の番号が付されている。点i−2、ニ
ー1、il i+1、i+2はそれぞれ点1−4、l−
2、!、!+2、!+4に一致している。1つのスライ
スボルトにはその位置と左右の3つの坪m測定点が対応
している。When the slice bolt 7 is operated, not only the position of the slice bolt 7 but also the gap opening of the slice lip 5 around it changes, so the control signal must be calculated taking into account the influence of the surroundings. In FIG. 7, the horizontal axis 23
indicates the width direction of the paper, Δ mark 24 indicates the measurement point of tsubom, ○ mark 25
represents the position of the slice bolt, and curve 26 represents the deviation between the measured value and the target value of basis weight. At the basis weight measurement point 24, 1-
The slice bolt positions 25 are numbered sequentially from 5 to l+5, and from i-2 to 1+2. Point i-2, knee 1, il i+1, i+2 are points 1-4, l-, respectively
2,! ,! +2,! It matches +4. One slice bolt corresponds to its position and three tsubo m measurement points on the left and right.
PI制御演算部19はスライスボルトiに対する制sm
utを(1)式に基づいて演算、出力する。The PI control calculation unit 19 controls sm for the slice bolt i.
ut is calculated and output based on equation (1).
LJt =−KpΔBt−に工IΔ[3tdt−・・(
1)Kp:比例ゲイン
KI:積分ゲイン
ΔBl :坪mの測定値と目標値の偏差ΔBLは(2)
式で求める。LJt = -KpΔBt- to IΔ[3tdt-...(
1) Kp: Proportional gain KI: Integral gain ΔBl: Deviation ΔBL between the measured value and target value of tsubom is (2)
Find it using the formula.
ΔBt = (bl−+ +bJ1+bj ++ )/
3−btc・・・・・・・・・(2)
bj!−+〜b1ヤI :1−1〜l+1点における坪
量の測定値
btc二点1における坪量の目標値
前述したように、スライスボルト7を操作するとその影
響は周辺のスライスボルトの位置の坪量に及ぶので、P
IilJIj演W部19の出力U(でスライスボルトi
を制御することは出来ない。そのため、(1)式のU(
に分配係数を乗じた値を加算したものをスライスボルト
7の制御量とし、分配係数演韓部21で(3)式に基づ
いて分配係数αLL2〜αL +2を演算する。ΔBt = (bl-+ +bJ1+bj++)/
3-btc・・・・・・(2) bj! -+~b1 Ya I: Measured value of basis weight at points 1-1~l+1 btc Target value of basis weight at two points 1 As mentioned above, when the slice bolt 7 is operated, the effect is on the position of the surrounding slice bolts. Since it affects the basis weight, P
IilJIj performance W part 19 output U (with slice bolt i
cannot be controlled. Therefore, U(
The value obtained by multiplying by the distribution coefficient is set as the control amount of the slice bolt 7, and the distribution coefficient calculator 21 calculates the distribution coefficients αLL2 to αL+2 based on equation (3).
αt −2= bm(−2/ P
αt −+ −bml −1/P
αt −bm/p
αt ++ =bmL+I /P
01i 42 =bm(+2 /P
・・・・・・・・・・・・(3)
但し、
bm(−2= (bj!−5+bj! −4+bJ!
−3)/3
bmL−+ = (bj −3+bl −2+bll
−+ )/3
bmL−−(bl −+ +bl +bl +1 )/
3・・・・・・・・・(4)
bm(+1− <bl ++ +btz +2 +b
J! +3 )/3
bm(+2− (b4+ +3 +bl +4+l)j
+5 )/3
P−1bmi +2 1+lbm(++ ++lb
ml l+lbmt −1l+lbm(−21で表わさ
れる。分配係数αi−2〜α(+2の符号は坪量の測定
値の符号および第7図の面積s1、S2の比率に基づい
て決定する。分配vlj tXl I n郡20はこの
分配係数αt−2〜αL +2およびP■制御演算部1
9で演算されたり、−2〜ul+2から(5)式に基づ
いてスライスボルトiの制御ffi (J tを演算し
てD/A変換部22に出力する。αt −2= bm(−2/ P αt −+ −bml −1/P αt −bm/p αt ++ =bmL+I /P 01i 42 =bm(+2 /P ・・・・・・・・・・・・(3) However, bm(-2= (bj!-5+bj!-4+bJ!
-3)/3 bmL-+ = (bj -3+bl -2+bll
−+ )/3 bmL−−(bl −+ +bl +bl +1 )/
3・・・・・・・・・(4) bm(+1- <bl ++ +btz +2 +b
J! +3 )/3 bm(+2- (b4+ +3 +bl +4+l)j
+5 )/3 P-1bmi +2 1+lbm(++ ++lb
ml l+lbmt -1l+lbm (expressed as -21. Distribution coefficient αi-2 to α (the sign of +2 is determined based on the sign of the measured value of basis weight and the ratio of areas s1 and S2 in FIG. 7. Distribution vlj tXl I n group 20 is the distribution coefficient αt-2 to αL +2 and P■ control calculation unit 1
9 or calculates the slice bolt i control ffi (Jt) from -2 to ul+2 based on equation (5) and outputs it to the D/A converter 22.
Ut −α i + 2 ’Jt +2
+ α t ++ ut ++
+αt ut +at −+ uL−+ +(X(−
2ut −2・・・・・・・・・・・・(5)
この様にすると、スライスボルトの干渉を自動的に補正
することが出来る。なお、87M検出器13のサンプリ
ング周期は40秒程度であり、制御周期はこのサンプリ
ング周期より長くなるように設定する。また、実際の制
御は例えば測定点360点に対してスライスボルトは4
0点であり、1つのスライスボルトに対して9点の測定
点が対応する。Ut −α i + 2 'Jt +2
+ α t ++ ut ++
+αt ut +at −+ uL−+ +(X(−
2ut -2 (5) In this way, the interference of the slice bolt can be automatically corrected. Note that the sampling period of the 87M detector 13 is about 40 seconds, and the control period is set to be longer than this sampling period. In addition, in actual control, for example, the number of slice bolts is 4 for 360 measurement points.
0 point, and nine measurement points correspond to one slice bolt.
〈発明が解決すべき問題点〉
しかしながらこの様な厚さのプロフィール制御方法はP
IυIIII演鋒郡19で比例、積分演算のみ行なって
いるので連応性にかけるという欠点があった。特に制御
の立ち上げ時には厚さの1g差の変動が大きく、比例、
積分演算のみではこの変動に追随することが不可能であ
り、変動を吸収することができなかった。応答性を高め
るために微分制御を行なうことが一般に行なわれている
が、抄紙工程などでは厚さのプロフィールを測定する測
定周期が長く、微分制御を行なうことができなかった。<Problems to be solved by the invention> However, such a thickness profile control method is
Since only proportional and integral calculations were performed in IυIII Enfeng Gun 19, there was a drawback that it affected connectivity. Especially when starting up the control, the variation of 1g difference in thickness is large, and the proportional
It has been impossible to follow this variation using only integral calculations, and it has been impossible to absorb the variation. Differential control is generally performed to improve responsiveness, but in papermaking processes and the like, the measurement period for measuring the thickness profile is long, making it impossible to perform differential control.
そのため、立ち上げ時はオペレータが表示部17に表示
された厚さのプロフィールの変動を見て、この変動を吸
収するようにマニュアルにて制御していたので、オペレ
ータにかかる負担が大きくなり、また正確な制御ができ
ないために収束性が悪くなるという欠点があった。Therefore, at startup, the operator had to look at the variations in the thickness profile displayed on the display section 17 and manually control the thickness profile to absorb the variations, which placed a heavy burden on the operator. This method has the drawback of poor convergence due to the inability to perform accurate control.
〈発明の目的〉
この発明の目的は、制御の立ち上げ時において収束性の
良い制御ができる厚さのブOイール制御方法を提供する
ことにある。<Objective of the Invention> An object of the present invention is to provide a thickness control method that allows control with good convergence at the start-up of control.
く問題点を解決するための手段〉
前記問題点を解決するために、本発明では複数のスライ
スボルトを調整することによりその間隙のプロフィール
が変化できるスライスリップからバルブ等の原料を吐出
してシートにし、このシートの厚さのプロフィールを測
定して、この測定値と目標値のQ差から前記スライスボ
ルトの制御量を演算して、この制御量により前記スライ
スボルトを操作する厚さのプロフィール制御方法におい
て、少なくとも制御の開始から厚さのプロフィールの偏
差の標準偏差が所定の値以下になるまでの間、今回と前
回サンプリング時の厚さの偏差の差と、前回と前前回の
サンプリング時の厚さの偏差の差を求め、これらの差に
比例する量を制Wmに加算して演算するようにしたもの
である。Means for Solving the Problems〉 In order to solve the problems mentioned above, the present invention has a method of discharging raw materials such as valves from a slicing lip whose gap profile can be changed by adjusting a plurality of slicing bolts. Thickness profile control is performed by measuring the thickness profile of this sheet, calculating the control amount of the slice bolt from the Q difference between the measured value and the target value, and operating the slice bolt using this control amount. In the method, at least from the start of control until the standard deviation of the deviation of the thickness profile becomes equal to or less than a predetermined value, The difference in thickness deviation is determined, and an amount proportional to these differences is added to the control Wm for calculation.
〈実施例〉
第1図に本発明に係る厚さのプロフィール制御方法を実
現する装置の構成を示す。なお、第6図と同じ要素には
同一符号を付し、説明を省略する。<Embodiment> FIG. 1 shows the configuration of an apparatus for realizing the thickness profile control method according to the present invention. Note that the same elements as in FIG. 6 are designated by the same reference numerals, and explanations thereof will be omitted.
第1図において、30は制御演算部であり、流れ方向フ
ィルタ18の出力が入力される。また、その出力は分配
制御演算部20に出力される。この制御演算部30には
厚さの目標設定値と制御動作を切換えるタイミングを示
す切り換え目標値AXLが入力される。制御演鋒部30
は第6図のPI制御演11部19とほぼ同じ働きをする
が、さらに制御の初期段階で後述する特別の制御を行な
う。In FIG. 1, numeral 30 is a control calculation section, into which the output of the flow direction filter 18 is input. Further, the output is output to the distribution control calculation section 20. A target setting value for thickness and a switching target value AXL indicating the timing for switching the control operation are input to the control calculation unit 30. Control force section 30
has almost the same function as the PI control section 11 in FIG. 6, but additionally performs special control to be described later at the initial stage of control.
次にこの実施例の動作を第2図に基づいて説明する。第
2図は制御の状態を表わしたものであり、横軸は時間、
縦軸は各スライスボルトにおける坪量の大きさを表わす
。また、T1〜TTL+2は87M検出器13のサンプ
リング時刻を、btcは目標設定値を、実1s32はサ
ンプリング時刻T+〜TTL+2における前記(4)式
で示した111目のスライスボルト位置における坪量の
平均値bmLの変化を、点1131はこの平均1直の真
の変化を示す。坪量の測定値はサンプリング時刻T+−
T1+2でのみ求められるので、これらの測定値を直線
で結んで表わしている。制御は時刻Oから始まるものと
する。比例積分制御の演算式(1)式を離散系に変換す
ると、その漸化式は
uL (n+1>−LJt (n) −Kp (TI
ΔBt(n+1 )−ΔB< (n))・−−−−−
(6)で表わされる。ここにおいて、ΔBt (n)
は(2)式で示した坪量の平均値と目標設定値との偏差
を表わし、nは時系列上の順番を表わす。また、TI
= (Kp−Kx )/Kpである。(6)式による演
算のみでは前述したように第2図のように偏差が大きい
ときに応答性が悪くなり、目標設定値に達するのが遅く
なる。そのため、(6)式に偏差の変化分に相当する補
正項を追加する。Next, the operation of this embodiment will be explained based on FIG. Figure 2 shows the control status, and the horizontal axis is time;
The vertical axis represents the basis weight of each slice bolt. In addition, T1 to TTL+2 are the sampling times of the 87M detector 13, btc is the target setting value, and actual 1s32 is the average basis weight at the 111th slice bolt position shown by the above equation (4) at the sampling times T+ to TTL+2. The point 1131 shows the change in the value bmL, and the true change in this average one shift. The measured value of basis weight is obtained at sampling time T+-
Since it can be determined only at T1+2, these measured values are shown by connecting them with a straight line. It is assumed that control begins at time O. When the calculation formula (1) for proportional-integral control is converted to a discrete system, the recurrence formula is uL (n+1>-LJt (n) -Kp (TI
ΔBt(n+1)−ΔB<(n))・----
It is expressed as (6). Here, ΔBt (n)
represents the deviation between the average basis weight value and the target setting value shown in equation (2), and n represents the order in time series. Also, T.I.
= (Kp-Kx)/Kp. As described above, when the deviation is large as shown in FIG. 2, the calculation using equation (6) alone results in poor responsiveness and a delay in reaching the target set value. Therefore, a correction term corresponding to the change in deviation is added to equation (6).
応答性を高める方法として微分制御することが一般に用
いられているが、B/M検出器13のサンプリング周期
は約40秒と長いので制御周期を短くとることができな
いため、通常の意味における微分制御をすることができ
ない。そのため、今回のサンプリング時刻における偏差
と前回のそれとの差から前回の偏差と前前回のそれとの
差を引いた値に比例する項を制御演譚式に追加するよう
にする。すなわち、今回、前回、tti前回のサンプリ
ング時刻をそれぞれT TL + 1 、丁π、丁’n
−+ とすると、制御lI演粋の漸化式を
ut (n+1)−ut (n>−Kp −(TIΔ
Bt (n+1)−ΔSt (n)) −Ko
(m(n) −m (n−1) )・・・・・・・・・
〈7)とする。但し、
m (n) = [(bml (TTL
+I ) b L c(n+1))−(bm
t(TTL) E)+c(n))]/Ts
m (n −1) = [(bmL(TTL ) −L
l c(n))−(bmt (TTL −+ )
btc (nl)]]/Ts
TX′−(Kp ′−KX−)/Kp −である。Ts
はB/M検出Pi13のサンプリング周期を表わし、ま
たKoは定数であり、Kp′、KI−は比例積分制御と
は異なる比例、積分ゲインである。通常は第2図に示す
ように制御の初期段階では目標設定値btCは定数なの
で、m (n)= [(bmt (TTL 十+ )
bm((Tu))/Ts
m (n 1 )−[(bm((TTL )−bm
t(TTL −+ ) )/Ts
となる。すなわち、m(n)はサンプリング時刻TT1
+I とTTLにおける測定値を結んだ線分の傾き、m
(n−1’)はサンプリング時刻TTLとT1−1に
おける測定値を結んだ線分の傾きを表わす。Differential control is generally used as a method to improve responsiveness, but since the sampling period of the B/M detector 13 is as long as approximately 40 seconds, the control period cannot be shortened. I can't do it. Therefore, a term proportional to the value obtained by subtracting the difference between the previous deviation and the previous deviation from the difference between the deviation at the current sampling time and the previous sampling time is added to the control speech formula. That is, the sampling times of this time, last time, and tti time are respectively T TL + 1, dπ, and d'n.
−+, then the recurrence formula of the control lI operation is ut (n+1)−ut (n>−Kp −(TIΔ
Bt (n+1)−ΔSt (n)) −Ko
(m(n) −m (n-1) )・・・・・・・・・
Let it be <7). However, m (n) = [(bml (TTL
+I)bLc(n+1))-(bm
t(TTL) E)+c(n))]/Ts m (n -1) = [(bmL(TTL) -L
lc(n))−(bmt(TTL−+)
btc (nl)]/Ts TX'-(Kp'-KX-)/Kp-. Ts
represents the sampling period of the B/M detection Pi 13, Ko is a constant, and Kp' and KI- are proportional and integral gains different from proportional-integral control. Normally, as shown in Fig. 2, the target set value btC is a constant at the initial stage of control, so m (n) = [(bmt (TTL +)
bm((Tu))/Ts m (n1)-[(bm((TTL)-bm
t(TTL-+))/Ts. That is, m(n) is the sampling time TT1
The slope of the line segment connecting +I and the measured value at TTL, m
(n-1') represents the slope of the line segment connecting the sampling time TTL and the measured value at T1-1.
制御演粋部30は制御の開始時からこの(7)式に示し
た制御を行う。この制御演算の周期は例えば1秒とし、
B/M検出器13のサンプリング周期より充分短い値と
する。また同時に各サンプリング時刻におけるB/M検
出器13で測定した坪量の測定値のプロフィールの偏差
の標準偏差σとあらかじめ入力されている切り換え目標
値AILとを比較し、標準偏差の2倍がAILより小さ
くなると、第2図に示したように(7)式に示した制御
から(6)式に示す通常の比例積分制御に切換える。こ
の場合、制御周期はサンプリング周期より長くする。な
お、制御部30の出力U(は第6図に示したように分配
制御演算部20に入力され、流れ方向フィルタ18の出
力により求めた分配係数により分配811されて出力さ
れる。The control extractor 30 performs the control shown in equation (7) from the start of the control. The cycle of this control calculation is, for example, 1 second,
The value is set to be sufficiently shorter than the sampling period of the B/M detector 13. At the same time, the standard deviation σ of the deviation of the profile of the basis weight measured by the B/M detector 13 at each sampling time is compared with the switching target value AIL input in advance, and twice the standard deviation is AIL. When it becomes smaller, as shown in FIG. 2, the control shown in equation (7) is switched to the normal proportional-integral control shown in equation (6). In this case, the control period is made longer than the sampling period. Note that the output U of the control section 30 is inputted to the distribution control calculation section 20 as shown in FIG.
第3図にこの制御方法の手順を示すフローチャートを示
す。この一連のフローは制御周期亀に繰返し実行される
。最初に坪量のプロフィールを測定、フィルタリングし
て、(4)式に基づいて各スライスポル、トに対応する
平均坪Jibmを求める。FIG. 3 shows a flowchart showing the procedure of this control method. This series of flows is repeatedly executed in each control cycle. First, the basis weight profile is measured and filtered, and the average basis weight corresponding to each slice port is determined based on equation (4).
次に制御の立も上げ時であるかどうかを判定し、立ち上
げ時であれば、あらかじめ格納されている比例、積分ゲ
インKp−1KX−と定数KOおよび切り換え目標1a
Ax Lを読みだす。次に1サンプリング周期前の制重
量U (N g差Δ87.平均坪ffi b m tお
よび2サンプリング周期前の平均坪l b m tを読
みだす。次に(7)式に従って制御ff1Llを演算し
、(3)式に従って分配係数を計算して(5)式からス
ライスボルトに出力する制tlffiULを演算、出力
する。そして坪mのプロフィールの偏差の標準偏差を求
めてその2倍が切り換え目標値AILより小さいかを調
べる。小さくないと、再度UtZΔat 、bmlを読
みだして制御jffiを演鋒する。この周期は例えば1
秒のような短い周期とする。坪量の測定値はこの短い制
御周期には対応していないが、流れ方向の長周期外乱や
系の時定数が大きい為、制御に支障をきたすことはない
。標準偏差の2倍がAXLより小さくなると、比例積分
制御の為の比例ゲインKP%積分ゲインKIを入力する
。次に必要なデータを読込み、(6)式に従って制Wl
utをvJ算、分配係数を求めて(5)式によりスライ
スボルトの制御品を演算して出力する。すな゛わち、通
常の比例積分制御では制御周期をB/M検出2113の
サンプリング周期より長くして制御を行い、制御の立ち
上げ時ではこの制御周期内でさらに細かく制御するよう
にする。このとき、偏差の変化に対応するmを制tll
lfiに加算することによって、微分制御類似の制御を
行い、応答性を高めるようにする。Next, it is determined whether or not it is time to start up the control, and if it is at the time of startup, the proportional and integral gains Kp-1KX-, constant KO and switching target 1a stored in advance are determined.
Read out Ax L. Next, read out the control weight U (N g difference Δ87.average tsubo ffi b m t and the average tsubo l b m t two sampling periods ago).Next, calculate the control ff1Ll according to equation (7). , the distribution coefficient is calculated according to equation (3), and the control tlffiUL to be output to the slice bolt is calculated and output from equation (5).Then, the standard deviation of the deviation of the tsubo m profile is calculated, and twice that is the switching target value. Check whether it is smaller than AIL. If it is not smaller, read UtZΔat and bml again and operate the control jffi. This period is, for example, 1.
The period is as short as seconds. Although the measured value of basis weight does not correspond to this short control period, it does not interfere with the control because of the long-period disturbance in the flow direction and the large time constant of the system. When twice the standard deviation becomes smaller than AXL, the proportional gain KP% integral gain KI for proportional integral control is input. Next, read the necessary data and control Wl according to formula (6).
ut is calculated by vJ, the distribution coefficient is determined, and the controlled product of the sliced bolt is calculated and output using equation (5). That is, in normal proportional-integral control, control is performed with a control period longer than the sampling period of B/M detection 2113, and at the start of control, finer control is performed within this control period. At this time, control m corresponding to the change in deviation tll
By adding it to lfi, control similar to differential control is performed to improve responsiveness.
なお、(7)式のυJli![を行なう場合の比例ゲイ
ンKp′、積分ゲインKX′は比例積分制御の時の比例
、積分ゲインK P % K xよりも大きくした方が
良い。この理由は比例積分制御は平衡モードであるため
、偏差ΔB+はそれ程大きくならない為と、定常状態時
に系の特性や運転条件が代った時にフィードバックゲイ
ンを大きくしておいた方が系が安定になる為である。ま
た、定数Koはスライス開度が制限内に入るように決定
する必要がある。例えば厚さの偏差の変動が4Q/m2
、Koが0.5、ナンプリング周期Tsが40秒とする
と、Ujは0.05mmになるが、通常スライスボルト
の開度制限は0.02mm程度なので不適当である。こ
の様な場合はKoを0.1程度に設定する。Note that υJli! in equation (7)! It is better to make the proportional gain Kp' and the integral gain KX' larger than the proportional gain Kp' and the integral gain KX' when carrying out the [proportional-integral control]. The reason for this is that proportional-integral control is in equilibrium mode, so the deviation ΔB+ does not become that large, and the system becomes more stable if the feedback gain is increased when the system characteristics or operating conditions change during steady state. It is for the sake of becoming. Further, the constant Ko needs to be determined so that the slice opening is within limits. For example, the variation in thickness deviation is 4Q/m2
, Ko is 0.5, and the numbering period Ts is 40 seconds, then Uj is 0.05 mm, but this is inappropriate because the opening limit of the slice bolt is usually about 0.02 mm. In such a case, Ko is set to about 0.1.
第4図にこの実施例の効果を模式的に表わした図をしめ
す。横軸は時間であり、ゼロから制御が開始される。ま
た縦軸は坪mのプロフィールの偏差の標準偏差σの2倍
を表わす。33は本発明によるυ1tlllであり、3
4は従来のマニュアルによる制御である。本発明による
制御方法では標準偏差σの低下が著しく、時間■1で2
σの値が切り換え目標値AXLより小さくなり通常の比
例積分制御に切替わる。時間T3では標準偏差σは安定
した随に落着く。それに対して従来の制御方法では標準
偏差σはなかなか低下せず、T1より長い時間T2で切
り換え目標feAMLより低下し、通常の比例積分制御
に移行する。標準偏差σが安定するのはT3よりずっと
後のT4になる。FIG. 4 is a diagram schematically showing the effects of this embodiment. The horizontal axis is time, and control starts from zero. Further, the vertical axis represents twice the standard deviation σ of the deviation of the profile of tsubo m. 33 is υ1tllll according to the present invention, and 3
4 is conventional manual control. In the control method according to the present invention, the standard deviation σ decreases significantly, and at time
The value of σ becomes smaller than the switching target value AXL, and the control is switched to normal proportional-integral control. At time T3, the standard deviation σ settles down to a stable constant. On the other hand, in the conventional control method, the standard deviation σ does not easily decrease, and falls below the switching target feAML in time T2, which is longer than T1, and shifts to normal proportional-integral control. The standard deviation σ becomes stable at T4, which is much later than T3.
なお、この実施例では標準偏差σの2倍が切り換え目標
値△I[より低下すると比例積分制御を行なうようにし
たが、低下後もそれまでと同じ制御を続行するようにし
てもよい。この場合、比例ゲインKp−1積分ゲインK
x−1定数Koの値は変えた方が制御性が良くなる。In this embodiment, proportional-integral control is performed when twice the standard deviation σ falls below the switching target value ΔI[, but the same control may be continued even after the deviation falls. In this case, proportional gain Kp-1 integral gain K
Controllability is improved by changing the value of the x-1 constant Ko.
また、この実施例では制御の切り換えを厚さのプロフィ
ールの偏差の標準偏差のみで判定するようにしたが、こ
の判定基準に加えて厚さのプロフィールの偏差の最大随
が所定の値以下になった時に切換えるという条件を追加
するようにしても良い。In addition, in this embodiment, control switching is determined based only on the standard deviation of the thickness profile deviation, but in addition to this criterion, the maximum deviation of the thickness profile must be less than or equal to a predetermined value. It is also possible to add a condition for switching when the
さらに、この実施例では抄紙工程に付いて説明したが、
プラスチックフィルムの製造工程等その他の工程に応用
することも出来る。Furthermore, although the paper-making process was explained in this example,
It can also be applied to other processes such as the manufacturing process of plastic films.
〈発明の効果〉
以上実施例に基づいて具体的に説明したように、この発
明では制御の開始から厚さのプロフィニルの偏差の標準
(g差が所定の値以下になるまでは、今回と前回のサン
プリング時の厚さの偏差の差と、前回と前前回のサンプ
リング時の厚さの偏差の差との差に比例する量を制御品
に加算するようにした。そのため、厚さのプロフィール
の偏差のばらつきの収束が早くなり、立ち上げ時間を知
くすることができる。<Effects of the Invention> As specifically explained based on the embodiments above, in this invention, from the start of control until the standard deviation of thickness profinyl (g difference becomes less than a predetermined value), An amount proportional to the difference between the thickness deviation during sampling and the difference between the thickness deviation during the previous sampling and the previous sampling is added to the controlled product.Therefore, the thickness profile The variation in deviation converges quickly, and the start-up time can be determined.
また、従来マニュアルで1JlIIシていたちのが自動
制御できるので、オペレータの負担が軽減されるという
効果もある。Furthermore, since the conventional manual operation can be automatically controlled, the burden on the operator is reduced.
第1図は本発明に係る厚さのプロフィール制御方法を実
施する装置の構成の一例を示すブロック図、第2図は本
発明の制御の一例を示す特性曲線図、第3図は本発明の
制御方法の一実施例を示すフローチャート、第4図は効
果を示す特性曲線図、第5図は抄紙装置の構成を示す構
成図、第6図は従来の制御方法を実施する制m装置の構
成を示すブロック図、第7図は厚さのプロフィールの一
例を示す図である。
5・・・スライスリップ、7・・・スライスボルト、1
3・・・8/M検出器、14・・・制御部、18・・・
流れ方向フィルタ、20・・・分配υ」御演算部、21
・・・分配係数演算部、30・・・制御演算部。
第4図FIG. 1 is a block diagram showing an example of the configuration of an apparatus for carrying out the thickness profile control method according to the present invention, FIG. 2 is a characteristic curve diagram showing an example of the control according to the present invention, and FIG. A flowchart showing an example of the control method, FIG. 4 is a characteristic curve diagram showing the effect, FIG. 5 is a configuration diagram showing the configuration of a paper making device, and FIG. 6 is a configuration of a m control device implementing the conventional control method. FIG. 7 is a block diagram showing an example of the thickness profile. 5...Slice lip, 7...Slice bolt, 1
3...8/M detector, 14...control unit, 18...
Flow direction filter, 20...Distribution υ" control calculation unit, 21
. . . Distribution coefficient calculation section, 30 . . . Control calculation section. Figure 4
Claims (1)
変化できるスライスリップから原料を吐出してシートに
し、このシートの厚さのプロフィールをサンプリングし
てこの測定値と目標値の偏差から比例、積分演算により
前記スライスボルトの制御量を演算して、この制御量に
より前記スライスボルトを操作する厚さのプロフィール
制御方法において、 少なくとも制御の開始から厚さのプロフィールの偏差の
標準偏差が所定の値以下になるまでの間、今回と前回サ
ンプリング時の厚さの偏差の差と、前回と前前回のサン
プリング時の厚さの偏差の差を求め、これらの差に比例
する量を制御量に加算して演算することを特徴とする厚
さのプロフィール制御方法。[Claims] The raw material is discharged from a slicing lip whose gap profile can be changed by a plurality of slicing bolts to form a sheet, the thickness profile of this sheet is sampled, and the deviation between the measured value and the target value is calculated proportionally. , in a thickness profile control method in which a control amount of the slice bolt is calculated by an integral calculation and the slice bolt is operated using the control amount, the standard deviation of the deviation of the thickness profile is at least a predetermined value from the start of the control. Until the value falls below the value, calculate the difference in thickness deviation between the current and previous samplings, and the difference between the thickness deviations between the previous and previous samplings, and set an amount proportional to these differences as the control variable. A thickness profile control method characterized by calculation by addition.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26309887A JPH01111088A (en) | 1987-10-19 | 1987-10-19 | Thickness profile control method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26309887A JPH01111088A (en) | 1987-10-19 | 1987-10-19 | Thickness profile control method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01111088A true JPH01111088A (en) | 1989-04-27 |
Family
ID=17384796
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26309887A Pending JPH01111088A (en) | 1987-10-19 | 1987-10-19 | Thickness profile control method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01111088A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04126887A (en) * | 1990-05-31 | 1992-04-27 | Yokogawa Electric Corp | Paper machine control device and its control method |
-
1987
- 1987-10-19 JP JP26309887A patent/JPH01111088A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04126887A (en) * | 1990-05-31 | 1992-04-27 | Yokogawa Electric Corp | Paper machine control device and its control method |
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