JPH0820335B2 - レンズメータ - Google Patents
レンズメータInfo
- Publication number
- JPH0820335B2 JPH0820335B2 JP23122490A JP23122490A JPH0820335B2 JP H0820335 B2 JPH0820335 B2 JP H0820335B2 JP 23122490 A JP23122490 A JP 23122490A JP 23122490 A JP23122490 A JP 23122490A JP H0820335 B2 JPH0820335 B2 JP H0820335B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- switch
- stage state
- lens
- measurement
- state
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 160
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 83
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 19
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 38
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 34
- 230000008859 change Effects 0.000 description 32
- 230000008569 process Effects 0.000 description 14
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 11
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 101100328887 Caenorhabditis elegans col-34 gene Proteins 0.000 description 1
- 102100025490 Slit homolog 1 protein Human genes 0.000 description 1
- 101710123186 Slit homolog 1 protein Proteins 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 238000007630 basic procedure Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000013589 supplement Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 description 1
- 230000003936 working memory Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、眼鏡レンズやコンタクトレンズ等の光学特
性を測定するレンズメータに関するものである。
性を測定するレンズメータに関するものである。
[従来の技術] このようなレンズメータにおいては、測定部の一部を
構成する光学系の光路上所定位置に被検レンズを介挿
し、この被検レンズを通過した光線をイメージセンサで
光電変換した後、電気的に処理することで被検レンズの
光学特性を得るようになされている。電気的処理構成
は、このように測定部の一部を構成すると共に、検査員
とのマンマシンインタフェースの制御部をも構成してい
る。
構成する光学系の光路上所定位置に被検レンズを介挿
し、この被検レンズを通過した光線をイメージセンサで
光電変換した後、電気的に処理することで被検レンズの
光学特性を得るようになされている。電気的処理構成
は、このように測定部の一部を構成すると共に、検査員
とのマンマシンインタフェースの制御部をも構成してい
る。
すなわち、表示部及び操作スイッチ部でなる操作パネ
ルはレンズメータの表面外部に露出しており、電気的処
理構成は、表示部にその時点での測定ステージ状態や測
定結果の情報を表示して検査員に認識させると共に、検
査員が表示内容を確認しつつ操作したスイッチ情報を取
り込んで測定ステージ状態を変更させるようにレンズメ
ータを制御する。
ルはレンズメータの表面外部に露出しており、電気的処
理構成は、表示部にその時点での測定ステージ状態や測
定結果の情報を表示して検査員に認識させると共に、検
査員が表示内容を確認しつつ操作したスイッチ情報を取
り込んで測定ステージ状態を変更させるようにレンズメ
ータを制御する。
ここで、検査員の操作に供する操作スイッチとして
は、右眼スイッチ、左眼スイッチ、メモリスイッチ、ク
リアスイッチ及び印字スイッチ等があり、これら各スイ
ッチはそれぞれ、測定ステージ状態を所定の状態に変更
する予め定まっている機能に対応している。
は、右眼スイッチ、左眼スイッチ、メモリスイッチ、ク
リアスイッチ及び印字スイッチ等があり、これら各スイ
ッチはそれぞれ、測定ステージ状態を所定の状態に変更
する予め定まっている機能に対応している。
検査員がこのような操作スイッチを操作して行なう一
般的な測定手順は、例えば以下の通りである。検査員
は、被検レンズを光学系の所定位置に介挿させた後、右
眼スイッチを操作して右眼レンズの測定であることを指
示して測定を繰返し実行させ、その後、メモリスイッチ
を操作して右眼レンズについての光学特性の測定結果を
右眼レンズ用のメモリエリアに格納させると共に固定的
に表示させ、この終了時に、右眼スイッチを操作して左
眼レンズの測定であることを指示して測定を繰返し実行
させ、その後、メモリスイッチを操作して左眼レンズに
ついての光学特性の測定結果を左眼レンズ用のメモリエ
リアに格納させると共に固定的に表示させ、最後に印字
スイッチを操作して右眼レンズ及び左眼レンズについて
得られた光学特性の測定結果を印字出力させる。
般的な測定手順は、例えば以下の通りである。検査員
は、被検レンズを光学系の所定位置に介挿させた後、右
眼スイッチを操作して右眼レンズの測定であることを指
示して測定を繰返し実行させ、その後、メモリスイッチ
を操作して右眼レンズについての光学特性の測定結果を
右眼レンズ用のメモリエリアに格納させると共に固定的
に表示させ、この終了時に、右眼スイッチを操作して左
眼レンズの測定であることを指示して測定を繰返し実行
させ、その後、メモリスイッチを操作して左眼レンズに
ついての光学特性の測定結果を左眼レンズ用のメモリエ
リアに格納させると共に固定的に表示させ、最後に印字
スイッチを操作して右眼レンズ及び左眼レンズについて
得られた光学特性の測定結果を印字出力させる。
[発明が解決しようとする課題] ところで、測定を正確に行なうためには、被検レンズ
を光学系の所定位置に安定に支持することを要する。そ
のため、被検レンズを載置する測定台及び被検レンズの
測定に要しない部分を測定台の反対方向から測定台に向
かって押圧する押圧レバー等が設けられている。しか
し、被検レンズを傷付けないように軽く押圧するように
なされていて十分に安定な支持が得られず、そのため、
検査員は手を添えていることが多い。また、被検レンズ
が眼鏡に組み込まれているレンズ等の場合には、支持さ
れていない側の眼鏡レンズの重みによって上述した支持
部材が機能していてもさらに不安定であり、検査員が両
手を添えるようなことも生じてあり、検査員が両手を添
えるようなことも生じている。
を光学系の所定位置に安定に支持することを要する。そ
のため、被検レンズを載置する測定台及び被検レンズの
測定に要しない部分を測定台の反対方向から測定台に向
かって押圧する押圧レバー等が設けられている。しか
し、被検レンズを傷付けないように軽く押圧するように
なされていて十分に安定な支持が得られず、そのため、
検査員は手を添えていることが多い。また、被検レンズ
が眼鏡に組み込まれているレンズ等の場合には、支持さ
れていない側の眼鏡レンズの重みによって上述した支持
部材が機能していてもさらに不安定であり、検査員が両
手を添えるようなことも生じてあり、検査員が両手を添
えるようなことも生じている。
また、実際上、押圧レバーを用いないで測定すること
も多く成されている。被検レンズの光軸合わせや測定部
位を変化させる場合に、一々押圧レバーを解放位置及び
押圧位置に移動させる操作を行なうことは測定時間や測
定効率からみて問題が多いためである。
も多く成されている。被検レンズの光軸合わせや測定部
位を変化させる場合に、一々押圧レバーを解放位置及び
押圧位置に移動させる操作を行なうことは測定時間や測
定効率からみて問題が多いためである。
このように、検査員は、測定動作中には、各種の操作
スイッチを順に操作するだけではなく、被検レンズを保
持したり、移動させたりする操作を行なうことを要す
る。
スイッチを順に操作するだけではなく、被検レンズを保
持したり、移動させたりする操作を行なうことを要す
る。
そのため、スイッチ操作に繁雑感を抱く検査員も生じ
ている。実際上、基本的な手順に従っても上述したよう
に少なくとも6回のスイッチ操作が必要であって、保持
動作等と並行して行なうことは煩わしいものである。
ている。実際上、基本的な手順に従っても上述したよう
に少なくとも6回のスイッチ操作が必要であって、保持
動作等と並行して行なうことは煩わしいものである。
また、スイッチ操作のために被検レンズの保持動作が
おろそかになって測定精度が低下する可能性もある。
おろそかになって測定精度が低下する可能性もある。
さらに、このような状況で実行するスイッチ操作は誤
る恐れが高く、誤って近傍の操作スイッチを操作してそ
れまでの測定操作や測定動作が無駄に期することも生じ
ている。
る恐れが高く、誤って近傍の操作スイッチを操作してそ
れまでの測定操作や測定動作が無駄に期することも生じ
ている。
すなわち、従来のレンズメータでは、操作性及び使い
勝手の面から改善の余地が残っているということができ
る。
勝手の面から改善の余地が残っているということができ
る。
本発明は、以上の点を考慮してなされたものであり、
操作性及び使い勝手の優れたレンズメータを提供しよう
とするものである。
操作性及び使い勝手の優れたレンズメータを提供しよう
とするものである。
[課題を解決するための手段] かかる課題を解決するため、本発明においては、被検
レンズの光学特性を測定するものであって、操作パネル
に設けられている複数の操作スイッチのいずれかが操作
されたときに、第1の測定ステージ状態変更手段によっ
て操作された操作スイッチの種類に応じて測定ステージ
状態を変更するレンズメータに、以下の構成要素を追加
した。
レンズの光学特性を測定するものであって、操作パネル
に設けられている複数の操作スイッチのいずれかが操作
されたときに、第1の測定ステージ状態変更手段によっ
て操作された操作スイッチの種類に応じて測定ステージ
状態を変更するレンズメータに、以下の構成要素を追加
した。
すなわち、操作パネルとは異なる位置に設けられた操
作パネル外操作スイッチと、この操作パネル外操作スイ
ッチが操作されたときに、測定ステージ状態を、操作時
の測定ステージ状態に応じて予め定まっている次の測定
ステージ状態に変更させる第2の測定ステージ状態変更
手段とを設けた。
作パネル外操作スイッチと、この操作パネル外操作スイ
ッチが操作されたときに、測定ステージ状態を、操作時
の測定ステージ状態に応じて予め定まっている次の測定
ステージ状態に変更させる第2の測定ステージ状態変更
手段とを設けた。
[作用] 被検レンズの光学特性を測定するレンズメータにあっ
ては、例えば右眼用や左眼用が指定された被検レンズの
測定動作を所定周期で繰返している測定ステージ状態や
被検レンズの測定された光学特性結果をメモリして固定
的に表示する測定ステージ状態等、複数の測定ステージ
状態がある。
ては、例えば右眼用や左眼用が指定された被検レンズの
測定動作を所定周期で繰返している測定ステージ状態や
被検レンズの測定された光学特性結果をメモリして固定
的に表示する測定ステージ状態等、複数の測定ステージ
状態がある。
このような測定ステージ状態の変更は、ユーザの操作
によるのであるが、本発明では、操作性や使い勝手を考
慮して、操作パネルに設けられている操作スイッチ以外
によっても測定ステージ状態を変更できるように、操作
パネル外操作スイッチ及び第2の測定ステージ状態変更
手段とを新たに設けた。
によるのであるが、本発明では、操作性や使い勝手を考
慮して、操作パネルに設けられている操作スイッチ以外
によっても測定ステージ状態を変更できるように、操作
パネル外操作スイッチ及び第2の測定ステージ状態変更
手段とを新たに設けた。
操作パネル外操作スイッチが操作されても、このスイ
ッチ自体が変更先の測定ステージ状態を規定するもので
はなく、この操作パネル外操作スイッチが操作されたと
きには、第2の測定ステージ状態変更手段が、測定ステ
ージ状態を、この操作時の測定ステージ状態に応じて予
め定まっている次の測定ステージ状態に変更させること
とした。
ッチ自体が変更先の測定ステージ状態を規定するもので
はなく、この操作パネル外操作スイッチが操作されたと
きには、第2の測定ステージ状態変更手段が、測定ステ
ージ状態を、この操作時の測定ステージ状態に応じて予
め定まっている次の測定ステージ状態に変更させること
とした。
[実施例] 以下、本発明の一実施例を図面を参照しながら詳述す
る。
る。
実施例の全体構成 まず、第1図を中心的に用いて、この実施例のレンズ
メータの全体構成を説明する。
メータの全体構成を説明する。
第1図において、この実施例のレンズメータ1は、大
きくは、光学系10、電源部20、電気的処理部30及びマン
マシンインタフェース部60から構成されている。
きくは、光学系10、電源部20、電気的処理部30及びマン
マシンインタフェース部60から構成されている。
光学系10は、光源11、送光レンズ12、スリットパター
ン板13、コリメータレンズ14、測定台15、被検レンズ1
6、対物レンズ17及び1次元イメージセンサ18がこの順
に配置されて構成されている。
ン板13、コリメータレンズ14、測定台15、被検レンズ1
6、対物レンズ17及び1次元イメージセンサ18がこの順
に配置されて構成されている。
光源11は、第2図に示すように、例えば4個の高輝度
発光ダイオード(LED)11a〜11dが光学系10の光軸を中
心とした周方向に等間隔に配置されたものであり、これ
らの4個のLED11a〜11dは時分割に発光動作するもので
ある。なお、この実施例の場合、例えば4個のLED11a〜
11dの発光動作が一巡する時間が1回の測定周期となっ
ている。
発光ダイオード(LED)11a〜11dが光学系10の光軸を中
心とした周方向に等間隔に配置されたものであり、これ
らの4個のLED11a〜11dは時分割に発光動作するもので
ある。なお、この実施例の場合、例えば4個のLED11a〜
11dの発光動作が一巡する時間が1回の測定周期となっ
ている。
光源11から(正確にはいずれかのLED11a〜11dから)
射出された光線は、送光レンズ12を介して平行光線に変
換された後、スリットパターン板13に到達する。スリッ
トパターン板13には、第3図に示すように、N字状のス
リット13aが設けられており、入射平行光線のうちスリ
ット13a以外に到達した光線を遮光する。すなわち、N
字状パターンの光線を射出する。なお、このスリットパ
ターン板13は、パルスモータ13bによって光軸方向に移
動可能になされている。
射出された光線は、送光レンズ12を介して平行光線に変
換された後、スリットパターン板13に到達する。スリッ
トパターン板13には、第3図に示すように、N字状のス
リット13aが設けられており、入射平行光線のうちスリ
ット13a以外に到達した光線を遮光する。すなわち、N
字状パターンの光線を射出する。なお、このスリットパ
ターン板13は、パルスモータ13bによって光軸方向に移
動可能になされている。
スリットパターン板13を通過した光線が到達するコリ
メータレンズ14は、二つの機能を担っている。一つは、
被検レンズ16上に光源像を形成することであり、もう一
つはスリット13aの像を形成する光線を被検レンズ16と
協働して平行光線にすることである。後者の機能は、上
述したように、パルスモータ13bによってスリットパタ
ーン板13を、このコリメータレンズ14及び被検レンズ16
の合成焦点位置に位置させることで実現される。
メータレンズ14は、二つの機能を担っている。一つは、
被検レンズ16上に光源像を形成することであり、もう一
つはスリット13aの像を形成する光線を被検レンズ16と
協働して平行光線にすることである。後者の機能は、上
述したように、パルスモータ13bによってスリットパタ
ーン板13を、このコリメータレンズ14及び被検レンズ16
の合成焦点位置に位置させることで実現される。
測定台15は透光性を有するものであり、コリメータレ
ンズ14により形成される光源像の位置に被検レンズ16を
位置させるものである。
ンズ14により形成される光源像の位置に被検レンズ16を
位置させるものである。
対物レンズ17は、その焦平面上に位置されている1次
元イメージセンサ18上にスリット13aの像を結像させる
ものである。
元イメージセンサ18上にスリット13aの像を結像させる
ものである。
1次元イメージセンサ18は例えばCCDで構成されてお
り、スリット13aの像情報を時系列電気信号として取出
するものである。すなわち、スリット13aを通過した光
線が照射された当該イメージセンサ18のセルからは高レ
ベルの電気信号が得られ、他のセルからは低レベルの電
気信号が得られる。
り、スリット13aの像情報を時系列電気信号として取出
するものである。すなわち、スリット13aを通過した光
線が照射された当該イメージセンサ18のセルからは高レ
ベルの電気信号が得られ、他のセルからは低レベルの電
気信号が得られる。
イメージセンサとしてこのような1次元イメージセン
サ18を用いても、スリット像18aについての2次元の位
置情報を得ることができるようにスリット13aをN字状
としている。すなわち、スリット像18aの一方の平行線1
8a1及び斜線18a2間の距離と、他方の平行線18a3及び斜
線18a2間の距離との比は、イメージセンサ18の延長方向
と直交する方向の位置に応じたものとなっている。
サ18を用いても、スリット像18aについての2次元の位
置情報を得ることができるようにスリット13aをN字状
としている。すなわち、スリット像18aの一方の平行線1
8a1及び斜線18a2間の距離と、他方の平行線18a3及び斜
線18a2間の距離との比は、イメージセンサ18の延長方向
と直交する方向の位置に応じたものとなっている。
上述したコリメータレンズ14及び被検レンズ16とによ
ってスリット像を形成する光線を平行光線にできるよう
にスリットパターン板13を位置させることは、すなわ
ち、スリット13aとスリット像18aとをほぼ光学的に共役
な関係とすることである。
ってスリット像を形成する光線を平行光線にできるよう
にスリットパターン板13を位置させることは、すなわ
ち、スリット13aとスリット像18aとをほぼ光学的に共役
な関係とすることである。
コリメータレンズ14の焦点距離は既知であるので、ス
リットパターン板13の位置情報及びスリット像18aの大
きさ情報等から被検レンズ16の度数を求めることができ
る。また、発光動作しているLED11a〜11dとスリット像1
8aの位置情報等から被検レンズ16の屈折力を得られ、4
個のLEDE11a〜11dからのこのような情報によって被検レ
ンズ16の測定部位情報(光軸ずれ情報)や乱視情報を得
ることができる。
リットパターン板13の位置情報及びスリット像18aの大
きさ情報等から被検レンズ16の度数を求めることができ
る。また、発光動作しているLED11a〜11dとスリット像1
8aの位置情報等から被検レンズ16の屈折力を得られ、4
個のLEDE11a〜11dからのこのような情報によって被検レ
ンズ16の測定部位情報(光軸ずれ情報)や乱視情報を得
ることができる。
このようにスリット像18aの情報を分析することによ
って各種の光学特性を測定することができる。
って各種の光学特性を測定することができる。
次に、マンマシンインタフェース部60について説明す
る。マンマシンインタフェース部60は、操作パネル61
と、フットスイッチ62及びプリンタ装置63から構成され
ている。
る。マンマシンインタフェース部60は、操作パネル61
と、フットスイッチ62及びプリンタ装置63から構成され
ている。
操作パネル61は、表示部64と操作スイッチ部65から構
成されている。表示部64は測定ステージ状態や測定結果
を表示して検査員に認識させるものである。操作スイッ
チ部65は、操作信号に意味が定まっている複数の操作ス
イッチを備え、操作スイッチの操作信号を電気的処理部
30に与えて測定ステージ状態等の変更を指示するもので
ある。なお、操作パネル61の詳細については後述する。
成されている。表示部64は測定ステージ状態や測定結果
を表示して検査員に認識させるものである。操作スイッ
チ部65は、操作信号に意味が定まっている複数の操作ス
イッチを備え、操作スイッチの操作信号を電気的処理部
30に与えて測定ステージ状態等の変更を指示するもので
ある。なお、操作パネル61の詳細については後述する。
フットスイッチ62は、ケーブルを介してレンズメータ
本体に接続されているものであり、操作時に操作信号と
出力する。このレンズメータ1では、フットスイッチ62
からの操作信号自体には意味が定まっていない。しか
し、後述するように、フットスイッチ62からの操作信号
によっても測定ステージ状態等を変更させることができ
る。フットスイッチ62を設けたのは、被検レンズ16の保
持動作等によって検査員の手が塞がっていても測定ステ
ージ状態等の変更を容易に指示できるようにしたためで
ある。
本体に接続されているものであり、操作時に操作信号と
出力する。このレンズメータ1では、フットスイッチ62
からの操作信号自体には意味が定まっていない。しか
し、後述するように、フットスイッチ62からの操作信号
によっても測定ステージ状態等を変更させることができ
る。フットスイッチ62を設けたのは、被検レンズ16の保
持動作等によって検査員の手が塞がっていても測定ステ
ージ状態等の変更を容易に指示できるようにしたためで
ある。
プリンタ装置63は、当該レンズメータ1の外部に設け
られていてケーブルによって当該レンズメータ1と接続
されているものであり、測定結果情報の転送を受けて印
字出力するものである。
られていてケーブルによって当該レンズメータ1と接続
されているものであり、測定結果情報の転送を受けて印
字出力するものである。
次に、電気的処理部30について説明する。この電気的
処理部30は、後流電源電圧(例えば商用電源電圧)を直
流電圧に変換する電源部20から電源供給を受けて動作す
る。
処理部30は、後流電源電圧(例えば商用電源電圧)を直
流電圧に変換する電源部20から電源供給を受けて動作す
る。
電気的処理部30は、大きくは、制御部31、スリット像
信号処理部32、CCD駆動部33、表示駆動部34、光源駆動
部35、パルスモータ駆動部36及びプリンタ駆動部37から
構成されている。
信号処理部32、CCD駆動部33、表示駆動部34、光源駆動
部35、パルスモータ駆動部36及びプリンタ駆動部37から
構成されている。
制御部31は、当該レンズメータ1の全体制御を司どる
ものであり、CPU40、プログラムメモリとしてのROM41、
ワーキングメモリとしてのRAM42、データメモリとして
の不揮発性RAM42Aより構成されている。R0M41やRAM42や
不揮発性RAM42Aには、各測定ステージ状態での処理プロ
グラムや、第4図に示す操作スイッチ部64からの操作信
号に応じて測定ステージ状態を変更させるための処理プ
ログラムや、フットスイッチ62からの操作信号に応じて
測定ステージ状態を変更させるための第5図に示す処理
プログラムや固定データ(キャリブレーションデータや
フットスイッチ62の使用態様を規定するデータ)等が格
納されており、これらプログラムやデータに従いCPU40
は制御動作を実行する。RAM42は、さらにCPU40が各種の
処理時に利用するものである。
ものであり、CPU40、プログラムメモリとしてのROM41、
ワーキングメモリとしてのRAM42、データメモリとして
の不揮発性RAM42Aより構成されている。R0M41やRAM42や
不揮発性RAM42Aには、各測定ステージ状態での処理プロ
グラムや、第4図に示す操作スイッチ部64からの操作信
号に応じて測定ステージ状態を変更させるための処理プ
ログラムや、フットスイッチ62からの操作信号に応じて
測定ステージ状態を変更させるための第5図に示す処理
プログラムや固定データ(キャリブレーションデータや
フットスイッチ62の使用態様を規定するデータ)等が格
納されており、これらプログラムやデータに従いCPU40
は制御動作を実行する。RAM42は、さらにCPU40が各種の
処理時に利用するものである。
CCD駆動部33は、CCD構成の1次元イメージセンサ18を
駆動してその各セルから電荷量を順次取出して、スリッ
ト像信号処理部32にスリット像信号として与えるもので
ある。
駆動してその各セルから電荷量を順次取出して、スリッ
ト像信号処理部32にスリット像信号として与えるもので
ある。
表示駆動部34は、操作パネル61の表示部64を駆動する
ものであり、測定結果情報や測定ステージ状態情報等を
後述するように表示させるものである。
ものであり、測定結果情報や測定ステージ状態情報等を
後述するように表示させるものである。
光源駆動部35は、光源11の各LED11a〜11dを所定順序
でかつ所定周期で発光駆動するものである。
でかつ所定周期で発光駆動するものである。
パルスモータ駆動部36は、スリットパターン板13の位
置指令に基づいてパルスモータ13bを駆動してスリット1
3aとスリット像18aとの光学的な共役関係を実現させる
ものである。
置指令に基づいてパルスモータ13bを駆動してスリット1
3aとスリット像18aとの光学的な共役関係を実現させる
ものである。
プリンタ駆動部37は、プリンタ装置63を駆動して測定
結果情報等を印字出力させるものである。
結果情報等を印字出力させるものである。
スリット像信号処理部32は、クロック発生回路50及び
カウンタ回路51を備えている。このクロック発生回路50
は、CCD駆動部33がスリット像信号を取出すためのクロ
ック信号を形成するものであり、また発生したクロック
信号をカウンタ回路51に与える。カウンタ回路51はクロ
ック信号を分周して各種のタイミング信号を形成するも
のである。また、カウンタ回路51は、カウント信号を出
力してイメージセンサ18上の各種の距離情報の検出に利
用させるものである。スリット像信号処理部32外部に対
してカウンタ回路51が出力する信号としては、例えば光
源駆動部35に対する発光指令信号等がある。
カウンタ回路51を備えている。このクロック発生回路50
は、CCD駆動部33がスリット像信号を取出すためのクロ
ック信号を形成するものであり、また発生したクロック
信号をカウンタ回路51に与える。カウンタ回路51はクロ
ック信号を分周して各種のタイミング信号を形成するも
のである。また、カウンタ回路51は、カウント信号を出
力してイメージセンサ18上の各種の距離情報の検出に利
用させるものである。スリット像信号処理部32外部に対
してカウンタ回路51が出力する信号としては、例えば光
源駆動部35に対する発光指令信号等がある。
また、スリット像信号処理部32は、ピークホールド回
路52、スライスレベル発生回路53及びコンパレータ回路
54を備えている。ピークホールド回路52は1次元イメー
ジセンサ18からのスリット像信号のピーク値をホールド
し、このピーク値に応じてスライスレベル発生回路53が
コンパレータ回路54に与えるスライスレベルを形成し、
コンパレータ回路54が入力されたスリット像信号をこの
スライスレベルと比較することで入力されたスリット像
信号を2値化するようにしている。被検レンズ16によっ
て透光率が変化するため、ピークホールド回路52、スラ
イスレベル発生回路53を用いたオートゲイン調整による
2値化を実行するようにしている。
路52、スライスレベル発生回路53及びコンパレータ回路
54を備えている。ピークホールド回路52は1次元イメー
ジセンサ18からのスリット像信号のピーク値をホールド
し、このピーク値に応じてスライスレベル発生回路53が
コンパレータ回路54に与えるスライスレベルを形成し、
コンパレータ回路54が入力されたスリット像信号をこの
スライスレベルと比較することで入力されたスリット像
信号を2値化するようにしている。被検レンズ16によっ
て透光率が変化するため、ピークホールド回路52、スラ
イスレベル発生回路53を用いたオートゲイン調整による
2値化を実行するようにしている。
さらに、スリット像信号処理部32は、微分回路55、ラ
ッチ回路56、数値演算回路57、データRAM58及びアドレ
ス設定回路59を備えている。スリット13aを通過してイ
メージセンサ18に照射された部分についてハイレベルを
とり、それ以外の部分についてロウレベルをとる上述し
た2値化スリット像信号は、微分回路55によって微分さ
れ、これがラッチ回路56のラッチ指令信号として与えら
れる。ラッチ回路56には、上述したカウンタ回路51から
カウント信号が与えられており、微分信号が与えられた
時点のカウント値をラッチする。
ッチ回路56、数値演算回路57、データRAM58及びアドレ
ス設定回路59を備えている。スリット13aを通過してイ
メージセンサ18に照射された部分についてハイレベルを
とり、それ以外の部分についてロウレベルをとる上述し
た2値化スリット像信号は、微分回路55によって微分さ
れ、これがラッチ回路56のラッチ指令信号として与えら
れる。ラッチ回路56には、上述したカウンタ回路51から
カウント信号が与えられており、微分信号が与えられた
時点のカウント値をラッチする。
これにより、イメージセンサ18の原点18bから、スリ
ット像18aの一方の平行線18a1までの距離や、斜線18a2
までの距離や、他方の平行線18a3までの距離等がラッチ
される。カウント値信号及び微分信号が与えられるアド
レス設定回路59が、このラッチ動作に同期して、データ
RAM58のアドレスを形成し、各種の距離情報をデータRAM
58に格納させる。
ット像18aの一方の平行線18a1までの距離や、斜線18a2
までの距離や、他方の平行線18a3までの距離等がラッチ
される。カウント値信号及び微分信号が与えられるアド
レス設定回路59が、このラッチ動作に同期して、データ
RAM58のアドレスを形成し、各種の距離情報をデータRAM
58に格納させる。
このようにしてデータRAM58に格納された距離情報等
が制御部31の制御下で数値演算回路57に与えられ、数値
演算回路57が被検レンズ16の光学特性を求める。このよ
うに、光学特性を求める演算をCPU40がソフトウェア的
に実行するのではなく、ハードウェア的に実行すること
として光束処理化を計っている。
が制御部31の制御下で数値演算回路57に与えられ、数値
演算回路57が被検レンズ16の光学特性を求める。このよ
うに、光学特性を求める演算をCPU40がソフトウェア的
に実行するのではなく、ハードウェア的に実行すること
として光束処理化を計っている。
なお、光学特性は、上述したように、光源11の1発光
周期毎に求められてその都度表示部64によって表示され
るが、後述するメモリスイッチが操作されたときに確定
された光学特性として制御部31側のRAM42に転送される
と共に、表示部64によって固定表示される。
周期毎に求められてその都度表示部64によって表示され
るが、後述するメモリスイッチが操作されたときに確定
された光学特性として制御部31側のRAM42に転送される
と共に、表示部64によって固定表示される。
測定ステージ状態 この実施例は、後述するように、測定ステージ状態を
変更させる検査員の操作方法(レンズメータ1からみれ
ば処理プログラム)及び操作構成に特徴を有するもので
あり、ここでは、各測定ステージ状態を第4図を用いて
説明する。
変更させる検査員の操作方法(レンズメータ1からみれ
ば処理プログラム)及び操作構成に特徴を有するもので
あり、ここでは、各測定ステージ状態を第4図を用いて
説明する。
ステージ状態ST0は原点ステージ状態であり、主電源
の投入時や測定待機状態にこのステージ状態となる。
の投入時や測定待機状態にこのステージ状態となる。
ステージ状態ST1は、被検レンズ16が右眼用か左眼用
かに関係なく、ある光学特性をメモリしているステージ
状態である。実際上、度数情報や乱視情報を測定で得る
以外にもプリズムや加入度数の情報を測定で得ることも
でき、また乱視情報の表示モードを変更したりすること
ができ、度数情報や乱視情報の測定や印字やメモリにか
かる他のステージ状態の他に当該ステージ状態ST1を設
けている。すなわち、プリズムや加入度数等の情報を得
る測定にかかるステージ状態であり、他のステージ状態
ST2〜ST8が基本的な度数情報や乱視情報を測定で得るた
めのものである点、このステージ状態ST1は特異であ
る。
かに関係なく、ある光学特性をメモリしているステージ
状態である。実際上、度数情報や乱視情報を測定で得る
以外にもプリズムや加入度数の情報を測定で得ることも
でき、また乱視情報の表示モードを変更したりすること
ができ、度数情報や乱視情報の測定や印字やメモリにか
かる他のステージ状態の他に当該ステージ状態ST1を設
けている。すなわち、プリズムや加入度数等の情報を得
る測定にかかるステージ状態であり、他のステージ状態
ST2〜ST8が基本的な度数情報や乱視情報を測定で得るた
めのものである点、このステージ状態ST1は特異であ
る。
ステージ状態ST2は、被検レンズ16が右眼用であるこ
とが指定されて測定動作を繰返しているステージ状態で
ある。
とが指定されて測定動作を繰返しているステージ状態で
ある。
ステージ状態ST3は、右眼レンズについての光学特性
の測定結果が確定されてメモリされていると共に固定表
示されているステージ状態である。
の測定結果が確定されてメモリされていると共に固定表
示されているステージ状態である。
ステージ状態ST4は、右眼レンズについての光学特性
の測定結果がメモリ及び固定表示がなされていると共
に、左眼レンズについての測定動作を繰返しているステ
ージ状態である。
の測定結果がメモリ及び固定表示がなされていると共
に、左眼レンズについての測定動作を繰返しているステ
ージ状態である。
ステージ状態ST5は、被検レンズ16として左眼レンズ
は指定されて測定動作を繰返しているステージ状態であ
る。
は指定されて測定動作を繰返しているステージ状態であ
る。
ステージ状態ST6は、左眼レンズについての光学特性
の測定結果が確定されてメモリ及び固定表示がなされて
いるステージ状態である。
の測定結果が確定されてメモリ及び固定表示がなされて
いるステージ状態である。
ステージ状態ST7は、左眼レンズについての光学特性
の測定結果がメモリ及び固定表示がなされていると共
に、右眼レンズが指定されて測定動作を繰返しているス
テージ状態である。
の測定結果がメモリ及び固定表示がなされていると共
に、右眼レンズが指定されて測定動作を繰返しているス
テージ状態である。
ステージ状態ST8は、左眼レンズ及び右眼レンズにつ
いて確定された光学特性の測定結果をメモリしているス
テージ状態である。なお、最新にメモリされた測定結果
が固定表示される。
いて確定された光学特性の測定結果をメモリしているス
テージ状態である。なお、最新にメモリされた測定結果
が固定表示される。
これ以外にも、印字状態があるが、これは、印字指令
が与えられたときにどのステージ状態ST0〜ST8からも移
行できる状態であって印字動作が終了したときには元の
ステージ状態に復帰するものである。
が与えられたときにどのステージ状態ST0〜ST8からも移
行できる状態であって印字動作が終了したときには元の
ステージ状態に復帰するものである。
操作パネル61の詳細構成 及び測定ステージ状態の変更 これら測定ステージ状態ST0〜ST8間の変更を、操作パ
ネル61の操作スイッチ部65によっても、また、フットス
イッチ62によっても操作することができる。
ネル61の操作スイッチ部65によっても、また、フットス
イッチ62によっても操作することができる。
ここでは、前者について説明する。実際上、操作時の
測定ステージ状態の検査員による認識が重要であるの
で、操作スイッチ部65だけではなく、表示部64について
も詳細構成を説明し、その後に、操作スイッチ部65によ
る測定ステージ状態ST0〜ST8の変更を説明する。
測定ステージ状態の検査員による認識が重要であるの
で、操作スイッチ部65だけではなく、表示部64について
も詳細構成を説明し、その後に、操作スイッチ部65によ
る測定ステージ状態ST0〜ST8の変更を説明する。
第6図は、操作パネル61の表出面の配置を示すもので
ある。第6図において、操作スイッチ部65を構成する操
作スイッチとして、左眼スイッチ65L、右眼スイッチ65
R、メモリスイッチ65M、クリアスイッチ65C及び印字ス
イッチ65Pが配置されている。なお、図示及び説明は省
略するが、実際上は、プリズムスイッチや加入度数スイ
ッチ等の他のスイッチが操作パネル61に設けられてい
る。
ある。第6図において、操作スイッチ部65を構成する操
作スイッチとして、左眼スイッチ65L、右眼スイッチ65
R、メモリスイッチ65M、クリアスイッチ65C及び印字ス
イッチ65Pが配置されている。なお、図示及び説明は省
略するが、実際上は、プリズムスイッチや加入度数スイ
ッチ等の他のスイッチが操作パネル61に設けられてい
る。
左眼スイッチ65Lは、測定にかかる被検レンズ16が左
眼レンズであることを指示する場合や、確定されている
左眼レンズの光学特性についてのメモリ状態を解除して
左眼レンズの測定状態に復帰させることを指示する場合
に操作されるものである。例えば、第4図に示すよう
に、原点ステージ状態ST0において左眼スイッチ65Lが操
作された場合には、左眼レンズが指定された測定状態で
あるステージ状態ST5に移行する。また、左眼レンズ及
び右眼レンズについて光学特性が確定されてメモリされ
ているステージ状態ST8で、左眼スイッチ65Lが操作され
ると、左眼レンズの光学特性がメモリされていて左眼レ
ンズについては測定を繰返すステージ状態ST4に移行す
る。
眼レンズであることを指示する場合や、確定されている
左眼レンズの光学特性についてのメモリ状態を解除して
左眼レンズの測定状態に復帰させることを指示する場合
に操作されるものである。例えば、第4図に示すよう
に、原点ステージ状態ST0において左眼スイッチ65Lが操
作された場合には、左眼レンズが指定された測定状態で
あるステージ状態ST5に移行する。また、左眼レンズ及
び右眼レンズについて光学特性が確定されてメモリされ
ているステージ状態ST8で、左眼スイッチ65Lが操作され
ると、左眼レンズの光学特性がメモリされていて左眼レ
ンズについては測定を繰返すステージ状態ST4に移行す
る。
右眼スイッチ65Rは、第4図に示すように、測定にか
かる被検レンズ16が右眼レンズであることを指示する場
合や、確定されている右眼レンズの光学特性についての
メモリ状態を解除して右眼レンズの測定状態に復帰させ
ることを指示する場合に操作されるものである。例え
ば、第4図に示すように、原点ステージ状態ST0におい
て右眼スイッチ65Rが操作された場合には、右眼レンズ
が指定された測定状態であるステージ状態ST2に移行す
る。また、左眼レンズ及び右眼レンズについて光学特性
が確定されてメモリされているステージ状態ST8で、右
眼スイッチ65Rが操作されると、左眼レンズの光学特性
がメモリされていて右眼レンズについての測定を繰返す
ステージ状態ST7に移行する。
かる被検レンズ16が右眼レンズであることを指示する場
合や、確定されている右眼レンズの光学特性についての
メモリ状態を解除して右眼レンズの測定状態に復帰させ
ることを指示する場合に操作されるものである。例え
ば、第4図に示すように、原点ステージ状態ST0におい
て右眼スイッチ65Rが操作された場合には、右眼レンズ
が指定された測定状態であるステージ状態ST2に移行す
る。また、左眼レンズ及び右眼レンズについて光学特性
が確定されてメモリされているステージ状態ST8で、右
眼スイッチ65Rが操作されると、左眼レンズの光学特性
がメモリされていて右眼レンズについての測定を繰返す
ステージ状態ST7に移行する。
メモリスイッチ65Mは、この操作時に求められている
光学特性を確定した光学特性としてメモリすると共に固
定表示させることを指示するものである。例えば、右眼
レンズが指定された測定状態であるステージ状態ST2に
おいてこのメモリスイッチ65Mが操作されると、右眼レ
ンズについての光学特性をメモリして固定表示するステ
ージ状態ST3に移行する。また、メモリ状態を解除する
スイッチとしても用いられる。
光学特性を確定した光学特性としてメモリすると共に固
定表示させることを指示するものである。例えば、右眼
レンズが指定された測定状態であるステージ状態ST2に
おいてこのメモリスイッチ65Mが操作されると、右眼レ
ンズについての光学特性をメモリして固定表示するステ
ージ状態ST3に移行する。また、メモリ状態を解除する
スイッチとしても用いられる。
クリアスイッチ65Cは、どのステージ状態ST0〜ST8に
あってもこのクリアスイッチ65Cが操作された場合に原
点ステージ状態ST0に移行させるものである。
あってもこのクリアスイッチ65Cが操作された場合に原
点ステージ状態ST0に移行させるものである。
どのステージ状態ST0〜ST8にあっても、これら4個の
スイッチのいずれかが操作される可能性があり、各ステ
ージ状態ST0〜ST8はこれら4個のスイッチの操作に対応
して測定ステージ状態を変更(同一のこともある)する
ようになされている。これら4個のスイッチは、上述し
たような状態移行機能が割り当てられているので、これ
ら操作スイッチの操作時におけるステージ状態の変更
は、第4図に整理したようになる。
スイッチのいずれかが操作される可能性があり、各ステ
ージ状態ST0〜ST8はこれら4個のスイッチの操作に対応
して測定ステージ状態を変更(同一のこともある)する
ようになされている。これら4個のスイッチは、上述し
たような状態移行機能が割り当てられているので、これ
ら操作スイッチの操作時におけるステージ状態の変更
は、第4図に整理したようになる。
印字スイッチ65Pは、当該レンズメータ1の外部に設
けられているプリンタ装置63に、メモリされている確定
光学特性情報を転送して印字することを指示するもので
ある。なお、転送先がプリンタ装置でない場合にもこの
スイッチが転送指令として機能するレンズメータも存在
する。
けられているプリンタ装置63に、メモリされている確定
光学特性情報を転送して印字することを指示するもので
ある。なお、転送先がプリンタ装置でない場合にもこの
スイッチが転送指令として機能するレンズメータも存在
する。
測定結果や測定ステージ状態を検査員に認識させる表
示部64は、基本光学情報表示部64a、乱視情報表示部64
b、光学中心位置ずれ情報表示部64c、右眼情報表示部64
R及び左眼情報表紙部64Lとからなる。
示部64は、基本光学情報表示部64a、乱視情報表示部64
b、光学中心位置ずれ情報表示部64c、右眼情報表示部64
R及び左眼情報表紙部64Lとからなる。
基本光学情報表示部64aは、例えば液晶表示構成でな
り、被検レンズ16の基本的光学情報(球面度数)をジオ
プトリでデジタル表示するものである。
り、被検レンズ16の基本的光学情報(球面度数)をジオ
プトリでデジタル表示するものである。
乱視情報表示部64bも例えば液晶表示構成でなり、乱
視度数をデジタル表示すると共に(符号64b1参照)、乱
視軸方向の角度をデジタル表示するものである(符号64
b2参照)。
視度数をデジタル表示すると共に(符号64b1参照)、乱
視軸方向の角度をデジタル表示するものである(符号64
b2参照)。
これら基本光学情報表示部64a及び乱視情報表示部64b
は、右眼レンズ又は左眼レンズの測定状態であるステー
ジ状態ST2、ST4、ST5及びST7においては、測定周期(光
源11の4個のLED11a〜11dの発光一巡周期)毎に表示内
容を変更させるものであり、測定状態を伴わないメモリ
状態であるステージ状態ST1、ST3、ST6及びST8において
は確定された光学特性情報を固定表示する。
は、右眼レンズ又は左眼レンズの測定状態であるステー
ジ状態ST2、ST4、ST5及びST7においては、測定周期(光
源11の4個のLED11a〜11dの発光一巡周期)毎に表示内
容を変更させるものであり、測定状態を伴わないメモリ
状態であるステージ状態ST1、ST3、ST6及びST8において
は確定された光学特性情報を固定表示する。
光学中心位置ずれ情報表示部64cは、原点位置を示すL
ED構成の原点指示部64c1と、この原点指示部64c1から放
射状に伸びて十字形状をなすLED構成の4個のバー表示
部64c2〜64c5とからなる。十字形状をなすLED構成の4
個のバー表示部64c2〜64c5は、直交座標系を規定するも
のであり、各座標軸について発光状態にある最後のバー
セグメントの位置によって光学中心の位置ずれを表して
いる。なお、原点指示部64c1は、単なるメモリ状態及び
測定状態を伴ったメモリ状態共に、メモリされている光
学特性があれば点滅して、そのことを検査員に対して明
らかにしている。
ED構成の原点指示部64c1と、この原点指示部64c1から放
射状に伸びて十字形状をなすLED構成の4個のバー表示
部64c2〜64c5とからなる。十字形状をなすLED構成の4
個のバー表示部64c2〜64c5は、直交座標系を規定するも
のであり、各座標軸について発光状態にある最後のバー
セグメントの位置によって光学中心の位置ずれを表して
いる。なお、原点指示部64c1は、単なるメモリ状態及び
測定状態を伴ったメモリ状態共に、メモリされている光
学特性があれば点滅して、そのことを検査員に対して明
らかにしている。
右眼情報表示部64Rは、例えば「右」という形状のLED
で構成され、右眼レンズが指定された測定状態では点滅
し、右眼レンズの光学特性がメモリされた状態では点灯
するものである。例えば、ステージ状態ST2及びST7等で
は点滅し、ステージ状態ST3、ST4及びST8等では点灯す
る。
で構成され、右眼レンズが指定された測定状態では点滅
し、右眼レンズの光学特性がメモリされた状態では点灯
するものである。例えば、ステージ状態ST2及びST7等で
は点滅し、ステージ状態ST3、ST4及びST8等では点灯す
る。
左眼情報表示部64Lは、例えば「左」という形状のLED
で構成され、左眼レンズが指定された測定状態では点滅
し、左眼レンズの光学特性がメモリされた状態では点灯
するものである。例えば、ステージ状態ST4及びST5等で
は点滅し、ステージ状態ST6、ST7及びST8等では点灯す
る。
で構成され、左眼レンズが指定された測定状態では点滅
し、左眼レンズの光学特性がメモリされた状態では点灯
するものである。例えば、ステージ状態ST4及びST5等で
は点滅し、ステージ状態ST6、ST7及びST8等では点灯す
る。
以上のような表示を行なう表示部64によって、検査員
は、測定ステージ状態や測定結果等を認識することがで
き、測定ステージ状態の変更を指示する等の次の操作を
行なうことになる。
は、測定ステージ状態や測定結果等を認識することがで
き、測定ステージ状態の変更を指示する等の次の操作を
行なうことになる。
フットスイッチ62による 測定ステージ状態の変更 測定ステージ状態は操作スイッチ部65に対する操作に
よって変更することができるが、上述したように、この
実施例の場合、フットスイッチ62の操作によっても変更
することができる。
よって変更することができるが、上述したように、この
実施例の場合、フットスイッチ62の操作によっても変更
することができる。
以下、第5図を用いて、フットスイッチ62の操作によ
る測定ステージ状態の変更処理を説明する。
る測定ステージ状態の変更処理を説明する。
なお、当該レンズメータ1の納品時や設置時等に、こ
のフットスイッチ62をどのようなスイッチとして用いる
か(使用態様)が初期設定され、その設定内容が制御部
31の不揮発性RAM42Aに格納されている。すなわち、ソフ
トウェア的なディップスイッチ情報として不揮発性RAM4
2Aに格納されている。
のフットスイッチ62をどのようなスイッチとして用いる
か(使用態様)が初期設定され、その設定内容が制御部
31の不揮発性RAM42Aに格納されている。すなわち、ソフ
トウェア的なディップスイッチ情報として不揮発性RAM4
2Aに格納されている。
この実施例の場合、かかる初期設定によって、フット
スイッチ62をメモリスイッチ65Mと等価なスイッチとし
て用いることもでき、また、印字スイッチ65Pと等価な
スイッチとして用いることもでき、さらに、測定ステー
ジ状態の所定順序の変更を指示するガイダンススイッチ
として用いることができる。
スイッチ62をメモリスイッチ65Mと等価なスイッチとし
て用いることもでき、また、印字スイッチ65Pと等価な
スイッチとして用いることもでき、さらに、測定ステー
ジ状態の所定順序の変更を指示するガイダンススイッチ
として用いることができる。
制御部31は、主電源が投入されると、第5図に示す処
理プログラムを開始し、まず、測定ステージ状態を原点
ステージ状態ST0にすると共に、印字/クリアフラグF
を0とする(ステップ100)。
理プログラムを開始し、まず、測定ステージ状態を原点
ステージ状態ST0にすると共に、印字/クリアフラグF
を0とする(ステップ100)。
その後、いずれかの操作スイッチ又はフットスイッチ
62が操作されることを待受け、操作信号が与えられる
と、それが操作スイッチからの操作信号かフットスイッ
チ62からの操作信号かを判別する(ステップ101、10
2)。
62が操作されることを待受け、操作信号が与えられる
と、それが操作スイッチからの操作信号かフットスイッ
チ62からの操作信号かを判別する(ステップ101、10
2)。
かかる判別の結果、操作スイッチからの操作信号であ
ると、第4図に示すように測定ステージ状態を変更した
後、操作信号の待機ステップ101に戻る(ステップ10
3)。
ると、第4図に示すように測定ステージ状態を変更した
後、操作信号の待機ステップ101に戻る(ステップ10
3)。
他方、フットスイッチ62からの操作信号であると、フ
ットスイッチ62がどのようなスイッチとして初期設定さ
れたかを判別する(ステップ104)。
ットスイッチ62がどのようなスイッチとして初期設定さ
れたかを判別する(ステップ104)。
メモリスイッチ65Mと等価なスイッチとして設定され
ていると、メモリスイッチ65Mが操作されたと同様な測
定ステージ状態の変更処理(第4図参照)を実行した
後、操作信号が待機ステップ101に戻る(ステップ10
5)。
ていると、メモリスイッチ65Mが操作されたと同様な測
定ステージ状態の変更処理(第4図参照)を実行した
後、操作信号が待機ステップ101に戻る(ステップ10
5)。
ステップ104の判別の結果、フットスイッチ62に対し
て印字スイッチ65Pと等価なスイッチとして設定されて
いると、印字スイッチ65Pが操作されたと同様な処理、
すなわち、メモリ状態にある光学特性の印字処理を実行
させた後、操作信号の待機ステップ101に戻る(ステッ
プ106)。
て印字スイッチ65Pと等価なスイッチとして設定されて
いると、印字スイッチ65Pが操作されたと同様な処理、
すなわち、メモリ状態にある光学特性の印字処理を実行
させた後、操作信号の待機ステップ101に戻る(ステッ
プ106)。
ステップ104の判別の結果、フットスイッチ62に対し
て、測定ステージ状態の所定順序の変更を指示するガイ
ダンススイッチとして設定されていると、さらに、現在
の測定ステージ状態を判別する(ステップ107)。
て、測定ステージ状態の所定順序の変更を指示するガイ
ダンススイッチとして設定されていると、さらに、現在
の測定ステージ状態を判別する(ステップ107)。
現在の測定ステージ状態が、原点ステージ状態ST0、
又は、左右の指定のないメモリ状態ST1であると、右眼
スイッチ65Rが操作されたと同様なステージ状態の変更
を行なう(ステップ108)。すなわち、右眼レンズが指
定された測定ステージ状態ST2とする。かかる処理後
は、操作信号の待機ステップ101に戻る。
又は、左右の指定のないメモリ状態ST1であると、右眼
スイッチ65Rが操作されたと同様なステージ状態の変更
を行なう(ステップ108)。すなわち、右眼レンズが指
定された測定ステージ状態ST2とする。かかる処理後
は、操作信号の待機ステップ101に戻る。
現在の測定ステージ状態が、右眼レンズが指定された
測定状態ST2であると、メモリスイッチ65Mが操作された
と同様なステージ状態の変更を行なう(ステップ10
9)。すなわち、右眼レンズについての光学特性の測定
結果をメモリしたステージ状態ST3とする。かかる処理
後は、操作信号の待機ステップ101に戻る。
測定状態ST2であると、メモリスイッチ65Mが操作された
と同様なステージ状態の変更を行なう(ステップ10
9)。すなわち、右眼レンズについての光学特性の測定
結果をメモリしたステージ状態ST3とする。かかる処理
後は、操作信号の待機ステップ101に戻る。
現在の措定ステージ状態が、右眼レンズについての光
学特性の測定結果をメモリしたステージ状態ST3である
と、左眼スイッチ65Lが操作されたと同様なステージ状
態の変更を行なう(ステップ110)。すなわち、右眼レ
ンズについての光学特性の測定結果をメモリした、しか
も左眼レンズが指定された測定ステージ状態ST4とす
る。かかる処理後は、操作信号の待機ステップ101に戻
る。
学特性の測定結果をメモリしたステージ状態ST3である
と、左眼スイッチ65Lが操作されたと同様なステージ状
態の変更を行なう(ステップ110)。すなわち、右眼レ
ンズについての光学特性の測定結果をメモリした、しか
も左眼レンズが指定された測定ステージ状態ST4とす
る。かかる処理後は、操作信号の待機ステップ101に戻
る。
現在の測定ステージ状態が、右眼レンズについての光
学特性をメモリした、しかも左眼レンズが指定された測
定状態ST4であると、メモリスイッチ65Mが操作されたと
同様なステージ状態の変更を行なう(ステップ111)。
すなわち、右眼レンズ及び左眼レンズについての光学特
性の測定結果をメモリしたステージ状態ST8とする。か
かる処理後は、操作信号の待機ステップ101に戻る。
学特性をメモリした、しかも左眼レンズが指定された測
定状態ST4であると、メモリスイッチ65Mが操作されたと
同様なステージ状態の変更を行なう(ステップ111)。
すなわち、右眼レンズ及び左眼レンズについての光学特
性の測定結果をメモリしたステージ状態ST8とする。か
かる処理後は、操作信号の待機ステップ101に戻る。
現在の測定ステージ状態が、左眼レンズが指定された
測定ステージ状態ST5であると、メモリスイッチ65Mが操
作されたと同様なステージ状態の変更を行なう(ステッ
プ112)。すなわち、左眼レンズについての光学特性の
測定結果をメモリしたステージ状態ST6とする。かかる
処理後は、操作信号の待機ステップ101に戻る。
測定ステージ状態ST5であると、メモリスイッチ65Mが操
作されたと同様なステージ状態の変更を行なう(ステッ
プ112)。すなわち、左眼レンズについての光学特性の
測定結果をメモリしたステージ状態ST6とする。かかる
処理後は、操作信号の待機ステップ101に戻る。
現在の測定ステージ状態が、左眼レンズについての光
学特性の測定結果をメモリしたステージ状態ST6である
と、右眼スイッチ65Rが操作されたと同様なステージ状
態の変更を行なう(ステップ113)。すなわち、左眼レ
ンズについての光学特性の測定結果をメモリした、しか
も右眼レンズが指定された測定ステージ状態ST7とす
る。かかる処理後は、操作信号の待機ステップ101に戻
る。
学特性の測定結果をメモリしたステージ状態ST6である
と、右眼スイッチ65Rが操作されたと同様なステージ状
態の変更を行なう(ステップ113)。すなわち、左眼レ
ンズについての光学特性の測定結果をメモリした、しか
も右眼レンズが指定された測定ステージ状態ST7とす
る。かかる処理後は、操作信号の待機ステップ101に戻
る。
現在の測定ステージ状態が、左眼レンズについての光
学特性の測定結果をメモリした、しかも右眼レンズが指
定された測定ステージ状態ST7であると、メモリスイッ
チ65Mが操作されたと同様なステージ状態の変更を行な
う(ステップ114)。すなわち、右眼レンズ及び左眼レ
ンズについての光学特性の測定結果をメモリしたステー
ジ状態ST8とする。かかる処理後は、操作信号の待機ス
テップ101に戻る。
学特性の測定結果をメモリした、しかも右眼レンズが指
定された測定ステージ状態ST7であると、メモリスイッ
チ65Mが操作されたと同様なステージ状態の変更を行な
う(ステップ114)。すなわち、右眼レンズ及び左眼レ
ンズについての光学特性の測定結果をメモリしたステー
ジ状態ST8とする。かかる処理後は、操作信号の待機ス
テップ101に戻る。
現在の測定のステージ状態が、右眼レンズ及び左眼レ
ンズについての光学特性の測定結果をメモリしたステー
ジ状態ST8であると、さらに、印字/クリアフラグFの
内容を判別する(ステップ115)。このフラグFが0で
あると、印字スイッチ65Pが操作されたと同様な処理、
すなわち、メモリ状態にある光学特性の印字処理を実行
させ、フラグFを1とした後、操作信号の待機ステップ
101に戻る(ステップ116、117)。他方、フラグFが1
であると、クリアスイッチ65Cが操作されたと同様に原
点ステージ状態ST0とし、フラグFを0とした後、操作
信号の待機ステップ101に戻る(ステップ118、119)。
ンズについての光学特性の測定結果をメモリしたステー
ジ状態ST8であると、さらに、印字/クリアフラグFの
内容を判別する(ステップ115)。このフラグFが0で
あると、印字スイッチ65Pが操作されたと同様な処理、
すなわち、メモリ状態にある光学特性の印字処理を実行
させ、フラグFを1とした後、操作信号の待機ステップ
101に戻る(ステップ116、117)。他方、フラグFが1
であると、クリアスイッチ65Cが操作されたと同様に原
点ステージ状態ST0とし、フラグFを0とした後、操作
信号の待機ステップ101に戻る(ステップ118、119)。
以上のように、フットスイッチ62が操作されても測定
ステージ状態を変更できる。
ステージ状態を変更できる。
ここで、フットスイッチ62が、測定ステージ状態の所
定順序の変更を指示するガイダンススイッチとして設定
されている場合において、現在の測定ステージ状態に応
じて、上述した次のステージ状態に移行させるようにし
たのは、以下の理由による。すなわち、フットスイッチ
62だけに対する操作で、無駄なステージ状態を経ること
のない最短ルートのステージ状態の変更によって、右眼
レンズ及び左眼レンズの光学特性を確定して印字出力し
た後、原点ステージ状態ST0に復帰させることができる
ようにしたためである。
定順序の変更を指示するガイダンススイッチとして設定
されている場合において、現在の測定ステージ状態に応
じて、上述した次のステージ状態に移行させるようにし
たのは、以下の理由による。すなわち、フットスイッチ
62だけに対する操作で、無駄なステージ状態を経ること
のない最短ルートのステージ状態の変更によって、右眼
レンズ及び左眼レンズの光学特性を確定して印字出力し
た後、原点ステージ状態ST0に復帰させることができる
ようにしたためである。
また、原点ステージ状態ST0以外のいずれのステージ
状態にある段階から、フットスイッチ62だけに対する操
作が行われても、同様に、無駄なステージ状態を経るこ
とのない最短ルートのステージ状態の変更によって、右
眼レンズ及び左眼レンズの光学特性を確定して印字出力
した後、原点ステージ状態ST0に復帰させることができ
るようにしたためである。すなわち、フットスイッチ62
をいかなるステージ状態からでも用いることができるよ
うにして融通性を高くしているためである。
状態にある段階から、フットスイッチ62だけに対する操
作が行われても、同様に、無駄なステージ状態を経るこ
とのない最短ルートのステージ状態の変更によって、右
眼レンズ及び左眼レンズの光学特性を確定して印字出力
した後、原点ステージ状態ST0に復帰させることができ
るようにしたためである。すなわち、フットスイッチ62
をいかなるステージ状態からでも用いることができるよ
うにして融通性を高くしているためである。
なお、フットスイッチ62を設けるようにしたのは、両
手が塞がっている場合等の操作性を考慮したためであ
る。また、フットスイッチ62だけを設けるのではなく、
従来と同様な操作スイッチ部65を残しているのは、フッ
トスイッチ62だけの場合には、ステージ状態の変更が一
本道であって、操作に対する自由度が低いものとなるた
めである。例えば、メモリ状態の解除等は、ステージ状
態の最短ルートの変更順序に盛り込むべきものではない
が、実際の測定動作ではそのようなことを検査員が欲す
ることがある。このような場合等は、フットスイッチ62
にステージ状態の変更を委ねるより、各操作スイッチを
用いるようにすることが実際的である。
手が塞がっている場合等の操作性を考慮したためであ
る。また、フットスイッチ62だけを設けるのではなく、
従来と同様な操作スイッチ部65を残しているのは、フッ
トスイッチ62だけの場合には、ステージ状態の変更が一
本道であって、操作に対する自由度が低いものとなるた
めである。例えば、メモリ状態の解除等は、ステージ状
態の最短ルートの変更順序に盛り込むべきものではない
が、実際の測定動作ではそのようなことを検査員が欲す
ることがある。このような場合等は、フットスイッチ62
にステージ状態の変更を委ねるより、各操作スイッチを
用いるようにすることが実際的である。
次に、フットスイッチ62がガイダンススイッチとして
設定されている場合において、フットスイッチ62だけに
対する操作で、無駄なステージ状態を経ることのない最
短ルートのステージ状態の変更によって、右眼レンズ及
び左眼レンズの光学特性を確定して印字出力した後、原
点ステージ状態ST0に復帰させることができていること
を明らかにする。なお、当初のステージ状態を原点ステ
ージ状態ST0とする。また、一部の表示内容についても
合わせて説明する。
設定されている場合において、フットスイッチ62だけに
対する操作で、無駄なステージ状態を経ることのない最
短ルートのステージ状態の変更によって、右眼レンズ及
び左眼レンズの光学特性を確定して印字出力した後、原
点ステージ状態ST0に復帰させることができていること
を明らかにする。なお、当初のステージ状態を原点ステ
ージ状態ST0とする。また、一部の表示内容についても
合わせて説明する。
例えば、右眼レンズが被検レンズ16として光学系10に
介挿された後に行われる、1回目のフットスイッチ62の
操作によっては、処理ステップ108を経ることで、右眼
レンズが指定された測定状態ST2に移行する。この場合
には、基本光学情報表示部64a及び乱視情報表示部64bは
測定周期毎に表示内容を更新し、右眼情報表示部64Rは
点滅する。
介挿された後に行われる、1回目のフットスイッチ62の
操作によっては、処理ステップ108を経ることで、右眼
レンズが指定された測定状態ST2に移行する。この場合
には、基本光学情報表示部64a及び乱視情報表示部64bは
測定周期毎に表示内容を更新し、右眼情報表示部64Rは
点滅する。
フットスイッチ62の2回目の操作によっては、処理ス
テップ109を経ることで、右眼レンズに対する光学特性
の測定結果をメモリしたステージ状態ST3に移行する。
この場合には、基本光学情報表示部64a及び乱視情報表
示部64bは測定結果を固定表示し、右眼情報表示部64Rは
点灯する。
テップ109を経ることで、右眼レンズに対する光学特性
の測定結果をメモリしたステージ状態ST3に移行する。
この場合には、基本光学情報表示部64a及び乱視情報表
示部64bは測定結果を固定表示し、右眼情報表示部64Rは
点灯する。
フットスイッチ62の3回目の操作によっては、処理ス
テップ110を経ることで、右眼レンズに対する光学特性
の測定結果がメモリされたままの左眼レンズの測定状態
ST4に移行する。この場合には、基本光学情報表示部64a
及び乱視情報表示部64bは測定周期毎に表示内容を更新
し、右眼情報表示部64Rは点灯し、左眼情報表示部64Lは
点滅する。なお、フットスイッチ62の3回目の操作に先
立ち、光学系10に、左眼レンズを被検レンズ16として介
挿することが必要である。
テップ110を経ることで、右眼レンズに対する光学特性
の測定結果がメモリされたままの左眼レンズの測定状態
ST4に移行する。この場合には、基本光学情報表示部64a
及び乱視情報表示部64bは測定周期毎に表示内容を更新
し、右眼情報表示部64Rは点灯し、左眼情報表示部64Lは
点滅する。なお、フットスイッチ62の3回目の操作に先
立ち、光学系10に、左眼レンズを被検レンズ16として介
挿することが必要である。
フットスイッチ62の4回目の操作によっては、処理ス
テップ111を経ることで、右眼レンズ及び左眼レンズに
対する光学特性の測定結果のメモリ状態ST8に移行す
る。この場合には、基本光学情報表示部64a及び乱視情
報表示部64bは左眼レンズについての測定結果を固定表
示し、右眼情報表示部64R及び左眼情報表示部64Lは点灯
する。
テップ111を経ることで、右眼レンズ及び左眼レンズに
対する光学特性の測定結果のメモリ状態ST8に移行す
る。この場合には、基本光学情報表示部64a及び乱視情
報表示部64bは左眼レンズについての測定結果を固定表
示し、右眼情報表示部64R及び左眼情報表示部64Lは点灯
する。
フットスイッチ62の5回の操作によっては、フラグF
が0であるため、処理ステップ115〜117を経ることで、
右眼レンズ及び左眼レンズに対する光学特性の測定結果
が印字される。なお、右眼レンズ及び左眼レンズに対す
る光学特性の測定結果のメモリ状態ST8は維持される。
従って、表示内容は変化しない。
が0であるため、処理ステップ115〜117を経ることで、
右眼レンズ及び左眼レンズに対する光学特性の測定結果
が印字される。なお、右眼レンズ及び左眼レンズに対す
る光学特性の測定結果のメモリ状態ST8は維持される。
従って、表示内容は変化しない。
フットスイッチ62の6回の操作によっては、フラグF
が1であるため、処理ステップ115、118、119を経るこ
とで、原点ステージ状態ST0に復帰する。この場合、表
示されていた内容もクリアされる。
が1であるため、処理ステップ115、118、119を経るこ
とで、原点ステージ状態ST0に復帰する。この場合、表
示されていた内容もクリアされる。
実施例の効果 上述の実施例によれば、操作スイッチ部65に加えてフ
ットスイッチ62を設け、このフットスイッチ62を測定ス
テージ状態の変更に用いることができるようにしたの
で、眼鏡レンズ等を保持したままこのフットスイッチ62
を用いて測定ステージ状態を変更することができ、操作
性及び使い勝手が従来より向上させることができると共
に、測定中における被検レンズ16の位置が安定して高精
度の測定結果を得ることができる。
ットスイッチ62を設け、このフットスイッチ62を測定ス
テージ状態の変更に用いることができるようにしたの
で、眼鏡レンズ等を保持したままこのフットスイッチ62
を用いて測定ステージ状態を変更することができ、操作
性及び使い勝手が従来より向上させることができると共
に、測定中における被検レンズ16の位置が安定して高精
度の測定結果を得ることができる。
また、フットスイッチ62による測定ステージ状態の変
更先のステージ状態が予め定まっており、しかも、フッ
トスイッチ62の連続操作に対して一定順序の変更である
ため、操作スイッチ部65で生じていた操作ミス、例えば
操作しようとするスイッチの近傍のスイッチを操作して
希望しない測定ステージ状態に変更するようなミスがこ
のフットスイッチ62による操作では生じない。
更先のステージ状態が予め定まっており、しかも、フッ
トスイッチ62の連続操作に対して一定順序の変更である
ため、操作スイッチ部65で生じていた操作ミス、例えば
操作しようとするスイッチの近傍のスイッチを操作して
希望しない測定ステージ状態に変更するようなミスがこ
のフットスイッチ62による操作では生じない。
さらに、フットスイッチ62による測定ステージ状態の
変更順序は、無駄な測定ステージ状態を経ることがない
ようにしているので、その分測定時間を短縮することが
できる。
変更順序は、無駄な測定ステージ状態を経ることがない
ようにしているので、その分測定時間を短縮することが
できる。
このような効果を得ることができるフットスイッチ62
の他は、操作スイッチ部65を残して操作スイッチ部65に
よっても測定ステージ状態を変更できるようにしている
ので、測定ステージ状態の変更をいずれのスイッチを用
いても行なうことができ、当該レンズメータ1の操作自
由度を高めている。また、フットスイッチ62をどの測定
ステージ状態からでも使用できるようにしているので、
この点でも当該レンズメータ1の操作自由度を高めてい
る。
の他は、操作スイッチ部65を残して操作スイッチ部65に
よっても測定ステージ状態を変更できるようにしている
ので、測定ステージ状態の変更をいずれのスイッチを用
いても行なうことができ、当該レンズメータ1の操作自
由度を高めている。また、フットスイッチ62をどの測定
ステージ状態からでも使用できるようにしているので、
この点でも当該レンズメータ1の操作自由度を高めてい
る。
フットスイッチ62を、初期設定によってはいずれかの
操作スイッチと等価に用いることができるようにしたの
で、検査員がフットスイッチ62の使用態様を決定するこ
とができ、この点でも使い勝手を良いものとしている。
操作スイッチと等価に用いることができるようにしたの
で、検査員がフットスイッチ62の使用態様を決定するこ
とができ、この点でも使い勝手を良いものとしている。
なお、機能が明らかな操作スイッチ部65に対する操作
とは異なって、検査員が変更先の測定ステージ状態を意
識しないでフットスイッチ62を操作する恐れもあり得る
が、上述したように、表示部64による表示で測定ステー
ジ状態を確認できるので、このことが特に問題となるこ
とはない。逆にいえば、フットスイッチ62を設けている
ため、表示部64の表示内容が従来以上に大事なものとな
っている。
とは異なって、検査員が変更先の測定ステージ状態を意
識しないでフットスイッチ62を操作する恐れもあり得る
が、上述したように、表示部64による表示で測定ステー
ジ状態を確認できるので、このことが特に問題となるこ
とはない。逆にいえば、フットスイッチ62を設けている
ため、表示部64の表示内容が従来以上に大事なものとな
っている。
他の実施例 上述の実施例においては、眼鏡レンズやコンタクトレ
ンズ等の視力を補うレンズを対象としたレンズメータに
本発明を適用したものを示したが、他のレンズを対象と
するレンズメータにも本発明を適用することができる。
ンズ等の視力を補うレンズを対象としたレンズメータに
本発明を適用したものを示したが、他のレンズを対象と
するレンズメータにも本発明を適用することができる。
上述の実施例におけるフットスイッチは、1種類の操
作信号を出力するものであったが、2種類以上の操作信
号を出力するものであっても良い。例えば、中央を支点
として左右いずれにも揺動可能なものであって右側を押
下したときと左側を押下したときとで異なる種類の操作
信号を出力するフットスイッチを適用することができ
る。この場合、右側押下時の操作信号を右眼レンズの測
定ステージ状態の変更に用いることもでき、左側押下時
の操作信号を左眼レンズの測定ステージ状態の変更に用
いるようなこともできる。
作信号を出力するものであったが、2種類以上の操作信
号を出力するものであっても良い。例えば、中央を支点
として左右いずれにも揺動可能なものであって右側を押
下したときと左側を押下したときとで異なる種類の操作
信号を出力するフットスイッチを適用することができ
る。この場合、右側押下時の操作信号を右眼レンズの測
定ステージ状態の変更に用いることもでき、左側押下時
の操作信号を左眼レンズの測定ステージ状態の変更に用
いるようなこともできる。
上述の実施例においては、初期設定によって、フット
スイッチを測定ステージ状態の所定順序での変更指令を
与えるガイダンススイッチとして用いること、又は、操
作スイッチ部のいずれかの操作スイッチと常時等価なも
のとして用いることができるものを示したが、初期設定
によってフットスイッチをこれ以外にも用いることがで
きるようにしても良い。すなわち、操作スイッチ部にお
ける操作スイッチの代替物以外として用いることができ
るようにしても良い。外部装置に対するコネクタ端子と
して、プリンタ装置に対するものに加えて、他のデータ
転送用端子を有するレンズメータであれば、例えばこの
他のデータ転送端子を介して転送モードの指令にフット
スイッチを用いることができる。実際上、レンズメータ
に検眼機やパーソナルコンピュータ等が接続されること
がある。
スイッチを測定ステージ状態の所定順序での変更指令を
与えるガイダンススイッチとして用いること、又は、操
作スイッチ部のいずれかの操作スイッチと常時等価なも
のとして用いることができるものを示したが、初期設定
によってフットスイッチをこれ以外にも用いることがで
きるようにしても良い。すなわち、操作スイッチ部にお
ける操作スイッチの代替物以外として用いることができ
るようにしても良い。外部装置に対するコネクタ端子と
して、プリンタ装置に対するものに加えて、他のデータ
転送用端子を有するレンズメータであれば、例えばこの
他のデータ転送端子を介して転送モードの指令にフット
スイッチを用いることができる。実際上、レンズメータ
に検眼機やパーソナルコンピュータ等が接続されること
がある。
上述の実施例においては、操作パネルの操作スイッチ
以外に設けるスイッチとしてフットスイッチを示した
が、ハンドスイッチやフィンガースイッチ等、他のスイ
ッチを適用することもできる。この場合において、被検
レンズの保持動作が良好に行われるようにすることが好
ましい。例えば、ハンドスイッチであればこのスイッチ
を把持したまま被検レンズを保持できるように小形のも
のとすることが望ましく、フィンガースイッチであれば
被検レンズを保持した手の指が届く位置に設けるように
することが好ましい。
以外に設けるスイッチとしてフットスイッチを示した
が、ハンドスイッチやフィンガースイッチ等、他のスイ
ッチを適用することもできる。この場合において、被検
レンズの保持動作が良好に行われるようにすることが好
ましい。例えば、ハンドスイッチであればこのスイッチ
を把持したまま被検レンズを保持できるように小形のも
のとすることが望ましく、フィンガースイッチであれば
被検レンズを保持した手の指が届く位置に設けるように
することが好ましい。
本発明は、操作構成に特徴を有するものであり、光学
系や電気的処理部の構成は実施例のものに限定されるも
のではない。同様に、測定ステージ状態も上記実施例の
ものに限定されない。
系や電気的処理部の構成は実施例のものに限定されるも
のではない。同様に、測定ステージ状態も上記実施例の
ものに限定されない。
[発明の効果] 以上のように、本発明によれば、操作パネル外操作ス
イッチと、このスイッチが操作されたときに、測定ステ
ージ状態を、操作時の測定ステージ状態に応じて予め定
まっている次の測定ステージ状態に変更させる第2の測
定ステージ状態変更手段とを設けたので、従来に比して
操作性及び使い勝手の優れたレンズメータを実現するこ
とができる。
イッチと、このスイッチが操作されたときに、測定ステ
ージ状態を、操作時の測定ステージ状態に応じて予め定
まっている次の測定ステージ状態に変更させる第2の測
定ステージ状態変更手段とを設けたので、従来に比して
操作性及び使い勝手の優れたレンズメータを実現するこ
とができる。
第1図は本発明によるレンズメータの一実施例を示すブ
ロック図、第2図は光源の詳細説明図、第3図はスリッ
トパターン板の詳細説明図、第4図は測定ステージ状態
及び操作スイッチ部の操作によるその変更態様の説明
図、第5図はフットスイッチの操作に応じた測定ステー
ジ状態の変更処理を示すフローチャート、第6図は操作
パネルの詳細説明図である。 1……レンズメータ、10……光学系、16……被検レン
ズ、30……電気的処理部、31……制御部、32……スリッ
ト像信号処理部、40……CPU、41……ROM、42……RAM、4
2A……不揮発性RAM、60……マンマシンインタフェース
部、61……操作パネル、62……フットスイッチ、64……
表示部、65……操作スイッチ部、ST0〜ST8……測定ステ
ージ状態。
ロック図、第2図は光源の詳細説明図、第3図はスリッ
トパターン板の詳細説明図、第4図は測定ステージ状態
及び操作スイッチ部の操作によるその変更態様の説明
図、第5図はフットスイッチの操作に応じた測定ステー
ジ状態の変更処理を示すフローチャート、第6図は操作
パネルの詳細説明図である。 1……レンズメータ、10……光学系、16……被検レン
ズ、30……電気的処理部、31……制御部、32……スリッ
ト像信号処理部、40……CPU、41……ROM、42……RAM、4
2A……不揮発性RAM、60……マンマシンインタフェース
部、61……操作パネル、62……フットスイッチ、64……
表示部、65……操作スイッチ部、ST0〜ST8……測定ステ
ージ状態。
Claims (1)
- 【請求項1】被検レンズの光学特性を測定するものであ
って、操作パネルに設けられている複数の操作スイッチ
のいずれかが操作されたときに、第1の測定ステージ状
態変更手段によって操作された操作スイッチの種類に応
じて測定ステージ状態を変更するレンズメータにおい
て、 上記操作パネルとは異なる位置に設けられた操作パネル
外操作スイッチと、 この操作パネル外操作スイッチが操作されたときに、測
定ステージ状態を、操作時の測定ステージ状態に応じて
予め定まっている次の測定ステージ状態に変更させる第
2の測定ステージ状態変更手段とを 設けたことを特徴とするレンズメータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23122490A JPH0820335B2 (ja) | 1990-08-31 | 1990-08-31 | レンズメータ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23122490A JPH0820335B2 (ja) | 1990-08-31 | 1990-08-31 | レンズメータ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04110744A JPH04110744A (ja) | 1992-04-13 |
| JPH0820335B2 true JPH0820335B2 (ja) | 1996-03-04 |
Family
ID=16920265
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23122490A Expired - Fee Related JPH0820335B2 (ja) | 1990-08-31 | 1990-08-31 | レンズメータ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0820335B2 (ja) |
-
1990
- 1990-08-31 JP JP23122490A patent/JPH0820335B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04110744A (ja) | 1992-04-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6257721B1 (en) | Device for spectacles | |
| EP0756166B1 (en) | Lens meter | |
| EP1589331B1 (en) | Lens meter | |
| JPH0466834A (ja) | 自動レンズメーター | |
| JPH05281090A (ja) | レンズメ−タ | |
| JP2003075296A (ja) | レンズメータ | |
| KR20140099195A (ko) | 안굴절력 측정 장치 | |
| KR101647287B1 (ko) | 안과장치 및 안과방법 | |
| US5682234A (en) | Lens meter | |
| JP2003057149A (ja) | レンズメータ | |
| EP1560015A2 (en) | Lens meter | |
| CN114902030A (zh) | 眼镜镜片测定装置及眼镜镜片测定程序 | |
| CN101006333B (zh) | 透镜检测仪 | |
| JPH0820335B2 (ja) | レンズメータ | |
| EP0189350B1 (en) | Automatic eye refractive power measuring apparatus | |
| JP2010091468A (ja) | 収差測定装置 | |
| KR101628217B1 (ko) | 렌즈미터의 누진 렌즈 측정방법 | |
| JP4683270B2 (ja) | レンズメータ | |
| JP3207822B2 (ja) | レンズメータ | |
| JPH0658842A (ja) | レンズメ−タ及びその測定方法 | |
| JP2006292650A (ja) | レンズメータ | |
| JPH0624513B2 (ja) | 角膜形状測定装置 | |
| JP3387703B2 (ja) | レンズメ−タ | |
| JP3387701B2 (ja) | レンズメ−タ | |
| JP2010085278A (ja) | レンズメータ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |