JPH09169538A - 無アルカリガラス及び液晶ディスプレイパネル - Google Patents
無アルカリガラス及び液晶ディスプレイパネルInfo
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- JPH09169538A JPH09169538A JP31101995A JP31101995A JPH09169538A JP H09169538 A JPH09169538 A JP H09169538A JP 31101995 A JP31101995 A JP 31101995A JP 31101995 A JP31101995 A JP 31101995A JP H09169538 A JPH09169538 A JP H09169538A
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Abstract
-7/℃で、BHFによる白濁なく、耐酸性もすぐれる無
アルカリガラスを得る。 【解決手段】モル%表示でSiO2 60〜72、Al2
O3 :5〜16、B2 O3 :5〜10未満、MgO:0
〜6、CaO:0〜2.5、SrO:1〜9、BaO:
1〜5からなる。
Description
やフォトマスク用基板ガラスとして好適な、アルカリ金
属酸化物を実質上含有せずフロート成形可能な、無アル
カリガラス及びそれを用いた液晶ディスプレイパネルに
関する。
特に表面に金属又は酸化物薄膜等を形成させるもので
は、以下の特性が要求される。
アルカリ金属イオンが薄膜中に拡散して、膜特性を劣化
させるため、実質的にアルカリ金属イオンを含まないこ
と。 (2)薄膜形成工程で高温にさらされるので、ガラスの
変形及びガラスの構造安定化に伴う収縮を最小限に抑え
るため、高い歪点を有すること。 (3)半導体形成に用いられる各種薬品に対して充分な
化学耐久性を有すること。特にSiOx やSiNx のエ
ッチングのためのフッ酸、フッ化アンモニウム等を主成
分とするバッファードフッ酸(BHF)に対して耐久性
があること。 (4)内部及び表面に欠点(泡、脈理、インクルージョ
ン、ピット、キズ、等)をもたないこと。
基板ガラスとしてコーニングコード7059ガラスが広
く用いられている。しかし、このガラスにはデイスプレ
イ用として以下に示す不充分な点があった。
プレイ作製工程におけるガラスの収縮を低減するための
前熱処理を、工程前に行わなければならない。 (2)金属電極や透明導電膜(ITOなど)のエッチン
グに用いる塩酸等への溶出量が多く、ディスプレイ作製
工程中で溶出物が再結晶するなどして、ディスプレイ作
製に困難がある。
大型化するに伴い次の2点が新たに要求されてきた。
2.76g/ccであり、さらに軽量化を図るため密度
の小さいものが必要である。 (2)上記コード7059ガラスの熱膨張係数が46×
10-7/℃であり、ディスプレイ作製時の昇降温速度を
上げ、生産効率を上げるため、さらに熱膨張係数の小さ
いものが必要である。
44にはB2 O3 を20〜23カチオン%含有するもの
が開示されているが、B2 O3 量が多く歪点が充分には
高くない。特開昭61−281041にはB2 O3 を
0.1〜4重量%、特開平4−175242にはB2 O
3 を0.1〜5モル%、特開平4−325435にはB
2 O3 を0〜3重量%、含有するものが開示されている
が、B2 O3 量が少なくBHFに対する耐久性が充分で
はない。
4にはBaOを10〜20重量%、特開昭63−749
35にはBaOを10〜22重量%、特開昭59−16
9953にはBaOを15〜40重量%、含有するもの
が開示されているが、BaOが多く熱膨張係数が大き
い。
36にはMgOを6.5〜12重量%、特開昭59−1
16147にはMgOを5〜15重量%、特開昭60−
71540にはMgOを5〜17重量%、特開昭60−
42246にはMgOを10〜25モル%、含有するも
のが開示されているが、MgOを多く含有したガラスは
分相がおきやすくなる。
32にはCaOを11〜25重量%、特開昭58−32
038にはCaOを7〜20モル%、特開平2−133
334にはCaOを8〜15重量%、特開平3−174
336にはCaOを7〜12重量%、特開平6−407
39にはCaOを10〜12重量%、特開平5−201
744にはCaOを18カチオン%以上、含有するもの
が開示されているが、CaOを多量に含有するため熱膨
張係数が大きくなる傾向がある。
6631にはAl2 O3 を22.5〜35重量%、含有
するものが開示されているが、Al2 O3 量が多く塩酸
等への薬品への溶出が多い。
232、特開昭63−11543、にはP2 O5 を含有
するものが開示されているが、薄膜の半導体特性を悪化
させ好ましくない。
で、熱膨張係数が30〜45×10-7/℃、密度2.7
0g/cc以下のガラスは、特開平6−263473に
開示されている。しかし、このガラスを常法に従って、
バッチ調合、溶解、成形して作成したガラスを高精細の
ポリシリコンタイプのTFTに適用すると、充分に特性
の良いトランジスタが得られない場合がある。
もに、歪点が640℃以上で、熱膨張係数、密度が小さ
く、BHFにより白濁をおこさず、塩酸等の薬品への耐
久性も優れ、熔解・成形が容易で、フロート成形が可能
な無アルカリガラスを提供することにある。
実質的に、SiO2 :60〜72%、Al2 O3 :5〜
16%、B2 O3 :5〜10%未満、MgO:0〜6
%、CaO:0〜2.5%、SrO:1〜9%、Ba
O:1〜5%、MgO+CaO+SrO+BaO:7〜
18%からなる無アルカリガラスである。
カリ金属酸化物(例えばNa2 O、K2 Oなど)を実質
的に含有しないものである。具体的にはアルカリ金属酸
化物が総量で0.5重量%以下、より好ましくは0.2
重量%以下とされる。
た理由について述べる。
は、歪点が充分に上げられないとともに、化学耐久性が
悪化し、熱膨張係数が増大する。72モル%超では熔解
性が低下し、失透温度が上昇する。より好ましい範囲は
66〜70モル%である。
膨張係数を下げ、歪点を上げる。その含有量が5モル%
未満ではこの効果があらわれず、16モル%超ではガラ
スの熔解性が悪くなる。より好ましい範囲は9〜14モ
ル%である。
し、高温での粘性を高くさせずに熱膨張係数と密度の低
下を達成できる。その含有量が5モル%未満ではBHF
性が悪化し、10モル%以上では耐酸性が悪くなる。よ
り好ましい範囲は6〜9モル%である。
類金属酸化物のうちでは熱膨張係数を低くし、かつ歪点
が低下しないため含有することができる。その含有量が
6モル%超ではBHFによる白濁やガラスの分相が生じ
やすくなる。より好ましい範囲は1〜5モル%である。
によりガラスの熔解性を向上させうる。その含有量が
2.5モル%超では高精細ポリシリコンTFTの特性を
悪化させるおそれがある。
れているアモルファスシリコンタイプのTFTを使用し
たものに対して、ポリシリコンタイプのTFTが提案さ
れ、使用されてきている。ポリシリコンタイプのTFT
は、(1)トランジスタの易動度を上げうるので、1画
素あたりの制御時間が短くない、LCDの高精細化が可
能になる、(2)画面周辺に駆動用ICを実装すること
が可能になる、などの利点がある反面、作製工程での強
い熱処理(例えば、500〜600℃×数時間)が必要
になる。このような高温では、ガラス中の不純物がTF
Tに拡散して、リーク電流が増大、TFT特性を悪化さ
せ、高精細のTFT作製を難しくするおそれがある。
のは、CaOの原料として使用される石灰石中のリンで
ある。したがって、本発明の無アルカリガラス中に、リ
ンは実質的に含まれないことが望ましい。ガラス中のリ
ンを減らすためには、リン不純物の少ない高純度原料を
用いる方法も考えられるが、コスト的に不利がある。
%以下にしたので、TFT特性を悪化させることがな
く、液晶表示パネル用として優れた特性のガラス基板が
得られる。CaOのより好ましい範囲は1.5モル%以
下であり、特に好ましくは、実質的に含有されない。
よる白濁に対し比較的有用な成分であるため、1モル%
以上含有される。その含有量が9モル%超では熱膨張係
数が増大する。より好ましい範囲は2〜8モル%であ
る。
向上させ、失透温度を抑制する効果があるため本発明で
は必須とする。その含有量が5モル%超では熱膨張係数
が増大し、耐酸性等の化学耐久性も劣化する。
合量が7モル%未満では熔解を困難にさせる。18モル
%超では密度が大きくなる。より好ましい範囲は9〜1
6モル%である。
るおそれがあるため、実質的に含有しないことが好まし
い。
熔解性、清澄性、成形性を改善するため、ZnO、SO
3 、F、Clを総量で5モル%以下添加できる。
を含むとガラスカレットの処理に工数を多く必要とする
ので不純物等として不可避的に混入すものを除き含有し
ないことが好ましい。
組成は、モル%表示で実質的に、SiO2 :66〜70
%、Al2 O3 :9〜14%、B2 O3 :6〜9%、M
gO:1〜5%、SrO:2〜8%、BaO:1〜5
%、MgO+SrO+BaO:9〜16%からなり、リ
ン及びCaOを実質的に含有しないものである。
あることが好ましく、より好ましくは650℃以上であ
る。また、熱膨張係数が30×10-7/℃〜45×10
-7/℃であることが好ましく、より好ましくは30×1
0-7/℃〜40×10-7/℃である。さらに、密度2.
70g/cc以下であることが好ましく、より好ましく
は2.65g/cc以下である。
で製造できる。すなわち、通常使用される各成分の原料
を目標成分になるように調合し、これを熔解炉に連続的
に投入し、1500〜1600℃に加熱して熔融する。
この熔融ガラスをフロート法により所定の板厚に成形
し、徐冷後切断する。
し、白金坩堝を用いて1500〜1600℃の温度で熔
解した。熔解にあたっては、白金スターラを用い撹拌し
ガラスの均質化を行った。次いで熔解ガラスを流し出
し、板状に成形後徐冷した。
成と熱膨張係数、高温粘度、失透温度、歪点、密度、耐
酸性、耐BHF性、リーク電流(TFT特性)を示す。
例1〜10は実施例、例11〜13は比較例である。
温粘度は粘度が102 、104 ポイズとなる温度(単
位:℃)で示し、失透温度は単位:℃で示し、密度は単
位:g/ccで示した。歪点(単位:℃)はJIS R
3103に従って測定した。
に20時間浸漬後の単位面積あたりの重量減少量(単
位:mg/cm2 )で示した。耐酸性は0.3mg/c
m2 以下、特には0.2mg/cm2 以下、であること
が好ましい。
重量%NH4 F水溶液と50重量%HF水溶液とを体積
比で9:1に混合した液)中に25℃で20分浸漬後の
単位面積あたりの重量減少量(単位:mg/cm2 )で
示した。耐BHF性は0.7mg/cm2 以下、特には
0.6mg/cm2 以下、であることが好ましい。
いて、測定した。すなわち、電極長さ10μmのポリシ
リコンタイプTFTをガラス基板上に作成し、ゲート電
圧を−5V、ソース電圧を0V、ドレイン電圧を+10
Vとしたときのリーク電流(単位:pA)を測定した。
リーク電流は数pA程度以下であることが好ましい。
〜40×10-7/℃の低い値を示し、歪点は630℃以
上と高い値を示し、高温での熱処理に充分耐えられる。
密度も2.70g/cc未満で従来のコーニングコード
7059ガラスの2.76g/ccより小さい。化学的
特性に関してもBHFにより白濁を生じにくく、耐酸性
にも優れる。熔解の目安となる102 ポイズに相当する
温度も比較的低く熔解が容易であり、成形性の目安とな
る104 ポイズに相当する温度と失透温度の関係も良好
で、成形時に失透が生成するなどのトラブルがないと考
えられる。
流が10pA未満であり、近年のTFTの高集積化にも
充分に耐えられる。
〜数十pA程度になっており、TFTが高集積化するに
従って、問題となりうる。
る成形が可能である。また、BHFによる白濁が生じに
くく、耐酸性に優れ、耐熱性が高く、低い熱膨張係数を
有するのでディスプレイ用基板、フォトマスク基板とし
て適する。特に、TFT特性に悪影響を与えにくいの
で、、TFTタイプのディスプレイ基板等に好適であ
る。
Claims (9)
- 【請求項1】モル%表示で実質的に、SiO2 :60〜
72%、Al2 O3 :5〜16%、B2 O3 :5〜10
%未満、MgO:0〜6%、CaO:0〜2.5%、S
rO:1〜9%、BaO:1〜5%、MgO+CaO+
SrO+BaO:7〜18%からなる無アルカリガラ
ス。 - 【請求項2】リンを実質的に含有しない請求項1の無ア
ルカリガラス。 - 【請求項3】PbO、As2 O3 及びSb2 O3 を実質
的に含有しない請求項1又は2の無アルカリガラス。 - 【請求項4】歪点が640℃以上である請求項1〜3の
いずれかの無アルカリガラス。 - 【請求項5】熱膨張係数が30×10-7/℃〜45×1
0-7/℃である請求項1〜4のいずれかの無アルカリガ
ラス。 - 【請求項6】モル%表示で実質的に、SiO2 :66〜
70%、Al2 O3 :9〜14%、B2 O3 :6〜9
%、MgO:1〜5%、SrO:2〜8%、BaO:1
〜5%、MgO+SrO+BaO:9〜16%からな
り、リン及びCaOを実質的に含有しない請求項1〜5
のいずれかの無アルカリガラス。 - 【請求項7】歪点が650℃以上である請求項1〜6の
いずれかの無アルカリガラス。 - 【請求項8】熱膨張係数が30×10-7/℃〜40×1
0-7/℃である請求項1〜7のいずれかの無アルカリガ
ラス。 - 【請求項9】請求項1〜8のいずれかの無アルカリガラ
スをセルを形成する一対の基板のうちの少なくとも一方
の基板として使用した液晶ディスプレイパネル。
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|---|---|---|---|
| JP31101995A JP4250208B2 (ja) | 1994-11-30 | 1995-11-29 | ディスプレイ基板用無アルカリガラス及び液晶ディスプレイパネル |
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| JP6-296522 | 1994-11-30 | ||
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| JP7-273235 | 1995-10-20 | ||
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Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| JPH09169538A true JPH09169538A (ja) | 1997-06-30 |
| JP4250208B2 JP4250208B2 (ja) | 2009-04-08 |
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ID=27336079
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| JP31101995A Expired - Lifetime JP4250208B2 (ja) | 1994-11-30 | 1995-11-29 | ディスプレイ基板用無アルカリガラス及び液晶ディスプレイパネル |
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