JPH08203955A - Bonding device - Google Patents
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- JPH08203955A JPH08203955A JP7009795A JP979595A JPH08203955A JP H08203955 A JPH08203955 A JP H08203955A JP 7009795 A JP7009795 A JP 7009795A JP 979595 A JP979595 A JP 979595A JP H08203955 A JPH08203955 A JP H08203955A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ボンディングの状態をリアルタイムで監視で
き、不良品の製造を少なくすることができるボンディン
グ装置を提供する。
【構成】 制御装置18に設けられたドライバからボン
ディングツール8を駆動する駆動モータ15に流れる電
流値がボンディング荷重の変動に追従することに着目
し、電流検出センサ23でこの電流値をサンプリングす
ると共に、評価部に24おいて、この電流値の波形の振
動中心値、振幅および振動周期を基準値と比較すること
でボンディング状態を評価するようにしたものである。
(57) [Summary] [Objective] To provide a bonding apparatus capable of monitoring the bonding state in real time and reducing the production of defective products. [Structure] Focusing on that a current value flowing from a driver provided in a control device 18 to a drive motor 15 for driving a bonding tool 8 follows a fluctuation of a bonding load, and a current detection sensor 23 samples this current value. In the evaluation section 24, the bonding state is evaluated by comparing the vibration center value, the amplitude and the vibration cycle of the waveform of the current value with the reference value.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、針状のボンディング
ツールを用いて電極端子の接続を行う、ワイヤボンディ
ング装置やシングルポイントボンディング装置等のボン
ディング装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a bonding apparatus such as a wire bonding apparatus or a single point bonding apparatus for connecting electrode terminals using a needle-shaped bonding tool.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体チップをプリント基板やリードフ
レーム等の実装基板に実装する方法として、従来から、
ワイヤボンディングと称される方法がある。このワイヤ
ボンディング方法は、半導体チップと実装基板の端子あ
るいはリード同士を金製のワイヤ(金ワイヤ)を用いて
接続する方法である。2. Description of the Related Art As a method of mounting a semiconductor chip on a mounting board such as a printed circuit board or a lead frame, there has been a conventional method
There is a method called wire bonding. This wire bonding method is a method of connecting the terminals or leads of the semiconductor chip and the mounting substrate to each other using a gold wire (gold wire).
【0003】このワイヤボンディング方法は、針状のボ
ンディングツール(キャピラリ)内に上記金ワイヤを挿
通させて行う接続方法であり、まず、このボンディング
ツールの下端面から延出された上記金ワイヤの先端部を
放電等により溶融させることで球状の「ボール」を形成
する。This wire bonding method is a connection method which is carried out by inserting the gold wire into a needle-shaped bonding tool (capillary). First, the tip of the gold wire extended from the lower end surface of the bonding tool. A spherical "ball" is formed by melting a part by electric discharge or the like.
【0004】ついで、上記ボンディングツールを駆動
し、上記ボールを第1のボンディング点である半導体チ
ップの電極パッド上に押し付けると共に超音波振動を印
加することで接合する。Then, the bonding tool is driven to press the ball onto the electrode pad of the semiconductor chip, which is the first bonding point, and ultrasonic vibration is applied to bond the ball.
【0005】第1のボンディング点に対する接合が終了
したならば、このボンディングツールを、上記金ワイヤ
を繰り出しつつ第2のボンディング点である実装基板の
電極パッド側に移動させ、この電極パッドに対しても同
様の接合を行う。When the bonding to the first bonding point is completed, the bonding tool is moved to the electrode pad side of the mounting substrate, which is the second bonding point, while paying out the gold wire, and with respect to this electrode pad. Also performs the same joining.
【0006】そして、最後に上記金ワイヤをワイヤクラ
ンパでクランプし、上方に引き上げることで、この金ワ
イヤを上記第2のボンディング点に接合した部位の直上
で切断する。Finally, the gold wire is clamped by a wire clamper and pulled upward to cut the gold wire right above the portion bonded to the second bonding point.
【0007】ワイヤボンディング方法は、このような動
作を上記半導体チップの各電極パッド毎に繰り返すこと
で、個別的な接続を行っていくものである。ところで、
近年の半導体チップは大型化、高集積化しており、これ
に応じてこの半導体チップのワイヤボンディングで接続
すべき電極パッドは多端子化、狭ピッチ化、微細化して
いるということがある。In the wire bonding method, such an operation is repeated for each electrode pad of the semiconductor chip to make individual connections. by the way,
In recent years, semiconductor chips have become larger and more highly integrated, and accordingly, the electrode pads to be connected by wire bonding of the semiconductor chips are often multi-terminaled, narrowed in pitch, and miniaturized.
【0008】したがって、ワイヤボンディングには、よ
り微細かつ正確なボンディングを行わなければならない
という要請がある。また、半導体装置の生産性を維持す
るには、一回の接続をより高速で行わなければならな
い。Accordingly, there is a demand for finer and more accurate wire bonding. Further, in order to maintain the productivity of the semiconductor device, one connection has to be performed at a higher speed.
【0009】すなわち、従来のワイヤボンディングと比
較すると、より微細な接合を高精度かつ高速で行わなけ
ればならないということがある。このようなボンディン
グを行う際には、上記金ワイヤと被接合部(第1、第2
のボンディング部)との接合性の管理が重要なポイント
となる。That is, as compared with the conventional wire bonding, there is a case where finer bonding must be performed with high accuracy and high speed. When performing such bonding, the gold wire and the bonded portion (first, second
It is an important point to control the bondability with the (bonding part of).
【0010】この接合性の良否は、上記ツールによるワ
イヤ(ボール)の押し付け状態と超音波振動の印加状態
とによって定まる。したがって、上記良好な接合性を維
持するためには、上記ツールの押し付け力および超音波
振動を管理する必要があるが、従来は、ボンディング中
のモニターは行っておらず、ボンディング後の製品を一
定時間毎に抜き取り検査することで接合性を評価し、こ
れに基づいて上記ツールの押し付け力および超音波振動
の調整を行っている。The quality of the bondability is determined by the pressing state of the wire (ball) by the tool and the application state of ultrasonic vibration. Therefore, in order to maintain the good bondability, it is necessary to control the pressing force and ultrasonic vibration of the tool, but conventionally, monitoring during bonding was not performed and the product after bonding was kept constant. The bondability is evaluated by sampling inspection every time, and the pressing force of the tool and the ultrasonic vibration are adjusted based on this.
【0011】[0011]
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
のワイヤボンディング方法では、以下に説明するような
解決すべき課題がある。すなわち、従来のワイヤボンデ
ィング方法では、抜取り検査による接合性の評価に基づ
いてこのワイヤボンディング装置の調整を行っているの
で、作業者が接合不良を発見するまでは、大量の不良品
を生産してしまう恐れがあり、生産の歩留まりが悪化す
るということがある。However, the above-described conventional wire bonding method has problems to be solved as described below. That is, in the conventional wire bonding method, since the wire bonding apparatus is adjusted based on the evaluation of the bondability by the sampling inspection, a large number of defective products are produced until the worker finds the bond failure. There is a risk that the production yield will be deteriorated.
【0012】また、製品の検査だけでは接合不良の原因
を特定できないことがあり、不良発生原因の除去を迅速
に行えないということもある。さらに、一時的あるいは
突発的な原因により不良品が製造された場合には、抜取
り検査のみではそのような不良品を発見できないという
ことがあり、製品の品質が低下するということもある。Further, the cause of the defective joint may not be identified only by inspecting the product, and the cause of the defective occurrence may not be removed promptly. Furthermore, when a defective product is manufactured due to a temporary or sudden cause, such a defective product may not be found by only the sampling inspection, and the quality of the product may deteriorate.
【0013】この発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたもので、接合状態をリアルタイムで監視でき、不良
品の製造を少なくすることができるボンディング装置を
提供することを目的とするものである。The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a bonding apparatus capable of monitoring the bonding state in real time and reducing the production of defective products. .
【0014】[0014]
【課題を解決するための手段】この発明の第1の手段
は、ツールを具備し、このツールを駆動することで電極
端子の接続を行うボンディング装置において、上記ツー
ルを駆動する駆動用アクチュエータと、この駆動用アク
チュエータに接続された駆動回路と、駆動回路から駆動
用アクチュエータに流れる電流を検出する電流検出手段
と、この電流検出手段によって検出された電流値を所定
の基準値と比較することによってボンディングの状態を
評価する評価手段とを有することを特徴とするものであ
る。According to a first aspect of the present invention, there is provided a tool, and in a bonding apparatus for connecting electrode terminals by driving the tool, a driving actuator for driving the tool, Bonding is performed by comparing a current value detected by the drive circuit connected to the drive actuator, current detection means for detecting a current flowing from the drive circuit to the drive actuator with a predetermined reference value. And an evaluation means for evaluating the state of.
【0015】第2の手段は、第1の手段のボンディング
装置において、揺動自在に保持され、揺動先端側に上記
ツールを保持し、揺動することで上記ツールを駆動する
揺動体を有し、前記駆動用アクチュエータは、この揺動
体を揺動駆動する駆動モータであることを特徴とするも
のである。The second means is, in the bonding apparatus of the first means, swingably held, holds the tool on the swing tip side, and swings to swing to drive the tool. However, the drive actuator is a drive motor that drives the oscillator to swing.
【0016】第3の手段は、第2の手段のボンディング
装置において、上記揺動体内には、上記ツールを介し
て、上記リードやワイヤの接合部位に超音波振動を印加
する超音波振動印加手段が設けられていることを特徴と
するものである。A third means is the bonding apparatus of the second means, wherein ultrasonic vibration applying means for applying ultrasonic vibration to the lead or wire joining portion through the tool in the oscillating body. Is provided.
【0017】第4の手段は、第1の手段のボンディング
装置において、上記評価手段は、電流値の波形の振動中
心値、振幅および振動周期を、上記比較に用いるもので
あることを特徴とするものである。A fourth means is the bonding apparatus of the first means, wherein the evaluation means uses the vibration center value, the amplitude and the vibration cycle of the waveform of the current value for the comparison. It is a thing.
【0018】第5の手段は、第1の手段のボンディング
装置において、上記評価手段は、比較の結果およびボン
ディング状態の評価を表示する表示手段を有することを
特徴とするものである。A fifth means is characterized in that, in the bonding apparatus of the first means, the evaluation means has a display means for displaying a comparison result and an evaluation of the bonding state.
【0019】[0019]
【作用】このような手段によれば、駆動回路からアクチ
ュエータ、駆動モータに流れる電流値を検出し、この電
流値の波形の振動中心値、振幅および振動周期を基準値
と比較することでボンディング状態を評価することがで
き、接合状態をリアルタイムで監視することができる。According to such means, the current value flowing through the actuator and the drive motor from the drive circuit is detected, and the vibration center value, amplitude and vibration cycle of the waveform of this current value are compared with the reference value to determine the bonding state. Can be evaluated, and the bonding state can be monitored in real time.
【0020】[0020]
【実施例】以下、この発明の一実施例を図面を参照して
説明する。なお、ワイヤボンディングの主な動作につい
てはすでに従来技術の説明で述べたので省略する。ま
ず、図1を参照し、ワイヤボンディング装置の構成につ
いて簡単に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. The main operation of wire bonding has already been described in the description of the prior art, and will be omitted. First, the configuration of the wire bonding apparatus will be briefly described with reference to FIG.
【0021】このボンディング装置は、図示しない基台
を有し、この基台上にはボンディングステージ1および
ボンディング本体2が設けられている。上記ボンディン
グステージ1上には、図1に示すように、半導体チップ
3がダイボンディングされてなるプリント基板4が保持
固定されるようになっている。上記半導体チップ3の上
面およびプリント基板4の上面には、この装置によって
互いにワイヤ接続される複数個の電極パッド3a、4a
(第1、第2のボンディング点)がそれぞれ形成されて
いる。The bonding apparatus has a base (not shown), and a bonding stage 1 and a bonding body 2 are provided on the base. As shown in FIG. 1, a printed circuit board 4 formed by die bonding a semiconductor chip 3 is held and fixed on the bonding stage 1. On the upper surface of the semiconductor chip 3 and the upper surface of the printed board 4, a plurality of electrode pads 3a, 4a which are wire-connected to each other by this device are provided.
(First and second bonding points) are respectively formed.
【0022】また、ボンディング本体2は、上記基台上
に設けられたXYテーブル6と、このXYテーブル6に
取着されたボンディングヘッド7とからなる。以下、こ
のボンディングヘッド7の構成について説明する。The bonding body 2 comprises an XY table 6 provided on the base and a bonding head 7 attached to the XY table 6. The structure of the bonding head 7 will be described below.
【0023】図1(a)おいて8で示すのは、ワイヤボ
ンディング動作を行うボンディングツールである。この
ボンディングツール8は先端が細径に形成されてなる針
状をなし、内部には図に9で示す金ワイヤが挿通される
挿通孔(図示せず)が上下方向全長に亘って形成されて
いる。Reference numeral 8 in FIG. 1A is a bonding tool for performing a wire bonding operation. The bonding tool 8 has a needle-like shape with a thin tip, and has an insertion hole (not shown), through which a gold wire shown in FIG. 9 is inserted, formed over the entire length in the vertical direction. There is.
【0024】このボンディングツール8は、図に10で
示す超音波ホーンの先端に軸線を略垂直にした状態で保
持されている。そして、この超音波ホーン10の他端側
は超音波発振器11に接続されている。The bonding tool 8 is held on the tip of an ultrasonic horn shown in FIG. 10 with its axis substantially vertical. The other end of the ultrasonic horn 10 is connected to the ultrasonic oscillator 11.
【0025】この超音波発振器11内には図示しない超
音波振動子(圧電素子等)が内蔵されていて、この超音
波振動子は上記超音波ホーン10の他端に接続されてい
る。したがって、この超音波振動子に電圧を印加し、超
音波振動を発振させることで、上記超音波ホーン10を
介して、上記ボンディングツール8に超音波振動が伝達
されるようになっている。An ultrasonic oscillator (piezoelectric element or the like), not shown, is built in the ultrasonic oscillator 11, and the ultrasonic oscillator is connected to the other end of the ultrasonic horn 10. Therefore, by applying a voltage to the ultrasonic vibrator to oscillate the ultrasonic vibration, the ultrasonic vibration is transmitted to the bonding tool 8 via the ultrasonic horn 10.
【0026】また、この超音波発振器11は、図に13
で示すケーシング内に収納されており、この超音波発振
器11の側面から水平に突出されてなる回動軸14を介
して揺動自在に保持されている。すなわち、上記ボンデ
ィングツール8は、この超音波発振器11が揺動するこ
とで、上下方向に駆動されるようになっている。Further, this ultrasonic oscillator 11 is shown in FIG.
The ultrasonic oscillator 11 is housed in a casing indicated by, and is swingably held via a rotary shaft 14 that horizontally projects from the side surface of the ultrasonic oscillator 11. That is, the bonding tool 8 is driven in the vertical direction when the ultrasonic oscillator 11 swings.
【0027】一方、上記ケーシング13の側面には、上
記回動軸14に連結されてなる回転モータ15が取着さ
れており、このモータ15が作動することで、上記ボン
ディングツール8は所定の速度、加速度で上下駆動され
るようになっている。また、このモータ15は、上記ツ
ール8の下端面で上記ワイヤ9をボンディングする場合
(押し付ける場合)には、所定のボンディング荷重に相
当する力を発生させることができるように構成されてい
る。On the other hand, a rotary motor 15 connected to the rotary shaft 14 is attached to the side surface of the casing 13, and the bonding tool 8 is operated at a predetermined speed by operating the motor 15. It is designed to be driven up and down by acceleration. Further, the motor 15 is configured to generate a force corresponding to a predetermined bonding load when the wire 9 is bonded (pressed) to the lower end surface of the tool 8.
【0028】一方、ワイヤボンディングに用いられる金
ワイヤ9は、上記ツール8の上方に設けられた図示しな
いワイヤスプールから導出され、上記ツール8内に挿通
された後、先端部をこのツール8の下端面から所定寸法
だけ露出させている。On the other hand, the gold wire 9 used for wire bonding is drawn out from a wire spool (not shown) provided above the tool 8 and inserted into the tool 8, and then the tip end is placed under the tool 8. It is exposed by a predetermined size from the end face.
【0029】ワイヤボンディングを行う際には、上記ワ
イヤ9の先端部には、従来例の説明の項で説明したよう
に、放電による加熱によって球状のボール9aが形成さ
れる。When performing wire bonding, a spherical ball 9a is formed at the tip of the wire 9 by heating by electric discharge, as described in the section of the description of the conventional example.
【0030】さらに、上記ボンディングツール8の上方
には、このボンディングツール8と共に上下するワイヤ
クランパ16が設けられている。このワイヤクランパ1
6は、上記金ワイヤ9を切断する際に等にこのワイヤ9
をクランプし、上記ワイヤ9を上記ボンディングツール
8に対して移動不能に保持する役割を有する。Further, above the bonding tool 8, a wire clamper 16 which moves up and down together with the bonding tool 8 is provided. This wire clamper 1
6 is used for cutting the gold wire 9 and the like.
Has a role of holding the wire 9 immovably with respect to the bonding tool 8.
【0031】次に、上記ボンディング装置を制御するた
めの制御系を図2に基づいて説明する。まず、上記回転
モータ15は、制御装置18内に設けられたドライバ1
9に接続され、このドライバ19から所定の電流が印加
されることで作動するようになっている。Next, a control system for controlling the bonding apparatus will be described with reference to FIG. First, the rotary motor 15 is the driver 1 provided in the control device 18.
The driver 19 is connected to the terminal 9 and operates by applying a predetermined current from the driver 19.
【0032】また、図1に示すように、上記回動軸14
には、この回動軸14の回動角度(超音波発振器11の
揺動角度)を検出する位置検出器20および回動速度
(揺動速度)を検出する速度検出器21が取り付けられ
ており、この位置検出器20および速度検出器21も上
記制御装置18に接続されている。Further, as shown in FIG.
A position detector 20 for detecting the rotation angle of the rotation shaft 14 (the swing angle of the ultrasonic oscillator 11) and a speed detector 21 for detecting the rotation speed (swing speed) are attached to the. The position detector 20 and the speed detector 21 are also connected to the control device 18.
【0033】上記位置検出器20および速度検出器21
からの検出信号は、図2に示すように、この制御装置1
8内に設けられた演算制御部22に入力されるようにな
っている。この演算制御部22は、上記位置検出器20
および速度検出器21による検出信号から、上記回動軸
14の回動角、角速度、角加速度あるいは上記ボンディ
ングツール8の高さ(位置)、速度、加速度等を求め、
これらを所定の目標値と比較し、その差を縮める方向の
作動信号を上記ドライバ19に発するようになってい
る。The position detector 20 and the speed detector 21 described above.
As shown in FIG. 2, the detection signal from the controller 1
It is adapted to be input to the arithmetic and control unit 22 provided in the inside 8. The arithmetic control unit 22 is configured to operate the position detector 20.
And the rotational angle, angular velocity, angular acceleration of the rotary shaft 14 or the height (position), speed, acceleration, etc. of the bonding tool 8 are obtained from the detection signal from the speed detector 21.
These are compared with a predetermined target value, and an operation signal for reducing the difference is issued to the driver 19.
【0034】ドライバ19は、この作動信号に基づい
て、上記回転モータ15に電流を印加することで、この
回転モータ15を作動させるようになっている。なお、
上記位置検出器20による検出は所定のサンプリングタ
イム毎に成されるようになっていて、上記演算制御部2
2は、フィードバック制御により、上記ボンディングツ
ール8に所望の動作を行わせるようになっている。The driver 19 operates the rotary motor 15 by applying a current to the rotary motor 15 based on the operation signal. In addition,
The detection by the position detector 20 is performed at every predetermined sampling time, and the calculation control unit 2
2 is configured to cause the bonding tool 8 to perform a desired operation by feedback control.
【0035】また、上記ドライバ19と上記回転モータ
15との間には、この発明の電流検出手段として機能す
る電流検出センサ(検出抵抗)23が設けられている。
この電流検出センサ23は、上記回転モータ15のコイ
ルに流れる電流を検出し、図に24で示す評価部(評価
手段)に出力するようになっている。Further, a current detection sensor (detection resistor) 23 functioning as the current detection means of the present invention is provided between the driver 19 and the rotary motor 15.
The current detection sensor 23 detects the current flowing through the coil of the rotary motor 15 and outputs it to an evaluation section (evaluation means) 24 shown in the drawing.
【0036】上記電流検出センサ23からの出力信号
(電流値)は増幅器を介して図に25で示すA/D変換
器に入力されサンプリングされる。そしてこのサンプリ
ングされた電流値は、CPU26に入力されるようにな
っている。The output signal (current value) from the current detection sensor 23 is input to the A / D converter shown by 25 in the figure through an amplifier and sampled. Then, the sampled current value is input to the CPU 26.
【0037】このCPU26には、図に27で示す基準
値設定部(評価手段)が接続されている。この基準設定
部27は、ボンディングの評価に使用する基準値を生成
し、この基準値を上記CPU26に入力するようになっ
ている。A reference value setting section (evaluation means) 27 is connected to the CPU 26. The reference setting unit 27 generates a reference value used for bonding evaluation and inputs the reference value to the CPU 26.
【0038】このCPU26は、この基準値と、上記サ
ンプリング電流値とを比較することによってボンディン
グを評価するようになっている。以下、この評価の方法
をボンディング動作とともに説明する。The CPU 26 evaluates the bonding by comparing the reference value with the sampling current value. Hereinafter, this evaluation method will be described together with the bonding operation.
【0039】この方法は、上記サンプリング電流値(モ
ータのコイルを流れる電流値)の変動からボンディング
ツール8にかかるボンディング荷重の変動を理解し、こ
れに基づいてボンディングの評価を行う方法である。This method is a method of understanding the fluctuation of the bonding load applied to the bonding tool 8 from the fluctuation of the sampling current value (current value flowing through the coil of the motor) and evaluating the bonding based on this.
【0040】すなわち、上記演算制御部22から上記ド
ライバ19に一定の電流印加指令が与えられている場合
であっても、ボンディング中に上記回転モータ15にか
かる負荷が変動すると、これに応じたフィードバック制
御により上記回転モータ15のコイルに流れる電流値が
変化する。That is, even when a constant current application command is given to the driver 19 from the arithmetic control unit 22, if the load applied to the rotary motor 15 changes during the bonding, the feedback corresponding thereto is given. The value of the current flowing through the coil of the rotary motor 15 changes due to the control.
【0041】上記回転モータ15にかかる負荷は上記ボ
ンディングツール8にかかる荷重、すなわちボンディン
グ荷重と比例することから、この上記モータ15のコイ
ルに流れる電流値を検出(サンプリング)し、その変動
を調べれば、上記ボンディング荷重、ひいてはボンディ
ングの状態を理解することができるのである。Since the load applied to the rotary motor 15 is proportional to the load applied to the bonding tool 8, that is, the bonding load, the value of the current flowing through the coil of the motor 15 is detected (sampled) and its fluctuation is investigated. It is possible to understand the above-mentioned bonding load and eventually the bonding state.
【0042】図3は、上記ボンディング荷重とサンプリ
ングされた電流値との関係を示したグラフである。この
図を、ボンディング動作と共に説明する。まず、上記ボ
ンディングツール8から導出された上記金ワイヤ9の先
端部に図1に示すようにボール9aが形成されると、上
記ボンディングツール8は、上記回転モータ15が作動
することにより下降駆動される。この状態では、上記ボ
ンディング荷重は図3(a)に(イ)で示すように略0
である。FIG. 3 is a graph showing the relationship between the bonding load and the sampled current value. This figure will be described together with the bonding operation. First, when a ball 9a is formed at the tip of the gold wire 9 led out from the bonding tool 8 as shown in FIG. 1, the bonding tool 8 is driven downward by the operation of the rotary motor 15. It In this state, the bonding load is almost zero as shown by (a) in FIG.
Is.
【0043】そして、上記ボンディングツール8が、上
記ボール9aを第1のボンディング点である半導体チッ
プ3の電極パッド3aに当接させると、上記ボンディン
グツール8は下降を停止する。このとき上記ボンディン
グツール8には反力(衝撃力)が生じるから同図に示す
ようにボンディング荷重は増大する。When the bonding tool 8 brings the ball 9a into contact with the electrode pad 3a of the semiconductor chip 3 which is the first bonding point, the bonding tool 8 stops descending. At this time, a reaction force (impact force) is generated in the bonding tool 8 so that the bonding load is increased as shown in FIG.
【0044】一方、ボンディングツール8が停止する
と、上記回転モータ15の回転が停止するので、ボンデ
ィングツール8をさらに下降させるために上記回転モー
タ15には電流が印加される(フィードバック制御)。
このことにより、図3(b)に示すように、上記回転モ
ータ15のコイルに流れる電流値(サンプリング電流
値)は増大し、ボンディング荷重は増大する。On the other hand, when the bonding tool 8 is stopped, the rotation of the rotary motor 15 is stopped, so that a current is applied to the rotary motor 15 to further lower the bonding tool 8 (feedback control).
As a result, as shown in FIG. 3B, the current value (sampling current value) flowing through the coil of the rotary motor 15 increases, and the bonding load increases.
【0045】上記電流検出センサ23は、このような電
流値の増大を上記ボンディング荷重の増大と略遅れのな
い状態(リアルタイム)で検出することができるように
なっている。The current detecting sensor 23 is capable of detecting such an increase in current value in a state (real time) substantially without delay with the increase in the bonding load.
【0046】上記ボール9aが上記半導体チップ3の電
極パッド3aに当接すると、そのことを上記位置検出器
20等からの出力により知ることができるから、上記演
算制御部22は、上記ドライバ19に作動信号を発し、
上記ドライバ19から上記回転モータ15に対して所望
のボンディング荷重を得ることのできる電流値を印加す
る。When the ball 9a comes into contact with the electrode pad 3a of the semiconductor chip 3, it can be known from the output from the position detector 20 or the like, so that the arithmetic control unit 22 causes the driver 19 to operate. Emits an activation signal,
A current value capable of obtaining a desired bonding load is applied from the driver 19 to the rotary motor 15.
【0047】なお、この所望のボンディング荷重は、図
3(a)のグラフにおいてFで示され、このボンディン
グ荷重を得ることのできる電流値は、図3(b)のグラ
フにおいてAで示されている。The desired bonding load is indicated by F in the graph of FIG. 3 (a), and the current value by which this bonding load can be obtained is indicated by A in the graph of FIG. 3 (b). There is.
【0048】なお、初期のボンディング荷重は、図3
(a)の最初の山によって示されるように、上記所定の
ボンディング荷重Fを越えて大きく上昇する。これは、
上記ボール9aを上記電極パッド3aに当接させたこと
によって生じる衝撃荷重と、前述したようにフィードバ
ック制御によるモータ電流印加(駆動力)によるもので
ある。The initial bonding load is shown in FIG.
As shown by the first peak in (a), it greatly rises above the predetermined bonding load F. this is,
This is due to the impact load generated by the contact of the ball 9a with the electrode pad 3a and the motor current application (driving force) by the feedback control as described above.
【0049】そして、ボンディング荷重の変化は、この
最初の山を越えた後、上記所定のボンディング荷重Fを
中心にして周期振動する。このように、周期振動するの
は、上記ボンディングツール8が上記電極パッド3aに
衝突した際の振動や装置全体に機械的な振動が生じるこ
と等により上記ボンディングツール8が微小振動を生
じ、これに応じてボンディング荷重が変化するからであ
る。Then, the change in the bonding load vibrates cyclically around the predetermined bonding load F after passing through the first peak. As described above, the periodic vibration is caused by the vibration when the bonding tool 8 collides with the electrode pad 3a or the mechanical vibration of the entire device, which causes the bonding tool 8 to generate a small vibration. This is because the bonding load changes accordingly.
【0050】一方、ボンディング荷重の変化により、制
御部22は、ボンディング荷重を安定させるために上記
回転モータ15に印加する電流値を変化させる。したが
って、上記サンプリングにより得られる電流値は、上記
ボンディング荷重の変動に略比例する。すなわち、この
サンプリング電流値は、図3(b)に示すように、上記
初期の衝撃荷重に対応する部分を除いて、上記所定の電
流値Aを中心にして周期振動を行う。On the other hand, the control unit 22 changes the current value applied to the rotary motor 15 in order to stabilize the bonding load according to the change in the bonding load. Therefore, the current value obtained by the sampling is approximately proportional to the fluctuation of the bonding load. That is, as shown in FIG. 3B, the sampling current value is periodically oscillated around the predetermined current value A except for the portion corresponding to the initial impact load.
【0051】そして、このときの振幅Bは回転モータ1
5に加わる負荷の変動幅、すなわち上記ボンディングツ
ールの荷重の変動幅に比例する。また、電流の変動周期
Cは、上記ボンディングツール8の荷重の変動周期に比
例する。The amplitude B at this time is determined by the rotary motor 1
It is proportional to the fluctuation range of the load applied to 5, that is, the fluctuation range of the load of the bonding tool. The current fluctuation cycle C is proportional to the load fluctuation cycle of the bonding tool 8.
【0052】すなわち、上記サンプリング電流値の振幅
B、変動周期Cおよび振動中心値を見れば、実際のボン
ディング荷重の変動を知ることができる。上記CPU2
6は、これらの値を、上記基準値設定部27で設定され
た基準値と比較することで、ボンディングの評価を行う
ようになっている。That is, it is possible to know the actual fluctuation of the bonding load by looking at the amplitude B of the sampling current value, the fluctuation cycle C and the vibration center value. CPU2
Reference numeral 6 compares these values with the reference value set by the reference value setting unit 27 to evaluate the bonding.
【0053】次に、基準値の設定について説明する。ボ
ンディング条件が変動すると、ボンディングツール8の
挙動が通常の場合と変化するからボンディング荷重にも
変動が生じ、これに応じてサンプリング電流値の波形も
変化する。Next, the setting of the reference value will be described. When the bonding conditions change, the behavior of the bonding tool 8 changes from the normal case, so that the bonding load also changes, and the waveform of the sampling current value changes accordingly.
【0054】すなわち、ボンディングツール8の挙動の
変化が大きい場合には、電流値振動の中心となる値が、
上記所定の電流値Aから大きくシフトしたり、上記振動
の振幅Bが非常に大きくなったり周期Cが長くなったり
短くなったりする。That is, when the change in the behavior of the bonding tool 8 is large, the value at the center of the current value vibration is
There is a large shift from the predetermined current value A, the amplitude B of the vibration becomes very large, or the cycle C becomes long or short.
【0055】このようにボンディングツール8の挙動の
変化が大きい場合には、上記ボール9a(ワイヤ9)と
電極パッド3a、4aとの間で十分な接合強度が得られ
なかったり、接合に時間がかかったり、押圧により潰さ
れたボール9aの形状が規格外となって隣り合う電極パ
ッド3aとの間でショートの問題が生じることが考えら
れる。When the behavior of the bonding tool 8 is greatly changed as described above, sufficient bonding strength cannot be obtained between the ball 9a (wire 9) and the electrode pads 3a and 4a, or the bonding time is long. It is conceivable that the shape of the ball 9a struck or crushed by pressing becomes nonstandard and a short circuit problem may occur between the adjacent electrode pads 3a.
【0056】このようなことを防止する観点から上記基
準値設定部27では、正常なボンディングを行っている
場合におけるサンプリング電流値の波形に基づいて、正
常なボンディングが行われていることの基準となる振動
中心電流値の許容範囲、振幅の許容範囲および周期の許
容範囲(これらを基準値と称する)を定める。From the viewpoint of preventing such a situation, the reference value setting section 27 provides a reference for normal bonding based on the waveform of the sampling current value when normal bonding is performed. The allowable range of the vibration center current value, the allowable range of the amplitude, and the allowable range of the cycle (these are referred to as reference values) are defined.
【0057】そして、上記CPU26では、サンプリン
グされた電流値の波形から得られる振動中心電流値、振
幅B、周期Cの各値と、上記基準値とを比較し、上記各
値が上記基準値の範囲外である場合には、ボンディング
不良が生じたものと判断する。Then, the CPU 26 compares each value of the vibration center current value, the amplitude B, and the cycle C obtained from the waveform of the sampled current value with the above reference value, and each of the above values becomes the above reference value. If it is out of the range, it is determined that a bonding failure has occurred.
【0058】このCPU26は、上記演算制御部22に
接続されていて、上記ボンディング不良が生じたものと
検出したならば、そのことに基づいて上記演算制御部2
2に命令を発し、上記ボンディング動作を停止させるよ
うにする。When the CPU 26 is connected to the arithmetic control section 22 and detects that the bonding failure has occurred, the arithmetic control section 2 is based on that fact.
2 is issued to stop the above-mentioned bonding operation.
【0059】また、このCPU26は、そのときの上記
サンプリング電流値の波形を記憶し、これを図2に30
で示すモニター等に表示するようにする。作業者は、こ
れを見ることにより、経験により、不良発生要因を理解
することができるから、その不良発生要因を除去する。
例えば、振幅Bが大きすぎる場合には機械の振動が主な
原因であるから、取り付け不良や、部品の経時変化等を
調査する。The CPU 26 also stores the waveform of the sampling current value at that time, which is stored in FIG.
Display on the monitor, etc. By seeing this, the operator can understand the cause of the defect by experience, and thus remove the cause of the defect.
For example, when the amplitude B is too large, the vibration of the machine is the main cause, so the mounting failure, the change over time of the parts, etc. are investigated.
【0060】そして、不良要因を除去したならば、再び
装置を作動させ、ワイヤボンディングを継続させるよう
にする。このような構成によれば、以下に説明する効果
を得ることができる。Then, when the cause of the defect is removed, the apparatus is operated again to continue the wire bonding. With such a configuration, the effects described below can be obtained.
【0061】第1に、接合不良(ボンディング不良)が
発生した場合に、ただちに装置を停止させることがで
き、同様の接合不良が連続して発生することを有効に防
止できる効果がある。First, in the case where a bonding failure (bonding failure) occurs, the apparatus can be stopped immediately, and the same bonding failure can be effectively prevented from occurring continuously.
【0062】すなわち、接合不良が生じる要因として
は、上記プリント基板4を保持しているボンディングス
テージ1が何らかの原因で振動したり、上記プリント基
板4の固定が十分でない場合、また、経時変化による上
記超音波発振器11や超音波ホーン10の「がた」、さ
らに部品交換時の取り付け不良等が挙げられる。そし
て、このような要因により、所望のボンディング荷重
(超音波振動も含む)が接合部に伝えられない場合に上
記接合不良が生じる。That is, as a factor causing the bonding failure, the bonding stage 1 holding the printed circuit board 4 vibrates for some reason, the printed circuit board 4 is not sufficiently fixed, and the above-mentioned change due to a change with time. Examples of this include “rattle” of the ultrasonic oscillator 11 and the ultrasonic horn 10, and mounting failure when parts are replaced. Due to such factors, the above-mentioned bonding failure occurs when a desired bonding load (including ultrasonic vibration) cannot be transmitted to the bonding portion.
【0063】そして、上述した要因がボンディング荷重
に及ぼす影響が大きい場合には、前述したように、押し
潰されたボール9a(9)の形状が規格外となったり接
合強度が低下するということがある。When the above-mentioned factors have a great influence on the bonding load, the shape of the crushed ball 9a (9) may be out of the standard or the bonding strength may be lowered, as described above. is there.
【0064】従来例では、ボンディング状態の評価は所
定個数のワイヤボンディングを行った後の抜取り検査で
行っていたため、作業者が上記接合不良を発見するまで
は、同様の接合不良を有するワイヤボンディングを連続
して行ってしまう可能性があった。また、一時的あるい
は突発的な要因により接合不良が生じた場合には、上記
抜き取り検査では発見できない恐れがあった。In the conventional example, the bonding state is evaluated by a sampling inspection after a predetermined number of wire bonds are bonded. Therefore, until a worker finds the above bonding defect, wire bonding having the same bonding defect is performed. There was a possibility that they would go on continuously. Further, if a joint failure occurs due to a temporary or sudden factor, there is a possibility that it cannot be detected by the above sampling inspection.
【0065】この発明では、上記ボンディング荷重の変
動と、モータ15に印加する電流値の変動が略比例する
ことに鑑み、この電流値をサンプリングすることでボン
ディング荷重をリアルタイムでモニターできるようにし
た。そして、この電流値の波形を基準値と比較すること
により、ボンディング状態を評価するようにしたので、
上記ボンディング不良の発生をただちに検出し、それに
基づいて装置を停止させることができる。このことによ
り同様の不良が続けて発生することを有効に防止するこ
とができる。In the present invention, in view of the fact that the fluctuation of the bonding load and the fluctuation of the current value applied to the motor 15 are substantially proportional to each other, the current value is sampled so that the bonding load can be monitored in real time. Then, the bonding state is evaluated by comparing the waveform of this current value with the reference value.
The occurrence of the above-mentioned bonding failure can be immediately detected, and the apparatus can be stopped based on it. As a result, it is possible to effectively prevent a similar defect from occurring continuously.
【0066】また、一時的な要因により接合不良が発生
した場合でも、このような不良を効果的に除去すること
ができる効果がある。第2に、サンプリング電流値の波
形から、経験に基づいて、どのような不良が発生したか
を予想することができるので、上述した不良発生要因を
迅速に排除することができる効果がある。Further, even if a defective connection occurs due to a temporary factor, such a defect can be effectively removed. Secondly, since it is possible to predict what kind of defect has occurred based on experience from the waveform of the sampling current value, it is possible to quickly eliminate the above-mentioned defect generation factor.
【0067】すなわち、従来例では、単に上記ワイヤ9
と電極パッド3a、4aとの接合強度を調べていただけ
であったので、詳しく調べなければ不良要因を発見する
ことができず、その不良要因の除去に時間がかかってい
た。That is, in the conventional example, the wire 9 is simply used.
Since only the bonding strength between the electrode pad 3a and the electrode pad 3a was examined, the cause of the defect could not be found without detailed examination, and it took time to remove the cause of the defect.
【0068】しかし、この発明では、不良発生時の電流
値の波形を見ることができ、さらに、波形の振動中心
値、振幅、振動周期の3つの値のうちどの値が基準値か
ら外れているかを見ることにより、経験に基づき、不良
要因の見当をつけることができる。このことにより不良
要因の除去を迅速に行うことができる効果がある。However, in the present invention, the waveform of the current value at the time of occurrence of a defect can be seen, and which of the three values of the vibration center value, amplitude, and vibration cycle of the waveform deviates from the reference value. By looking at, it is possible to estimate the defect factor based on the experience. This has an effect that the cause of the defect can be removed quickly.
【0069】このように、この発明は、上記第1、第2
の効果を有する結果、ワイヤボンディングの歩留まり、
生産性および可動率を向上させることができる。そし
て、一点一点の接合を正確かつ確実に行えるので、近年
の半導体チップの電極パッドの多端子、狭ピッチおよび
微細化の傾向にも有効に対応することができる効果があ
る。As described above, the present invention is based on the above first and second aspects.
As a result of having the effect of, the yield of wire bonding,
Productivity and mobility can be improved. Since each point can be bonded accurately and surely, there is an effect that it is possible to effectively cope with the recent tendency of multiple terminals of electrode pads of semiconductor chips, narrow pitch, and miniaturization.
【0070】なお、この発明は、上記一実施例に限定さ
れるものではなく、発明の要旨を変更しない範囲で種々
変形可能である。例えば、上記一実施例は、ワイヤボン
ディング装置であったが、この装置に限定されるもので
はなく、他の同様の装置、例えば、同様に針状のボンデ
ィングツールを超音波振動させることによって半導体部
品のインナーリードやアウタリードを個別的に接合する
シングルポイントボンディング装置にも適用することが
できる。The present invention is not limited to the above-described embodiment, but can be variously modified without changing the gist of the invention. For example, the above-mentioned one embodiment is the wire bonding apparatus, but the present invention is not limited to this apparatus, and other similar apparatus, for example, a semiconductor component by ultrasonically vibrating a needle-shaped bonding tool similarly. It can also be applied to a single-point bonding device that individually joins the inner lead and the outer lead.
【0071】また、上記一実施例では、上記ボンディン
グツール8を駆動するために回転モータ15を用いてい
たが、これに限定されるものではなく圧電素子等のアク
チュエータやリニアモータであっても良い。このような
圧電素子であっても、負荷の変動により起電力を生じさ
せるので、上記一実施例と同様の効果を得ることができ
る。In the above embodiment, the rotary motor 15 is used to drive the bonding tool 8. However, the invention is not limited to this, and an actuator such as a piezoelectric element or a linear motor may be used. . Even with such a piezoelectric element, since the electromotive force is generated by the change of the load, the same effect as that of the above-described embodiment can be obtained.
【0072】[0072]
【発明の効果】以上述べたように、この発明は、駆動回
路からボンディングツールを駆動するアクチュエータ、
駆動モータに流れる電流値がボンディング荷重の変動に
追従することに着目し、この電流値の波形の振動中心
値、振幅および振動周期を基準値と比較することでボン
ディング状態を評価するようにしたものである。As described above, according to the present invention, an actuator for driving a bonding tool from a drive circuit,
Focusing on the fact that the current value flowing in the drive motor follows the fluctuation of the bonding load, the bonding state is evaluated by comparing the vibration center value, amplitude and vibration cycle of the waveform of this current value with the reference value. Is.
【0073】このような構成によれば、ボンディングの
状態をリアルタイムで評価することができ、ボンディン
グ不良が発生した場合には、装置を停止させることで同
様の不良が連続して発生することを有効に防止すること
ができる。With such a configuration, the bonding state can be evaluated in real time, and when a bonding failure occurs, it is effective that the same failure occurs continuously by stopping the device. Can be prevented.
【0074】また、表示手段に表示された比較の結果を
見ることで、不良の原因を類推することができ、不良原
因の除去を迅速に行える。これらのことにより、製品の
歩留まり、品質および生産性を向上させることができる
効果がある。The cause of the defect can be estimated by observing the comparison result displayed on the display means, and the cause of the defect can be removed quickly. Due to these, there is an effect that the yield, quality and productivity of products can be improved.
【図1】この発明の一実施例を示す概略斜視図。FIG. 1 is a schematic perspective view showing an embodiment of the present invention.
【図2】同じく、制御系を示すブロック図。FIG. 2 is a block diagram showing a control system of the same.
【図3】同じく、サンプリングした電流値とボンディン
グ荷重との関係を示すグラフFIG. 3 is a graph showing the relationship between the sampled current value and the bonding load.
8…ボンディングツール(ツール)、11…超音波発振
器(揺動体)、15…駆動モータ(駆動用アクチュエー
タ)、18…制御装置(駆動回路)、19…ドライバ
(駆動回路)、23…電流検出センサ(検出手段)、2
4…評価部(評価手段)。8 ... Bonding tool (tool), 11 ... Ultrasonic oscillator (oscillator), 15 ... Drive motor (drive actuator), 18 ... Control device (drive circuit), 19 ... Driver (drive circuit), 23 ... Current detection sensor (Detection means), 2
4 ... Evaluation unit (evaluation means).
Claims (5)
ことで電極端子の接続を行うボンディング装置におい
て、 上記ツールを駆動する駆動用アクチュエータと、 この駆動用アクチュエータに接続された駆動回路と、 駆動回路から駆動用アクチュエータに流れる電流を検出
する電流検出手段と、 この電流検出手段によって検出された電流値を所定の基
準値と比較することによってボンディングの状態を評価
する評価手段とを具備したことを特徴とするボンディン
グ装置。1. A bonding apparatus comprising a tool and connecting electrode terminals by driving the tool, a driving actuator for driving the tool, a driving circuit connected to the driving actuator, and a driving circuit. A current detecting means for detecting a current flowing from the circuit to the driving actuator; and an evaluating means for evaluating the bonding state by comparing the current value detected by the current detecting means with a predetermined reference value. Characteristic bonding equipment.
て、 揺動自在に保持され、揺動先端側に上記ツールを保持
し、揺動することで上記ツールを駆動する揺動体を有
し、 前記駆動用アクチュエータは、この揺動体を揺動駆動す
る駆動モータであることを特徴とするボンディング装
置。2. The bonding apparatus according to claim 1, further comprising an oscillating body which is swingably held, holds the tool on a swing tip side, and swings to drive the tool. The bonding actuator is a drive motor for oscillating the oscillating body.
て、 上記揺動体内には、上記ツールを介して、上記リードや
ワイヤの接合部位に超音波振動を印加する超音波振動印
加手段が設けられていることを特徴とするボンディング
装置。3. The bonding apparatus according to claim 2, further comprising ultrasonic vibration applying means for applying ultrasonic vibration to a joining portion of the lead and the wire via the tool in the rocking body. Bonding device characterized by being
て、 上記評価手段は、電流値の波形の振動中心値、振幅およ
び振動周期を、上記比較に用いるものであることを特徴
とするボンディング装置。4. The bonding apparatus according to claim 1, wherein the evaluation means uses a vibration center value, an amplitude and a vibration cycle of a current value waveform for the comparison.
て、 上記評価手段は、比較の結果およびボンディング状態の
評価を表示する表示手段を有することを特徴とするボン
ディング装置。5. The bonding apparatus according to claim 1, wherein the evaluation means has a display means for displaying a comparison result and an evaluation of the bonding state.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7009795A JPH08203955A (en) | 1995-01-25 | 1995-01-25 | Bonding device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7009795A JPH08203955A (en) | 1995-01-25 | 1995-01-25 | Bonding device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08203955A true JPH08203955A (en) | 1996-08-09 |
Family
ID=11730145
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7009795A Pending JPH08203955A (en) | 1995-01-25 | 1995-01-25 | Bonding device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08203955A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109804461A (en) * | 2016-10-08 | 2019-05-24 | 华封科技有限公司 | Semiconductor packaging equipment and its control method and control device |
| WO2024195812A1 (en) * | 2023-03-22 | 2024-09-26 | 株式会社新川 | Wire bonding device and method for calibrating same |
-
1995
- 1995-01-25 JP JP7009795A patent/JPH08203955A/en active Pending
Cited By (5)
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| KR20190079620A (en) * | 2016-10-08 | 2019-07-05 | 캡콘 리미티드 | Semiconductor packaging device, control method and control device thereof |
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