JPH077204A - Semiconductor laser device drive circuit - Google Patents
Semiconductor laser device drive circuitInfo
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- JPH077204A JPH077204A JP14361293A JP14361293A JPH077204A JP H077204 A JPH077204 A JP H077204A JP 14361293 A JP14361293 A JP 14361293A JP 14361293 A JP14361293 A JP 14361293A JP H077204 A JPH077204 A JP H077204A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 GaAsMESFETを用いたドライバ回路
において、電源電圧が変動しても一定の出力電流振幅を
得る。
【構成】 GaAsMESFETドライバ回路におい
て、出力FET4のドレイン側に電位検出回路13を設
けて出力電流振幅の平均値を求め、これと基準電流源1
2の出力を差動増幅器14にて比較増幅しその出力を電
圧制御電流源15に入力する。電圧制御電流源15では
入力電圧に比例した出力電流I1を有する。これをカレ
ントミラー電流源の基準電流に用いこれを制御する事で
一定のI2即ち出力電流振幅を得る構成とした。
【効果】 電源電圧変動時にも安定した出力電流振幅が
得られるように、簡単なDC回路を付加するのみでカレ
ントミラー電流源の基準電流を制御し絶えず一定の出力
電流振幅が得られる。
(57) [Abstract] [Purpose] In a driver circuit using GaAs MESFETs, a constant output current amplitude is obtained even if the power supply voltage fluctuates. [Structure] In a GaAs MESFET driver circuit, a potential detection circuit 13 is provided on the drain side of the output FET 4 to obtain an average value of the output current amplitude, and this and the reference current source 1
The output of No. 2 is compared and amplified by the differential amplifier 14, and the output is input to the voltage controlled current source 15. The voltage controlled current source 15 has an output current I1 proportional to the input voltage. This is used as the reference current of the current mirror current source and controlled to obtain a constant I2, that is, the output current amplitude. [Effect] The reference current of the current mirror current source is controlled only by adding a simple DC circuit so that a stable output current amplitude can be obtained even when the power supply voltage changes, and a constant output current amplitude can be obtained constantly.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、GaAsME
SFETを用いた半導体レーザ素子駆動回路において、
電源電圧が変化しても出力電流振幅が変動せず、安定し
た出力振幅の得られる半導体レーザ素子駆動回路に関す
るものである。BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to, for example, GaAsME.
In a semiconductor laser device driving circuit using SFET,
The present invention relates to a semiconductor laser element drive circuit that can obtain a stable output amplitude without changing the output current amplitude even if the power supply voltage changes.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来例1.図6は例えば特開平3−21
4935号公報に示された従来のGaAsMESFET
ドライバを一部変更したものであり、電流源をカレント
ミラー型の電流源にしている。図において、1は正相デ
ータ入力端子、2は逆相データ入力端子、3及び4は差
動対のFET、5はレーザダイオードLD、6は負荷抵
抗、7及び8はカレントミラー型電流源を構成するFE
T、9及び10はエミッタ抵抗、11は温度補償用のダ
イオードである。図7は説明のためのGaAsMESF
ETの静特性を示した図である。2. Description of the Related Art Conventional Example 1. FIG. 6 shows, for example, JP-A-3-21.
Conventional GaAs MESFET disclosed in Japanese Patent No. 4935
This is a partial modification of the driver, and the current source is a current mirror type current source. In the figure, 1 is a positive phase data input terminal, 2 is a negative phase data input terminal, 3 and 4 are FETs of a differential pair, 5 is a laser diode LD, 6 is a load resistor, and 7 and 8 are current mirror type current sources. FE to configure
T, 9 and 10 are emitter resistors, and 11 is a diode for temperature compensation. FIG. 7 shows GaAs MESF for explanation.
It is the figure which showed the static characteristic of ET.
【0003】従来のGaAsMESFETドライバ回路
の動作について以下に説明する。正相データ入力端子1
に正相データ、及び逆相データ入力端子2に逆相データ
が入力されると、差動対構成のFET3及び4はスイッ
チング動作をし、FET3は正相データ、FET4は逆
相データに対応した電流をLD及び負荷抵抗6に長す。
FET7及び8はカレントミラー回路を構成しているF
ETであり、エミッタ抵抗9及び10を有している。仮
にエミッタ抵抗9と10の抵抗値が等しいとすれば、F
ET7に流れるI1とほぼ等しい電流がI2としてFE
T8に流れ、このI2によりFET3及び4の出力電流
波形のP−P値が決定される。この原理を以下で説明す
る。The operation of the conventional GaAs MESFET driver circuit will be described below. Positive phase data input terminal 1
When the positive phase data and the negative phase data are input to the negative phase data input terminal 2, the FETs 3 and 4 in the differential pair configuration perform a switching operation, the FET 3 corresponds to the normal phase data, and the FET 4 corresponds to the reverse phase data. The current is extended to the LD and the load resistor 6.
FETs 7 and 8 form a current mirror circuit F
ET and has emitter resistors 9 and 10. If the resistance values of the emitter resistors 9 and 10 are equal, F
A current almost equal to I1 flowing through ET7 is FE as I2.
It flows to T8, and this I2 determines the PP value of the output current waveform of the FETs 3 and 4. This principle will be described below.
【0004】まずFET7及びそのエミッタ抵抗9及び
温度補償用ダイオード11にて決定される電流I1は以
下の式にて表現される。 I1=(VCC−VGS1 −VF )/R ただし、VGS1 はFET7のゲート−ソース間電圧、V
F は温度補償用ダイオード11にて生じる電圧降下、R
は抵抗9の抵抗値である。一方、FET8のゲートはF
ET7のゲートと接続されているため同電位である。F
ET7及び8が図7に示す静特性を有しているとすれ
ば、FET8のVDSに関係なく流れる電流I2はI1と
等しくなり、このI2をP−P値とする出力波形がFE
T3及び4で得られることとなる。First, the current I1 determined by the FET 7, its emitter resistance 9 and the temperature compensating diode 11 is expressed by the following equation. I1 = (V CC −V GS1 −V F ) / R where V GS1 is the gate-source voltage of the FET 7, V
F is a voltage drop generated in the temperature compensating diode 11, R
Is the resistance value of the resistor 9. On the other hand, the gate of FET8 is F
Since it is connected to the gate of ET7, it has the same potential. F
Assuming that the ETs 7 and 8 have the static characteristics shown in FIG. 7, the current I2 that flows regardless of the V DS of the FET 8 becomes equal to I1, and the output waveform having this I2 as the PP value is FE.
It will be obtained at T3 and 4.
【0005】従来例2.図8は例えば特開平4−245
691号公報に示された従来の半導体レーザ素子駆動回
路である。図において31はレーザダイオード、32は
フォトダイオード、33はバッファ回路、34,35及
び36は基準電流源、37,38及び39は増幅器、4
0はピークホールド回路、41はボトムホールド回路、
42及び43は差動増幅器である。Conventional example 2. FIG. 8 shows, for example, JP-A-4-245.
This is a conventional semiconductor laser device driving circuit disclosed in Japanese Patent No. 691. In the figure, 31 is a laser diode, 32 is a photodiode, 33 is a buffer circuit, 34, 35 and 36 are reference current sources, 37, 38 and 39 are amplifiers, 4
0 is a peak hold circuit, 41 is a bottom hold circuit,
42 and 43 are differential amplifiers.
【0006】従来の半導体レーザ素子駆動回路の動作に
ついて以下で説明する。図8の半導体レーザ素子駆動回
路ではレーザダイオード31の出力光をフォトダイオー
ド32にてモニタし、レーザダイオード31の発光出力
の最大値及び最小値が常に一定となるようレーザダイオ
ード31に流す電流を変化させる構成となっている。即
ち入力信号DATA及び反転入力信号DATAがそれぞ
れバッファ回路33を介してトランジスタQ1,Q2の
ベースに印加される。レーザダイオード31は電源Vc
cとトランジスタQ1のコレクタとの間に挿入されてい
る。The operation of the conventional semiconductor laser device driving circuit will be described below. In the semiconductor laser device driving circuit of FIG. 8, the output light of the laser diode 31 is monitored by the photodiode 32, and the current supplied to the laser diode 31 is changed so that the maximum value and the minimum value of the emission output of the laser diode 31 are always constant. It is configured to let. That is, the input signal DATA and the inverted input signal DATA are applied to the bases of the transistors Q1 and Q2 via the buffer circuit 33, respectively. The laser diode 31 has a power supply Vc
It is inserted between c and the collector of the transistor Q1.
【0007】トランジスタQ1のコレクタはさらにソレ
ノイド44を介してトランジスタQ4のコレクタに接続
され、トランジスタQ2のコレクタは電源Vccに接続
されている。またトランジスタQ1,Q2はエミッタが
それぞれ共通にトランジスタQ3のコレクタに接続さ
れ、トランジスタQ3のエミッタは抵抗R1を介して接
地されている。The collector of the transistor Q1 is further connected to the collector of the transistor Q4 via the solenoid 44, and the collector of the transistor Q2 is connected to the power supply Vcc. The emitters of the transistors Q1 and Q2 are commonly connected to the collector of the transistor Q3, and the emitter of the transistor Q3 is grounded via the resistor R1.
【0008】トランジスタQ3のベースには差動増幅器
42の出力が印加される。差動増幅器42はピークホー
ルド回路40の出力と基準電流I2を電圧変換する増幅
器38の出力とを入力とする。増幅器37はフォトダイ
オード32の出力と基準電流I1を比較増幅し電圧変換
してピークホールド回路40に出力する。一方トランジ
スタQ4のベースには差動増幅器43の出力が印加され
る。差動増幅器43はボトムホールド回路41の出力と
基準電流I3を電圧変換する増幅器39の出力とを入力
とする。増幅器37はフォトダイオード32の出力と基
準電流I1を比較増幅し電圧変換してボトムホールド回
路41に出力する。トランジスタQ4のエミッタは抵抗
R2を介して接地されている。フォトダイオード32の
一端は電源Vccに接続されている。The output of the differential amplifier 42 is applied to the base of the transistor Q3. The differential amplifier 42 receives the output of the peak hold circuit 40 and the output of the amplifier 38 for converting the reference current I2 into a voltage. The amplifier 37 compares and amplifies the output of the photodiode 32 and the reference current I1, converts the voltage, and outputs the voltage to the peak hold circuit 40. On the other hand, the output of the differential amplifier 43 is applied to the base of the transistor Q4. The differential amplifier 43 receives the output of the bottom hold circuit 41 and the output of the amplifier 39 that converts the reference current I3 into a voltage. The amplifier 37 compares and amplifies the output of the photodiode 32 and the reference current I1, converts the voltage, and outputs the voltage to the bottom hold circuit 41. The emitter of the transistor Q4 is grounded via the resistor R2. One end of the photodiode 32 is connected to the power supply Vcc.
【0009】前記半導体レーザ素子駆動回路では、フォ
トダイオード32の出力電流の最大値と基準電流I1の
差電流と、基準電流I2とを入力する差動増幅器42の
出力でレーザダイオード31に流れる変調電流の値が決
定される。また、レーザダイオード31に流すバイアス
電流の値は、フォトダイオード32にの出力電流の最小
値と基準電流I1の差電流と基準電流I3とを入力する
差動増幅器43の出力で決定される。従って、レーザダ
イオード31の発光出力は、基準電流I1及びI2にて
最大光出力、基準電流I1及びI3にて最小光出力がそ
れぞれ決定され、基準電流I1〜I3により平均光出
力、消光比が決定される。In the semiconductor laser device driving circuit, the modulation current flowing through the laser diode 31 by the output of the differential amplifier 42 which receives the difference between the maximum output current of the photodiode 32 and the reference current I1 and the reference current I2. The value of is determined. Further, the value of the bias current flowing through the laser diode 31 is determined by the output of the differential amplifier 43 which inputs the minimum value of the output current to the photodiode 32, the difference current between the reference current I1 and the reference current I3. Therefore, regarding the light emission output of the laser diode 31, the maximum light output is determined by the reference currents I1 and I2, the minimum light output is determined by the reference currents I1 and I3, and the average light output and the extinction ratio are determined by the reference currents I1 to I3. To be done.
【0010】[0010]
【発明が解決しようとする課題】従来例1に示したよう
に、GaAsMESFETを用いたドライバ回路におい
てGaAsMESFETの静特性が図9に示す特性、即
ちトランジスタの飽和領域においてもVDSの変動により
ID が変動する特性を有する場合、もし電源変動により
VDSが変動すると、カレントミラー電流源のI1が一定
であるにもかかわらずI2が変動し、それにより差動対
FETの出力波形のP−P値が変動するという問題点が
あった。As shown in THE INVENTION Problems to be Solved] Conventional Example 1, I the variation of V DS is also static characteristics GaAsMESFET in the driver circuit using a GaAsMESFET characteristics shown in FIG. 9, i.e. in the saturation region of the transistor D If V DS fluctuates due to power fluctuation, I2 fluctuates even though I1 of the current mirror current source is constant, which causes P-P of the output waveform of the differential pair FET. There was a problem that the value fluctuated.
【0011】また、従来例2に示した半導体レーザ素子
駆動回路においてピークホールド回路及びボトムホール
ド回路は高速動作を必要とする回路であり、伝送ビット
レートの高速化に伴いより高速なデバイスにて構成され
る必要が生じる。GaAsMESFETを用いて半導体
レーザ素子駆動回路を構成した場合伝送ビットレートは
2Gb/s以上が想定されるが、このような高速光伝送
において前記ピークホールド回路及びボトムホールド回
路を歩留りよく製造することは困難になる。Further, in the semiconductor laser device driving circuit shown in the second conventional example, the peak hold circuit and the bottom hold circuit are circuits that require high speed operation, and are composed of higher speed devices as the transmission bit rate increases. Need to be done. A transmission bit rate of 2 Gb / s or more is assumed when a semiconductor laser element drive circuit is configured using GaAs MESFETs, but it is difficult to manufacture the peak hold circuit and the bottom hold circuit with high yield in such high-speed optical transmission. become.
【0012】GaAsMESFETを用いた半導体レー
ザ素子駆動回路を使用し高ビットレートの光送信器を構
成する場合、レーザ素子の特性を安定化するためATC
(Automatic Temperature Control )回路が使用され
る。これはレーザダイオードのジャンクション温度を一
定に保ちレーザダイオードのP−I特性を一定に保つ回
路である。レーザダイオードの温度特性が一定であれ
ば、半導体レーザ素子駆動回路の変調電流振幅が常時一
定であれば光出力の振幅及び消光比は一定に保つことが
可能となる。When a semiconductor laser device driving circuit using GaAs MESFET is used to construct a high bit rate optical transmitter, the ATC is performed in order to stabilize the characteristics of the laser device.
(Automatic Temperature Control) circuit is used. This is a circuit that keeps the junction temperature of the laser diode constant and the PI characteristic of the laser diode constant. If the temperature characteristic of the laser diode is constant, the amplitude of the optical output and the extinction ratio can be kept constant if the modulation current amplitude of the semiconductor laser element drive circuit is always constant.
【0013】しかしGaAsMESFETを用いた半導
体レーザ素子駆動回路は、電源電圧変動に対して非常に
敏感であり、電源電圧が変動すればその出力振幅も変動
する。以下図9、図10を用いてこの原因について説明
する。However, the semiconductor laser device driving circuit using the GaAs MESFET is very sensitive to the fluctuation of the power supply voltage, and the fluctuation of the power supply voltage causes the fluctuation of the output amplitude. The cause will be described below with reference to FIGS. 9 and 10.
【0014】図10にGaAsMESFETを用いた半
導体レーザ素子駆動回路を簡略化して示した。図におい
て正相信号DATAと逆相信号DATAがFETQ1及
びQ2のゲートに入力され、Q1及びQ2のドレインと
Vcc間にはレーザLD及び負荷抵抗R1が設けられ正
相信号DATA及び逆相信号DATAに準じた電流が流
れるよう構成されている。FETQ1及びQ2のソース
はFETQ3のドレインに共通に接続され、FETQ3
のソースは接地されている。FETQ3のゲートには基
準電流源I1が接続されカレントミラー型の電流源を構
成しておりI1とほぼ等しい電流I2をドレイン電流と
して流す構成となっている。この半導体レーザ素子駆動
回路においてGaAsMESFETの静特性が図9に示
す特性、すなわちトランジスタの飽和領域においてもV
DSの変動によりID が変動する特性を有する場合を考え
る。正相信号DATAと逆相信号DATAは一般にVc
c側にレギュレートされており即ちFETQ1及びQ2
のゲートもVccからみて固定である。もし電源変動に
よりVccが初期値Vcc1からVcc2へ変動幅をΔ
Vccで変動したとする。この時FETQ3のVDSは初
期値VDS(@Vcc1)からVDS(@Vcc2)へΔV
ccだけ変動する。この時FETQ3の出力電流I2は
ΔID だけ変動することになる。FETQ1及びQ2の
出力電流振幅はQ3の出力電流I2と等しいため、即ち
出力電流振幅もΔID だけ変動してしまうという問題が
あった。FIG. 10 shows a simplified semiconductor laser device drive circuit using GaAs MESFETs. In the figure, the positive phase signal DATA and the negative phase signal DATA are input to the gates of the FETs Q1 and Q2, the laser LD and the load resistor R1 are provided between the drains of Q1 and Q2 and Vcc, and the positive phase signal DATA and the negative phase signal DATA are supplied. It is configured so that a compliant current flows. The sources of the FETs Q1 and Q2 are commonly connected to the drain of the FET Q3,
The source of is grounded. A reference current source I1 is connected to the gate of the FET Q3 to form a current mirror type current source, and a current I2 almost equal to I1 is made to flow as a drain current. In this semiconductor laser device drive circuit, the static characteristics of the GaAs MESFET are those shown in FIG. 9, that is, V in the saturation region of the transistor.
Consider a case where I D has a characteristic that it fluctuates depending on the fluctuation of DS . The positive phase signal DATA and the negative phase signal DATA are generally Vc.
regulated to the c side, that is, FETs Q1 and Q2
The gate of is also fixed when viewed from Vcc. If the power supply fluctuation causes Vcc to change from the initial value Vcc1 to Vcc2 by Δ
It is assumed that it fluctuates with Vcc. At this time, the V DS of the FET Q3 is changed from the initial value V DS (@ Vcc1) to V DS (@ Vcc2) by ΔV.
It varies by cc. At this time, the output current I2 of the FET Q3 changes by ΔI D. FETQ1 and for equal output current I2 of the output current amplitude Q3 of Q2, that is, the output current amplitude is also a problem that only fluctuates [Delta] I D.
【0015】この発明は前記のような問題点を解消する
ためになされたものであり、GaAsMESFET等の
素子を用いた半導体レーザ素子駆動回路において、Ga
AsMESFET等の素子の静特性によらず電源電圧が
変動しても安定な出力電流振幅が得られる回路を簡単な
DC回路を付加する事で実現することを目的とする。The present invention has been made to solve the above problems, and in a semiconductor laser device driving circuit using a device such as GaAs MESFET, Ga
It is an object of the present invention to realize a circuit that can obtain a stable output current amplitude even if the power supply voltage fluctuates regardless of the static characteristics of an element such as AsMESFET by adding a simple DC circuit.
【0016】[0016]
【課題を解決するための手段】請求項1記載の半導体レ
ーザ素子駆動回路は基準電圧源と電位検出回路と差動増
幅器と電圧制御電流源を設け、出力電流振幅を平均値と
して電位検出器にて検出し基準電圧源の出力と比較し差
動増幅回路にて増幅した後、その出力電圧により制御さ
れる電圧制御電流源にて出力する様構成し、電源電圧変
動時にもカレントミラー回路の基準電流I1を制御する
手段を備えたものである。A semiconductor laser device driving circuit according to claim 1 is provided with a reference voltage source, a potential detection circuit, a differential amplifier and a voltage control current source, and the output current amplitude is used as an average value in the potential detector. The output voltage of the current mirror circuit is detected even when the power supply voltage fluctuates. It is provided with a means for controlling the current I1.
【0017】請求項2記載の半導体レーザ素子駆動回路
はマーク率検出回路と電位検出回路と差動増幅器と電圧
制御電流源を設け、出力電流波形のP−P値を平均値と
して電位検出回路にて検出し基準電圧源の変わりにマー
ク率検出回路を基準とし両者の出力電圧を比較し差動増
幅回路にて増幅した後、その出力電圧により制御される
電圧制御電流源にて出力する様構成し、電源電圧変動に
加えマーク率が変動した際にもカレントミラー回路の基
準電流I1制御する手段を備えたものである。A semiconductor laser device driving circuit according to a second aspect is provided with a mark ratio detecting circuit, a potential detecting circuit, a differential amplifier and a voltage control current source, and the P-P value of the output current waveform is used as an average value in the potential detecting circuit. The output voltage of both is compared with the mark ratio detection circuit as a reference instead of the reference voltage source, amplified by the differential amplifier circuit, and then output by the voltage controlled current source controlled by the output voltage. However, a means for controlling the reference current I1 of the current mirror circuit is provided even when the mark ratio changes in addition to the power supply voltage change.
【0018】請求項3記載の半導体レーザ素子駆動回路
は基準電圧源と電源電圧検出回路と差動増幅器と電圧制
御電流源を設け、電源電圧検出回路と基準電圧源の両出
力を差動増幅器にて増幅した後、その出力電圧により制
御される電圧制御電流源にて出力する様構成し、電源電
圧変動が変動した際にもカレントミラー回路の基準電流
I1を制御する手段を備えたものである。According to another aspect of the semiconductor laser device driving circuit of the present invention, a reference voltage source, a power supply voltage detection circuit, a differential amplifier and a voltage controlled current source are provided, and both outputs of the power supply voltage detection circuit and the reference voltage source are supplied to the differential amplifier. It is configured to be output by a voltage controlled current source controlled by the output voltage after being amplified by the output voltage, and means for controlling the reference current I1 of the current mirror circuit even when the power supply voltage fluctuates. .
【0019】[0019]
【作用】この発明における半導体レーザ素子駆動回路は
カレントミラー回路の基準電流I1を制御することによ
りI2及び出力電流振幅が絶えず一定となるよう構成し
たものである。The semiconductor laser device driving circuit according to the present invention is configured so that the reference current I1 of the current mirror circuit is controlled so that I2 and the output current amplitude are constantly constant.
【0020】この発明による出力電流振幅安定化の原理
を図1により説明する。図1はGaAsMESFETの
静特性の一例を示したものである。初期にGaAsME
SFETがVGS1 ,VDS1 を有していたとすると、この
時生じるドレイン電流はID1となる。ここで電源電圧が
減少したことによりVDS1 がVDS2 になったとするとド
レイン電流も減少しID2となる(矢印A)。この時VGS
を制御しVGS2 とすればID2はもとのID1となる(矢印
B)。電源電圧が増加した場合はこれと逆の動作をすれ
ばやはりドレイン電流はID1のままになる(矢印C,
D)。これを本発明では電流制御することでVGSを等価
的に制御しようとするものである。The principle of stabilizing the output current amplitude according to the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 shows an example of static characteristics of a GaAs MESFET. Initially GaAsME
Assuming that the SFET has V GS1 and V DS1 , the drain current generated at this time is I D1 . If V DS1 becomes V DS2 due to the decrease in power supply voltage, the drain current also decreases and becomes I D2 (arrow A). At this time V GS
Is controlled to V GS2 , I D2 becomes the original I D1 (arrow B). When the power supply voltage is increased, the drain current remains I D1 (arrow C,
D). According to the present invention, V GS is equivalently controlled by controlling the current.
【0021】[0021]
【実施例】実施例1.図2は請求項1記載の発明に係る
半導体レーザ素子駆動回路の一実施例を示す図である。
図において、1は正相データ入力端子、2は逆相データ
入力端子、3及び4は差動対のFET、5はLD、6は
負荷抵抗、7及び8はカレントミラー型電流源を構成す
るFET、9及び10はソース抵抗、12は基準電圧
源、13は電位検出回路、14は差動増幅器、15は電
圧制御電流源である。電位検出回路13はFET4のド
レインに接続され負荷抵抗6により生じる電圧降下を検
出する。基準電圧源12と電位検出回路13の出力は差
動増幅器14に入力され、差動増幅器14の出力は電圧
制御電流源15に接続される。電圧制御電流源15の出
力はFET7のドレインに接続される。EXAMPLES Example 1. FIG. 2 is a diagram showing an embodiment of a semiconductor laser device driving circuit according to the invention described in claim 1.
In the figure, 1 is a positive phase data input terminal, 2 is a negative phase data input terminal, 3 and 4 are differential pair FETs, 5 are LDs, 6 are load resistors, and 7 and 8 are current mirror type current sources. FETs, 9 and 10 are source resistors, 12 is a reference voltage source, 13 is a potential detection circuit, 14 is a differential amplifier, and 15 is a voltage controlled current source. The potential detection circuit 13 is connected to the drain of the FET 4 and detects a voltage drop caused by the load resistance 6. The outputs of the reference voltage source 12 and the potential detection circuit 13 are input to the differential amplifier 14, and the output of the differential amplifier 14 is connected to the voltage controlled current source 15. The output of the voltage controlled current source 15 is connected to the drain of the FET 7.
【0022】次に動作について説明する。正相データ入
力端子1及び逆相データ入力端子2にデータ信号が入力
されると差動対構成のFET3及び4はスイッチング動
作をし、FET3は正相データ、FET4は逆相データ
に対応した電流をLD5及び負荷抵抗6に出力する。F
ET7及び8はカレントミラー回路を構成しているFE
Tでありソース抵抗9及び10を有している。仮にソー
ス抵抗9及び10の抵抗値が等しければFET7に流れ
る電流I1とほぼ等しい電流がI2としてFET8に流
れ、このI2によりFET3及び4の出力電流振幅値が
決定される。ここで基準電圧源12は電源電圧によらず
一定の出力電圧を有している。電位検出回路13はFE
T4のドレインに接続され負荷抵抗6による電圧降下を
検出する。この電位検出回路13は伝送速度に比較して
低い帯域を有しFET4の出力電流振幅値を平均化し
(出力電流波形のP−P値を平均値にし)、DC電圧に
て出力する。差動増幅器14では前記の2出力電圧を比
較増幅しその出力を電圧制御電流源15に入力する。電
圧制御電流源15は入力電圧に比例した出力電流を有す
るよう構成されておりその出力はFET7に入力されカ
レントミラー回路の基準電流I1となる。Next, the operation will be described. When a data signal is input to the positive phase data input terminal 1 and the negative phase data input terminal 2, the FETs 3 and 4 in the differential pair configuration perform a switching operation, the FET 3 corresponds to the normal phase data, and the FET 4 corresponds to the negative phase data. Is output to the LD 5 and the load resistor 6. F
ETs 7 and 8 are FEs forming a current mirror circuit
T and has source resistors 9 and 10. If the source resistors 9 and 10 have the same resistance value, a current substantially equal to the current I1 flowing in the FET 7 flows as I2 in the FET 8, and the output current amplitude value of the FETs 3 and 4 is determined by this I2. Here, the reference voltage source 12 has a constant output voltage regardless of the power supply voltage. The potential detection circuit 13 is FE
It is connected to the drain of T4 and detects the voltage drop due to the load resistance 6. The potential detection circuit 13 has a band lower than the transmission speed and averages the output current amplitude value of the FET 4 (averages the P-P value of the output current waveform) and outputs it as a DC voltage. The differential amplifier 14 compares and amplifies the two output voltages and inputs the output to the voltage controlled current source 15. The voltage controlled current source 15 is configured to have an output current proportional to the input voltage, and its output is input to the FET 7 and becomes the reference current I1 of the current mirror circuit.
【0023】今、電源電圧の減少によりFET8のVDS
が減少し、差動対FET3・4の出力電流振幅値(出力
電流波形のP−P値)が減少したとする。この時電位検
出回路13の入力は上昇し(Vccに近づき)、これに
より出力も上昇する。一方基準電圧源12の出力は固定
である。差動増幅器14ではこれをうけ電位検出回路1
3の出力変動をG倍して出力する。電圧制御電流源15
ではこれを受け出力電流I1が増加する。この結果I1
が増加すればI2も同時に増加し差動対FET3・4の
出力電流振幅値(出力電流波形のP−P値)は増加し元
の値となる。電源電圧が増加した際にはこれと逆の動作
がおきやはり出力電流振幅値(出力電流波形のP−P
値)は元の値となる。Now, due to the decrease of the power supply voltage, V DS of the FET 8
Is decreased, and the output current amplitude value (P-P value of the output current waveform) of the differential pair FETs 3 and 4 is decreased. At this time, the input of the potential detection circuit 13 rises (approaches Vcc), and the output also rises accordingly. On the other hand, the output of the reference voltage source 12 is fixed. The differential amplifier 14 receives this and the potential detection circuit 1
The output fluctuation of 3 is multiplied by G and then output. Voltage controlled current source 15
In response to this, the output current I1 increases. This result I1
When I increases, I2 also increases and the output current amplitude value (P-P value of the output current waveform) of the differential pair FETs 3 and 4 increases to the original value. When the power supply voltage increases, the reverse operation occurs and the output current amplitude value (PP of the output current waveform
Value) is the original value.
【0024】図2においては、電位検出回路13を差動
構成の一対のFET3と4のうち逆相側FET4のドレ
イン端子に接続する場合を示したが、図3に示すよう
に、電位検出回路13を差動構成の一対のFET3と4
のうち正相側FET3のドレイン端子に接続するように
しても構わない。In FIG. 2, the potential detection circuit 13 is connected to the drain terminal of the FET 4 on the opposite phase side of the pair of differential FETs 3 and 4, but as shown in FIG. 13 is a pair of differential FETs 3 and 4
Of these, it may be connected to the drain terminal of the positive-phase side FET 3.
【0025】以上のようにこの実施例は、正相データ入
力端子と逆相データ入力端子と、差動構成の一対のGa
AsMESFETと、前記一対のFETのドレインに接
続された負荷と、前記一対のFETの共通ソースにドレ
インが接続される電流源としてのFETと、前記電流源
としてのFETとカレントミラー回路構成となる基準電
流源とを備えたGaAsMESFET半導体レーザ素子
駆動回路において、基準電圧源と、前記差動構成の一対
のFETの正相側又は逆相側のドレイン端子に接続する
電位検出回路と、前記基準電圧源と電位検出回路の両出
力を比較増幅する差動増幅器と、前記差動増幅器出力を
入力とし、その出力が前記カレントミラー構成の基準電
流源の入力と接続された電圧制御電流源とを備えたこと
を特徴とする。As described above, in this embodiment, the positive-phase data input terminal, the negative-phase data input terminal, and the pair of Ga having a differential structure are used.
AsMESFET, a load connected to the drains of the pair of FETs, a FET as a current source whose drain is connected to the common source of the pair of FETs, and a reference as a current mirror circuit configuration with the FET as the current source In a GaAs MESFET semiconductor laser device driving circuit including a current source, a reference voltage source, a potential detection circuit connected to the drain terminals on the positive phase side or the negative phase side of a pair of FETs of the differential configuration, and the reference voltage source. And a potential detection circuit for comparing and amplifying both outputs, and a voltage controlled current source having the output of the differential amplifier as an input, the output of which is connected to the input of the reference current source of the current mirror configuration. It is characterized by
【0026】実施例2.図4は請求項2記載の発明の一
実施例を示す構成図である。図において1〜10は実施
例1と同様である。13は電位検出回路、14は差動増
幅器、15は電圧制御電流源、16はマーク率検出回路
である。マーク率検出回路16は正相データ入力端子1
(又は逆相データ入力端子3)に接続され、その出力は
差動増幅器14に接続される。Example 2. FIG. 4 is a block diagram showing an embodiment of the invention described in claim 2. In the figure, 1 to 10 are the same as in the first embodiment. Reference numeral 13 is a potential detection circuit, 14 is a differential amplifier, 15 is a voltage controlled current source, and 16 is a mark ratio detection circuit. The mark ratio detection circuit 16 has a positive phase data input terminal 1
(Or negative-phase data input terminal 3), and its output is connected to the differential amplifier 14.
【0027】次に動作について説明する。GaAsME
SFET半導体レーザ素子駆動部1〜10の動作は実施
例1と同様である。マーク率検出回路16は正相又は逆
相のデータからマーク率を検出し出力しその出力は差動
増幅器14に入力され基準電圧となる。電位検出回路1
3はFET4のドレインに接続され負荷抵抗6による電
圧降下を検出する。この電位検出回路13は伝送速度に
比較して低い帯域を有しFET4の出力電流波形のP−
P値を平均値にしDC電圧にて出力する。差動増幅器1
4では前記の2出力電圧を比較増幅しその出力を電圧制
御電流源15に入力する。電圧制御電流源15は入力電
圧に比例した出力電流を有するよう構成されておりその
出力はFET7に入力されカレントミラー回路の基準電
流I1となる。今、電源電圧の減少によりFET8のV
DSが減少し、差動対FET3・4の出力電流波形のP−
P値が減少したとする。この時電位検出回路13の入力
は上昇し(Vccに近づき)これにより出力も上昇す
る。一方マーク率検出回路16の出力は各マーク率にお
いて固定である。14ではこれをうけ電位検出回路13
の出力変動をG倍して出力する。電圧制御電流源15で
はこれを受け出力電流I1が増加する。この結果I1が
増加すればI2も同時に増加し差動対FET3・4の出
力電流波形のP−P値が増加し元の値となる。電源電圧
が増加した際にはこれと逆の動作がおきやはり出力電流
波形のP−P値は元の値となる。またマーク率が変化し
た場合には、マーク率検出回路16及び電位検出回路1
3の出力もそれに比例して変化するため、マーク率が変
化する場合でも安定した出力電流振幅値(出力電流波形
のP−P値)が得られる。Next, the operation will be described. GaAsME
The operations of the SFET semiconductor laser device driving units 1 to 10 are the same as in the first embodiment. The mark ratio detection circuit 16 detects the mark ratio from the positive or negative phase data and outputs it. The output is input to the differential amplifier 14 and becomes the reference voltage. Potential detection circuit 1
3 is connected to the drain of the FET 4 and detects a voltage drop due to the load resistor 6. The potential detection circuit 13 has a band lower than the transmission speed, and the output current waveform of the FET 4 is P-.
The P value is averaged and output as a DC voltage. Differential amplifier 1
At 4, the two output voltages are compared and amplified, and the output is input to the voltage controlled current source 15. The voltage controlled current source 15 is configured to have an output current proportional to the input voltage, and its output is input to the FET 7 and becomes the reference current I1 of the current mirror circuit. Now, due to the decrease of power supply voltage, V of FET8
DS decreases, P- of the output current waveform of the differential pair FETs 3 and 4
It is assumed that the P value has decreased. At this time, the input of the potential detection circuit 13 rises (approaches Vcc), and the output also rises. On the other hand, the output of the mark ratio detection circuit 16 is fixed at each mark ratio. 14 receives this and the potential detection circuit 13
The output fluctuation of is multiplied by G and then output. The voltage controlled current source 15 receives this and the output current I1 increases. As a result, if I1 increases, I2 also increases, and the P-P value of the output current waveform of the differential pair FETs 3 and 4 increases to the original value. When the power supply voltage increases, the opposite operation occurs and the P-P value of the output current waveform becomes the original value. When the mark rate changes, the mark rate detection circuit 16 and the potential detection circuit 1
Since the output of 3 also changes in proportion to it, a stable output current amplitude value (PP value of the output current waveform) can be obtained even when the mark ratio changes.
【0028】以上のようにこの実施例は、正相データ入
力端子と逆相データ入力端子と、差動一対のGaAsM
ESFETと、前記一対のFETのドレインに接続され
た負荷と、前記一対のFETの共通ソースにドレインが
接続される電流源としてのFETと、前記電流源として
のFETとカレントミラー回路構成となる基準電流源と
を備えたGaAsMESFET半導体レーザ素子駆動回
路において、前記正相データ入力端子又は前記逆相デー
タ入力端子に接続され該マーク率を検出するマーク率検
出回路と、前記差動構成の一対のFETの正相側又は逆
相側のドレイン端子に接続する電位検出回路と、前記マ
ーク率検出回路と電位検出回路の両出力を比較増幅する
差動増幅器と、前記差動増幅器出力を入力とし、その出
力が前記カレントミラー構成の基準電流源の入力と接続
された電圧制御電流源とを備えたことを特徴とする。As described above, this embodiment has a positive phase data input terminal, a negative phase data input terminal, and a differential pair of GaAsMs.
ESFET, a load connected to the drains of the pair of FETs, a FET serving as a current source whose drain is connected to a common source of the pair of FETs, and a reference serving as a current mirror circuit configuration with the FET serving as the current source In a GaAs MESFET semiconductor laser device drive circuit including a current source, a mark ratio detection circuit connected to the positive phase data input terminal or the negative phase data input terminal to detect the mark ratio, and a pair of differential FETs. A potential detection circuit connected to the drain terminal on the positive phase side or the negative phase side, a differential amplifier for comparing and amplifying both outputs of the mark ratio detection circuit and the potential detection circuit, and an input of the differential amplifier output, The output comprises a voltage controlled current source connected to the input of the reference current source of the current mirror configuration.
【0029】実施例3.図5は請求項3記載の発明の一
実施例を示す図である。図において1〜10は実施例1
と同様である。12は基準電圧源、17は電源電圧検出
回路、14は差動増幅回路、15は電圧制御電流源であ
る。基準電圧源12の出力及び電源電圧検出回路17の
出力は差動増幅回路14に入力され、差動増幅回路14
の出力は電圧制御電流源15に接続される。電圧制御電
流源15の出力はFET7のドレインに接続される。Example 3. FIG. 5 is a diagram showing an embodiment of the invention described in claim 3. In the drawings, 1 to 10 are the first embodiment
Is the same as. Reference numeral 12 is a reference voltage source, 17 is a power supply voltage detection circuit, 14 is a differential amplifier circuit, and 15 is a voltage controlled current source. The output of the reference voltage source 12 and the output of the power supply voltage detection circuit 17 are input to the differential amplifier circuit 14, and the differential amplifier circuit 14
Is connected to the voltage controlled current source 15. The output of the voltage controlled current source 15 is connected to the drain of the FET 7.
【0030】次に動作について説明する。GaAsME
SFET半導体レーザ素子駆動部1〜10の動作は請求
項1の実施例と同様である。基準電圧源12は電源電圧
によらず一定の出力電圧を有している。電源電圧検出回
路17は電源電圧に比例した電圧を出力する。差動増幅
器14では前記の2出力電圧を比較増幅しその出力を電
圧制御電流源15に入力する。電圧制御電流源15は入
力電圧に比例した出力電流を有するよう構成されており
その出力はFET7に入力されカレントミラー回路の基
準電流I1となる。今、電源電圧が減少した場合、電源
電圧検出回路17の出力は減少し(GNDに近づき)こ
れにより出力も減少する。一方基準電圧源12の出力は
固定である。差動増幅器14ではこれをうけ電源電圧検
出回路17の出力変動をG倍して出力する。この時Gは
電源変動による出力電流振幅値(出力電流波形のP−P
値)が一定となる様設定しておく必要がある。15では
これを受け出力電流I1が増加する。この結果I1が増
加すればI2も同時に増加し差動対FET3・4の出力
電流振幅値(出力電流波形のP−P値)が増加し元の値
となる。電源電圧が増加した際にはこれと逆の動作がお
きやはり出力電流振幅値(出力電流波形のP−P値)は
元の値となる。Next, the operation will be described. GaAsME
The operation of the SFET semiconductor laser device drivers 1 to 10 is the same as that of the first embodiment. The reference voltage source 12 has a constant output voltage regardless of the power supply voltage. The power supply voltage detection circuit 17 outputs a voltage proportional to the power supply voltage. The differential amplifier 14 compares and amplifies the two output voltages and inputs the output to the voltage controlled current source 15. The voltage controlled current source 15 is configured to have an output current proportional to the input voltage, and its output is input to the FET 7 and becomes the reference current I1 of the current mirror circuit. Now, when the power supply voltage decreases, the output of the power supply voltage detection circuit 17 decreases (approaches to GND), and thus the output also decreases. On the other hand, the output of the reference voltage source 12 is fixed. The differential amplifier 14 receives this and multiplies the output fluctuation of the power supply voltage detection circuit 17 by G and outputs it. At this time, G is the output current amplitude value (PP of the output current waveform
It is necessary to set so that the value) is constant. At 15, the output current I1 increases accordingly. As a result, if I1 increases, I2 also increases and the output current amplitude value (P-P value of the output current waveform) of the differential pair FETs 3 and 4 increases to the original value. When the power supply voltage increases, a reverse operation occurs, and the output current amplitude value (PP value of the output current waveform) becomes the original value.
【0031】以上のようにこの実施例は、正相データ入
力端子と逆相データ入力端子と、差動構成の一対のGa
AsMESFETと、前記一対のFETのドレインに接
続された負荷と、前記一対のFETの共通ソースにドレ
インが接続される電流源としてのFETと、前記電流源
としてのFETとカレントミラー回路構成となる基準電
流源とを備えたGaAsMESFET半導体レーザ素子
駆動回路において、基準電圧源と、電源電圧源検出回路
と、前記基準電圧源と電源電圧検出回路の両出力を比較
増幅する差動増幅器と、前記差動増幅器出力を入力と
し、その出力が前記カレントミラー構成の基準電流源の
入力と接続された電圧制御電流源とを備えたことを特徴
とする。As described above, in this embodiment, the positive-phase data input terminal, the negative-phase data input terminal, and the pair of Ga having a differential structure are used.
AsMESFET, a load connected to the drains of the pair of FETs, a FET as a current source whose drain is connected to the common source of the pair of FETs, and a reference as a current mirror circuit configuration with the FET as the current source In a GaAs MESFET semiconductor laser device drive circuit including a current source, a reference voltage source, a power supply voltage source detection circuit, a differential amplifier for comparing and amplifying both outputs of the reference voltage source and the power supply voltage detection circuit, and the differential circuit. An amplifier output is used as an input, and the output is provided with a voltage controlled current source connected to the input of the reference current source of the current mirror configuration.
【0032】[0032]
【発明の効果】以上のように請求項1,3記載の発明に
よれば、半導体レーザ素子駆動回路において、簡単なD
C回路を付加するのみで、電源電圧変動時にも安定した
出力電流振幅を有する半導体レーザ素子駆動回路を得る
ことができる。また請求項2記載の発明によれば電源電
圧変動にプラスしてマーク率変動時にもやはり出力電流
振幅は一定の値を得ることができる。As described above, according to the first and third aspects of the invention, in the semiconductor laser device driving circuit, a simple D
A semiconductor laser element drive circuit having a stable output current amplitude even when the power supply voltage changes can be obtained only by adding the C circuit. According to the second aspect of the present invention, the output current amplitude can be kept constant even when the power supply voltage changes and the mark ratio changes.
【図1】本発明によるGaAsMESFET静特性の補
償方法原理図。FIG. 1 is a principle diagram of a method of compensating for static characteristics of a GaAs MESFET according to the present invention.
【図2】請求項1に係る発明の実施例を示す図。FIG. 2 is a diagram showing an embodiment of the invention according to claim 1;
【図3】請求項1に係る発明の実施例を示す図。FIG. 3 is a diagram showing an embodiment of the invention according to claim 1;
【図4】請求項2に係る発明の実施例を示す図。FIG. 4 is a diagram showing an embodiment of the invention according to claim 2;
【図5】請求項3に係る発明の実施例を示す図。FIG. 5 is a diagram showing an embodiment of the invention according to claim 3;
【図6】従来の半導体レーザ素子駆動回路を示す図。FIG. 6 is a diagram showing a conventional semiconductor laser device driving circuit.
【図7】GaAsMESFET静特性図。FIG. 7 is a static characteristic diagram of GaAs MESFET.
【図8】従来の半導体レーザ素子駆動回路を示す図。FIG. 8 is a diagram showing a conventional semiconductor laser device driving circuit.
【図9】GaAsMESFET静特性図。FIG. 9 is a static characteristic diagram of GaAs MESFET.
【図10】GaAsMESFET半導体レーザ素子駆動
回路の略図。FIG. 10 is a schematic diagram of a GaAs MESFET semiconductor laser device driving circuit.
1 正相データ入力端子 2 逆相データ入力端子 3 GaAsMESFET 4 GaAsMESFET 5 光源としてのLD 6 負荷抵抗 7 GaAsMESFET 8 GaAsMESFET 9 エミッタ抵抗 10 エミッタ抵抗 11 温度補償用ダイオード 12 基準電圧源 13 電位検出回路 14 差動増幅器 15 電圧制御電流源 16 マーク率検出回路 17 電源電圧検出回路 31 レーザダイオード 32 フォトダイオード 33 バッファ回路 34 基準電流源 35 基準電流源 36 基準電流源 37 増幅器 38 増幅器 39 増幅器 40 ピークホールド回路 41 ボトムホールド回路 42 差動増幅器 43 差動増幅器 1 Positive phase data input terminal 2 Reverse phase data input terminal 3 GaAsMESFET 4 GaAsMESFET 5 Light source LD 6 Load resistance 7 GaAsMESFET 8 GaAsMESFET 9 Emitter resistance 10 Emitter resistance 11 Temperature compensation diode 12 Reference voltage source 13 Potential detection circuit 14 Differential Amplifier 15 Voltage controlled current source 16 Mark ratio detection circuit 17 Power supply voltage detection circuit 31 Laser diode 32 Photodiode 33 Buffer circuit 34 Reference current source 35 Reference current source 36 Reference current source 37 Amplifier 38 Amplifier 39 Amplifier 40 Peak hold circuit 41 Bottom hold Circuit 42 differential amplifier 43 differential amplifier
Claims (3)
子と、差動構成の一対のFETと、前記一対のFETの
ドレインに接続された負荷と、前記一対のFETの共通
ソースにドレインが接続される電流源としてのFET
と、前記電流源としてのFETとカレントミラー回路構
成となる基準電流源とを備えた半導体レーザ素子駆動回
路において、基準電圧源と、前記差動構成の一対のFE
Tの正相側と逆相側のいずれかのドレイン端子に接続す
る電位検出回路と、前記基準電圧源と電位検出回路の両
出力を比較増幅する差動増幅器と、前記差動増幅器出力
を入力としその出力が前記カレントミラー回路構成の基
準電流源の入力と接続された電圧制御電流源とを備えた
ことを特徴とする半導体レーザ素子駆動回路。1. A positive-phase data input terminal, a negative-phase data input terminal, a pair of differential FETs, a load connected to the drains of the pair of FETs, and a drain connected to a common source of the pair of FETs. FET as a connected current source
And a semiconductor laser device driving circuit including an FET as the current source and a reference current source having a current mirror circuit configuration, and a reference voltage source and a pair of FEs having the differential configuration.
A potential detection circuit connected to the drain terminal on either the positive phase side or the negative phase side of T, a differential amplifier for comparing and amplifying both outputs of the reference voltage source and the potential detection circuit, and the differential amplifier output are input. A semiconductor laser device drive circuit, the output of which is provided with a voltage controlled current source connected to the input of the reference current source of the current mirror circuit configuration.
子と、差動構成の一対のFETと、前記一対のFETの
ドレインに接続された負荷と、前記一対のFETの共通
ソースにドレインが接続される電流源としてのFET
と、前記電流源としてのFETとカレントミラー回路構
成となる基準電流源とを備えた半導体レーザ素子駆動回
路において、前記正相データ入力端子又は前記逆相デー
タ入力端子に接続され該マーク率を検出するマーク率検
出回路と、前記差動構成の一対のFETの正相側と逆相
側のいずれかのドレイン端子に接続する電位検出回路
と、前記マーク率検出回路と電位検出回路の両出力を比
較増幅する差動増幅器と、前記差動増幅器出力を入力と
しその出力が前記カレントミラー回路構成の基準電流源
の入力と接続された電圧制御電流源とを備えたことを特
徴とする半導体レーザ素子駆動回路。2. A positive phase data input terminal, a negative phase data input terminal, a pair of differential FETs, a load connected to the drains of the pair of FETs, and a drain connected to a common source of the pair of FETs. FET as a connected current source
And a semiconductor laser device drive circuit including an FET as the current source and a reference current source having a current mirror circuit configuration, which is connected to the positive phase data input terminal or the negative phase data input terminal to detect the mark ratio. A mark ratio detection circuit, a potential detection circuit connected to a drain terminal on either the positive phase side or the negative phase side of the pair of differential FETs, and both outputs of the mark ratio detection circuit and the potential detection circuit. A semiconductor laser device comprising: a differential amplifier for comparative amplification; and a voltage-controlled current source that receives the output of the differential amplifier and that output is connected to the input of a reference current source of the current mirror circuit configuration. Drive circuit.
子と、差動構成の一対のFETと、前記一対のFETの
ドレインに接続された負荷と、前記負荷に接続された電
源と、前記一対のFETの共通ソースにドレインが接続
される電流源としてのFETと、前記電流源としてのF
ETとカレントミラー回路構成となる基準電流源とを備
えた半導体レーザ素子駆動回路において、基準電圧源
と、電源電圧検出回路と、前記基準電圧源と電源電圧検
出回路の両出力を比較増幅する差動増幅器と、前記差動
増幅器出力を入力としその出力が前記カレントミラー回
路構成の基準電流源の入力と接続された電圧制御電流源
とを備えたことを特徴とする半導体レーザ素子駆動回
路。3. A positive-phase data input terminal, a negative-phase data input terminal, a pair of differential FETs, a load connected to the drains of the pair of FETs, a power supply connected to the load, and FET as a current source whose drain is connected to a common source of a pair of FETs, and F as the current source
In a semiconductor laser device driving circuit including ET and a reference current source having a current mirror circuit configuration, a reference voltage source, a power supply voltage detection circuit, and a difference for comparing and amplifying both outputs of the reference voltage source and the power supply voltage detection circuit. A semiconductor laser device driving circuit comprising: a dynamic amplifier; and a voltage controlled current source having an output of the differential amplifier as an input and having an output connected to an input of a reference current source having the current mirror circuit configuration.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14361293A JPH077204A (en) | 1993-06-15 | 1993-06-15 | Semiconductor laser device drive circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14361293A JPH077204A (en) | 1993-06-15 | 1993-06-15 | Semiconductor laser device drive circuit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH077204A true JPH077204A (en) | 1995-01-10 |
Family
ID=15342792
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14361293A Pending JPH077204A (en) | 1993-06-15 | 1993-06-15 | Semiconductor laser device drive circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH077204A (en) |
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