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JPH077032A - 半導体装置の樹脂封止方法及びその実施装置 - Google Patents

半導体装置の樹脂封止方法及びその実施装置

Info

Publication number
JPH077032A
JPH077032A JP14472493A JP14472493A JPH077032A JP H077032 A JPH077032 A JP H077032A JP 14472493 A JP14472493 A JP 14472493A JP 14472493 A JP14472493 A JP 14472493A JP H077032 A JPH077032 A JP H077032A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
pressure
plunger
semiconductor
semiconductor device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14472493A
Other languages
English (en)
Inventor
Eiji Ono
栄治 大野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Priority to JP14472493A priority Critical patent/JPH077032A/ja
Publication of JPH077032A publication Critical patent/JPH077032A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体装置の歩留り及び信頼性が向上する。 【構成】 半導体ペレットを搭載したリードフレームを
挾み込む樹脂封止用の上下金型と、上もしくは下金型に
設けられた溝に沿って樹脂を圧入するプランジャと、プ
ランジャの変位を検出する変位検出手段と、変位検出手
段からの変位信号に基づいて、樹脂13にかける圧力を
制御する制御手段とを備える半導体装置の樹脂封止装置
により、全てのキャビティ6に樹脂13が充填される程
度の圧力を樹脂13に加えて、完全に全キャビティに樹
脂13が充填した後、更にボイド14除去用の圧力を加
える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、樹脂封止技術に関し、
特に、半導体装置の樹脂封止技術に適用して有効な技術
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】DIP(Dual In-line Package)構
造、QFP(Quad Flat Package)構造等の封止構造
を採用する半導体装置は、組立プロセスにおいて、樹脂
封止技術が使用されている。この樹脂封止技術は、リー
ドフレームの一部と、該リードフレームに搭載された半
導体ペレットとを、樹脂で封止する技術である。
【0003】前記樹脂封止技術には、樹脂封止装置が使
用されている。該樹脂封止装置は、半導体ペレットを搭
載したリードフレームを挾み込む金型、樹脂タブレット
を加熱溶融させるヒータ、溶融した樹脂を加圧するプラ
ンジャ等で構成されている。
【0004】前記金型は、上金型と、下金型とからな
り、それぞれプラテン(金型土台部)と、チェース(成
形面)の2つの部分からなっている。前記プラテンは、
樹脂封止装置の上と下のベースに固定され、内部に前記
ヒータが組み込まれ、前記チェースを樹脂の成形温度に
加熱している。
【0005】前記チェースは、樹脂の成形を行う金型部
品で、前記樹脂タブレットが投入されるポットと、該ポ
ットからつながり溶融した樹脂が移送されるランナと、
該ランナの途中にあるカルと、ゲートを介しカルにつな
がるキャビティとが設けられている。
【0006】樹脂封止方法は、まず、半導体ペレットが
搭載されたリードフレームを上下金型で挾み込み、予備
加熱した樹脂タブレットを金型のポットに投入する。
【0007】そして、前記樹脂タブレットを前記ヒータ
で加熱し、溶融させ、プランジャで圧入する。圧入され
た樹脂は、ポット→ランナ→カル→ゲートの順に移送さ
れ、キャビティに注入される。
【0008】そして、樹脂を冷却し、硬化させる。そし
て、硬化した樹脂とリードフレームの所定の箇所を切断
し、樹脂封止を完了する。
【0009】なお、半導体装置の樹脂封止技術について
は、例えば、マイクロエレクトロニクスパッケージング
ハンドブック(460頁〜480頁、日経BP社出版)
に記載されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、本発明
者は、前記従来技術を検討した結果、以下のような問題
点を見いだした。
【0011】従来の樹脂封止装置において、樹脂は、ポ
ット内でヒータにより溶融され、プランジャで押し込ま
れることにより、ポット→ランナ→カル→ゲートの順に
移送され、キャビティに注入されている。
【0012】プランジャは、油圧により一定の移動量で
動作し、溶融した前記樹脂を押し込み、前記金型内に前
記樹脂を充填させ、更に前記樹脂を押し続け、該樹脂内
のボイドを除去している。この際、キャビティ内では、
樹脂が移送されている間は、圧力は印加されず、キャビ
ティに樹脂が充填された時点で設定した成形圧力が印加
される。
【0013】また、従来の樹脂封止装置は、ランナに複
数のキャビティがつながっており、複数の半導体装置の
樹脂封止を一度に行っている。このため、キャビティ間
の樹脂の充填のされかたには、バラツキがある。
【0014】これらのため、樹脂の充填が遅れたキャビ
ティでは、樹脂が充填されていない状態から、一気に成
形圧力まで、圧力が変化(圧力集中)し、樹脂の流れが
集中(流速集中)する。
【0015】このため、キャビティ内にある半導体ペレ
ット、特にボンディングワイヤは、圧力集中及び流速集
中により、変形や断線等が起きる。この結果、半導体装
置の歩留り及び信頼性が低下するという問題があった。
【0016】本発明の目的は、半導体装置の歩留り及び
信頼性を向上させることが可能な技術を提供することに
ある。
【0017】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らか
になるであろう。
【0018】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
【0019】(1)半導体ペレットを搭載したリードフ
レームを上下金型で挾み込み、前記金型に設けられたポ
ットに樹脂を投入し、それをヒータで溶融し、プランジ
ャをポットに挿入し、前記樹脂をポットからランナを経
由して複数のキャビティに移送し、前記樹脂を前記キャ
ビティに充填し、該充填樹脂中のボイドを除去する程度
の圧力を樹脂に加えた後、冷却する半導体装置の樹脂封
止方法であって、全てのキャビティに樹脂が充填される
程度の圧力を樹脂に加えて、完全に全キャビティに樹脂
が充填した後、更にボイド除去用の圧力を加える。
【0020】(2)半導体ペレットを搭載したリードフ
レームを挾み込む樹脂封止用の上下金型と、上もしくは
下金型に設けられた溝に沿って樹脂を圧入するプランジ
ャとを備える半導体装置の樹脂封止装置であって、前記
プランジャの変位を検出する変位検出手段と、該変位検
出手段からの変位信号に基づいて、樹脂にかける圧力を
制御する制御手段とを備える。
【0021】
【作用】上述した手段によれば、以下に記述した理由に
より半導体装置の歩留り及び信頼性を向上させることが
可能となる。
【0022】前記プランジャの変位を検出する変位検出
手段と、該変位検出手段からの変位信号に基づいて、樹
脂にかける圧力を制御する制御手段とを備える半導体装
置の樹脂封止装置により、全てのキャビティに樹脂が充
填される程度の圧力を樹脂に加えて、完全に全キャビテ
ィに樹脂が充填した後、更にボイド除去用の圧力を加え
る。これにより、樹脂の充填が遅れたキャビティでも、
樹脂が充填されていない状態から、一気に成形圧力ま
で、圧力が変化(圧力集中)せず、樹脂の流れが集中
(流速集中)しない。このため、キャビティ内にある半
導体ペレット、特にボンディングワイヤにも、圧力集中
及び流速集中が起こらず、ボンディングワイヤの変形や
断線等が発生しない。この結果、半導体装置の歩留り及
び信頼性が向上することが可能となる。
【0023】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に
説明する。
【0024】(実施例1)図1は本発明による半導体装
置の樹脂封止装置の一実施例の概略構成を示す模式構成
図である。
【0025】図3は樹脂封止装置の下金型に設けられた
溝(ポット、ランナ、カル、ゲート、キャビティ)を示
す模式断面図である。
【0026】図1、図3及び図5において、1は上金
型、2は下金型、3は下金型2に設けられ、樹脂が投入
されるポット、4はポットからつながり前記樹脂が移送
されるランナ、5はランナの途中に設けられたカル、6
は半導体装置の樹脂封止部を形成するためのキャビティ
である。
【0027】7はポット3に投入された前記樹脂を溶融
するためのヒータ、8は溶融した樹脂をキャビティ6に
押し込むためのプランジャ、9はプランジャ8を駆動さ
せる油圧装置、10aは油圧装置を制御する制御装置で
ある。制御装置10aは、タイマが内蔵され、該タイマ
は、樹脂封止装置の駆動タイミングと同期している。
【0028】実施例1の樹脂封止装置の動作は、まず、
半導体ペレットが搭載されたリードフレームを上金型1
と下金型2とで挾み込み、予備加熱した樹脂タブレット
をポット3に投入し、該樹脂タブレットをヒータ4で加
熱溶融させる。
【0029】そして、制御装置10aに内蔵された前記
タイマが始動すると同時に、油圧装置9は、プランジャ
8を駆動し、溶融した樹脂を圧入する。
【0030】樹脂に印加される圧力は、前記タイマの時
間信号に基づき、制御装置10aが油圧装置9を制御
し、プランジャ8により印加される。
【0031】そして、上下金型1、2を開き、硬化した
樹脂とリードフレームの所定の箇所を切断し、樹脂封止
を完了する。
【0032】図4は実施例1の樹脂封止時のキャビティ
内での圧力を示すグラフである。
【0033】図5は樹脂封止時における、樹脂注入状態
を示す金型の模式横断面図であり、13は樹脂、14は
ボイドであり、図5(a)は図4(ロ)の時点、図5
(b)は図4(ハ)の時点、図5(c)は図4(ニ)の
時点での樹脂13の注入状態を示している。
【0034】次に、実施例1の半導体装置の樹脂封止装
置の特徴部分を説明する。制御装置10aは、内蔵され
たタイマと、予め設定された時間とに基づき、低い圧力
を加えるように油圧装置9を制御し、その後、高い圧力
を加えるように油圧装置9を制御している。
【0035】前述樹脂封止装置の特徴を言い替えれば、
プランジャ8は、図4に示すように、まず、樹脂13を
押し込む程度の低い圧力を加える(イ〜ロ間)。そし
て、所定時間、前記低い圧力を維持する(ロ〜ハ間)。
そして、高い圧力を加えている(ハ〜ニ間)。
【0036】樹脂封止状態は、(ロ)では、図5(a)
のように、キャビティ6が樹脂13で完全に満たされて
おらず、(ハ)では、図5(b)のように、樹脂13は
ボイド14を含んでおり、(ニ)では、図5(c)のよ
うに、樹脂封止を完了している。
【0037】つまり、(イ〜ロ間)では、ポット3→ラ
ンナ4→カル5→ゲート6の順に樹脂13を移送し、キ
ャビティ6に注入し、(ロ〜ニ間)で、全てのキャビテ
ィ6に樹脂13を完全に充填し、(ハ〜ニ間)で、樹脂
13中のボイド14を除去している。
【0038】以上の説明からわかるように、実施例1の
半導体装置の樹脂封止装置によれば、タイマを内蔵した
制御装置10aにより油圧装置9を制御し、プランジャ
8は、全てのキャビティ6に樹脂13が充填される程度
の圧力を樹脂に加えて、全てのキャビティ6に、完全に
樹脂が充填した後、更にボイド14除去用の圧力を印加
している。これにより、樹脂13の充填が遅れたキャビ
ティ6でも、樹脂13が充填されていない状態から、一
気に成形圧力まで、圧力が変化(圧力集中)せず、樹脂
13の流れが集中(流速集中)しない。このため、キャ
ビティ内にある半導体ペレット、特にボンディングワイ
ヤにも、圧力集中及び流速集中が起こらず、ボンディン
グワイヤの変形や断線等が発生しない。この結果、半導
体装置の歩留り及び信頼性が向上することが可能とな
る。
【0039】(実施例2)図2は本発明による実施例2
の半導体装置の樹脂封止装置の概略構成を示す模式構成
図である。
【0040】図2において、1は上金型、2は下金型、
7はポット3に投入された前記樹脂を溶融するためのヒ
ータ、8は溶融した樹脂をキャビティ6に押し込むため
のプランジャ、9はプランジャを駆動させる油圧装置、
10bは油圧装置を制御する制御装置である。11はプ
ランジャ8に設けられた発光素子、12は発光素子11
からの光を検出する受光素子である。
【0041】実施例2の樹脂封止装置の動作は、まず、
半導体ペレットが搭載されたリードフレームを上金型1
と下金型2とで挾み込み、予備加熱した樹脂タブレット
をポット3に投入し、該樹脂タブレットをヒータ4で加
熱溶融させる。
【0042】そして、油圧装置9が、プランジャ8を駆
動し、溶融した樹脂を圧入する。
【0043】この際、制御装置10bは、受光素子12
で発光素子11からの光信号を検出し、それに基づき、
油圧装置9を制御している。
【0044】そして、上下金型1、2を開き、硬化した
樹脂とリードフレームの所定の箇所を切断し、樹脂封止
を完了する。
【0045】次に、実施例2の半導体装置の樹脂封止装
置の特徴部分を説明する。受光素子11が検出した光信
号に基づいて、制御装置10は、プランジャ8の位置
が、プランジャ8の下死点(全てのキャビティ6に樹脂
が充填された時の位置)に至るまで、低い圧力を加える
ように油圧装置9を制御し、プランジャ8が下死点に至
ってから所定時間が経過した後、高い圧力を加えるよう
に油圧装置9を制御している。
【0046】言い替えれば、プランジャ8は、図4に示
すように、まず、樹脂13を押し込む程度の低い圧力を
加える(イ〜ロ間)。そして、所定時間、前記低い圧力
を維持する(ロ〜ハ間)。そして、高い圧力を加える
(ハ〜ニ間)。
【0047】つまり、(イ〜ロ間)では、ポット3→ラ
ンナ4→カル5→ゲート6の順に樹脂13を移送し、キ
ャビティ6に注入し、(ロ〜ハ間)で、全てのキャビテ
ィ6に樹脂13を完全に充填し、(ハ〜ニ間)で、樹脂
13中のボイド14を除去している。
【0048】以上の説明からわかるように、実施例1の
半導体装置の樹脂封止装置によれば、全てのキャビティ
に樹脂13が充填される程度の圧力を樹脂13に加え、
全てのキャビティ6に、完全に樹脂13が充填した後、
更にボイド14除去用の圧力を印加している。これによ
り、樹脂13の充填が遅れたキャビティ6でも、樹脂1
3が充填されていない状態から、一気に成形圧力まで、
圧力が変化(圧力集中)せず、樹脂13の流れが集中
(流速集中)しない。このため、キャビティ6内にある
半導体ペレット、特にボンディングワイヤにも、圧力集
中及び流速集中が起こらず、ボンディングワイヤの変形
や断線等が発生しない。この結果、半導体装置の歩留り
及び信頼性が向上することが可能となる。
【0049】また、プランジャ8の位置を検出し、その
検出信号に基づき、樹脂13に印加する圧力を制御して
いる。このため、他の半導体装置の樹脂封止をするため
に上下金型1、2を交換しても、制御装置の設定を変え
ずに、樹脂封止を行うことができる。この結果、多種の
半導体装置の樹脂封止を行う場合、作業時間を短縮する
ことが可能となる。
【0050】以上、本発明者によってなされた発明を、
前記実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は、前
記実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱し
ない範囲において種々変更可能であることは勿論であ
る。
【0051】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記のとおりである。
【0052】半導体装置の歩留り及び信頼性が向上する
ことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明による半導体装置の樹脂封止装置の一
実施例の概略構成を示す模式構成図、
【図2】 本発明の実施例2の半導体装置の樹脂封止装
置の概略構成を示す模式構成図、
【図3】 樹脂封止装置の下金型に設けられた溝(ポッ
ト、ランナ、カル、ゲート、キャビティ)を示す模式断
面図。
【図4】 樹脂封止時のキャビティ内での圧力を示すグ
ラフである。
【図5】 樹脂封止時における、樹脂注入状態を示す金
型の模式横断面図。
【符号の説明】
1…上金型、2…下金型、3…ポット、4…ランナ、5
…カル、6…キャビティ、7…ヒータ、8…プランジ
ャ、9…油圧装置、10…制御装置、11…発光素子、
12…受光素子、13…樹脂、14…ボイド。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体ペレットを搭載したリードフレー
    ムを上下金型で挾み込み、前記金型に設けられたポット
    に樹脂を投入し、それをヒータで溶融し、プランジャを
    ポットに挿入し、前記樹脂をポットからランナを経由し
    て複数のキャビティに移送し、前記樹脂を前記キャビテ
    ィに充填し、該充填樹脂中のボイドを除去する程度の圧
    力を樹脂に加えた後、冷却する半導体装置の樹脂封止方
    法であって、全てのキャビティに樹脂が充填される程度
    の圧力を樹脂に加えて、完全に全キャビティに樹脂が充
    填した後、更にボイド除去用の圧力を加えることを特徴
    とする半導体装置の樹脂封止方法。
  2. 【請求項2】 半導体ペレットを搭載したリードフレー
    ムを挾み込む樹脂封止用の上下金型と、上もしくは下金
    型に設けられた溝に沿って樹脂を圧入するプランジャと
    を備える半導体装置の樹脂封止装置であって、前記プラ
    ンジャの変位を検出する変位検出手段と、該変位検出手
    段からの変位信号に基づいて、樹脂にかける圧力を制御
    する制御手段とを備えたことを特徴とする半導体装置の
    樹脂封止装置。
JP14472493A 1993-06-16 1993-06-16 半導体装置の樹脂封止方法及びその実施装置 Pending JPH077032A (ja)

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JP14472493A JPH077032A (ja) 1993-06-16 1993-06-16 半導体装置の樹脂封止方法及びその実施装置

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JPH077032A true JPH077032A (ja) 1995-01-10

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JP (1) JPH077032A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5728983A (en) * 1995-12-27 1998-03-17 Asmo Co., Ltd. Elongated tube-like pressure sensitive cable switch
JP2013183054A (ja) * 2012-03-02 2013-09-12 Renesas Electronics Corp 半導体装置の製造方法および半導体装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5728983A (en) * 1995-12-27 1998-03-17 Asmo Co., Ltd. Elongated tube-like pressure sensitive cable switch
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