JPH0743757A - 半導体量子井戸光学素子 - Google Patents
半導体量子井戸光学素子Info
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- JPH0743757A JPH0743757A JP18806393A JP18806393A JPH0743757A JP H0743757 A JPH0743757 A JP H0743757A JP 18806393 A JP18806393 A JP 18806393A JP 18806393 A JP18806393 A JP 18806393A JP H0743757 A JPH0743757 A JP H0743757A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ブルーシフトの光吸収特性を保ちながら、で
きるだけ大きな光非線形効果を有するような歪み量子井
戸構造の半導体量子井戸光学素子を提供する。 【構成】 化合物半導体からなる量子井戸又は超格子構
造を利用した半導体量子井戸光学素子において、主面が
(111)面のGaAs基板10上に、GaAs基板1
0より格子定数の大きなInGaAs圧縮歪み層11
と、GaAs基板10の格子定数と等しい二種類の化合
物半導体AlGaAs/GaAsからなる量子井戸構造
12とを、交互に積層したことを特徴とする。
きるだけ大きな光非線形効果を有するような歪み量子井
戸構造の半導体量子井戸光学素子を提供する。 【構成】 化合物半導体からなる量子井戸又は超格子構
造を利用した半導体量子井戸光学素子において、主面が
(111)面のGaAs基板10上に、GaAs基板1
0より格子定数の大きなInGaAs圧縮歪み層11
と、GaAs基板10の格子定数と等しい二種類の化合
物半導体AlGaAs/GaAsからなる量子井戸構造
12とを、交互に積層したことを特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光又は電気信号で光を
制御する光情報処理システムを構築するために不可欠な
非線形光学素子に係わり、特に化合物半導体からなる量
子井戸又は超格子構造を利用した半導体量子井戸光学素
子に関する。
制御する光情報処理システムを構築するために不可欠な
非線形光学素子に係わり、特に化合物半導体からなる量
子井戸又は超格子構造を利用した半導体量子井戸光学素
子に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、高効率,超高速の非線形光学素子
を実現するために、半導体量子井戸又は超格子構造を利
用した半導体量子井戸光学素子が研究開発されている。
半導体量子井戸又は超格子構造は、他の非線形材料(例
えば有機物非線形材料)と比べて、大きな非線形定数に
加えるに良好な電気性質を有するため、電気的な手段を
導入し更に一層光非線形性を増強したり、電子素子と非
線形光学素子を共存させることができる。
を実現するために、半導体量子井戸又は超格子構造を利
用した半導体量子井戸光学素子が研究開発されている。
半導体量子井戸又は超格子構造は、他の非線形材料(例
えば有機物非線形材料)と比べて、大きな非線形定数に
加えるに良好な電気性質を有するため、電気的な手段を
導入し更に一層光非線形性を増強したり、電子素子と非
線形光学素子を共存させることができる。
【0003】最近、通常の[100]方向に作成した量
子井戸非線形素子と異なり、図13に示すように、[1
00]基板上に量子井戸構造(真性領域iと呼ばれる)
とn型及びp型ドープ層を積み重ねた、いわゆるn−i
−p−i構造が提案されている(D.S.McCallum et al,
J.Appl.Phys 70, 6891(1991))。
子井戸非線形素子と異なり、図13に示すように、[1
00]基板上に量子井戸構造(真性領域iと呼ばれる)
とn型及びp型ドープ層を積み重ねた、いわゆるn−i
−p−i構造が提案されている(D.S.McCallum et al,
J.Appl.Phys 70, 6891(1991))。
【0004】この構造では、n及びp層中の不純物の一
部がイオン化されるため、空間電荷が形成される。その
結果、量子井戸領域iに対して、層に垂直な方向に内部
電界が印加される。この内部電界の印加により、エネル
ギーバンド構造は、熱平衡状態では、図14(a)に示
すように大きく曲げられる。そのため、量子井戸におけ
る励起子吸収のピークは、無電界の場合と比較して長波
長側へレッドシフトする。
部がイオン化されるため、空間電荷が形成される。その
結果、量子井戸領域iに対して、層に垂直な方向に内部
電界が印加される。この内部電界の印加により、エネル
ギーバンド構造は、熱平衡状態では、図14(a)に示
すように大きく曲げられる。そのため、量子井戸におけ
る励起子吸収のピークは、無電界の場合と比較して長波
長側へレッドシフトする。
【0005】この状態で光を照射すると、量子井戸内で
励起された電子及び正孔は、内部電界により、それぞれ
n型ドープ層及びp型ドープ層へ分離される。これらの
光によって励起されたキャリアは、イオン化した不純物
を電気的に中性化するため、図14(b)に示すように
量子井戸中の電界強度は低下すると同時に、エネルギー
バンド構造はかなり平らになる。従って、量子井戸にお
ける励起子吸収のピークは、光を照射しない場合に比べ
て短波長側へブルーシフトする。
励起された電子及び正孔は、内部電界により、それぞれ
n型ドープ層及びp型ドープ層へ分離される。これらの
光によって励起されたキャリアは、イオン化した不純物
を電気的に中性化するため、図14(b)に示すように
量子井戸中の電界強度は低下すると同時に、エネルギー
バンド構造はかなり平らになる。従って、量子井戸にお
ける励起子吸収のピークは、光を照射しない場合に比べ
て短波長側へブルーシフトする。
【0006】そして、この吸収ピークのシフトにより、
吸収係数及び屈折率において変化が起きるわけである。
これを利用して、光変調器,光スイッチ,光メモリなど
のような光学素子への応用が考えられる。
吸収係数及び屈折率において変化が起きるわけである。
これを利用して、光変調器,光スイッチ,光メモリなど
のような光学素子への応用が考えられる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
n−i−p−i構造においては、内部電界の大きさがイ
オン化した空間電荷の密度、即ちn層とp層におけるド
ーピング濃度によって完全に決定される。周知のよう
に、半導体材料にドーピングできる不純物濃度には制限
があり(通常1016〜1019cm-3)、半導体によって
は全くドーピングできない(例えばGaN)、つまり
p,n層を形成できないこともあり得る。さらに、内部
電界が弱い(〜104 V/cm)ため、励起子吸収ピー
クのシフト量が小さく、あまり大きな非線形効果は期待
できない。
n−i−p−i構造においては、内部電界の大きさがイ
オン化した空間電荷の密度、即ちn層とp層におけるド
ーピング濃度によって完全に決定される。周知のよう
に、半導体材料にドーピングできる不純物濃度には制限
があり(通常1016〜1019cm-3)、半導体によって
は全くドーピングできない(例えばGaN)、つまり
p,n層を形成できないこともあり得る。さらに、内部
電界が弱い(〜104 V/cm)ため、励起子吸収ピー
クのシフト量が小さく、あまり大きな非線形効果は期待
できない。
【0008】以上の原因から、例えば代表的な非線形光
学素子である光スイッチに応用した場合、外部印加電界
による内部電界に対して制御できる範囲はかなり狭いた
め、屈折率の変化量が小さく、光がオン・オフする状態
での強度比は小さくなる。また、内部電界が弱いため、
外部印加電界が不安定な場合にその影響を受けやすく、
素子の安定性に欠けるだけではなく、制御できる光の波
長もかなり狭い範囲に限られてしまう。
学素子である光スイッチに応用した場合、外部印加電界
による内部電界に対して制御できる範囲はかなり狭いた
め、屈折率の変化量が小さく、光がオン・オフする状態
での強度比は小さくなる。また、内部電界が弱いため、
外部印加電界が不安定な場合にその影響を受けやすく、
素子の安定性に欠けるだけではなく、制御できる光の波
長もかなり狭い範囲に限られてしまう。
【0009】本発明は、上記の事情に鑑みてなされたも
ので、その目的とするところは、ブルーシフトの光吸収
特性を保ちながら、できるだけ大きな光非線形効果を有
するような歪み量子井戸構造の半導体量子井戸光学素子
を提供することにある。
ので、その目的とするところは、ブルーシフトの光吸収
特性を保ちながら、できるだけ大きな光非線形効果を有
するような歪み量子井戸構造の半導体量子井戸光学素子
を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明は、次のような構成を採用している。即ち本発
明は、化合物半導体からなる量子井戸又は超格子構造を
利用した半導体量子井戸光学素子において、主面が(1
11)面の化合物半導体基板上に、基板とは格子定数の
異なる化合物半導体と、基板の格子定数と等しい二種類
の化合物半導体A,Bからなる量子井戸又は超格子構造
とを、交互に積層してなることを特徴とする。
に本発明は、次のような構成を採用している。即ち本発
明は、化合物半導体からなる量子井戸又は超格子構造を
利用した半導体量子井戸光学素子において、主面が(1
11)面の化合物半導体基板上に、基板とは格子定数の
異なる化合物半導体と、基板の格子定数と等しい二種類
の化合物半導体A,Bからなる量子井戸又は超格子構造
とを、交互に積層してなることを特徴とする。
【0011】ここで、本発明の望ましい実施態様として
は、次のものがあげられる。 (1) 主面が(111)面の化合物半導体基板上に、基板
より格子定数の大きな化合物半導体(圧縮歪み層)1
と、基板の格子定数と整合する二種類の化合物半導体
A,Bからなる量子井戸又は超格子構造2とを交互に積
層したこと。 (2) 主面が(111)面の化合物半導体基板上に、基板
より格子定数の小さな化合物半導体(引張り歪み層)3
と、量子井戸又は超格子構造2とを交互に積層したこ
と。 (3) 主面が(111)面の化合物半導体基板上に、半導
体1,量子井戸又は超格子構造2,半導体1,半導体
3,量子井戸又は超格子構造2,半導体3を順次交互に
積層した構造(圧縮歪み層と引張り歪み層の両方を含
む)を単独で又は何度も繰り返した周期構造を用いたこ
と。
は、次のものがあげられる。 (1) 主面が(111)面の化合物半導体基板上に、基板
より格子定数の大きな化合物半導体(圧縮歪み層)1
と、基板の格子定数と整合する二種類の化合物半導体
A,Bからなる量子井戸又は超格子構造2とを交互に積
層したこと。 (2) 主面が(111)面の化合物半導体基板上に、基板
より格子定数の小さな化合物半導体(引張り歪み層)3
と、量子井戸又は超格子構造2とを交互に積層したこ
と。 (3) 主面が(111)面の化合物半導体基板上に、半導
体1,量子井戸又は超格子構造2,半導体1,半導体
3,量子井戸又は超格子構造2,半導体3を順次交互に
積層した構造(圧縮歪み層と引張り歪み層の両方を含
む)を単独で又は何度も繰り返した周期構造を用いたこ
と。
【0012】
【作用】本発明によれば、主面が(111)面の化合物
半導体基板上に、基板の格子定数と異なる半導体材料を
積層した場合に、格子の不整合から生じた歪みによる圧
電効果により、歪み層内に大きな内部電界が発生する。
この内部電界の方向は、歪みの性格(圧縮歪みか引張り
歪みか)によって決定される。
半導体基板上に、基板の格子定数と異なる半導体材料を
積層した場合に、格子の不整合から生じた歪みによる圧
電効果により、歪み層内に大きな内部電界が発生する。
この内部電界の方向は、歪みの性格(圧縮歪みか引張り
歪みか)によって決定される。
【0013】例えば、主面が(111)B面の化合物半
導体基板上に、基板より格子定数の大きな半導体を積層
した場合、基板表面と平行な方向に圧縮歪みが生じるた
め、基板から結晶表面に向かう内部電界が歪み層に発生
する。一方、(111)B面の基板上に、基板より格子
定数の小さな半導体を積層した場合は、基板表面と平行
な方向に引張り歪みが生じるため、内部電界の方向は逆
になる。
導体基板上に、基板より格子定数の大きな半導体を積層
した場合、基板表面と平行な方向に圧縮歪みが生じるた
め、基板から結晶表面に向かう内部電界が歪み層に発生
する。一方、(111)B面の基板上に、基板より格子
定数の小さな半導体を積層した場合は、基板表面と平行
な方向に引張り歪みが生じるため、内部電界の方向は逆
になる。
【0014】また、内部電界の大きさは、歪みの大き
さ、即ち積層された半導体材料と基板との間における格
子不整合の大きさによって決定される。例えば、(11
1)B面のGaAs基板上にGaAs1-x Px を積層し
た場合に、僅か1%の歪みが存在するとしても、圧電効
果によって生じた内部電界の大きさは約2×105 V/
cmと極めて大きい。言うまでもなく、GaAs1-x P
x 中のP組成xを変えることによって、内部電界の大き
さを必要に応じて自由自在に制御することができる。
さ、即ち積層された半導体材料と基板との間における格
子不整合の大きさによって決定される。例えば、(11
1)B面のGaAs基板上にGaAs1-x Px を積層し
た場合に、僅か1%の歪みが存在するとしても、圧電効
果によって生じた内部電界の大きさは約2×105 V/
cmと極めて大きい。言うまでもなく、GaAs1-x P
x 中のP組成xを変えることによって、内部電界の大き
さを必要に応じて自由自在に制御することができる。
【0015】また、n−i−p−i構造のように、量子
井戸構造に予め内部電界を持たせるのに不可欠なドーピ
ングプロセスが一切不要になったことも大きなメリット
である。これによって、例えば青色発光ダイオード材料
と期待されながら実用に至っていないGaNのようなp
型ドーピングが不可能な半導体材料でも、本発明によれ
ば使用可能となるわけである。
井戸構造に予め内部電界を持たせるのに不可欠なドーピ
ングプロセスが一切不要になったことも大きなメリット
である。これによって、例えば青色発光ダイオード材料
と期待されながら実用に至っていないGaNのようなp
型ドーピングが不可能な半導体材料でも、本発明によれ
ば使用可能となるわけである。
【0016】本発明の量子構造を例えば、代表的な非線
形光学素子である光スイッチに応用した場合、内部電界
が強いため、入射光又は外部印加電界による励起子吸収
ピークのブルーシフト量が大きく、屈折率における変化
量はかなり大きいと考えられる。従って、オン・オフ状
態における透過光強度比は、従来のn−i−p−i素子
と比べて極めて大きい。
形光学素子である光スイッチに応用した場合、内部電界
が強いため、入射光又は外部印加電界による励起子吸収
ピークのブルーシフト量が大きく、屈折率における変化
量はかなり大きいと考えられる。従って、オン・オフ状
態における透過光強度比は、従来のn−i−p−i素子
と比べて極めて大きい。
【0017】また、内部電界が強いため、外部印加電界
の不安定による影響を受けにくく、素子の安定性に優れ
るだけではなく、制御できる光の波長範囲がかなり広が
ると言うような利点もある。なお、格子整合系の量子井
戸又は超格子構造がそのまま活用できるため、素子作製
上にも大変有利である。
の不安定による影響を受けにくく、素子の安定性に優れ
るだけではなく、制御できる光の波長範囲がかなり広が
ると言うような利点もある。なお、格子整合系の量子井
戸又は超格子構造がそのまま活用できるため、素子作製
上にも大変有利である。
【0018】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。 (実施例1)図1は、本発明の第1の実施例に係わる半
導体量子井戸光学素子を説明するためのもので、[11
1]方向の圧縮歪み層を含む量子構造を示している。
する。 (実施例1)図1は、本発明の第1の実施例に係わる半
導体量子井戸光学素子を説明するためのもので、[11
1]方向の圧縮歪み層を含む量子構造を示している。
【0019】面方位が(111)BのGaAs基板10
の上に、格子定数がGaAs基板10より大きいInG
aAs(圧縮歪み層)11と、格子定数がGaAs基板
10と整合するAlGaAs及びGaAsからなるAl
GaAs/GaAs量子井戸又は超格子構造12とを、
順次交互に積層させる。このとき、InGaAs11は
基板表面と平行な方向に圧縮歪みを受け、圧縮(compre
ssion )領域cを形成する。
の上に、格子定数がGaAs基板10より大きいInG
aAs(圧縮歪み層)11と、格子定数がGaAs基板
10と整合するAlGaAs及びGaAsからなるAl
GaAs/GaAs量子井戸又は超格子構造12とを、
順次交互に積層させる。このとき、InGaAs11は
基板表面と平行な方向に圧縮歪みを受け、圧縮(compre
ssion )領域cを形成する。
【0020】一方、AlGaAs/GaAs量子井戸又
は超格子構造12は、歪みを受けずに真性(intrinsic
)領域iを形成する。ここで、InGaAs11の層
厚をその臨界膜厚より充分薄く選んであるため、歪みの
緩和によるミスフィット転位が発生せず、InGaAs
11が弾性的に一様に歪んだ歪み層となっている。
は超格子構造12は、歪みを受けずに真性(intrinsic
)領域iを形成する。ここで、InGaAs11の層
厚をその臨界膜厚より充分薄く選んであるため、歪みの
緩和によるミスフィット転位が発生せず、InGaAs
11が弾性的に一様に歪んだ歪み層となっている。
【0021】本実施例は、上記のc−i構造を単独で又
は何度も繰り返したc−i−c−i周期構造を用いるこ
とを特徴とする。図2は、図1の量子構造に対応するエ
ネルギーバンド図である。前記[作用]の項で詳しく説
明したように、層に平行な方向に圧縮歪みが生じるた
め、圧電効果により、GaAs(111)B基板10か
ら結晶表面に向かう内部電界が、AlGaAs/GaA
s量子井戸又は超格子構造12に印加されることにな
る。この内部電界の存在により、エネルギーバンド構造
は、熱平衡(光照射なし)状態では図2(a)に示すよ
うに大きく傾く。量子閉じ込めシュタルク効果(Quantu
m Confined Stark Effect )により、量子井戸又は超格
子構造12における励起子吸収ピークは、内部電界の無
い場合に比べて長波長側へレッドシフトする。
は何度も繰り返したc−i−c−i周期構造を用いるこ
とを特徴とする。図2は、図1の量子構造に対応するエ
ネルギーバンド図である。前記[作用]の項で詳しく説
明したように、層に平行な方向に圧縮歪みが生じるた
め、圧電効果により、GaAs(111)B基板10か
ら結晶表面に向かう内部電界が、AlGaAs/GaA
s量子井戸又は超格子構造12に印加されることにな
る。この内部電界の存在により、エネルギーバンド構造
は、熱平衡(光照射なし)状態では図2(a)に示すよ
うに大きく傾く。量子閉じ込めシュタルク効果(Quantu
m Confined Stark Effect )により、量子井戸又は超格
子構造12における励起子吸収ピークは、内部電界の無
い場合に比べて長波長側へレッドシフトする。
【0022】ところが、上記のc−i又はc−i−c−
iのような周期を持つ量子構造に光を照射すると、量子
井戸又は超格子構造12より励起された電子及び正孔は
内部電界によって分離され、InGaAs11に蓄積さ
れてゆく。これは内部電界を低下させることになり、従
ってエネルギーバンド構造の傾きは、図2(b)に示す
ように小さくなる。その結果、量子井戸又は超格子構造
12における励起子吸収ピークは、光を照射しない場合
に比べて短波長側へブルーシフトする。このブルーシフ
トにより、吸収係数そして屈折率に大きな変化を引き起
こす。
iのような周期を持つ量子構造に光を照射すると、量子
井戸又は超格子構造12より励起された電子及び正孔は
内部電界によって分離され、InGaAs11に蓄積さ
れてゆく。これは内部電界を低下させることになり、従
ってエネルギーバンド構造の傾きは、図2(b)に示す
ように小さくなる。その結果、量子井戸又は超格子構造
12における励起子吸収ピークは、光を照射しない場合
に比べて短波長側へブルーシフトする。このブルーシフ
トにより、吸収係数そして屈折率に大きな変化を引き起
こす。
【0023】このような特性を利用して本実施例のc−
i又はc−i−c−i構造を、例えば光スイッチに応用
した場合、外部電界の印加による屈折率の変化が大きい
ため、オン・オフ状態における透過光の強度比は、従来
のn−i−p−i構造に比較して遥かに高い。しかも、
内部電界が強いため、素子が外部印加電界の不安定によ
る影響を受けにくく、安定性に優れるだけではなく、制
御できる光の波長範囲もかなり広くなるわけである。
i又はc−i−c−i構造を、例えば光スイッチに応用
した場合、外部電界の印加による屈折率の変化が大きい
ため、オン・オフ状態における透過光の強度比は、従来
のn−i−p−i構造に比較して遥かに高い。しかも、
内部電界が強いため、素子が外部印加電界の不安定によ
る影響を受けにくく、安定性に優れるだけではなく、制
御できる光の波長範囲もかなり広くなるわけである。
【0024】また、ドーピングプロセスが不要になった
ため、技術的に成熟しているAlGaAs/GaAsの
ような格子整合系量子井戸又は超格子構造及びp型ドー
ピングのできないGaNのような半導体材料をフル活用
することができる。さらに、InGaAs11中のIn
組成を変えることにより、歪みそして内部電界の大きさ
を必要に応じて自由自在に調整できることは言うまでも
ない大きなメリットである。 (実施例2)図3は、本発明の第2の実施例に係わる
[111]方向の圧縮歪み層を含む量子構造を示す模式
図である。面方位が(111)BのGaAs基板20の
上に、格子定数がGaAsと整合するAlGaAs及び
GaAsからなるAlGaAs/GaAs量子井戸又は
超格子構造21と、格子定数がGaAsより大きいIn
GaAs(圧縮歪み層)22とを順次交互に積層させ
る。このとき、AlGaAs/GaAs量子井戸又は超
格子構造21は、歪みを受けずに真性領域iを形成す
る。
ため、技術的に成熟しているAlGaAs/GaAsの
ような格子整合系量子井戸又は超格子構造及びp型ドー
ピングのできないGaNのような半導体材料をフル活用
することができる。さらに、InGaAs11中のIn
組成を変えることにより、歪みそして内部電界の大きさ
を必要に応じて自由自在に調整できることは言うまでも
ない大きなメリットである。 (実施例2)図3は、本発明の第2の実施例に係わる
[111]方向の圧縮歪み層を含む量子構造を示す模式
図である。面方位が(111)BのGaAs基板20の
上に、格子定数がGaAsと整合するAlGaAs及び
GaAsからなるAlGaAs/GaAs量子井戸又は
超格子構造21と、格子定数がGaAsより大きいIn
GaAs(圧縮歪み層)22とを順次交互に積層させ
る。このとき、AlGaAs/GaAs量子井戸又は超
格子構造21は、歪みを受けずに真性領域iを形成す
る。
【0025】一方、InGaAs22は、基板表面と平
行な方向に圧縮歪みを受け、圧縮領域cを形成する。こ
こで、InGaAs22の層厚をその臨界膜厚より充分
薄く選んであるため、歪みの緩和によるミスフィット転
位が発生せず、InGaAs22が弾性的に一様に歪ん
だ歪み層となっている。
行な方向に圧縮歪みを受け、圧縮領域cを形成する。こ
こで、InGaAs22の層厚をその臨界膜厚より充分
薄く選んであるため、歪みの緩和によるミスフィット転
位が発生せず、InGaAs22が弾性的に一様に歪ん
だ歪み層となっている。
【0026】本実施例は上記のようなi−c構造を単独
で、又は何度も繰り返したi−c−i−c周期構造を用
いることを特徴とする。図3のi−c−i−c量子構造
に対応するエネルギーバンド図は、第の1実施例のc−
i−c−i量子構造におけるエネルギーバンド図(図
2)とよく似ていることが、前記[作用]の項で述べた
原理から明らかである。従って、本実施例のi−c−i
−c量子構造は、第1の実施例のc−i−c−i量子構
造における全てのデバイスに応用することができるわけ
であり、動作の原理も全く同様である。 (実施例3)図4は、本発明の第3の実施例に係わる
[111]方向の引張り歪み層を含む量子構造を示す模
式図である。面方位が(111)BのGaAs基板30
の上に、格子定数がGaAsより小さいGaAsP(引
張り歪み層)31と、格子定数がGaAsと整合するA
lGaAs及びGaAsからなるAlGaAs/GaA
s量子井戸又は超格子構造32とを順次交互に積層させ
る。このとき、GaAsP31は基板表面と平行な方向
に引張り歪みを受け、引張り(tension )領域tを形成
する。
で、又は何度も繰り返したi−c−i−c周期構造を用
いることを特徴とする。図3のi−c−i−c量子構造
に対応するエネルギーバンド図は、第の1実施例のc−
i−c−i量子構造におけるエネルギーバンド図(図
2)とよく似ていることが、前記[作用]の項で述べた
原理から明らかである。従って、本実施例のi−c−i
−c量子構造は、第1の実施例のc−i−c−i量子構
造における全てのデバイスに応用することができるわけ
であり、動作の原理も全く同様である。 (実施例3)図4は、本発明の第3の実施例に係わる
[111]方向の引張り歪み層を含む量子構造を示す模
式図である。面方位が(111)BのGaAs基板30
の上に、格子定数がGaAsより小さいGaAsP(引
張り歪み層)31と、格子定数がGaAsと整合するA
lGaAs及びGaAsからなるAlGaAs/GaA
s量子井戸又は超格子構造32とを順次交互に積層させ
る。このとき、GaAsP31は基板表面と平行な方向
に引張り歪みを受け、引張り(tension )領域tを形成
する。
【0027】一方、AlGaAs/GaAs量子井戸又
は超格子構造32は、歪みを受けずに真性領域iを形成
する。ここで、GaAsP31の層厚をその臨界膜厚よ
り充分薄く選んであるため、歪みの緩和によるミスフィ
ット転位が発生せず、GaAsP31が弾性的に一様に
歪んだ歪み層となっている。
は超格子構造32は、歪みを受けずに真性領域iを形成
する。ここで、GaAsP31の層厚をその臨界膜厚よ
り充分薄く選んであるため、歪みの緩和によるミスフィ
ット転位が発生せず、GaAsP31が弾性的に一様に
歪んだ歪み層となっている。
【0028】本実施例は、上記のt−i構造を単独で又
は何度も繰り返したt−i−t−i周期構造を用いるこ
とを特徴とする。図5は、図4の量子構造に対応するエ
ネルギーバンド図である。前記[作用]の項で詳しく説
明したように、層に平行な方向に引張り歪みが生じるた
め、圧電効果により、結晶表面から基板に向かう内部電
界が、AlGaAs/GaAs量子井戸又は超格子構造
32に印加されることになる。この内部電界の印加によ
り、エネルギーバンド構造は、熱平衡(光照射なし)状
態では図5(a)に示すように大きく傾く。量子閉じ込
めシュタルク効果により、量子井戸又は超格子構造32
における励起子吸収ピークは、内部電界の無い場合に比
べて長波長側へレッドシフトする。
は何度も繰り返したt−i−t−i周期構造を用いるこ
とを特徴とする。図5は、図4の量子構造に対応するエ
ネルギーバンド図である。前記[作用]の項で詳しく説
明したように、層に平行な方向に引張り歪みが生じるた
め、圧電効果により、結晶表面から基板に向かう内部電
界が、AlGaAs/GaAs量子井戸又は超格子構造
32に印加されることになる。この内部電界の印加によ
り、エネルギーバンド構造は、熱平衡(光照射なし)状
態では図5(a)に示すように大きく傾く。量子閉じ込
めシュタルク効果により、量子井戸又は超格子構造32
における励起子吸収ピークは、内部電界の無い場合に比
べて長波長側へレッドシフトする。
【0029】ところが、上記のt−i又はt−i−t−
iのような周期を持つ量子構造に光を照射すると、量子
井戸又は超格子構造32より励起された電子及び正孔
は、内部電界によって分離されGaAsP31に蓄積さ
れてゆく。これは内部電界を低下させることになり、従
ってエネルギーバンド構造の傾きは、図5(b)に示す
ように小さくなる。その結果、量子井戸又は超格子構造
32における励起子吸収ピークは、光を照射しない場合
に比べて短波長側へブルーシフトする。このブルーシフ
トにより、吸収係数そして屈折率に大きな変化をもたら
す。
iのような周期を持つ量子構造に光を照射すると、量子
井戸又は超格子構造32より励起された電子及び正孔
は、内部電界によって分離されGaAsP31に蓄積さ
れてゆく。これは内部電界を低下させることになり、従
ってエネルギーバンド構造の傾きは、図5(b)に示す
ように小さくなる。その結果、量子井戸又は超格子構造
32における励起子吸収ピークは、光を照射しない場合
に比べて短波長側へブルーシフトする。このブルーシフ
トにより、吸収係数そして屈折率に大きな変化をもたら
す。
【0030】本実施例のt−i−t−i量子構造は、第
1の実施例のc−i−c−i又は第2の実施例のi−c
−i−c量子構造と比較して、内部電界の方向及びエネ
ルギーバンド構造の傾きが正反対する以外、機能上はよ
く似ていることが明らかである。従って、t−i−t−
i量子構造は、c−i−c−i又はi−c−i−c量子
構造と同様に、例えば光スイッチに応用した場合に、外
部電界の印加による屈折率の変化が大きいため、オン・
オフ状態における透過光の強度比は、従来のn−i−p
−i構造に比べて遥かに高い。特に内部電界を形成する
のに、ドーピングプロセスが不要であるため、p型ドー
ピングのできないGaNのようなワイドバンドギャップ
を有する半導体材料でも、本実施例のt−i−t−i量
子構造に応用することができる。 (実施例4)図6は、本発明の第4の実施例に係わる
[111]方向の引張り歪み層を含む量子構造を示す模
式図である。面方位が(111)BのGaAs基板40
の上に、格子定数がGaAsと整合するAlGaAs及
びGaAsからなるAlGaAs/GaAs量子井戸又
は超格子構造41と、格子定数がGaAsより小さいG
aAsP(引張り歪み層)42とを順次交互に積層させ
る。このとき、AlGaAs/GaAs量子井戸又は超
格子構造41は、歪みを受けずに真性領域iを形成す
る。
1の実施例のc−i−c−i又は第2の実施例のi−c
−i−c量子構造と比較して、内部電界の方向及びエネ
ルギーバンド構造の傾きが正反対する以外、機能上はよ
く似ていることが明らかである。従って、t−i−t−
i量子構造は、c−i−c−i又はi−c−i−c量子
構造と同様に、例えば光スイッチに応用した場合に、外
部電界の印加による屈折率の変化が大きいため、オン・
オフ状態における透過光の強度比は、従来のn−i−p
−i構造に比べて遥かに高い。特に内部電界を形成する
のに、ドーピングプロセスが不要であるため、p型ドー
ピングのできないGaNのようなワイドバンドギャップ
を有する半導体材料でも、本実施例のt−i−t−i量
子構造に応用することができる。 (実施例4)図6は、本発明の第4の実施例に係わる
[111]方向の引張り歪み層を含む量子構造を示す模
式図である。面方位が(111)BのGaAs基板40
の上に、格子定数がGaAsと整合するAlGaAs及
びGaAsからなるAlGaAs/GaAs量子井戸又
は超格子構造41と、格子定数がGaAsより小さいG
aAsP(引張り歪み層)42とを順次交互に積層させ
る。このとき、AlGaAs/GaAs量子井戸又は超
格子構造41は、歪みを受けずに真性領域iを形成す
る。
【0031】一方、GaAsP42は、基板表面と平行
な方向に引張り歪みを受け、引張り領域tを形成する。
ここで、GaAsP42の層厚をその臨界膜厚より充分
薄く選んであるため、歪みの緩和によるミスフィット転
位が発生せず、GaAsP42が弾性的に一様に歪んだ
歪み層となっている。
な方向に引張り歪みを受け、引張り領域tを形成する。
ここで、GaAsP42の層厚をその臨界膜厚より充分
薄く選んであるため、歪みの緩和によるミスフィット転
位が発生せず、GaAsP42が弾性的に一様に歪んだ
歪み層となっている。
【0032】本実施例は、上記のようなt−i構造を単
独で、又は何度も繰り返したi−t−i−t周期構造を
用いることを特徴とする。図6のi−t−i−t量子構
造に対応するエネルギーバンド図は、第3の実施例のt
−i−t−i量子構造におけるエネルギーバンド図(図
5)とよく似ていることが、前記[作用]の項で述べた
原理から明らかである。従って、本実施例のi−t−i
−t量子構造は、第1,2,3実施例のc−i−c−
i,i−c−i−c又はt−i−t−i量子構造におけ
る全てのデバイスに応用することができるわけであり、
動作の原理も第3の実施例のt−i−t−i量子構造と
全く同じである。 (実施例5)図7は、本発明の第5の実施例に係わる
[111]方向の圧縮歪み層と引張り歪み層両方を含む
量子構造を示す模式図である。面方位が(111)Bの
GaAs基板50の上に、格子定数がGaAsより大き
いInGaAs(圧縮歪み層)51、格子定数がGaA
s基板と整合するAlGaAs及びGaAsからなるA
lGaAs/GaAs量子井戸又は超格子構造52、I
nGaAs51、格子定数がGaAsより小さいGaA
sP(引張り歪み層)53、量子井戸又は超格子構造5
2、GaAsP53を順次交互に積層させる。このと
き、基板表面と平行な方向に、InGaAs51は圧縮
歪みを受けて圧縮領域cを形成し、GaAsP53は引
張り歪みを受けて引張り領域tを形成する。
独で、又は何度も繰り返したi−t−i−t周期構造を
用いることを特徴とする。図6のi−t−i−t量子構
造に対応するエネルギーバンド図は、第3の実施例のt
−i−t−i量子構造におけるエネルギーバンド図(図
5)とよく似ていることが、前記[作用]の項で述べた
原理から明らかである。従って、本実施例のi−t−i
−t量子構造は、第1,2,3実施例のc−i−c−
i,i−c−i−c又はt−i−t−i量子構造におけ
る全てのデバイスに応用することができるわけであり、
動作の原理も第3の実施例のt−i−t−i量子構造と
全く同じである。 (実施例5)図7は、本発明の第5の実施例に係わる
[111]方向の圧縮歪み層と引張り歪み層両方を含む
量子構造を示す模式図である。面方位が(111)Bの
GaAs基板50の上に、格子定数がGaAsより大き
いInGaAs(圧縮歪み層)51、格子定数がGaA
s基板と整合するAlGaAs及びGaAsからなるA
lGaAs/GaAs量子井戸又は超格子構造52、I
nGaAs51、格子定数がGaAsより小さいGaA
sP(引張り歪み層)53、量子井戸又は超格子構造5
2、GaAsP53を順次交互に積層させる。このと
き、基板表面と平行な方向に、InGaAs51は圧縮
歪みを受けて圧縮領域cを形成し、GaAsP53は引
張り歪みを受けて引張り領域tを形成する。
【0033】一方、AlGaAs/GaAs量子井戸又
は超格子構造52は、歪みを受けずに真性領域iを形成
する。ここで、InGaAs51及びGaAsP53の
層厚は、それぞれの臨界膜厚より充分薄く選んであるた
め、歪みの緩和によるミスフィット転位が発生せず、I
nGaAs51及びGaAsP53が弾性的に一様に歪
んだ歪み層となっている。
は超格子構造52は、歪みを受けずに真性領域iを形成
する。ここで、InGaAs51及びGaAsP53の
層厚は、それぞれの臨界膜厚より充分薄く選んであるた
め、歪みの緩和によるミスフィット転位が発生せず、I
nGaAs51及びGaAsP53が弾性的に一様に歪
んだ歪み層となっている。
【0034】本実施例は、上記のようなc−i−c−t
−i−t量子構造を単独で又は何度も繰り返した周期構
造を用いることを特徴とする。図8は、図7のc−i−
c−t−i−t量子構造に対応するエネルギーバンド図
である。前記[作用]の項で説明したように、主面が
(111)BのGaAs基板50上にGaAsより格子
定数の大きいInGaAs51を積層した場合、層に平
行な方向に圧縮歪みが生じるため圧電効果により、Ga
As基板50から結晶表面に向かう内部電界がInGa
As51に挟まれるAlGaAs/GaAs量子井戸又
は超格子構造52に印加されることになる。同じよう
に、逆方向の内部電界が引張り歪みを有するGaAsP
53に挟まれるAlGaAs/GaAs量子井戸又は超
格子構造52に印加されることになる。
−i−t量子構造を単独で又は何度も繰り返した周期構
造を用いることを特徴とする。図8は、図7のc−i−
c−t−i−t量子構造に対応するエネルギーバンド図
である。前記[作用]の項で説明したように、主面が
(111)BのGaAs基板50上にGaAsより格子
定数の大きいInGaAs51を積層した場合、層に平
行な方向に圧縮歪みが生じるため圧電効果により、Ga
As基板50から結晶表面に向かう内部電界がInGa
As51に挟まれるAlGaAs/GaAs量子井戸又
は超格子構造52に印加されることになる。同じよう
に、逆方向の内部電界が引張り歪みを有するGaAsP
53に挟まれるAlGaAs/GaAs量子井戸又は超
格子構造52に印加されることになる。
【0035】これら内部電界の印加によりエネルギーバ
ンド構造は、熱平衡(光照射なし)状態では図8(a)
に示すように大きく曲がってしまう。量子閉じ込めシュ
タルク効果により、量子井戸又は超格子構造における励
起子吸収ピークは、内部電界のない場合に比べて長波長
側へレッドシフトする。
ンド構造は、熱平衡(光照射なし)状態では図8(a)
に示すように大きく曲がってしまう。量子閉じ込めシュ
タルク効果により、量子井戸又は超格子構造における励
起子吸収ピークは、内部電界のない場合に比べて長波長
側へレッドシフトする。
【0036】ところが、上記c−i−c−t−i−t量
子構造に光を照射すると、量子井戸又は超格子構造52
における励起された電子及び正孔は、内部電界によって
分離され、歪み層となるInGaAs51及びGaAs
P53に蓄積されてゆく。これはかえって、内部電界を
低下させてしまう。従って、エネルギーバンド構造は図
8(b)に示すように比較的に平らになる。その結果、
量子井戸又は超格子構造52における励起子吸収ピーク
は、光を照射しない場合に比べて短波長側へブルーシフ
トする。このブルーシフトにより、吸収係数そして屈折
率に大きな変化をもたらす。
子構造に光を照射すると、量子井戸又は超格子構造52
における励起された電子及び正孔は、内部電界によって
分離され、歪み層となるInGaAs51及びGaAs
P53に蓄積されてゆく。これはかえって、内部電界を
低下させてしまう。従って、エネルギーバンド構造は図
8(b)に示すように比較的に平らになる。その結果、
量子井戸又は超格子構造52における励起子吸収ピーク
は、光を照射しない場合に比べて短波長側へブルーシフ
トする。このブルーシフトにより、吸収係数そして屈折
率に大きな変化をもたらす。
【0037】これを利用して本実施例では、第1〜4実
施例の量子構造と同様に、新規な非線形光学素子、例え
ば光スイッチや光変調器,光メモリ等を作製することが
できる。
施例の量子構造と同様に、新規な非線形光学素子、例え
ば光スイッチや光変調器,光メモリ等を作製することが
できる。
【0038】図7,8を図13,14と比べて本実施例
のc−i−c−t−i−t量子構造は、構成上はもとよ
り、動作機構(内部電界の形成機構)上も、従来のn−
i−p−i構造と全く異なることが明らかである。唯一
共通しているところは、真性領域となる量子井戸又は超
格子構造に内部電界が印加されていると言うことであ
る。
のc−i−c−t−i−t量子構造は、構成上はもとよ
り、動作機構(内部電界の形成機構)上も、従来のn−
i−p−i構造と全く異なることが明らかである。唯一
共通しているところは、真性領域となる量子井戸又は超
格子構造に内部電界が印加されていると言うことであ
る。
【0039】前記[問題点]項で説明したように、従来
のn−i−p−i構造では、ドーピングプロセス上の制
限により、内部電界の大きさが小さく、実用レベルまで
に到達することが極めて困難である。特に、GaNのよ
うな非常に重要な青色発光材料は、p型ドーピングがで
きないため、n−i−p−i構造を形成することが不可
能である。
のn−i−p−i構造では、ドーピングプロセス上の制
限により、内部電界の大きさが小さく、実用レベルまで
に到達することが極めて困難である。特に、GaNのよ
うな非常に重要な青色発光材料は、p型ドーピングがで
きないため、n−i−p−i構造を形成することが不可
能である。
【0040】これに対して、本実施例のc−i−c−t
−i−t量子構造においては、内部電界を形成するの
に、ドーピングプロセスは全く不要になったため、ドー
ピングに伴う全ての制限が存在しない。しかも、内部電
界の大きさ及び方向は、格子の不整合による歪みの大き
さ及び方向を変えることにより、必要に応じて自由自在
に制御することができる。
−i−t量子構造においては、内部電界を形成するの
に、ドーピングプロセスは全く不要になったため、ドー
ピングに伴う全ての制限が存在しない。しかも、内部電
界の大きさ及び方向は、格子の不整合による歪みの大き
さ及び方向を変えることにより、必要に応じて自由自在
に制御することができる。
【0041】例えばGaAs−(111)B基板上に、
GaAsPを積層した場合に、僅か1%の格子不整合
(歪み)であっても、内部電界の大きさは約2×105
V/cmと、従来のn−i−p−i構造より10倍以上
も大きい。特に、GaNのような半導体材料は本発明の
c−i−c−t−i−t量子構造に応用できることが言
うまでもない。さらに、技術的に成熟している格子整合
系のAlGaAs/GaAs量子井戸又は超格子構造を
フル活用できるため、デバイスの作製は比較的に容易に
行えることが期待できる。
GaAsPを積層した場合に、僅か1%の格子不整合
(歪み)であっても、内部電界の大きさは約2×105
V/cmと、従来のn−i−p−i構造より10倍以上
も大きい。特に、GaNのような半導体材料は本発明の
c−i−c−t−i−t量子構造に応用できることが言
うまでもない。さらに、技術的に成熟している格子整合
系のAlGaAs/GaAs量子井戸又は超格子構造を
フル活用できるため、デバイスの作製は比較的に容易に
行えることが期待できる。
【0042】また、本実施例のc−i−c−t−i−t
量子構造には方向が正反対の2種類の内部電界が存在す
るため、第1〜4の実施例(内部電界の方向は1つしか
ない)の量子構造で考えられない新規な非線形光学素子
(詳細は第7実施例を参照)を実現することが可能とな
る。 (実施例6)図9は、本発明の第6の実施例に係わる
[111]方向の圧縮歪み層と引張り歪み層両方を含む
量子構造を示す模式図である。面方位が(111)Bの
GaAs基板60の上に、格子定数がGaAsより小さ
いGaAsP(引張り歪み層)61、格子定数がGaA
s基板と整合するAlGaAs及びGaAsからなるA
lGaAs/GaAs量子井戸又は超格子構造62、G
aAsP61、格子定数がGaAsより大きいInGa
As(圧縮歪み層)63、量子井戸又は超格子構造6
2、InGaAs63を順次交互に積層させる。このと
き、基板表面と平行な方向に、GaAsP61は引張り
歪みを受けて引張り領域tを形成し、InGaAs63
は圧縮歪みを受けて圧縮領域cを形成する。
量子構造には方向が正反対の2種類の内部電界が存在す
るため、第1〜4の実施例(内部電界の方向は1つしか
ない)の量子構造で考えられない新規な非線形光学素子
(詳細は第7実施例を参照)を実現することが可能とな
る。 (実施例6)図9は、本発明の第6の実施例に係わる
[111]方向の圧縮歪み層と引張り歪み層両方を含む
量子構造を示す模式図である。面方位が(111)Bの
GaAs基板60の上に、格子定数がGaAsより小さ
いGaAsP(引張り歪み層)61、格子定数がGaA
s基板と整合するAlGaAs及びGaAsからなるA
lGaAs/GaAs量子井戸又は超格子構造62、G
aAsP61、格子定数がGaAsより大きいInGa
As(圧縮歪み層)63、量子井戸又は超格子構造6
2、InGaAs63を順次交互に積層させる。このと
き、基板表面と平行な方向に、GaAsP61は引張り
歪みを受けて引張り領域tを形成し、InGaAs63
は圧縮歪みを受けて圧縮領域cを形成する。
【0043】一方、AlGaAs/GaAs量子井戸又
は超格子構造62は、歪みを受けずに真性(intrinsic
)領域iを形成する。ここで、GaAsP61及びI
nGaAs63の層厚は、それぞれの臨界膜厚より充分
薄く選んであるため、歪みの緩和によるミスフィット転
位が発生せず、GaAsP61及びInGaAs63が
弾性的に一様に歪んだ歪み層となっている。
は超格子構造62は、歪みを受けずに真性(intrinsic
)領域iを形成する。ここで、GaAsP61及びI
nGaAs63の層厚は、それぞれの臨界膜厚より充分
薄く選んであるため、歪みの緩和によるミスフィット転
位が発生せず、GaAsP61及びInGaAs63が
弾性的に一様に歪んだ歪み層となっている。
【0044】本実施例は、上記のt−i−t−c−i−
c量子構造を単独で又は何度も繰り返した周期構造を用
いることを特徴とする。図9のt−i−t−c−i−c
量子構造に対応するエネルギーバンド図は、第5の実施
例のc−i−c−t−i−t量子構造におけるエネルギ
ーバンド図(図8)とよく似ていることが、前記[作
用]の項で述べた原理から明らかである。従って、本実
施例のt−i−t−c−i−c量子構造は、第1〜5実
施例の各量子構造における全てのデバイスに応用するこ
とができるわけであり、動作の原理も第5の実施例のc
−i−c−t−i−t量子構造と全く同じである。 (実施例7)図10は、第5,6の実施例の歪み量子構
造のいずれかを含む本発明の第7の実施例に係わる光ス
イッチの構成を示す図である。n型GaAs(111)
基板の上にnグリッド層(n領域)72を成長し、その
上に第5,6の実施例の量子構造のいずれか(量子構造
71)を成長し、さらにその上にpグリッド層(p領
域)73を成長した構造である。そして、n領域72、
p領域73間に外部矩形電界が印加されるものとなって
いる。
c量子構造を単独で又は何度も繰り返した周期構造を用
いることを特徴とする。図9のt−i−t−c−i−c
量子構造に対応するエネルギーバンド図は、第5の実施
例のc−i−c−t−i−t量子構造におけるエネルギ
ーバンド図(図8)とよく似ていることが、前記[作
用]の項で述べた原理から明らかである。従って、本実
施例のt−i−t−c−i−c量子構造は、第1〜5実
施例の各量子構造における全てのデバイスに応用するこ
とができるわけであり、動作の原理も第5の実施例のc
−i−c−t−i−t量子構造と全く同じである。 (実施例7)図10は、第5,6の実施例の歪み量子構
造のいずれかを含む本発明の第7の実施例に係わる光ス
イッチの構成を示す図である。n型GaAs(111)
基板の上にnグリッド層(n領域)72を成長し、その
上に第5,6の実施例の量子構造のいずれか(量子構造
71)を成長し、さらにその上にpグリッド層(p領
域)73を成長した構造である。そして、n領域72、
p領域73間に外部矩形電界が印加されるものとなって
いる。
【0045】第5,6実施例で述べたように、c−i−
c−t−i−t又はt−i−t−c−i−c歪み量子構
造を用いる場合、格子不整合による圧電効果によって方
向の正反対の2種類の内部電界が、i領域となるAlG
aAs/GaAs量子井戸又は超格子構造に印加される
ことになる。仮に、図10の量子構造に入射される光の
波長が、外部電界E=0の時の励起子遷移における吸収
ピークと一致するとする。
c−t−i−t又はt−i−t−c−i−c歪み量子構
造を用いる場合、格子不整合による圧電効果によって方
向の正反対の2種類の内部電界が、i領域となるAlG
aAs/GaAs量子井戸又は超格子構造に印加される
ことになる。仮に、図10の量子構造に入射される光の
波長が、外部電界E=0の時の励起子遷移における吸収
ピークと一致するとする。
【0046】量子構造にE≠0の外部電界を印加する
と、量子井戸にある外部電界と同方向の内部電界がさら
に増強されるため、それが印加される量子井戸における
励起子吸収ピークは、図11中のAに示すように長波長
側へレッドシフトする。一方、量子井戸にある外部電界
と逆方向の内部電界が若干低下されるため、それが印加
される量子井戸における励起子吸収ピークは、図11中
のBに示すように短波長側へブルーシフトする。
と、量子井戸にある外部電界と同方向の内部電界がさら
に増強されるため、それが印加される量子井戸における
励起子吸収ピークは、図11中のAに示すように長波長
側へレッドシフトする。一方、量子井戸にある外部電界
と逆方向の内部電界が若干低下されるため、それが印加
される量子井戸における励起子吸収ピークは、図11中
のBに示すように短波長側へブルーシフトする。
【0047】その結果、E=0の時に殆ど吸収された
(量子構造に透過せず)入射光は、E≠0の外部電界の
印加により、(吸収係数が低下されるため)ほぼ吸収無
しの状態で、量子構造を透過できるようになる。
(量子構造に透過せず)入射光は、E≠0の外部電界の
印加により、(吸収係数が低下されるため)ほぼ吸収無
しの状態で、量子構造を透過できるようになる。
【0048】図12は、(+)の矩形外部電界が、量子
構造に印加される場合((−)の矩形外部電界でも同
様)の光スイッチング特性を示す。(a)は入力パワー
Pin、(b)は出力パワーPout 、(c)は矩形外部印
加電界Eを示している。この図より明らかなように、波
長がλ、入力パワーがPin(一定)の入射光に対して、
出力パワーPout が矩形外部印加電界Eによって、高い
消光比を有する矩形状に変調されてゆく。つまり、本実
施例の光スイッチにおける効率が極めて高いわけであ
る。
構造に印加される場合((−)の矩形外部電界でも同
様)の光スイッチング特性を示す。(a)は入力パワー
Pin、(b)は出力パワーPout 、(c)は矩形外部印
加電界Eを示している。この図より明らかなように、波
長がλ、入力パワーがPin(一定)の入射光に対して、
出力パワーPout が矩形外部印加電界Eによって、高い
消光比を有する矩形状に変調されてゆく。つまり、本実
施例の光スイッチにおける効率が極めて高いわけであ
る。
【0049】なお、本発明は上述した各実施例に限定さ
れるものではない。実施例では、主にGaAs(11
1)B基板,InGaAs,GaAsP及びAlGaA
s/GaAs量子井戸の場合について具体的に述べた
が、材料系としてはこれらに限られることはなく、Zinc
-blendタイプの全てのIII −V族半導体(111)面上
に形成される圧縮歪み層,引張り歪み層又はその組み合
わせ及び基板と格子整合する量子井戸又は超格子構造を
含む全ての半導体量子井戸光学素子に、本発明を適用す
ることができる。
れるものではない。実施例では、主にGaAs(11
1)B基板,InGaAs,GaAsP及びAlGaA
s/GaAs量子井戸の場合について具体的に述べた
が、材料系としてはこれらに限られることはなく、Zinc
-blendタイプの全てのIII −V族半導体(111)面上
に形成される圧縮歪み層,引張り歪み層又はその組み合
わせ及び基板と格子整合する量子井戸又は超格子構造を
含む全ての半導体量子井戸光学素子に、本発明を適用す
ることができる。
【0050】また、真性領域iに、基板と格子整合する
量子井戸又は超格子構造ではなく、本発明者らの2つの
特許(特願平4−225770号。特願平4−3281
55号)に述べるような基板と格子非整合する、つまり
歪み量子井戸構造を取り入れることもできる。さらに、
GaAs(111)B基板に代えて、GaAs(11
1)A基板を用いてもよい。この場合、発生する内部電
場の向きが逆になるが、GaAs(111)B基板と同
様の効果を生じることは明らかである。その他、本発明
の要旨を逸脱しない範囲で、種々変形して実施すること
ができる。
量子井戸又は超格子構造ではなく、本発明者らの2つの
特許(特願平4−225770号。特願平4−3281
55号)に述べるような基板と格子非整合する、つまり
歪み量子井戸構造を取り入れることもできる。さらに、
GaAs(111)B基板に代えて、GaAs(11
1)A基板を用いてもよい。この場合、発生する内部電
場の向きが逆になるが、GaAs(111)B基板と同
様の効果を生じることは明らかである。その他、本発明
の要旨を逸脱しない範囲で、種々変形して実施すること
ができる。
【0051】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、基
板とは格子定数の異なる化合物半導体と、基板の格子定
数と等しい二種類の化合物半導体からなる量子井戸又は
超格子構造とを交互に積層することにより、自由に制御
できる強い内部電界を有する半導体量子井戸構造を実現
することができるため、ブルーシフトの光吸収特性を保
ちながら、できるだけ大きな光非線形効果を有するよう
な歪み量子井戸構造の半導体量子井戸光学素子を実現す
ることが可能となる。
板とは格子定数の異なる化合物半導体と、基板の格子定
数と等しい二種類の化合物半導体からなる量子井戸又は
超格子構造とを交互に積層することにより、自由に制御
できる強い内部電界を有する半導体量子井戸構造を実現
することができるため、ブルーシフトの光吸収特性を保
ちながら、できるだけ大きな光非線形効果を有するよう
な歪み量子井戸構造の半導体量子井戸光学素子を実現す
ることが可能となる。
【図1】第1の実施例に係わる[111]方向の圧縮歪
み層を含む量子構造を示す模式図。
み層を含む量子構造を示す模式図。
【図2】図1のc−i−c−i量子構造に対応するエネ
ルギーバンド図。
ルギーバンド図。
【図3】第2の実施例に係わる[111]方向の圧縮歪
み層を含む量子構造を示す模式図。
み層を含む量子構造を示す模式図。
【図4】第3の実施例に係わる[111]方向の圧縮歪
み層を含む量子構造を示す模式図。
み層を含む量子構造を示す模式図。
【図5】図4のt−i−t−i量子構造に対応するエネ
ルギーバンド図。
ルギーバンド図。
【図6】第4の実施例に係わる[111]方向の引張り
歪み層を含む量子構造を示す模式図。
歪み層を含む量子構造を示す模式図。
【図7】第5の実施例に係わる[111]方向の圧縮歪
み層と引張り歪み層の両方を含む量子構造を示す模式
図。
み層と引張り歪み層の両方を含む量子構造を示す模式
図。
【図8】図7のc−i−c−t−i−t量子構造に対応
するエネルギーバンド図。
するエネルギーバンド図。
【図9】第6の実施例に係わる[111]方向の圧縮歪
み層と引張り歪み層の両方を含む量子構造を示す模式
図。
み層と引張り歪み層の両方を含む量子構造を示す模式
図。
【図10】歪み量子構造を含む第7の実施例に係わる光
スイッチの構成を示す模式図。
スイッチの構成を示す模式図。
【図11】図10の光スイッチの動作原理図。
【図12】図10の光スイッチにおけるスイッチング特
性図。
性図。
【図13】従来の半導体量子井戸光学素子の構造を示す
模式図。
模式図。
【図14】図13のn−i−p−i構造に対応するエネ
ルギーバンド図。
ルギーバンド図。
10,20,30,40,50,60…GaAs(11
1)B基板 11,22,51,63…InGaAs圧縮歪み層 12,21,32,41,52,62…AlGaAs/
GaAs量子井戸構造 31,42,53,61…GaAsP引張り歪み層 71…歪み量子構造部 72…n型化合物半導体領域 73…p型化合物半導体領域
1)B基板 11,22,51,63…InGaAs圧縮歪み層 12,21,32,41,52,62…AlGaAs/
GaAs量子井戸構造 31,42,53,61…GaAsP引張り歪み層 71…歪み量子構造部 72…n型化合物半導体領域 73…p型化合物半導体領域
Claims (1)
- 【請求項1】半導体量子井戸又は超格子構造を利用した
半導体量子井戸光学素子において、 主面が(111)面の化合物半導体基板上に、基板とは
格子定数の異なる化合物半導体と、基板の格子定数と等
しい二種類の化合物半導体からなる量子井戸又は超格子
構造とを、交互に積層してなることを特徴とする半導体
量子井戸光学素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18806393A JPH0743757A (ja) | 1993-07-29 | 1993-07-29 | 半導体量子井戸光学素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18806393A JPH0743757A (ja) | 1993-07-29 | 1993-07-29 | 半導体量子井戸光学素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0743757A true JPH0743757A (ja) | 1995-02-14 |
Family
ID=16217055
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18806393A Withdrawn JPH0743757A (ja) | 1993-07-29 | 1993-07-29 | 半導体量子井戸光学素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0743757A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09292640A (ja) * | 1996-04-24 | 1997-11-11 | Atr Kodenpa Tsushin Kenkyusho:Kk | 全光型半導体画像記憶装置とその画像記憶及び消去方法、及び全光型半導体論理演算装置とその論理演算方法 |
| JP2013502604A (ja) * | 2009-08-05 | 2013-01-24 | デンマークス テクニスク ユニヴェルジテイト | ワイヤレス無線周波数信号を用いた光信号の符号化 |
-
1993
- 1993-07-29 JP JP18806393A patent/JPH0743757A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09292640A (ja) * | 1996-04-24 | 1997-11-11 | Atr Kodenpa Tsushin Kenkyusho:Kk | 全光型半導体画像記憶装置とその画像記憶及び消去方法、及び全光型半導体論理演算装置とその論理演算方法 |
| JP2013502604A (ja) * | 2009-08-05 | 2013-01-24 | デンマークス テクニスク ユニヴェルジテイト | ワイヤレス無線周波数信号を用いた光信号の符号化 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20001003 |