JPH0843487A - 搬送装置 - Google Patents
搬送装置Info
- Publication number
- JPH0843487A JPH0843487A JP20013894A JP20013894A JPH0843487A JP H0843487 A JPH0843487 A JP H0843487A JP 20013894 A JP20013894 A JP 20013894A JP 20013894 A JP20013894 A JP 20013894A JP H0843487 A JPH0843487 A JP H0843487A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- suction
- main body
- inspected
- pad
- inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Specific Conveyance Elements (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 静電気による被搬送物(あるいは被検査物)
の破壊を防止し、耐久性が大きく、被搬送物(あるいは
被検査物)の姿勢に影響されずに安定して吸着、解放動
作を行うことができる。 【構成】 例えばリード端子Rを備えたデバイス10を
吸着保持してソケット部2に搬送し、搬送装置によりデ
バイス10をソケット部2に装着したままデバイス10
を検査するにあたって、吸着保持部本体40の下面にガ
イド面73を形成すると共に、ガイド面73の中央部か
ら吸引孔83を備えた金属製の吸着パッド8をガイド面
73より僅かに突出させ、吸着パッドがガイド体72に
対して圧縮バネ82の弾性力に抗して上下動可能にかつ
軸芯に対して傾倒可能な構造とする。また吸着保持部本
体40の第1部分4に加熱部63を設け、その熱が第2
部分5を介してデバイス10に伝熱するように構成す
る。
の破壊を防止し、耐久性が大きく、被搬送物(あるいは
被検査物)の姿勢に影響されずに安定して吸着、解放動
作を行うことができる。 【構成】 例えばリード端子Rを備えたデバイス10を
吸着保持してソケット部2に搬送し、搬送装置によりデ
バイス10をソケット部2に装着したままデバイス10
を検査するにあたって、吸着保持部本体40の下面にガ
イド面73を形成すると共に、ガイド面73の中央部か
ら吸引孔83を備えた金属製の吸着パッド8をガイド面
73より僅かに突出させ、吸着パッドがガイド体72に
対して圧縮バネ82の弾性力に抗して上下動可能にかつ
軸芯に対して傾倒可能な構造とする。また吸着保持部本
体40の第1部分4に加熱部63を設け、その熱が第2
部分5を介してデバイス10に伝熱するように構成す
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばパッケージング
されたデバイスを検査などのために搬送する搬送装置に
関する。
されたデバイスを検査などのために搬送する搬送装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】パッケージングされたデバイスは、電気
的特性について試験されるが、この種の検査装置として
は、デバイスの電気的特性を試験するテスタとデバイス
をハンドリングする装置とを組み合わせたシステムが用
いられている。そしてデバイスを検査する方式として
は、ソケット部にデバイスのリード端子(ピン)を装着
し、ソケット部側の電極を介してソケット部の下方のテ
ストヘッドとデバイスとを電気的に接続する方式が知ら
れている。ソケット方式の検査装置では、デバイスを搬
入側トレーから予備加熱部へ搬送して予備加熱し、次い
で供給用整列部へ一旦移載した後ソケット部へ搬送し、
ここで所定の電気的特性を試験した後収納用整列部へ一
旦移載し、その後検査結果に応じて搬出用トレーに分類
搬送するようにしている。
的特性について試験されるが、この種の検査装置として
は、デバイスの電気的特性を試験するテスタとデバイス
をハンドリングする装置とを組み合わせたシステムが用
いられている。そしてデバイスを検査する方式として
は、ソケット部にデバイスのリード端子(ピン)を装着
し、ソケット部側の電極を介してソケット部の下方のテ
ストヘッドとデバイスとを電気的に接続する方式が知ら
れている。ソケット方式の検査装置では、デバイスを搬
入側トレーから予備加熱部へ搬送して予備加熱し、次い
で供給用整列部へ一旦移載した後ソケット部へ搬送し、
ここで所定の電気的特性を試験した後収納用整列部へ一
旦移載し、その後検査結果に応じて搬出用トレーに分類
搬送するようにしている。
【0003】ここで供給用整列部からソケット部へデバ
イスを吸着して搬送する搬送装置は、X、Y、Z方向に
移動自在な移動機構を検査装置の上部に設け、この移動
機構の下方側に吸着保持部を取り付けて構成されてい
る。吸着保持部は、吸引孔が形成されたゴム製の吸着パ
ッドや金属ベローズなどを下面に備え、デバイスの上面
に密着して前記吸引孔による吸引によりデバイスを吸着
保持するように構成されており、デバイスを吸着保持し
たままソケット部に装着し試験が行われる。
イスを吸着して搬送する搬送装置は、X、Y、Z方向に
移動自在な移動機構を検査装置の上部に設け、この移動
機構の下方側に吸着保持部を取り付けて構成されてい
る。吸着保持部は、吸引孔が形成されたゴム製の吸着パ
ッドや金属ベローズなどを下面に備え、デバイスの上面
に密着して前記吸引孔による吸引によりデバイスを吸着
保持するように構成されており、デバイスを吸着保持し
たままソケット部に装着し試験が行われる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の搬
送装置において、ゴム製の吸着パッドを吸着保持部とし
て用いる場合にはデバイスのパッケージが樹脂のモール
ド体であるため、吸着パッドとパッケージとの接触によ
り静電気が発生し、デバイスが静電破壊することがあっ
たし、また吸着パッドが柔らかいため収納用整列部にて
デバイスが着地したときにデバイスの姿勢が大きく崩れ
その状態で解放されるため、デバイスの姿勢が、整列す
ることのできる許容範囲を越えてしまいその後の搬送に
支障をきたすという問題があった。
送装置において、ゴム製の吸着パッドを吸着保持部とし
て用いる場合にはデバイスのパッケージが樹脂のモール
ド体であるため、吸着パッドとパッケージとの接触によ
り静電気が発生し、デバイスが静電破壊することがあっ
たし、また吸着パッドが柔らかいため収納用整列部にて
デバイスが着地したときにデバイスの姿勢が大きく崩れ
その状態で解放されるため、デバイスの姿勢が、整列す
ることのできる許容範囲を越えてしまいその後の搬送に
支障をきたすという問題があった。
【0005】一方金属ベローズを用いた場合には、吸着
面に柔軟性がないためデバイスが傾いていると吸着でき
ずに取りそこなうことがあったし、また繰り返し使用す
ると復元力が低下し、デバイスがわずかに傾いていても
吸着面がデバイスの上面に密着しなくなるのでデバイス
の吸着失敗のおそれが大きかった。更にはデバイスを加
熱するにあたって、金属ベローズに加熱部を設け、金属
ベローズを通じてデバイスを加熱するようにしているた
め、デバイスの外形が大きくなると金属ベローズの外径
も大きくする必要があった。
面に柔軟性がないためデバイスが傾いていると吸着でき
ずに取りそこなうことがあったし、また繰り返し使用す
ると復元力が低下し、デバイスがわずかに傾いていても
吸着面がデバイスの上面に密着しなくなるのでデバイス
の吸着失敗のおそれが大きかった。更にはデバイスを加
熱するにあたって、金属ベローズに加熱部を設け、金属
ベローズを通じてデバイスを加熱するようにしているた
め、デバイスの外形が大きくなると金属ベローズの外径
も大きくする必要があった。
【0006】本発明は、このような事情のもとになされ
たものであり、その目的は静電気による被搬送物または
被検査物の破壊のおそれがなくて、耐久性が大きくしか
も被搬送物または被検査物の姿勢に影響されずに安定し
て吸着、解放動作を行うことができる搬送装置を提供す
ることにある。
たものであり、その目的は静電気による被搬送物または
被検査物の破壊のおそれがなくて、耐久性が大きくしか
も被搬送物または被検査物の姿勢に影響されずに安定し
て吸着、解放動作を行うことができる搬送装置を提供す
ることにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、被搬
送物を吸着保持して搬送する搬送装置において、下面が
被搬送物の上面をガイドするガイド面をなす吸着保持部
本体と、この吸着保持部本体内に、下限位置が規制さ
れ、下限位置にあるときには前記ガイド面より下方側に
僅かに突出し、上下動可能にかつ吸着保持部本体の軸芯
に対して傾倒可能に嵌入されると共に、吸着機能を備え
た金属製の吸着パッドと、前記吸着保持部本体及び吸着
パッド間の隙間に設けられた導電性の弾性体と、を備え
たことを特徴とする。
送物を吸着保持して搬送する搬送装置において、下面が
被搬送物の上面をガイドするガイド面をなす吸着保持部
本体と、この吸着保持部本体内に、下限位置が規制さ
れ、下限位置にあるときには前記ガイド面より下方側に
僅かに突出し、上下動可能にかつ吸着保持部本体の軸芯
に対して傾倒可能に嵌入されると共に、吸着機能を備え
た金属製の吸着パッドと、前記吸着保持部本体及び吸着
パッド間の隙間に設けられた導電性の弾性体と、を備え
たことを特徴とする。
【0008】請求項2の発明は、端子部を備えた被検査
物を吸着保持して、前記端子部が検査位置の電極に接触
する位置まで搬送し、被検査物を検査位置にて吸着保持
したまま被検査物の検査が行われる搬送装置において、
下面が被検査物の上面をガイドするガイド面をなす吸着
保持部本体と、この吸着保持部本体内に、下限位置が規
制され、下限位置にあるときには前記ガイド面より下方
側に僅かに突出し、上下動可能にかつ吸着保持部本体の
軸芯に対して傾倒可能に嵌入されると共に、吸着機能を
備えた金属製の吸着パッドと、前記吸着保持部本体及び
吸着パッド間の隙間に設けられた導電性の弾性体と、を
備え、前記吸着パッドが被検査物を吸着したときに、ガ
イド面が被検査物の上面に接触する位置まで吸着パッド
が後退することを特徴とする。ことを特徴とする。
物を吸着保持して、前記端子部が検査位置の電極に接触
する位置まで搬送し、被検査物を検査位置にて吸着保持
したまま被検査物の検査が行われる搬送装置において、
下面が被検査物の上面をガイドするガイド面をなす吸着
保持部本体と、この吸着保持部本体内に、下限位置が規
制され、下限位置にあるときには前記ガイド面より下方
側に僅かに突出し、上下動可能にかつ吸着保持部本体の
軸芯に対して傾倒可能に嵌入されると共に、吸着機能を
備えた金属製の吸着パッドと、前記吸着保持部本体及び
吸着パッド間の隙間に設けられた導電性の弾性体と、を
備え、前記吸着パッドが被検査物を吸着したときに、ガ
イド面が被検査物の上面に接触する位置まで吸着パッド
が後退することを特徴とする。ことを特徴とする。
【0009】請求項3の発明は、請求項2記載の発明に
おいて、被検査物の端子部はリード端子であり、吸着保
持部本体は、吸着保持した被検査物のリード端子をガイ
ドするガイド部を備えていることを特徴とする。請求項
4の発明は、請求項2または3記載の発明において、吸
着保持部本体内に加熱部を設け、この加熱部よりの熱を
前記吸着保持部本体を介して被検査物に伝熱する構造と
したことを特徴とする。
おいて、被検査物の端子部はリード端子であり、吸着保
持部本体は、吸着保持した被検査物のリード端子をガイ
ドするガイド部を備えていることを特徴とする。請求項
4の発明は、請求項2または3記載の発明において、吸
着保持部本体内に加熱部を設け、この加熱部よりの熱を
前記吸着保持部本体を介して被検査物に伝熱する構造と
したことを特徴とする。
【0010】請求項5の発明は、請求項1、2、3また
は4記載の発明において、吸着保持部本体は、上部側の
第1部分と、この下面が被検査物の上面をガイドするガ
イド面をなし、前記第1部分の下部側に位置する第2部
分とに分割され、前記第2部分は第1部分に対し、軸芯
方向及び軸芯に直交する方向に僅かな遊びをもって嵌合
された状態で連結されると共に、前記第1部分が第2部
分を相対的に押圧していないときにはこれらの相対位置
を所定の位置に復帰させるために第1部分及び第2部分
間に弾性体を介装したことを特徴とする。
は4記載の発明において、吸着保持部本体は、上部側の
第1部分と、この下面が被検査物の上面をガイドするガ
イド面をなし、前記第1部分の下部側に位置する第2部
分とに分割され、前記第2部分は第1部分に対し、軸芯
方向及び軸芯に直交する方向に僅かな遊びをもって嵌合
された状態で連結されると共に、前記第1部分が第2部
分を相対的に押圧していないときにはこれらの相対位置
を所定の位置に復帰させるために第1部分及び第2部分
間に弾性体を介装したことを特徴とする。
【0011】請求項6の発明は、請求項1、2、3、4
または5記載の発明において、ガイド面の周縁部には被
検査物の上縁部をガイドする段部が形成されていること
を特徴とする。請求項7の発明は、請求項1、2、3、
4、5または6記載の発明において、吸着パッドは吸着
面に開口する吸引孔を備えていることを特徴とする。
または5記載の発明において、ガイド面の周縁部には被
検査物の上縁部をガイドする段部が形成されていること
を特徴とする。請求項7の発明は、請求項1、2、3、
4、5または6記載の発明において、吸着パッドは吸着
面に開口する吸引孔を備えていることを特徴とする。
【0012】
【作用】請求項1の発明では、吸着パッドが被搬送物の
上面に接触し、このとき被搬送物が吸着パッドの吸着面
に対して傾いている場合吸着パッドが弾性体の弾性力に
抗して被搬送物の上面に沿って傾き、当該上面に密着す
る。請求項2の発明では吸着パッドが被検査物を吸着保
持して検査位置例えばソケット部まで搬送し、吸着保持
部本体は被検査物を検査位置に対して押圧する。これに
より被検査物の例えばリード端子が電極と確実に接触
し、電気的測定が行われる。
上面に接触し、このとき被搬送物が吸着パッドの吸着面
に対して傾いている場合吸着パッドが弾性体の弾性力に
抗して被搬送物の上面に沿って傾き、当該上面に密着す
る。請求項2の発明では吸着パッドが被検査物を吸着保
持して検査位置例えばソケット部まで搬送し、吸着保持
部本体は被検査物を検査位置に対して押圧する。これに
より被検査物の例えばリード端子が電極と確実に接触
し、電気的測定が行われる。
【0013】このような吸着パッドを用いることにより
被搬送物あるいは被検査物の姿勢にかかわらず確実に吸
着することができ、静電気による破壊も起こらない。ま
た吸着解放時も吸着パッドが硬いため常に一定の姿勢で
解放される。そして請求項5の発明のように第1部分及
び第2部分が相対的に微少量動くようにすれば移動機構
の位置精度を緩和することができる。更に被検査物の加
熱を行う場合ガイド面を介して加熱することにより被検
査物の外形によらず安定した加熱が行える。
被搬送物あるいは被検査物の姿勢にかかわらず確実に吸
着することができ、静電気による破壊も起こらない。ま
た吸着解放時も吸着パッドが硬いため常に一定の姿勢で
解放される。そして請求項5の発明のように第1部分及
び第2部分が相対的に微少量動くようにすれば移動機構
の位置精度を緩和することができる。更に被検査物の加
熱を行う場合ガイド面を介して加熱することにより被検
査物の外形によらず安定した加熱が行える。
【0014】
【実施例】以下に本発明を、半導体集積回路チップをパ
ッケージングしてなるデバイスの検査装置に適用した一
例について述べる。図1はデバイスの検査装置の全体構
成を示す図であり、本発明の実施例に係る搬送装置を説
明する前に検査装置の概要について簡単に述べると、装
置の正面側(図1では裏側)には4個のトレー載置部1
A〜1DがX方向に沿って配置されている。ただし実際
には各トレー載置部1A〜1Dには複数のトレーが載置
されている。
ッケージングしてなるデバイスの検査装置に適用した一
例について述べる。図1はデバイスの検査装置の全体構
成を示す図であり、本発明の実施例に係る搬送装置を説
明する前に検査装置の概要について簡単に述べると、装
置の正面側(図1では裏側)には4個のトレー載置部1
A〜1DがX方向に沿って配置されている。ただし実際
には各トレー載置部1A〜1Dには複数のトレーが載置
されている。
【0015】前記トレー載置部1A、1Bの奥側にはこ
れらに対向して予備加熱板11が設けられ、予備加熱板
11の横には、供給用整列部12及び収納用整列部13
が一体的にXレール14にガイドされつつ図示しない駆
動機構に移動されるようになっている。なおトレーT及
び予備加熱板11には夫々デバイス10を収納する凹部
Ta、11aが形成されており、前記整列部12、13
は、凹部15を備えていて、この中にデバイス10が入
れられると自動的に水平姿勢で所定の向きにアライメン
ト(位置合わせ)された状態に置かれることになる。
れらに対向して予備加熱板11が設けられ、予備加熱板
11の横には、供給用整列部12及び収納用整列部13
が一体的にXレール14にガイドされつつ図示しない駆
動機構に移動されるようになっている。なおトレーT及
び予備加熱板11には夫々デバイス10を収納する凹部
Ta、11aが形成されており、前記整列部12、13
は、凹部15を備えていて、この中にデバイス10が入
れられると自動的に水平姿勢で所定の向きにアライメン
ト(位置合わせ)された状態に置かれることになる。
【0016】トレー載置部1A上のトレーT内のデバイ
ス10は、4個の吸着保持部16aを備えたローダ16
により4個同時に予備加熱板11に移載されて予備加熱
され、次いで供給整列部12に搬送される。前記整列部
12、13の移動領域からトレー載置部1A〜1Dとは
反対側のY方向に離れた検査位置には、リング状の保持
体20に保持され、電極21を備えたソケット部2が設
けられると共に(図1、図2参照)、デバイス10を上
面から保持し、このソケット部2と整列部12、13と
の間で搬送する本発明の実施例である搬送装置3が設け
られている。前記ソケット部2は、デバイス10のリー
ド端子Rが接触してその下方のテストヘッド(図示せ
ず)にリード端子Rを電気的に接続する役割を有するも
のである。検査後のデバイス10は収納用整列部13に
搬送された後、前記ローダ16と同様に4個の吸着保持
部17aを備えたアンローダ17により検査結果に応じ
てトレー載置部1C、1D上のトレーTに分類して搬送
される。
ス10は、4個の吸着保持部16aを備えたローダ16
により4個同時に予備加熱板11に移載されて予備加熱
され、次いで供給整列部12に搬送される。前記整列部
12、13の移動領域からトレー載置部1A〜1Dとは
反対側のY方向に離れた検査位置には、リング状の保持
体20に保持され、電極21を備えたソケット部2が設
けられると共に(図1、図2参照)、デバイス10を上
面から保持し、このソケット部2と整列部12、13と
の間で搬送する本発明の実施例である搬送装置3が設け
られている。前記ソケット部2は、デバイス10のリー
ド端子Rが接触してその下方のテストヘッド(図示せ
ず)にリード端子Rを電気的に接続する役割を有するも
のである。検査後のデバイス10は収納用整列部13に
搬送された後、前記ローダ16と同様に4個の吸着保持
部17aを備えたアンローダ17により検査結果に応じ
てトレー載置部1C、1D上のトレーTに分類して搬送
される。
【0017】次に本発明の実施例である搬送装置3につ
いて詳述すると、この搬送装置は図示しないX−Y移動
機構により各々独立してX、Y方向に移動可能な搬送部
3A、3Bを有し、各搬送部3A、3Bは2個同時にデ
バイス10を吸着保持し、かつ昇降させることができる
ように構成されている。即ち図2は搬送部3A(3B)
の概観を示す図であり、31は、図示しないX−Y移動
機構に設けられたシリンダ取り付け板である。このシリ
ンダ取り付け板31には、夫々ピストン部30が貫通さ
れている2本のエアシリンダ32、32が固定され、こ
のピストン部30の下端には、図3、図4に示すように
下端部にフランジ41が形成された、吸着保持部本体4
0の上側部分である筒状の第1部分4が設けられてい
る。
いて詳述すると、この搬送装置は図示しないX−Y移動
機構により各々独立してX、Y方向に移動可能な搬送部
3A、3Bを有し、各搬送部3A、3Bは2個同時にデ
バイス10を吸着保持し、かつ昇降させることができる
ように構成されている。即ち図2は搬送部3A(3B)
の概観を示す図であり、31は、図示しないX−Y移動
機構に設けられたシリンダ取り付け板である。このシリ
ンダ取り付け板31には、夫々ピストン部30が貫通さ
れている2本のエアシリンダ32、32が固定され、こ
のピストン部30の下端には、図3、図4に示すように
下端部にフランジ41が形成された、吸着保持部本体4
0の上側部分である筒状の第1部分4が設けられてい
る。
【0018】シリンダ取り付け板31は、図示しないが
鉛直方向に伸縮する引張りバネを介して、搬送部3A
(3B)の一部31bに固定された固定板31aに結合
されており、図示しない押圧手段によりピストン30の
ヘッドが押圧されたときに固定板31aに対して引張り
バネに抗して押し下げられるように構成されている。
鉛直方向に伸縮する引張りバネを介して、搬送部3A
(3B)の一部31bに固定された固定板31aに結合
されており、図示しない押圧手段によりピストン30の
ヘッドが押圧されたときに固定板31aに対して引張り
バネに抗して押し下げられるように構成されている。
【0019】この第1部分4には、軸芯方向及び軸芯に
直交する方向に僅かな遊びをもって嵌合された状態で、
吸着保持部本体40の下側部分である第2部分5が連結
されている。即ち第2部分5は、前記フランジ41が嵌
入される凹部51が形成された受け部52と、前記凹部
51の開口縁を塞いでフランジ41が抜けないようにす
るための蓋部53とを有している。
直交する方向に僅かな遊びをもって嵌合された状態で、
吸着保持部本体40の下側部分である第2部分5が連結
されている。即ち第2部分5は、前記フランジ41が嵌
入される凹部51が形成された受け部52と、前記凹部
51の開口縁を塞いでフランジ41が抜けないようにす
るための蓋部53とを有している。
【0020】前記凹部51の口径はフランジ41の外径
よりも例えば0.15mm大きく設定され、深さはフラ
ンジ41の高さよりも例えば0.2mm大きく設定され
ている。また前記凹部51の側壁部には、直径方向に互
いに対向する位置(2ヶ所)に図5に示すように上部が
V字形の溝54が形成される一方、フランジ41の側周
面には、前記溝54内に突出し、その溝幅よりも僅かに
小さい直径の円柱状のピン42が設けられている。この
ピン42の径は、第1部分4が第2部分5に対して例え
ば±1度回転できる大きさに設定されている。
よりも例えば0.15mm大きく設定され、深さはフラ
ンジ41の高さよりも例えば0.2mm大きく設定され
ている。また前記凹部51の側壁部には、直径方向に互
いに対向する位置(2ヶ所)に図5に示すように上部が
V字形の溝54が形成される一方、フランジ41の側周
面には、前記溝54内に突出し、その溝幅よりも僅かに
小さい直径の円柱状のピン42が設けられている。この
ピン42の径は、第1部分4が第2部分5に対して例え
ば±1度回転できる大きさに設定されている。
【0021】前記受け部52とフランジ41との間に
は、フランジ41の底面の周方向4等分の位置にて弾性
体例えば圧縮バネ61が介装されており、第1部分4及
び第2部分5が相対的に押圧されていないときには圧縮
バネ61の復元力により図6(a)に示すようにピン4
2が溝54のV字形の上部に係入して、第2部分5が第
1部分4に対して規定位置に置かれる一方、両者が相対
的に押圧されたときには、受け部52が浮上して既述し
た隙間の範囲で図6(b)に示すように第1部分4が第
2部分5に対して揺動できることとなる。
は、フランジ41の底面の周方向4等分の位置にて弾性
体例えば圧縮バネ61が介装されており、第1部分4及
び第2部分5が相対的に押圧されていないときには圧縮
バネ61の復元力により図6(a)に示すようにピン4
2が溝54のV字形の上部に係入して、第2部分5が第
1部分4に対して規定位置に置かれる一方、両者が相対
的に押圧されたときには、受け部52が浮上して既述し
た隙間の範囲で図6(b)に示すように第1部分4が第
2部分5に対して揺動できることとなる。
【0022】前記受け部52の下部側には、外周面にネ
ジ部を有する小径部62が形成され、この小径部62の
中には例えば抵抗発熱体よりなる加熱部63が設けられ
ている。小径部62は下端に角形の突起部64が形成さ
れており、この突起部64には中間リング65が密に外
嵌されている。そして小径部62の周面には取り付けリ
ング66が螺合しており、中間リング65の上部のフラ
ンジが取り付けリング66の下部の突縁部により小径部
62に押し付けられている。
ジ部を有する小径部62が形成され、この小径部62の
中には例えば抵抗発熱体よりなる加熱部63が設けられ
ている。小径部62は下端に角形の突起部64が形成さ
れており、この突起部64には中間リング65が密に外
嵌されている。そして小径部62の周面には取り付けリ
ング66が螺合しており、中間リング65の上部のフラ
ンジが取り付けリング66の下部の突縁部により小径部
62に押し付けられている。
【0023】前記中間リング65の下部側には、中央に
軸方向に貫通孔71が形成された角形のガイドブロック
72が固定されており、このガイドブロック72におけ
る貫通孔71を囲む下面は、デバイス10の上面をガイ
ドするガイド面73を形成すると共に、ガイド面73の
周縁にはデバイス10の上縁部をガイドする段部74が
形成されている。前記貫通孔71内には、中間リング6
5の小径部67が嵌入されると共に、小径部67の下方
側には、金属製例えばステンレスよりなる円柱状の吸着
パッド8が小径部67との間に例えば0.3mm程度の
隙間を介して上下動自在に貫通孔71内に嵌入されてい
る。
軸方向に貫通孔71が形成された角形のガイドブロック
72が固定されており、このガイドブロック72におけ
る貫通孔71を囲む下面は、デバイス10の上面をガイ
ドするガイド面73を形成すると共に、ガイド面73の
周縁にはデバイス10の上縁部をガイドする段部74が
形成されている。前記貫通孔71内には、中間リング6
5の小径部67が嵌入されると共に、小径部67の下方
側には、金属製例えばステンレスよりなる円柱状の吸着
パッド8が小径部67との間に例えば0.3mm程度の
隙間を介して上下動自在に貫通孔71内に嵌入されてい
る。
【0024】吸着パッド8の上端部にはフランジ81が
形成されており、このフランジ81が貫通孔71内壁の
段部に係合し、これにより吸着パッド8の下限位置が規
制されると共に、吸着パッド8の外周面と貫通孔71の
内壁との間にも僅かに隙間が形成され、吸着パッド8が
軸芯(吸着保持部本体40の長手方向の軸)に対して傾
倒できるようになっている。吸着パッド8は下限位置に
あるときには前記ガイド面72より僅かに例えば0.2
mm下方に突出している。また吸着パッド8と前記小径
部67との間には弾性体である圧縮バネ82が例えば周
方向に4等分した位置に夫々介装されている。図3中O
1、O2はOリングである。
形成されており、このフランジ81が貫通孔71内壁の
段部に係合し、これにより吸着パッド8の下限位置が規
制されると共に、吸着パッド8の外周面と貫通孔71の
内壁との間にも僅かに隙間が形成され、吸着パッド8が
軸芯(吸着保持部本体40の長手方向の軸)に対して傾
倒できるようになっている。吸着パッド8は下限位置に
あるときには前記ガイド面72より僅かに例えば0.2
mm下方に突出している。また吸着パッド8と前記小径
部67との間には弾性体である圧縮バネ82が例えば周
方向に4等分した位置に夫々介装されている。図3中O
1、O2はOリングである。
【0025】前記ガイドブロックの下面側には、前記段
部74を囲むようにデバイス10のリード端子Rのガイ
ド部75をなす突条部が形成されており、ガイド部75
はリード端子Rの先端部に当接して、リード端子Rがソ
ケット部2に接触したときにその位置ずれを防止する役
割をもっている。前記吸着パッド8から受け部52に亘
って吸着保持部本体40の軸芯位置にて吸引孔83が形
成されており、その下端は吸着パッド8の下面に開口す
ると共に上端は吸引管84に連通している。吸引管84
は図示しない真空ポンプに接続され、吸着パッド8がデ
バイス10を真空吸着するようになっている。
部74を囲むようにデバイス10のリード端子Rのガイ
ド部75をなす突条部が形成されており、ガイド部75
はリード端子Rの先端部に当接して、リード端子Rがソ
ケット部2に接触したときにその位置ずれを防止する役
割をもっている。前記吸着パッド8から受け部52に亘
って吸着保持部本体40の軸芯位置にて吸引孔83が形
成されており、その下端は吸着パッド8の下面に開口す
ると共に上端は吸引管84に連通している。吸引管84
は図示しない真空ポンプに接続され、吸着パッド8がデ
バイス10を真空吸着するようになっている。
【0026】次に上述の搬送装置の作用について述べ
る。先ず図1にて既述したように搬送部3A(3B)が
検査装置の天井部の図示しない移動機構により供給用整
列部12内のデバイス10を吸着保持する。この動作は
吸着保持部本体40が降下して吸着パッド8がデバイス
10の上面に密接し、吸引孔83を通じて真空引きによ
りデバイス10の上面が吸着パッド8に真空吸着され
る。この時吸着パッド8も圧縮バネ82の弾性力に抗し
て吸引されデバイス10の上面がガイド面73と面一に
なる位置まで後退する。この場合加熱部63の熱が中間
リング65及びガイド体72を介してデバイス10に伝
熱され、デバイス10が加熱される。その後搬送部3A
(3B)がソケット部2の上まで移動し、エアシリンダ
32(図2参照)により吸着保持部本体40が降下して
デバイス10が図3の鎖線の如くソケット部2の受け台
22の上に載せられる。
る。先ず図1にて既述したように搬送部3A(3B)が
検査装置の天井部の図示しない移動機構により供給用整
列部12内のデバイス10を吸着保持する。この動作は
吸着保持部本体40が降下して吸着パッド8がデバイス
10の上面に密接し、吸引孔83を通じて真空引きによ
りデバイス10の上面が吸着パッド8に真空吸着され
る。この時吸着パッド8も圧縮バネ82の弾性力に抗し
て吸引されデバイス10の上面がガイド面73と面一に
なる位置まで後退する。この場合加熱部63の熱が中間
リング65及びガイド体72を介してデバイス10に伝
熱され、デバイス10が加熱される。その後搬送部3A
(3B)がソケット部2の上まで移動し、エアシリンダ
32(図2参照)により吸着保持部本体40が降下して
デバイス10が図3の鎖線の如くソケット部2の受け台
22の上に載せられる。
【0027】そして例えば図示しない押圧手段によりピ
ストン部30の上端を押圧し、これにより吸着保持部本
体40が吸着パッド8を介してデバイス10をソケット
2側に押圧する。この結果リード端子Rの先端がソケッ
ト部2の電極21に押し付けられて電気的接触がとられ
る。これによってデバイス10がソケット部2を介して
図示しないテストヘッドと電気的に接続され、この状態
でつまり搬送部3A(3B)によりデバイス10をソケ
ット部2に装着したまま電気的測定が行われてデバイス
10の良否が検査される。
ストン部30の上端を押圧し、これにより吸着保持部本
体40が吸着パッド8を介してデバイス10をソケット
2側に押圧する。この結果リード端子Rの先端がソケッ
ト部2の電極21に押し付けられて電気的接触がとられ
る。これによってデバイス10がソケット部2を介して
図示しないテストヘッドと電気的に接続され、この状態
でつまり搬送部3A(3B)によりデバイス10をソケ
ット部2に装着したまま電気的測定が行われてデバイス
10の良否が検査される。
【0028】続いて吸着保持部本体40は押圧が解除さ
れた後上昇し、搬送部3A(3B)が収納用整列部13
の上方まで移動し、吸着保持部本体40が降下して真空
吸着を解除し、デバイス10が収納用整列部13内に受
け渡される。ただし実際には搬送部3A(3B)はデバ
イス10を2個保持しているので、順次ソケット部2に
て検査を行った後収納用整列部13に搬送される。
れた後上昇し、搬送部3A(3B)が収納用整列部13
の上方まで移動し、吸着保持部本体40が降下して真空
吸着を解除し、デバイス10が収納用整列部13内に受
け渡される。ただし実際には搬送部3A(3B)はデバ
イス10を2個保持しているので、順次ソケット部2に
て検査を行った後収納用整列部13に搬送される。
【0029】上述実施例によれば、デバイス10が多少
傾いていても吸着パッド8がデバイス10の上面に沿っ
て傾き、密着するため安定して吸着することができ、ま
た吸着パッド8自体は変形しないため吸着解放時にもデ
バイス10の姿勢が安定し、このため次の搬送工程即ち
アンローダ17による吸着保持工程も安定して行われ
る。そしてデバイス10のソケット部2への装着時に
は、ガイド面73、段部74により夫々デバイスの上
面、上縁部がガイドされると共にリード端子Rもガイド
部75をなす突条部によりガイドされているので、デバ
イス10は水平姿勢かつ所定の向きで受け台22の上に
載せられ各リード端子Rが確実に、対応する電極21に
接触する。
傾いていても吸着パッド8がデバイス10の上面に沿っ
て傾き、密着するため安定して吸着することができ、ま
た吸着パッド8自体は変形しないため吸着解放時にもデ
バイス10の姿勢が安定し、このため次の搬送工程即ち
アンローダ17による吸着保持工程も安定して行われ
る。そしてデバイス10のソケット部2への装着時に
は、ガイド面73、段部74により夫々デバイスの上
面、上縁部がガイドされると共にリード端子Rもガイド
部75をなす突条部によりガイドされているので、デバ
イス10は水平姿勢かつ所定の向きで受け台22の上に
載せられ各リード端子Rが確実に、対応する電極21に
接触する。
【0030】更に吸着パッド8は金属製であるから静電
気によるデバイス10の破壊のおそれもないし、耐久性
も大きい。また加熱部63から中間リング65及びガイ
ド体72を介して伝熱された熱によりデバイス10が加
熱されるので、デバイス10の外形が変わっても吸着パ
ッド8の径を変更することなく安定した加熱を行うこと
ができる。なおデバイス10の外形が変わる場合、受け
部52よりも下側の部分を交換するので、加熱部63は
交換されずに各サイズのデバイスに対して共通であり、
従ってデバイス10の温度測定データは初めに得ておけ
ばデバイス10の外形の変更の度にとらなくて済む。
気によるデバイス10の破壊のおそれもないし、耐久性
も大きい。また加熱部63から中間リング65及びガイ
ド体72を介して伝熱された熱によりデバイス10が加
熱されるので、デバイス10の外形が変わっても吸着パ
ッド8の径を変更することなく安定した加熱を行うこと
ができる。なおデバイス10の外形が変わる場合、受け
部52よりも下側の部分を交換するので、加熱部63は
交換されずに各サイズのデバイスに対して共通であり、
従ってデバイス10の温度測定データは初めに得ておけ
ばデバイス10の外形の変更の度にとらなくて済む。
【0031】また供給用整列部12、ソケット部2及び
収納用整列部13におけるデバイス10の受け取り位
置、解放位置は高い精度が要求され、このため搬送部3
A(3B)を正確にX、Y方向に移動制御しなければな
らないが、吸着保持部本体40を第1部分4及び第2部
分5に分割し、これらが相対的に僅かに揺動できかつ回
転できるように連結されているので、移動機構側とデバ
イスのアクセス位置との間で位置ずれが生じてもその位
置ずれを第1部分4と第2部分5との間の隙間で吸収さ
れるから、移動機構のX、Yガイド部の加工精度や停止
位置の精度を緩和することができる。
収納用整列部13におけるデバイス10の受け取り位
置、解放位置は高い精度が要求され、このため搬送部3
A(3B)を正確にX、Y方向に移動制御しなければな
らないが、吸着保持部本体40を第1部分4及び第2部
分5に分割し、これらが相対的に僅かに揺動できかつ回
転できるように連結されているので、移動機構側とデバ
イスのアクセス位置との間で位置ずれが生じてもその位
置ずれを第1部分4と第2部分5との間の隙間で吸収さ
れるから、移動機構のX、Yガイド部の加工精度や停止
位置の精度を緩和することができる。
【0032】以上において吸着保持部本体40を押圧し
てデバイス10をソケット部2に確実に接触させる押圧
手段としては、搬送部3A(3B)とは別個のものであ
ってもよいし、搬送部3A(3B)に組込んだものであ
ってもよい。また吸着保持部本体40からデバイス10
を吸着解除して吸着保持部本体40をソケット部2から
退避させ、別個の押圧手段でデバイス10を押圧しても
よい。なお被検査物としては半導体集積回路をパッケー
ジングしたデバイスに限定されず、液晶基板であっても
よいし、また搬送装置は被検査物の検査に限らずその他
の被搬送物を搬送するものに適用できる。
てデバイス10をソケット部2に確実に接触させる押圧
手段としては、搬送部3A(3B)とは別個のものであ
ってもよいし、搬送部3A(3B)に組込んだものであ
ってもよい。また吸着保持部本体40からデバイス10
を吸着解除して吸着保持部本体40をソケット部2から
退避させ、別個の押圧手段でデバイス10を押圧しても
よい。なお被検査物としては半導体集積回路をパッケー
ジングしたデバイスに限定されず、液晶基板であっても
よいし、また搬送装置は被検査物の検査に限らずその他
の被搬送物を搬送するものに適用できる。
【0033】
【発明の効果】本発明によれば、静電気による被搬送物
あるいは被検査物の破壊のおそれがなくて、耐久性が大
きく、しかも被搬送物あるいは被検査物の姿勢に大きく
影響されずに安定して吸着、解放動作を行うことができ
る。また請求項4のように加熱部よりの熱を吸着保持部
本体を介して被検査物に伝熱させるように構成すれば、
被検査物の外形にかかわらず安定して被検査物を加熱す
ることができる。更に請求項5のように吸着保持部本体
を第1部分と第2部分とに分割して互いに揺動、回転で
きるようにすれば、搬送装置の移動制御の精度を緩和す
ることができ、製作上有利である。
あるいは被検査物の破壊のおそれがなくて、耐久性が大
きく、しかも被搬送物あるいは被検査物の姿勢に大きく
影響されずに安定して吸着、解放動作を行うことができ
る。また請求項4のように加熱部よりの熱を吸着保持部
本体を介して被検査物に伝熱させるように構成すれば、
被検査物の外形にかかわらず安定して被検査物を加熱す
ることができる。更に請求項5のように吸着保持部本体
を第1部分と第2部分とに分割して互いに揺動、回転で
きるようにすれば、搬送装置の移動制御の精度を緩和す
ることができ、製作上有利である。
【図1】本発明の実施例を適用したデバイスの検査装置
の全体を示す概略斜視図である。
の全体を示す概略斜視図である。
【図2】本発明の実施例の搬送装置の搬送部の外観を示
す斜視図である。
す斜視図である。
【図3】吸着保持部本体及びソケット部を示す断面図で
ある。
ある。
【図4】吸着保持部本体を示す分解斜視図である。
【図5】吸着保持部本体の第1部分及び第2部分の嵌合
部分の一部を示す斜視図である。
部分の一部を示す斜視図である。
【図6】吸着保持部本体の第1部分が第2部分に対して
規定位置にあるときのピン42の位置及び揺動可能状態
にあるときのピン42の位置を示す説明図である。
規定位置にあるときのピン42の位置及び揺動可能状態
にあるときのピン42の位置を示す説明図である。
10 デバイス 2 ソケット部 21 電極 100 搬送装置 3A、3B 搬送部 40 吸着保持部本体 4 第1部分 5 第2部分 41 フランジ 42 ピン 61 圧縮バネ 65 中間リング 72 ガイド体 73 ガイド面 74 段部 8 吸着パッド 82 圧縮バネ 83 吸引孔
Claims (7)
- 【請求項1】 被搬送物を吸着保持して搬送する搬送装
置において、 下面が被搬送物の上面をガイドするガイド面をなす吸着
保持部本体と、 この吸着保持部本体内に、下限位置が規制され、下限位
置にあるときには前記ガイド面より下方側に僅かに突出
し、上下動可能にかつ吸着保持部本体の軸芯に対して傾
倒可能に嵌入されると共に、吸着機能を備えた金属製の
吸着パッドと、 前記吸着保持部本体及び吸着パッド間の隙間に設けられ
た導電性の弾性体と、を備えたことを特徴とする搬送装
置。 - 【請求項2】 端子部を備えた被検査物を吸着保持し
て、前記端子部が検査位置の電極に接触する位置まで搬
送し、被検査物を検査位置にて吸着保持したまま被検査
物の検査が行われる搬送装置において、 下面が被検査物の上面をガイドするガイド面をなす吸着
保持部本体と、 この吸着保持部本体内に、下限位置が規制され、下限位
置にあるときには前記ガイド面より下方側に僅かに突出
し、上下動可能にかつ吸着保持部本体の軸芯に対して傾
倒可能に嵌入されると共に、吸着機能を備えた金属製の
吸着パッドと、前記吸着保持部本体及び吸着パッド間の
隙間に設けられた導電性の弾性体と、を備え、 前記吸着パッドが被検査物を吸着したときに、ガイド面
が被検査物の上面に接触する位置まで吸着パッドが後退
することを特徴とする搬送装置。 - 【請求項3】 被検査物の端子部はリード端子であり、
吸着保持部本体は、吸着保持した被検査物のリード端子
をガイドするガイド部を備えていることを特徴とする請
求項2記載の搬送装置。 - 【請求項4】 吸着保持部本体内に加熱部を設け、この
加熱部よりの熱を前記吸着保持部本体を介して被検査物
に伝熱する構造としたことを特徴とする請求項2または
3記載の搬送装置。 - 【請求項5】 吸着保持部本体は、上部側の第1部分
と、この下面が被検査物の上面をガイドするガイド面を
なし、前記第1部分の下部側に位置する第2部分とに分
割され、 前記第2部分は第1部分に対し、軸芯方向及び軸芯に直
交する方向に僅かな遊びをもって嵌合された状態で連結
されると共に、前記第1部分が第2部分を相対的に押圧
していないときにはこれらの相対位置を所定の位置に復
帰させるために第1部分及び第2部分間に弾性体を介装
したことを特徴とする請求項1、2、3または4記載の
搬送装置。 - 【請求項6】 ガイド面の周縁部には被検査物の上縁部
をガイドする段部が形成されていることを特徴とする請
求項1、2、3、4または5記載の搬送装置。 - 【請求項7】 吸着パッドは吸着面に開口する吸引孔を
備えていることを特徴とする請求項1、2、3、4、5
または6記載の搬送装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20013894A JPH0843487A (ja) | 1994-08-01 | 1994-08-01 | 搬送装置 |
| US08/509,284 US5708222A (en) | 1994-08-01 | 1995-07-31 | Inspection apparatus, transportation apparatus, and temperature control apparatus |
| KR1019950023666A KR100274310B1 (ko) | 1994-08-01 | 1995-08-01 | 검사장치, 반송장치 및 온도조절장치 |
| TW084108150A TW286364B (ja) | 1994-08-01 | 1995-08-04 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20013894A JPH0843487A (ja) | 1994-08-01 | 1994-08-01 | 搬送装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0843487A true JPH0843487A (ja) | 1996-02-16 |
Family
ID=16419430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20013894A Pending JPH0843487A (ja) | 1994-08-01 | 1994-08-01 | 搬送装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0843487A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6078185A (en) * | 1996-07-29 | 2000-06-20 | Ando Electric Co., Ltd | Apparatus for controlling insertion of an integrated circuit into a socket for testing and measurement |
| WO2007094034A1 (ja) * | 2006-02-13 | 2007-08-23 | Advantest Corporation | コンタクトプッシャ、コンタクトアーム及び電子部品試験装置 |
| JP2012055993A (ja) * | 2010-09-07 | 2012-03-22 | Denso Corp | 吸着装置および搬送装置 |
| JP2017198466A (ja) * | 2016-04-25 | 2017-11-02 | 三菱電機株式会社 | 測定装置、半導体素子の測定方法 |
| CN111204585A (zh) * | 2020-02-22 | 2020-05-29 | 珠海市奥德维科技有限公司 | 一种检测设备上料导正机构 |
| JP2024028858A (ja) * | 2017-12-19 | 2024-03-05 | ボストン セミ イクイップメント エルエルシー | キットを用いないピックアンドプレースハンドラ |
-
1994
- 1994-08-01 JP JP20013894A patent/JPH0843487A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6078185A (en) * | 1996-07-29 | 2000-06-20 | Ando Electric Co., Ltd | Apparatus for controlling insertion of an integrated circuit into a socket for testing and measurement |
| WO2007094034A1 (ja) * | 2006-02-13 | 2007-08-23 | Advantest Corporation | コンタクトプッシャ、コンタクトアーム及び電子部品試験装置 |
| JPWO2007094034A1 (ja) * | 2006-02-13 | 2009-07-02 | 株式会社アドバンテスト | コンタクトプッシャ、コンタクトアーム及び電子部品試験装置 |
| US7609052B2 (en) | 2006-02-13 | 2009-10-27 | Advantest Corporation | Contact pusher, contact arm, and electronic device handling apparatus |
| JP4537394B2 (ja) * | 2006-02-13 | 2010-09-01 | 株式会社アドバンテスト | コンタクトプッシャ、コンタクトアーム及び電子部品試験装置 |
| JP2012055993A (ja) * | 2010-09-07 | 2012-03-22 | Denso Corp | 吸着装置および搬送装置 |
| JP2017198466A (ja) * | 2016-04-25 | 2017-11-02 | 三菱電機株式会社 | 測定装置、半導体素子の測定方法 |
| JP2024028858A (ja) * | 2017-12-19 | 2024-03-05 | ボストン セミ イクイップメント エルエルシー | キットを用いないピックアンドプレースハンドラ |
| CN111204585A (zh) * | 2020-02-22 | 2020-05-29 | 珠海市奥德维科技有限公司 | 一种检测设备上料导正机构 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100274310B1 (ko) | 검사장치, 반송장치 및 온도조절장치 | |
| KR100708283B1 (ko) | 반도체 장치의 시험 장치 및 시험 방법 | |
| JP4043339B2 (ja) | 試験方法および試験装置 | |
| US20150260788A1 (en) | Wafer mounting method and wafer inspection device | |
| JP2002068471A (ja) | チップ部品の搬送装置 | |
| TWI756428B (zh) | 檢查裝置、檢查系統及位置對準方法 | |
| JP2011029456A (ja) | 半導体検査用ウエハプローバ及び検査方法 | |
| TW200525159A (en) | Jig device for transporting and testing integrated circuit chip | |
| JPH09178809A (ja) | Icハンドラ | |
| US5920192A (en) | Integrated circuit transporting apparatus including a guide with an integrated circuit positioning function | |
| JP4045687B2 (ja) | Icデバイスのテスト用キャリアボード | |
| TWI613452B (zh) | 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置 | |
| JPH08248095A (ja) | 検査装置 | |
| CN114512434A (zh) | 基板保持机构、基板载置方法以及基板脱离方法 | |
| JPH0843487A (ja) | 搬送装置 | |
| JPH05318368A (ja) | 吸着搬送装置 | |
| TWI423354B (zh) | 導電球安裝裝置 | |
| JP2007178132A (ja) | 半導体検査装置および半導体検査方法 | |
| JP7267058B2 (ja) | 検査装置 | |
| JP2002181887A (ja) | 電子部品試験装置 | |
| JPH11333775A (ja) | 部品吸着装置、部品ハンドリング装置および部品試験装置 | |
| JPH0854442A (ja) | 検査装置 | |
| JP3080845B2 (ja) | 検査装置及びその方法 | |
| JP2002160187A (ja) | 保持装置、搬送装置、ic検査装置、保持方法、搬送方法及びic検査方法 | |
| JP4825133B2 (ja) | 電子部品ハンドリング装置および電子部品の位置ずれ修正方法 |