JPH0886641A - 投受光式焦点検出装置 - Google Patents
投受光式焦点検出装置Info
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- JPH0886641A JPH0886641A JP6221509A JP22150994A JPH0886641A JP H0886641 A JPH0886641 A JP H0886641A JP 6221509 A JP6221509 A JP 6221509A JP 22150994 A JP22150994 A JP 22150994A JP H0886641 A JPH0886641 A JP H0886641A
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- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 2
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/30—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
- G02B7/32—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line using active means, e.g. light emitter
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- Optics & Photonics (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 より多くの測距点からの情報を得ることがで
きると同時に、走査部の駆動装置が比較的簡単で且つコ
ンパクトに構成された投受光式焦点検出装置を提供する
こと。 【構成】 本発明の装置は、光源1から射出された光線
が、光源1の前側に配置されているマスク2の開口を通
過することにより光束となり、マスク2の前側に配置さ
れた投光光学系3によって所定の大きさの径を有する投
光光束として被写体Mへ向けて照射される。そして、被
写体Mからの反射光は、受光光学系4により受光光学系
4の後側に配置された受光素子の受光面5に照射される
ようになっている。ここで、この受光素子は受光した光
を光電変換して、この電気信号を図示しない演算処理手
段へ向けて送出し、かかる演算処理手段において所謂三
角測距法に従った演算が実行され、被写体Mに対する測
距が行われる。
きると同時に、走査部の駆動装置が比較的簡単で且つコ
ンパクトに構成された投受光式焦点検出装置を提供する
こと。 【構成】 本発明の装置は、光源1から射出された光線
が、光源1の前側に配置されているマスク2の開口を通
過することにより光束となり、マスク2の前側に配置さ
れた投光光学系3によって所定の大きさの径を有する投
光光束として被写体Mへ向けて照射される。そして、被
写体Mからの反射光は、受光光学系4により受光光学系
4の後側に配置された受光素子の受光面5に照射される
ようになっている。ここで、この受光素子は受光した光
を光電変換して、この電気信号を図示しない演算処理手
段へ向けて送出し、かかる演算処理手段において所謂三
角測距法に従った演算が実行され、被写体Mに対する測
距が行われる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はカメラ等に搭載される焦
点検出装置に関する。
点検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、光源からの光束を被写体に向
けて投光し、その反射光を受光することによって前記被
写体までの距離を測距する所謂投受光式焦点検出装置
が、数多く公知となっている。中でも、被写体上の複数
点を測距し、広い領域を測距し、広い領域からの測距情
報を得て、所謂中抜けを防止しようとする多点測距と呼
ばれる技術が主流となりつつある。
けて投光し、その反射光を受光することによって前記被
写体までの距離を測距する所謂投受光式焦点検出装置
が、数多く公知となっている。中でも、被写体上の複数
点を測距し、広い領域を測距し、広い領域からの測距情
報を得て、所謂中抜けを防止しようとする多点測距と呼
ばれる技術が主流となりつつある。
【0003】このような技術により、かなりの成果が得
られているが、現在主流となっている投受光式焦点検出
装置は、光源にIRED(赤外発光ダイオード)を使用
し、3〜5点を測距するするものが殆どである。このよ
うなものでは、画角が大きく変化するズームレンズ等を
使用する場合、広角から望遠までの変倍領域での中抜け
を防止した最適な測距を行うのは困難であった。
られているが、現在主流となっている投受光式焦点検出
装置は、光源にIRED(赤外発光ダイオード)を使用
し、3〜5点を測距するするものが殆どである。このよ
うなものでは、画角が大きく変化するズームレンズ等を
使用する場合、広角から望遠までの変倍領域での中抜け
を防止した最適な測距を行うのは困難であった。
【0004】加えて、幾つもの光源からの光を同時に被
写体に向けて照射する方法では、測距点数が多くなるほ
ど夫々の光束による被写体からの反射光の強度分布が重
なり易く、正確な測距を行うのに支障が生じる。又、近
年では、このような欠点を解決するために、例えば特開
昭58−93040号,特開昭61−68221号及び
特公平1−57891号の各公報に記載されているよう
に、投光光束を被写体面上で走査させ、より多くの領域
においての測距を可能とする方法が提案されている。し
かし、これらの方法は、何れも光源自体を走査させる
か、投光ユニット又は投受光ユニット全体を回動させる
等の大がかりな装置が必要になるものであった。
写体に向けて照射する方法では、測距点数が多くなるほ
ど夫々の光束による被写体からの反射光の強度分布が重
なり易く、正確な測距を行うのに支障が生じる。又、近
年では、このような欠点を解決するために、例えば特開
昭58−93040号,特開昭61−68221号及び
特公平1−57891号の各公報に記載されているよう
に、投光光束を被写体面上で走査させ、より多くの領域
においての測距を可能とする方法が提案されている。し
かし、これらの方法は、何れも光源自体を走査させる
か、投光ユニット又は投受光ユニット全体を回動させる
等の大がかりな装置が必要になるものであった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明は上記
のような従来技術の有する問題点を鑑み、より多くの測
距点からの情報を得ることができると同時に、走査装置
の駆動機構が比較的簡単で且つコンパクトに構成された
投受光式焦点検出装置を提供することを目的とする。
のような従来技術の有する問題点を鑑み、より多くの測
距点からの情報を得ることができると同時に、走査装置
の駆動機構が比較的簡単で且つコンパクトに構成された
投受光式焦点検出装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段及び作用】上記目的を達成
するために、本発明による投受光式焦点検出装置は、複
数領域の測距が可能な投受光式焦点検出装置において、
少なくとも、被写体面へ光束を照射するための光源と、
投光光学系,受光光学系及び被写体に光束を照射する際
に光束を走査又は走査的にパルス発光させる装置とを備
え、以下に示す条件式を満足するようにしたことを特徴
とする。 0.09<I/f<0.23 ・・・・(1) 但し、Iは前記光源の射出面と前記投光光学系の光軸と
の交点から前記光源の射出面端までの最大距離、fは投
光光学系の焦点距離である。
するために、本発明による投受光式焦点検出装置は、複
数領域の測距が可能な投受光式焦点検出装置において、
少なくとも、被写体面へ光束を照射するための光源と、
投光光学系,受光光学系及び被写体に光束を照射する際
に光束を走査又は走査的にパルス発光させる装置とを備
え、以下に示す条件式を満足するようにしたことを特徴
とする。 0.09<I/f<0.23 ・・・・(1) 但し、Iは前記光源の射出面と前記投光光学系の光軸と
の交点から前記光源の射出面端までの最大距離、fは投
光光学系の焦点距離である。
【0007】又、本発明は、複数領域の測距が可能な投
受光式焦点検出装置において、少なくとも、被写体面へ
光束を照射するための光源と、投光光学系,受光光学系
及び被写体に光束を照射する際に光束を走査又は走査的
にパルス発光させる装置とを備え、更に、この走査装置
の走査方向とは異なる方向に投光光束を走査し得る光学
系を備えたことを特徴とする。
受光式焦点検出装置において、少なくとも、被写体面へ
光束を照射するための光源と、投光光学系,受光光学系
及び被写体に光束を照射する際に光束を走査又は走査的
にパルス発光させる装置とを備え、更に、この走査装置
の走査方向とは異なる方向に投光光束を走査し得る光学
系を備えたことを特徴とする。
【0008】更に、本発明は、複数領域の測距が可能な
投受光式焦点検出装置において、少なくとも、被写体面
へ光束を照射するための光源と、投光光学系,受光光学
系及び被写体に光束を照射する際に光束を走査又は走査
的にパルス発光させる装置とを備え、この走査装置には
少なくとも一つの開口を有する部材が備えられているこ
とを特徴とする。
投受光式焦点検出装置において、少なくとも、被写体面
へ光束を照射するための光源と、投光光学系,受光光学
系及び被写体に光束を照射する際に光束を走査又は走査
的にパルス発光させる装置とを備え、この走査装置には
少なくとも一つの開口を有する部材が備えられているこ
とを特徴とする。
【0009】本発明の装置では、従来のIREDのよう
な光源以外の、例えばストロボ等に使用されているキセ
ノン管のように、走査方向に長さを有する光源も使用す
ることができる。そして、本発明の装置は、その光源か
ら発した光を小さな開口を有する部材によって遮り、こ
の部材を走査することでかかる開口を通過した光束によ
り被写体面上を走査できるようになっている。このと
き、前記部材はマスクを使用しても良いし、マスクに限
らずマスクと同様の作用を有する手段であれば特に限定
されるわけではない。そして、この投光手段から基線長
離れて配置され、被写体からの反射光を受光し、光電変
換して得られた信号に基づいて被写体の測距を演算する
ものである。このような方法により、光源や投光光学系
を構成しているレンズ等の大きく重い構成部品を作動さ
せることなく、小さなマスク等を動作させるのみで、被
写体に向けて射出される投光光束を容易に走査させるこ
とができ、理論上、測距点を幾らでも増加させることが
可能になる。
な光源以外の、例えばストロボ等に使用されているキセ
ノン管のように、走査方向に長さを有する光源も使用す
ることができる。そして、本発明の装置は、その光源か
ら発した光を小さな開口を有する部材によって遮り、こ
の部材を走査することでかかる開口を通過した光束によ
り被写体面上を走査できるようになっている。このと
き、前記部材はマスクを使用しても良いし、マスクに限
らずマスクと同様の作用を有する手段であれば特に限定
されるわけではない。そして、この投光手段から基線長
離れて配置され、被写体からの反射光を受光し、光電変
換して得られた信号に基づいて被写体の測距を演算する
ものである。このような方法により、光源や投光光学系
を構成しているレンズ等の大きく重い構成部品を作動さ
せることなく、小さなマスク等を動作させるのみで、被
写体に向けて射出される投光光束を容易に走査させるこ
とができ、理論上、測距点を幾らでも増加させることが
可能になる。
【0010】上記条件式(1)は、投光光学系の半画角
を規定したものであり、I/fの値がこの条件式(1)
の取り得る値の範囲の加減を下回ると投光画角が小さく
なり測距範囲が狭くなってしまうため、多点測距の効果
を得られなくなってしまう。一方、I/fの値が条件式
(1)の取り得る値の範囲の上限を越えると、本発明の
装置の仕様,性能を維持するために投光光学系の大型化
を招き、小型化が要求されるカメラには不適となる。
を規定したものであり、I/fの値がこの条件式(1)
の取り得る値の範囲の加減を下回ると投光画角が小さく
なり測距範囲が狭くなってしまうため、多点測距の効果
を得られなくなってしまう。一方、I/fの値が条件式
(1)の取り得る値の範囲の上限を越えると、本発明の
装置の仕様,性能を維持するために投光光学系の大型化
を招き、小型化が要求されるカメラには不適となる。
【0011】又、焦点検出装置をカメラ等に搭載するに
あたり、キセノン管のようにある程度の長さを有する光
源を使用する場合、その配置位置,配置方向がカメラ等
の小型化に大きく影響を与えることがある。この課題を
解決する方法として、本発明よれば、前述のマスク等を
走査する走査装置の走査方向とは異なる方向に投光光束
を走査し得る光学系を備えたことにより、本発明の投受
光式焦点検出装置をカメラに配置する際のレイアウトの
自由度を高くし、小型化を図ることができる。
あたり、キセノン管のようにある程度の長さを有する光
源を使用する場合、その配置位置,配置方向がカメラ等
の小型化に大きく影響を与えることがある。この課題を
解決する方法として、本発明よれば、前述のマスク等を
走査する走査装置の走査方向とは異なる方向に投光光束
を走査し得る光学系を備えたことにより、本発明の投受
光式焦点検出装置をカメラに配置する際のレイアウトの
自由度を高くし、小型化を図ることができる。
【0012】又、本発明の装置では、被写体に対して垂
直方向に光源を配置し、投光光学系が形成する光束をミ
ラーやプリズムによって2回折り曲げるようにして、更
に、その投光光束を被写体に対して水平方向に走査させ
ることにより、投光光学系のカメラ等の奥行き方向への
小型化を可能にした。
直方向に光源を配置し、投光光学系が形成する光束をミ
ラーやプリズムによって2回折り曲げるようにして、更
に、その投光光束を被写体に対して水平方向に走査させ
ることにより、投光光学系のカメラ等の奥行き方向への
小型化を可能にした。
【0013】更に、本発明の装置では、上記走査装置に
少なくとも一枚の開口を有する部材が備えられているた
め、被写体面に向けて射出する投光光束を走査又は走査
的にパルス発光させることができ、又、より簡単な装置
構成を達成できるため、装置の小型,軽量化を図ること
ができる。
少なくとも一枚の開口を有する部材が備えられているた
め、被写体面に向けて射出する投光光束を走査又は走査
的にパルス発光させることができ、又、より簡単な装置
構成を達成できるため、装置の小型,軽量化を図ること
ができる。
【0014】又、本発明は、複数領域の測距が可能な投
受光式焦点検出装置において、被写体面へ光束を照射す
るための光源と、光束を決定する開口を有する部材と、
投光光学系及び受光光学系とからなり、前記開口を有す
る部材が、被写体に光束を照射する際に、測距しようと
する複数の領域を任意の順に照射せしめるように構成さ
れているため、前記光束を被写体の各領域に向けて任意
の順に照射することによって、撮影上も重要な測距領域
から順に測距を行うことができる。更に、投光光学系を
構成するレンズ部材に非球面を使用することによって、
広い走査範囲で良好なスポット像を得ることができる。
尚、より良好な投光スポットを得るためには、投光光学
系を構成する最も光源に近いレンズ部材を光源側に凹面
を向けた正のメニスカスレンズとすることが好ましい。
受光式焦点検出装置において、被写体面へ光束を照射す
るための光源と、光束を決定する開口を有する部材と、
投光光学系及び受光光学系とからなり、前記開口を有す
る部材が、被写体に光束を照射する際に、測距しようと
する複数の領域を任意の順に照射せしめるように構成さ
れているため、前記光束を被写体の各領域に向けて任意
の順に照射することによって、撮影上も重要な測距領域
から順に測距を行うことができる。更に、投光光学系を
構成するレンズ部材に非球面を使用することによって、
広い走査範囲で良好なスポット像を得ることができる。
尚、より良好な投光スポットを得るためには、投光光学
系を構成する最も光源に近いレンズ部材を光源側に凹面
を向けた正のメニスカスレンズとすることが好ましい。
【0015】
【実施例】以下、図示した実施例に基づき本発明を詳細
に説明する。第一実施例 図1は、本実施例にかかる投受光式焦点検出装置の構成
を示す光軸に沿う断面図である。本実施例の装置では、
まず、光源1から射出された光線が、光源1の前側(図
の上側)に配置されているマスク2の開口を通過するこ
とにより光束となり、更にマスク2の前側に配置された
投光光学系3によって所定の大きさの径を有する投光光
束として被写体Mへ向けて照射される。そして、被写体
Mからの反射光は、受光光学系4により受光光学系4の
後側に配置された受光素子5に照射されるようになって
いる。ここで、受光素子5は受光した光を光電変換し
て、この電気信号を図示しない演算処理手段へ向けて送
出し、かかる演算処理手段において所謂三角測距法に従
った演算が実行され、被写体Mに対する測距が行われ
る。又、本実施例の装置では、測距点は一点に限られ
ず、マスク2を図の水平方向に走査することにより、被
写体Mに向けて照射する投光光束を被写体面に沿って走
査することができ、この走査範囲内において幾らでも測
距点を設けることができるようになっている。尚、本実
施例の装置に備えられている投光光学系3は両凸の単レ
ンズによって構成されている。
に説明する。第一実施例 図1は、本実施例にかかる投受光式焦点検出装置の構成
を示す光軸に沿う断面図である。本実施例の装置では、
まず、光源1から射出された光線が、光源1の前側(図
の上側)に配置されているマスク2の開口を通過するこ
とにより光束となり、更にマスク2の前側に配置された
投光光学系3によって所定の大きさの径を有する投光光
束として被写体Mへ向けて照射される。そして、被写体
Mからの反射光は、受光光学系4により受光光学系4の
後側に配置された受光素子5に照射されるようになって
いる。ここで、受光素子5は受光した光を光電変換し
て、この電気信号を図示しない演算処理手段へ向けて送
出し、かかる演算処理手段において所謂三角測距法に従
った演算が実行され、被写体Mに対する測距が行われ
る。又、本実施例の装置では、測距点は一点に限られ
ず、マスク2を図の水平方向に走査することにより、被
写体Mに向けて照射する投光光束を被写体面に沿って走
査することができ、この走査範囲内において幾らでも測
距点を設けることができるようになっている。尚、本実
施例の装置に備えられている投光光学系3は両凸の単レ
ンズによって構成されている。
【0016】又、図2は、図1に示した装置の投光光学
系の周辺部の拡大図である。この図に示すように、本実
施例の装置において使用されている光源1は任意の方向
にある程度の長さを有している。従って、マスク2を水
平方向に走査しながら良好な測距を行うためには、光源
1の射出面と投光光学系3の光軸との交点から光源1の
射出面端までの距離をある程度確保する必要がある。こ
のため、その距離の最大値をIとすると、投光光学系3
の焦点距離fとの関係において、上記の条件式(1)を
満足することが必要になる。
系の周辺部の拡大図である。この図に示すように、本実
施例の装置において使用されている光源1は任意の方向
にある程度の長さを有している。従って、マスク2を水
平方向に走査しながら良好な測距を行うためには、光源
1の射出面と投光光学系3の光軸との交点から光源1の
射出面端までの距離をある程度確保する必要がある。こ
のため、その距離の最大値をIとすると、投光光学系3
の焦点距離fとの関係において、上記の条件式(1)を
満足することが必要になる。
【0017】以下、本実施例の装置に搭載される投光光
学系のレンズの数値データを示す。光源1の射出面と投
光光学3の光軸との交点から 光源1の射出面端までの最大距離I=1 投光光学系3の焦点距離f=7.992 条件式(1)I/f=0.125 投光光学系3の開口数NA=0.25
学系のレンズの数値データを示す。光源1の射出面と投
光光学3の光軸との交点から 光源1の射出面端までの最大距離I=1 投光光学系3の焦点距離f=7.992 条件式(1)I/f=0.125 投光光学系3の開口数NA=0.25
【0018】 r1 =4.93429 d1 =2.200000 n1 =1.51633 r2 =-21.38448 d2 =6.786883 r3 =∞
【0019】第二実施例 本実施例を説明する前に、図3に基づき受光系が一系統
の場合における三角測距の方法について説明する。図示
したように、投光光束が被写体Mからずれ、被写体Mに
投光光束(スポット)の照射領域S(図の斜線部)の一
部のみが重なっている場合、この重なった部分の領域を
Rとする。光源7から射出された光束は投光光学系8に
よって領域Sを照射するようになるが、実際被写体Mに
照射されるのは領域Rの部分のみであるため、反射光は
領域Rの部分からのみのものとなる。この状態を所謂
「スポット欠け」と称するが、このスポット欠けが生じ
ると、領域Rからの反射光だけが受光光学系9により受
光素子の受光面10に照射されることになる。従って、
スポット欠けが生じていない状態と比較して、受光面1
0上において図示したようにΔxだけ受光位置のずれが
生じてしまう。このような状態が生じると、領域Rの中
心Qを領域Sの中心と見做した演算が行われ、被写体M
があたかも点P’の位置にあるかのように誤った測距が
実行されてしまうことになる。
の場合における三角測距の方法について説明する。図示
したように、投光光束が被写体Mからずれ、被写体Mに
投光光束(スポット)の照射領域S(図の斜線部)の一
部のみが重なっている場合、この重なった部分の領域を
Rとする。光源7から射出された光束は投光光学系8に
よって領域Sを照射するようになるが、実際被写体Mに
照射されるのは領域Rの部分のみであるため、反射光は
領域Rの部分からのみのものとなる。この状態を所謂
「スポット欠け」と称するが、このスポット欠けが生じ
ると、領域Rからの反射光だけが受光光学系9により受
光素子の受光面10に照射されることになる。従って、
スポット欠けが生じていない状態と比較して、受光面1
0上において図示したようにΔxだけ受光位置のずれが
生じてしまう。このような状態が生じると、領域Rの中
心Qを領域Sの中心と見做した演算が行われ、被写体M
があたかも点P’の位置にあるかのように誤った測距が
実行されてしまうことになる。
【0020】このようなスポット欠けによる誤測距を回
避するためには、焦点検出装置に少なくとも二系統の受
光系を設ければ良い。そこで、本実施例にかかる投受光
式焦点検出装置では、二系統の受光系を設けた。
避するためには、焦点検出装置に少なくとも二系統の受
光系を設ければ良い。そこで、本実施例にかかる投受光
式焦点検出装置では、二系統の受光系を設けた。
【0021】図4は、本実施例にかかる投受光式焦点検
出装置の構成を示す光軸に沿う断面図である。この図の
ように、本実施例の装置では、受光光学系14を含む第
一の受光系と受光光学系15を含む第二の受光系とが備
えられている。図4においても、図3に示したようなス
ポット欠けが生じている。ここでは、受光光学系14を
透過して受光素子の受光面16に入射する領域Rからの
反射光の入射位置とスポット欠けが生じていない状態で
の入射位置とのずれをΔx1 、受光光学系15を透過し
て受光素子の受光面17に入射する領域Rからの反射光
入射位置とスポット欠けが生じていない状態での入射位
置とのずれをΔx2 とする。しかし、このような場合、
本実施例の装置では二系統の受光系を有しているため、
入射位置のずれΔx1 に基づく演算結果と入射位置のず
れΔx2 に基づく演算結果とを比較することにより、夫
々の測距値に矛盾が生じていることを検出できるように
なっている。これにより、スポット欠けが生じているこ
とを発見でき、誤測距を補正することができる。尚、本
実施例の装置においても、第一実施例の装置と同様に、
図示しない演算処理手段が設けられており、第一実施例
と同様の演算処理により測距が行われていることは云ま
でもない。
出装置の構成を示す光軸に沿う断面図である。この図の
ように、本実施例の装置では、受光光学系14を含む第
一の受光系と受光光学系15を含む第二の受光系とが備
えられている。図4においても、図3に示したようなス
ポット欠けが生じている。ここでは、受光光学系14を
透過して受光素子の受光面16に入射する領域Rからの
反射光の入射位置とスポット欠けが生じていない状態で
の入射位置とのずれをΔx1 、受光光学系15を透過し
て受光素子の受光面17に入射する領域Rからの反射光
入射位置とスポット欠けが生じていない状態での入射位
置とのずれをΔx2 とする。しかし、このような場合、
本実施例の装置では二系統の受光系を有しているため、
入射位置のずれΔx1 に基づく演算結果と入射位置のず
れΔx2 に基づく演算結果とを比較することにより、夫
々の測距値に矛盾が生じていることを検出できるように
なっている。これにより、スポット欠けが生じているこ
とを発見でき、誤測距を補正することができる。尚、本
実施例の装置においても、第一実施例の装置と同様に、
図示しない演算処理手段が設けられており、第一実施例
と同様の演算処理により測距が行われていることは云ま
でもない。
【0022】この他、Δx1 +Δx2 の値が被写体まで
の距離によってほぼ一定であることを利用した演算方法
等の二系統の受光系からの出力による測定方法は、上記
とは別の演算方式によっても可能である。又、二系統の
受光素子を備えたことにより、マスク12の走査に誤差
を生じた場合でも、誤測距が行われることを極力抑制す
ることが可能である。尚、本実施例の装置に搭載された
投光光学系13は、比較的広い範囲に投光スポットを走
査するために、被写体Mの側から順に、両面とも非球面
の第一レンズ13aと光源11側に凹面を向けた正のメ
ニスカスレンズ13bとの二つのレンズにより構成され
ている。
の距離によってほぼ一定であることを利用した演算方法
等の二系統の受光系からの出力による測定方法は、上記
とは別の演算方式によっても可能である。又、二系統の
受光素子を備えたことにより、マスク12の走査に誤差
を生じた場合でも、誤測距が行われることを極力抑制す
ることが可能である。尚、本実施例の装置に搭載された
投光光学系13は、比較的広い範囲に投光スポットを走
査するために、被写体Mの側から順に、両面とも非球面
の第一レンズ13aと光源11側に凹面を向けた正のメ
ニスカスレンズ13bとの二つのレンズにより構成され
ている。
【0023】以下、本実施例の装置に搭載される投光光
学系のレンズの数値データを示す。光源11の射出面と
投光光学13の光軸との交点から 光源11の射出面端までの最大距離I=2.1 投光光学系13の焦点距離f=9.994 条件式(1)I/f=0.210 投光光学系13の開口数NA=0.39170
学系のレンズの数値データを示す。光源11の射出面と
投光光学13の光軸との交点から 光源11の射出面端までの最大距離I=2.1 投光光学系13の焦点距離f=9.994 条件式(1)I/f=0.210 投光光学系13の開口数NA=0.39170
【0024】 r1 =7.89259(非球面) d1 =4.600000 n1 =1.51633 r2 =-82.50735(非球面) d2 =7.354679 r3 =3.75341 d3 =2.559259 n3 =1.51633 r4 =3.75341 d4 =0.999916 r5 =5.44212
【0025】非球面係数 第1面 K=-0.617535 A=-0.722026 ×10-4 第2面 K=-73.395359 A=-0.734719 ×10-4
【0026】第三実施例 図5は、本実施例にかかる投受光式焦点検出装置の構成
を示す光軸に沿う断面図である。この図のように、本実
施例の装置は、光源18から出射された光線が、紙面上
手前に走査するマスク19の開口を通過し、走査方向を
変更し得る投光光学系24によって、被写体Mへ照射さ
れる。そして、被写体Mからの反射光を受光光学系25
により受光素子の受光面26へ受光させるようになって
いる。
を示す光軸に沿う断面図である。この図のように、本実
施例の装置は、光源18から出射された光線が、紙面上
手前に走査するマスク19の開口を通過し、走査方向を
変更し得る投光光学系24によって、被写体Mへ照射さ
れる。そして、被写体Mからの反射光を受光光学系25
により受光素子の受光面26へ受光させるようになって
いる。
【0027】図6は、図5に示した装置の投光光学系2
4の周辺部を拡大して示した斜視図である。図のよう
に、光源18から射出された光線が、マスク19の開口
を通過し、ミラー20によって反射される。この反射光
は、プリズム21の入射面21aを透過し、プリズム2
1の反射面21bにより内面反射され、プリズム21の
射出面21cより図示しない被写体に向けて照射される
ようになっている。尚、プリズム21は屈折率を有して
おり投光光学系としての作用を有している。本実施例の
装置に備えられた投光光学系24は上記のように構成さ
れているため、ミラー20,プリズム21の向き及び位
置を変更することによって、マスク19によって行われ
る走査の方向とは異なった方向の走査を実行することが
できる。又、プリズム21の入射面21a及び射出面2
1cは共に、非球面によって構成されている。
4の周辺部を拡大して示した斜視図である。図のよう
に、光源18から射出された光線が、マスク19の開口
を通過し、ミラー20によって反射される。この反射光
は、プリズム21の入射面21aを透過し、プリズム2
1の反射面21bにより内面反射され、プリズム21の
射出面21cより図示しない被写体に向けて照射される
ようになっている。尚、プリズム21は屈折率を有して
おり投光光学系としての作用を有している。本実施例の
装置に備えられた投光光学系24は上記のように構成さ
れているため、ミラー20,プリズム21の向き及び位
置を変更することによって、マスク19によって行われ
る走査の方向とは異なった方向の走査を実行することが
できる。又、プリズム21の入射面21a及び射出面2
1cは共に、非球面によって構成されている。
【0028】尚、本実施例の装置においても、第一実施
例において示した装置と同様に、図示しない演算処理手
段が設けられており、受光素子は受光した光を光電変換
して、この電気信号を前記演算処理手段へ向けて送出
し、かかる演算処理手段において所謂三角測距法に従っ
た演算が実行され、被写体Mに対する測距が行われるよ
うになっている。
例において示した装置と同様に、図示しない演算処理手
段が設けられており、受光素子は受光した光を光電変換
して、この電気信号を前記演算処理手段へ向けて送出
し、かかる演算処理手段において所謂三角測距法に従っ
た演算が実行され、被写体Mに対する測距が行われるよ
うになっている。
【0029】以下、本実施例の装置に搭載される投光光
学系のレンズの数値データを示す。光源18の射出面と
投光光学24の光軸との交点から 光源18の射出面端までの最大距離I=2.1 投光光学系24の焦点距離f=19.972 条件式(1)I/f=0.105 投光光学系24の開口数NA=0.39170 プリズム21の反射面21aの反射角度=45° ミラー20の反射角度=45°
学系のレンズの数値データを示す。光源18の射出面と
投光光学24の光軸との交点から 光源18の射出面端までの最大距離I=2.1 投光光学系24の焦点距離f=19.972 条件式(1)I/f=0.105 投光光学系24の開口数NA=0.39170 プリズム21の反射面21aの反射角度=45° ミラー20の反射角度=45°
【0030】 r1 =14.53313 (非球面) d1 =12.000000 n1 =1.49241 r2(プリズム21の反射面21a) =∞ d2 =9.000000 n2 =1.49241 r3 =-15.91538(非球面) d3 =5.500000 r4(ミラー20) =∞ d4 =5.500000 r5 =∞
【0031】非球面係数 第1面 K=-0.99906 A=-0.312384 ×10-5 第3面 K=1.563531 A=0.195972×10-3
【0032】第四実施例 図7は、本実施例にかかる投受光式焦点検出装置に備え
られている投光光学系の構成を示す斜視図である。図の
ように、この投光光学系は、まず、光源60から射出さ
れた光線が、マスク61の開口を通過し、プリズム62
の入射面62aを透過する。そして、この透過光は、順
に、プリズム62の反射面62b,62cによって反射
され、プリズム62の射出面62dより図示しない被写
体へ向けて照射されるようになっている。プリズム62
は屈折力を有しており、投光光学系としての作用を有し
ている。又、プリズム62の入射面62a及び射出面6
2dは共に、非球面により構成されている。尚、前記被
写体からの反射光を受光するための手段及び受光した情
報の演算処理方法等は、第三実施例において示した装置
と同様である。本実施例の装置においても、投光光学系
を上記のように構成することにより、プリズム62によ
ってマスク61によって行われる走査の方向とは異なっ
た方向の走査が可能になる。
られている投光光学系の構成を示す斜視図である。図の
ように、この投光光学系は、まず、光源60から射出さ
れた光線が、マスク61の開口を通過し、プリズム62
の入射面62aを透過する。そして、この透過光は、順
に、プリズム62の反射面62b,62cによって反射
され、プリズム62の射出面62dより図示しない被写
体へ向けて照射されるようになっている。プリズム62
は屈折力を有しており、投光光学系としての作用を有し
ている。又、プリズム62の入射面62a及び射出面6
2dは共に、非球面により構成されている。尚、前記被
写体からの反射光を受光するための手段及び受光した情
報の演算処理方法等は、第三実施例において示した装置
と同様である。本実施例の装置においても、投光光学系
を上記のように構成することにより、プリズム62によ
ってマスク61によって行われる走査の方向とは異なっ
た方向の走査が可能になる。
【0033】以下、本実施例の装置に搭載される投光光
学系のレンズの数値データを示す。光源60の射出面と
投光光学の光軸との交点から 光源60の射出面端までの最大距離I=2.1 投光光学系の焦点距離f=19.952 条件式(1)I/f=0.105 投光光学系の開口数NA=0.2 プリズム62の反射面62bの反射角度=45° プリズム62の反射面62cの反射角度=45°
学系のレンズの数値データを示す。光源60の射出面と
投光光学の光軸との交点から 光源60の射出面端までの最大距離I=2.1 投光光学系の焦点距離f=19.952 条件式(1)I/f=0.105 投光光学系の開口数NA=0.2 プリズム62の反射面62bの反射角度=45° プリズム62の反射面62cの反射角度=45°
【0034】r1 =16.58602 (非球面) d1 =10.000000 n1 =1.492410 r2(プリズム62の反射面62c) =∞ d2 =10.000000 n2 =1.492410 r3(プリズム62の反射面62b) =∞ d3 =10.00000 n2 =1.492410 r4 =-9.71778 (非球面) d4 =8.094820 r5 =∞
【0035】非球面係数 第1面 K=0.953790 A=-0.501520 ×10-4 第4面 K=-1.125924 A=0.269181×10-3
【0036】第五実施例 図8は、本実施例にかかる投受光式焦点検出装置に備え
られている投光光学系の構成を示す斜視図である。図の
ように、この投光光学系では、光源66から出射された
光線が、マスク67の開口を通過し、順に、ミラー6
8,69により反射され、レンズ70によって図示しな
い被写体へ向けて照射されるようになっている。本実施
例の装置では、上記のようにミラー68,69が配置さ
れているため、それらのミラーの配置位置を変更するこ
とによって、マスク67によって行われる走査方向とは
異なった方向の走査を実行することができる。尚、前記
対象物からの反射光を受光するための手段及び受光した
情報の演算方法等は第三実施例において示した装置と同
様である。
られている投光光学系の構成を示す斜視図である。図の
ように、この投光光学系では、光源66から出射された
光線が、マスク67の開口を通過し、順に、ミラー6
8,69により反射され、レンズ70によって図示しな
い被写体へ向けて照射されるようになっている。本実施
例の装置では、上記のようにミラー68,69が配置さ
れているため、それらのミラーの配置位置を変更するこ
とによって、マスク67によって行われる走査方向とは
異なった方向の走査を実行することができる。尚、前記
対象物からの反射光を受光するための手段及び受光した
情報の演算方法等は第三実施例において示した装置と同
様である。
【0037】以下、本実施例の装置に搭載される投光レ
ンズ系の数値データを示す。光源66の射出面と投光光
学の光軸との交点から 光源66の射出面端までの最大距離I=2.1 投光光学系の焦点距離f=19.952 条件式(1)l/f=0.105 投光光学系の開口数NA=0.2 ミラー66の反射角度=45° ミラー67の反射角度=45°
ンズ系の数値データを示す。光源66の射出面と投光光
学の光軸との交点から 光源66の射出面端までの最大距離I=2.1 投光光学系の焦点距離f=19.952 条件式(1)l/f=0.105 投光光学系の開口数NA=0.2 ミラー66の反射角度=45° ミラー67の反射角度=45°
【0038】r1 =12.66802 (非球面) d1 =4.400000 n1 =1.516330 r2 =-48.63418(非球面) d2 =6.000000 r3(ミラー69) =∞ d3 =7.000000 r4(ミラー68) =∞ d4 =4.642407 r5 =∞
【0039】非球面係数 第1面 K=-0.765426 A=-0.739209 ×10-4 第2面 K=58.503617 A=0.185730×10-4
【0040】尚、上記各実施例において、r1 ,r2 ,
・・・・は各レンズ又はプリズム面の曲率半径を、
d1 ,d2 ,・・・・は各レンズ又はプリズムの肉厚又
は間隔を、n1 ,n2 ,・・・・は各レンズ面又はプリ
ズム面の屈折率を、Kは円錐係数を、Aは非球面係数
を、夫々示している。又、上記各実施例における非球面
形状は、上記非球面係数を用いて次式によって示され
る。 但し、Zは光軸方向の座標を、Yは光軸と垂直な方向の
座標を、夫々示している。
・・・・は各レンズ又はプリズム面の曲率半径を、
d1 ,d2 ,・・・・は各レンズ又はプリズムの肉厚又
は間隔を、n1 ,n2 ,・・・・は各レンズ面又はプリ
ズム面の屈折率を、Kは円錐係数を、Aは非球面係数
を、夫々示している。又、上記各実施例における非球面
形状は、上記非球面係数を用いて次式によって示され
る。 但し、Zは光軸方向の座標を、Yは光軸と垂直な方向の
座標を、夫々示している。
【0041】次に、本発明の装置における被写体面上で
の投光光束を走査する方法について説明する。
の投光光束を走査する方法について説明する。
【0042】図9は、開口30aを有するマスク30を
図の矢印方向に走査することによって、開口30aを通
過した光束を被写体面上において走査させる方法を示し
たものである。
図の矢印方向に走査することによって、開口30aを通
過した光束を被写体面上において走査させる方法を示し
たものである。
【0043】図10は、横長の開口31aを有するマス
ク31と斜めに切り抜かれた開口32aを有するマスク
32とを重ね合わせ、マスク32をマスク31に対して
上下方向(図中の矢印の方向)にスライドさせることに
よって、開口31aと開口32aとの重合部から射出さ
れる投光光束を被写体面上において走査させる方法を示
したものである。この方法では、図9に示したマスク3
0によって走査を行う方法と比較して、マスクの移動量
を少なくすることができる。
ク31と斜めに切り抜かれた開口32aを有するマスク
32とを重ね合わせ、マスク32をマスク31に対して
上下方向(図中の矢印の方向)にスライドさせることに
よって、開口31aと開口32aとの重合部から射出さ
れる投光光束を被写体面上において走査させる方法を示
したものである。この方法では、図9に示したマスク3
0によって走査を行う方法と比較して、マスクの移動量
を少なくすることができる。
【0044】図11は、横長の開口35aを有するマス
ク35と渦巻き状の開口36aを有するマスク36とを
重ね合わせ、マスク36を回転させることによって、開
口35aと開口36aとの重合部から射出される投光光
束を被写体面上において走査させる方法を示したもので
ある。この方法では、図9及び10に示した方法のよう
にマスクを上下或いは左右に往復運動させる必要がない
ため、マスクの駆動機構の単純化が図れる。
ク35と渦巻き状の開口36aを有するマスク36とを
重ね合わせ、マスク36を回転させることによって、開
口35aと開口36aとの重合部から射出される投光光
束を被写体面上において走査させる方法を示したもので
ある。この方法では、図9及び10に示した方法のよう
にマスクを上下或いは左右に往復運動させる必要がない
ため、マスクの駆動機構の単純化が図れる。
【0045】図12は、横長の開口33aを有するマス
ク33の後方に、内部に図示しない光源を備えた開口3
4aを有する円筒状のマスク34を配置し、このマスク
34を図中の矢印方向に回転させることによって、開口
33aと開口34aとの重合部から射出される投光光束
を被写体面上において走査させる方法を示したものであ
る。この方法によっても、図9及び10に示した方法の
ようにマスクを上下或いは左右に往復運動させる必要が
ないため、マスクの駆動機構の単純化が図れる上、図1
1に示した方法と比較してもマスク周辺部のコンパクト
化が図れる。更に、円筒状のマスク34の内面にミラー
コート等による反射面を形成すれば、光源光をより効率
良く被写体へ射出することができる。
ク33の後方に、内部に図示しない光源を備えた開口3
4aを有する円筒状のマスク34を配置し、このマスク
34を図中の矢印方向に回転させることによって、開口
33aと開口34aとの重合部から射出される投光光束
を被写体面上において走査させる方法を示したものであ
る。この方法によっても、図9及び10に示した方法の
ようにマスクを上下或いは左右に往復運動させる必要が
ないため、マスクの駆動機構の単純化が図れる上、図1
1に示した方法と比較してもマスク周辺部のコンパクト
化が図れる。更に、円筒状のマスク34の内面にミラー
コート等による反射面を形成すれば、光源光をより効率
良く被写体へ射出することができる。
【0046】図13は、光源37からの光線を小型ミラ
ー38によって反射させ、小型ミラー38を図中の矢印
の方向に走査させることにより、上記のようなマスクを
使用した場合と同様の効果を得る方法を示したものであ
る。
ー38によって反射させ、小型ミラー38を図中の矢印
の方向に走査させることにより、上記のようなマスクを
使用した場合と同様の効果を得る方法を示したものであ
る。
【0047】図14は、図10において示した方法と同
様に、マスク39とマスク40とを重ね合わせ、マスク
39に対してマスク40を上下方向にスライドさせるこ
とによる方法を示したものである。しかし、図10に示
した方法との相違は、マスク39の開口が複数の小穴を
列設することによって形成されており、マスク39とマ
スク40とを重ね合わせたときに、かかる開口の重合部
から射出する光線は、走査するのではなく、走査的にパ
ルス発光されるようになっている。
様に、マスク39とマスク40とを重ね合わせ、マスク
39に対してマスク40を上下方向にスライドさせるこ
とによる方法を示したものである。しかし、図10に示
した方法との相違は、マスク39の開口が複数の小穴を
列設することによって形成されており、マスク39とマ
スク40とを重ね合わせたときに、かかる開口の重合部
から射出する光線は、走査するのではなく、走査的にパ
ルス発光されるようになっている。
【0048】図15は、図14において示した方法の変
形例であり、図示したように、マスク42の開口を少し
ずつずらして設けたことにより、マスク41に対してマ
スク42を上下方向にスライドさせることによって、任
意の開口の重合部から順に発光させ得るようにした方法
を示している。図16はマスク41の正面図であるが、
図15に示したマスク42を図の下方向にスライドさせ
ることによって、開口41a,41b,41c,41
d,41e,41f,41gの順に発光させることがで
きるようになっている。又、図17に示すように、マス
ク43の開口を設けても、図15に示した方法と同様
に、マスク41に対してマスク43を下方向にスライド
させることによって、開口41a,41b,41c,4
1d,41e,41f,41gの順に発光させることが
できる。
形例であり、図示したように、マスク42の開口を少し
ずつずらして設けたことにより、マスク41に対してマ
スク42を上下方向にスライドさせることによって、任
意の開口の重合部から順に発光させ得るようにした方法
を示している。図16はマスク41の正面図であるが、
図15に示したマスク42を図の下方向にスライドさせ
ることによって、開口41a,41b,41c,41
d,41e,41f,41gの順に発光させることがで
きるようになっている。又、図17に示すように、マス
ク43の開口を設けても、図15に示した方法と同様
に、マスク41に対してマスク43を下方向にスライド
させることによって、開口41a,41b,41c,4
1d,41e,41f,41gの順に発光させることが
できる。
【0049】図14乃至17において示した方法によれ
ば、最も撮影対象となる可能性の高い被写体の中央部か
ら順に、左右両方向に向けて走査的にパルス発光させる
ことができる。従って、被写体中央部のみの測距だけで
被写体中央部に焦点を合わせることができると判断した
場合、それ以外の部分に対して投光光束を照射させるこ
となく、即座に次のステップに移ることができるので、
撮影までのタイムラグを小さくすることができる。
ば、最も撮影対象となる可能性の高い被写体の中央部か
ら順に、左右両方向に向けて走査的にパルス発光させる
ことができる。従って、被写体中央部のみの測距だけで
被写体中央部に焦点を合わせることができると判断した
場合、それ以外の部分に対して投光光束を照射させるこ
となく、即座に次のステップに移ることができるので、
撮影までのタイムラグを小さくすることができる。
【0050】以上図9乃至17によって説明した投光光
束の走査方法は、上記各実施例に示した何れの装置にも
適用することが可能である。従って、本発明の装置で
は、被写体,装置構成又はその他の条件等により、前記
の走査方法のうちから最適なものを選択して用いること
ができるため、好都合てある。
束の走査方法は、上記各実施例に示した何れの装置にも
適用することが可能である。従って、本発明の装置で
は、被写体,装置構成又はその他の条件等により、前記
の走査方法のうちから最適なものを選択して用いること
ができるため、好都合てある。
【0051】以上説明したように、本発明による投受光
式焦点検出装置は、特許請求の範囲に記載した特徴の他
にも、以下に示すような特徴をも備えている。
式焦点検出装置は、特許請求の範囲に記載した特徴の他
にも、以下に示すような特徴をも備えている。
【0052】(1)光源から射出された光線を少なくと
も二回反射させる手段を備えたことを特徴とする請求項
2に記載の投受光式焦点検出装置。
も二回反射させる手段を備えたことを特徴とする請求項
2に記載の投受光式焦点検出装置。
【0053】(2)投光光学系には少なくとも二枚のミ
ラーが備えられていることを特徴とする請求項2に記載
の投受光式焦点検出装置。
ラーが備えられていることを特徴とする請求項2に記載
の投受光式焦点検出装置。
【0054】(3)前記投光光学系には少なくとも二面
の反射面を有するプリズムが備えられている特徴とする
請求項2に記載の投受光式焦点検出装置。
の反射面を有するプリズムが備えられている特徴とする
請求項2に記載の投受光式焦点検出装置。
【0055】(4)前記投光光学系には少なくとも一枚
のミラーと一面の反射面を有するプリズムとが備えられ
ていることを特徴とする請求項2に記載の投受光式焦点
検出装置。
のミラーと一面の反射面を有するプリズムとが備えられ
ていることを特徴とする請求項2に記載の投受光式焦点
検出装置。
【0056】(5)少なくとも二系統の受光光学系を備
えたことを特徴とする請求項2に記載の投受光式焦点検
出装置。
えたことを特徴とする請求項2に記載の投受光式焦点検
出装置。
【0057】(6)少なくとも開口を有する部材を二枚
重ね合わせて動作させ、夫々の部材の開口が重なる部分
から射出される光が走査又は走査的にパルス発光するよ
うにしたことを特徴とする請求項3に記載の投受光式焦
点検出装置。
重ね合わせて動作させ、夫々の部材の開口が重なる部分
から射出される光が走査又は走査的にパルス発光するよ
うにしたことを特徴とする請求項3に記載の投受光式焦
点検出装置。
【0058】(7)少なくとも二枚の開口を有する部材
からなる走査装置を備え、前記部材のうちの一枚を円筒
状に形成しその内部に光源を備えて配置し、前記円筒状
の部材を回転させることによって、夫々の部材の重なり
合う開口から射出される光が走査又は走査的にパルス発
光するようにしたことを特徴とする請求項3に記載の投
受光式焦点検出装置。
からなる走査装置を備え、前記部材のうちの一枚を円筒
状に形成しその内部に光源を備えて配置し、前記円筒状
の部材を回転させることによって、夫々の部材の重なり
合う開口から射出される光が走査又は走査的にパルス発
光するようにしたことを特徴とする請求項3に記載の投
受光式焦点検出装置。
【0059】(8)光源から射出される光を反射部材に
よって反射し、この反射部材を走査させることによって
投光光束を走査し得るようにしたことを特徴とする請求
項3に記載の投受光式焦点検出装置。
よって反射し、この反射部材を走査させることによって
投光光束を走査し得るようにしたことを特徴とする請求
項3に記載の投受光式焦点検出装置。
【0060】(9)投光光束を被写体の中央部から順次
その被写体の外側部へ走査又は走査的にパルス発光する
ようにしたことを特徴とする請求項4に記載の投受光式
焦点検出装置。
その被写体の外側部へ走査又は走査的にパルス発光する
ようにしたことを特徴とする請求項4に記載の投受光式
焦点検出装置。
【0061】
【発明の効果】上述のように、本発明の投受光式焦点検
出装置は、光源や投光レンズ等の大きく重い構成部品を
動作させることなく、小さなマスク等の部材を動作させ
ることにより、被写体への投光光束を容易に走査させる
ことができるため、より多くの測距点からの情報を得て
正確な測距が行えると同時に、装置構成のコンパクト化
を図ることができるという利点を有する。
出装置は、光源や投光レンズ等の大きく重い構成部品を
動作させることなく、小さなマスク等の部材を動作させ
ることにより、被写体への投光光束を容易に走査させる
ことができるため、より多くの測距点からの情報を得て
正確な測距が行えると同時に、装置構成のコンパクト化
を図ることができるという利点を有する。
【図1】本発明の第一実施例にかかる投受光式焦点検出
装置の構成を示す光軸に沿う断面図である。
装置の構成を示す光軸に沿う断面図である。
【図2】図1に示した装置の投光光学系の周辺部の拡大
図である。
図である。
【図3】三角測距の方法を説明するための図である。
【図4】本発明の第二実施例にかかる投受光式焦点検出
装置の構成を示す光軸に沿う断面図である。
装置の構成を示す光軸に沿う断面図である。
【図5】本発明の第三実施例にかかる投受光式焦点検出
装置の構成を示す光軸に沿う断面図である。
装置の構成を示す光軸に沿う断面図である。
【図6】図5に示した装置の投光光学系の周辺部を拡大
して示した斜視図である。
して示した斜視図である。
【図7】本発明の第四実施例にかかる投受光式焦点検出
装置に備えられている投光光学系の構成を示す斜視図で
ある。
装置に備えられている投光光学系の構成を示す斜視図で
ある。
【図8】本発明の第五実施例にかかる投受光式焦点検出
装置に備えられている投光光学系の構成を示す斜視図で
ある。
装置に備えられている投光光学系の構成を示す斜視図で
ある。
【図9】被写体面上において投光光束を走査させるため
の開口を有するマスクの一構成を示す図である。
の開口を有するマスクの一構成を示す図である。
【図10】被写体面上において投光光束を走査させるた
めの開口を有するマスクの一構成を示す図である。
めの開口を有するマスクの一構成を示す図である。
【図11】被写体面上において投光光束を走査させるた
めの開口を有するマスクの一構成を示す図である。
めの開口を有するマスクの一構成を示す図である。
【図12】被写体面上において投光光束を走査させるた
めの開口を有するマスクの一構成を示す図である。
めの開口を有するマスクの一構成を示す図である。
【図13】被写体面上において投光光束を走査させるた
めの一方法を示す図である。
めの一方法を示す図である。
【図14】被写体面上へ向けて投光光束を走査的に発光
させるための開口を有するマスクの一構成を示す図であ
る。
させるための開口を有するマスクの一構成を示す図であ
る。
【図15】被写体面上へ向けて投光光束を走査的に発光
させるための開口を有するマスクの一構成を示す図であ
る。
させるための開口を有するマスクの一構成を示す図であ
る。
【図16】図15に示したマスク41の正面図である。
【図17】被写体面上へ向けて投光光束を走査的に発光
させるための開口を有するマスクの一構成を示す図であ
る。
させるための開口を有するマスクの一構成を示す図であ
る。
1,7,11,18,37,60,66 光源 2,12,19,30,31,32,33,34,3
5,36 マスク 39,40,41,42,43,61,66 マスク 3,8,13,24 投光光学系 4,9,14,15,25 受光光学系 5,10,16,17,26 受光素子面 20,38,68,69 ミラー 21,62 プリズム 70 レンズ 13a 非球面レンズ 13b メニスカスレンズ 21a,62a 入射面 21b,62b,62c 反射面 21c,62d 射出面 30a,31a,32a,33a,34a,35a,3
6a 開口 40a,41a〜41g 開口 M 被写体 R,S 領域 Q,P 中心 I 光源の射出面と投光レンズ系の光軸との交点から
その光源の射出面端までの最大距離 LC 光軸
5,36 マスク 39,40,41,42,43,61,66 マスク 3,8,13,24 投光光学系 4,9,14,15,25 受光光学系 5,10,16,17,26 受光素子面 20,38,68,69 ミラー 21,62 プリズム 70 レンズ 13a 非球面レンズ 13b メニスカスレンズ 21a,62a 入射面 21b,62b,62c 反射面 21c,62d 射出面 30a,31a,32a,33a,34a,35a,3
6a 開口 40a,41a〜41g 開口 M 被写体 R,S 領域 Q,P 中心 I 光源の射出面と投光レンズ系の光軸との交点から
その光源の射出面端までの最大距離 LC 光軸
Claims (4)
- 【請求項1】 複数領域の測距が可能な投受光式焦点検
出装置において、少なくとも、被写体面へ光束を照射す
るための光源と、投光光学系,受光光学系及び被写体に
光束を照射する際に光束を走査又は走査的にパルス発光
させる装置とを備え、以下に示す条件式を満足するよう
にしたことを特徴とする投受光式焦点検出装置。 0.09<I/f<0.23 但し、Iは前記光源の射出面と前記投光光学系の光軸と
の交点から前記光源の射出面端までの最大距離、fは投
光光学系の焦点距離である。 - 【請求項2】 複数領域の測距が可能な投受光式焦点検
出装置において、少なくとも、被写体面へ光束を照射す
るための光源と、投光光学系,受光光学系及び被写体に
光束を照射する際に光束を走査又は走査的にパルス発光
させる装置とを備え、更に、該走査装置の走査方向とは
異なる方向に投光光束を走査し得る光学系を備えたこと
を特徴とする投受光式焦点検出装置。 - 【請求項3】 複数領域の測距が可能な投受光式焦点検
出装置において、少なくとも、被写体面へ光束を照射す
るための光源と、投光光学系,受光光学系及び被写体に
光束を照射する際に光束を走査又は走査的にパルス発光
させる装置とを備え、該走査装置には少なくとも一つの
開口を有する部材が備えられていることを特徴とする投
受光式焦点検出装置。 - 【請求項4】 複数領域の測距が可能な投受光式焦点検
出装置において、被写体面へ光束を照射するための光源
と、光束を決定する開口を有する部材と、投光光学系及
び受光光学系とからなり、該開口を有する部材は、被写
体に前記光束を照射する際に、測距しようとする複数の
領域を任意の順に照射せしめるように構成されているこ
とを特徴とする投受光式焦点検出装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6221509A JPH0886641A (ja) | 1994-09-16 | 1994-09-16 | 投受光式焦点検出装置 |
| US08/527,939 US5596386A (en) | 1994-09-16 | 1995-09-14 | Projection and reception type focus detecting apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6221509A JPH0886641A (ja) | 1994-09-16 | 1994-09-16 | 投受光式焦点検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0886641A true JPH0886641A (ja) | 1996-04-02 |
Family
ID=16767834
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6221509A Pending JPH0886641A (ja) | 1994-09-16 | 1994-09-16 | 投受光式焦点検出装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5596386A (ja) |
| JP (1) | JPH0886641A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001141429A (ja) * | 1999-11-18 | 2001-05-25 | Japan Atom Energy Res Inst | 基線長可動型表面形状測定装置 |
| JP4714440B2 (ja) * | 2004-08-11 | 2011-06-29 | 富士通株式会社 | フォトマスク製造方法 |
| US9784577B2 (en) * | 2012-03-16 | 2017-10-10 | Lg Innotek Co., Ltd. | Measuring distance from object by using size of pattern projected onto object |
| DE102017115021A1 (de) * | 2017-07-05 | 2019-01-10 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Digitale Bestimmung der Fokusposition |
Family Cites Families (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3442193A (en) * | 1966-05-31 | 1969-05-06 | Eastman Kodak Co | Automatic focusing system |
| US3435744A (en) * | 1966-05-31 | 1969-04-01 | Eastman Kodak Co | Automatic focusing system |
| US3443502A (en) * | 1966-08-23 | 1969-05-13 | Eastman Kodak Co | Automatic focusing for cameras |
| US3618499A (en) * | 1969-04-04 | 1971-11-09 | Eastman Kodak Co | Camera with coordinated aperture and focus adjustment means |
| USRE27461E (en) * | 1970-06-19 | 1972-08-15 | Automatic focusing for cameras | |
| JPS5893040A (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-02 | Canon Inc | カメラ用測距装置 |
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| US4827303A (en) * | 1983-02-08 | 1989-05-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Distance measuring device |
| JPS60249112A (ja) * | 1984-05-25 | 1985-12-09 | Seiko Koki Kk | カメラ用距離検出装置 |
| JPS6188211A (ja) * | 1984-10-05 | 1986-05-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | カメラにおける自動焦点装置 |
| US4876565A (en) * | 1988-10-24 | 1989-10-24 | Harbor Branch Oceanographic Institution, Inc. | Apparatus and method of underwater optical recording |
| US5274429A (en) * | 1989-04-14 | 1993-12-28 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Distance measuring device |
| DE3942770A1 (de) * | 1989-12-23 | 1991-07-11 | Dornier Luftfahrt | Entfernungsbildkamera |
| US5056914A (en) * | 1990-07-12 | 1991-10-15 | Ball Corporation | Charge integration range detector |
| JPH04317017A (ja) * | 1991-04-16 | 1992-11-09 | Olympus Optical Co Ltd | 自動焦点調節装置 |
| JP3076122B2 (ja) * | 1992-01-13 | 2000-08-14 | オリンパス光学工業株式会社 | カメラ |
-
1994
- 1994-09-16 JP JP6221509A patent/JPH0886641A/ja active Pending
-
1995
- 1995-09-14 US US08/527,939 patent/US5596386A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5596386A (en) | 1997-01-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20031216 |