JPH075408Y2 - 金属探傷用プロ−ブ - Google Patents
金属探傷用プロ−ブInfo
- Publication number
- JPH075408Y2 JPH075408Y2 JP1987068753U JP6875387U JPH075408Y2 JP H075408 Y2 JPH075408 Y2 JP H075408Y2 JP 1987068753 U JP1987068753 U JP 1987068753U JP 6875387 U JP6875387 U JP 6875387U JP H075408 Y2 JPH075408 Y2 JP H075408Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- metal
- metal tube
- probe
- flaw detection
- circumferential direction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本考案は金属管に生じた傷、ひび割れなどの欠陥を検知
するための金属管の渦流探傷装置に係り、特に測定精度
の向上したこの種の装置の金属探傷用プローブに関す
る。
するための金属管の渦流探傷装置に係り、特に測定精度
の向上したこの種の装置の金属探傷用プローブに関す
る。
［従来の技術］ 従来から、渦流探傷装置では金属管内に高周波電流を流
した試験コイルを挿入移動させ、金属管に存在する傷
（以下欠陥と称す）により発生したうず電流の変化を電
気的に測定するようにしている。
した試験コイルを挿入移動させ、金属管に存在する傷
（以下欠陥と称す）により発生したうず電流の変化を電
気的に測定するようにしている。
まず、このうず電流の変化（インピーダンスの変化）は
微小であるため、検出部及び増幅器により増大させると
共に電圧に変換する。この方法は振幅法と呼ばれ欠陥の
形状、深さをひとつの信号で表示し、欠陥の評価を行う
ものである。
微小であるため、検出部及び増幅器により増大させると
共に電圧に変換する。この方法は振幅法と呼ばれ欠陥の
形状、深さをひとつの信号で表示し、欠陥の評価を行う
ものである。
更に、金属管に生じた欠陥が内面にあるのか、又は外面
にあるのか、そしてその欠陥の深さはどの程度なのか、
正確にかつ迅速に測定することのできる金属管の渦流探
傷装置として、欠陥信号の位相から内面欠陥、外面欠陥
の判別、及び欠陥深さを検知できるようにしたものが提
案されている（特願昭57−185696号＝特開昭59−75146
号公報）。
にあるのか、そしてその欠陥の深さはどの程度なのか、
正確にかつ迅速に測定することのできる金属管の渦流探
傷装置として、欠陥信号の位相から内面欠陥、外面欠陥
の判別、及び欠陥深さを検知できるようにしたものが提
案されている（特願昭57−185696号＝特開昭59−75146
号公報）。
［考案が解決しようとする問題点］ ところで、BSTF材などの管や黄銅管において発生する割
れは一般に管周方向に生じ且つ体積的に小さいものが多
く、測定精度の高い渦流探傷装置であってもコイルの円
周方向に生じる誘導電流によってそのような管周方向の
割れを検出するのが困難であった。
れは一般に管周方向に生じ且つ体積的に小さいものが多
く、測定精度の高い渦流探傷装置であってもコイルの円
周方向に生じる誘導電流によってそのような管周方向の
割れを検出するのが困難であった。
すなわち、第４図に示すように従来のプローブ１′では
コイル２′ａ、２′ｂの誘導電流の方向と金属管内の割
れ11の方向が一致しているため、このような割れ11によ
って渦電流は変化を生じず、従って割れ11は検出されな
いことになる。
コイル２′ａ、２′ｂの誘導電流の方向と金属管内の割
れ11の方向が一致しているため、このような割れ11によ
って渦電流は変化を生じず、従って割れ11は検出されな
いことになる。
本考案はこのような従来の難点を解消して金属管の円周
方向の線状欠陥に対しても検出能力が向上した金属探傷
用プローブを提供することを目的とする。
方向の線状欠陥に対しても検出能力が向上した金属探傷
用プローブを提供することを目的とする。
［問題点を解決するための手段］ このような目的を達成するため本考案の金属探傷用プロ
ーブは、プローブ本体と、試験コイルとから成り、金属
管内を軸方向に移動して金属管の欠陥により生じる渦電
流の変化を試験コイルにて検出する金属探傷用プローブ
において、試験コイルはプローブ本体上に、金属管の円
周方向と同方向に巻回された一対のコイルと、金属管の
円周方向に対し斜行して互いに円周方向90°ずれて巻回
された各々一対のコイルとを配設したものであります。
ーブは、プローブ本体と、試験コイルとから成り、金属
管内を軸方向に移動して金属管の欠陥により生じる渦電
流の変化を試験コイルにて検出する金属探傷用プローブ
において、試験コイルはプローブ本体上に、金属管の円
周方向と同方向に巻回された一対のコイルと、金属管の
円周方向に対し斜行して互いに円周方向90°ずれて巻回
された各々一対のコイルとを配設したものであります。
［実施例］ 以下、本考案の金属探傷用プローブを図面に示す実施例
に基き説明する。
に基き説明する。
第１図（ａ）において金属探傷用プローブ１はプローブ
本体10とプローブ本体10に巻回された試験コイル２とか
ら成る。
本体10とプローブ本体10に巻回された試験コイル２とか
ら成る。
試験コイル２は、プローブ本体上に、３組の各々一対と
なったコイル21、22、23から成り、コイル21は金属管３
（同図（ｂ））の円周方向と同方向に巻回され、試験コ
イル22及び23はそれぞれ金属管３の円周方向に対し斜行
すると共に互いに円周方向90°ずれて巻回されている。
このように試験コイル22及び23はプローブ本体の中心軸
に対し斜めに、且つ互いに巻線の方向を違えて巻回され
ている。
なったコイル21、22、23から成り、コイル21は金属管３
（同図（ｂ））の円周方向と同方向に巻回され、試験コ
イル22及び23はそれぞれ金属管３の円周方向に対し斜行
すると共に互いに円周方向90°ずれて巻回されている。
このように試験コイル22及び23はプローブ本体の中心軸
に対し斜めに、且つ互いに巻線の方向を違えて巻回され
ている。
そして各コイル21、22及び23は発振器からの高周波電流
が流れ、それぞれ誘導電流i1、i2、i3が生じる。
が流れ、それぞれ誘導電流i1、i2、i3が生じる。
このように構成される金属探傷用プローブ１を、例えば
第１図（ｂ）に示すような腐食Ａ、割れB1、B2等の欠陥
の生じた金属管３内に挿入移動させると、腐食Ａによっ
て金属管３内に生じた渦電流の変化は各コイルの誘導電
流i1、i2、i3の変化として検出される。
第１図（ｂ）に示すような腐食Ａ、割れB1、B2等の欠陥
の生じた金属管３内に挿入移動させると、腐食Ａによっ
て金属管３内に生じた渦電流の変化は各コイルの誘導電
流i1、i2、i3の変化として検出される。
一方、円周方向に部分的（０°方向）に生じた割れB1は
この部分におけるコイル21及び23の誘導電流i1、i3の方
向と平行になっているため誘導電流i1、i3には変化が生
じることはなく、従ってコイル21及び23によっては検出
されない。
この部分におけるコイル21及び23の誘導電流i1、i3の方
向と平行になっているため誘導電流i1、i3には変化が生
じることはなく、従ってコイル21及び23によっては検出
されない。
しかし、コイル22の誘導電流i2は割れB1を横切るように
流れているため、割れB1によって電流の変化を生じ、こ
の変化によって割れB1が検出される。同様に割れB1と円
周方向に90°ずれた割れB2はコイル21及び22では検出さ
れないが、コイル23により検出される。
流れているため、割れB1によって電流の変化を生じ、こ
の変化によって割れB1が検出される。同様に割れB1と円
周方向に90°ずれた割れB2はコイル21及び22では検出さ
れないが、コイル23により検出される。
このように本考案の金属探傷用プローブは欠陥検出能力
の異なる複数のコイルを組み合わせたので１回の探傷試
験で同時に種々の欠陥を検出することができる。
の異なる複数のコイルを組み合わせたので１回の探傷試
験で同時に種々の欠陥を検出することができる。
尚、上記実施例において試験コイルは円周方向に対し平
行なもの、斜行したもの二種の合計三種を用いたが、更
に多様な組み合せが可能である 本考案の金属探傷用プローブは、例えば第２図に示すよ
うな位相解析式の金属探傷装置に適用される。
行なもの、斜行したもの二種の合計三種を用いたが、更
に多様な組み合せが可能である 本考案の金属探傷用プローブは、例えば第２図に示すよ
うな位相解析式の金属探傷装置に適用される。
第２図の金属探傷装置は主として発振器４、金属探傷用
プローブ１の各検出部51、52、53、各検出部に対応して
設けられた位相検波器61a〜63b、ブラウン管71、72、7
3、演算処理部８及び記録計９から成り、発振器４はプ
ローブ１の各検出部51、52、53及び位相検波器に高周波
電流を送出する。
プローブ１の各検出部51、52、53、各検出部に対応して
設けられた位相検波器61a〜63b、ブラウン管71、72、7
3、演算処理部８及び記録計９から成り、発振器４はプ
ローブ１の各検出部51、52、53及び位相検波器に高周波
電流を送出する。
検出部51、52及び53はそれぞれ試験コイル21、22及び23
を含んで構成されたブリッジ回路で、全体としてプロー
ブ１を構成する。各検出部51、52及び53の出力側には１
組の位相検波回路61a、61b、62a、62b及びそれぞれ63
a、63bと接続される。
を含んで構成されたブリッジ回路で、全体としてプロー
ブ１を構成する。各検出部51、52及び53の出力側には１
組の位相検波回路61a、61b、62a、62b及びそれぞれ63
a、63bと接続される。
１組の位相検波回路は対応する検出部の出力信号を位相
の相異なる２つの制御信号によって位相検波し、その一
組の位相検波回路からの出力はブラウン管71、72及び73
の画面上に合成されたリサージュ波形として表示され
る。このリサージュ波形は検出部の出力信号の位相が金
属管の欠陥によって変化することに対応して変化する。
の相異なる２つの制御信号によって位相検波し、その一
組の位相検波回路からの出力はブラウン管71、72及び73
の画面上に合成されたリサージュ波形として表示され
る。このリサージュ波形は検出部の出力信号の位相が金
属管の欠陥によって変化することに対応して変化する。
すなわちブラウン管71には検出部51で検出された欠陥に
対応するリサージュ波形が、ブラウン管72には検出部52
で検出された欠陥に対応するリサージュ波形が、ブラウ
ン管73には検出部53で検出された欠陥に対応するリサー
ジュ波形がそれぞれ映し出される。例えば、第１図
（ａ）に示す金属探傷用プローブの場合同図（ｂ）に示
すような金属管３の腐食、割れ（０°方向）B1、割れ
（90°方向）B2に対応して第３図のようなリサージュ波
形を得ることができる。従って、リサージュ波形の振幅
が［検出部51］＝［検出部52］＝［検出部53］である時
は腐食欠陥であり［検出部52］or［検出部53］＞［検出
部51］の時は割れ欠陥であることが判定できる。
対応するリサージュ波形が、ブラウン管72には検出部52
で検出された欠陥に対応するリサージュ波形が、ブラウ
ン管73には検出部53で検出された欠陥に対応するリサー
ジュ波形がそれぞれ映し出される。例えば、第１図
（ａ）に示す金属探傷用プローブの場合同図（ｂ）に示
すような金属管３の腐食、割れ（０°方向）B1、割れ
（90°方向）B2に対応して第３図のようなリサージュ波
形を得ることができる。従って、リサージュ波形の振幅
が［検出部51］＝［検出部52］＝［検出部53］である時
は腐食欠陥であり［検出部52］or［検出部53］＞［検出
部51］の時は割れ欠陥であることが判定できる。
演算処理部８は各ブラウン管71、72及び73に入力された
と同様の各位相検波器からの信号の振幅を電気的に読み
取ることによりその位相角を求めて円周方向の割れ、そ
の他の傷の判別及び傷の深さをCPU（中央演算処理装
置）を用いて演算し、記録計７でこれらを記録する。
と同様の各位相検波器からの信号の振幅を電気的に読み
取ることによりその位相角を求めて円周方向の割れ、そ
の他の傷の判別及び傷の深さをCPU（中央演算処理装
置）を用いて演算し、記録計７でこれらを記録する。
［考案の効果］ 以上の実施例からも明らかなように本考案の金属探傷用
プローブは、プローブ本体と、試験コイルとから成り、
金属管内を軸方向に移動して金属管の欠陥により生じる
渦電流の変化を試験コイルにて検出する金属探傷用プロ
ーブにおいて、試験コイルはプローブ本体上に、金属管
の円周方向と同方向に巻回された一対のコイルと、金属
管の円周方向に対し斜行して互いに円周方向90°ずれて
巻回された各々一対のコイルとを配設したことにより、
金属管の円周方向の微細な割れなどの線状欠陥や内面腐
食等その他の欠陥を一回の探傷試験だけで同時に検出、
評価することができる。
プローブは、プローブ本体と、試験コイルとから成り、
金属管内を軸方向に移動して金属管の欠陥により生じる
渦電流の変化を試験コイルにて検出する金属探傷用プロ
ーブにおいて、試験コイルはプローブ本体上に、金属管
の円周方向と同方向に巻回された一対のコイルと、金属
管の円周方向に対し斜行して互いに円周方向90°ずれて
巻回された各々一対のコイルとを配設したことにより、
金属管の円周方向の微細な割れなどの線状欠陥や内面腐
食等その他の欠陥を一回の探傷試験だけで同時に検出、
評価することができる。
【図面の簡単な説明】 第１図（ａ）、（ｂ）は本考案の金属探傷用プローブと
金属管を示す図、第２図は渦流探傷装置のブロック図、
第３図はリサージュ波形図、第４図は従来の金属探傷用
プローブを示す図である。 ３……金属管 Ａ、B1、B2……金属管の欠陥 １……金属探傷用プローブ ２……試験コイル 10……プローブ本体 21……金属管の円周方向と同方向に巻回された一対のコ
イル 22、23……金属管の円周方向に対し斜行して互いに円周
方向90°ずれて巻回された各々一対のコイル
金属管を示す図、第２図は渦流探傷装置のブロック図、
第３図はリサージュ波形図、第４図は従来の金属探傷用
プローブを示す図である。 ３……金属管 Ａ、B1、B2……金属管の欠陥 １……金属探傷用プローブ ２……試験コイル 10……プローブ本体 21……金属管の円周方向と同方向に巻回された一対のコ
イル 22、23……金属管の円周方向に対し斜行して互いに円周
方向90°ずれて巻回された各々一対のコイル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−264252（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−200956（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−275951（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−240852（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】プローブ本体（10）と、試験コイル（２）
とから成り、金属管（３）内を軸方向に移動して前記金
属管の欠陥（Ａ、B1、B2）により生じる渦電流の変化を
前記試験コイルにて検出する金属探傷用プローブ（１）
において、前記試験コイルは前記プローブ本体上に、前
記金属管の円周方向と同方向に巻回された一対のコイル
（21）と、前記金属管の円周方向に対し斜行して互いに
円周方向90°ずれて巻回された各々一対のコイル（22、
23）とを配設したことを特徴とする金属探傷用プロー
ブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987068753U JPH075408Y2 (ja) | 1987-05-08 | 1987-05-08 | 金属探傷用プロ−ブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987068753U JPH075408Y2 (ja) | 1987-05-08 | 1987-05-08 | 金属探傷用プロ−ブ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63177747U JPS63177747U (ja) | 1988-11-17 |
| JPH075408Y2 true JPH075408Y2 (ja) | 1995-02-08 |
Family
ID=30908861
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987068753U Expired - Lifetime JPH075408Y2 (ja) | 1987-05-08 | 1987-05-08 | 金属探傷用プロ−ブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH075408Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5615631B2 (ja) * | 2010-08-30 | 2014-10-29 | 東日本旅客鉄道株式会社 | 渦電流探傷方法と渦電流探傷装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59200956A (ja) * | 1983-04-28 | 1984-11-14 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 渦流探傷用ヘツド部 |
| JPS61264252A (ja) * | 1985-05-17 | 1986-11-22 | Idemitsu Eng Kk | 金属管の渦流探傷方法及び装置 |
-
1987
- 1987-05-08 JP JP1987068753U patent/JPH075408Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63177747U (ja) | 1988-11-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4107605A (en) | Eddy current flaw detector utilizing plural sets of four planar coils, with the plural sets disposed in a common bridge | |
| JP3276295B2 (ja) | 渦電流探傷装置 | |
| JPS5877653A (ja) | 非破壊検査装置 | |
| US3401332A (en) | Magnetic leakage field and eddy current flaw detection system | |
| JP3226071B2 (ja) | 磁気探傷法 | |
| JPH075408Y2 (ja) | 金属探傷用プロ−ブ | |
| US20180217099A1 (en) | Virtual channels for eddy current array probes | |
| JP2798199B2 (ja) | 渦流探傷法におけるノイズ除去方法 | |
| CN205374376U (zh) | 焊缝裂纹涡流检测传感器探头 | |
| JP2004251839A (ja) | 管内表面傷検査装置 | |
| JPS62225947A (ja) | 渦流測定用プロ−ブ | |
| JPS604127Y2 (ja) | 差動型磁気探傷装置 | |
| JPS63274859A (ja) | 渦流探傷コイル | |
| JPS63275951A (ja) | 金属探傷用プロ−ブ | |
| JPH03105245A (ja) | リモート・フイールド式渦流探傷用プローブ | |
| JP3426748B2 (ja) | 渦電流探知試験方法 | |
| JPH04120456A (ja) | Ｓｑｕｉｄによる非破壊検査装置 | |
| JP2002055083A (ja) | 渦電流探傷プローブ | |
| JPS6011493Y2 (ja) | 電磁誘導検知装置 | |
| JP4674416B2 (ja) | 自己比較方式の渦流探傷装置 | |
| JP2610424B2 (ja) | 渦流探傷装置 | |
| JP2743109B2 (ja) | 加熱管の非破壊検査方法 | |
| JPS586458A (ja) | 鋼材の熱間渦流探傷方法 | |
| CN114397360A (zh) | 一种焊缝裂纹走向的涡流检测方法及其检测装置 | |
| JPH0481653A (ja) | 渦流探傷方法 |