JPH09288211A - 偏光光学素子 - Google Patents
偏光光学素子Info
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- JPH09288211A JPH09288211A JP8101449A JP10144996A JPH09288211A JP H09288211 A JPH09288211 A JP H09288211A JP 8101449 A JP8101449 A JP 8101449A JP 10144996 A JP10144996 A JP 10144996A JP H09288211 A JPH09288211 A JP H09288211A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 小型で製造が容易であり、しかも、近赤外光
ないしは可視光を偏光方向に応じて分離することができ
る偏光光学素子を提供する。また、小型で製造が容易で
あり、しかも、近赤外光ないしは可視光を偏光方向に応
じて分離した上で検出する機能を有する偏光光学素子を
提供する。 【解決手段】 本発明の偏光光学素子は、屈折率がn1
の基板上に形成されるとともに、屈折率がn0 の物質に
よって上部が覆われた金属格子を備え、上記金属格子に
入射した光を偏光方向に応じて透過光と反射光とに分離
する偏光光学素子であって、上記金属格子の格子周期を
dとしたとき、上記光の波長がn0 ×dよりも大であ
り、且つn1 ×dよりも小であることを特徴とする。
ないしは可視光を偏光方向に応じて分離することができ
る偏光光学素子を提供する。また、小型で製造が容易で
あり、しかも、近赤外光ないしは可視光を偏光方向に応
じて分離した上で検出する機能を有する偏光光学素子を
提供する。 【解決手段】 本発明の偏光光学素子は、屈折率がn1
の基板上に形成されるとともに、屈折率がn0 の物質に
よって上部が覆われた金属格子を備え、上記金属格子に
入射した光を偏光方向に応じて透過光と反射光とに分離
する偏光光学素子であって、上記金属格子の格子周期を
dとしたとき、上記光の波長がn0 ×dよりも大であ
り、且つn1 ×dよりも小であることを特徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、金属格子を用いる
ことにより、入射された光を偏光方向に応じて透過光と
反射光とに分離する偏光光学素子に関する。
ことにより、入射された光を偏光方向に応じて透過光と
反射光とに分離する偏光光学素子に関する。
【0002】
【従来の技術】光を偏光方向に応じて分離する偏光光学
素子は、例えば、光磁気ディスクのドライブ装置の光ピ
ックアップ等に使用されている。
素子は、例えば、光磁気ディスクのドライブ装置の光ピ
ックアップ等に使用されている。
【0003】このような偏光光学素子としては、薄膜の
ブリュースター反射を利用した素子が広く知られてい
る。薄膜のブリュースター反射を利用した素子は、通
常、立方体状に形成された素子に対して垂直に光を入射
させて用いるか、或いは、板状に形成された素子に対し
て所定の角度にて光を入射させて用いる。
ブリュースター反射を利用した素子が広く知られてい
る。薄膜のブリュースター反射を利用した素子は、通
常、立方体状に形成された素子に対して垂直に光を入射
させて用いるか、或いは、板状に形成された素子に対し
て所定の角度にて光を入射させて用いる。
【0004】しかしながら、薄膜のブリュースター反射
を利用した素子は、精密な位置合わせが必要であるとい
う欠点や、体積が大きいという欠点がある。そのため、
このような素子では、例えば、光ピックアップに使用す
る場合に、光ピックアップを構成する受光素子等のよう
な他の部品との精密な位置合わせを必要とするため、製
造に工数を要するという問題があった。また、このよう
な素子は、大きな体積を有するため、光ピックアップ等
の小型化に対する大きな制約にもなっている。
を利用した素子は、精密な位置合わせが必要であるとい
う欠点や、体積が大きいという欠点がある。そのため、
このような素子では、例えば、光ピックアップに使用す
る場合に、光ピックアップを構成する受光素子等のよう
な他の部品との精密な位置合わせを必要とするため、製
造に工数を要するという問題があった。また、このよう
な素子は、大きな体積を有するため、光ピックアップ等
の小型化に対する大きな制約にもなっている。
【0005】そこで、このような問題を解決するため
に、光を偏光方向に応じて分離することが可能な薄膜又
は薄板状の素子を得ようとする試みが進められている。
具体的には、薄膜又は薄板状の素子として、以下に述べ
るようなものが報告されている。
に、光を偏光方向に応じて分離することが可能な薄膜又
は薄板状の素子を得ようとする試みが進められている。
具体的には、薄膜又は薄板状の素子として、以下に述べ
るようなものが報告されている。
【0006】例えば、”SPIE proceedings,vol.1116,p4
46(1989)”において、ガラス中に金属コロイドを分散さ
せ、その共鳴吸収を利用して偏光検波する素子が報告さ
れている。この素子では、透過光については比較的に大
きな消光比を得ることができる。しかしながら、この素
子では、一方の偏波光を吸収するため、原理的に偏光分
離機能を有していない。したがって、この素子は、光を
偏光方向に応じて分離する偏光光学素子としては不適で
ある。
46(1989)”において、ガラス中に金属コロイドを分散さ
せ、その共鳴吸収を利用して偏光検波する素子が報告さ
れている。この素子では、透過光については比較的に大
きな消光比を得ることができる。しかしながら、この素
子では、一方の偏波光を吸収するため、原理的に偏光分
離機能を有していない。したがって、この素子は、光を
偏光方向に応じて分離する偏光光学素子としては不適で
ある。
【0007】また、例えば、”Applied Physics Letter
s,vol.61,No.22,p2633(1992)”において、高い屈折率材
料からなる薄膜と、低い屈折率材料からなる薄膜とを積
層し、その積層膜に斜めに光を入射させることによっ
て、偏光方向に応じて光を分離する素子が提案されてい
る。しかし、この素子では、薄膜積層プロセスが必要で
あり、しかも、それを斜めに切り出して薄板状にする必
要がある。そのため、この素子は、作製そのものの手間
が非常に煩雑であり、しかも、大きな面積で作製するこ
とが非常に困難である。また、素子の厚さにも限界が有
り、大きな偏光分離角を取ることが出来ないという欠点
もある。
s,vol.61,No.22,p2633(1992)”において、高い屈折率材
料からなる薄膜と、低い屈折率材料からなる薄膜とを積
層し、その積層膜に斜めに光を入射させることによっ
て、偏光方向に応じて光を分離する素子が提案されてい
る。しかし、この素子では、薄膜積層プロセスが必要で
あり、しかも、それを斜めに切り出して薄板状にする必
要がある。そのため、この素子は、作製そのものの手間
が非常に煩雑であり、しかも、大きな面積で作製するこ
とが非常に困難である。また、素子の厚さにも限界が有
り、大きな偏光分離角を取ることが出来ないという欠点
もある。
【0008】また、例えば、金属を微細な格子状に形成
した金属格子によって偏光分離を行う、ワイヤーグリッ
ド又はワイヤーグレーティングと呼ばれる素子も提案さ
れている。しかしながら、従来、このような素子では、
金属格子の格子周期が、入射光の波長よりも十分に小と
なることが要求されている。具体的には、例えば、金属
格子の格子周期を600nmとした場合には、その5倍
程度以上の波長の光、即ち3μm程度以上の波長の光に
対して、偏光分離特性を有することとなる。したがっ
て、近赤外光ないしは可視光のように波長が800nm
程度以下の光に対して、このような素子を適用するため
には、金属格子の格子周期を150nm程度以下にしな
ければならない。しかしながら、このような格子周期の
金属格子を作製することは、現在の技術では極めて困難
であり、現実的ではない。
した金属格子によって偏光分離を行う、ワイヤーグリッ
ド又はワイヤーグレーティングと呼ばれる素子も提案さ
れている。しかしながら、従来、このような素子では、
金属格子の格子周期が、入射光の波長よりも十分に小と
なることが要求されている。具体的には、例えば、金属
格子の格子周期を600nmとした場合には、その5倍
程度以上の波長の光、即ち3μm程度以上の波長の光に
対して、偏光分離特性を有することとなる。したがっ
て、近赤外光ないしは可視光のように波長が800nm
程度以下の光に対して、このような素子を適用するため
には、金属格子の格子周期を150nm程度以下にしな
ければならない。しかしながら、このような格子周期の
金属格子を作製することは、現在の技術では極めて困難
であり、現実的ではない。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、薄膜又
は薄板状で、製造が容易であり、しかも、近赤外光ない
しは可視光に対して適用できる偏光光学素子は、未だ知
られておらず、開発が待たれているのが現状である。
は薄板状で、製造が容易であり、しかも、近赤外光ない
しは可視光に対して適用できる偏光光学素子は、未だ知
られておらず、開発が待たれているのが現状である。
【0010】ところで、光ピックアップ等では、偏光方
向に応じて偏光光学素子によって分離された光を、フォ
トダイオードのような受光素子によって検出する。しか
しながら、このように、偏光光学素子によって分離され
た光を検出しようとするとき、従来は、偏光光学素子と
受光素子とが、それぞれ個別の素子であるため、全体と
しての大きさが大きくなってしまうという問題があっ
た。しかも、従来は、偏光光学素子と受光素子とを、そ
れぞれ互いに適切な位置に配置させて一体化するという
手間も必要となっていた。
向に応じて偏光光学素子によって分離された光を、フォ
トダイオードのような受光素子によって検出する。しか
しながら、このように、偏光光学素子によって分離され
た光を検出しようとするとき、従来は、偏光光学素子と
受光素子とが、それぞれ個別の素子であるため、全体と
しての大きさが大きくなってしまうという問題があっ
た。しかも、従来は、偏光光学素子と受光素子とを、そ
れぞれ互いに適切な位置に配置させて一体化するという
手間も必要となっていた。
【0011】したがって、光ピックアップ等に使用する
素子としては、光を偏光方向に応じて分離する機能と、
分離された光を検出する機能とを兼ね備えたような素子
が好ましいこととなる。しかしながら、現在のところ、
小型で製造が容易であり、しかも、近赤外光ないしは可
視光を偏光方向に応じて分離した上で検出するような機
能を有する素子は、未だ知られていない。
素子としては、光を偏光方向に応じて分離する機能と、
分離された光を検出する機能とを兼ね備えたような素子
が好ましいこととなる。しかしながら、現在のところ、
小型で製造が容易であり、しかも、近赤外光ないしは可
視光を偏光方向に応じて分離した上で検出するような機
能を有する素子は、未だ知られていない。
【0012】本発明は、以上のような従来の実情に鑑み
て提案されたものであり、小型で製造が容易であり、し
かも、近赤外光ないしは可視光を偏光方向に応じて分離
することができる偏光光学素子を提供することを目的と
している。また、本発明は、小型で製造が容易であり、
しかも、近赤外光ないしは可視光を偏光方向に応じて分
離した上で検出する機能を有する偏光光学素子を提供す
ることも目的としている。
て提案されたものであり、小型で製造が容易であり、し
かも、近赤外光ないしは可視光を偏光方向に応じて分離
することができる偏光光学素子を提供することを目的と
している。また、本発明は、小型で製造が容易であり、
しかも、近赤外光ないしは可視光を偏光方向に応じて分
離した上で検出する機能を有する偏光光学素子を提供す
ることも目的としている。
【0013】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに完成された本発明に係る偏光光学素子は、屈折率が
n1 の基板上に形成されるとともに、屈折率がn0 の物
質によって上部が覆われた金属格子を備え、上記金属格
子に入射した光を偏光方向に応じて透過光と反射光とに
分離する偏光光学素子であって、上記金属格子の格子周
期をdとしたとき、上記光の波長がn0 ×dよりも大で
あり、且つn1 ×dよりも小であることを特徴とするも
のである。
めに完成された本発明に係る偏光光学素子は、屈折率が
n1 の基板上に形成されるとともに、屈折率がn0 の物
質によって上部が覆われた金属格子を備え、上記金属格
子に入射した光を偏光方向に応じて透過光と反射光とに
分離する偏光光学素子であって、上記金属格子の格子周
期をdとしたとき、上記光の波長がn0 ×dよりも大で
あり、且つn1 ×dよりも小であることを特徴とするも
のである。
【0014】このような本発明に係る偏光光学素子で
は、近赤外光ないしは可視光を偏光方向に応じて分離す
ることができる。更に、この偏光光学素子は、薄膜状又
は薄板状に形成することができ、しかも、非常に容易に
製造することができる。
は、近赤外光ないしは可視光を偏光方向に応じて分離す
ることができる。更に、この偏光光学素子は、薄膜状又
は薄板状に形成することができ、しかも、非常に容易に
製造することができる。
【0015】なお、上記偏光光学素子において、上記基
板は、光検出機能を有し、上記金属格子を透過した透過
光の光量を電気信号として出力するようになっていても
よい。このときには、上記電気信号を取り出すために上
記基板上に形成された電極の材料の主成分と、上記金属
格子の材料の主成分とが同一であることが好ましい。
板は、光検出機能を有し、上記金属格子を透過した透過
光の光量を電気信号として出力するようになっていても
よい。このときには、上記電気信号を取り出すために上
記基板上に形成された電極の材料の主成分と、上記金属
格子の材料の主成分とが同一であることが好ましい。
【0016】このように、基板に光検出機能を持たせた
偏光光学素子では、入射光を偏光方向に応じて分離した
上で検出することができる。そして、この偏光光学素子
では、基板に光検出機能を持たせているので、新たに受
光素子を設ける必要が無く、光検出機能を備えていても
小型化することができ、しかも、非常に容易に製造する
ことができる。
偏光光学素子では、入射光を偏光方向に応じて分離した
上で検出することができる。そして、この偏光光学素子
では、基板に光検出機能を持たせているので、新たに受
光素子を設ける必要が無く、光検出機能を備えていても
小型化することができ、しかも、非常に容易に製造する
ことができる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明を適用した具体的な
実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明す
る。なお、本発明は以下の例に限定されるものではな
く、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、形状や材質等を
任意に変更することが可能であることは言うまでもな
い。
実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明す
る。なお、本発明は以下の例に限定されるものではな
く、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、形状や材質等を
任意に変更することが可能であることは言うまでもな
い。
【0018】まず、本発明を適用した第1の実施の形態
に係る偏光光学素子について説明する。
に係る偏光光学素子について説明する。
【0019】本実施の形態に係る偏光光学素子は、入射
した光を偏光方向に応じて透過光と反射光とに分離する
偏光光学素子であり、図1に示すように、略板状の基板
11と、基板11上に形成された金属格子12とを備え
ている。
した光を偏光方向に応じて透過光と反射光とに分離する
偏光光学素子であり、図1に示すように、略板状の基板
11と、基板11上に形成された金属格子12とを備え
ている。
【0020】ここで、基板11は、GaAsからなり、
その屈折率n1 は、約3.7である。また、金属格子1
2は、Alを主成分とする材料からなり、屈折率n0 が
1の物質である空気によって上部が覆われている。そし
て、本実施の形態において、この金属格子12は、格子
周期dを約600nmとし、各格子の幅bを約400n
mとし、各格子の高さhを約120nmとした。
その屈折率n1 は、約3.7である。また、金属格子1
2は、Alを主成分とする材料からなり、屈折率n0 が
1の物質である空気によって上部が覆われている。そし
て、本実施の形態において、この金属格子12は、格子
周期dを約600nmとし、各格子の幅bを約400n
mとし、各格子の高さhを約120nmとした。
【0021】この偏光光学素子では、波長がn0 ×dよ
りも大であり、且つn1 ×dよりも小である光を、偏光
方向に応じて透過光と反射光とに分離する。
りも大であり、且つn1 ×dよりも小である光を、偏光
方向に応じて透過光と反射光とに分離する。
【0022】具体的には、例えば、波長780nmの光
が金属格子12に対して垂直に入射すると、金属格子1
2のグレーティングベクトルと同一方向の電場成分を有
する偏光(以下、P波と呼ぶ。)は、入射光のうちの約
82%が反射され、約2.8%が基板11側に入射す
る。一方、金属格子12のグレーティングベクトルに対
して垂直方向の電場成分を有する偏光(以下、S波と呼
ぶ。)は、入射光のうちの約1.5%が反射され、約8
0%が基板11側に入射する。
が金属格子12に対して垂直に入射すると、金属格子1
2のグレーティングベクトルと同一方向の電場成分を有
する偏光(以下、P波と呼ぶ。)は、入射光のうちの約
82%が反射され、約2.8%が基板11側に入射す
る。一方、金属格子12のグレーティングベクトルに対
して垂直方向の電場成分を有する偏光(以下、S波と呼
ぶ。)は、入射光のうちの約1.5%が反射され、約8
0%が基板11側に入射する。
【0023】このように、上記偏光光学素子は、P波は
主に反射し、S波は主に透過する。すなわち、上記偏光
光学素子は、入射した光を偏光方向に応じて透過光と反
射光とに分離する偏光分離機能を有している。
主に反射し、S波は主に透過する。すなわち、上記偏光
光学素子は、入射した光を偏光方向に応じて透過光と反
射光とに分離する偏光分離機能を有している。
【0024】ただし、上述の透過率は、金属格子12を
透過した段階での値、すなわち基板11の表面における
値である。そして、基板11の材料であるGaAsは、
波長780nmの光に対しては吸収体であるので、金属
格子12を透過した光の光量は、基板11を透過するに
従って減衰する。したがって、本実施の形態に係る偏光
光学素子は、偏光方向に応じて分離された光のうち、反
射光だけを利用するような用途において、特に好適であ
る。
透過した段階での値、すなわち基板11の表面における
値である。そして、基板11の材料であるGaAsは、
波長780nmの光に対しては吸収体であるので、金属
格子12を透過した光の光量は、基板11を透過するに
従って減衰する。したがって、本実施の形態に係る偏光
光学素子は、偏光方向に応じて分離された光のうち、反
射光だけを利用するような用途において、特に好適であ
る。
【0025】以上のような本実施の形態に係る偏光光学
素子は、基板11上に格子周期dが大きい金属格子12
を形成するだけで得ることができる。したがって、この
偏光光学素子は、非常に薄く小型に、しかも容易に製造
することができる。
素子は、基板11上に格子周期dが大きい金属格子12
を形成するだけで得ることができる。したがって、この
偏光光学素子は、非常に薄く小型に、しかも容易に製造
することができる。
【0026】以下、上述のような偏光分離作用が得られ
る理由を説明する。
る理由を説明する。
【0027】図2に、上記偏光光学素子におけるS波の
反射率及び透過率を、入射光波長の関数として示す。ま
た、図3に、上記偏光光学素子におけるP波の反射率及
び透過率を、入射光波長の関数として示す。なお、図2
及び図3では、高次の回折光も含めた全透過率及び全反
射率を示している。
反射率及び透過率を、入射光波長の関数として示す。ま
た、図3に、上記偏光光学素子におけるP波の反射率及
び透過率を、入射光波長の関数として示す。なお、図2
及び図3では、高次の回折光も含めた全透過率及び全反
射率を示している。
【0028】図2に示すように、S波の透過率は、入射
光の波長が約600nmときに極小となり、その後、波
長が大きくなるに従って増大して、入射光の波長が約7
80nmのときに極大となる。そして、S波の透過率
は、入射光の波長が更に大きくなると、図2に示した波
長範囲を越えるが、入射光の波長が約2210nmのと
きに再び極小となる。
光の波長が約600nmときに極小となり、その後、波
長が大きくなるに従って増大して、入射光の波長が約7
80nmのときに極大となる。そして、S波の透過率
は、入射光の波長が更に大きくなると、図2に示した波
長範囲を越えるが、入射光の波長が約2210nmのと
きに再び極小となる。
【0029】ここで、S波の透過率が極小となる2つの
特異点は、金属格子の格子周期をdとし、基板の屈折率
をn1 とし、金属格子の上部を覆う物質の屈折率をn0
としたとき、それぞれn0 ×d及びn1 ×dで与えられ
ることが知られており、これらは、レイリーアノマリー
(Rayleigh anomaly)と呼ばれている。
特異点は、金属格子の格子周期をdとし、基板の屈折率
をn1 とし、金属格子の上部を覆う物質の屈折率をn0
としたとき、それぞれn0 ×d及びn1 ×dで与えられ
ることが知られており、これらは、レイリーアノマリー
(Rayleigh anomaly)と呼ばれている。
【0030】一方、図3に示すように、P波について
は、反射率も透過率も入射光の波長にあまり依存せず、
ほぼ一定となっている。そして、例えば、波長780n
mの入射光に対して、反射率は約82%、透過率は約
2.8%となる。
は、反射率も透過率も入射光の波長にあまり依存せず、
ほぼ一定となっている。そして、例えば、波長780n
mの入射光に対して、反射率は約82%、透過率は約
2.8%となる。
【0031】ところで、波長λの光に対する回折現象
は、レイリーアノマリーを基準として次の3つに区分で
きる。第1の回折現象は、λ<n0 ×dのときの回折現
象であり、このときには、反射光と透過光の両方に、0
次以上の高次の回折光が生じる。そして、一般的な回折
格子では、このような第1の回折現象を利用している。
第2の回折現象は、n0 ×d<λ<n1 ×dのときの回
折現象であり、このときには、透過光には高次の回折光
が生じるが、反射光には0次の回折光のみが生じる。第
3の回折現象は、λ>n1 ×dのときの回折現象であ
り、このときには、反射光と透過光の両方とも、0次の
回折光のみが生じる。
は、レイリーアノマリーを基準として次の3つに区分で
きる。第1の回折現象は、λ<n0 ×dのときの回折現
象であり、このときには、反射光と透過光の両方に、0
次以上の高次の回折光が生じる。そして、一般的な回折
格子では、このような第1の回折現象を利用している。
第2の回折現象は、n0 ×d<λ<n1 ×dのときの回
折現象であり、このときには、透過光には高次の回折光
が生じるが、反射光には0次の回折光のみが生じる。第
3の回折現象は、λ>n1 ×dのときの回折現象であ
り、このときには、反射光と透過光の両方とも、0次の
回折光のみが生じる。
【0032】そして、従来、金属格子を用いた偏光光学
素子では、0次の回折光のみが生じる回折現象、即ち上
記第3の回折現象を利用している。したがって、従来の
偏光光学素子では、入射光の波長λは、λ>n1 ×dを
満たす範囲に限定されている。しかも、従来の偏光光学
素子では、レイリーアノマリー近傍における透過率や反
射率の変動の影響を避けるため、通常は、n1 ×dより
も十分に大なる波長で使用することを条件としていた。
素子では、0次の回折光のみが生じる回折現象、即ち上
記第3の回折現象を利用している。したがって、従来の
偏光光学素子では、入射光の波長λは、λ>n1 ×dを
満たす範囲に限定されている。しかも、従来の偏光光学
素子では、レイリーアノマリー近傍における透過率や反
射率の変動の影響を避けるため、通常は、n1 ×dより
も十分に大なる波長で使用することを条件としていた。
【0033】典型的な従来の偏光光学素子では、屈折率
1.5のシリカ基板上に金属格子を形成している。ここ
で、金属格子の上部は、通常、そのままの状態、即ち、
屈折率が1の物質である空気によって覆われた状態とさ
れる。このような偏光光学素子では、例えば、金属格子
の格子周期dを600nmとしたとき、レイリーアノマ
リーは、入射光の波長が600nm及び900mのとき
に発現する。したがって、このような偏光光学素子で
は、900nmよりも波長が十分に大きい赤外光にしか
適用できない。
1.5のシリカ基板上に金属格子を形成している。ここ
で、金属格子の上部は、通常、そのままの状態、即ち、
屈折率が1の物質である空気によって覆われた状態とさ
れる。このような偏光光学素子では、例えば、金属格子
の格子周期dを600nmとしたとき、レイリーアノマ
リーは、入射光の波長が600nm及び900mのとき
に発現する。したがって、このような偏光光学素子で
は、900nmよりも波長が十分に大きい赤外光にしか
適用できない。
【0034】一方、このような従来の偏光光学素子を波
長780nmの近赤外光に対して使用するためには、金
属格子の格子周期dを150nm程度にしなければなら
ない。しかしながら、格子周期dが150nm程度であ
るような微細な構造を有する金属格子を作製すること
は、現在の技術水準では極めて困難であり、このような
偏光光学素子は未だ実現されていない。
長780nmの近赤外光に対して使用するためには、金
属格子の格子周期dを150nm程度にしなければなら
ない。しかしながら、格子周期dが150nm程度であ
るような微細な構造を有する金属格子を作製すること
は、現在の技術水準では極めて困難であり、このような
偏光光学素子は未だ実現されていない。
【0035】これに対して、本発明者は、2つのレイリ
ーアノマリー間の波長領域における回折現象、即ち上記
第2の回折現象が生じるような領域においても、偏光光
学素子の構造を最適化するとともに、透過光については
高次回折光を含む全回折光を利用するようにすれば、良
好な偏光分離作用が得られることを見出したのである。
ーアノマリー間の波長領域における回折現象、即ち上記
第2の回折現象が生じるような領域においても、偏光光
学素子の構造を最適化するとともに、透過光については
高次回折光を含む全回折光を利用するようにすれば、良
好な偏光分離作用が得られることを見出したのである。
【0036】すなわち、本発明では、上記第2の回折現
象を利用するように、即ち、金属格子に入射する光の波
長がn0 ×dよりも大であり、且つn1 ×dよりも小で
あるようにする。なお、このように第2の回折現象を利
用するためには、金属格子が基板上に配置されているこ
とが必要である。また、基板には、屈折率n1 が、金属
格子の上部を覆う物質の屈折率n0 よりも大きいものを
使用する。
象を利用するように、即ち、金属格子に入射する光の波
長がn0 ×dよりも大であり、且つn1 ×dよりも小で
あるようにする。なお、このように第2の回折現象を利
用するためには、金属格子が基板上に配置されているこ
とが必要である。また、基板には、屈折率n1 が、金属
格子の上部を覆う物質の屈折率n0 よりも大きいものを
使用する。
【0037】このように上記第2の回折現象を利用する
ことにより、上記実施の形態に示したように、例えば、
波長780nmの近赤外光に対しても偏光分離作用を生
じるような偏光光学素子であっても、金属格子の格子周
期dを600nm程度とすることができる。すなわち、
本発明を適用した偏光光学素子では、金属格子の格子周
期dを、従来の偏光光学素子における金属格子の格子周
期dに比べて、数倍の大きさとすることができる。
ことにより、上記実施の形態に示したように、例えば、
波長780nmの近赤外光に対しても偏光分離作用を生
じるような偏光光学素子であっても、金属格子の格子周
期dを600nm程度とすることができる。すなわち、
本発明を適用した偏光光学素子では、金属格子の格子周
期dを、従来の偏光光学素子における金属格子の格子周
期dに比べて、数倍の大きさとすることができる。
【0038】そして、本発明を適用した偏光光学素子
は、このように金属格子の格子周期dが大きくすること
ができるので、近赤外光ないしは可視光に対して偏光分
離作用を生じるようなものであっても、既に確立されて
いる現在の加工技術によって容易に作製することができ
る。
は、このように金属格子の格子周期dが大きくすること
ができるので、近赤外光ないしは可視光に対して偏光分
離作用を生じるようなものであっても、既に確立されて
いる現在の加工技術によって容易に作製することができ
る。
【0039】なお、上記実施の形態において、P波の反
射率及びS波の透過率をそれぞれ約80%以上とするこ
とができたのは、高い導電率を有するAlを主成分とす
る材料によって金属格子を形成したことが一因となって
いる。すなわち、高い導電率を有する材料によって金属
格子を形成することにより、金属格子における光の損失
が減少し、偏光分離特性が向上する。なお、このような
金属格子の材料としては、Alを主成分とする材料の他
に、例えば、Auを主成分とする材料等が挙げられる。
射率及びS波の透過率をそれぞれ約80%以上とするこ
とができたのは、高い導電率を有するAlを主成分とす
る材料によって金属格子を形成したことが一因となって
いる。すなわち、高い導電率を有する材料によって金属
格子を形成することにより、金属格子における光の損失
が減少し、偏光分離特性が向上する。なお、このような
金属格子の材料としては、Alを主成分とする材料の他
に、例えば、Auを主成分とする材料等が挙げられる。
【0040】また、本発明を適用した偏光光学素子にお
いて、基板は、屈折率n1 が大きい材料からなることが
好ましい。これは、屈折率n1 が大きい材料によって基
板を形成することにより、レイリーアノマリー間の波長
領域が広がり、その結果、偏光光学素子として適用可能
な波長範囲が広がるからである。
いて、基板は、屈折率n1 が大きい材料からなることが
好ましい。これは、屈折率n1 が大きい材料によって基
板を形成することにより、レイリーアノマリー間の波長
領域が広がり、その結果、偏光光学素子として適用可能
な波長範囲が広がるからである。
【0041】そして、屈折率n1 が大きい材料として
は、例えば、GaAs、Si又はInP等を主成分とす
る半導体材料が挙げられる。これらの半導体材料は、屈
折率が3.0以上と非常に大きい。したがって、このよ
うな半導体材料を用いることにより、偏光分離作用が得
られる波長領域が広がり、偏光光学素子として適用可能
な波長範囲が広がる。なお、このような半導体材料の
他、例えば、各種誘電体材料等も基板の材料として使用
可能である。
は、例えば、GaAs、Si又はInP等を主成分とす
る半導体材料が挙げられる。これらの半導体材料は、屈
折率が3.0以上と非常に大きい。したがって、このよ
うな半導体材料を用いることにより、偏光分離作用が得
られる波長領域が広がり、偏光光学素子として適用可能
な波長範囲が広がる。なお、このような半導体材料の
他、例えば、各種誘電体材料等も基板の材料として使用
可能である。
【0042】ところで、基板を半導体材料によって形成
し、基板に光検出機能を持たせるようにすれば、上述の
ような偏光分離作用を保持しつつ、金属格子を透過した
透過光を、高次回折光も含めて容易に検出することが可
能となる。
し、基板に光検出機能を持たせるようにすれば、上述の
ような偏光分離作用を保持しつつ、金属格子を透過した
透過光を、高次回折光も含めて容易に検出することが可
能となる。
【0043】そこで、以下、本発明の第2の実施の形態
として、このような光検出機能を備えた偏光光学素子に
ついて説明する。
として、このような光検出機能を備えた偏光光学素子に
ついて説明する。
【0044】本実施の形態に係る偏光光学素子は、入射
した光を偏光方向に応じて透過光と反射光とに分離する
とともに、偏光分離された透過光を検出する偏光光学素
子であり、図4に示すように、略板状の基板21と、基
板21の表面に形成された金属格子22と、基板21の
表面に形成された上部電極23と、基板21の裏面に形
成された下部電極24とを備えている。
した光を偏光方向に応じて透過光と反射光とに分離する
とともに、偏光分離された透過光を検出する偏光光学素
子であり、図4に示すように、略板状の基板21と、基
板21の表面に形成された金属格子22と、基板21の
表面に形成された上部電極23と、基板21の裏面に形
成された下部電極24とを備えている。
【0045】上記金属格子22は、上記第1の実施の形
態における金属格子12と同様に形成されてなる。一
方、上記基板21は、GaAsからなり、いわゆるpn
構造又はpin構造を有している。そして、基板21、
上部電極23及び下部電極24は、全体としてフォトダ
イオードを構成している。すなわち、本実施の形態にお
いて、基板21は、光検出機能を有しており、この偏光
光学素子は、金属格子22を透過した透過光の光量を、
上部電極23及び下部電極24から電気信号として出力
する。
態における金属格子12と同様に形成されてなる。一
方、上記基板21は、GaAsからなり、いわゆるpn
構造又はpin構造を有している。そして、基板21、
上部電極23及び下部電極24は、全体としてフォトダ
イオードを構成している。すなわち、本実施の形態にお
いて、基板21は、光検出機能を有しており、この偏光
光学素子は、金属格子22を透過した透過光の光量を、
上部電極23及び下部電極24から電気信号として出力
する。
【0046】この偏光光学素子においても、上記第1の
実施の形態に係る偏光光学素子と同様に、偏光分離作用
が得られる。すなわち、この偏光光学素子も、上記第1
の実施の形態に係る偏光光学素子と同様に、P波を反射
し、S波を透過する。
実施の形態に係る偏光光学素子と同様に、偏光分離作用
が得られる。すなわち、この偏光光学素子も、上記第1
の実施の形態に係る偏光光学素子と同様に、P波を反射
し、S波を透過する。
【0047】そして、特に本実施の形態に係る偏光光学
素子では、上述のように、金属格子22を透過した透過
光が、光検出機能を有する半導体材料よりなる基板21
によって検出される。すなわち、この偏光光学素子は、
入射された光のうち、金属格子22を透過してきたS波
を検出することが可能となっている。
素子では、上述のように、金属格子22を透過した透過
光が、光検出機能を有する半導体材料よりなる基板21
によって検出される。すなわち、この偏光光学素子は、
入射された光のうち、金属格子22を透過してきたS波
を検出することが可能となっている。
【0048】ところで、基板21の材料であるGaAs
は、例えば波長780nmの光に対しては吸収体である
ので、金属格子22を透過した光の光量は、基板21を
透過するに従って減衰する。しかしながら、本実施の形
態に係る偏光光学素子では、金属格子22を透過してき
た透過光を、基板21によって直接検出する。すなわ
ち、この偏光光学素子では、金属格子22を透過した透
過光は、ほとんど減衰することなく、基板21によって
受光され検知される。したがって、この偏光光学素子で
は、このような透過光の減衰は、特に問題とはならな
い。
は、例えば波長780nmの光に対しては吸収体である
ので、金属格子22を透過した光の光量は、基板21を
透過するに従って減衰する。しかしながら、本実施の形
態に係る偏光光学素子では、金属格子22を透過してき
た透過光を、基板21によって直接検出する。すなわ
ち、この偏光光学素子では、金属格子22を透過した透
過光は、ほとんど減衰することなく、基板21によって
受光され検知される。したがって、この偏光光学素子で
は、このような透過光の減衰は、特に問題とはならな
い。
【0049】以上のような本実施の形態に係る偏光光学
素子は、基板21の表面に上部電極23と、格子周期d
が大きい金属格子22とを形成するとともに、基板21
の裏面に下部電極24を形成するだけで得ることができ
る。したがって、この偏光光学素子は、非常に薄く小型
に、しかも容易に製造することができる。
素子は、基板21の表面に上部電極23と、格子周期d
が大きい金属格子22とを形成するとともに、基板21
の裏面に下部電極24を形成するだけで得ることができ
る。したがって、この偏光光学素子は、非常に薄く小型
に、しかも容易に製造することができる。
【0050】なお、本実施の形態に係る偏光光学素子に
おいて、上部電極23の材料には、金属格子22の材料
と同一のものを用いることが好ましい。このように、上
部電極23を金属格子22と同一の材料で形成するとき
には、上部電極23のパターン形成時に、本発明を適用
した金属格子22を同時に形成することが可能となる。
したがって、上部電極23を金属格子22と同一の材料
で形成することにより、金属格子22を上部電極23と
共に形成する以外は、従来のフォトダイオードの製造手
順と全く同様の製造手順によって、偏光分離機能と光検
出機能とを兼ね備えた本実施の形態に係る偏光光学素子
を容易に形成することが可能となる。
おいて、上部電極23の材料には、金属格子22の材料
と同一のものを用いることが好ましい。このように、上
部電極23を金属格子22と同一の材料で形成するとき
には、上部電極23のパターン形成時に、本発明を適用
した金属格子22を同時に形成することが可能となる。
したがって、上部電極23を金属格子22と同一の材料
で形成することにより、金属格子22を上部電極23と
共に形成する以外は、従来のフォトダイオードの製造手
順と全く同様の製造手順によって、偏光分離機能と光検
出機能とを兼ね備えた本実施の形態に係る偏光光学素子
を容易に形成することが可能となる。
【0051】また、本実施の形態では、金属格子22と
は別に、基板21の表面に上部電極23を設けたが、上
記金属格子22は高い導電率を有しているので、この金
属格子22が電気信号を取り出すための電極として機能
するようにしてもよい。このように、金属格子22が電
極としても機能するようにすることにより、基板21の
表面に、金属格子22とは別に上部電極23を設ける必
要が無くなり、偏光分離機能と光検出機能とを兼ね備え
た偏光光学素子を、より容易に形成することが可能とな
る。
は別に、基板21の表面に上部電極23を設けたが、上
記金属格子22は高い導電率を有しているので、この金
属格子22が電気信号を取り出すための電極として機能
するようにしてもよい。このように、金属格子22が電
極としても機能するようにすることにより、基板21の
表面に、金属格子22とは別に上部電極23を設ける必
要が無くなり、偏光分離機能と光検出機能とを兼ね備え
た偏光光学素子を、より容易に形成することが可能とな
る。
【0052】なお、本実施の形態のように、基板21に
光検出機能を持たせるとき、基板21の材料は、GaA
sに限定されるものではなく、GaAs、Si又はIn
P等を主成分とする半導体材料等が広く使用可能である
ことは言うまでもない。
光検出機能を持たせるとき、基板21の材料は、GaA
sに限定されるものではなく、GaAs、Si又はIn
P等を主成分とする半導体材料等が広く使用可能である
ことは言うまでもない。
【0053】つぎに、上記第2の実施の形態に係る偏光
光学素子を、光ピックアップに適用した例について、図
5を参照しながら説明する。
光学素子を、光ピックアップに適用した例について、図
5を参照しながら説明する。
【0054】この光ピックアップ50は、光磁気ディス
クのドライブ装置に使用されるものであり、レーザ光を
照射する光源51と、光源51からの光及び光磁気ディ
スク52からの反射光を所定の光路に導く導波体53
と、導波体53の一主面の所定位置に配されたビームス
プリッタ膜54と、導波体53の他の主面の所定位置に
配された偏光光学素子55及びフォトダイオード56
と、導波体53の他の主面の所定位置に配された全反射
膜57と、これらを支持する支持部58とを備えてい
る。
クのドライブ装置に使用されるものであり、レーザ光を
照射する光源51と、光源51からの光及び光磁気ディ
スク52からの反射光を所定の光路に導く導波体53
と、導波体53の一主面の所定位置に配されたビームス
プリッタ膜54と、導波体53の他の主面の所定位置に
配された偏光光学素子55及びフォトダイオード56
と、導波体53の他の主面の所定位置に配された全反射
膜57と、これらを支持する支持部58とを備えてい
る。
【0055】上記導波体53は、光源51からの光が照
射される面が、光源51に対して傾斜するように、断面
略台形形状に加工されている。そして、ビームスプリッ
タ膜54は、この傾斜面に配されており、光源51から
の光が光磁気ディスク52に入射するように光源51か
らの光を反射するとともに、光磁気ディスク52からの
反射光が導波体53の内部に入射するように光磁気ディ
スク52からの反射光を透過する。
射される面が、光源51に対して傾斜するように、断面
略台形形状に加工されている。そして、ビームスプリッ
タ膜54は、この傾斜面に配されており、光源51から
の光が光磁気ディスク52に入射するように光源51か
らの光を反射するとともに、光磁気ディスク52からの
反射光が導波体53の内部に入射するように光磁気ディ
スク52からの反射光を透過する。
【0056】ビームスプリッタ膜54によって反射され
た光は、光磁気ディスク52上の所定の位置に入射する
ようにミラー59,60によって更に反射されるととも
に、光磁気ディスク52の記録面上に焦点を結ぶように
対物レンズ61によって集束された上で、光磁気ディス
ク52に入射する。そして、光磁気ディスク52に入射
した光は、光磁気ディスク52によって反射され、当該
反射光は、ビームスプリッタ膜54を介して導波体53
に入射する。
た光は、光磁気ディスク52上の所定の位置に入射する
ようにミラー59,60によって更に反射されるととも
に、光磁気ディスク52の記録面上に焦点を結ぶように
対物レンズ61によって集束された上で、光磁気ディス
ク52に入射する。そして、光磁気ディスク52に入射
した光は、光磁気ディスク52によって反射され、当該
反射光は、ビームスプリッタ膜54を介して導波体53
に入射する。
【0057】偏光光学素子55は、この反射光が照射す
る領域に配されている。この偏光光学素子55は、上記
第2の実施の形態に係る偏光光学素子と同様に構成され
ており、偏光分離機能と光検出機能とを兼ね備えてい
る。したがって、この偏光光学素子55は、光磁気ディ
スク52からの反射光のうち、P波を反射し、S波を検
出する。
る領域に配されている。この偏光光学素子55は、上記
第2の実施の形態に係る偏光光学素子と同様に構成され
ており、偏光分離機能と光検出機能とを兼ね備えてい
る。したがって、この偏光光学素子55は、光磁気ディ
スク52からの反射光のうち、P波を反射し、S波を検
出する。
【0058】全反射膜57は、この偏光光学素子55に
よって反射されたP波が照射する領域に配されている。
この全反射膜57は、偏光光学素子55によって反射さ
れたP波を全反射し、当該P波をフォトダイオード56
へと導く。そして、フォトダイオード56は、全反射膜
57によって全反射されたP波が照射する領域に配され
ており、当該P波を検出する。
よって反射されたP波が照射する領域に配されている。
この全反射膜57は、偏光光学素子55によって反射さ
れたP波を全反射し、当該P波をフォトダイオード56
へと導く。そして、フォトダイオード56は、全反射膜
57によって全反射されたP波が照射する領域に配され
ており、当該P波を検出する。
【0059】この光ピックアップ50では、上述のよう
に、光磁気ディスク52からの反射光のうち、S波を偏
光光学素子55によって検出し、P波をフォトダイオー
ド56によって検出する。そして、この光ピックアップ
50では、このように検出されたS波及びP波の和信号
や差信号等を得ることにより、光磁気ディスク52から
の信号を検出する。
に、光磁気ディスク52からの反射光のうち、S波を偏
光光学素子55によって検出し、P波をフォトダイオー
ド56によって検出する。そして、この光ピックアップ
50では、このように検出されたS波及びP波の和信号
や差信号等を得ることにより、光磁気ディスク52から
の信号を検出する。
【0060】以上のような光ピックアップ50は、薄板
状で小型の偏光光学素子55を用いているので、小型化
することができる。しかも、従来の光ピックアップで
は、偏光分離用素子と受光素子との位置合わせを行う必
要があったが、この光ピックアップ50では、偏光分離
機能と光検出機能とを兼ね備えた偏光光学素子55を用
いているので、このような位置合わせを行う必要がな
い。したがって、この光ピックアップ50は、従来の光
ピックアップに比べて、製造時の工数を大幅に削減する
ことができる。
状で小型の偏光光学素子55を用いているので、小型化
することができる。しかも、従来の光ピックアップで
は、偏光分離用素子と受光素子との位置合わせを行う必
要があったが、この光ピックアップ50では、偏光分離
機能と光検出機能とを兼ね備えた偏光光学素子55を用
いているので、このような位置合わせを行う必要がな
い。したがって、この光ピックアップ50は、従来の光
ピックアップに比べて、製造時の工数を大幅に削減する
ことができる。
【0061】なお、本発明に係る偏光光学素子の用途
は、このような光ピックアップに限定されるものではな
く、光を偏光方向に応じて分離したり、また、光を偏光
方向に応じて分離した上で検出したりすることが求めら
れる装置等に広く適用可能であることは言うまでもな
い。
は、このような光ピックアップに限定されるものではな
く、光を偏光方向に応じて分離したり、また、光を偏光
方向に応じて分離した上で検出したりすることが求めら
れる装置等に広く適用可能であることは言うまでもな
い。
【0062】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、小型で製造が容易であり、しかも、近赤外光
ないしは可視光の光を偏光方向に応じて分離することが
できる偏光光学素子を提供することができる。
によれば、小型で製造が容易であり、しかも、近赤外光
ないしは可視光の光を偏光方向に応じて分離することが
できる偏光光学素子を提供することができる。
【0063】また、本発明によれば、小型で製造が容易
であり、かつ近赤外光ないしは可視光を偏光方向に応じ
て分離した上で検出する機能を有する偏光光学素子を提
供することができる。
であり、かつ近赤外光ないしは可視光を偏光方向に応じ
て分離した上で検出する機能を有する偏光光学素子を提
供することができる。
【図1】本発明を適用した偏光光学素子の一例を示す斜
視図である。
視図である。
【図2】図1に示した偏光光学素子におけるS波の透過
率及び反射率の波長依存性を示す特性図である。
率及び反射率の波長依存性を示す特性図である。
【図3】図1に示した偏光光学素子におけるP波の透過
率及び反射率の波長依存性を示す特性図である。
率及び反射率の波長依存性を示す特性図である。
【図4】本発明を適用した偏光光学素子の他の例を示す
斜視図である。
斜視図である。
【図5】本発明を適用した偏光光学素子を用いた光ピッ
クアップの一例を示す側面図である。
クアップの一例を示す側面図である。
11,21 基板、 12,22 金属格子、 23
上部電極、 24 下部電極
上部電極、 24 下部電極
Claims (6)
- 【請求項1】 屈折率がn1 の基板上に形成されるとと
もに、屈折率がn0 の物質によって上部が覆われた金属
格子を備え、上記金属格子に入射した光を偏光方向に応
じて透過光と反射光とに分離する偏光光学素子におい
て、 上記金属格子の格子周期をdとしたとき、上記光の波長
がn0 ×dよりも大であり、且つn1 ×dよりも小であ
ることを特徴とする偏光光学素子。 - 【請求項2】 上記金属格子が、Al又はAuを主成分
とする材料からなることを特徴とする請求項1記載の偏
光光学素子。 - 【請求項3】 上記基板が、半導体材料からなることを
特徴とする請求項1記載の偏光光学素子。 - 【請求項4】 上記半導体材料からなる基板が、GaA
s、Si又はInPを主成分とすることを特徴とする請
求項3記載の偏光光学素子。 - 【請求項5】 上記基板が光検出機能を有し、上記金属
格子を透過した透過光の光量を電気信号として出力する
ことを特徴とする請求項1記載の偏光光学素子。 - 【請求項6】 上記電気信号を取り出すために上記基板
上に形成された電極の材料の主成分と、上記金属格子の
材料の主成分とが同一であることを特徴とする請求項5
記載の偏光光学素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8101449A JPH09288211A (ja) | 1996-04-23 | 1996-04-23 | 偏光光学素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8101449A JPH09288211A (ja) | 1996-04-23 | 1996-04-23 | 偏光光学素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09288211A true JPH09288211A (ja) | 1997-11-04 |
Family
ID=14301009
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8101449A Withdrawn JPH09288211A (ja) | 1996-04-23 | 1996-04-23 | 偏光光学素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09288211A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002091044A1 (fr) * | 2001-04-26 | 2002-11-14 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Dispositif de polarisation et son procede de fabrication |
| US6893136B2 (en) | 2002-07-26 | 2005-05-17 | Hannstar Display Corp. | Panel light source device and back light module for liquid crystal display device |
| WO2006004010A1 (ja) * | 2004-06-30 | 2006-01-12 | Zeon Corporation | 電磁波遮蔽性グリッド偏光子およびその製造方法、グリッド偏光子の製造方法 |
| US8947772B2 (en) | 2006-08-31 | 2015-02-03 | Moxtek, Inc. | Durable, inorganic, absorptive, ultra-violet, grid polarizer |
-
1996
- 1996-04-23 JP JP8101449A patent/JPH09288211A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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