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JPH09139564A - Thick film wiring and method of forming the same - Google Patents

Thick film wiring and method of forming the same

Info

Publication number
JPH09139564A
JPH09139564A JP29640895A JP29640895A JPH09139564A JP H09139564 A JPH09139564 A JP H09139564A JP 29640895 A JP29640895 A JP 29640895A JP 29640895 A JP29640895 A JP 29640895A JP H09139564 A JPH09139564 A JP H09139564A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
layer
glass
forming
glass substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP29640895A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaaki Asano
雅朗 浅野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP29640895A priority Critical patent/JPH09139564A/en
Publication of JPH09139564A publication Critical patent/JPH09139564A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make it possible to form a desired electrode pattern in a short process and to prevent the reduction in the specific resistance of an electrode material from being generated by a method wherein pattern-shaped plated layers consisting of the electrode material are made to bond on a glass substrate via a glass paste. SOLUTION: A patterned insulating layer 2 running counter to an electrode to be formed is first formed on a plate material 1 having a conductivity to manufacture a substrate 3 for transfer use. After that, plated layers 4 consisting of an electrode material are respectively formed on wiring pattern parts 1a other than the layer 2, while a bonding layer 6 containing an adhesive glass frit is formed on the whole surface of a glass substrate 5 to be made the layers 4 transfer. Then, after the substrate 3 is pressure bonded on the substrate 5, the layers 4 are peeled from the substrate 3 and the layers 4 are transferred on the substrate 5 along with the layer 6. Subsequently, the substrate 5 is fired to make the layers 4 adhere closely to the substrate 5 and the pattern-shaped plated layers 4 consisting of the electrode material are bonded on the substrate 5 via a glass paste 7.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板、
プラズマディスプレイパネル基板等における厚膜配線及
びその形成方法に関するものである。
The present invention relates to a printed wiring board,
The present invention relates to a thick film wiring in a plasma display panel substrate or the like and a method for forming the same.

【0002】[0002]

【発明が解決しようとする課題】通常、上記の如き厚膜
配線は、それを形成しようとする基板の全面に電極ペー
ストを塗布して焼成することによって薄膜を形成し、そ
の薄膜をフォトリソグラフィー法(レジスト膜形成、露
光、現像、エッチング、レジスト剥離)によりパターニ
ングすることで形成されている。しかしながらこの方法
では、フォトリソグラフィー法によるパターニング処理
に時間がかかり、このため工程が長くなるという欠点が
ある。また、ペースト材料には金属粉以外にガラスフリ
ットが存在し、単位体積当たりで言うと電極として担う
金属粉の割合が低いことから、電極として比抵抗の低い
材料は得にくいという問題点もある。
Usually, in the thick film wiring as described above, a thin film is formed by applying an electrode paste on the entire surface of a substrate on which it is to be formed and baking it, and the thin film is formed by a photolithography method. It is formed by patterning by (resist film formation, exposure, development, etching, resist peeling). However, this method has a drawback in that the patterning process by the photolithography method takes a long time, resulting in a long process. In addition, since the paste material contains glass frit in addition to the metal powder and the ratio of the metal powder serving as the electrode per unit volume is low, it is difficult to obtain a material having a low specific resistance as the electrode.

【0003】本発明は、上記のような問題点に鑑みてな
されたものであり、その目的とするところは、短い工程
で所望の電極パターンが形成でき、電極材料の比抵抗の
低下が起こらないようにした厚膜配線及びその形成方法
を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to form a desired electrode pattern in a short process and to prevent a decrease in the specific resistance of the electrode material. A thick film wiring and a method for forming the same are provided.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の厚膜配線は、電極材料からなるパターン状
のメッキ層がガラスペーストを介してガラス基板上に接
着されてなることを特徴とするものである。
In order to achieve the above object, the thick film wiring of the present invention is characterized in that a patterned plating layer made of an electrode material is adhered onto a glass substrate via a glass paste. It is what

【0005】そして、上記構成の厚膜配線は、少なくと
も次の各工程からなる方法で形成することができる。 (1)導電性の板材上に、形成すべき電極とは相反する
パターンの絶縁層を形成して転写用基板を作製する工
程。 (2)前記転写用基板における前記絶縁層非形成部に電
極材料をメッキしてメッキ層を形成する工程。 (3)転写させるガラス基板の全面又は一部にガラスフ
リット含有接着層を形成する工程。 (4)前記転写用基板と前記ガラス基板とを圧着させ、
転写用基板とガラス基板を剥離して前記メッキ層を前記
接着層とともにガラス基板に転写させる工程。 (5)前記ガラス基板を焼成して前記接着層中のガラス
フリットを溶かし、メッキ層をガラス基板に融着させる
工程。
The thick film wiring having the above structure can be formed by a method including at least the following steps. (1) A step of forming a transfer substrate by forming an insulating layer having a pattern opposite to that of an electrode to be formed on a conductive plate material. (2) A step of forming a plating layer by plating an electrode material on the insulating layer non-formation portion of the transfer substrate. (3) A step of forming a glass frit-containing adhesive layer on the entire surface or a part of the glass substrate to be transferred. (4) The transfer substrate and the glass substrate are pressure-bonded to each other,
A step of separating the transfer substrate and the glass substrate and transferring the plating layer together with the adhesive layer onto the glass substrate. (5) A step of firing the glass substrate to melt the glass frit in the adhesive layer, and fusing the plating layer to the glass substrate.

【0006】また、上記構成の厚膜配線は、少なくとも
次の各工程からなる方法でも形成することができる。 (1)導電性の板材上に、形成すべき電極とは相反する
パターンの絶縁層を形成して転写用基板を作製する工
程。 (2)前記転写用基板における前記絶縁層非形成部に電
極材料をメッキしてメッキ層を形成する工程。 (3)前記転写用基板の全面又は一部にガラスフリット
含有接着層を形成する工程。 (4)前記転写用基板と前記ガラス基板とを圧着させ、
転写用基板とガラス基板を剥離して前記メッキ層を前記
接着層とともにガラス基板に転写させる工程。 (5)前記ガラス基板を焼成して前記接着層中のガラス
フリットを溶かし、メッキ層をガラス基板に融着させる
工程。
The thick film wiring having the above structure can be formed by a method including at least the following steps. (1) A step of forming a transfer substrate by forming an insulating layer having a pattern opposite to that of an electrode to be formed on a conductive plate material. (2) A step of forming a plating layer by plating an electrode material on the insulating layer non-formation portion of the transfer substrate. (3) A step of forming a glass frit-containing adhesive layer on the entire surface or a part of the transfer substrate. (4) The transfer substrate and the glass substrate are pressure-bonded to each other,
A step of separating the transfer substrate and the glass substrate and transferring the plating layer together with the adhesive layer onto the glass substrate. (5) A step of firing the glass substrate to melt the glass frit in the adhesive layer, and fusing the plating layer to the glass substrate.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明に係
る厚膜配線の実施形態をその形成手順を述べることによ
り説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the thick film wiring according to the present invention will be described below by describing the forming procedure thereof with reference to the drawings.

【0008】まず図1(a)に示すように、導電性を有
する板材1上に、形成すべき電極とは相反するパターン
の絶縁層2を形成して転写用基板3を作製する。
First, as shown in FIG. 1A, an insulating layer 2 having a pattern opposite to that of an electrode to be formed is formed on a plate material 1 having conductivity to prepare a transfer substrate 3.

【0009】この転写用基板3の板材1としては、表面
に導電層を設けたガラス板、SUS、インバー36(F
e:Ni=64:36)、インバー42(Fe:Ni=
58:42)、コバール(Fe:Ni:Co=54:2
9:17)、Ti等の材料が好ましい。また、その表面
粗さ(Rmax)を1000Å以下に研磨したものが好
ましい。この研磨方法としては、ラッピング研磨法や電
界複合研磨法などがある。
As the plate material 1 of the transfer substrate 3, a glass plate having a conductive layer on its surface, SUS, Invar 36 (F
e: Ni = 64: 36), Invar 42 (Fe: Ni =
58:42), Kovar (Fe: Ni: Co = 54: 2)
9:17), materials such as Ti are preferable. Further, it is preferable that the surface roughness (Rmax) is polished to 1000 Å or less. Examples of this polishing method include a lapping polishing method and an electric field composite polishing method.

【0010】絶縁層2は、板材1の上にフォトレジスト
を塗布した後、所定のマスクを介してフォトレジスト層
を密着露光し、現像することにより板材1のうちの配線
パターン部分1aを露出させることで形成される。或い
は、板材1上に絶縁膜を形成し、当該絶縁膜をフォトリ
ソグラフィー法によりパターニングすることで得られ
る。この絶縁膜としては、CVD法によるSiNx膜
又はSiOx膜、反応性蒸着膜によるSiNx膜、S
iOx膜又はショットガラス膜、コーティングガラ
ス、セラミック前駆体ポリマー、硬化型樹脂等の塗布膜
(必要により焼成)等が用いられる。セラミック前駆体
ポリマーとしては、シラザンポリマー、シラノール化合
物等がある。板材上に上記のような絶縁膜を形成した
後、具体的には、レジスト膜の形成、マスクを介しての
露光、現像の各工程を経た後、ドライエッチングにより
絶縁膜をエッチングする工程をとる。なお、ドライエッ
チングは反応性イオンエッチング法で行うことでアスペ
クト比の高いエッチングが可能となる。その後レジスト
を剥離することにより、図1に示す如く、板材1上に形
成すべき電極とは相反するパターンの絶縁層2が形成さ
れた転写用基板3が完成する。
The insulating layer 2 exposes the wiring pattern portion 1a of the plate material 1 by applying a photoresist on the plate material 1, exposing the photoresist layer through a predetermined mask, and exposing the photoresist layer closely. It is formed by Alternatively, it can be obtained by forming an insulating film on the plate material 1 and patterning the insulating film by a photolithography method. As the insulating film, a SiNx film or a SiOx film formed by a CVD method, a SiNx film formed by a reactive deposition film, an S
An iOx film or a shot glass film, a coating glass, a coating film of a ceramic precursor polymer, a curable resin or the like (baking if necessary) and the like are used. Examples of ceramic precursor polymers include silazane polymers and silanol compounds. After forming the insulating film as described above on the plate material, specifically, after performing the steps of forming a resist film, exposing through a mask, and developing, a step of etching the insulating film by dry etching is taken. . Note that dry etching can be performed with a high aspect ratio by performing reactive ion etching. After that, the resist is peeled off to complete the transfer substrate 3 on which the insulating layer 2 having a pattern opposite to the electrodes to be formed on the plate material 1 is formed as shown in FIG.

【0011】また、転写用基板を作製する別の方法とし
て、予め板材の絶縁層形成予定部分をエッチングして凹
部を形成しておき、当該凹部に絶縁層を形成するように
してもよい。この場合、板材の上にフォトレジスト層を
パターン形成し、パターン開孔部に対応する板材表面を
エッチングして凹部を形成した後、全面に絶縁層を形成
してから、フォトレジスト層と共にその上の絶縁層を剥
離(リフトオフ法)する方法を採るとより簡便である。
As another method for producing the transfer substrate, a portion of the plate material where the insulating layer is to be formed may be previously etched to form a recess, and the insulating layer may be formed in the recess. In this case, a photoresist layer is patterned on the plate material, the surface of the plate material corresponding to the pattern openings is etched to form recesses, and then an insulating layer is formed on the entire surface, and then the photoresist layer and the photoresist layer are formed thereon. It is simpler to adopt the method of peeling the insulating layer (lift-off method).

【0012】転写用基板3を作製した後、図1(b)に
示すように、その転写用基板3における絶縁層2以外の
配線パターン部分1aに電極材料をメッキしてメッキ層
4を形成する。この電極材料としては、Ag、Cu、N
i等の金属材料が使用される。一方、図1(c)に示す
ように、メッキ層4を転写させるべきガラス基板5の全
面に粘着性或いは接着性のガラスフリット含有接着層6
を形成する。この接着層6としては通常の金属ペースト
のバインダーに用いられる材料が使用される。具体的に
は、PbOを主成分とする低融点ガラスフリット(Pb
O、Al2 3、B2 3 、SiO2 等)、バインダー
樹脂(例えば、エチルセルロース、ニトロセルロース、
アルカリ樹脂等)からなり、必要により溶剤、添加剤が
加えられたものである。なお、接着層6はメッキ層4部
分のみに形成してもよいし、転写用基板3のメッキ層4
上を含む全面又は一部に形成するようにしてもよい。メ
ッキ層4部分のみに形成すると接着層になるだけである
が、図示のように全面に形成すると転写時に下地層の役
目を果たすため、ガラス基板5の歪みの防止、ガラス基
板5よりのアルカリ成分の拡散防止等の効果も得られ
る。
After the transfer substrate 3 is manufactured, an electrode material is plated on the wiring pattern portion 1a other than the insulating layer 2 on the transfer substrate 3 to form a plated layer 4, as shown in FIG. 1 (b). . As the electrode material, Ag, Cu, N
A metal material such as i is used. On the other hand, as shown in FIG. 1C, a glass frit-containing adhesive layer 6 having adhesiveness or adhesiveness is formed on the entire surface of the glass substrate 5 to which the plating layer 4 is transferred.
To form As the adhesive layer 6, a material used as a binder for a normal metal paste is used. Specifically, a low melting point glass frit (PbO) containing PbO as a main component is used.
O, Al 2 O 3 , B 2 O 3 , SiO 2 etc.), binder resin (eg ethyl cellulose, nitrocellulose,
(Alkaline resin, etc.) and, if necessary, a solvent and additives are added. The adhesive layer 6 may be formed only on the plating layer 4 portion, or the plating layer 4 of the transfer substrate 3 may be formed.
It may be formed on the entire surface or a part thereof including the above. If it is formed only on the plating layer 4 portion, it only serves as an adhesive layer, but if it is formed on the entire surface as shown in the figure, it serves as a base layer at the time of transfer. The effect of preventing the diffusion of

【0013】また、転写用基板3をガラス基板5から剥
離する工程、すなわち転写工程において剥離性を向上さ
せる理由で、転写用基板3の形成すべき電極とは相反す
るパターンの絶縁層2の表面に剥離性樹脂層を設けてお
くのが好ましい。この剥離性樹脂層は、シリコーン樹
脂、ポリイミド樹脂、テフロン樹脂等により形成するこ
とができ、特に粘着剤に対する離型性を考慮した場合、
シリコーン樹脂が好ましく使用される。シリコーン樹脂
としては、熱硬化性シリコーン樹脂、紫外線硬化型シリ
コーン樹脂、電子線硬化型シリコーン樹脂のいずれであ
ってもよい。このような剥離性樹脂層の厚さは0.00
5〜1μm程度が好ましい。剥離性樹脂層の厚さが0.
005μm未満であると、これ以上薄く形成するのが難
しく、絶縁層全面の保護が不十分となる。また、剥離性
樹脂層の厚さが1μmを越えると、電着物質が凹部内に
形成されなかったり、凹部形状の変化が起こり好ましく
ない。剥離性樹脂層の形成方法としては、掛け流し法に
より塗布した後に硬化させる方法、スピンコート、ロー
ルコート等が挙げられる。
The surface of the insulating layer 2 having a pattern contradictory to the electrodes to be formed on the transfer substrate 3 for the purpose of improving the releasability in the process of separating the transfer substrate 3 from the glass substrate 5, that is, in the transfer process. It is preferable to provide a releasable resin layer. This releasable resin layer can be formed of a silicone resin, a polyimide resin, a Teflon resin, or the like, and particularly when considering the releasability of the adhesive,
Silicone resins are preferably used. The silicone resin may be a thermosetting silicone resin, an ultraviolet curable silicone resin, or an electron beam curable silicone resin. The thickness of such a peelable resin layer is 0.00
It is preferably about 5 to 1 μm. The thickness of the peelable resin layer is 0.
If the thickness is less than 005 μm, it is difficult to form a thinner layer and the protection of the entire surface of the insulating layer becomes insufficient. Further, if the thickness of the peelable resin layer exceeds 1 μm, the electrodeposited substance may not be formed in the recess or the shape of the recess may change, which is not preferable. Examples of the method of forming the releasable resin layer include a method of coating by a pouring method and then curing, spin coating, roll coating and the like.

【0014】次いで、図1(d)に示すように、ガラス
基板5上に上記の転写用基板3を接着層6がガラス基板
5に当接するようにして圧着する。この圧着は、ローラ
圧着、プレート圧着、真空圧着等いずれの方法にしたが
ってもよい。また、接着層6が加熱により粘着性或いは
接着性を発現するバインダー樹脂を有する場合には、熱
圧着を行うこともできる。その後、図1(e)に示すよ
うに、転写用基板3を剥離してメッキ層4をガラス基板
5上の接着層6とともに転写する。そして、この剥離し
た転写用基板3は再利用される。
Then, as shown in FIG. 1D, the transfer substrate 3 is pressure-bonded onto the glass substrate 5 so that the adhesive layer 6 contacts the glass substrate 5. This pressure bonding may be performed by any method such as roller pressure bonding, plate pressure bonding, and vacuum pressure bonding. Further, when the adhesive layer 6 has a binder resin that exhibits tackiness or adhesiveness by heating, thermocompression bonding can be performed. Thereafter, as shown in FIG. 1E, the transfer substrate 3 is peeled off, and the plating layer 4 is transferred together with the adhesive layer 6 on the glass substrate 5. Then, the peeled transfer substrate 3 is reused.

【0015】続いて、ガラス基板5を焼成してメッキ層
4をガラス基板に密着させる。すなわち、ガラスフリッ
ト含有接着層6は焼成するとバインダー成分である溶剤
やバインダー樹脂は焼却されてなくなり、残ったガラス
フリット成分が溶け、メッキ層4とガラス基板5とを接
着させることができる。これにより、図1(f)に示す
ように、電極材料からなるパターン状のメッキ層4がガ
ラスペースト7を介してガラス基板5上に接着された厚
膜配線が形成される。
Then, the glass substrate 5 is fired to bring the plated layer 4 into close contact with the glass substrate. That is, when the glass frit-containing adhesive layer 6 is fired, the solvent or binder resin as a binder component is incinerated and disappears, the remaining glass frit component is melted, and the plating layer 4 and the glass substrate 5 can be bonded. As a result, as shown in FIG. 1F, a thick film wiring in which the patterned plating layer 4 made of the electrode material is bonded onto the glass substrate 5 via the glass paste 7 is formed.

【0016】[0016]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
転写用基板上にメッキ法で電極材料からなるパターン状
のメッキ層を形成し、ガラスフリット含有接着層により
そのメッキ層をガラス基板に転写し、その後焼成して接
着層中のガラスフリットを溶かしてメッキ層をガラス基
板に密着させることで厚膜配線を形成するようにしたの
で、従来の電極ペーストを使用した厚膜配線のようにフ
ォトリソグラフィー法によるパターニング処理が必要で
ないため、工程の短縮を図ることができる。また、電極
ペーストを用いた場合のように電極中にガラスフリット
が存在することがないことから、電極材料の比抵抗の低
下が起こらない。
As described above, according to the present invention,
A patterned plating layer made of an electrode material is formed on a transfer substrate by a plating method, the plating layer is transferred to a glass substrate by a glass frit-containing adhesive layer, and then baked to melt the glass frit in the adhesive layer. Since the thick film wiring is formed by adhering the plating layer to the glass substrate, the patterning process by the photolithography method is not required unlike the thick film wiring using the conventional electrode paste, so the process can be shortened. be able to. In addition, since the glass frit does not exist in the electrode as in the case of using the electrode paste, the specific resistance of the electrode material does not decrease.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】厚膜配線の形成手順を示す工程図である。FIG. 1 is a process chart showing a procedure for forming a thick film wiring.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 板材 2 絶縁層 3 転写用基板 4 メッキ層 5 ガラス基板 6 ガラスフリット含有接着層 7 ガラスペースト 1 plate material 2 insulating layer 3 transfer substrate 4 plating layer 5 glass substrate 6 glass frit-containing adhesive layer 7 glass paste

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電極材料からなるパターン状のメッキ層
がガラスペーストを介してガラス基板上に接着されてな
ることを特徴とする厚膜配線。
1. A thick film wiring, wherein a patterned plating layer made of an electrode material is bonded onto a glass substrate via a glass paste.
【請求項2】 少なくとも次の各工程からなることを特
徴とする厚膜配線形成方法。 (1)導電性の板材上に、形成すべき電極とは相反する
パターンの絶縁層を形成して転写用基板を作製する工
程。 (2)前記転写用基板における前記絶縁層非形成部に電
極材料をメッキしてメッキ層を形成する工程。 (3)転写させるガラス基板の全面又は一部にガラスフ
リット含有接着層を形成する工程。 (4)前記転写用基板と前記ガラス基板とを圧着させ、
転写用基板とガラス基板を剥離して前記メッキ層を前記
接着層とともにガラス基板に転写させる工程。 (5)前記ガラス基板を焼成して前記接着層中のガラス
フリットを溶かし、メッキ層をガラス基板に融着させる
工程。
2. A thick film wiring forming method comprising at least the following steps. (1) A step of forming a transfer substrate by forming an insulating layer having a pattern opposite to that of an electrode to be formed on a conductive plate material. (2) A step of forming a plating layer by plating an electrode material on the insulating layer non-formation portion of the transfer substrate. (3) A step of forming a glass frit-containing adhesive layer on the entire surface or a part of the glass substrate to be transferred. (4) The transfer substrate and the glass substrate are pressure-bonded to each other,
A step of separating the transfer substrate and the glass substrate and transferring the plating layer together with the adhesive layer onto the glass substrate. (5) A step of firing the glass substrate to melt the glass frit in the adhesive layer, and fusing the plating layer to the glass substrate.
【請求項3】 少なくとも次の各工程からなることを特
徴とする厚膜配線形成方法。 (1)導電性の板材上に、形成すべき電極とは相反する
パターンの絶縁層を形成して転写用基板を作製する工
程。 (2)前記転写用基板における前記絶縁層非形成部に電
極材料をメッキしてメッキ層を形成する工程。 (3)前記転写用基板の全面又は一部にガラスフリット
含有接着層を形成する工程。 (4)前記転写用基板と前記ガラス基板とを圧着させ、
転写用基板とガラス基板を剥離して前記メッキ層を前記
接着層とともにガラス基板に転写させる工程。 (5)前記ガラス基板を焼成して前記接着層中のガラス
フリットを溶かし、メッキ層をガラス基板に融着させる
工程。
3. A thick film wiring forming method comprising at least the following steps. (1) A step of forming a transfer substrate by forming an insulating layer having a pattern opposite to that of an electrode to be formed on a conductive plate material. (2) A step of forming a plating layer by plating an electrode material on the insulating layer non-formation portion of the transfer substrate. (3) A step of forming a glass frit-containing adhesive layer on the entire surface or a part of the transfer substrate. (4) The transfer substrate and the glass substrate are pressure-bonded to each other,
A step of separating the transfer substrate and the glass substrate and transferring the plating layer together with the adhesive layer onto the glass substrate. (5) A step of firing the glass substrate to melt the glass frit in the adhesive layer, and fusing the plating layer to the glass substrate.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005172496A (en) * 2003-12-09 2005-06-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd Load sensor and manufacturing method thereof
JP2008512019A (en) * 2004-08-31 2008-04-17 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Method for manufacturing an RFID antenna
WO2022202552A1 (en) * 2021-03-22 2022-09-29 パナソニックIpマネジメント株式会社 Wiring transfer plate, wiring-equipped wiring transfer plate, intermediate material for wiring body, and method for manufacturing wiring body

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005172496A (en) * 2003-12-09 2005-06-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd Load sensor and manufacturing method thereof
JP2008512019A (en) * 2004-08-31 2008-04-17 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Method for manufacturing an RFID antenna
WO2022202552A1 (en) * 2021-03-22 2022-09-29 パナソニックIpマネジメント株式会社 Wiring transfer plate, wiring-equipped wiring transfer plate, intermediate material for wiring body, and method for manufacturing wiring body
US12501554B2 (en) 2021-03-22 2025-12-16 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Wiring transfer plate, wiring-equipped wiring transfer plate, wiring body intermediate material, and method for manufacturing wiring body

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