JPH0794882A - 電子冷却装置 - Google Patents
電子冷却装置Info
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- JPH0794882A JPH0794882A JP6203536A JP20353694A JPH0794882A JP H0794882 A JPH0794882 A JP H0794882A JP 6203536 A JP6203536 A JP 6203536A JP 20353694 A JP20353694 A JP 20353694A JP H0794882 A JPH0794882 A JP H0794882A
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- cooling
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- light
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Links
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Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】より一層簡単な回路構成で撮像素子の温度制御
を行うことができ、装置自体をより一層小型化および低
コスト化出来る電子冷却装置を提供する。 【構成】撮像素子24と、撮像素子24に固着して配設
された温度検出素子26と、撮像素子24に一体的に配
設された冷却素子25と、冷却素子25を制御する温度
制御素子ドライバ34等により構成される。温度検出素
子26の抵抗―温度特性は、温度が高くなると抵抗値が
小となる。一方、冷却素子24は放熱部の温度Thと素
子部の温度Tcの温度差は、その両端電圧が大となるほ
ど大きくなる。温度検出素子と冷却素子は本例の場合、
定電圧源である温度制御ドライバに直列接続され、温度
検出素子の温度が高くなると、その抵抗値が小となり、
その両端電圧が小となる。したがって冷却素子の両端電
圧が大となり、Th―Tcが大となるが、Thは放熱に
よりほぼ一定なのでTcが下ることになる。
を行うことができ、装置自体をより一層小型化および低
コスト化出来る電子冷却装置を提供する。 【構成】撮像素子24と、撮像素子24に固着して配設
された温度検出素子26と、撮像素子24に一体的に配
設された冷却素子25と、冷却素子25を制御する温度
制御素子ドライバ34等により構成される。温度検出素
子26の抵抗―温度特性は、温度が高くなると抵抗値が
小となる。一方、冷却素子24は放熱部の温度Thと素
子部の温度Tcの温度差は、その両端電圧が大となるほ
ど大きくなる。温度検出素子と冷却素子は本例の場合、
定電圧源である温度制御ドライバに直列接続され、温度
検出素子の温度が高くなると、その抵抗値が小となり、
その両端電圧が小となる。したがって冷却素子の両端電
圧が大となり、Th―Tcが大となるが、Thは放熱に
よりほぼ一定なのでTcが下ることになる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子冷却装置、詳しく
は、例えば撮像素子の温度制御を行うことが出来る電子
冷却装置に関する。
は、例えば撮像素子の温度制御を行うことが出来る電子
冷却装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、CCD等の撮像素子を有した撮影
装置は広く普及しており、また、当該撮影装置に高輝度
の光源を具備した、たとえばフィルムスキャナ等の装置
も知られるところにある。このようなフィルムスキャナ
等の装置は、その装置内部に高輝度な光源を用いている
ため、該光源の発光動作に伴う発熱により装置内の温度
が上昇し、該装置内の様々の電気回路,電気素子等に影
響を及ぼしている。
装置は広く普及しており、また、当該撮影装置に高輝度
の光源を具備した、たとえばフィルムスキャナ等の装置
も知られるところにある。このようなフィルムスキャナ
等の装置は、その装置内部に高輝度な光源を用いている
ため、該光源の発光動作に伴う発熱により装置内の温度
が上昇し、該装置内の様々の電気回路,電気素子等に影
響を及ぼしている。
【0003】たとえば、上記フィルムスキャナの場合、
光源から投射された照射光による被写体像を受けるCC
D等の撮像素子を具備しているが、該光源の発熱等によ
りCCDの雰囲気温度が上昇し、これにより該CCDの
出力値が変化してしまう。すなわち、CCD等の撮像素
子は一般的に温度依存性が大きく、上記光源の発熱ある
いはCCD自体の発熱による雰囲気温度の上昇により、
その暗電流は図2に示すように変化することになる。
光源から投射された照射光による被写体像を受けるCC
D等の撮像素子を具備しているが、該光源の発熱等によ
りCCDの雰囲気温度が上昇し、これにより該CCDの
出力値が変化してしまう。すなわち、CCD等の撮像素
子は一般的に温度依存性が大きく、上記光源の発熱ある
いはCCD自体の発熱による雰囲気温度の上昇により、
その暗電流は図2に示すように変化することになる。
【0004】このような不具合を解消する手段として、
たとえば、特公平5−5435号公報には、CCD素子
に電子冷却素子を装着すると共に該CCD素子の温度を
検出し、この検出情報に基づいて該CCD素子の温度を
制御して暗電流を低減する技術手段が提案されている。
たとえば、特公平5−5435号公報には、CCD素子
に電子冷却素子を装着すると共に該CCD素子の温度を
検出し、この検出情報に基づいて該CCD素子の温度を
制御して暗電流を低減する技術手段が提案されている。
【0005】一方、従来の、撮像素子の温度制御として
は、例えば図3に示すように、撮像素子104に固着し
て配設された、温度検出素子106からの出力を温度検
出回路113で温度情報に変換し、該温度情報に基づい
て温度コントローラ115で冷却素子ドライバー114
を制御して、たとえばペルチェ素子等からなる冷却素子
105を駆動していた。
は、例えば図3に示すように、撮像素子104に固着し
て配設された、温度検出素子106からの出力を温度検
出回路113で温度情報に変換し、該温度情報に基づい
て温度コントローラ115で冷却素子ドライバー114
を制御して、たとえばペルチェ素子等からなる冷却素子
105を駆動していた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】しかしながら、従来のこのような温度制御
手段は、機能別に回路を構成しており、これにより回路
の規模も複雑かつ大きく、コスト的にも不利なものにな
るといった課題を有していた。
手段は、機能別に回路を構成しており、これにより回路
の規模も複雑かつ大きく、コスト的にも不利なものにな
るといった課題を有していた。
【0008】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであり、従来に比べてより一層簡単な回路構成で撮像
素子の温度制御を行うことができ、従って装置自体を従
来に比べてより一層小型化および低コスト化出来る電子
冷却装置を提供することを目的とする。
のであり、従来に比べてより一層簡単な回路構成で撮像
素子の温度制御を行うことができ、従って装置自体を従
来に比べてより一層小型化および低コスト化出来る電子
冷却装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、冷却対象と熱
的に結合され、供給される電力に応じて冷却効果を奏す
る冷却素子と、所定の抵抗−温度特性を有し、前記冷却
対象と熱的に結合されている抵抗素子と、前記冷却素子
及び前記抵抗素子と回路的に所定の接続がなされてお
り、それら冷却素子及び抵抗素子へ電力を供給する電力
供給手段とを備え、前記抵抗素子の温度が高くなる方向
へ変化する場合、前記所定の抵抗−温度特性による前記
抵抗素子の抵抗値の変化に基づいて、前記冷却素子への
前記電力供給が増加する方向へ変化するように、前記所
定の抵抗−温度特性と前記所定の接続が調整されている
電子冷却装置である。
的に結合され、供給される電力に応じて冷却効果を奏す
る冷却素子と、所定の抵抗−温度特性を有し、前記冷却
対象と熱的に結合されている抵抗素子と、前記冷却素子
及び前記抵抗素子と回路的に所定の接続がなされてお
り、それら冷却素子及び抵抗素子へ電力を供給する電力
供給手段とを備え、前記抵抗素子の温度が高くなる方向
へ変化する場合、前記所定の抵抗−温度特性による前記
抵抗素子の抵抗値の変化に基づいて、前記冷却素子への
前記電力供給が増加する方向へ変化するように、前記所
定の抵抗−温度特性と前記所定の接続が調整されている
電子冷却装置である。
【0010】
【作用】本発明では、冷却素子が冷却対象と熱的に結合
され、供給される電力に応じて冷却効果を奏し、抵抗素
子が所定の抵抗−温度特性を有し、前記冷却対象と熱的
に結合され、電力供給手段は前記冷却素子及び前記抵抗
素子と回路的に所定の接続がなされており、それら冷却
素子及び抵抗素子へ電力を供給し、前記抵抗素子の温度
が高くなる方向へ変化する場合、前記所定の抵抗−温度
特性による前記抵抗素子の抵抗値の変化に基づいて、前
記冷却素子への前記電力供給が増加する方向へ変化する
ように、前記所定の抵抗−温度特性と前記所定の接続が
調整されている。
され、供給される電力に応じて冷却効果を奏し、抵抗素
子が所定の抵抗−温度特性を有し、前記冷却対象と熱的
に結合され、電力供給手段は前記冷却素子及び前記抵抗
素子と回路的に所定の接続がなされており、それら冷却
素子及び抵抗素子へ電力を供給し、前記抵抗素子の温度
が高くなる方向へ変化する場合、前記所定の抵抗−温度
特性による前記抵抗素子の抵抗値の変化に基づいて、前
記冷却素子への前記電力供給が増加する方向へ変化する
ように、前記所定の抵抗−温度特性と前記所定の接続が
調整されている。
【0011】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。
する。
【0012】図1は、本発明の1実施例を示す撮影装置
の構成を示したブロック図である。
の構成を示したブロック図である。
【0013】この実施例は、本発明をフィルムスキャナ
に適用したものであり、フィルムを透過させた光源から
の照射光をレンズで集光してイメージャ(CCD)上に
結像させるものである。
に適用したものであり、フィルムを透過させた光源から
の照射光をレンズで集光してイメージャ(CCD)上に
結像させるものである。
【0014】以下、図1を参照して該実施例を説明す
る。
る。
【0015】図に示すように、本例は、光源コントロー
ラ11に制御されて被写体であるフィルム2に対しての
照射光を投射する光源1を具備している。該光源1から
投射された照射光は、上記フィルム2を透過し、これに
より該フィルム2上の被写体像がレンズ3で集光され、
その後、該レンズ3で集光された被写体像はCCD4の
結像面に結像されるようになっている。
ラ11に制御されて被写体であるフィルム2に対しての
照射光を投射する光源1を具備している。該光源1から
投射された照射光は、上記フィルム2を透過し、これに
より該フィルム2上の被写体像がレンズ3で集光され、
その後、該レンズ3で集光された被写体像はCCD4の
結像面に結像されるようになっている。
【0016】上記CCD4における、入射面の裏面がわ
には公知の温度制御素子5が一体的に配設されており、
また、該裏面上における上記温度制御素子5の近傍には
温度検出素子6が密着して配設されている。さらに、上
記温度制御素子5の所定面にはフィン,ヒートシンク等
の温度制御機構7が配設されている。
には公知の温度制御素子5が一体的に配設されており、
また、該裏面上における上記温度制御素子5の近傍には
温度検出素子6が密着して配設されている。さらに、上
記温度制御素子5の所定面にはフィン,ヒートシンク等
の温度制御機構7が配設されている。
【0017】上記温度制御素子5は、ペルチェ素子等の
いわゆる電子冷却素子で構成され、温度コントローラ1
5に制御された温度制御素子ドライバ14によって駆動
されて発熱・冷却動作を行い、上記CCD4本体の温度
を制御するようになっている。
いわゆる電子冷却素子で構成され、温度コントローラ1
5に制御された温度制御素子ドライバ14によって駆動
されて発熱・冷却動作を行い、上記CCD4本体の温度
を制御するようになっている。
【0018】上記温度検出素子6は、上記CCD4本体
の温度を検知する公知の素子であり、その出力は温度検
出回路13に入力されるようになっている。該温度検出
回路13では、上記温度検出素子6の出力値を温度情報
に変換するようになっており、該温度情報は上記温度コ
ントローラ15に対して送出されるようになっている。
の温度を検知する公知の素子であり、その出力は温度検
出回路13に入力されるようになっている。該温度検出
回路13では、上記温度検出素子6の出力値を温度情報
に変換するようになっており、該温度情報は上記温度コ
ントローラ15に対して送出されるようになっている。
【0019】該温度コントローラ15は、該温度情報に
基づいて上記温度制御素子ドライバ14を駆動して上記
温度制御素子5を制御するようになっており、また、そ
の動作の開始は、図に示すように温度制御開始手段16
からの出力に基づいてなされるようになっている。
基づいて上記温度制御素子ドライバ14を駆動して上記
温度制御素子5を制御するようになっており、また、そ
の動作の開始は、図に示すように温度制御開始手段16
からの出力に基づいてなされるようになっている。
【0020】一般に、上記温度制御素子ドライバ14等
による温度制御素子5の駆動は、比較的大電力を消費
し、本例の撮影装置においても約64W/hの電力を消
費する。
による温度制御素子5の駆動は、比較的大電力を消費
し、本例の撮影装置においても約64W/hの電力を消
費する。
【0021】一方、上記光源コントローラ11は、光源
1の発光制御を司る制御部であり、その動作は光源スイ
ッチ12のオン・オフに連動するようになっている。す
なわち、該光源スイッチ12がオンのときにのみ上記光
源1を発光可能な状態に制御するようになっている。ま
た、該光源コントローラ11からは、上記光源スイッチ
12のオン・オフ情報の信号が送出されており、該情報
の信号出力に基づいて上記温度コントローラ15が動作
するようになっている。
1の発光制御を司る制御部であり、その動作は光源スイ
ッチ12のオン・オフに連動するようになっている。す
なわち、該光源スイッチ12がオンのときにのみ上記光
源1を発光可能な状態に制御するようになっている。ま
た、該光源コントローラ11からは、上記光源スイッチ
12のオン・オフ情報の信号が送出されており、該情報
の信号出力に基づいて上記温度コントローラ15が動作
するようになっている。
【0022】上記温度制御開始手段16は、たとえばア
ンド回路で構成され、その入力端には、図示しないCP
U等の制御部からの温度制御オン信号と、上記光源コン
トローラ11からの光源スイッチ12のオン・オフ情報
信号が入力されるようになっている。そして、上記光源
スイッチ12がオンのとき、すなわち、上記光源1が発
光可能な状態であって、かつ、上記CPU等の制御部か
らの温度制御オン信号がオンされたときに、上記温度コ
ントローラ15の動作開始信号を出力するようになって
いる。
ンド回路で構成され、その入力端には、図示しないCP
U等の制御部からの温度制御オン信号と、上記光源コン
トローラ11からの光源スイッチ12のオン・オフ情報
信号が入力されるようになっている。そして、上記光源
スイッチ12がオンのとき、すなわち、上記光源1が発
光可能な状態であって、かつ、上記CPU等の制御部か
らの温度制御オン信号がオンされたときに、上記温度コ
ントローラ15の動作開始信号を出力するようになって
いる。
【0023】次に、このような構成をなす本例の作用を
簡単に説明する。
簡単に説明する。
【0024】まず、光源スイッチ12がオンすると該オ
ン信号が光源コントローラ11に伝達される。該光源コ
ントローラ11では、光源1の発光動作の駆動を開始す
るとと共に、上記オン信号を温度制御開始手段16に送
出する。該温度制御開始手段16で、図示しないCPU
等の制御部からの温度制御オン信号と、上記光源コント
ローラ11からのオン信号を受けると、温度コントロー
ラ15が動作を開始する。該温度コントローラ15は、
温度検出回路13からのCCD4の温度情報に基づいて
温度制御素子ドライバ14を制御し、温度制御素子5を
駆動する。
ン信号が光源コントローラ11に伝達される。該光源コ
ントローラ11では、光源1の発光動作の駆動を開始す
るとと共に、上記オン信号を温度制御開始手段16に送
出する。該温度制御開始手段16で、図示しないCPU
等の制御部からの温度制御オン信号と、上記光源コント
ローラ11からのオン信号を受けると、温度コントロー
ラ15が動作を開始する。該温度コントローラ15は、
温度検出回路13からのCCD4の温度情報に基づいて
温度制御素子ドライバ14を制御し、温度制御素子5を
駆動する。
【0025】一方、光源1からの照射光は、フイルム2
を透過してレンズ3で集光され、CCD4の結像面に到
達する。これにより、上記温度制御素子5により最適な
温度に制御されたCCD4に該フィルム2上の被写体像
が結像される。
を透過してレンズ3で集光され、CCD4の結像面に到
達する。これにより、上記温度制御素子5により最適な
温度に制御されたCCD4に該フィルム2上の被写体像
が結像される。
【0026】また、上記光源スイッチ12がオフする
と、光源コントローラ11よりオフ信号が上記温度制御
開始手段16に送出され、温度コントローラ15以降の
動作が停止し、したがって、上記温度制御素子5の駆動
が停止される。このとき、上記温度制御素子ドライバ1
4および温度制御素子5での消費電力はほぼゼロとな
る。
と、光源コントローラ11よりオフ信号が上記温度制御
開始手段16に送出され、温度コントローラ15以降の
動作が停止し、したがって、上記温度制御素子5の駆動
が停止される。このとき、上記温度制御素子ドライバ1
4および温度制御素子5での消費電力はほぼゼロとな
る。
【0027】本例のようなフィルムスキャナの場合、実
際の撮影にかかる時間(数秒)よりも、フィルムの装填
や位置合わせ等のスタンバイ動作に費やす時間(数分〜
数十分)の方が長く、本例では、このスタンバイ時に温
度制御手段の動作を停止しているので、該温度制御にか
かる消費電力を低減することが可能となっている。
際の撮影にかかる時間(数秒)よりも、フィルムの装填
や位置合わせ等のスタンバイ動作に費やす時間(数分〜
数十分)の方が長く、本例では、このスタンバイ時に温
度制御手段の動作を停止しているので、該温度制御にか
かる消費電力を低減することが可能となっている。
【0028】このような構成をなす本例によると、装置
内部において最大の発熱体である光源1が発光するとき
にのみ、撮像素子の温度制御手段を動作させるので、該
温度制御手段で消費する消費電力(本出願人の実験によ
ると、約64W/h)の低減が可能となる。
内部において最大の発熱体である光源1が発光するとき
にのみ、撮像素子の温度制御手段を動作させるので、該
温度制御手段で消費する消費電力(本出願人の実験によ
ると、約64W/h)の低減が可能となる。
【0029】次に、本例の第1変形例を説明する。
【0030】この第1変形例は、基本的には上記実施例
と同様な構成をなすが、画質の切変えモードを有してい
る。
と同様な構成をなすが、画質の切変えモードを有してい
る。
【0031】一般に、本例に適用したような撮像素子の
温度制御手段を用いずとも、該撮像素子による画像撮影
は可能であるが、この場合、該画像のS/N比は悪くな
り、ダイナミックレンジの狭い画質の劣るものとなる。
しかしながら、撮影の際に、常に高画質の画像を必要と
しているとは限らず、むしろ、上述したような温度制御
手段にかかる消費電力が低減されることの方がメリット
が大きい場合もある。
温度制御手段を用いずとも、該撮像素子による画像撮影
は可能であるが、この場合、該画像のS/N比は悪くな
り、ダイナミックレンジの狭い画質の劣るものとなる。
しかしながら、撮影の際に、常に高画質の画像を必要と
しているとは限らず、むしろ、上述したような温度制御
手段にかかる消費電力が低減されることの方がメリット
が大きい場合もある。
【0032】本第1変形例は、かかる事情を鑑みてなさ
れており、上記実施例の撮影装置に画質切換えスイッチ
を設け、高画質モードと通常モードとが切換えられるよ
うになっている。そして、該画質切換えスイッチに連動
して上記温度制御手段が動作するようになっている。す
なわち、高画質の画像が要求されるときには、上記画質
切換えスイッチにより高画質モードが選択され、上述し
たように温度制御手段が動作し、CCDの温度が制御さ
れるようになっている。これにより、高画質の画像が撮
影できる。一方、通常モードが選択された際には、上記
温度制御手段の動作が停止し、該制御手段にかかる消費
電力が低減されるようになっている。
れており、上記実施例の撮影装置に画質切換えスイッチ
を設け、高画質モードと通常モードとが切換えられるよ
うになっている。そして、該画質切換えスイッチに連動
して上記温度制御手段が動作するようになっている。す
なわち、高画質の画像が要求されるときには、上記画質
切換えスイッチにより高画質モードが選択され、上述し
たように温度制御手段が動作し、CCDの温度が制御さ
れるようになっている。これにより、高画質の画像が撮
影できる。一方、通常モードが選択された際には、上記
温度制御手段の動作が停止し、該制御手段にかかる消費
電力が低減されるようになっている。
【0033】この第1変形例によると、上記実施例の効
果に加え、高画質を必要としない撮影の場合には、より
消費電力の低減が実現できる。
果に加え、高画質を必要としない撮影の場合には、より
消費電力の低減が実現できる。
【0034】次に、本例の第2変形例を説明する。
【0035】この第2変形例は、基本的には上記実施例
と同様な構成をなすが、上記温度検出素子6は、常時C
CD4の温度を検知するようになっており、該CCD4
の異常昇温を検知すると図示しないCPU等の制御部に
対して異常信号を送出するようになっている。上記CP
U等の制御部は該異常信号を受信すると、装置の一部あ
るいは全体の動作を停止させるようになっている。
と同様な構成をなすが、上記温度検出素子6は、常時C
CD4の温度を検知するようになっており、該CCD4
の異常昇温を検知すると図示しないCPU等の制御部に
対して異常信号を送出するようになっている。上記CP
U等の制御部は該異常信号を受信すると、装置の一部あ
るいは全体の動作を停止させるようになっている。
【0036】この第2変形例によると、上記実施例の効
果に加え、撮像素子の異常昇温を検知した際に、装置の
一部あるいは全体の動作を停止させることが可能である
ので、該撮像素子の異常をすばやく認知し、誤動作,装
置の破損等を未然に防ぐことができる。
果に加え、撮像素子の異常昇温を検知した際に、装置の
一部あるいは全体の動作を停止させることが可能である
ので、該撮像素子の異常をすばやく認知し、誤動作,装
置の破損等を未然に防ぐことができる。
【0037】次に、本例の第3変形例を説明する。
【0038】この第3変形例は、上記実施例におけるC
CD4に、上記温度検出素子6に加えて湿度検出素子を
配設したものである。
CD4に、上記温度検出素子6に加えて湿度検出素子を
配設したものである。
【0039】この湿度検出素子の出力は図示しない湿度
検出回路で湿度情報に変換され、該湿度情報は上記温度
コントローラ15に入力されるようになっている。この
温度コントローラ15では、上記実施例の説明において
示した温度制御のほかに、上記湿度検出回路からの情報
に基づいての温度制御も行うようになっている。すなわ
ち、たとえば、本発明の撮影装置が適用された装置が低
温地帯等に備えられた場合、温度変化によってCCD表
面に結露が生じることがあるが、このようなときに、上
記温度制御素子5を駆動してCCD4本体の温度を上昇
させ、該結露を除くことが可能となっている。
検出回路で湿度情報に変換され、該湿度情報は上記温度
コントローラ15に入力されるようになっている。この
温度コントローラ15では、上記実施例の説明において
示した温度制御のほかに、上記湿度検出回路からの情報
に基づいての温度制御も行うようになっている。すなわ
ち、たとえば、本発明の撮影装置が適用された装置が低
温地帯等に備えられた場合、温度変化によってCCD表
面に結露が生じることがあるが、このようなときに、上
記温度制御素子5を駆動してCCD4本体の温度を上昇
させ、該結露を除くことが可能となっている。
【0040】この第3変形例によると、上記実施例の効
果に加え、結露による誤動作あるいは動作不良を防ぐこ
とが可能となる。
果に加え、結露による誤動作あるいは動作不良を防ぐこ
とが可能となる。
【0041】なお、上記実施例において、光源は装置内
に配設されているがこれに限ることなく、該装置と別に
設けられても良い。また、撮像素子としてCCDを例に
挙げたが、エリア型センサ,ライン型センサの何れの場
合にも適用可能である。
に配設されているがこれに限ることなく、該装置と別に
設けられても良い。また、撮像素子としてCCDを例に
挙げたが、エリア型センサ,ライン型センサの何れの場
合にも適用可能である。
【0042】次に、回路の規模が複雑かつ大きく、コス
ト的にも不利なものになるといった従来の上述した課題
を解決出来る、本発明の実施例について、図面を参照し
ながら説明する。
ト的にも不利なものになるといった従来の上述した課題
を解決出来る、本発明の実施例について、図面を参照し
ながら説明する。
【0043】図4は、本発明の電子冷却装置にかかる一
実施例の電子部品冷却装置の構成を示したブロック図で
あり、同図を用いて本実施例の構成及び動作について述
べる。
実施例の電子部品冷却装置の構成を示したブロック図で
あり、同図を用いて本実施例の構成及び動作について述
べる。
【0044】本実施例の電子部品冷却装置は、上記図3
に示す従来の回路より温度検出回路113,温度コント
ローラ115を省略し、簡素化したものである。
に示す従来の回路より温度検出回路113,温度コント
ローラ115を省略し、簡素化したものである。
【0045】すなわち、図4に示すように、撮像素子2
4と、該撮像素子24に固着して配設された温度検出素
子26と、該撮像素子24に一体的に配設された冷却素
子25と、該冷却素子25を制御する温度制御素子ドラ
イバ34とにより主要部が構成されている。
4と、該撮像素子24に固着して配設された温度検出素
子26と、該撮像素子24に一体的に配設された冷却素
子25と、該冷却素子25を制御する温度制御素子ドラ
イバ34とにより主要部が構成されている。
【0046】本実施例では、上記温度制御素子ドライバ
34は定電圧源であり、また、上記温度検出素子26と
冷却素子25とは、図8に示すように、上記温度制御素
子ドライバ34を定電圧源31として考えた場合、図示
の如く直列に接続されている。ここで、本発明の抵抗素
子は、温度検出素子26に対応し、本発明の電力供給手
段は、温度制御素子ドライバ34に対応している。
34は定電圧源であり、また、上記温度検出素子26と
冷却素子25とは、図8に示すように、上記温度制御素
子ドライバ34を定電圧源31として考えた場合、図示
の如く直列に接続されている。ここで、本発明の抵抗素
子は、温度検出素子26に対応し、本発明の電力供給手
段は、温度制御素子ドライバ34に対応している。
【0047】図5は、上記電子部品冷却装置に冷却素子
25とその周辺部を示した断面図であり、図6は、上記
冷却素子25の要部拡大断面図である。
25とその周辺部を示した断面図であり、図6は、上記
冷却素子25の要部拡大断面図である。
【0048】この図5に示すように、上記冷却素子25
における上記撮像素子24との当接面の反対側面にはヒ
ートシンク等の冷却部材27が固着されている。また、
該冷却素子25は、ペルチェ素子等の冷却素子であり、
図6の拡大断面図に示すように、撮像素子24側のTc
部からの熱が冷却部材27側のTh部に伝達するような
構成をなしている。そして、上記温度制御素子ドライバ
34(図4参照)によって駆動されるようになってい
る。
における上記撮像素子24との当接面の反対側面にはヒ
ートシンク等の冷却部材27が固着されている。また、
該冷却素子25は、ペルチェ素子等の冷却素子であり、
図6の拡大断面図に示すように、撮像素子24側のTc
部からの熱が冷却部材27側のTh部に伝達するような
構成をなしている。そして、上記温度制御素子ドライバ
34(図4参照)によって駆動されるようになってい
る。
【0049】該冷却素子25は、上記温度制御素子ドラ
イバ34によって駆動されると、上記Tc部において撮
像素子24の熱を奪い、上記Th部に伝達し、さらに、
該熱を上記冷却部材27に伝達する。この冷却部材27
では、該熱を空中に放熱するようになっている。
イバ34によって駆動されると、上記Tc部において撮
像素子24の熱を奪い、上記Th部に伝達し、さらに、
該熱を上記冷却部材27に伝達する。この冷却部材27
では、該熱を空中に放熱するようになっている。
【0050】次に、該電子部品冷却装置の動作について
説明する。
説明する。
【0051】図7は、上記冷却素子25における冷却特
性を示した線図である。
性を示した線図である。
【0052】この図に示すように、該冷却素子25の両
端電圧V2(図8参照)が高くなるほど、上記Th部と
Tc部との温度差DT=(Th−Tc)が高くなること
がわかる。すなわち、該冷却素子25のTh部とTc部
との温度差が大きくなるということは、上記Th部の温
度は、上記冷却部材27の放熱によりほぼ一定であるの
で、したがって、Tc部の温度、すなわち、撮像素子2
4の温度が下がることになる。
端電圧V2(図8参照)が高くなるほど、上記Th部と
Tc部との温度差DT=(Th−Tc)が高くなること
がわかる。すなわち、該冷却素子25のTh部とTc部
との温度差が大きくなるということは、上記Th部の温
度は、上記冷却部材27の放熱によりほぼ一定であるの
で、したがって、Tc部の温度、すなわち、撮像素子2
4の温度が下がることになる。
【0053】図8は、上記温度制御素子ドライバ34を
定電圧源としてみなした場合について、該温度制御素子
ドライバ34(定電圧源31)と、上記冷却素子25,
温度検出素子26との接続関係を示した回路図である。
定電圧源としてみなした場合について、該温度制御素子
ドライバ34(定電圧源31)と、上記冷却素子25,
温度検出素子26との接続関係を示した回路図である。
【0054】この図に示すように、上記冷却素子25と
定電圧源31との間に、直列に挿入された上記温度検出
素子26は、該冷却素子25とは逆の温度特性を有して
いる。
定電圧源31との間に、直列に挿入された上記温度検出
素子26は、該冷却素子25とは逆の温度特性を有して
いる。
【0055】図9は、上記温度検出素子26における温
度−抵抗値特性を示した線図である。
度−抵抗値特性を示した線図である。
【0056】この図に示すように、該温度検出素子26
の温度が高くなると、抵抗値が小さくなることがわか
る。したがって、光源等からの発熱あるいは撮像素子2
4自体の発熱等により該撮像素子24の温度が上昇する
と、該撮像素子24に固着されている温度検出素子26
の温度も高くなり、抵抗値が小さくなる。
の温度が高くなると、抵抗値が小さくなることがわか
る。したがって、光源等からの発熱あるいは撮像素子2
4自体の発熱等により該撮像素子24の温度が上昇する
と、該撮像素子24に固着されている温度検出素子26
の温度も高くなり、抵抗値が小さくなる。
【0057】ここで、図8に示すように、温度制御素子
ドライバ34は、電圧V1の定電圧源であるので、上記
温度検出素子26の抵抗値が小さくなり、該温度検出素
子26の両端電圧V3が小さくなると、直列に接続され
た上記冷却素子25の両端電圧V2が大きくなる。この
冷却素子25の両端電圧V2が大きくなると、上述した
ように該冷却素子25のTc部の温度が下がるので、結
果的に撮像素子24の温度が下がることになる。
ドライバ34は、電圧V1の定電圧源であるので、上記
温度検出素子26の抵抗値が小さくなり、該温度検出素
子26の両端電圧V3が小さくなると、直列に接続され
た上記冷却素子25の両端電圧V2が大きくなる。この
冷却素子25の両端電圧V2が大きくなると、上述した
ように該冷却素子25のTc部の温度が下がるので、結
果的に撮像素子24の温度が下がることになる。
【0058】なお、上記冷却素子25自体には、温度依
存性、すなわち、温度変化による内部抵抗値の変化も存
在するが、上記温度検出素子26の温度依存性に比較す
ると無視できる程度に小さいため、ここでは、考慮しな
くても問題はない。
存性、すなわち、温度変化による内部抵抗値の変化も存
在するが、上記温度検出素子26の温度依存性に比較す
ると無視できる程度に小さいため、ここでは、考慮しな
くても問題はない。
【0059】このような電子部品冷却装置によると、簡
単な構成で撮像素子24の温度制御を行うことができ、
装置の小型化および低コスト化に寄与する。
単な構成で撮像素子24の温度制御を行うことができ、
装置の小型化および低コスト化に寄与する。
【0060】次に、本実施例の電子部品冷却装置の変形
例について図10を参照して説明する。
例について図10を参照して説明する。
【0061】上記実施例の電子部品冷却装置では、冷却
素子25と温度検出素子26とは、温度制御素子ドライ
バ34(定電圧源31)に直列に接続されていたが、こ
の変形例は、図10に示すように定電流源32の温度制
御素子ドライバ34に対して、上記冷却素子25と温度
検出素子26とをそれぞれ並列に接続している。なお、
この他の構成は上記電子部品冷却装置と同等であるの
で、ここでの説明は省略する。
素子25と温度検出素子26とは、温度制御素子ドライ
バ34(定電圧源31)に直列に接続されていたが、こ
の変形例は、図10に示すように定電流源32の温度制
御素子ドライバ34に対して、上記冷却素子25と温度
検出素子26とをそれぞれ並列に接続している。なお、
この他の構成は上記電子部品冷却装置と同等であるの
で、ここでの説明は省略する。
【0062】また、この変形例においても冷却素子25
と温度検出素子26とは、上記電子部品冷却装置と同様
な作用をし、また、それによる効果も同等なものが期待
できる。
と温度検出素子26とは、上記電子部品冷却装置と同様
な作用をし、また、それによる効果も同等なものが期待
できる。
【0063】ところで、従来、フィルムスキャナ等の撮
影システムでは、ハロゲン等の光源を使用しているが、
このような光源は、図11に示すように使用する時間と
共に光量が落ちてくる。このように、光源等の劣化によ
り光量が不足した場合、光量を補正する必要性があり、
以下、この光量補正手段について説明する。
影システムでは、ハロゲン等の光源を使用しているが、
このような光源は、図11に示すように使用する時間と
共に光量が落ちてくる。このように、光源等の劣化によ
り光量が不足した場合、光量を補正する必要性があり、
以下、この光量補正手段について説明する。
【0064】図12は、従来の撮影システムの主要部を
示したブロック図であり、特に光量補正手段について示
している。
示したブロック図であり、特に光量補正手段について示
している。
【0065】この図に示すように、光源コントローラ6
2に制御され、光源ドライバー61によって駆動される
光源51からの投射光は、フィルム等の被写体52を透
過した後レンズ53で集光され、絞り54を経てCCD
55に結像される。
2に制御され、光源ドライバー61によって駆動される
光源51からの投射光は、フィルム等の被写体52を透
過した後レンズ53で集光され、絞り54を経てCCD
55に結像される。
【0066】このとき、上述したような光源の劣化等に
より光量が不足した場合、従来の撮影システムでは、サ
ンプル/ホールド回路(図中、S/Hと示す)56の出
力に基づいてCPU59が光量の低下分を検出し、さら
に絞り制御回路60を制御して上記絞り54を開放する
ように制御する。この絞り54の制御によっても光量不
足が解消できないときは、さらに、ゲインコントロール
回路(図中、GCと示す)57においてゲインアップす
る。
より光量が不足した場合、従来の撮影システムでは、サ
ンプル/ホールド回路(図中、S/Hと示す)56の出
力に基づいてCPU59が光量の低下分を検出し、さら
に絞り制御回路60を制御して上記絞り54を開放する
ように制御する。この絞り54の制御によっても光量不
足が解消できないときは、さらに、ゲインコントロール
回路(図中、GCと示す)57においてゲインアップす
る。
【0067】このように、絞り54を制御することで光
量を補正するとシェーディングが劣化したりレンズの収
差が悪くなるため画質が劣化することになる。また、ゲ
インコントロールにより光量を補正すると、ノイズ成分
まで増幅してしまうのでS/N比が悪くなり、やはり画
質が劣化することになる。
量を補正するとシェーディングが劣化したりレンズの収
差が悪くなるため画質が劣化することになる。また、ゲ
インコントロールにより光量を補正すると、ノイズ成分
まで増幅してしまうのでS/N比が悪くなり、やはり画
質が劣化することになる。
【0068】このような事情に鑑みて、本出願人は、以
下に示す技術手段を提案する。
下に示す技術手段を提案する。
【0069】この技術手段は、光源の投射光に依存して
生じる光学像を光電変換する撮像素子の出力レベルに応
じて上記光源の投射光量を制御する手段を有してなるこ
とを特徴とする撮影システムで構成される。
生じる光学像を光電変換する撮像素子の出力レベルに応
じて上記光源の投射光量を制御する手段を有してなるこ
とを特徴とする撮影システムで構成される。
【0070】図13は、該撮影システムを示したブロッ
ク図である。
ク図である。
【0071】従来の撮影システムでは、上述したように
サンプル/ホールド回路56からの出力に基づき、CP
U59で絞りの制御とゲインコントロール回路57の制
御を行っていたが、提案する撮影システムにおいては、
これらの制御に加えて、CPU59によって光源51の
光量を制御するようにしている。
サンプル/ホールド回路56からの出力に基づき、CP
U59で絞りの制御とゲインコントロール回路57の制
御を行っていたが、提案する撮影システムにおいては、
これらの制御に加えて、CPU59によって光源51の
光量を制御するようにしている。
【0072】すなわち、サンプル/ホールド回路56か
らの出力に基づいて、上記CCD55の結像面で適正な
照度が得られるように、CPU59が上述したように絞
り54,ゲインコントロール回路57を制御すると共
に、光源コントローラ62を制御して光源51の発光光
量を制御する。このとき、上記CPU59は、上記サン
プル/ホールド回路56からの出力に基づいて、まず、
光源51の発光光量を制御し、この後、シェーディン
グ,収差が生じないように絞り54を制御し、さらに、
必要に応じてゲインコントロール回路57を制御する。
らの出力に基づいて、上記CCD55の結像面で適正な
照度が得られるように、CPU59が上述したように絞
り54,ゲインコントロール回路57を制御すると共
に、光源コントローラ62を制御して光源51の発光光
量を制御する。このとき、上記CPU59は、上記サン
プル/ホールド回路56からの出力に基づいて、まず、
光源51の発光光量を制御し、この後、シェーディン
グ,収差が生じないように絞り54を制御し、さらに、
必要に応じてゲインコントロール回路57を制御する。
【0073】このような構成をなす撮影システムを用い
れば、光源側で光量をコントロールすることでシェーデ
ィング,収差,S/N比を劣化させることなく、撮像素
子の結像面での照度を一定に保つように光量を補正する
ことができる。
れば、光源側で光量をコントロールすることでシェーデ
ィング,収差,S/N比を劣化させることなく、撮像素
子の結像面での照度を一定に保つように光量を補正する
ことができる。
【0074】ところで、従来、フィルムスキャナ等の撮
影システムでは、フィルム種類(ネガ・ポジ)にかかわ
らず一定の光量で撮影を行っていた。しかしながら、ポ
ジフィルムに対しネガフィルムは、該ネガフィルムのベ
ース部分の光透過率が低いため、ポジフィルムと同等な
光量で撮影を行うと、撮像素子の結像面での照度が低下
するという問題点があった。
影システムでは、フィルム種類(ネガ・ポジ)にかかわ
らず一定の光量で撮影を行っていた。しかしながら、ポ
ジフィルムに対しネガフィルムは、該ネガフィルムのベ
ース部分の光透過率が低いため、ポジフィルムと同等な
光量で撮影を行うと、撮像素子の結像面での照度が低下
するという問題点があった。
【0075】このような不具合を解消する手段として、
従来は、図14に示すような撮影システムにより光量補
正がなされていた。
従来は、図14に示すような撮影システムにより光量補
正がなされていた。
【0076】この図に示すように、光源コントローラ6
2に制御され、光源ドライバー61によって駆動される
光源51からの投射光は、フィルム等の被写体52を透
過した後レンズ53で集光され、絞り54を経てCCD
55に結像される。
2に制御され、光源ドライバー61によって駆動される
光源51からの投射光は、フィルム等の被写体52を透
過した後レンズ53で集光され、絞り54を経てCCD
55に結像される。
【0077】このとき、上述したようにフィルムの種類
の違い等によって光量が適正値でなくなった場合、従来
の撮影システムでは、CPU59がゲインコントロール
回路57(図中、GCと示す)の出力に基づいて光量の
変化分を検出し、絞り制御回路60を制御して上記絞り
54を制御する。この絞り54の制御によっても光量が
適正とならない場合には、さらにゲインコントロール回
路57を制御する。
の違い等によって光量が適正値でなくなった場合、従来
の撮影システムでは、CPU59がゲインコントロール
回路57(図中、GCと示す)の出力に基づいて光量の
変化分を検出し、絞り制御回路60を制御して上記絞り
54を制御する。この絞り54の制御によっても光量が
適正とならない場合には、さらにゲインコントロール回
路57を制御する。
【0078】このように、絞り54を制御することで光
量を補正するとシェーディングが劣化したりレンズの収
差が悪くなるため画質が劣化することになる。また、ゲ
インコントロールにより光量を補正すると、ノイズ成分
まで増幅してしまうのでS/N比が悪くなり、やはり画
質が劣化することになる。
量を補正するとシェーディングが劣化したりレンズの収
差が悪くなるため画質が劣化することになる。また、ゲ
インコントロールにより光量を補正すると、ノイズ成分
まで増幅してしまうのでS/N比が悪くなり、やはり画
質が劣化することになる。
【0079】このような事情に鑑みて、本出願人は、以
下に示す技術手段を提案する。
下に示す技術手段を提案する。
【0080】この技術手段は、適用されたフィルムを透
過せしめられた所定光源の投射光に基づく光学像を撮像
素子により光電変換して出力映像信号を得る撮影システ
ムにおいて、当該適用されたフィルムのネガ・ポジの別
を弁別する弁別手段と、この弁別手段の弁別結果に応じ
て上記光源の投射光量を制御する投射光量制御手段と、
を有してなることを特徴とする撮影システムである。
過せしめられた所定光源の投射光に基づく光学像を撮像
素子により光電変換して出力映像信号を得る撮影システ
ムにおいて、当該適用されたフィルムのネガ・ポジの別
を弁別する弁別手段と、この弁別手段の弁別結果に応じ
て上記光源の投射光量を制御する投射光量制御手段と、
を有してなることを特徴とする撮影システムである。
【0081】図15は、上記撮影システムの構成を示し
たブロック図である。
たブロック図である。
【0082】この図に示すように、提案する撮影システ
ムは、図14に示す従来の撮影システムに加え、上記フ
ィルム等の被写体52の種別(ネガ・ポジ)を弁別する
フィルム弁別センサ63を具備している。また、従来
は、光量の補正手段として、絞り54の制御およびゲイ
ンコントロール回路57の制御を行っていたが、本撮影
システムではこれらの制御に加え、CPU59で光源コ
ントローラ62を制御して光源51の発光光量を制御す
るようにしている。
ムは、図14に示す従来の撮影システムに加え、上記フ
ィルム等の被写体52の種別(ネガ・ポジ)を弁別する
フィルム弁別センサ63を具備している。また、従来
は、光量の補正手段として、絞り54の制御およびゲイ
ンコントロール回路57の制御を行っていたが、本撮影
システムではこれらの制御に加え、CPU59で光源コ
ントローラ62を制御して光源51の発光光量を制御す
るようにしている。
【0083】上記フィルム弁別センサ63は、光源51
からの投射光を受けて上記被写体(フィルム)52の透
過率を検出する光センサで構成されており、図16に示
すフィルム面の内、斜線部で示す部分41の透過率を検
出するようになっている。この透過率はネガフィルムと
ポジフィルムとで異なるので、該透過率の差の情報に基
づいてCPU59において装填された被写体(フィル
ム)のネガ・ポジを弁別するようになっている。そし
て、この弁別結果に基づいて該CPU59が光源コント
ローラ62を制御して光源51の発光光量を制御するよ
うになっている。
からの投射光を受けて上記被写体(フィルム)52の透
過率を検出する光センサで構成されており、図16に示
すフィルム面の内、斜線部で示す部分41の透過率を検
出するようになっている。この透過率はネガフィルムと
ポジフィルムとで異なるので、該透過率の差の情報に基
づいてCPU59において装填された被写体(フィル
ム)のネガ・ポジを弁別するようになっている。そし
て、この弁別結果に基づいて該CPU59が光源コント
ローラ62を制御して光源51の発光光量を制御するよ
うになっている。
【0084】具体的には、上記被写体52がネガフィル
ムの場合、CPU59は、上記CCD55の結像面での
照度が一定となるように光源コントローラ62を制御し
て光源51の発光光量を制御する。その他の光量制御
は、従来の撮影システムと同様であるので、ここでの説
明は省略する。
ムの場合、CPU59は、上記CCD55の結像面での
照度が一定となるように光源コントローラ62を制御し
て光源51の発光光量を制御する。その他の光量制御
は、従来の撮影システムと同様であるので、ここでの説
明は省略する。
【0085】なお、上記フィルム弁別センサ63に対す
る発光部として、本撮影システムでは光源51の投射光
を利用しているが、新たに、たとえばLED等の発光部
を設け、該発光部の光により上記フィルムの透過率を検
出してもよい。
る発光部として、本撮影システムでは光源51の投射光
を利用しているが、新たに、たとえばLED等の発光部
を設け、該発光部の光により上記フィルムの透過率を検
出してもよい。
【0086】また、本撮影システムは、図15に示すよ
うに、CPU59にはフィルム種別の切換えスイッチ6
4が接続されている。撮影者は、装填されたフィルムの
種別に応じて該切換えスイッチ64を切換えるようにな
っており、該フィルム種別情報に基づいて、CPU59
で上記同様な光量制御を行うようになっている。
うに、CPU59にはフィルム種別の切換えスイッチ6
4が接続されている。撮影者は、装填されたフィルムの
種別に応じて該切換えスイッチ64を切換えるようにな
っており、該フィルム種別情報に基づいて、CPU59
で上記同様な光量制御を行うようになっている。
【0087】このような構成をなす撮影システムによれ
ば、シェーディング,レンズ収差,S/N比の低下を招
くことなく、フィルムの種別(ネガフィルムとポジフィ
ルム)に関係なく、撮像素子の結像面において適正な照
度を保つことができる。
ば、シェーディング,レンズ収差,S/N比の低下を招
くことなく、フィルムの種別(ネガフィルムとポジフィ
ルム)に関係なく、撮像素子の結像面において適正な照
度を保つことができる。
【0088】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、装置自体
を従来に比べてより一層小型化あるいは低コスト化出来
るという長所を有する。
を従来に比べてより一層小型化あるいは低コスト化出来
るという長所を有する。
【図1】本発明の1実施例を示す撮影装置の構成を示し
たブロック図である。
たブロック図である。
【図2】従来の撮影装置における撮像素子の、暗時出力
温度特性を示した線図である。
温度特性を示した線図である。
【図3】従来の電子部品冷却装置の温度制御手段を示し
たブロック図である。
たブロック図である。
【図4】上記図3に示した電子部品冷却装置の不具合を
解消した本実施例の電子部品冷却装置を示したブロック
図である。
解消した本実施例の電子部品冷却装置を示したブロック
図である。
【図5】上記図4に示した本実施例の電子部品冷却装置
における撮像素子および冷却素子の周辺部を示した要部
拡大断面図である。
における撮像素子および冷却素子の周辺部を示した要部
拡大断面図である。
【図6】上記図4に示した本実施例の電子部品冷却装置
における冷却素子を示した要部拡大断面図である。
における冷却素子を示した要部拡大断面図である。
【図7】上記図4に示した本実施例の電子部品冷却装置
における冷却素子の冷却特性を示した線図である。
における冷却素子の冷却特性を示した線図である。
【図8】上記図4に示した本実施例の電子部品冷却装置
における冷却素子,温度検出素子および定電圧源との接
続関係を示した電気回路図である。
における冷却素子,温度検出素子および定電圧源との接
続関係を示した電気回路図である。
【図9】上記図4に示した本実施例の電子部品冷却装置
における温度検出素子の温度特性を示した線図である。
における温度検出素子の温度特性を示した線図である。
【図10】上記図4に示した本実施例の電子部品冷却装
置における冷却素子,温度検出素子および定電流源との
接続関係を示した電気回路図である。
置における冷却素子,温度検出素子および定電流源との
接続関係を示した電気回路図である。
【図11】従来の撮影システムにおける光源の時間に対
する光量の変化を示した線図である。
する光量の変化を示した線図である。
【図12】従来の、光量補正手段を具備する撮影システ
ムの構成を示すブロック図である。
ムの構成を示すブロック図である。
【図13】上記図12に示す撮影システムの不具合を解
消する撮影システムの構成を示すブロック図である。
消する撮影システムの構成を示すブロック図である。
【図14】従来の、光量補正手段を具備する撮影システ
ムの構成を示すブロック図である。
ムの構成を示すブロック図である。
【図15】上記図14に示す撮影システムの不具合を解
消する撮影システムの構成を示すブロック図である。
消する撮影システムの構成を示すブロック図である。
【図16】上記図15に示す撮影システムにおけるフィ
ルム弁別センサに対向するフィルム面を示す説明図であ
る。
ルム弁別センサに対向するフィルム面を示す説明図であ
る。
24 撮像素子 25 冷却素子 26 温度検出素子 34 温度制御素子ドライバ 113 温度検出回路 114 冷却素子ドライバ 115 温度コントローラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04N 5/335 Z
Claims (1)
- 【請求項1】 冷却対象と熱的に結合され、供給される
電力に応じて冷却効果を奏する冷却素子と、 所定の抵抗−温度特性を有し、前記冷却対象と熱的に結
合されている抵抗素子と、 前記冷却素子及び前記抵抗素子と回路的に所定の接続が
なされており、それら冷却素子及び抵抗素子へ電力を供
給する電力供給手段とを備え、 前記抵抗素子の温度が高くなる方向へ変化する場合、前
記所定の抵抗−温度特性による前記抵抗素子の抵抗値の
変化に基づいて、前記冷却素子への前記電力供給が増加
する方向へ変化するように、前記所定の抵抗−温度特性
と前記所定の接続が調整されていることを特徴とする電
子冷却装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6203536A JPH0794882A (ja) | 1994-08-29 | 1994-08-29 | 電子冷却装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6203536A JPH0794882A (ja) | 1994-08-29 | 1994-08-29 | 電子冷却装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5127115A Division JPH06338990A (ja) | 1993-05-28 | 1993-05-28 | 撮影装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0794882A true JPH0794882A (ja) | 1995-04-07 |
Family
ID=16475782
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6203536A Withdrawn JPH0794882A (ja) | 1994-08-29 | 1994-08-29 | 電子冷却装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0794882A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006066880A (ja) * | 2004-05-24 | 2006-03-09 | Seiko Instruments Inc | 電子機器、デジタルカメラ、及び電子機器の駆動方法 |
| WO2006129460A1 (ja) * | 2005-06-03 | 2006-12-07 | Konica Minolta Holdings, Inc. | 撮像装置 |
| JP2008141089A (ja) * | 2006-12-05 | 2008-06-19 | Nitto Electric Works Ltd | ペルチェ式盤用冷却装置 |
| JP2011529627A (ja) * | 2008-07-30 | 2011-12-08 | エムピー デザイン インコーポレイテッド | 発光ダイオード取付装置用熱制御システム |
| JP2022114861A (ja) * | 2021-01-27 | 2022-08-08 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 撮像装置 |
-
1994
- 1994-08-29 JP JP6203536A patent/JPH0794882A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006066880A (ja) * | 2004-05-24 | 2006-03-09 | Seiko Instruments Inc | 電子機器、デジタルカメラ、及び電子機器の駆動方法 |
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| JP4771092B2 (ja) * | 2005-06-03 | 2011-09-14 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | 撮像装置 |
| JP2008141089A (ja) * | 2006-12-05 | 2008-06-19 | Nitto Electric Works Ltd | ペルチェ式盤用冷却装置 |
| JP2011529627A (ja) * | 2008-07-30 | 2011-12-08 | エムピー デザイン インコーポレイテッド | 発光ダイオード取付装置用熱制御システム |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000801 |