JPH0772945A - バンドギャップ電圧基準装置および方法 - Google Patents
バンドギャップ電圧基準装置および方法Info
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Abstract
せ、正確で且つ温度依存性のないものをうること。 【構成】バンドギャップ基準回路(14)は、トランジ
スタQ1 とQ2 のベースにバンドギャプ電圧基準
(VBG)を発生する。基準電流信号(IT )が、Q2 と
Q1 間のエミッター領域の差によるベース−エミッター
電圧の差によって発生され、Q2 とQ1 のコレクターに
流れる。電流自乗回路(16)によって発生された補正
電流信号(ITT)は、Q2 とQ1 のコレクターが等しく
ない電流値を有するようにQ1 のコレクターに注入され
る。電流自乗回路(16)は、基準電流信号(IT )を
自乗し、それを電流発生増幅器に発生されたサンプリン
グ電流信号(ISC)で除すことにより補正電流信号(I
TT)を発生する。
Description
にバンドギャップ電圧基準装置および方法に関する。
めに安定で、正確な基準電圧を必要とする。しかしなが
ら、基準電圧は、回路動作中に生じる温度変化のために
不安定になることがある。従来、基準電圧の温度依存性
を補償するために、バンドギャップ回路が、基準電圧に
関する温度効果を最小にするように設計されていた。こ
れら従来のバンドギャップは、回路の温度依存特性を完
全に取り除くことなく、トランジスタのベース−エミッ
ター電圧の1次の温度係数に対して補償しているだけで
ある。従って、ベース−エミッター電圧は、動作および
プロセス特性を変える依存性を残している。
圧を提供するバンドギャップ回路に対する必要性がある
ことは認識されている。また、1次の削減以外にトラン
ジスタのベース−エッミッター電圧の温度係数を除去す
るバンドギャップ回路に対する必要性も生じている。本
発明により、従来のバンドギャップ回路に関連する欠点
や問題点を実質的に除き、あるいは減少する装置と方法
が提供される。本発明は、基準電流信号から自乗電流信
号を発生するための自乗回路を有している。自乗電流信
号が、バンドギャップ電圧基準を発生するために、基準
回路に加えられる。本発明の装置および方法は、種々の
技術的特徴を提供する。例えば、一つの技術的特徴は、
より安定で、正確な基準電圧を発生するバンドギャップ
回路を提供することである。他の技術的特徴は、トラン
ジスタのベース−エミッター電圧の2次の温度係数に対
して補正するバンドギャップ回路を提供することであ
る。また、他の技術的特徴は、基準電圧の温度依存性を
除くバンドギャップ回路を提供することである。更に、
他の技術的特徴は、動作およびプロセス特性を独立して
変えるバンドギャップ回路を提供することである。他の
技術的特徴は、以下の詳細な説明、図面および特許請求
の範囲から通常の知識を有する者にとって容易に明らか
になるであろう。
ブロック図を示す。バンドギャップ電圧基準装置10
は、バンドギャップ電圧基準VBG. を発生するバンドギ
ャップ基準回路14を駆動する起動回路(start up circ
uit)を有している。バンドギャップ基準回路14は電流
発生増幅器18によって駆動される電流自乗回路16か
ら補正電流信号ITTを受ける。動作において、起動回路
12はバイアスを発生し、バンドギャップ基準回路14
用の電流を駆動する。バンドギャップ基準回路14は、
電流自乗回路16により自乗電流信号に変換され、さら
に電流発生増幅器18からのサンプリング電流信号ISC
によって補正電流信号ITTに変換される基準電流信号I
T を電流自乗回路16に与える。補正電流信号は、バン
ドギャップ基準電圧VBGを発生するために基準回路14
によって用いられる。図2は、バンドギャップ基準回路
14と電流自乗回路16を示すバンドギャップ基準電圧
装置10の簡単なブロック図を示す。バンドギャップ基
準回路14は基本的にトランジスタ20と22,抵抗2
4と26,およびIT 基準電流信号28と30を有して
いる。従来のバンドギャップ回路はバンドギャップ基準
回路14について示されたものと類似している。バンド
ギャップ電圧基準VBGは次の式によって表される。 VBG≒[ VBE1 +K・VT ・ln(IS2/IS1) ]+K・VT ・ln(IC1/IC2) (1) ここで、VBE1 はトランジスタ22,Q1 のベース、エ
ミッター間の電圧である。
る。VT はQ1 とQ2 間のエッミター領域比A:1 にお
けるエミッター電流密度比によって発生されるトランジ
スタQ1 とQ2 間の温度依存性のΔVbeの関数である。
(即ち、VT ≒B・ΔVbe、IT ≒ΔVbe/R2 、Bは
R1 とR2 の比の関数である。)IC1はトランジスタQ
1 のコレクター電流である。IC2はトランジスタQ2 の
コレクター電流である。IS2はトランジスタQ2 のリー
ク電流である。IS1はトランジスタQ1 のリーク電流で
ある。理想的には、VT は温度に依存しないバンドギャ
ップ電圧基準VBGを作るためにVBE1 の負の温度係数を
相殺する正の温度係数を有している。しかしながら、従
来のバンドギャップ回路に対して、上記の式(1)の3
項は、IC1とIC2は等しい電流値を有しているので、ゼ
ロになる。VBE1 の温度係数は直線でない、即ち、1
次、2次、3次等のオーダーを有しているので、上記の
式(1)において3項がなくなるためにVBE1 の対応オ
ーダーの補正はない。電流自乗回路16から補正電流信
号ITTを生ずることによって、トランジスタQ1 とQ2
でのコレクター電流は最早等しくなく、上記の式(1)
の3項はゼロにならず、対応するVBE1 を相殺するため
に用いることができる。上記の式(1)の3項を次のよ
うに簡単化することができる。
て表される。D・T=IT 、温度Tに比例するものとし
て表される。E・T2 =ITT、温度Tの自乗に比例する
ものとして表される。Fは定数である。補正電流信号I
TTからのトランジスタQ1 のコレクターに流れる付加電
流は、上記の式(1)の3項がそれ自身ゼロにならない
ように十分なければならない。従って、FTは、1と比
較して非常に小さく、上記の式(2)は以下のように更
に簡単化することができる。 C・T・ln( 1+F・T)≒G・T2 (3) ここで、Gは定数である。上記の式(1)の3項は、V
BE1 の2次の温度係数へ与えられるために2次の補正に
減少されることを示している。VBE1 は非直線性形状で
表され、バンドギギャップ電圧基準は次のようになる。 VGB≒(eG −a・T−b・T2 )+(K・VT ・lnA)+G・T2 (4) ここで、eG は、シリコンのエネルギーギャップであ
り、a・Tは、VBE1 の一次温度係数であり、b・T2
は、VBE1 の一次温度係数であり。そしてAは、リーク
電流比に比例するエミッター領域比である。
リコンのエネルギーギャップeG になり、温度変化に無
関係になる。従って、他の電流信号をトランジスタQ1
のコレクターに接続することによって、1次と2次の温
度補正がバンドギャップ電圧基準に与えられる。図3お
よび図4はバンドギャップ電圧基準装置10を図示した
ものである。バンドギャップ電圧基準装置10はBICMOS
トランジスタ技術によって達成される。バンドギャップ
電圧基準装置10は、バイポーラトランジスタ40、4
2、44、46、48、50、52および54、抵抗5
6と58、および電流源64を有する起動回路12を使
用している。起動回路12は、バイポーラトランジスタ
70、72、74、76、78、80、82、84、8
6、88、90、92、94および96、抵抗100、
102、104、104、108、110、112、1
14、116、118、120、122、124、12
6、128、130、132、134、136、13
8、140、142、144、146および148、キ
ャパシタ152、およびツェナーダイオード154、1
56、158、160および162を有するバンドギャ
ップ基準回路14を駆動する。電流自乗回路16はバイ
ポーラトランジスタ170と172、CMOSトランジ
スタ174、176、178、180、182、18
4、186、188、190および192、および抵抗
194を有している。電流発生増幅器18は、バイポー
ラトランジスタ200、202、204、206、20
7、208、210、212、214および216、C
MOSトランジスタ218、220、222および22
4、および抵抗230、232、234、236、23
8、240、242、244および246を有してい
る。
準電流信号IT は、Q2 トランジスタ94とQ1 トラン
ジスタ96間のΔVBEによって発生されると、電流ミラ
ートランジスタ80と82からQ2 トランジスタ94と
Q1 トランジスタ96,のコレクターにそれぞれ流れ
る。また電流自乗回路16は、電流ミラートランジスタ
86から基準電流信号IT を受ける。更に電流自乗回路
16は、温度に無関係なトランジスタ261において電
流発生増幅器18によって発生するサンプリング電流信
号ISCを受ける。バンドギャップ電圧基準装置10は、
飽和領域にあるCMOSトランジスタの電流−電圧関係
に対する自乗法則性を利用している。電流自乗回路16
はバンドギャップ基準回路14からの基準電流信号IT
を自乗し、それを電流発生増幅器18からのサンプリン
グ電流信号ISCと結合して、式ITT≒IT 2/8ISCによ
って表される補正電流信号ITTを生じる。電流発生増幅
器18はCMOSトランジスタ218のベースにバンド
ギャップ電圧基準VBGを受け、式ISC≒VBG/R3で表
されるサンプルング電流信号ISCを発生する。この信号
は温度依存性がないことを示している。
は、Q1 トランジスタ96とQ2 トランジスタ94のコ
レクター電流が等しくない値になるようにQ1 トランジ
スタ96のコレクターに基準電流信号IT と合体され
る。Q1 トランジスタ96とQ 2 トランジスタ94のコ
レクター電流が等しくない値であると、前記式(1)の
3項により示される2次のパラメーターはそれ自身ゼロ
にならず、Q1 トランジスタ96のベース−エミッター
電圧VBE1 の2次のパラメーターに与えられる。このよ
うにして、VBE1 の1次と2次の温度係数は除かれ、バ
ンドギャップ電圧基準VBGの安定性と正確性を改善す
る。起動回路12は、バンドギャップ基準回路14が適
当な電圧レベルに駆動されることを保証している。R1
抵抗140に接続された抵抗ネットワークは望ましいト
リミングレベルをバンドギャップ基準回路14に与え
る。ツェナーダイオード154、158、160および
162は抵抗ネットワーク用のヒューズリンクとして働
く。要約すれば、本発明のバンドギャップ電圧基準装置
は、従来のバンドギャップ回路においてなされる第1の
バンドギャップトランジスタのベース−エミッター電圧
の1次の温度係数を除去するばかりでなく、第1のバン
ドギャップトランジスタのベース−エミッター電圧の2
次の温度係数をも除くことによりバンドギャップ電圧基
準の安定性と正確性を改善するものである。2次の温度
係数の除去は第1のバンドギャップトランジスタのコレ
クターに補正電流信号を入れることによって達成され
る。この補正電流信号は、第1と第2のバンドギャップ
トランジスタ間のエミッター領域の差のために、ベース
−エミッター電圧の差によって第1と第2のバンドギャ
ップトランジスタのコレクターに発生する基準電流信号
の関数である。電流自乗回路は、バンドギャップトラン
ジスタのコレクターに注入された補正電流信号を発生す
るために、基準電流信号を自乗し、それをサンプリング
電流信号で除している。
た利点を満足するバンドギャップ電圧基準の安定性およ
び正確性を改善するための方法および装置が提供され
る。好ましい実施例が詳細に述べられたが、いろいろの
変化、置き換え、変更が可能であることが理解されるべ
きである。例えば、ここで示された直接接続の多くは、
2つの装置が、好適な実施例において示されているよう
に直接的に接続されることなく間接的な1つあるいは2
つの装置によって互いに、単に結合されるような技術分
野に精通した者によって変更され得る。本発明は、開示
されたBICMOS技術以外のトランジスタ技術におい
て実行されることを、この分野の技術者は理解するであ
ろう。これらおよび他の例は、この分野の技術者によっ
て容易に確認することができ、特許請求の範囲に規定さ
れた本発明の思想および範囲から逸脱することなく成し
得る。以上の記載に関連して、以下の各項を開示する。 (1)バンドギャップ電圧基準装置であって、基準電流
信号に応答して、補正電流信号を発生するための電流自
乗回路、および前記補正電流信号に応答して、バンドギ
ャップ基準電圧を発生するためのバンドギャップ基準回
路、を有する装置。
基準電流信号を発生することを特徴とする前記(1)項
に記載の装置。 (3)前記電流自乗回路は、前記補正電流信号を発生す
るために、前記基準電流信号を自乗された電流信号に変
換することを特徴とする前記(1)項に記載の装置。 (4)前記補正電流信号を生じるために、自乗電流信号
に結合されたサンプル化された電流信号を発生するため
の電流発生増幅回路を更に有している前記(3)に記載
の装置。 (5)前記バンドギャップ基準回路を駆動するための起
動回路を更に有している前記(1)に記載の装置。 (6)バンドギャップ電圧基準装置であって、基準電流
信号を受け、前記基準電流信号に応答して、補正電流信
号を発生するための電流自乗回路と、前記補正電流信号
に応答して、1次と2次の補正されたバンドギャップ電
圧基準を発生するためのバンドギャップ基準回路、を有
する装置。
基準電流信号を発生することを特徴とする前記(6)に
記載の回路。 (8)前記電流自乗回路は、前記基準電流信号より大き
い2の冪数である自乗された電流信号に変換することを
特徴とする前記(6)に記載の装置。 (9)前記バンドギャップ電圧基準に応答してサンプル
された電流信号を発生するための電流発生増幅器を更に
有していることを特徴とする前記(6)項に記載の装
置。 (10)前記電流自乗回路は、前記補正電流信号を発生
するために、前記サンプルされた電流信号を前記基準電
流信号の自乗に結合することを特徴とする前記(9)に
記載の装置。 (11)前記バンドギャップ基準回路は、第1と第2の
トランジスタを有しており、前記基準電流信号が前記第
1のトランジスタのコレクターと前記第2のトランジス
タのコレクターに流れ、前記補正電流信号は前記第1の
トランジスタに流れ、前記バンドギャップ電圧基準が前
記第1のトランジスタのベースと前記第2のトランジス
タのベースに発生することを特徴とする前記(6)項に
記載の装置。
前記補正電流信号に応答して、バンドギャップ電圧基準
における前記第1のトランジスタのベース−エミッター
電圧の1次と2次の温度係数を除去することを特徴とす
る前記(11)項に記載の装置。 (13)前記電流自乗回路はCMOSトランジスタを有
していることを特徴とする前記(6)項に記載の装置。 (14)電流駆動を前記バンドギャップ基準回路に与え
るための起動回路を有することを特徴とする前記(6)
項に記載の装置。 (15)バンドギャップ電圧基準を発生する方法であっ
て、基準電流信号を発生し、前記基準電流信号を自乗し
て、自乗電流信号を発生し、前記自乗電流信号を補正電
流信号に変換し、かつバンドギャップ電圧基準の1次と
2次の温度係数を除くために前記補正電流信号を加え
る、ステップを含む方法。
答して増幅された電流信号を発生するステップを更に有
することを特徴とする前記(15)に記載の方法。 (17)前記補正電流を加えるステップは、前記補正電
流信号を発生するために前記自乗電流信号を前記増幅さ
れた電流信号と合体するステップを有していること特徴
とする前記(16)項に記載の方法。 (18)前記補正電流信号に応答して前記バンドギャッ
プ電圧基準を補正するステップを更に有していることを
特徴とする前記(17)項に記載の方法。 (19)バンドギャップ電圧基準装置(10)における
バンドギャップ基準回路(14)は、Q1 トランジスタ
(22)とQ2 トランジスタ(20)のベースにバンド
ギャプ電圧基準(VBG)を発生する。基準電流信号(I
T )が、Q2 トランジスタ(20)とQ1 トランジスタ
(22)間のエミッター領域の差によるベース−エミッ
ター電圧の差によって発生され、Q2 トランジスタ(2
0)とQ 1 トランジスタ(22)のコレクターに流れ
る。電流自乗回路によって発生された補正電流信号(I
TT)は、Q2 トランジスタ(20)とQ1 トランジスタ
(22)のコレクターが等しいない電流値を有するよう
にQ1 トランジスタ(22)のコレクターに注入され
る。電流自乗回路(16)は、基準電流信号(IT )を
自乗し、それを電流発生増幅器(18)に発生されたサ
ンプリング電流信号(I SC)で除すことにより補正電流
信号(ITT)を発生する。Q2 トランジスタ(20)と
Q1 トランジスタ(22)間のコレクター電流差が、1
次の温度係数ばかりでなく、Q1 トランジスタ(22)
のベース−エミッター電圧(VBE)の2次の温度係数の
除去を可能にする。このようにして、バンドギャップ電
圧基準(V BG)はより安定し、正確で且つ温度依存性の
ないものとなる。
す。
示す。
Claims (2)
- 【請求項1】 バンドギャップ電圧基準装置であって、 基準電流信号に応答して、補正電流信号を発生するため
の電流自乗回路、および前記補正電流信号に応答して、
バンドギャップ電圧基準を発生するためのバンドギャッ
プ基準回路、を有する装置。 - 【請求項2】 バンドギャップ電圧基準を発生する方法
であって、 基準電流信号を発生し、 前記基準電流信号を自乗して、自乗電流信号を発生し、 前記自乗電流信号を補正電流信号に変換し、かつ前記補
正電流信号を加えて、バンドギャップ電圧基準の1次と
2次の温度係数を除去する、ステップを含む方法。
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|---|---|---|---|
| US08/055605 | 1993-04-30 | ||
| US08/055,605 US5424628A (en) | 1993-04-30 | 1993-04-30 | Bandgap reference with compensation via current squaring |
Publications (2)
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|---|---|
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| JP (1) | JP3423406B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012160734A1 (ja) * | 2011-05-20 | 2012-11-29 | パナソニック株式会社 | 基準電圧生成回路および基準電圧源 |
| JP2012243054A (ja) * | 2011-05-19 | 2012-12-10 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | バンドギャップリファレンス回路 |
| JP2017191557A (ja) * | 2016-04-15 | 2017-10-19 | 新日本無線株式会社 | 基準電圧回路 |
Families Citing this family (28)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB9417267D0 (en) * | 1994-08-26 | 1994-10-19 | Inmos Ltd | Current generator circuit |
| DE19535807C1 (de) * | 1995-09-26 | 1996-10-24 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zur Erzeugung eines Biaspotentials |
| US5712590A (en) * | 1995-12-21 | 1998-01-27 | Dries; Michael F. | Temperature stabilized bandgap voltage reference circuit |
| US5910726A (en) * | 1997-08-15 | 1999-06-08 | Motorola, Inc. | Reference circuit and method |
| US6225796B1 (en) | 1999-06-23 | 2001-05-01 | Texas Instruments Incorporated | Zero temperature coefficient bandgap reference circuit and method |
| DE19951817A1 (de) * | 1999-10-27 | 2001-05-23 | Micronas Gmbh | Zwei-Draht-Sensoranordnung |
| US6323628B1 (en) * | 2000-06-30 | 2001-11-27 | International Business Machines Corporation | Voltage regulator |
| US6426669B1 (en) * | 2000-08-18 | 2002-07-30 | National Semiconductor Corporation | Low voltage bandgap reference circuit |
| US6828847B1 (en) | 2003-02-27 | 2004-12-07 | Analog Devices, Inc. | Bandgap voltage reference circuit and method for producing a temperature curvature corrected voltage reference |
| US7543253B2 (en) * | 2003-10-07 | 2009-06-02 | Analog Devices, Inc. | Method and apparatus for compensating for temperature drift in semiconductor processes and circuitry |
| US7012416B2 (en) * | 2003-12-09 | 2006-03-14 | Analog Devices, Inc. | Bandgap voltage reference |
| US7211993B2 (en) * | 2004-01-13 | 2007-05-01 | Analog Devices, Inc. | Low offset bandgap voltage reference |
| US7193454B1 (en) | 2004-07-08 | 2007-03-20 | Analog Devices, Inc. | Method and a circuit for producing a PTAT voltage, and a method and a circuit for producing a bandgap voltage reference |
| US8102201B2 (en) | 2006-09-25 | 2012-01-24 | Analog Devices, Inc. | Reference circuit and method for providing a reference |
| US7576598B2 (en) * | 2006-09-25 | 2009-08-18 | Analog Devices, Inc. | Bandgap voltage reference and method for providing same |
| US7714563B2 (en) * | 2007-03-13 | 2010-05-11 | Analog Devices, Inc. | Low noise voltage reference circuit |
| US20080265860A1 (en) * | 2007-04-30 | 2008-10-30 | Analog Devices, Inc. | Low voltage bandgap reference source |
| US7605578B2 (en) | 2007-07-23 | 2009-10-20 | Analog Devices, Inc. | Low noise bandgap voltage reference |
| US7612606B2 (en) * | 2007-12-21 | 2009-11-03 | Analog Devices, Inc. | Low voltage current and voltage generator |
| US7598799B2 (en) * | 2007-12-21 | 2009-10-06 | Analog Devices, Inc. | Bandgap voltage reference circuit |
| US7902912B2 (en) * | 2008-03-25 | 2011-03-08 | Analog Devices, Inc. | Bias current generator |
| US7880533B2 (en) * | 2008-03-25 | 2011-02-01 | Analog Devices, Inc. | Bandgap voltage reference circuit |
| US7750728B2 (en) * | 2008-03-25 | 2010-07-06 | Analog Devices, Inc. | Reference voltage circuit |
| JP5693711B2 (ja) | 2011-04-12 | 2015-04-01 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 電圧発生回路 |
| TWI514106B (zh) * | 2014-03-11 | 2015-12-21 | Midastek Microelectronic Inc | 參考電源產生電路及應用其之電子電路 |
| US11385669B2 (en) * | 2020-03-02 | 2022-07-12 | Texas Instruments Incorporated | Low-IQ current mirror trimming |
| CN112947668B (zh) * | 2021-05-13 | 2021-08-17 | 上海类比半导体技术有限公司 | 具有高阶温度补偿的带隙基准电压生成电路 |
| CN115877908B (zh) * | 2023-03-02 | 2023-04-28 | 盈力半导体(上海)有限公司 | 一种带隙电压基准电路及其二阶非线性校正电路和芯片 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5087831A (en) * | 1990-03-30 | 1992-02-11 | Texas Instruments Incorporated | Voltage as a function of temperature stabilization circuit and method of operation |
| US5160882A (en) * | 1990-03-30 | 1992-11-03 | Texas Instruments Incorporated | Voltage generator having steep temperature coefficient and method of operation |
| US5291122A (en) * | 1992-06-11 | 1994-03-01 | Analog Devices, Inc. | Bandgap voltage reference circuit and method with low TCR resistor in parallel with high TCR and in series with low TCR portions of tail resistor |
| US5327028A (en) * | 1992-06-22 | 1994-07-05 | Linfinity Microelectronics, Inc. | Voltage reference circuit with breakpoint compensation |
| US5352973A (en) * | 1993-01-13 | 1994-10-04 | Analog Devices, Inc. | Temperature compensation bandgap voltage reference and method |
-
1993
- 1993-04-30 US US08/055,605 patent/US5424628A/en not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-04-21 JP JP08338794A patent/JP3423406B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012243054A (ja) * | 2011-05-19 | 2012-12-10 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | バンドギャップリファレンス回路 |
| WO2012160734A1 (ja) * | 2011-05-20 | 2012-11-29 | パナソニック株式会社 | 基準電圧生成回路および基準電圧源 |
| US8779750B2 (en) | 2011-05-20 | 2014-07-15 | Panasonic Corporation | Reference voltage generating circuit and reference voltage source |
| JPWO2012160734A1 (ja) * | 2011-05-20 | 2014-07-31 | パナソニック株式会社 | 基準電圧生成回路および基準電圧源 |
| JP2017191557A (ja) * | 2016-04-15 | 2017-10-19 | 新日本無線株式会社 | 基準電圧回路 |
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