JPH0860372A - Substrate surface treatment method - Google Patents
Substrate surface treatment methodInfo
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- JPH0860372A JPH0860372A JP19314694A JP19314694A JPH0860372A JP H0860372 A JPH0860372 A JP H0860372A JP 19314694 A JP19314694 A JP 19314694A JP 19314694 A JP19314694 A JP 19314694A JP H0860372 A JPH0860372 A JP H0860372A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 基板の一部だけを部分的にプラズマによって
表面処理して、所望のパターン状にプラズマ表面処理を
行うための、簡便な方法を提供する。
【構成】 それぞれ金属製の球電極3と平板電極4が対
向して配置され、平板電極4は所望の表面処理パターン
に一致する形状とされ、球電極3の直径が平板電極4よ
りも小さくされ、少なくとも一方の電極の他の電極に対
向する面が固体誘電体5によって完全に覆われている電
極間に基板7を設置し、反応ガスと不活性ガスとの混合
ガスの大気圧近傍の圧力下で、電極に電圧を印加し放電
プラズマを発生させ、そのプラズマ中の励起された活性
種を基板表面に接触させて、平板電極形状と同様のパタ
ーンで基板を表面処理することを特徴とする。
(57) [Summary] [Object] To provide a simple method for partially plasma-treating only a part of a substrate to perform plasma surface treatment in a desired pattern. [Structure] A metal spherical electrode 3 and a flat plate electrode 4 are arranged so as to face each other, the flat plate electrode 4 has a shape corresponding to a desired surface treatment pattern, and the spherical electrode 3 has a diameter smaller than that of the flat plate electrode 4. , A substrate 7 is installed between the electrodes, of which at least one of the electrodes, the surface facing the other electrode, is completely covered with the solid dielectric 5, and the pressure of the mixed gas of the reaction gas and the inert gas in the vicinity of the atmospheric pressure. Below, a voltage is applied to the electrodes to generate discharge plasma, the activated species in the plasma are brought into contact with the substrate surface, and the substrate is surface-treated in the same pattern as the flat plate electrode shape. .
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、プラスチッ
ク、紙、金属、ガラス、セラミックス等の基板の表面処
理方法に関し、さらに詳しくは、基板の一部だけを部分
的にプラズマによって表面処理して、所望のパターン状
にプラズマ表面処理を行うための方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for surface-treating a substrate made of, for example, plastic, paper, metal, glass, ceramics, etc. More specifically, only a part of the substrate is partially surface-treated by plasma. , A method for performing a plasma surface treatment in a desired pattern.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来より、例えば、プラスチック、紙、
金属、ガラス、セラミックス等の基板の表面の濡れ性制
御や表面修飾の方法として、0.1〜10Torr程度
の低圧のグロー放電プラズマによる表面処理方法が広く
知られており、産業的にも応用されている。この表面処
理方法においては、上記の圧力よりも高い圧力になる
と、放電が局所的になりアーク放電に移行してしまい、
耐熱性の乏しいプラスチックや紙のような基板への利用
が困難となるので、通常、あらゆる基板に適用できるよ
うに上記の圧力範囲が選ばれている。このため、真空
(もしくは低圧)にする必要上、処理用の容器は高価な
真空チャンバーを必要とし、また真空排気装置が必要と
される。さらに、真空中で処理するため大面積の基板に
処理しようとすると、大容量の真空容器を必要とし、真
空排気装置も大出力のものが必要である。そのため、設
備費用が高くなるという問題点があった。また、吸水率
の高い基板の表面処理を行う場合、真空にするのに長時
間を要し、処理品がコスト高になるという問題点もあっ
た。2. Description of the Related Art Conventionally, for example, plastic, paper,
As a method for controlling the wettability of the surface of a substrate such as metal, glass, ceramics or the like, a surface treatment method using low-voltage glow discharge plasma of about 0.1 to 10 Torr is widely known, and is also applied industrially. ing. In this surface treatment method, when the pressure becomes higher than the above pressure, the discharge locally becomes an arc discharge,
Since it is difficult to apply to substrates such as plastic and paper having poor heat resistance, the above pressure range is usually selected so that it can be applied to all substrates. Therefore, in order to make a vacuum (or low pressure), the processing container requires an expensive vacuum chamber, and a vacuum exhaust device is required. Further, when processing a large-area substrate for processing in a vacuum, a large-capacity vacuum container is required, and a vacuum exhaust device having a large output is also required. Therefore, there is a problem that the equipment cost becomes high. In addition, when the surface treatment of a substrate having a high water absorption rate is performed, it takes a long time to evacuate, and there is a problem that the cost of the treated product becomes high.
【0003】そこで、上記の種々の問題点を克服するた
めに、装置、設備の低コスト化と、大面積基板への処理
が可能な大気圧下での放電プラズマ処理が提案されてき
た。例えば、特開平2−15171号公報には、電極表
面に固体誘電体を配設する方法によって、特公平2−4
8626号公報には、細線型電極を用いる方法によって
大気圧下で放電プラズマを行う表面処理方法が提案され
ている。これらの提案では、ヘリウムを主とする不活性
ガスと反応ガスとの混合ガスを、複数の開孔を有する多
孔管から基板近傍に供給してプラズマ処理する方法が用
いられている。Therefore, in order to overcome the above-mentioned various problems, it has been proposed to reduce the cost of the apparatus and equipment and to perform discharge plasma processing under atmospheric pressure capable of processing a large area substrate. For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-15171 discloses a method of arranging a solid dielectric on the surface of an electrode.
Japanese Patent No. 8626 proposes a surface treatment method of performing discharge plasma under atmospheric pressure by a method using a fine wire type electrode. In these proposals, a method is used in which a mixed gas of an inert gas mainly containing helium and a reaction gas is supplied from a porous tube having a plurality of openings to the vicinity of the substrate to perform plasma treatment.
【0004】これらの従来の低圧や大気圧での放電プラ
ズマ処理技術では、基板の一部だけを部分的に表面処理
して、パターン状に表面処理を行う場合には、例えば、
特開平1−124847号公報に記載の感光性樹脂など
を塗布して不必要な部分をマスクし、プラズマ処理後マ
スクを除去する方法が提案されている(山岡亜夫、森田
浩著、感光性樹脂、共立出版社(1988))。しか
し、この方法では、工程が複雑になるという問題点があ
った。In these conventional low-pressure and atmospheric-pressure discharge plasma processing techniques, in the case of partially surface-treating only a part of the substrate and performing the surface treatment in a pattern, for example,
JP-A-1-124847 proposes a method of applying a photosensitive resin or the like to mask unnecessary portions and removing the mask after plasma treatment (Ao Yamaoka, Hiro Morita, photosensitive resin). , Kyoritsu Publishing (1988)). However, this method has a problem that the process becomes complicated.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、基板
の一部だけを部分的にプラズマによって表面処理して、
所望のパターン状にプラズマ表面処理を行うための、簡
便な方法を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to partially surface-treat only a part of a substrate with a plasma,
It is to provide a simple method for performing plasma surface treatment in a desired pattern.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明の基板の表面処理
方法は、それぞれ金属製の球電極と平板電極が対向して
配置され、平板電極は所望の表面処理パターンに一致す
る形状とされ、球電極の直径が平板電極よりも小さくさ
れ、少なくとも一方の電極の他の電極に対向する面が固
体誘電体によって完全に覆われている電極間に基板を設
置し、反応ガスと不活性ガスとの混合ガスの大気圧近傍
の圧力下で、電極に電圧を印加し放電プラズマを発生さ
せ、そのプラズマ中の励起された活性種を基板表面に接
触させて、平板電極形状と同様のパターンで基板を表面
処理することを特徴とする。According to a substrate surface treatment method of the present invention, a metal spherical electrode and a plate electrode are arranged to face each other, and the plate electrode has a shape corresponding to a desired surface treatment pattern. The diameter of the spherical electrode is smaller than that of the flat plate electrode, and at least one surface of the electrode facing the other electrode is completely covered with a solid dielectric. Under a pressure near the atmospheric pressure of the mixed gas, a voltage is applied to the electrodes to generate discharge plasma, the excited active species in the plasma are brought into contact with the substrate surface, and the substrate is formed in the same pattern as the plate electrode shape. Is surface-treated.
【0007】本発明において、基板の表面処理とは、主
として、表面官能基層の形成やフリーラジカル層の形成
や親水性や撥水性の薄膜を形成することなどによって、
基板の表面エネルギーを制御し、基板の濡れ性や接着性
を改質することや、基板表面に無機質や有機質の薄膜を
形成させて、基板に化学的、機械的、光学的、電気的特
性等を付与することを指す。In the present invention, the surface treatment of the substrate mainly means the formation of a surface functional group layer, the formation of a free radical layer, the formation of a hydrophilic or water-repellent thin film, and the like.
By controlling the surface energy of the substrate and modifying the wettability and adhesiveness of the substrate, or by forming an inorganic or organic thin film on the substrate surface, chemical, mechanical, optical, electrical properties, etc. It means to give.
【0008】本発明で用いられる反応ガスとしては、放
電プラズマ中で活性化され基板と接触されて、基板に撥
水性を付与したり、親水性を付与したりするガスが挙げ
られる。例えば、基板に撥水性を付与する場合には、フ
ッ素含有のガスが用いられる。フッ素含有のガスとして
は、4フッ化炭素(CF4 )、6フッ化炭素(CF3C
F3 )、6フッ化プロピレン(CF3 CFCF3 )等の
フッ化炭素ガス;1塩化3フッ化炭素(CClF3 )等
のハロゲン化炭素ガス;6フッ化硫黄(SF6)等のフ
ッ化硫黄化合物;およびこれらの化合物のフッ素の一部
が水素に置換された化合物が挙げられる。これらのう
ち、安全でフッ化水素等の有毒ガスを生成しない、4フ
ッ化炭素や6フッ化炭素などが好ましい。Examples of the reaction gas used in the present invention include a gas which is activated in discharge plasma and is brought into contact with a substrate to impart water repellency or hydrophilicity to the substrate. For example, a fluorine-containing gas is used to impart water repellency to the substrate. Examples of the fluorine-containing gas include carbon tetrafluoride (CF 4 ), carbon hexafluoride (CF 3 C
F 3 ), fluorinated carbon gas such as propylene hexafluoride (CF 3 CFCF 3 ), halogenated carbon gas such as carbon monochloride trifluoride (CClF 3 ), fluorinated sulfur hexafluoride (SF 6 ), etc. Sulfur compounds; and compounds in which a part of fluorine in these compounds is replaced with hydrogen. Of these, carbon tetrafluoride and carbon hexafluoride, which are safe and do not generate toxic gases such as hydrogen fluoride, are preferable.
【0009】また、親水性を付与する場合には、表面に
カルボニル基、ヒドロキシル基、アミノ基等の官能基を
有する層を形成させるために、炭化水素化合物のガスを
使用する。上記炭化水素化合物としては、例えば、メタ
ン、エタン、プロパン、ブタン、ペンタン、ヘキサン等
のアルカン類;エチレン、プロピレン、ブテン、ペンテ
ン等のアルケン類;ペンタジエン、ブタジエン等のアル
カジエン類;アセチレン、メチルアセチレン等のアルキ
ン類;ベンゼン、トルエン、キシレン、インデン、ナフ
タレン、フェナントレン等の芳香族炭化水素類;シクロ
プロパン、シクロヘキサン等のシクロアルカン類;シク
ロペンテン、シクロヘキセン等のシクロアルケン類;メ
タノール、エタノール等のアルコール類;アセトン、メ
チルエチルケトン等のケトン類;メタナール、エタナー
ル等のアルデヒド類などが挙げられ、これらは、単独で
使用されてもよいし2種以上併用されてもよい。また、
この場合、酸素ガス;酸素と水素の混合ガス;水蒸気;
アンモニアガス;窒素ガス等を使用することも可能であ
る。また、これらのガス類にフッ素含有のガスを50%
以下添加してもよいが、この量を超えて添加すると撥水
性を示してしまう。上記反応ガスは、均一性よく表面処
理をするためには、大気圧近傍の圧力下でガス状態であ
ることが好ましい。When imparting hydrophilicity, a hydrocarbon compound gas is used to form a layer having a functional group such as a carbonyl group, a hydroxyl group or an amino group on the surface. Examples of the hydrocarbon compound include alkanes such as methane, ethane, propane, butane, pentane, and hexane; alkenes such as ethylene, propylene, butene, and pentene; alkadienes such as pentadiene and butadiene; acetylene, methylacetylene, and the like. Alkynes; aromatic hydrocarbons such as benzene, toluene, xylene, indene, naphthalene, phenanthrene; cycloalkanes such as cyclopropane and cyclohexane; cycloalkenes such as cyclopentene and cyclohexene; alcohols such as methanol and ethanol; Examples thereof include ketones such as acetone and methyl ethyl ketone; and aldehydes such as methanal and ethanal. These may be used alone or in combination of two or more kinds. Also,
In this case, oxygen gas; mixed gas of oxygen and hydrogen; water vapor;
It is also possible to use ammonia gas; nitrogen gas or the like. In addition, 50% fluorine-containing gas is added to these gases.
It may be added below, but if it is added in excess of this amount, it exhibits water repellency. The reaction gas is preferably in a gas state under a pressure near atmospheric pressure in order to perform the surface treatment with good uniformity.
【0010】また、基板に化学的、機械的、光学的、電
気的特性等を付与するために、SiO2 、TiO2 、S
nO2 等の金属酸化物薄膜を形成する場合には、水素化
金属ガス、ハロゲン化金属ガス又は金属アルコラート等
の金属有機化合物のガスもしくは蒸気が用いられる。Further, in order to impart chemical, mechanical, optical and electrical characteristics to the substrate, SiO 2 , TiO 2 and S are added.
When forming a metal oxide thin film of nO 2 or the like, a gas or vapor of a metal organic compound such as a metal hydride gas, a metal halide gas or a metal alcoholate is used.
【0011】本発明で用いられる不活性ガスとしては、
He、Ne、Ar、Xe等の希ガスの単体又は混合ガス
が用いられるが、準安定励起状態の寿命が長く反応ガス
を励起分解するのに有利なHeを用いるのが好ましい。
He以外の不活性ガスを使用する場合は、2体積%以内
のアセトンやメタノール等の有機物蒸気やメタン、エタ
ン等の炭化水素ガスを混合する必要がある。The inert gas used in the present invention includes:
A simple substance or a mixed gas of a rare gas such as He, Ne, Ar, and Xe is used, and it is preferable to use He, which has a long metastable excited state life and is advantageous for exciting and decomposing the reaction gas.
When an inert gas other than He is used, it is necessary to mix an organic vapor such as acetone or methanol or a hydrocarbon gas such as methane or ethane within 2% by volume.
【0012】基板に撥水性を付与する場合、フッ素含有
のガスと不活性ガスとの混合比は、格別限定的ではない
が、フッ素含有のガスが10体積%以上になると高電圧
を印加しても放電プラズマが発生しないため、10体積
%未満が好ましく、フッ素含有のガスの使用量が少なく
て撥水性の付与が可能な0.3〜5.0体積%が好まし
い。When imparting water repellency to the substrate, the mixing ratio of the fluorine-containing gas and the inert gas is not particularly limited, but when the fluorine-containing gas is 10 volume% or more, a high voltage is applied. However, since discharge plasma is not generated, less than 10% by volume is preferable, and 0.3 to 5.0% by volume is preferable because the amount of fluorine-containing gas used is small and water repellency can be imparted.
【0013】本発明に使用される基板は、材質、形状等
は特に限定されず、プラスチック、金属、ガラス、セラ
ミック、紙、繊維等が挙げられ、無孔質でも多孔質でも
構わない。プラスチックとしては、例えば、ポリエチレ
ンテレフタレートやポリエチレンナフタレート等のポリ
エステル;ポリエチレン又はポリプロピレン等のポリオ
レフィン;ポリスチレン;ポリアミド;ポリ塩化ビニ
ル;ポリカーボネート;ポリアクリロニトリル等のフィ
ルムあるいはシートが使用できる。フィルムの場合、延
伸されたものでも未延伸のものでも構わない。また、表
面洗浄や表面活性化の公知の処理を行ったものでも構わ
ない。The material and shape of the substrate used in the present invention are not particularly limited, and examples thereof include plastics, metals, glass, ceramics, papers, fibers and the like, which may be non-porous or porous. Examples of plastics that can be used include polyesters such as polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate; polyolefins such as polyethylene and polypropylene; polystyrene; polyamide; polyvinyl chloride; polycarbonate; polyacrylonitrile. In the case of a film, it may be stretched or unstretched. Further, it may be one which has been subjected to a known treatment such as surface cleaning or surface activation.
【0014】以下にプラスチック基板の表面に撥水性を
付与する場合を例に、図に基づいて本発明を詳細に説明
する。図1は、本発明に使用されるプラズマ発生装置の
一例を示す模式的な断面図である。本装置は、電源部
1、処理容器2、対向して配置された球形の球電極3お
よび平板状の平板電極4から構成されている。The present invention will be described in detail below with reference to the drawings by taking the case of imparting water repellency to the surface of a plastic substrate as an example. FIG. 1 is a schematic sectional view showing an example of a plasma generator used in the present invention. This apparatus is composed of a power supply unit 1, a processing container 2, a spherical ball electrode 3 and a flat plate electrode 4 which are arranged to face each other.
【0015】電源部1は5〜100kHz台の周波数の
電圧を印加可能とされており、耐熱性の低い基板の処理
には基板への影響の少ない10〜30kHzの周波数が
好ましい。放電プラズマ形成は電極に電圧を印加するこ
とにより行うが、印加電圧が低くなると、プラズマ密度
及びセルフバイアスが小さくなるため、処理に時間がか
かり非能率的であり、高くなると、アーク放電に移行す
る挙動を示すので、電界強度5〜40kV/cm程度に
なるように電圧を印加するのが好ましい。The power supply unit 1 is capable of applying a voltage having a frequency on the order of 5 to 100 kHz, and for processing a substrate having low heat resistance, a frequency of 10 to 30 kHz which has little influence on the substrate is preferable. The discharge plasma is formed by applying a voltage to the electrodes, but when the applied voltage is low, the plasma density and self-bias are small, so the process is time consuming and inefficient, and when it is high, it shifts to arc discharge. Since the behavior is exhibited, it is preferable to apply the voltage so that the electric field strength is about 5 to 40 kV / cm.
【0016】処理容器2は、上面2aと底面2bがステ
ンレス製、側面2cがパイレックスガラス製であり、上
面2aと球電極3との間に絶縁体2dが配設されてい
る。処理容器2の材質は、これに限らず、全てがガラス
製、プラスチック製でも構わないし、電極と絶縁がとれ
ているならばステンレスやアルミニウム等の金属製でも
構わない。The processing container 2 has a top surface 2a and a bottom surface 2b made of stainless steel, and a side surface 2c made of Pyrex glass, and an insulator 2d is arranged between the top surface 2a and the spherical electrode 3. The material of the processing container 2 is not limited to this, and all may be made of glass or plastic, or may be made of metal such as stainless steel or aluminum as long as it is insulated from the electrodes.
【0017】処理容器2内に一対の対向する上部の球電
極3と下部の平板電極4が配設されている。上部の球電
極3は、球面を有する電極のことであり、真球でも楕円
球でも、またそれらの半球でも構わないが、真球が均一
な表面処理を行ない易いので好ましい。球電極3の直径
は、下部の平板電極4よりも大きくなるとパターン状に
表面処理ができなくなるので、下部の平板電極4よりも
小さくされる。球電極3の直径は、小さいほど鮮明にパ
ターン状に表面処理できるが、小さ過ぎると、高電圧印
加によってアーク放電が発生し易くなるので直径1mm
以上が好ましい。また、球電極3は、塊状体でも中空体
でも構わない。A pair of opposed upper spherical electrodes 3 and lower plate electrodes 4 are arranged in the processing container 2. The upper spherical electrode 3 is an electrode having a spherical surface, and may be a true sphere, an ellipsoid, or a hemisphere thereof, but a true sphere is preferable because a uniform surface treatment is easily performed. If the diameter of the spherical electrode 3 is larger than that of the lower flat plate electrode 4, the surface treatment cannot be performed in a pattern, so that the diameter of the spherical flat electrode 3 is made smaller than that of the lower flat plate electrode 4. The smaller the diameter of the spherical electrode 3, the sharper the pattern can be surface-treated, but if it is too small, arc discharge is likely to occur due to high voltage application, so the diameter is 1 mm.
The above is preferable. The spherical electrode 3 may be a lump or a hollow body.
【0018】下部の平板電極4は、所望の処理パターン
に一致する形状とされる。平板電極4の平面形状として
は、所望の処理パターンに一致するものであれば、任意
であり、例えば、図2のような文字や図3のような中空
部4aを有する形状が挙げられる。また、図4に示すよ
うに、複数の電極4bがパターンを形成するように配置
されていてもよく、それぞれの電極を並列あるいは直列
に結線することにより連結された電極とみなすことがで
き、これによりパターン化できる。The lower plate electrode 4 is shaped to match a desired processing pattern. The planar shape of the flat plate electrode 4 is arbitrary as long as it matches a desired processing pattern, and examples thereof include a shape having characters as shown in FIG. 2 and a hollow portion 4a as shown in FIG. Further, as shown in FIG. 4, a plurality of electrodes 4b may be arranged so as to form a pattern, and can be regarded as electrodes connected by connecting each electrode in parallel or in series. Can be patterned by.
【0019】また、パターンの線幅は特に限定されない
が、線間隔は狭すぎると放電プラズマ中の励起種がパタ
ーンがない領域にも到達してしまい、平板電極形状通り
のパターンが形成されなくなるので、1mm以上をとる
のが好ましく、さらに好ましくは5mm以上である。The line width of the pattern is not particularly limited, but if the line interval is too narrow, the excited species in the discharge plasma reach the region where there is no pattern, and the pattern having the shape of the plate electrode cannot be formed. It is preferably 1 mm or more, and more preferably 5 mm or more.
【0020】球電極と平板電極の材質は、金属とされる
が、この場合、ステンレスや真鍮のような多成分からな
る金属でも、銅やアルミニウムのような純金属でも構わ
ない。また、平板電極4は、後述の固体誘電体に、導電
性塗料を塗工する方法;スパッタリング、イオンプレー
ティング、真空蒸着等の物理蒸着法;プラズマCVD等
の化学蒸着法および溶射等のドライプロセス法で金属薄
膜を形成しても構わない。なお、電極を薄膜で形成する
場合は、連続膜とするには、100Å以上が必要であ
る。The material of the spherical electrode and the flat plate electrode is a metal, but in this case, a multi-component metal such as stainless steel or brass, or a pure metal such as copper or aluminum may be used. In addition, the flat plate electrode 4 is a method of applying a conductive paint to a solid dielectric described later; a physical vapor deposition method such as sputtering, ion plating, or vacuum vapor deposition; a chemical vapor deposition method such as plasma CVD or a dry process such as thermal spraying. The metal thin film may be formed by the method. When the electrode is formed of a thin film, 100 Å or more is required to form a continuous film.
【0021】電極に電圧を印加するに際しては、どちら
の電極から行ってもよいが、電極面積の小さい球電極の
方から印加する方が安全である。When applying a voltage to the electrodes, either electrode may be used, but it is safer to apply the voltage from a spherical electrode having a smaller electrode area.
【0022】本発明においては、少なくとも一方の電極
の他の電極に対向する面が固体誘電体によって完全に覆
われている。図1の装置においては、平板電極4の上に
固体誘電体5が配設されている。固体誘電体5は、相対
する電極の対向面の全面に配設される必要がある。一部
でも、対向面が露出しているとプラズマ処理時にアーク
放電が生じる。処理する基板が非導電性のものであれ
ば、固体誘電体はどちらか一方の電極の対向面に配設さ
れればよいが、基板が金属等のように導電性のものであ
れば、両方の電極に固体誘電体を配設する必要がある。In the present invention, the surface of at least one of the electrodes facing the other electrode is completely covered with the solid dielectric. In the device of FIG. 1, the solid dielectric 5 is arranged on the plate electrode 4. The solid dielectric 5 needs to be disposed on the entire surface of the facing surface of the opposing electrodes. Even if a part of the facing surface is exposed, arc discharge occurs during plasma processing. If the substrate to be treated is non-conductive, the solid dielectric may be disposed on the opposite surface of either one of the electrodes, but if the substrate is conductive such as metal, both It is necessary to dispose a solid dielectric on the electrode.
【0023】固体誘電体5としては、例えば、ポリテト
ラフルオロエチレン(PTFE)やポリエチレンテレフ
タレート(PET)等のプラスチック;シリカ、アルミ
ナ、酸化チタン、チタン酸バリウム等のチタン酸化合物
などのセラミックスが挙げられ、比誘電率の高い誘電体
ほど低電力で処理可能であるため、強誘電体である酸化
チタンおよびチタン酸化合物がより好ましい。Examples of the solid dielectric 5 include plastics such as polytetrafluoroethylene (PTFE) and polyethylene terephthalate (PET); ceramics such as silica, alumina, titanium oxide, and titanate compounds such as barium titanate. Since a dielectric material having a higher relative dielectric constant can be processed with lower power, a titanium oxide and a titanic acid compound, which are ferroelectric materials, are more preferable.
【0024】固体誘電体5としては、シート状でも、フ
ィルム状でも構わない。しかし、厚みが薄くなると、電
圧印加時に絶縁破壊が起こってアーク放電が生じやすく
なり、厚くなると、放電しにくくなるので、0.05〜
4mmの厚みが好ましい。The solid dielectric 5 may be in the form of a sheet or a film. However, when the thickness is thin, dielectric breakdown occurs when a voltage is applied, and arc discharge easily occurs.
A thickness of 4 mm is preferred.
【0025】固体誘電体5は、電極に誘電体を物理蒸着
法、化学蒸着法、溶射および塗工等の方法で被覆しても
よい。The solid dielectric 5 may be formed by coating the electrode with a dielectric by a physical vapor deposition method, a chemical vapor deposition method, thermal spraying, coating or the like.
【0026】本発明において、放電プラズマによるプラ
ズマ処理部6は、対向する電極間の空間である。球電極
と平板電極の間の距離は、供給されるガス流量、印加電
圧の大きさ、固体誘電体の材質及び厚み、並びに基材の
厚み等によって、適宜決定されるが、距離が小さくなる
と未使用のガスが多くなり非効率的であり、大きくなる
と、電極空間の放電プラズマの均一性が損なわれ易くな
るので、1〜20mmが好ましい。In the present invention, the plasma processing part 6 by discharge plasma is a space between the opposing electrodes. The distance between the spherical electrode and the flat plate electrode is appropriately determined according to the flow rate of the gas supplied, the magnitude of the applied voltage, the material and thickness of the solid dielectric material, the thickness of the base material, etc. The amount of gas used is inefficient and inefficient, and when it is large, the uniformity of the discharge plasma in the electrode space tends to be impaired, so 1-20 mm is preferable.
【0027】図1の装置を使用してプラズマ処理を行う
には、固体誘電体5が配設された平板電極4の上に基板
7を設置し、反応ガスを反応ガス導入管8を経て多孔構
造の球電極3から、不活性ガスを不活性ガス導入管9か
ら、それぞれ、プラズマ処理部6に供給し、反応ガスと
不活性ガスの混合ガスの大気圧近傍の圧力に調整する。
本発明でいう大気圧近傍の圧力とは、具体的には100
〜800Torrのことであり、装置、設備の低コスト
化の点で700〜780Torrが好ましい。To perform plasma treatment using the apparatus shown in FIG. 1, a substrate 7 is placed on a flat plate electrode 4 on which a solid dielectric 5 is arranged, and a reaction gas is passed through a reaction gas introduction pipe 8 to permeate the reaction gas. The inert gas is supplied from the structured spherical electrode 3 to the plasma processing unit 6 through the inert gas introduction pipe 9, and the pressure is adjusted to a pressure near the atmospheric pressure of the mixed gas of the reaction gas and the inert gas.
The pressure near the atmospheric pressure as used in the present invention is specifically 100
It is up to 800 Torr, and 700 to 780 Torr is preferable in terms of cost reduction of the device and equipment.
【0028】次に、電極に電圧を印加して放電プラズマ
を発生させ、そのプラズマ中の励起された活性種を基板
表面に接触させて基板の表面処理を行う。Next, a voltage is applied to the electrodes to generate discharge plasma, and the excited active species in the plasma are brought into contact with the surface of the substrate for surface treatment of the substrate.
【0029】なお、図1においては、球電極3は、反応
ガスを均一に供給するために、その内部がガスの通路3
aとされた、多孔性の電極(具体的には、電極の内部が
空洞とされ表面部にガスの出口部となる1mmφの開孔
3bが4個設けられている)とされているが、このよう
に球電極3がガス導入口と電極を兼ね、且つ多孔構造か
らなると、反応ガスをプラズマ処理部6に均一に供給し
て、均一な処理を行うために好ましい。また、不活性ガ
スは反応ガスと混合して球電極3または不活性ガス導入
管9から導入しても構わないが、均一に処理するには、
上述のように、反応ガスと不活性ガスを分離して、反応
ガスのみを球電極3から、不活性ガスを不活性ガス導入
管9から導入するのが好ましい。また、不活性ガス導入
管9の処理容器2内の先端部は、図1に示すように、プ
ラズマ処理部6の周囲を取り巻くか又はプラズマ処理部
6内に広がるようなリング状とされ、そのリングに多数
の穴9aが開けられ、その穴9aから不活性ガスを処理
容器2内に供給する方が、不活性ガスと反応ガスが均一
に混合され易いので好ましい。このリングは、ガラス
(例えば、パイレックスガラス)製が好ましい。In FIG. 1, the sphere electrode 3 has a gas passage 3 inside in order to uniformly supply the reaction gas.
a, which is a porous electrode (specifically, the inside of the electrode is hollow and four 1 mmφ openings 3b serving as gas outlets are provided on the surface). Thus, it is preferable that the spherical electrode 3 also serves as a gas inlet and an electrode and has a porous structure in order to uniformly supply the reaction gas to the plasma processing unit 6 and perform uniform processing. Further, the inert gas may be mixed with the reaction gas and introduced from the spherical electrode 3 or the inert gas introduction pipe 9, but for uniform treatment,
As described above, it is preferable that the reaction gas and the inert gas are separated, and only the reaction gas is introduced from the spherical electrode 3 and the inert gas is introduced from the inert gas introducing pipe 9. Further, as shown in FIG. 1, the end portion of the inert gas introducing pipe 9 inside the processing container 2 has a ring shape surrounding the plasma processing portion 6 or spreading inside the plasma processing portion 6. It is preferable to form a large number of holes 9a in the ring and to supply the inert gas into the processing container 2 through the holes 9a because the inert gas and the reaction gas are easily mixed uniformly. The ring is preferably made of glass (eg Pyrex glass).
【0030】また、反応ガスおよび不活性ガスは、図示
しないが、それぞれマスフローコントローラーで流量制
御されて供給されるのが好ましい。Although not shown, the reaction gas and the inert gas are preferably supplied with their flow rates controlled by a mass flow controller.
【0031】また、過剰の反応ガスや不活性ガスは、処
理容器2のガス出口10から排出される。また、処理容
器2内に反応ガスや不活性ガスを導入する際に、処理容
器2内に残存する空気を排気口11から排気するように
するのが好ましい。Excess reaction gas and inert gas are discharged from the gas outlet 10 of the processing container 2. Further, when the reaction gas or the inert gas is introduced into the processing container 2, it is preferable that the air remaining in the processing container 2 be exhausted from the exhaust port 11.
【0032】また、撥水性付与の大気圧プラズマ処理に
は基板の加熱や冷却は、特には必要なく室温下で十分可
能である。Further, heating or cooling of the substrate is not particularly necessary for the atmospheric pressure plasma treatment for imparting water repellency, and it is sufficient at room temperature.
【0033】また、処理時間は印加電圧の大きさで決定
され、前記印加電圧の範囲では5秒程度で撥水化されて
おりそれ以上の時間をかけて処理しても撥水化効果は向
上せず、短時間の処理で十分である。The treatment time is determined by the magnitude of the applied voltage. Within the range of the applied voltage, the treatment is water repellent in about 5 seconds, and even if the treatment is carried out for a longer time, the water repellent effect is improved. No, a short treatment time is sufficient.
【0034】[0034]
【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。 実施例1 図1に示したプラズマ発生装置(球電極3は直径20m
mの球形であり、厚み3mmの真鍮製で、φ1mmの開
孔3bが4個設けられている。平板電極4は、図2に示
したW字形で、厚み3mmのステンレス製であり、図2
におけるそれぞれの寸法および角度は、A=100m
m、B=100mm、C=25mm、D=15mm、E
=10mm、F=75度、G=105度である)を用
い、電極間距離を5mmとし、平板電極4の上に固体誘
電体5としてφ150mmで厚み2mmの酸化チタン焼
結体(比誘電率、約80)を配設し、固体誘電体5の上
に基板7としてφ150mmで厚み50μmのポリエチ
レンテレフタレート製のフィルム(東レ社製、商品名
ルミラーT60)を設置し、処理容器2内の空気を10
Torrまで回転ポンプ(図示せず。以下同じ)で排気
口11より排気した。Embodiments of the present invention will be described below. Example 1 Plasma generator shown in FIG. 1 (sphere electrode 3 has a diameter of 20 m
It has a spherical shape of m, is made of brass with a thickness of 3 mm, and is provided with four holes 3b having a diameter of 1 mm. The plate electrode 4 has the W shape shown in FIG. 2 and is made of stainless steel having a thickness of 3 mm.
The respective dimensions and angles in A are 100 m
m, B = 100 mm, C = 25 mm, D = 15 mm, E
= 10 mm, F = 75 degrees, G = 105 degrees), the inter-electrode distance is 5 mm, and the titanium oxide sintered body having a thickness of 2 mm and a diameter of 150 mm is used as the solid dielectric 5 on the flat plate electrode 4. , About 80), and a film of polyethylene terephthalate having a thickness of 150 μm and a thickness of 50 μm as the substrate 7 on the solid dielectric 5 (manufactured by Toray Industries Inc., trade name)
Lumirror T60) is installed and the air in the processing container 2 is adjusted to 10
The gas was exhausted from the exhaust port 11 up to Torr by a rotary pump (not shown, the same applies hereinafter).
【0035】次いで、ガス流量10sccmの4フッ化
炭素ガスをガス導入管8より、また、ガス流量990s
ccmのHeガスをガス導入管9を経て穴9aより処理
容器2内に導入し、762Torrの大気圧とした後、
周波数15kHzの矩形波を、5.5kV、34mAの
電力で印加し15秒間放置して、基板7の表面処理をし
た。高電圧印加にともなって、プラズマ発光が観察され
た。Then, a carbon tetrafluoride gas having a gas flow rate of 10 sccm is supplied from the gas introduction pipe 8 and a gas flow rate of 990 s.
After introducing ccm of He gas into the processing container 2 through the hole 9a through the gas introducing pipe 9 and setting the atmospheric pressure to 762 Torr,
A rectangular wave having a frequency of 15 kHz was applied with a power of 5.5 kV and 34 mA and left for 15 seconds to perform surface treatment on the substrate 7. Plasma emission was observed with the application of high voltage.
【0036】次に、処理後の基板の表面にφ2mmの水
滴を2mmの間隔で滴下し、協和界面科学社製の接触角
測定装置(商品名 CA−D)を用いて静的接触角を測
定した。その結果、放電プラズマが照射された領域で
は、基板の接触角(67度)よりも遙に高い接触角を示
し、接触角100度以上の測定点の分布は平板電極の形
状と同様のW字型のパターンとなっていた。Next, water drops of φ2 mm were dropped on the surface of the treated substrate at intervals of 2 mm, and the static contact angle was measured using a contact angle measuring device (trade name CA-D) manufactured by Kyowa Interface Science Co., Ltd. did. As a result, in the region irradiated with the discharge plasma, the contact angle is much higher than the contact angle of the substrate (67 degrees), and the distribution of the measurement points with the contact angle of 100 degrees or more is W-shaped similar to the shape of the flat plate electrode. It was a type pattern.
【0037】実施例2 実施例1における固体誘電体5の代わりに、φ150m
mで厚み2mmのポリテトラフルオロエチレン(比誘電
率、約2.4)とし、プラズマ処理の電力として電圧1
7kV、電流78mAとしたこと以外は、実施例1と同
様にしてプラズマ処理をした。次に、処理後の基板の表
面を実施例1と同様に静的接触角を測定した。その結
果、放電プラズマが照射された領域では、基板の接触角
(67度)よりも遙に高い接触角を示し、接触角100
度以上の測定点の分布は平板電極の形状と同様のW字型
のパターンとなっていた。Example 2 Instead of the solid dielectric 5 in Example 1, φ150 m
m and a thickness of 2 mm, polytetrafluoroethylene (relative permittivity, about 2.4), and a voltage of 1 for plasma processing power.
Plasma treatment was performed in the same manner as in Example 1 except that the current was 7 kV and the current was 78 mA. Next, the static contact angle of the surface of the treated substrate was measured in the same manner as in Example 1. As a result, in the region irradiated with the discharge plasma, the contact angle is much higher than the contact angle (67 degrees) of the substrate, and the contact angle is 100.
The distribution of the measurement points above the degree was a W-shaped pattern similar to the shape of the plate electrode.
【0038】実施例3 図1に示したプラズマ発生装置(球電極3は実施例1と
同様。固体誘電体5および平板電極4としては、φ15
0mmで厚み2mmの富士チタニウム社製の酸化チタン
焼結体(比誘電率、約80、グレードTP−3)に、5
×10-5Torrで銅を、図3に示したパターンのよう
に4つの正方形の中空部4aを有する正方形の形となる
ように、0.3μm厚みで真空蒸着したもの。なお、図
3におけるそれぞれの寸法は、A=68mm、B=30
mm、C=2mm、D=3mmである)を用い、電極間
距離を7mmとし、固体誘電体5の上に基板7としてφ
150mmで厚み50μmのポリエチレン製のフィルム
を設置し、処理容器2内の空気を10Torrまで回転
ポンプ(図示せず。以下同じ)で排気口11より排気し
た。Example 3 The plasma generator shown in FIG. 1 (the spherical electrode 3 is the same as in Example 1. The solid dielectric 5 and the plate electrode 4 are φ15.
To a titanium oxide sintered body (relative permittivity, about 80, grade TP-3) manufactured by Fuji Titanium Co., Ltd. having a thickness of 0 mm and a thickness of 2 mm, 5
Copper was vacuum-deposited at a thickness of 0.3 μm to a square shape having four square hollow portions 4a as shown in the pattern of FIG. 3 at × 10 −5 Torr. The respective dimensions in FIG. 3 are A = 68 mm and B = 30.
mm, C = 2 mm, D = 3 mm), the distance between the electrodes is 7 mm, and φ is used as the substrate 7 on the solid dielectric 5.
A polyethylene film having a thickness of 150 mm and a thickness of 50 μm was installed, and the air in the processing container 2 was exhausted from the exhaust port 11 to 10 Torr by a rotary pump (not shown; the same applies hereinafter).
【0039】次いで、ガス流量3sccmの4フッ化炭
素ガスと7sccmの酸素ガスとの混合ガスをガス導入
管8より、また、ガス流量990sccmのHeガスを
ガス導入管9を経て穴9aより処理容器2内に導入し、
757Torrの大気圧とした後、周波数20kHzの
矩形波を、7kV、41mAの電力で印加し60秒間放
置して、基板7の表面処理をした。高電圧印加にともな
って、プラズマ発光が観察された。Next, a mixed gas of a carbon tetrafluoride gas having a gas flow rate of 3 sccm and an oxygen gas having a gas flow rate of 7 sccm is supplied from the gas introducing pipe 8, and a He gas having a gas flow rate of 990 sccm is passed through the gas introducing pipe 9 from a hole 9a through a processing container. Introduced in 2,
After setting the atmospheric pressure to 757 Torr, a rectangular wave having a frequency of 20 kHz was applied with power of 7 kV and 41 mA and left for 60 seconds to surface-treat the substrate 7. Plasma emission was observed with the application of high voltage.
【0040】次に、処理後の基板の表面の静的接触角を
実施例1と同様にして測定した。その結果、放電プラズ
マが照射された領域では、基板の接触角(88度)より
も遙に低い接触角を示し、接触角45度以下の測定点の
分布は平板電極の形状と同様のパターンとなっていた。
従って、平板電極の形状と同様のパターンで親水化され
ていることが分かった。Next, the static contact angle of the surface of the treated substrate was measured in the same manner as in Example 1. As a result, in the area irradiated with the discharge plasma, the contact angle is much lower than the contact angle of the substrate (88 degrees), and the distribution of the measurement points at the contact angle of 45 degrees or less is similar to that of the plate electrode. Was becoming.
Therefore, it was found that the pattern was hydrophilized in the same pattern as that of the plate electrode.
【0041】実施例4 図1に示したプラズマ発生装置(球電極3は直径10m
mの球形であり、厚み3mmのステンレス製で、φ1m
mの開孔3bが4個設けられている。固体誘電体5およ
び平板電極4としては、φ140mmで厚み2mmの石
英誘電体(比誘電率、4.5)に、2×10-5Torr
で銅を0.2μm厚みで、図4に示したように一辺30
mmの正方形の電極4bが4個、2mmの間隔で並べら
れたような形状に真空蒸着し、次いで、それぞれの孤立
した各電極4b間にリ−ド線を並列に銀ろう付けしたも
の。なお、図4におけるそれぞれの寸法は、A=30m
m、B=2mmである)を用い、電極間距離を3mmと
し、固体誘電体5の上に基板7としてφ140mmで厚
み50μmのポリエチレン製のフィルムを設置し、処理
容器2内の空気を10Torrまで回転ポンプ(図示せ
ず。以下同じ)で排気口11より排気した。Example 4 Plasma generator shown in FIG. 1 (sphere electrode 3 has a diameter of 10 m
m spherical shape, made of stainless steel with a thickness of 3 mm, φ1 m
Four holes 3b of m are provided. As the solid dielectric 5 and the plate electrode 4, a quartz dielectric having a diameter of 140 mm and a thickness of 2 mm (relative permittivity: 4.5) is 2 × 10 −5 Torr.
With copper 0.2 μm thick, as shown in FIG.
Vacuum deposition is performed so that four 4 mm square electrodes 4b are arranged at an interval of 2 mm, and then lead wires are brazed in parallel between each isolated electrode 4b. In addition, each dimension in FIG. 4 is A = 30 m
m, B = 2 mm), the distance between the electrodes is 3 mm, a polyethylene film having a thickness of 140 μm and a thickness of 50 μm is installed as the substrate 7 on the solid dielectric 5, and the air in the processing container 2 is adjusted to 10 Torr. The gas was exhausted from the exhaust port 11 with a rotary pump (not shown, the same applies hereinafter).
【0042】次いで、ガス流量5sccmの窒素ガスと
ガス流量995sccmのHeガスを混合したガスをガ
ス導入管9を経て穴9aより処理容器2内に導入し、7
57Torrの大気圧とした後、周波数15kHzの矩
形波を、5.5kV、34mAの電力で印加し60秒間
放置して、基板7の表面処理をした。高電圧印加にとも
なって、プラズマ発光が観察された。Next, a mixed gas of nitrogen gas having a gas flow rate of 5 sccm and He gas having a gas flow rate of 995 sccm is introduced into the processing container 2 through the hole 9a through the gas introduction pipe 9,
After setting the atmospheric pressure to 57 Torr, a rectangular wave having a frequency of 15 kHz was applied at a power of 5.5 kV and 34 mA and left for 60 seconds to surface-treat the substrate 7. Plasma emission was observed with the application of high voltage.
【0043】次に、処理後の基板の表面の静的接触角を
実施例1と同様にして測定した。その結果、放電プラズ
マが照射された領域では、基板の接触角(88度)より
も遙に低い接触角を示し、接触角45度以下の測定点の
分布は平板電極の形状と同様のパターンとなっていた。
従って、平板電極の形状と同様のパターンで親水化され
ていることが分かった。しかし、接触角が60度程度の
点が9点程存在した。Next, the static contact angle of the surface of the treated substrate was measured in the same manner as in Example 1. As a result, in the area irradiated with the discharge plasma, the contact angle is much lower than the contact angle of the substrate (88 degrees), and the distribution of the measurement points at the contact angle of 45 degrees or less is similar to that of the plate electrode. Was becoming.
Therefore, it was found that the pattern was hydrophilized in the same pattern as that of the plate electrode. However, there were about 9 points with a contact angle of about 60 degrees.
【0044】比較例1 実施例1において、平板電極4に固体誘電体5を配設し
なかったこと、プラズマ処理の圧力を762Torrの
代わりに、0.1Torrとしたことの他は、実施例1
と同様にして表面処理した。放電プラズマは、実施例1
に比較し広がった形状を示した。次に、処理後の基板の
表面を実施例1と同様に静的接触角を測定した。その結
果、放電プラズマが照射された領域では、基板の接触角
(67度)よりも遙に高い100度以上の接触角を示し
たが、接触角100度以上の測定点の分布は平板電極の
形状と同様のW字型のパターンとはならなかった。Comparative Example 1 Example 1 was repeated except that the solid dielectric 5 was not arranged on the plate electrode 4 and the plasma treatment pressure was 0.1 Torr instead of 762 Torr.
The surface was treated in the same manner as in. The discharge plasma was used in Example 1
It showed a broader shape compared to. Next, the static contact angle of the surface of the treated substrate was measured in the same manner as in Example 1. As a result, in the region irradiated with the discharge plasma, a contact angle of 100 degrees or more, which was much higher than the contact angle of the substrate (67 degrees), was shown. It did not have a W-shaped pattern similar to the shape.
【0045】[0045]
【発明の効果】本発明の基板の表面処理方法の構成は上
述の通りであり、基板の一部だけを部分的にプラズマに
よって表面処理して、所望のパターン状にプラズマ表面
処理を行うための、簡便な方法を提供する。また、従来
の低圧グロー放電プラズマによるプラスチック等の表面
処理方法にくらべて、特別な真空形成のための装置・設
備が必要でなく、しかも、そのための特別な操作も不必
要であり、コスト低下効果に優れ、かつ、取扱が容易で
ある。従って、プラスチック、金属、セラミック等の接
着や塗装分野等に利用され得、その波及効果は大きい。The structure of the surface treatment method for a substrate of the present invention is as described above, and is for performing a plasma surface treatment in a desired pattern by partially surface-treating only a part of the substrate with plasma. , Provides a simple method. In addition, compared to the conventional method of surface treatment of plastic etc. by low-pressure glow discharge plasma, no special equipment and facilities for vacuum formation are required, and no special operation for that is required, resulting in cost reduction effect. It is excellent and easy to handle. Therefore, it can be used for adhesion of plastics, metals, ceramics, etc., coating fields, etc., and its ripple effect is great.
【図1】図1は、本発明の表面処理方法に使用されるプ
ラズマ発生装置の一例を示す模式的な断面図である。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an example of a plasma generator used in a surface treatment method of the present invention.
【図2】図2は、実施例で使用した平板電極の形状を示
す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing the shape of a plate electrode used in Examples.
【図3】図3は、実施例で使用した平板電極の形状を示
す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing the shape of a plate electrode used in Examples.
【図4】図4は、実施例で使用した平板電極の並べ方を
示す平面図である。FIG. 4 is a plan view showing how to arrange the plate electrodes used in the examples.
1 電源部 2 処理容器 2a 上面 2b 底面 2c 側面 2d 絶縁体 3 球電極 3a ガスの通路 3b 開孔 4 平板電極 5 固体誘電体 6 プラズマ処理部 7 基板 8 反応ガス導入管 9 不活性ガス導入管 9a 穴 10 ガス出口 11 排気口 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Power supply part 2 Processing container 2a Upper surface 2b Bottom surface 2c Side surface 2d Insulator 3 Ball electrode 3a Gas passage 3b Open hole 4 Plate electrode 5 Solid dielectric 6 Plasma processing part 7 Substrate 8 Reactive gas introduction pipe 9 Inert gas introduction pipe 9a Hole 10 gas outlet 11 exhaust port
Claims (1)
向して配置され、平板電極は所望の表面処理パターンに
一致する形状とされ、球電極の直径が平板電極よりも小
さくされ、少なくとも一方の電極の他の電極に対向する
面が固体誘電体によって完全に覆われている電極間に基
板を設置し、反応ガスと不活性ガスとの混合ガスの大気
圧近傍の圧力下で、電極に電圧を印加し放電プラズマを
発生させ、そのプラズマ中の励起された活性種を基板表
面に接触させて、平板電極形状と同様のパターンで基板
を表面処理することを特徴とする基板の表面処理方法。1. A metallic spherical electrode and a flat plate electrode are arranged to face each other, the flat plate electrode has a shape corresponding to a desired surface treatment pattern, and the spherical electrode has a diameter smaller than that of the flat plate electrode. The substrate is placed between the electrodes whose surface facing the other electrode is completely covered by the solid dielectric, and the electrodes are placed under the pressure near the atmospheric pressure of the mixed gas of the reaction gas and the inert gas. A surface treatment method for a substrate, characterized in that a discharge plasma is generated by applying a voltage, the activated species in the plasma are brought into contact with the substrate surface, and the substrate is surface-treated in a pattern similar to a plate electrode shape. .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19314694A JPH0860372A (en) | 1994-08-17 | 1994-08-17 | Substrate surface treatment method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19314694A JPH0860372A (en) | 1994-08-17 | 1994-08-17 | Substrate surface treatment method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0860372A true JPH0860372A (en) | 1996-03-05 |
Family
ID=16303057
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19314694A Pending JPH0860372A (en) | 1994-08-17 | 1994-08-17 | Substrate surface treatment method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0860372A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013151587A (en) * | 2012-01-24 | 2013-08-08 | Toyota Gakuen | Film formation method and cutter material obtained by the film formation method |
| JP5626441B1 (en) * | 2013-07-30 | 2014-11-19 | 大日本印刷株式会社 | Method for producing water / oil repellent member and water / oil repellent member |
-
1994
- 1994-08-17 JP JP19314694A patent/JPH0860372A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013151587A (en) * | 2012-01-24 | 2013-08-08 | Toyota Gakuen | Film formation method and cutter material obtained by the film formation method |
| JP5626441B1 (en) * | 2013-07-30 | 2014-11-19 | 大日本印刷株式会社 | Method for producing water / oil repellent member and water / oil repellent member |
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