JPH0992701A - データベースを用いたlsiの故障解析支援装置 - Google Patents
データベースを用いたlsiの故障解析支援装置Info
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- JPH0992701A JPH0992701A JP7250298A JP25029895A JPH0992701A JP H0992701 A JPH0992701 A JP H0992701A JP 7250298 A JP7250298 A JP 7250298A JP 25029895 A JP25029895 A JP 25029895A JP H0992701 A JPH0992701 A JP H0992701A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 類似故障が発生したときに迅速に過去の解析
事例を参照することが可能な技術を提供すること。 【解決手段】 データを格納する外部記憶装置と情報処
理装置とを具備するデータベースを用いたLSIの故障
解析支援装置において、前記外部記憶装置は故障解析の
作業手順、該作業手順の判断基準データおよび前記作業
手順に基づいて得られた解析結果データを有するデータ
ベースファイルを具備し、前記データベース制御部は、
LSIの故障解析の作業手順データと該作業手順の各段
階での判断基準データとの格納を管理する作業手順格納
管理手段と、前記作業手順にしたがい得られた観察結果
から作業者が判定した解析結果データの格納を管理する
解析結果格納管理手段と、前記解析結果データと該解析
結果データを得るために実行した全ての作業手順と関連
付けを管理する関連情報管理手段とを具備する。
事例を参照することが可能な技術を提供すること。 【解決手段】 データを格納する外部記憶装置と情報処
理装置とを具備するデータベースを用いたLSIの故障
解析支援装置において、前記外部記憶装置は故障解析の
作業手順、該作業手順の判断基準データおよび前記作業
手順に基づいて得られた解析結果データを有するデータ
ベースファイルを具備し、前記データベース制御部は、
LSIの故障解析の作業手順データと該作業手順の各段
階での判断基準データとの格納を管理する作業手順格納
管理手段と、前記作業手順にしたがい得られた観察結果
から作業者が判定した解析結果データの格納を管理する
解析結果格納管理手段と、前記解析結果データと該解析
結果データを得るために実行した全ての作業手順と関連
付けを管理する関連情報管理手段とを具備する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、データベースを用
いたLSIの故障解析支援装置に関し、特に、故障した
LSIチップの故障個所を特定して、故障原因を究明す
る作業者を支援するためのデータベースに関するもので
ある。
いたLSIの故障解析支援装置に関し、特に、故障した
LSIチップの故障個所を特定して、故障原因を究明す
る作業者を支援するためのデータベースに関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】LSI故障解析とは、初期テストでの動
作不良や使用中に故障したLSIチップの故障個所を見
つけだし、故障原因の究明を行うことにより、再び同じ
故障が発生することがないようにするための是正処置を
検討する技術である。
作不良や使用中に故障したLSIチップの故障個所を見
つけだし、故障原因の究明を行うことにより、再び同じ
故障が発生することがないようにするための是正処置を
検討する技術である。
【0003】従来のLSI故障解析では、故障解析に要
する時間とその費用とがLSIの製造プロセス技術の高
度化に伴って増大しているので、その対応策として故障
解析技術の向上が求められている。
する時間とその費用とがLSIの製造プロセス技術の高
度化に伴って増大しているので、その対応策として故障
解析技術の向上が求められている。
【0004】故障解析技術の向上策として、まず、故障
解析を行う作業者はネットワークで接続されるパソコン
に電子顕微鏡あるいはEBテスタ(Electron
Beamテスタ:電子ビームテスタ)等のLSI故障解
析装置が出力する故障個所の出力画像をビデオキャプチ
ャーボードを介して取り込み、さらに、前記取り込んだ
画像をパソコンに接続する着脱式ハードディスクあるい
は光ディスク等の外部記憶装置に記憶しておく。
解析を行う作業者はネットワークで接続されるパソコン
に電子顕微鏡あるいはEBテスタ(Electron
Beamテスタ:電子ビームテスタ)等のLSI故障解
析装置が出力する故障個所の出力画像をビデオキャプチ
ャーボードを介して取り込み、さらに、前記取り込んだ
画像をパソコンに接続する着脱式ハードディスクあるい
は光ディスク等の外部記憶装置に記憶しておく。
【0005】他の作業者は、前述する外部記憶装置に記
憶されている故障個所の出力画像を参考にする、すなわ
ち、他の作業者が行った故障解析の結果を全作業者が共
有することにより、作業者の故障解析技術を向上させ、
解析作業の効率を高める技術が、文献(1)の「Steve
Morris,Ed Black, "THE ADVENT OF THE PAPERLESS FAIL
URE ANALYSIS INFORMATION SYSTEM," ISTFA 1990 Inter
national Symposium for Testing and Failure Analysi
s pp.81-87.」に紹介されている。
憶されている故障個所の出力画像を参考にする、すなわ
ち、他の作業者が行った故障解析の結果を全作業者が共
有することにより、作業者の故障解析技術を向上させ、
解析作業の効率を高める技術が、文献(1)の「Steve
Morris,Ed Black, "THE ADVENT OF THE PAPERLESS FAIL
URE ANALYSIS INFORMATION SYSTEM," ISTFA 1990 Inter
national Symposium for Testing and Failure Analysi
s pp.81-87.」に紹介されている。
【0006】その他の技術は、文献(2)の「Laurel
M.Bellay,P.B.Ghate,Lawrence C.Wagner, "COMPUTERS I
N FAILURE ANALYSIS," ISTFA 1990 International Symp
osiumfor Testing and Failure Analysis pp.89-95.」
に紹介されている。
M.Bellay,P.B.Ghate,Lawrence C.Wagner, "COMPUTERS I
N FAILURE ANALYSIS," ISTFA 1990 International Symp
osiumfor Testing and Failure Analysis pp.89-95.」
に紹介されている。
【0007】この文献(2)の技術によれば、パソコン
から入力した故障解析データは、大型計算機上のリレー
ショナルデータベースに格納される。
から入力した故障解析データは、大型計算機上のリレー
ショナルデータベースに格納される。
【0008】パレート分析機能とエキスパートシステム
による故障ガイド機能を持っており、故障解析データを
集めて大型計算機に蓄え、解析の支援に使う。前述する
機能を持たせたことにより、故障解析データをより利用
しやすくしたばかりでなく、エキスパートシステムを通
じて現在の故障解析を効率化することができる。
による故障ガイド機能を持っており、故障解析データを
集めて大型計算機に蓄え、解析の支援に使う。前述する
機能を持たせたことにより、故障解析データをより利用
しやすくしたばかりでなく、エキスパートシステムを通
じて現在の故障解析を効率化することができる。
【0009】また、他の技術として、CMOS集積回路
の故障解析支援を目的としたエキスパートシステムが、
文献(3)の「Christopher L.Henderson and Jerry M.
Soden, "ICFAX, An Integrated Circuit Failure Analy
sis Expert System," 1991 IEEE/IRPS pp.142-151.」に
紹介されている。
の故障解析支援を目的としたエキスパートシステムが、
文献(3)の「Christopher L.Henderson and Jerry M.
Soden, "ICFAX, An Integrated Circuit Failure Analy
sis Expert System," 1991 IEEE/IRPS pp.142-151.」に
紹介されている。
【0010】前述するエキスパートシステムでは、故障
解析データをより解析しやすくしたばかりでなく、エキ
スパートシステムを通じて故障解析を効率化できる。
解析データをより解析しやすくしたばかりでなく、エキ
スパートシステムを通じて故障解析を効率化できる。
【0011】また、他の技術として、メモリLSIの故
障解析を自動的に行うエキスパートシステムが、文献
(4)の「T.Tsujide,et.al., "Automatic Memory fail
ure Analysis Using an Expert System in Conjunction
with a memory Tester/Analyzer," IEEE/IRPS 1993,P
P.184-189.」に紹介されている。
障解析を自動的に行うエキスパートシステムが、文献
(4)の「T.Tsujide,et.al., "Automatic Memory fail
ure Analysis Using an Expert System in Conjunction
with a memory Tester/Analyzer," IEEE/IRPS 1993,P
P.184-189.」に紹介されている。
【0012】このエキスパートシステムでは、メモリL
SIの故障モードと機能動作試験との関係を示す対応表
を作成し、故障個所の推定をエキスパートシステムで行
っている。
SIの故障モードと機能動作試験との関係を示す対応表
を作成し、故障個所の推定をエキスパートシステムで行
っている。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】本発明者は、前記従来
技術を検討した結果、以下の問題点を見いだした。
技術を検討した結果、以下の問題点を見いだした。
【0014】従来のLSIの故障解析支援装置におい
て、(1)の文献に記載のデータベースを用いたLSI
の故障解析支援装置は、故障解析を行う作業者がそれぞ
れ個々に蓄積していた解析結果を作業者全員で共有する
ことに重点をおいていたために、結果に至った手順等に
ついては考慮されていなかった。
て、(1)の文献に記載のデータベースを用いたLSI
の故障解析支援装置は、故障解析を行う作業者がそれぞ
れ個々に蓄積していた解析結果を作業者全員で共有する
ことに重点をおいていたために、結果に至った手順等に
ついては考慮されていなかった。
【0015】このため、故障解析に使用した資料および
結果に至った手順等についての記載については情報量が
不十分なものが多く、類似故障を解析した他の作業者の
経験を十分に生かすことができないという問題があっ
た。
結果に至った手順等についての記載については情報量が
不十分なものが多く、類似故障を解析した他の作業者の
経験を十分に生かすことができないという問題があっ
た。
【0016】また、(2),(3)の文献に記載される
エキスパートシステムを用いたLSIの故障解析支援装
置では、論理LSIのように品種ごとに故障モードと解
析方法が異なり、全ての品種に対応する解析手順を一般
化およびルール化することができない、すなわち、LS
I故障解析を行うときの解析手順を知識として完全に確
立できないので、(3)の文献「ICFAX」で示され
る例のように、LSI故障の内でも非常に単純な故障に
しか適応できないという問題があった。
エキスパートシステムを用いたLSIの故障解析支援装
置では、論理LSIのように品種ごとに故障モードと解
析方法が異なり、全ての品種に対応する解析手順を一般
化およびルール化することができない、すなわち、LS
I故障解析を行うときの解析手順を知識として完全に確
立できないので、(3)の文献「ICFAX」で示され
る例のように、LSI故障の内でも非常に単純な故障に
しか適応できないという問題があった。
【0017】さらには、これまでのLSIの故障解析
は、作業者がそれぞれ独自の経験をもとに行っていたの
で、未熟練者への技能継承に時間がかかるという問題が
あった。
は、作業者がそれぞれ独自の経験をもとに行っていたの
で、未熟練者への技能継承に時間がかかるという問題が
あった。
【0018】本発明の目的は、類似故障が発生したとき
に迅速に過去の解析事例を参照することが可能な技術を
提供することにある。
に迅速に過去の解析事例を参照することが可能な技術を
提供することにある。
【0019】本発明の他の目的は、故障解析の専門家で
なくても解析を行えるように、解析手順の指示を行うこ
とが可能な技術を提供することにある。
なくても解析を行えるように、解析手順の指示を行うこ
とが可能な技術を提供することにある。
【0020】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らか
になるであろう。
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らか
になるであろう。
【0021】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
【0022】(1)データを格納する外部記憶装置と、
該外部記憶装置に格納されるデータを管理するデータベ
ース管理部を有する第1の情報処理装置と、該第1の情
報処理装置と通信ネットワークで接続される少なくとも
1台の第2の情報処理装置とを具備するデータベースを
用いたLSIの故障解析支援装置において、前記外部記
憶装置はLSIの故障解析の作業手順データ、該作業手
順の各段階での故障の有無を判断する判断基準データお
よび前記作業手順に基づいて得られた観察結果から作業
者が判定した解析結果データを有するデータベースファ
イルを具備し、前記データベース制御部は、LSIの故
障解析の作業手順データと該作業手順の各段階での故障
の有無を判断する判断基準データの格納を管理する作業
手順格納管理手段と、前記作業手順に基づいて得られた
観察結果から作業者が判定した解析結果データの格納を
管理する解析結果格納管理手段と、前記解析結果データ
と該解析結果データを得るために実行した全ての作業手
順と関連付けを管理する関連情報管理手段とを具備す
る。
該外部記憶装置に格納されるデータを管理するデータベ
ース管理部を有する第1の情報処理装置と、該第1の情
報処理装置と通信ネットワークで接続される少なくとも
1台の第2の情報処理装置とを具備するデータベースを
用いたLSIの故障解析支援装置において、前記外部記
憶装置はLSIの故障解析の作業手順データ、該作業手
順の各段階での故障の有無を判断する判断基準データお
よび前記作業手順に基づいて得られた観察結果から作業
者が判定した解析結果データを有するデータベースファ
イルを具備し、前記データベース制御部は、LSIの故
障解析の作業手順データと該作業手順の各段階での故障
の有無を判断する判断基準データの格納を管理する作業
手順格納管理手段と、前記作業手順に基づいて得られた
観察結果から作業者が判定した解析結果データの格納を
管理する解析結果格納管理手段と、前記解析結果データ
と該解析結果データを得るために実行した全ての作業手
順と関連付けを管理する関連情報管理手段とを具備す
る。
【0023】(2)前記(1)の前記関連情報管理手段
は、前記LSIの故障解析の作業内容を表現したフロー
チャートのシンボルと、前記作業手順データとを1対1
に関連付けておき、前記シンボルを選択することにより
作業手順を検索する。
は、前記LSIの故障解析の作業内容を表現したフロー
チャートのシンボルと、前記作業手順データとを1対1
に関連付けておき、前記シンボルを選択することにより
作業手順を検索する。
【0024】前述する(1)の手段によれば、関連情報
管理手段が外部記憶装置に格納される過去に行ったLS
Iの故障解析の解析結果データと、前記解析結果を得る
ために実行した一連の作業手順とを関連付けて管理して
いるので、たとえば、作業者がLSIの故障解析を行う
場合、作業者は故障に伴う症状等を検索キーワードとし
て過去の解析結果を検索することにより、前述するLS
Iの故障と類似した症状のLSIの故障解析を行ったと
きの解析結果を得ることができると共に、前記解析結果
を得るため行った作業手順および判断基準とを参照でき
る。
管理手段が外部記憶装置に格納される過去に行ったLS
Iの故障解析の解析結果データと、前記解析結果を得る
ために実行した一連の作業手順とを関連付けて管理して
いるので、たとえば、作業者がLSIの故障解析を行う
場合、作業者は故障に伴う症状等を検索キーワードとし
て過去の解析結果を検索することにより、前述するLS
Iの故障と類似した症状のLSIの故障解析を行ったと
きの解析結果を得ることができると共に、前記解析結果
を得るため行った作業手順および判断基準とを参照でき
る。
【0025】したがって、作業者は検索によって得られ
た過去の作業手順をもとに故障解析作業を行うことがで
きるので、無駄な作業を行うことなくLSIの故障解析
を行うことができる。
た過去の作業手順をもとに故障解析作業を行うことがで
きるので、無駄な作業を行うことなくLSIの故障解析
を行うことができる。
【0026】前述する(2)の手段によれば、LSIの
故障解析の標準的な作業手順をフローチャートのシンボ
ルにしておき、前記シンボルと手順格納手段に管理され
る作業手順データおよび各手順ごとの判断基準データと
を関連情報管理手段により関連付けさせておくことによ
り、作業者は前記フローチャートにシンボルとして表示
される作業および判断をフローチャートにしたがって進
めることにより、LSIの故障解析を行うことができる
ので、未熟練者でも容易にLSIの故障解析を行うこと
ができる。
故障解析の標準的な作業手順をフローチャートのシンボ
ルにしておき、前記シンボルと手順格納手段に管理され
る作業手順データおよび各手順ごとの判断基準データと
を関連情報管理手段により関連付けさせておくことによ
り、作業者は前記フローチャートにシンボルとして表示
される作業および判断をフローチャートにしたがって進
めることにより、LSIの故障解析を行うことができる
ので、未熟練者でも容易にLSIの故障解析を行うこと
ができる。
【0027】
【発明の実施の形態】以下、本発明について、発明の実
施の形態(実施例)とともに図面を参照して詳細に説明
する。
施の形態(実施例)とともに図面を参照して詳細に説明
する。
【0028】なお、発明の実施の形態を説明するための
全図において、同一機能を有するものは同一符号を付
け、その繰り返しの説明は省略する。
全図において、同一機能を有するものは同一符号を付
け、その繰り返しの説明は省略する。
【0029】図1は本発明の実施の形態であるデータベ
ースを用いたLSIの故障解析支援装置の概略構成を示
すブロック図であり、1はデータ処理室、2は解析作業
室、3は通信ネットワーク、4はパーソナルコンピュー
タa(パソコンa第2の情報処理装置)、5はパーソナ
ルコンピュータb(パソコンb,第2の情報処理装
置)、6はイメージスキャナa、7はプリンタ、8はワ
ークステーションa(第1の情報処理装置)、9はワー
クステーションb(第2の情報処理装置)、10は磁気
ディスク装置(外部記憶装置)、11はイメージスキャ
ナbを示す。
ースを用いたLSIの故障解析支援装置の概略構成を示
すブロック図であり、1はデータ処理室、2は解析作業
室、3は通信ネットワーク、4はパーソナルコンピュー
タa(パソコンa第2の情報処理装置)、5はパーソナ
ルコンピュータb(パソコンb,第2の情報処理装
置)、6はイメージスキャナa、7はプリンタ、8はワ
ークステーションa(第1の情報処理装置)、9はワー
クステーションb(第2の情報処理装置)、10は磁気
ディスク装置(外部記憶装置)、11はイメージスキャ
ナbを示す。
【0030】図1において、データ処理室1はパソコン
a4、パソコンb5、イメージスキャナa6およびプリ
ンタ7を備えており、パソコンa4あるいはパソコンb
5により故障解析の結果の入力および途中経過の参照が
できる。
a4、パソコンb5、イメージスキャナa6およびプリ
ンタ7を備えており、パソコンa4あるいはパソコンb
5により故障解析の結果の入力および途中経過の参照が
できる。
【0031】解析作業室2は、ワークステーションa
8、ワークステーションb9、磁気ディスク10、イメ
ージスキャナb11を備えており、図示しない発光/発
熱解析装置、OBIC(Optical Beam I
nduced Current)およびEBテスタ(E
lectron Beamテスタ:電子ビームテスタ)
を用いて行ったLSIの解析結果を入力および作業手順
等のデータの表示ができる。
8、ワークステーションb9、磁気ディスク10、イメ
ージスキャナb11を備えており、図示しない発光/発
熱解析装置、OBIC(Optical Beam I
nduced Current)およびEBテスタ(E
lectron Beamテスタ:電子ビームテスタ)
を用いて行ったLSIの解析結果を入力および作業手順
等のデータの表示ができる。
【0032】通信ネットワーク3はデータ処理室1およ
び解析作業室2に設置されるパソコンa,b(4,
5)、ワークステーションa,b(8,9)およびプリ
ンタ7を接続する。
び解析作業室2に設置されるパソコンa,b(4,
5)、ワークステーションa,b(8,9)およびプリ
ンタ7を接続する。
【0033】パソコンa,b(4,5)は、周知の情報
処理装置であり故障解析の結果および途中経過の確認が
行えると共に、特に、パソコンa4は周知のイメージス
キャナ6と接続されており、このイメージスキャナ6を
用いて、本実施の形態のデータベースを用いたLSIの
故障解析支援装置に図および写真等を画像データとして
入力できる。
処理装置であり故障解析の結果および途中経過の確認が
行えると共に、特に、パソコンa4は周知のイメージス
キャナ6と接続されており、このイメージスキャナ6を
用いて、本実施の形態のデータベースを用いたLSIの
故障解析支援装置に図および写真等を画像データとして
入力できる。
【0034】プリンタ7は周知のプリンタであり、通信
ネットワーク3に接続されるパソコンa,b(4,5)
およびワークステーションa,b(8,9)からデータ
の印刷、および、表示画面のハードコピーが取れる。
ネットワーク3に接続されるパソコンa,b(4,5)
およびワークステーションa,b(8,9)からデータ
の印刷、および、表示画面のハードコピーが取れる。
【0035】ワークステーションa,b(8,9)は、
周知の情報処理装置であり、図示しない発光/発熱解析
装置、OBICおよびEBテスタを用いて行ったLSI
の解析結果の入力および作業手順等のデータの表示が行
えると共に、特に、ワークステーションb9はデータベ
ースサーバとしての機能を持つ。
周知の情報処理装置であり、図示しない発光/発熱解析
装置、OBICおよびEBテスタを用いて行ったLSI
の解析結果の入力および作業手順等のデータの表示が行
えると共に、特に、ワークステーションb9はデータベ
ースサーバとしての機能を持つ。
【0036】磁気ディスク装置10はワークステーショ
ンb9に接続されており、故障解析の作業手順の作業デ
ータ、故障解析の結果のデータをデータベースファイル
として格納する。
ンb9に接続されており、故障解析の作業手順の作業デ
ータ、故障解析の結果のデータをデータベースファイル
として格納する。
【0037】図2はワークステーションb9が有するデ
ータベース制御部の概略構成を示す機能ブロック図であ
り、200はデータベース制御部、201は作業手順格
納管理手段、202は解析結果格納管理手段、203は
検索手段、204は表示/入力手段、205は関連情報
管理手段を示す。
ータベース制御部の概略構成を示す機能ブロック図であ
り、200はデータベース制御部、201は作業手順格
納管理手段、202は解析結果格納管理手段、203は
検索手段、204は表示/入力手段、205は関連情報
管理手段を示す。
【0038】図2において、作業手順格納管理手段20
1は後述するように階層的に作業手順を記述した作業手
順データを管理しており、その作業手順データとして
は、 (a)ICの品種、ロット名およびウエハ番号等の故障
個所を表現するためのデータ項目 (b)作業手順内容を表現するための、条件、結果、判
断基準等のデータ (c)視覚的に作業内容を表現するための代表的写真お
よび図面 等である。
1は後述するように階層的に作業手順を記述した作業手
順データを管理しており、その作業手順データとして
は、 (a)ICの品種、ロット名およびウエハ番号等の故障
個所を表現するためのデータ項目 (b)作業手順内容を表現するための、条件、結果、判
断基準等のデータ (c)視覚的に作業内容を表現するための代表的写真お
よび図面 等である。
【0039】また、これらの作業手順データは、磁気デ
ィスク装置10にデータベースファイルとして格納され
る。
ィスク装置10にデータベースファイルとして格納され
る。
【0040】解析結果格納管理手段202が管理するデ
ータは、故障解析の概要を示すデータであり、 (A)ICの品種、ロット名およびウエハ番号等の故障
個所を表現するためのデータ項目 (B)図示しない発光/発熱解析装置、OBICおよび
EBテスタ等の故障解析装置による観察結果および観察
したときの条件 (C)解析結果から得られた故障メカニズム (D)前述する故障メカニズムを示す写真および図面 等の解析結果データを管理する。
ータは、故障解析の概要を示すデータであり、 (A)ICの品種、ロット名およびウエハ番号等の故障
個所を表現するためのデータ項目 (B)図示しない発光/発熱解析装置、OBICおよび
EBテスタ等の故障解析装置による観察結果および観察
したときの条件 (C)解析結果から得られた故障メカニズム (D)前述する故障メカニズムを示す写真および図面 等の解析結果データを管理する。
【0041】また、これらの解析結果データは磁気ディ
スク装置10にデータベースファイルとして格納され
る。
スク装置10にデータベースファイルとして格納され
る。
【0042】検索手段203は、パソコンa,b(4,
5)およびワークステーションa,b(8,9)に接続
される図示しない入力手段から入力されるデータ項目等
を検索条件として、解析結果格納管理手段202が管理
する解析結果の中から検索条件と一致する解析結果を検
索して表示/入力手段204に転送する。
5)およびワークステーションa,b(8,9)に接続
される図示しない入力手段から入力されるデータ項目等
を検索条件として、解析結果格納管理手段202が管理
する解析結果の中から検索条件と一致する解析結果を検
索して表示/入力手段204に転送する。
【0043】なお、検索結果の表示方法としては検索条
件と一致する解析結果を1件づつ表示する方法の他に、
前述する(D)に示す故障メカニズムを示す写真および
図を一覧表として表示することもできるので、作業者は
故障の傾向を画像により把握できる。
件と一致する解析結果を1件づつ表示する方法の他に、
前述する(D)に示す故障メカニズムを示す写真および
図を一覧表として表示することもできるので、作業者は
故障の傾向を画像により把握できる。
【0044】表示/入力手段24は、データベースへの
入出力を制御する部分であり、ワークステーションb9
の図示しない入力手段から入力されるデータベースに対
する指示を作業手順格納管理手段201、解析結果格納
管理手段202および検索手段203に入力すると共
に、作業手順格納管理手段201、解析結果格納管理手
段202および検索手段203の出力をワークステーシ
ョンb9に接続される出力手段に出力して、表示させ
る。
入出力を制御する部分であり、ワークステーションb9
の図示しない入力手段から入力されるデータベースに対
する指示を作業手順格納管理手段201、解析結果格納
管理手段202および検索手段203に入力すると共
に、作業手順格納管理手段201、解析結果格納管理手
段202および検索手段203の出力をワークステーシ
ョンb9に接続される出力手段に出力して、表示させ
る。
【0045】関連情報管理手段205は、周知の技術を
用いており、磁気ディスク装置10にデータベースファ
イルとして格納される複数件の作業手順データと、その
作業手順データが示す一連の作業手順により得られた1
件の解析結果とを関連付ける情報をリンクファイルを作
成して管理する。
用いており、磁気ディスク装置10にデータベースファ
イルとして格納される複数件の作業手順データと、その
作業手順データが示す一連の作業手順により得られた1
件の解析結果とを関連付ける情報をリンクファイルを作
成して管理する。
【0046】したがって、作業者は磁気ディスク装置1
0に格納される解析結果を参照しながら、その解析結果
に関連する作業手順を磁気ディスク装置10から読み出
して参照できると共に、作業手順を参照しながら、この
作業手順に関連する解析結果を読み出して参照すること
もできる。
0に格納される解析結果を参照しながら、その解析結果
に関連する作業手順を磁気ディスク装置10から読み出
して参照できると共に、作業手順を参照しながら、この
作業手順に関連する解析結果を読み出して参照すること
もできる。
【0047】また、作業手順格納管理手段201から解
析結果格納管理手段202へ解析条件あるいは解析結果
の管理を変更する場合、関連情報管理手段205が管理
する関連情報(リンクファイル)に基づき、該当する作
業手順データからこの作業手順データに対応する解析結
果データへ解析条件あるいは解析結果の管理を変更でき
る。
析結果格納管理手段202へ解析条件あるいは解析結果
の管理を変更する場合、関連情報管理手段205が管理
する関連情報(リンクファイル)に基づき、該当する作
業手順データからこの作業手順データに対応する解析結
果データへ解析条件あるいは解析結果の管理を変更でき
る。
【0048】図3は作業手順格納管理手段201が管理
するLSI故障解析の標準的な作業手順を示すフローチ
ャートの第1の階層を示すフローチャートであり、ステ
ップ301で故障の場所を特定し、次にステップ302
で故障個所の構造を特定し、ステップ303で故障の原
因を同定する。
するLSI故障解析の標準的な作業手順を示すフローチ
ャートの第1の階層を示すフローチャートであり、ステ
ップ301で故障の場所を特定し、次にステップ302
で故障個所の構造を特定し、ステップ303で故障の原
因を同定する。
【0049】図4は図3に示すステップ301の場所を
特定するためのステップを展開したしたときの第2の階
層の作業手順を示すフローチャートであり、ステップ4
01でLSIのテスト(LSIの動作試験)を行うこと
を示しており、次にLSIの故障内容に基づいて故障の
タイプを故障タイプA402〜故障タイプC404から
選ぶ。
特定するためのステップを展開したしたときの第2の階
層の作業手順を示すフローチャートであり、ステップ4
01でLSIのテスト(LSIの動作試験)を行うこと
を示しており、次にLSIの故障内容に基づいて故障の
タイプを故障タイプA402〜故障タイプC404から
選ぶ。
【0050】図5は図4に示すステップ404の故障タ
イプCの作業手順を示すフローチャートであり、作業デ
ータとして、以下に示すものが格納される。
イプCの作業手順を示すフローチャートであり、作業デ
ータとして、以下に示すものが格納される。
【0051】まず、故障解析の対象となるLSIがパッ
ケージングされているのか(ステップ501)、ウエハ
のままであるのか(ステップ502)を確認し、ステッ
プ503で発光解析を行う。
ケージングされているのか(ステップ501)、ウエハ
のままであるのか(ステップ502)を確認し、ステッ
プ503で発光解析を行う。
【0052】次に、ステップ504で発熱解析を行い、
ステップ505で作業者はLSIのレイアウト上での発
光・発熱個所の位置を特定して、その結果から故障原因
を推定する(ステップ506)。
ステップ505で作業者はLSIのレイアウト上での発
光・発熱個所の位置を特定して、その結果から故障原因
を推定する(ステップ506)。
【0053】ステップ507では、作業者はステップ5
06で推定した結果からEBテスタによる検査が必要か
を判断し、必要ならばステップ508でEBテスタの準
備をし、EBテスタで故障個所を特定して(ステップ5
09)、ステップ510で構造解析を行う。
06で推定した結果からEBテスタによる検査が必要か
を判断し、必要ならばステップ508でEBテスタの準
備をし、EBテスタで故障個所を特定して(ステップ5
09)、ステップ510で構造解析を行う。
【0054】図6は作業手順データの画面表示の一例を
示す図であり、たとえば、LSIの品種、ウエハのロッ
ト番号、入力データ、条件、結果、出力データ、判断、
次の手順、登録者、登録日、解析項目、代表写真および
コメントおよび手順種別からなるデータ部分と、代表写
真・図表時、故障解析データの画面への切り換え、保
存、削除およびリンクの指示等のコマンド部から構成さ
れる。
示す図であり、たとえば、LSIの品種、ウエハのロッ
ト番号、入力データ、条件、結果、出力データ、判断、
次の手順、登録者、登録日、解析項目、代表写真および
コメントおよび手順種別からなるデータ部分と、代表写
真・図表時、故障解析データの画面への切り換え、保
存、削除およびリンクの指示等のコマンド部から構成さ
れる。
【0055】図7は解析結果データの画面表示の一例を
示す図であり、LSIの品種、ウエハのロット番号、個
所、光顕座標、設計座標、ブロック、セルライブラリ、
セル名、登録者、登録日、代表写真およびコメント、故
障メカニズムの原因、構造、備考、故障発生、テスタ、
発光の有無、発熱の有無、EBテスタによる観察結果
(EB)、平面および断面からなるデータ部分と、検
索、手順入力の画面への切り換え、代表写真・図表示、
新データの登録、保存および削除等のコマンド部から構
成される。
示す図であり、LSIの品種、ウエハのロット番号、個
所、光顕座標、設計座標、ブロック、セルライブラリ、
セル名、登録者、登録日、代表写真およびコメント、故
障メカニズムの原因、構造、備考、故障発生、テスタ、
発光の有無、発熱の有無、EBテスタによる観察結果
(EB)、平面および断面からなるデータ部分と、検
索、手順入力の画面への切り換え、代表写真・図表示、
新データの登録、保存および削除等のコマンド部から構
成される。
【0056】次に、図8に本実施の形態のデータベース
を用いたLSIの故障解析支援装置の動作を説明するた
めのフローチャートを示し、以下、このフローチャート
に基づき本発明の実施の形態のデータベースを用いたL
SIの故障解析支援装置の動作を説明する。
を用いたLSIの故障解析支援装置の動作を説明するた
めのフローチャートを示し、以下、このフローチャート
に基づき本発明の実施の形態のデータベースを用いたL
SIの故障解析支援装置の動作を説明する。
【0057】データベースを用いたLSIの故障解析支
援装置の起動が本フローチャートの開始となり、まず、
作業者は図6に示す作業手順データの画面を表示させ、
自分の氏名の入力を行い(ステップ801)、次に、解
析対象となるLSIの品種名、ロット名、ウエハ番号お
よびチップ番号等の試料名を入力するために解析結果デ
ータ画面を表示させ、入力を行う(ステップ802)。
援装置の起動が本フローチャートの開始となり、まず、
作業者は図6に示す作業手順データの画面を表示させ、
自分の氏名の入力を行い(ステップ801)、次に、解
析対象となるLSIの品種名、ロット名、ウエハ番号お
よびチップ番号等の試料名を入力するために解析結果デ
ータ画面を表示させ、入力を行う(ステップ802)。
【0058】次に、作業者が図3に示す第1階層の作業
フローチャートの表示用シンボルを検索しフローチャー
トを表示させ(ステップ803)、これから行いたい作
業を示すシンボルを選択すると(ステップ804)、作
業手順管理手段201は選択された作業を行うに際し事
前に用意すべき図面、データ(写真等を含む)、どの解
析装置をどのように使用すると必要なデータが得られる
か等の情報を磁気ディスク装置10から読み出し、表示
させる(ステップ805)。
フローチャートの表示用シンボルを検索しフローチャー
トを表示させ(ステップ803)、これから行いたい作
業を示すシンボルを選択すると(ステップ804)、作
業手順管理手段201は選択された作業を行うに際し事
前に用意すべき図面、データ(写真等を含む)、どの解
析装置をどのように使用すると必要なデータが得られる
か等の情報を磁気ディスク装置10から読み出し、表示
させる(ステップ805)。
【0059】作業者は表示された情報に基づき解析装置
を操作することにより、指示されたデータ(解析結果の
写真およびデータ等)を得られるので、本実施の形態の
データベースを用いたLSIの故障解析支援装置のパソ
コンa,b(4,5)もしくはワークステーションa,
b(8,9)から作業者が得られたデータをワークステ
ーションb(9)のデータベースに入力して検索を行う
ことにより、検索手段203が条件に一致するデータを
磁気ディスク装置10から読み出してくることにより、
ステップ805で示す作業に対応する解析結果のデータ
を表示させる(ステップ806)。
を操作することにより、指示されたデータ(解析結果の
写真およびデータ等)を得られるので、本実施の形態の
データベースを用いたLSIの故障解析支援装置のパソ
コンa,b(4,5)もしくはワークステーションa,
b(8,9)から作業者が得られたデータをワークステ
ーションb(9)のデータベースに入力して検索を行う
ことにより、検索手段203が条件に一致するデータを
磁気ディスク装置10から読み出してくることにより、
ステップ805で示す作業に対応する解析結果のデータ
を表示させる(ステップ806)。
【0060】次に、作業者は現在行っている作業に関連
する項目等をキーワードとして検索手段203に検索を
実行させることにより、検索手段203が関連情報管理
手段205が管理するリンクファイルに基づき、磁気デ
ィスク装置10に格納される解析結果データの内で関連
する過去に解析した類似のデータ(写真および症状等)
を図7に示すように表示させ、作業者が解析装置から得
られた観察結果と検索により得られた過去の結果とを比
較することにより、現在の現象の原因を絞り込む(ステ
ップ807)。
する項目等をキーワードとして検索手段203に検索を
実行させることにより、検索手段203が関連情報管理
手段205が管理するリンクファイルに基づき、磁気デ
ィスク装置10に格納される解析結果データの内で関連
する過去に解析した類似のデータ(写真および症状等)
を図7に示すように表示させ、作業者が解析装置から得
られた観察結果と検索により得られた過去の結果とを比
較することにより、現在の現象の原因を絞り込む(ステ
ップ807)。
【0061】このとき、データベースを用いたLSIの
故障解析支援装置に解析するLSIのレイアウト図、断
面図および回路図等あらかじめ入力しておくことによ
り、前述する図面等を表示することも可能である。
故障解析支援装置に解析するLSIのレイアウト図、断
面図および回路図等あらかじめ入力しておくことによ
り、前述する図面等を表示することも可能である。
【0062】次に、作業者は推定した故障メカニズム、
推定結果に至った判断基準を入力して(ステップ80
8)、次のステップ809でさらに解析を行うか、終了
するかを判断し、終了と判断した場合はここで解析作業
は終了となる。
推定結果に至った判断基準を入力して(ステップ80
8)、次のステップ809でさらに解析を行うか、終了
するかを判断し、終了と判断した場合はここで解析作業
は終了となる。
【0063】一方、他の作業を行うと判断した場合に
は、ステップ803に戻り他の解析試験を作業者が終了
と判断できるまで行う。
は、ステップ803に戻り他の解析試験を作業者が終了
と判断できるまで行う。
【0064】以上説明したように、本実施の形態のデー
タベースを用いたLSIの故障解析支援装置によると、
関連情報管理手段205が磁気ディスク装置10に格納
される過去に行ったLSIの故障解析の解析結果と、前
記解析結果を得るために実行した一連の作業手順とを関
連付けてリンクファイルで管理しているので、たとえ
ば、作業者がLSIの故障解析を行う場合、作業者は故
障に伴う症状等を検索キーワードとして過去の解析結果
を検索することにより、前述するLSIの故障と類似す
る解析結果を得ることができると共に、前記解析結果を
得るため行った作業手順および判断基準とを参照でき
る。
タベースを用いたLSIの故障解析支援装置によると、
関連情報管理手段205が磁気ディスク装置10に格納
される過去に行ったLSIの故障解析の解析結果と、前
記解析結果を得るために実行した一連の作業手順とを関
連付けてリンクファイルで管理しているので、たとえ
ば、作業者がLSIの故障解析を行う場合、作業者は故
障に伴う症状等を検索キーワードとして過去の解析結果
を検索することにより、前述するLSIの故障と類似す
る解析結果を得ることができると共に、前記解析結果を
得るため行った作業手順および判断基準とを参照でき
る。
【0065】したがって、作業者は検索によって得られ
た過去の作業手順をもとに故障解析作業を行うことがで
きるので、無駄な作業を行うことなくLSIの故障解析
を行うことができる。
た過去の作業手順をもとに故障解析作業を行うことがで
きるので、無駄な作業を行うことなくLSIの故障解析
を行うことができる。
【0066】また、LSIの故障解析の標準的な作業手
順をフローチャートのシンボルにしておき、前記シンボ
ルと磁気ディスク装置10に格納される作業手順および
各手順ごとの判断基準とを関連情報管理手段205によ
り関連付けさせておくことにより、作業者は前記フロー
チャートにシンボルとして表示される作業および判断を
フローチャートにしたがって進めることにより、LSI
の故障解析を行うことができるので、未熟練者でも容易
にLSIの故障解析を行うことができる。
順をフローチャートのシンボルにしておき、前記シンボ
ルと磁気ディスク装置10に格納される作業手順および
各手順ごとの判断基準とを関連情報管理手段205によ
り関連付けさせておくことにより、作業者は前記フロー
チャートにシンボルとして表示される作業および判断を
フローチャートにしたがって進めることにより、LSI
の故障解析を行うことができるので、未熟練者でも容易
にLSIの故障解析を行うことができる。
【0067】また、過去の判断基準等を参照することが
できるので、未熟練者でも正確な判断をすることができ
る。
できるので、未熟練者でも正確な判断をすることができ
る。
【0068】また、データベースがあるワークステーシ
ョンb9と、パソコンa,b(4,5)およびワークス
テーションa8が全て通信ネットワーク3で接続されて
いるので、解析作業の現場である解析作業室2から離れ
ていても、データベースがあるワークステーションb9
にアクセスすることにより、LSIの故障解析の進行状
況をリアルタイムに確認することができる。
ョンb9と、パソコンa,b(4,5)およびワークス
テーションa8が全て通信ネットワーク3で接続されて
いるので、解析作業の現場である解析作業室2から離れ
ていても、データベースがあるワークステーションb9
にアクセスすることにより、LSIの故障解析の進行状
況をリアルタイムに確認することができる。
【0069】なお、本実施の形態においては、第1の情
報処理装置としてワークステーションb9、第2の情報
処理装置としてパソコンa,b(4,5)およびワーク
ステーションa8を用いて説明したが、前述される情報
処理装置に限定されることはなく、他の情報処理装置を
用いてもよいことはいうまでもない。
報処理装置としてワークステーションb9、第2の情報
処理装置としてパソコンa,b(4,5)およびワーク
ステーションa8を用いて説明したが、前述される情報
処理装置に限定されることはなく、他の情報処理装置を
用いてもよいことはいうまでもない。
【0070】また、本実施の形態においては、外部記憶
装置として、磁気ディスク装置10を用いて動作および
作用を説明したが、磁気ディスク装置10に限定される
ことはなく、他の光磁気ディスク装置等のランダムアク
セスができ、記憶内容を任意に書き換え可能な記憶媒体
を用いた装置ならば使用できることはいうまでもない。
装置として、磁気ディスク装置10を用いて動作および
作用を説明したが、磁気ディスク装置10に限定される
ことはなく、他の光磁気ディスク装置等のランダムアク
セスができ、記憶内容を任意に書き換え可能な記憶媒体
を用いた装置ならば使用できることはいうまでもない。
【0071】以上、本発明者によってなされた発明を、
前記発明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本
発明は、前記発明の実施の形態に限定されるものではな
く、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能で
あることは勿論である。
前記発明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本
発明は、前記発明の実施の形態に限定されるものではな
く、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能で
あることは勿論である。
【0072】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記の通りである。
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記の通りである。
【0073】(1)類似故障が発生したときに迅速に過
去の解析事例を参照できる。
去の解析事例を参照できる。
【0074】(2)故障解析の専門家でもなくても解析
を行えるように、解析手順の指示を行うことができる。
を行えるように、解析手順の指示を行うことができる。
【図1】本発明の実施の形態であるデータベースを用い
たLSIの故障解析支援装置の概略構成を示すブロック
図である。
たLSIの故障解析支援装置の概略構成を示すブロック
図である。
【図2】ワークステーションbが有するデータベース制
御部の概略構成を示す機能ブロック図である。
御部の概略構成を示す機能ブロック図である。
【図3】作業手順格納管理手段に格納されるLSI故障
解析の標準的な作業手順を示すフローチャートの第1の
階層を示すフローチャートである。
解析の標準的な作業手順を示すフローチャートの第1の
階層を示すフローチャートである。
【図4】図3に示すステップ301の場所を特定するた
めのステップを展開したときの第2の階層の作業手順を
示すフローチャートである。
めのステップを展開したときの第2の階層の作業手順を
示すフローチャートである。
【図5】図4に示すステップ404の故障タイプCの作
業手順を示すフローチャートである。
業手順を示すフローチャートである。
【図6】作業手順データの画面表示の一例を示す図であ
る。
る。
【図7】解析結果データの画面表示の一例を示す図であ
る。
る。
【図8】本実施の形態のデータベースを用いたLSIの
故障解析支援装置の動作を説明するためのフローチャー
トである。
故障解析支援装置の動作を説明するためのフローチャー
トである。
1…データ処理室、2…解析作業室、3…通信ネットワ
ーク、4…パーソナルコンピュータa、5…パーソナル
コンピュータb、6…イメージスキャナa、7…プリン
タ、8…ワークステーションa、9…ワークステーショ
ンb、10…磁気ディスク装置、11…イメージスキャ
ナb、200…データベース制御部、201…作業手順
格納管理手段、202…解析結果格納管理手段、203
…検索手段、204…表示/入力手段、205…関連情
報管理手段。
ーク、4…パーソナルコンピュータa、5…パーソナル
コンピュータb、6…イメージスキャナa、7…プリン
タ、8…ワークステーションa、9…ワークステーショ
ンb、10…磁気ディスク装置、11…イメージスキャ
ナb、200…データベース制御部、201…作業手順
格納管理手段、202…解析結果格納管理手段、203
…検索手段、204…表示/入力手段、205…関連情
報管理手段。
Claims (2)
- 【請求項1】 データを格納する外部記憶装置と、該外
部記憶装置に格納されるデータを管理するデータベース
管理部を有する第1の情報処理装置と、該第1の情報処
理装置と通信ネットワークで接続される少なくとも1台
の第2の情報処理装置とを具備するデータベースを用い
たLSIの故障解析支援装置において、 前記外部記憶装置はLSIの故障解析の作業手順デー
タ、該作業手順の各段階での故障の有無を判断する判断
基準データおよび前記作業手順に基づいて得られた観察
結果から作業者が判定した解析結果データを有するデー
タベースファイルを具備し、前記データベース制御部
は、LSIの故障解析の作業手順データと該作業手順の
各段階での故障の有無を判断する判断基準データの格納
を管理する作業手順格納管理手段と、前記作業手順に基
づいて得られた観察結果から作業者が判定した解析結果
データの格納を管理する解析結果格納管理手段と、前記
解析結果データと該解析結果データを得るために実行し
た全ての作業手順と関連付けを管理する関連情報管理手
段とを具備することを特徴とするデータベースを用いた
LSIの故障解析支援装置。 - 【請求項2】 前記関連情報管理手段は、前記LSIの
故障解析の作業内容を表現したフローチャートのシンボ
ルと、前記作業手順とを1対1に関連付けておき、前記
シンボルを選択することにより作業手順を検索すること
を特徴とする請求項1に記載のデータベースを用いたL
SIの故障解析支援装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7250298A JPH0992701A (ja) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | データベースを用いたlsiの故障解析支援装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7250298A JPH0992701A (ja) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | データベースを用いたlsiの故障解析支援装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0992701A true JPH0992701A (ja) | 1997-04-04 |
Family
ID=17205832
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7250298A Pending JPH0992701A (ja) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | データベースを用いたlsiの故障解析支援装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0992701A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002330558A (ja) * | 2001-04-06 | 2002-11-15 | Eni Technologies Inc | 電力送配システム監視方法および電力送配システム |
| WO2004040326A1 (ja) * | 2002-10-29 | 2004-05-13 | Hitachi, Ltd. | 半導体集積回路の不良解析装置、システムおよび検出方法 |
| JP2008060713A (ja) * | 2006-08-29 | 2008-03-13 | Fuji Xerox Co Ltd | 情報処理装置およびプログラム |
| JP2008294361A (ja) * | 2007-05-28 | 2008-12-04 | Hitachi High-Technologies Corp | 欠陥観察装置及び欠陥観察方法 |
-
1995
- 1995-09-28 JP JP7250298A patent/JPH0992701A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002330558A (ja) * | 2001-04-06 | 2002-11-15 | Eni Technologies Inc | 電力送配システム監視方法および電力送配システム |
| JP2008301703A (ja) * | 2001-04-06 | 2008-12-11 | Mks Instruments Inc | 電力送配システム監視方法および電力送配システム |
| WO2004040326A1 (ja) * | 2002-10-29 | 2004-05-13 | Hitachi, Ltd. | 半導体集積回路の不良解析装置、システムおよび検出方法 |
| JP2008060713A (ja) * | 2006-08-29 | 2008-03-13 | Fuji Xerox Co Ltd | 情報処理装置およびプログラム |
| JP2008294361A (ja) * | 2007-05-28 | 2008-12-04 | Hitachi High-Technologies Corp | 欠陥観察装置及び欠陥観察方法 |
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