JPH07311203A - Vacuum suction method for test piece and vacuum suction circuit device thereof - Google Patents
Vacuum suction method for test piece and vacuum suction circuit device thereofInfo
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 試験片ボトルに収納されている試験片のスト
リップに反りが発生した試験片であっても、試験片ボト
ルから１本ずつ試験片を確実に取り出し、試料容器の液
体試料に浸漬後、過剰液を吸引する一連の工程を真空吸
引回路装置で処理する。
【構成】 ボトル吸着機構、ピックアップ機構、表裏判
別機構、表裏反転機構、ターンテーブル機構のそれぞれ
に設けられた吸引孔ＯＰ１〜ＯＰ５をマニホールドＭ
１，Ｍ２および開閉弁を介して真空ポンプＰ１と選択的
に接続するエアー管路を設ける。エアー管路内に圧力セ
ンサーＳ１を設け、開閉弁の選択的操作および圧力セン
サーＳ１の出力に基づいて、試験片を１本ずつ取り出
し、試験片の表裏を判別し、液体試料に試験片を浸漬
後、過剰液を吸引する一連の工程を処理し得る構成とし
た。
(57) [Summary] (Corrected) [Purpose] Even if the strips of the test strips stored in the test strips are warped, the test strips can be taken out one by one from the bottle. After being immersed in the liquid sample in the sample container, a series of steps for sucking the excess liquid is processed by the vacuum suction circuit device. [Structure] The suction holes OP1 to OP5 provided in each of the bottle suction mechanism, the pickup mechanism, the front and back discriminating mechanism, the front and back reversing mechanism, and the turntable mechanism are connected to the manifold M
An air pipe line is provided which is selectively connected to the vacuum pump P1 via 1, M2 and an on-off valve. A pressure sensor S1 is provided in the air pipe, and the test pieces are taken out one by one based on the selective operation of the opening / closing valve and the output of the pressure sensor S1, the front and back of the test piece are discriminated, and the test piece is immersed in the liquid sample. After that, a series of steps for sucking the excess liquid was processed.
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は例えば医療用の諸検査、
液体試料を分析するための検査に使用する数個の試験パ
ッドを有する試験片の取り出し、液体試料への浸漬、測
光、演算、廃棄等全てを自動で行なう連続自動液体試料
分析装置に関し、試験片ボトルに収納されている試験片
のストリップに反りが発生した試験片であっても、試験
片ボトルから１本の試験片を確実に取り出し、分析装置
に移送し、さらに（真空吸引の対象物が、例えば、尿、
血液等の液体試料中に浸漬される試験片であるため）エ
アー管路に発生する異常を検出する等の一連の工程を、
真空吸引方式を使用して処理することのできる連続自動
液体試料分析装置の真空吸引方法およびその真空吸引回
路装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to medical examinations,
Concerning a continuous automatic liquid sample analyzer that automatically takes out a test piece having several test pads used for inspection for analyzing a liquid sample, dips in the liquid sample, photometry, calculation, disposal, etc. Even if the strip of the test piece stored in the bottle is warped, one test piece is surely taken out from the test piece bottle, transferred to the analyzer, and further (the target of vacuum suction is , For example, urine,
Since it is a test piece that is immersed in a liquid sample such as blood, a series of steps such as detecting an abnormality that occurs in the air pipe,
The present invention relates to a vacuum suction method and a vacuum suction circuit device of a continuous automatic liquid sample analyzer which can be processed using a vacuum suction method.
【０００２】一般的に知られた尿診断法において尿のｐ
Ｈ、蛋白質、ぶどう糖、ケトン体（アセト酢酸）、ピリ
ルビン、潜血、亜硝酸塩、ウロビリノーゲン、比重およ
び白血球を測定するために、いわゆるマルチプル尿試験
片を用いることができる。この種の試験片は特定の諸検
査を行なうのに適した諸試薬が用いられている、数個の
試験パッドを有している。In the commonly known urine diagnostic method, urine p
So-called multiple urine test strips can be used to measure H, protein, glucose, ketone bodies (acetoacetic acid), pyrilvin, occult blood, nitrite, urobilinogen, specific gravity and white blood cells. Test strips of this type have several test pads in which reagents suitable for carrying out specific tests are used.
【０００３】現在、血液や尿等の液体試料分析に最も多
く用いられる試験片１は、第１６図に示すように透明ま
たは不透明プラスチック製ストリップ２の一方の端から
試験パッド３を設け他端部を把持部４とするものであ
る。試験パッド３は測定項目数に応じた個数だけ設けら
れ、試験パッド３として各種の試薬を含浸させた濾紙の
小片を両面粘着テープで貼着したものであるが、その他
試薬を基材５とともに付着させてフィルム化したものも
ある。At present, the test piece 1 most often used for analyzing liquid samples such as blood and urine is provided with a test pad 3 from one end of a transparent or opaque plastic strip 2 as shown in FIG. Is used as the grip portion 4. The test pads 3 are provided in a number corresponding to the number of measurement items, and small pieces of filter paper impregnated with various reagents as the test pads 3 are attached with a double-sided adhesive tape, but other reagents are attached together with the base material 5. Some are made into a film.
【０００４】[0004]
【従来技術】このような試験片を自動的に取り扱う分析
装置として、日本国公開特許公報特開昭６１−９１５７
１号記載の装置がある。この自動分析装置においては、
試験片供給装置としてスライドベース方式が採用されて
いる。このスライドベース方式は、試験片供給装置にお
いてホッパー内に試験片を投入し、ホッパー底部をスラ
イドさせ、試験片の有無、試験片の表裏判別を光センサ
ーまたは近接センサーで行い、また試験片の表裏反転を
レバーで行い、試験片をホッパー外へ移動させ、過剰尿
除去工程を経ることなく、測光するものである。2. Description of the Related Art As an analyzer for automatically handling such test pieces, Japanese Patent Laid-Open Publication No. 61-9157.
There is a device described in No. 1. In this automatic analyzer,
The slide base system is used as the test piece supply device. In this slide-based method, the test piece is fed into the hopper in the test piece supply device, the bottom of the hopper is slid, and the presence or absence of the test piece and the front and back of the test piece are determined by an optical sensor or a proximity sensor. Inversion is performed with a lever to move the test piece out of the hopper, and photometry is performed without passing through the excess urine removal step.
【０００５】[0005]
【発明が解決しようとする課題】真空吸引の対象物が、
例えば、尿、血液等の液体試料中に浸漬される試験片で
あるため、エアー管路の異常を起こし易い。更に、試験
片のストリップは直線的なものばかりではなく、ボーイ
ングといわれる反りが発生した試験片が複数個含まれて
おり、上記スライドベース方式では、ボーイングのある
試験片をスライドさせ、ホッパー外へ移動させることが
困難である。An object of vacuum suction is
For example, since the test piece is immersed in a liquid sample such as urine or blood, an abnormality in the air duct is likely to occur. Further, the strip of the test piece is not only a straight strip, but also includes a plurality of test pieces with warpage called bowing.In the slide base method, the test piece with bowing is slid to the outside of the hopper. It is difficult to move.
【０００６】本発明の目的は、真空吸引方式に起因する
前記詰まりの問題点を解決することと、試験片ボトルに
収納されている試験片のストリップに反りが発生した試
験片であっても、真空吸引方式を採用することにより、
試験片ボトルから１本の試験片を確実に取り出すため
に、試験片が試験片吸着機構またはピックアップ機構の
吸引孔に吸着しているかを判別でき、１本の試験片を吸
着保持しながら取り出し、試験片の表裏を判別し、試験
片の表裏が正しくない場合は、試験片を吸着保持しなが
ら反転させ、例えば、試験パッドを上向きにし、再度試
験片の表裏を判別し、試験片を吸着保持しながらハンド
リングチャックに引き渡し、試料容器の液体試料に浸漬
後、過剰液を吸引する一連の工程を処理することのでき
る連続自動液体試料分析装置の真空吸引方法およびその
真空吸引回路装置を提案するものである。The object of the present invention is to solve the above-mentioned problem of clogging caused by the vacuum suction system, and to provide a test piece in which a strip of the test piece contained in the test piece bottle is warped. By adopting a vacuum suction method,
In order to surely take out one test piece from the test piece bottle, it is possible to determine whether the test piece is adsorbed in the suction hole of the test piece adsorption mechanism or the pickup mechanism, and take out one test piece while adsorbing and holding it. Determine the front and back of the test piece, and if the front and back of the test piece are not correct, turn the test piece over while holding it by suction.For example, turn the test pad upward, then determine the front and back of the test piece again, and hold the test piece by suction. While proposing a vacuum suction method for a continuous automatic liquid sample analyzer and a vacuum suction circuit device therefor capable of processing a series of steps of handing over to a handling chuck, immersing in a liquid sample in a sample container, and then sucking excess liquid Is.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の試験片の真空吸引回路装置は、試験片に液
体試料を付着せしめ、液体試料と試験片上に設けた試薬
との反応で発色した部分を光学的に測定することにより
液体試料中の成分を分析する連続自動液体試料分析装置
において、真空ポンプと、複数の試験片が収納された試
験片ボトルから試験片を吸着して取り出すピックアップ
機構に設けた吸引孔、取り出した試験片の表裏を判別す
る表裏判別機構に設けた吸引孔、試験片のパッド面が下
側にある場合に試験片を反転する表裏反転機構に設けた
吸引孔、試験片の表裏をさらに判別し、ハンドリングチ
ャックに引き渡すターンテーブル機構に設けた吸引孔の
少なくとも１以上を、マニホールドおよび開閉弁を介し
て前記真空ポンプに選択的に接続するエアー管路と、前
記エアー管路内の少なくとも１ケ所に設けた圧力センサ
ーと、を含み、前記開閉弁の選択的操作および前記圧力
センサーの出力に基づいて、試験片を取り出し、保持
し、試験片の表裏を判別し、試験片の表裏を反転し、試
験片の表裏を再度判別し、次のハンドリングチャックに
移送することを特徴とする。In order to achieve the above object, in the vacuum suction circuit device for a test piece of the present invention, a liquid sample is made to adhere to the test piece, and the reaction between the liquid sample and the reagent provided on the test piece. In a continuous automatic liquid sample analyzer that analyzes the components in a liquid sample by optically measuring the part that has developed color with a vacuum pump, a test piece is adsorbed from a test piece bottle containing a plurality of test pieces. Suction hole provided in the pick-up mechanism for taking out, suction hole provided in the front and back discriminating mechanism for distinguishing the front and back of the taken out test piece, provided in the front and back reversing mechanism for reversing the test piece when the pad surface of the test piece is on the lower side The vacuum pump is further provided with at least one of the suction holes provided in the turntable mechanism for further distinguishing the suction hole and the front and back of the test piece and delivering it to the handling chuck through the manifold and the opening / closing valve. The test piece is taken out based on the selective operation of the opening / closing valve and the output of the pressure sensor, which includes an air line that is selectively connected and a pressure sensor that is provided at least at one place in the air line. , Holding, discriminating the front and back of the test piece, inverting the front and back of the test piece, discriminating the front and back of the test piece again, and transferring to the next handling chuck.
【０００８】さらに、本発明の試験片の真空吸引回路装
置は、複数の試験片が収納された試験片ボトルから試験
片を吸着して取り出すピックアップ機構に設けた吸引
孔、取り出した試験片の表裏を判別する表裏判別機構に
設けた吸引孔、試験片のパッド面が下側にある場合に試
験片を反転する表裏反転機構に設けた吸引孔、試験片の
表裏を再度判別し、ハンドリングチャックに移送するタ
ーンテーブル機構に設けた吸引孔の少なくとも１以上が
配置された試験片チャンバーと、マニホールドを介して
開閉弁に選択的に接続するエアー管路と、よりなり、前
記開閉弁の選択的操作に基づいて前記エアー管路の気圧
を常圧に復帰させることを特徴とする。Further, in the vacuum suction circuit device for a test piece of the present invention, the suction hole provided in the pickup mechanism for adsorbing and taking out the test piece from the test piece bottle containing a plurality of test pieces, the front and back of the taken out test piece Suction hole provided in the front and back discriminating mechanism, the suction hole provided in the front and back reversing mechanism that reverses the test piece when the pad surface of the test piece is on the lower side, the front and back of the test piece is discriminated again, and the handling chuck It comprises a test piece chamber in which at least one suction hole provided in a transfer turntable mechanism is arranged, and an air pipe line which is selectively connected to the on-off valve via a manifold, and selectively operates the on-off valve. Based on the above, the atmospheric pressure in the air pipeline is returned to normal pressure.
【０００９】さらに、本発明の試験片の真空吸引回路装
置は、試験片に液体試料を付着せしめ、液体試料と試験
片上に設けた試薬との反応で発色した部分を光学的に測
定することにより液体試料中の成分を分析する連続自動
液体試料分析装置において、真空ポンプと、過剰液吸引
機構に設けられた吸引孔と密閉された過剰液廃棄タンク
を開閉弁を介して前記真空ポンプに接続するエアー管路
と前記エアー管路内の少なくとも１ケ所に設けられた圧
力センサーと、を含み、前記開閉弁の選択的操作および
前記圧力センサーの出力に基づいて、少なくとも前記真
空ポンプの能力が、前記過剰液吸引機構に設けられた吸
引孔の詰まりを確認し得る、試験片の過剰液を吸引する
ことを特徴とする。Further, in the vacuum suction circuit device for a test piece of the present invention, a liquid sample is adhered to the test piece, and a portion developed by a reaction between the liquid sample and a reagent provided on the test piece is optically measured. In a continuous automatic liquid sample analyzer that analyzes components in a liquid sample, a vacuum pump, a suction hole provided in an excess liquid suction mechanism, and an excess liquid waste tank sealed are connected to the vacuum pump through an opening / closing valve. An air pipe and a pressure sensor provided at least at one place in the air pipe, and based on the selective operation of the on-off valve and the output of the pressure sensor, at least the capacity of the vacuum pump is It is characterized in that the excess liquid of the test piece is sucked, which can confirm clogging of the suction hole provided in the excess liquid suction mechanism.
【００１０】さらに、本発明の試験片の真空吸引方法
は、試験片に液体試料を付着せしめ、液体試料と試験片
上に設けた試薬との反応で発色した部分を光学的に測定
することにより液体試料中の成分を分析する連続自動液
体試料分析装置において、複数の試験片が収納された試
験片ボトル内で１本の試験片を吸着し、前記試験片の吸
着有無を判別し、ピックアップ機構により前記試験片を
取り出し、表裏判別機構により前記試験片の表裏を判別
し、前記試験片のパッド面が上側にある場合には、前記
試験片をターンテーブルに載置し、前記試験片のパッド
面が下側にある場合には、表裏反転機構により前記試験
片を反転し、ターンテーブルに載置し、再度、ターンテ
ーブル機構により前記試験片の表裏を判別し、前記試験
片のパッド面が上側にある場合には、前記試験片を吸着
保持してハンドリングチャックに移送し、前記試験片の
パッド面が下側にある場合には、表裏反転機構により前
記試験片を吸着保持し、さらに前記試験片を逆反転し、
前記試験片を試薬テーブルに載置し、前記試験片をター
ンテーブルに移送し、さらに再びターンテーブル機構に
より前記試験片の表裏を判別し、前記試験片のパッド面
が上側にある場合には、前記試験片を吸着保持してハン
ドリングチャックに引き渡し、前記試験片のパッド面が
下側にある場合には、システムを停止し、試料容器の液
体試料に前記試験片を浸漬後、試薬に付着した過剰液を
前記試験片の引き上げと同時に、吸引し、前記試験片を
分析装置に移送することを特徴とする。Further, the vacuum suction method for a test piece of the present invention is a method in which a liquid sample is adhered to the test piece, and the portion developed by the reaction between the liquid sample and the reagent provided on the test piece is optically measured to obtain the liquid. In a continuous automatic liquid sample analyzer for analyzing components in a sample, one test piece is adsorbed in a test piece bottle containing a plurality of test pieces, and it is determined whether or not the test piece is adsorbed by a pickup mechanism. The test piece is taken out, the front and back of the test piece is discriminated by a front and back discriminating mechanism, and when the pad surface of the test piece is on the upper side, the test piece is placed on a turntable and the pad surface of the test piece is placed. Is on the lower side, the test piece is reversed by the front and back reversing mechanism, placed on the turntable, the front and back of the test piece is discriminated again by the turntable mechanism, and the pad surface of the test piece is on the upper side. In some cases, the test piece is adsorbed and held and transferred to a handling chuck, and when the pad surface of the test piece is on the lower side, the test piece is adsorbed and held by a front-back reversing mechanism, and the test piece is further held. Reverse inversion
The test piece is placed on a reagent table, the test piece is transferred to a turntable, and the front and back of the test piece are discriminated by a turntable mechanism again, and when the pad surface of the test piece is on the upper side, When the test piece is suction-held and transferred to a handling chuck, and the pad surface of the test piece is on the lower side, the system is stopped, and the test piece is immersed in the liquid sample in the sample container and then attached to the reagent. At the same time as pulling up the test piece, the excess liquid is sucked, and the test piece is transferred to an analyzer.
【００１１】[0011]
【実施例】図１は、本発明の試験片取り出し部の全体側
面図である。破線により包囲された部分は、内部が気密
状態であることを示す。それ以外の部分は、通常気圧で
ある。ボトル吸着機構、ピックアップ機構、表裏判別機
構、表裏反転機構、ターンテーブル機構のそれぞれの吸
引孔と電磁弁と真空ポンプとの間にエアー管が配設され
ているが、本図においては省略されている。図１におい
て、試験片チャンバー７の内部に試験片ボトルを上下／
回転運動させるボトル吸着機構８、ボトル駆動機構９、
１本の試験片を取り出すピックアップ機構１０、試験片
の表裏を判別する表裏判別機構１３、試験片のパッド面
を上に揃える表裏反転機構（ピックアップ機構１０とタ
ーンテーブルとの間に位置する。）およびモレキュラー
シーブ等の乾燥剤１１が配置されている。EXAMPLE FIG. 1 is an overall side view of a test piece take-out portion of the present invention. The part surrounded by the broken line indicates that the inside is airtight. The other part is normal atmospheric pressure. Air pipes are provided between the suction holes of the bottle suction mechanism, the pickup mechanism, the front / back discriminating mechanism, the front / back reversing mechanism, and the turntable mechanism, and the solenoid valve and the vacuum pump, but they are omitted in this figure. There is. In FIG. 1, a test strip bottle is placed inside the test strip chamber 7 up / down.
A bottle suction mechanism 8 for rotating motion, a bottle drive mechanism 9,
A pickup mechanism 10 for taking out one test piece, a front / back surface discriminating mechanism 13 for discriminating between front and back surfaces of the test piece, and a front / back surface reversing mechanism for aligning the pad surfaces of the test pieces upward (located between the pickup mechanism 10 and the turntable). And a desiccant 11 such as a molecular sieve is arranged.
【００１２】駆動系チャンバー１２の内部にステッピン
グモータ１６、電磁弁１７、圧力センサー１８、フィル
ター１９、真空ポンプ２０が配置されている。試験片チ
ャンバー７と駆動系チャンバー１２との隔壁にダイヤフ
ラム１５が配置されている。さらに試験片チャンバー７
と駆動系チャンバー１２との間の試験片の送出口にター
ンテーブル機構１４が配置されている。試験片チャンバ
ー７内のエアーは循環していて、外気との入れ替わりが
最小限になるように設計されている。試験片１上の試験
パッドの劣化をさらに防止するため、試験片ボトルに入
っているモレキュラーシーブ等の乾燥剤１１を試験片チ
ャンバー７内に置くことにより、一層低湿度に維持され
る。試験片チャンバー７においては、試験片１の判別お
よび吸着は、エアーの吸引力を利用して制御される。A stepping motor 16, a solenoid valve 17, a pressure sensor 18, a filter 19 and a vacuum pump 20 are arranged inside the drive system chamber 12. A diaphragm 15 is arranged on a partition wall between the test strip chamber 7 and the drive system chamber 12. Further test piece chamber 7
A turntable mechanism 14 is arranged at the outlet of the test piece between the drive system chamber 12 and the drive system chamber 12. The air in the test strip chamber 7 circulates and is designed so that the exchange with the outside air is minimized. In order to further prevent the deterioration of the test pad on the test piece 1, a desiccant 11 such as a molecular sieve contained in the test piece bottle is placed in the test piece chamber 7 to maintain the humidity even lower. In the test strip chamber 7, discrimination and adsorption of the test strip 1 are controlled by utilizing the suction force of air.
【００１３】図２および図３は、本発明の真空吸引回路
を示したものであり、図２は、試験片取り出し回路を示
している。図２において、試験片チャンバー７の中に試
験片吸着機構、ピックアップ機構、表裏判別機構、表裏
反転機構、ターンテーブル機構のそれぞれの吸引孔ＯＰ
１〜ＯＰ５が配設されていることを示している。これら
の吸引孔ＯＰ１〜ＯＰ５とフィルターｆ1 〜ｆ5 がそれ
ぞれ連結し、さらに電磁弁Ｖ1 〜Ｖ5 とが連結してい
る。フィルターｆ1 〜ｆ5 は、設けなくてもよい。フィ
ルターは、空気中の塵を取り除く働きをする。電磁弁Ｖ
1 〜Ｖ5 のそれぞれは、マニホールドＭ１とＭ２の間に
接続され、マニホールドＭ１は、試験片チャンバー７に
接続し、マニホールドＭ２は、圧力センサーＳ１を経て
真空ポンプＰ１と接続し、真空ポンプＰ１は、試験片チ
ャンバー７とそれぞれエアー管を通じて接続している。2 and 3 show a vacuum suction circuit of the present invention, and FIG. 2 shows a test piece take-out circuit. In FIG. 2, in the test strip chamber 7, the suction holes OP of the test strip suction mechanism, the pickup mechanism, the front and back discriminating mechanism, the front and back reversing mechanism, and the turntable mechanism are provided.
1 to OP5 are provided. These suction holes OP1~OP5 and filters f 1 ~f 5 is respectively connected, further has an electromagnetic valve V 1 ~V 5 are connected. The filters f 1 to f 5 may not be provided. The filter works to remove dust in the air. Solenoid valve V
Each of 1 to V 5 is connected between the manifolds M1 and M2, the manifold M1 is connected to the test strip chamber 7, the manifold M2 is connected to the vacuum pump P1 via the pressure sensor S1, and the vacuum pump P1 is , And the test strip chamber 7 are connected to each other through air pipes.
【００１４】試験片吸着機構、ピックアップ機構、表裏
判別機構、表裏反転機構、ターンテーブル機構のそれぞ
れの吸引孔ＯＰ１〜ＯＰ５とそれぞれの電磁弁Ｖ1 〜Ｖ
5 とマニホールドＭ２と圧力センサーＳ１と真空ポンプ
Ｐ１に至る回路は、試験片をそれぞれの吸引孔ＯＰ１〜
ＯＰ５に吸着する働きをする。試験片吸着機構、ピック
アップ機構、表裏判別機構、表裏反転機構、ターンテー
ブル機構のそれぞれの吸引孔ＯＰ１〜ＯＰ５とそれぞれ
の電磁弁Ｖ1 〜Ｖ5 とマニホールドＭ１と試験片チャン
バーに至る回路は、試験片をそれぞれの吸引孔ＯＰ１〜
ＯＰ５から解放できるように試験片チャンバーの気圧と
同圧にさせる働きをする。The suction holes OP1 to OP5 of the test piece suction mechanism, the pickup mechanism, the front and back discriminating mechanism, the front and back reversing mechanism, and the turntable mechanism, and the respective solenoid valves V 1 to V.
5 , the manifold M2, the pressure sensor S1, and the vacuum pump P1 are connected to the test piece through the suction holes OP1 to OP1.
It works to adsorb to OP5. Specimen suction mechanism, the pickup mechanism, the front and back discrimination mechanism, reversing mechanism, circuits, each of the suction holes OP1~OP5 and respective solenoid valves V 1 ~V 5 and the manifold M1 reaches the specimen chamber of the turntable mechanism is tested One of the suction holes OP1
It works to make the pressure equal to the atmospheric pressure of the test strip chamber so that it can be released from OP5.
【００１５】図３は、過剰液吸引回路を示している。図
３において、吸引孔ＯＰ６は、密閉された廃棄タンクＴ
ｋと接続し、廃棄タンクＴｋは、電磁弁Ｖ6 と接続し、
電磁弁Ｖ6 は、フィルターｆ6 、圧力センサーＳ２を経
て真空ポンプＰ２とエアー管を通じて接続している。フ
ィルターｆ6 は、設けなくてもよい。フィルターは、空
気中の塵を取り除く働きをする。この回路は、試験片を
液体試料に浸漬後、試薬に付着した過剰液を試験片の引
き上げと同時に、吸引する働きをする。FIG. 3 shows an excess liquid suction circuit. In FIG. 3, the suction hole OP6 is a closed waste tank T.
k, the waste tank Tk is connected to a solenoid valve V 6 ,
The solenoid valve V 6 is connected to the vacuum pump P2 through the filter f 6 and the pressure sensor S2 through an air pipe. The filter f 6 may not be provided. The filter works to remove dust in the air. This circuit serves to suck the excess liquid adhering to the reagent at the same time as pulling up the test piece after the test piece is immersed in the liquid sample.
【００１６】図４乃至図６は、本発明の試験片吸着機構
８の側面図である。ガイド部２４には、試験片１を吸着
するための吸引孔２６が設けられている。吸引孔２６
は、ボトルホルダー２１及びウォーム歯車２７に形成さ
れた吸引孔と連通し、さらに図示しない真空ポンプと連
結している。ボトルホルダー２１には、ボトルの回転動
作に連動する一対の爪２２が設けられている。試験片ボ
トル１００が自転往復回転すると、試験片１は、その長
さ方向とほぼ直交する方向に移動し、爪２２の作用に補
助されてガイド部材２３のガイド部２４に試験片が滑り
込む。ガイド部２４に滑り込んだ試験片１は、吸引孔２
６に吸着され、ガイド部２４から滑り落ちない。ガイド
部２４に２枚以上の複数の試験片が滑り込んだ場合、２
枚目以上の試験片１は吸引孔２６に吸着されず、ガイド
部材２３の自転往復回転および爪２２の作用により余分
な試験片１は滑り落ち、１枚だけガイド部２４に吸着さ
れる。したがって、試験片ボトル１００から１枚ずつ試
験片１を試験片引出用窓２５から引き出すことができ
る。4 to 6 are side views of the test piece suction mechanism 8 of the present invention. The guide portion 24 is provided with a suction hole 26 for sucking the test piece 1. Suction hole 26
Communicates with the suction holes formed in the bottle holder 21 and the worm gear 27, and is further connected to a vacuum pump (not shown). The bottle holder 21 is provided with a pair of claws 22 that are interlocked with the rotational movement of the bottle. When the test strip bottle 100 rotates reciprocally on its own axis, the test strip 1 moves in a direction substantially orthogonal to the lengthwise direction thereof, and the test strip slides into the guide portion 24 of the guide member 23 assisted by the action of the claw 22. The test piece 1 slipped into the guide portion 24 has a suction hole 2
6 does not slide down from the guide portion 24. When two or more test pieces slip into the guide part 24, 2
The test pieces 1 of the first and subsequent sheets are not adsorbed by the suction holes 26, but the excess test pieces 1 slide down due to the rotation reciprocating rotation of the guide member 23 and the action of the pawls 22 and only one piece is adsorbed by the guide portion 24. Therefore, the test strips 1 can be pulled out one by one from the test strip bottle 100 through the test strip pull-out window 25.
【００１７】図７は、本発明のピックアップ機構の側面
図である。破線は、試験片ボトル１００が、図示しない
試験片ボトル回転用モータにより駆動され、斜め上方の
位置Ａに上昇していることを示す。この動作により試験
片１が下方に移動する。 エアーチャック２８は、図示
しない真空ポンプにエアー管３８を介して連結した吸引
孔３７が形成されている。エアーチャック２８の吸着部
の幅は、試験片１の幅と略同一の幅である。この試験片
吸着機構には、図４乃至図６に示されるように吸引孔２
６が配置されており、この試験片吸着機構で必ず１本の
試験片を吸着するため、ピックアップ機構には、余分の
試験片を除去する働きをするフラッパは必要とされな
い。FIG. 7 is a side view of the pickup mechanism of the present invention. The broken line indicates that the test strip bottle 100 is driven by a test strip bottle rotation motor (not shown) and is elevated to a position A diagonally above. By this operation, the test piece 1 moves downward. The air chuck 28 has a suction hole 37 connected to a vacuum pump (not shown) through an air pipe 38. The width of the suction portion of the air chuck 28 is substantially the same as the width of the test piece 1. The test piece suction mechanism has a suction hole 2 as shown in FIGS.
6 is arranged and one test piece is always sucked by this test piece suction mechanism, so that the pickup mechanism does not need a flapper which functions to remove an extra test piece.
【００１８】図８は別のピックアップ機構の側面図であ
る。破線は、試験片ボトル１００がガイド板６５に沿っ
て回転し、斜め上方の位置Ｂに上昇し、試験片１の先端
を揃える動作を示している。フラッパ７８が、試験片１
を図７のエアーチャック２８に平行に整列させるよう
に、エアーチャック２８の両側面に配置され、試験片１
が、２枚以上斜めに重なり合ってエアーチャック２８に
吸着された場合、フラッパ７８を閉じると、１枚目の試
験片のみがエアーチャック２８に吸着され、２枚目以上
の試験片１は、エアーチャック２８から脱落する。エア
ー管６８は、エアーチャック２８の吸引孔６７に接続さ
れている。FIG. 8 is a side view of another pickup mechanism. The broken line indicates an operation in which the test strip bottle 100 rotates along the guide plate 65, rises to a position B diagonally above and aligns the tips of the test strips 1. The flapper 78 is the test piece 1.
Are arranged on both sides of the air chuck 28 so as to be aligned in parallel with the air chuck 28 of FIG.
However, when two or more sheets are obliquely overlapped and adsorbed by the air chuck 28, when the flapper 78 is closed, only the first test piece is adsorbed by the air chuck 28, and the second or more test piece 1 is It falls off from the chuck 28. The air pipe 68 is connected to the suction hole 67 of the air chuck 28.
【００１９】図９は、本発明の試験片表裏判別機構の斜
視図である。搬送ステージ４１には、エアーチャックに
吸着された試験片１が供給される。搬送ステージ４１に
は、試験片１を押動するプッシュバー４３が移動可能な
ように開口部４４が形成されている。さらに、搬送ステ
ージ４１には、図示しない真空ポンプに連結した表裏判
別用の２つの吸引孔４５が、プッシュバー４３で押動さ
れる試験片１の移動方向と直交する方向に形成される。
２つの吸引孔４５の間隔は、試験片１の試験パッド３と
試験パッド３との間隙に対応する位置に形成されてい
る。FIG. 9 is a perspective view of a test piece front / back discriminating mechanism of the present invention. The test piece 1 attracted to the air chuck is supplied to the transport stage 41. An opening 44 is formed in the transport stage 41 so that the push bar 43 that pushes the test piece 1 can move. Further, on the transfer stage 41, two suction holes 45 for front and back discrimination connected to a vacuum pump (not shown) are formed in a direction orthogonal to the moving direction of the test piece 1 pushed by the push bar 43.
The gap between the two suction holes 45 is formed at a position corresponding to the gap between the test pad 3 of the test piece 1 and the test pad 3.
【００２０】本発明の表裏反転機構は、試験片１の移動
方向と直交する方向の試験片表裏判別機構４５の同一直
線状にあり、図９において、試験片表裏判別機構４５の
左側に位置している。略Ｌ字状の反転器１２５は、反転
板１２６に２つの吸引孔１２７が形成されている。吸引
孔１２７は、搬送ステージ４１の、試験片１の移動方向
と直交する方向に形成された吸引孔４５と一直線状に並
んでいる。反転器１２５には、歯車１２８及び歯車１２
９を介してモータ１３０に連結した中空の回転軸１３１
が取り付けられ、他端はエアー管１３２を介して図示し
ない真空ポンプに連結している。The front and back reversing mechanism of the present invention is on the same straight line of the test piece front and back discriminating mechanism 45 in the direction orthogonal to the moving direction of the test piece 1, and is located on the left side of the test piece front and back discriminating mechanism 45 in FIG. ing. In the substantially L-shaped reversing device 125, two suction holes 127 are formed in the reversing plate 126. The suction holes 127 are aligned with the suction holes 45 formed in the transport stage 41 in a direction orthogonal to the moving direction of the test piece 1. The reversing device 125 includes a gear 128 and a gear 12.
Hollow rotating shaft 131 connected to the motor 130 via 9
Is attached, and the other end is connected to a vacuum pump (not shown) via an air pipe 132.
【００２１】本発明のターンテーブル機構は、搬送ステ
ージ４１の下部に配置されていて、ターンテーブルの上
面部４６が搬送ステージの奥部に配置されている。ター
ンテーブル４６は、反転器１２５が回転軸１３１を中心
として１８０度回転して反転板１２６が移動した位置に
配置されている。リミットスイッチ１３３、１３４は、
反転器１２５が１８０度回転した位置で停止するように
設けられている。The turntable mechanism of the present invention is arranged at the bottom of the transfer stage 41, and the upper surface 46 of the turntable is arranged at the back of the transfer stage. The turntable 46 is arranged at a position where the reversing plate 125 has moved by rotating the reversing device 125 about the rotation shaft 131 by 180 degrees. Limit switches 133 and 134 are
The reversing device 125 is provided so as to stop at a position rotated by 180 degrees.
【００２２】ターンテーブル４６上の例えば、３つの吸
引孔４７は、搬送ステージ４１上をプッシュバー４３で
押動される試験片１の移動方向と直交する方向に並び、
かつ少なくとも１つの吸引孔は試験片１の試験パッド３
と試験パッド３との間隙に対応する位置に形成されてい
る。吸引孔４７は、試験片１の表裏を判別し、次の浸漬
段階に移送するときに試験片１が位置ずれしないように
吸着保持する役割をする。For example, the three suction holes 47 on the turntable 46 are arranged on the transfer stage 41 in a direction orthogonal to the moving direction of the test piece 1 pushed by the push bar 43.
And at least one suction hole is the test pad 3 of the test piece 1.
Is formed at a position corresponding to the gap between the test pad 3 and the test pad 3. The suction hole 47 serves to discriminate between the front and back of the test piece 1 and to hold the test piece 1 by suction so that the test piece 1 is not displaced when it is transferred to the next immersion step.
【００２３】図１０は、本発明の過剰液吸引装置の斜視
図である。ハンドリングチャック２２２は試験片１を把
持し、吸引部２０８に移送し、次に、試料容器２２３の
液体試料に浸漬する。吸引部２０８は基部２０９と連結
し、さらに基部２０９は、エアー管取付部２１０、エア
ー管２１１に連結している。吸引部２０８の吸引孔２１
２、２１２´で吸引した過剰液は、基部２０９、エアー
管取付部２１０、エアー管２１１を介して廃棄タンクに
流出する。アーム２１３は基部２０９と接合し、基部２
０９の水平及び垂直角度、尿ディップ位置を調整するこ
とができる。また、基部２０９にエアー管取付部２１０
およびエアー管２１１を取付けることなく、基部２０９
に接合したアーム２１３の他端部にエアー管取付部２１
０およびエアー管２１１を取付けてもよい。この場合、
アーム２１３は基部２０９を支持、案内するのみなら
ず、過剰液の通路になる。FIG. 10 is a perspective view of the excess liquid suction device of the present invention. The handling chuck 222 grips the test piece 1, transfers it to the suction unit 208, and then immerses it in the liquid sample in the sample container 223. The suction part 208 is connected to the base part 209, and the base part 209 is further connected to the air pipe attachment part 210 and the air pipe 211. Suction hole 21 of the suction unit 208
The excess liquid sucked in 2, 212 ′ flows out to the waste tank via the base portion 209, the air pipe attachment portion 210, and the air pipe 211. The arm 213 is joined to the base 209,
The horizontal and vertical angles of 09 and the urine dip position can be adjusted. Further, the air pipe mounting portion 210 is attached to the base portion 209.
And the base 209 without attaching the air pipe 211.
To the other end of the arm 213 joined to
0 and the air pipe 211 may be attached. in this case,
The arm 213 not only supports and guides the base 209, but also serves as a passage for excess liquid.
【００２４】[0024]
【作用】本発明の真空吸引回路装置の動作を述べる。既
に新しい試験片ボトルが準備され、液体試料が入った試
料容器が準備されている。本発明の真空吸引回路装置を
スイッチオンすると、ピックアップ回路、過剰液吸引回
路のチェックおよび除湿を行う。さらに、圧力センサ
ー、真空ポンプをチェック後に、試験片チャンバーの除
湿と同時に試験片チャンバーと過剰液吸引回路の詰りを
チェックする。特に、圧力センサーについては、各回路
において、大気圧における出力電圧をを測定し、測定値
が規定の範囲にあるか確認する。測定値が規定の範囲外
にある場合は、圧力センサーの異常であるとしてディス
プレイにエラー表示をする。The operation of the vacuum suction circuit device of the present invention will be described. A new specimen bottle has already been prepared and a sample container containing a liquid sample is prepared. When the vacuum suction circuit device of the present invention is switched on, the pickup circuit and the excess liquid suction circuit are checked and dehumidified. Further, after checking the pressure sensor and the vacuum pump, the blockage of the test piece chamber and the excess liquid suction circuit is checked at the same time as the dehumidification of the test piece chamber. In particular, regarding the pressure sensor, the output voltage at atmospheric pressure is measured in each circuit, and it is confirmed whether the measured value is within the specified range. If the measured value is outside the specified range, an error is displayed on the display, indicating that the pressure sensor is abnormal.
【００２５】次に、真空ポンプについては、各回路にお
いて、ポンプ単体で吸引圧を測定し、この値を記憶し、
最大吸引圧１００％とする。測定値が規定の範囲外にあ
る場合は、真空ポンプの異常またはエアーリークである
としてディスプレイにエラー表示をする。エアーチャッ
クが試験片を吸着したか否かの判別値および表裏判別の
基準値はこの段階で設定される。試験片チャンバーのエ
アー回路に使用する真空ポンプは、パワーオン後、常時
動作し、電磁弁のオン・オフにてエアーの通過する回路
を切り替えることができる。以上の初期設定動作後にラ
ンモードに移る。Next, regarding the vacuum pump, in each circuit, the suction pressure is measured by the pump alone, and this value is stored,
Maximum suction pressure is 100%. If the measured value is out of the specified range, an error is displayed on the display, indicating that the vacuum pump is abnormal or that there is an air leak. The determination value of whether or not the air chuck has adsorbed the test piece and the reference value for front / back determination are set at this stage. The vacuum pump used for the air circuit of the test piece chamber is always operated after power-on, and the circuit through which air passes can be switched by turning on / off the solenoid valve. After the above initial setting operation, the mode shifts to the run mode.
【００２６】試験片吸着機構８は、試験片ボトル回転用
モータ（図示せず）を作動させて、図４のボトルホルダ
ー２１を、時計方向及び反時計方向に略４０度、１往復
回転させると同時に図２の電磁弁Ｖ1 がオンする。電磁
弁Ｖ1 がオンすると、回路ＯＰ１〜Ｖ1 〜Ｍ２〜Ｐ１が
導通する。試験片吸着機構８の中で試験片１は、長さ方
向とほぼ直交する方向に移動して、ガイド部２４に試験
片１が滑り込む。滑り込んだ試験片１は、爪２２により
ガイド部２４に押し込まれる。ガイド部２４に試験片１
が２枚以上滑り込んだ場合は、試験片ボトル１００の自
転往復回転および爪２２の作用により、余分な試験片１
は振り落とされて１枚の試験片のみがガイド部に吸着さ
れる。The test piece suction mechanism 8 operates a test piece bottle rotating motor (not shown) to rotate the bottle holder 21 shown in FIG. 4 clockwise and counterclockwise by about 40 degrees for one reciprocation. At the same time, the solenoid valve V 1 of FIG. 2 is turned on. When the solenoid valve V 1 is turned on, the circuit OP1~V 1 ~M2~P1 conducts. In the test piece suction mechanism 8, the test piece 1 moves in a direction substantially orthogonal to the length direction, and the test piece 1 slides into the guide portion 24. The slide-in test piece 1 is pushed into the guide portion 24 by the claw 22. Test piece 1 on the guide part 24
When two or more slides, the test piece bottle 100 is rotated reciprocally and the claw 22 acts to remove the excess test piece 1.
Is shaken off and only one test piece is adsorbed by the guide part.
【００２７】ガイド部２４に試験片１が吸着されたか否
かの判別は、ガイド部２４に設けられた吸引孔２６（Ｏ
Ｐ１）から吸引される空気の真空度を測定して判別す
る。即ち、ガイド部２４に試験片１が吸着されている場
合は、真空度は上昇し、一方、試験片１が吸着されない
場合は、真空度が上昇しない。試験片１がガイド部２４
に保持されない場合には、さらに試験片ボトル１００を
１往復回転させる動作を繰り返す。ガイド部２４に試験
片１が吸着された場合、圧力センサーＳ１がこの回路の
負圧値を検出し、図示しない制御装置にその信号を伝え
ると、制御装置の指令に基づいて、電磁弁Ｖ1 は、エア
ーチャック２８が下至点にきた時に、オフする。電磁弁
Ｖ1 がオフすると、回路ＯＰ１〜Ｖ1 〜Ｍ２〜Ｐ１は非
導通になり、即座に回路ＯＰ１〜Ｖ1 〜Ｍ１〜試験片チ
ャンバー７が導通する。吸引孔２６は、試験片チャンバ
ー７の中の気圧と同圧であるので、次に別の吸引力が加
われば、試験片１は、吸引孔２６から離れる。Whether or not the test piece 1 is adsorbed by the guide portion 24 is determined by the suction hole 26 (O
The degree of vacuum of the air sucked from P1) is measured and determined. That is, when the test piece 1 is adsorbed by the guide portion 24, the degree of vacuum increases, while when the test piece 1 is not adsorbed, the degree of vacuum does not increase. The test piece 1 is the guide portion 24
If not held, the operation of rotating the test piece bottle 100 once again and again is repeated. If the test piece 1 to the guide portion 24 is adsorbed, the pressure sensors S1 detects the negative pressure of the circuit, when transmitting the signal to a control device (not shown), in accordance with an instruction of the control device, the solenoid valve V 1 Turns off when the air chuck 28 reaches the lowermost point. When the solenoid valve V 1 is turned off, the circuit OP1~V 1 ~M2~P1 becomes nonconductive, immediately circuit OP1~V 1 ~M1~ specimen chamber 7 becomes conductive. Since the suction hole 26 has the same pressure as the atmospheric pressure in the test strip chamber 7, when another suction force is applied next, the test strip 1 separates from the suction hole 26.
【００２８】ピックアップ機構は、エアーチャック２８
が下至点にきた時に、図示しない制御装置の指令に基づ
いて、電磁弁Ｖ2 がオンする。電磁弁Ｖ2 がオンする
と、回路ＯＰ２〜Ｖ2 〜Ｍ２〜Ｐ１が導通する。エアー
チャック２８の吸引孔３７は、吸引を開始し、即座に試
験片１は、吸引孔３７（ＯＰ２）に吸着される。試験片
１は、エアーチャック２８の吸引孔３７に吸着されたま
ま、試薬テーブル４１に運ばれ、エアーチャック２８が
試薬テーブル４１に試験片１を載置した時、電磁弁Ｖ2
がオフする。電磁弁Ｖ2 がオフすると、回路ＯＰ２〜Ｖ
2 〜Ｍ２〜Ｐ１は非導通になり、即座に回路ＯＰ２〜Ｖ
2 〜Ｍ１〜試験片チャンバー７が導通する。エアーチャ
ック２８の吸引孔３７は、試験片チャンバー７の中の気
圧と同圧になり、試験片１は、エアーチャック２８の吸
引孔３７から離脱し、試薬テーブル４１に載置される。
図７のフラッパの無いエアーチャックの場合には、エア
ーチャック２８に試験片１が吸着されたか否かの判別
は、吸引孔３７から吸引される空気の真空度を測定して
行われる。The pickup mechanism is an air chuck 28.
Solenoid valve V 2 is turned on based on a command from a control device (not shown). When the solenoid valve V 2 is turned on, the circuit OP2~V 2 ~M2~P1 conducts. The suction hole 37 of the air chuck 28 starts suction, and the test piece 1 is immediately adsorbed to the suction hole 37 (OP2). The test piece 1 is carried to the reagent table 41 while being adsorbed by the suction hole 37 of the air chuck 28, and when the air chuck 28 places the test piece 1 on the reagent table 41, the solenoid valve V 2
Turns off. When the solenoid valve V 2 is turned off, circuits OP2 to V
2 to M2 to P1 become non-conductive, and the circuits OP2 to V immediately
2 to M1 to the test piece chamber 7 are conducted. The suction hole 37 of the air chuck 28 has the same pressure as the atmospheric pressure in the test strip chamber 7, and the test strip 1 is separated from the suction hole 37 of the air chuck 28 and placed on the reagent table 41.
In the case of the flapper-free air chuck of FIG. 7, whether or not the test piece 1 is adsorbed by the air chuck 28 is determined by measuring the vacuum degree of the air sucked from the suction hole 37.
【００２９】図８のフラッパが付設されたエアーチャッ
クの場合には、エアーチャックが試験片１を吸着できた
か否かの判別は、吸引孔３７（ＯＰ２）から吸引される
空気の真空度により２段階に行われる。第１段階は、試
験片が２枚吸着されていたり斜めに吸着されている場合
に、エアーチャック６７の２つの吸引孔３７（ＯＰ２）
を完全に塞いでいないことが想定されるので、低レベル
の真空度で判定し、第２段階は、フラッパ７８を閉じて
試験片１をエアーチャック６７に平行に整列させた後
は、高レベルの真空度で判定する。判定レベルは、イニ
シャライズ動作時に、真空ポンプの到達真空度とエアー
チャックの吸引孔が開放された状態の真空度を測定して
最適値に設定される。In the case of the air chuck equipped with the flapper shown in FIG. 8, whether the air chuck can adsorb the test piece 1 is determined by the degree of vacuum of the air sucked from the suction hole 37 (OP2). Done in stages. In the first stage, when two test pieces are adsorbed or obliquely adsorbed, two suction holes 37 (OP2) of the air chuck 67 are provided.
Is assumed not to be completely closed, so the judgment is made at a low level of vacuum, and in the second step, after the flapper 78 is closed and the test piece 1 is aligned parallel to the air chuck 67, Judgment based on the degree of vacuum. The determination level is set to an optimum value by measuring the ultimate vacuum of the vacuum pump and the vacuum with the suction hole of the air chuck opened during the initialization operation.
【００３０】表裏判別機構においては、試験片１が、試
薬テーブル４１に載置され、次に、プッシュバー４３に
押され、試験片１が吸引孔４５（ＯＰ３）にきた時に、
図示しない制御装置の指令に基づいて、電磁弁Ｖ3 がオ
ンする。電磁弁Ｖ3 がオンすると、回路ＯＰ３〜Ｖ3 〜
Ｍ２〜Ｐ１が導通し、表裏判別機構の吸引孔４５が吸引
を開始し、試験片１を瞬間的に吸引して試験片１の表裏
判別をする。圧力センサーＳ１が回路の真空値を検出
し、図示しない制御装置に伝えると、制御装置は初期設
定されたこの回路の設定値と比較し、一定の真空値が達
成されれば、試験片１が表を向いていると判定し、数秒
後に電磁弁Ｖ3 にオフの指令を出す。電磁弁Ｖ3 がオフ
すると、回路ＯＰ３〜Ｖ3 〜Ｍ２〜Ｐ１は非導通にな
り、即座に回路ＯＰ３〜Ｖ3 〜Ｍ１〜試験片チャンバー
７が導通する。表裏判別機構の吸引孔４５は、試験片チ
ャンバー７の中の気圧と同圧になり、次に、モータ１２
２を作動させて試験片１をプッシュバー４３で押動して
ターンテーブル４６上まで搬送する。In the front / back discriminating mechanism, the test piece 1 is placed on the reagent table 41, then pushed by the push bar 43, and when the test piece 1 reaches the suction hole 45 (OP3),
The solenoid valve V 3 is turned on based on a command from a control device (not shown). When the solenoid valve V 3 is turned on, the circuits OP 3 to V 3
M2 to P1 are brought into conduction, the suction hole 45 of the front / back surface discrimination mechanism starts suction, and the test piece 1 is momentarily sucked to discriminate between the front surface and the back surface of the test piece 1. When the pressure sensor S1 detects the vacuum value of the circuit and transmits it to a control device (not shown), the control device compares it with the initially set value of this circuit, and if a constant vacuum value is achieved, the test piece 1 is It is determined that it is facing the front, and after a few seconds, an off command is issued to the solenoid valve V 3 . When the electromagnetic valve V 3 is turned off, the circuit OP3~V 3 ~M2~P1 is rendered non-conductive, real circuit OP3~V 3 ~M1~ specimen chamber 7 is rendered conductive. The suction hole 45 of the front / back discrimination mechanism has the same pressure as the atmospheric pressure in the test strip chamber 7, and then the motor 12
2 is operated to push the test piece 1 with the push bar 43 to convey it onto the turntable 46.
【００３１】表裏反転機構は、圧力センサーＳ１が表裏
判別機構の吸引孔４５からの回路の真空値を検出し、図
示しない制御装置に伝えると、制御装置は初期設定され
たこの回路の設定値と比較し、一定の真空値が達成され
なければ、試験片１が裏を向いていると判定し、電磁弁
Ｖ3 をオフし、電磁弁Ｖ4 をオンする。電磁弁Ｖ4 がオ
ンすると、回路ＯＰ４〜Ｖ4 〜Ｍ２〜Ｐ１が導通する。
試験片１の把持部４は、反転器１２５の吸引孔１２７に
吸着されたまま、モータ３０が駆動し、反転器１２５が
１８０°回転し、試験片１が表を向くようにターンテー
ブル４６上に載置される。この時、電磁弁Ｖ4 はオフす
る。電磁弁Ｖ4 がオフすると、回路ＯＰ４〜Ｖ4 〜Ｍ２
〜Ｐ１が非導通になり、直ちに、回路ＯＰ４〜Ｖ4 〜Ｍ
１〜試験片チャンバー７が導通する。したがって、試験
片１は試験パッド３を上向きにターンテーブル４６に載
置される。In the front / back reversing mechanism, the pressure sensor S1 detects the vacuum value of the circuit from the suction hole 45 of the front / back discriminating mechanism, and when it is transmitted to the control device (not shown), the control device detects the initial setting value of this circuit. In comparison, if a constant vacuum value is not achieved, it is determined that the test piece 1 is facing down, the solenoid valve V 3 is turned off, and the solenoid valve V 4 is turned on. When the solenoid valve V 4 is turned on, the circuit OP4~V 4 ~M2~P1 conducts.
The gripping part 4 of the test piece 1 is attracted to the suction hole 127 of the reversing device 125, the motor 30 is driven, the reversing device 125 rotates 180 °, and the test piece 1 is turned on the turntable 46. Placed on. At this time, the solenoid valve V 4 is turned off. When the solenoid valve V 4 is turned off, the circuit OP4~V 4 ~M2
~P1 becomes nonconductive, immediately circuit OP4~V 4 ~M
1 to the test piece chamber 7 are electrically connected. Therefore, the test piece 1 is placed on the turntable 46 with the test pad 3 facing upward.
【００３２】ターンテーブル機構は、試験片１がターン
テーブル４６に載置されると、電磁弁Ｖ5 がオンする。
電磁弁Ｖ5 がオンすると、回路ＯＰ５〜Ｖ5 〜Ｍ２〜Ｐ
１が導通し、ターンテーブル４６の吸引孔４７が吸引を
開始し、試験片１を吸引する。次にターンテーブル４６
上で試験片１を瞬間的に吸引して、試験片１の表裏を判
別する。圧力センサーＳ１が回路の真空値を検出し、図
示しない制御装置に伝えると、制御装置は初期設定され
たこの回路の設定値と比較し、一定の真空値が達成され
れば、試験片１が表を向いていると判定し、試験片１を
ターンテーブル４６上に吸着させながら、図示しないモ
ータを駆動させてターンテーブル４６を下降させ、試験
片１を次の試験片浸漬段階に送る。また、圧力センサー
Ｓ１が回路の真空値を検出し、図示しない制御装置に伝
えると、制御装置は初期設定されたこの回路の設定値と
比較し、一定の真空値が達成されなければ、試験片１が
裏を向いていると判定し、モータ１３０が作動し、反転
器１２５を試験片１に接近させる。反転器１２５は、所
定のリミットスイッチ１３３、１３４の位置で停止し、
電磁弁5 がオフになり、電磁弁Ｖ4 がオンする。In the turntable mechanism, when the test piece 1 is placed on the turntable 46, the solenoid valve V 5 is turned on.
When the solenoid valve V 5 are turned on, the circuit OP5~V 5 ~M2~P
1 is conducted, the suction hole 47 of the turntable 46 starts suction, and the test piece 1 is sucked. Next turntable 46
The test piece 1 is instantaneously sucked up above to determine the front and back of the test piece 1. When the pressure sensor S1 detects the vacuum value of the circuit and transmits it to a control device (not shown), the control device compares it with the initially set value of this circuit, and if a constant vacuum value is achieved, the test piece 1 is It is determined that the test piece 1 is facing the front, and while adsorbing the test piece 1 on the turntable 46, a motor (not shown) is driven to lower the turntable 46, and the test piece 1 is sent to the next test piece dipping stage. Further, when the pressure sensor S1 detects the vacuum value of the circuit and transmits it to a control device (not shown), the control device compares it with the initially set value of this circuit, and if a constant vacuum value is not achieved, the test piece is tested. It is determined that 1 is facing down, the motor 130 is activated, and the reversing device 125 is brought close to the test piece 1. The reversing device 125 stops at the positions of predetermined limit switches 133 and 134,
The solenoid valve 5 is turned off and the solenoid valve V 4 is turned on.
【００３３】電磁弁Ｖ5 がオフすると、回路ＯＰ５〜Ｖ
5 〜Ｍ２〜Ｐ１は非導通になり、即座に回路ＯＰ５〜Ｖ
5 〜Ｍ１〜試験片チャンバー７が導通する。ターンテー
ブル４６の吸引孔４７は、試験片チャンバーの気圧と同
圧になり、試験片１は、他の吸引力を与えることにより
ターンテーブル４６の吸引孔４７から解放される。さら
に、図示されない制御装置の指令に基づいて、電磁弁Ｖ
4 がオンする。電磁弁Ｖ4 がオンすると、回路ＯＰ４〜
Ｖ4 〜Ｍ２〜Ｐ１が導通し、反転器１２５の吸引孔１２
７が吸引を開始し、試験片１を吸着したまま、反転器１
２５が逆方向に１８０度回転し、試験片１をターンテー
ブル４６上から搬送ステージ４１上に戻し、試験片１は
表向きになる。反転器１２５が回転を停止すると、電磁
弁Ｖ4 がオフになる。電磁弁Ｖ4 がオフになると、回路
ＯＰ４〜Ｖ4 〜Ｍ２〜Ｐ１は非導通になり、即座に回路
ＯＰ４〜Ｖ4 〜Ｍ１〜試験片チャンバー７が導通する。
反転器１２５の吸引孔１２７は、試験片チャンバー７の
中の気圧と同圧になり、試験片１は、試薬テーブル４１
上に載置され、モータ１２２を作動させて試験片１をプ
ッシュバー４３で押動してターンテーブル４６上まで送
る。When the solenoid valve V 5 is turned off, circuits OP5 to V
5 to M2 to P1 become non-conducting and the circuit OP5 to V immediately
5 to M1 to the test piece chamber 7 are conducted. The suction hole 47 of the turntable 46 has the same pressure as the atmospheric pressure of the test strip chamber, and the test strip 1 is released from the suction hole 47 of the turntable 46 by applying another suction force. Further, based on a command from a control device (not shown), the solenoid valve V
4 turns on. When the solenoid valve V 4 is turned on, the circuit OP4 ~
V 4 to M 2 to P 1 are conducted, and the suction hole 12 of the reversing device 125
7 starts suction, and the reversing device 1
25 rotates 180 degrees in the opposite direction, the test piece 1 is returned from the turntable 46 to the transport stage 41, and the test piece 1 faces up. When the inverter 125 stops rotating, the solenoid valve V 4 is turned off. When the solenoid valve V 4 is turned off, the circuit OP4~V 4 ~M2~P1 is rendered non-conductive, real circuit OP4~V 4 ~M1~ specimen chamber 7 is rendered conductive.
The suction hole 127 of the reversing device 125 is at the same pressure as the atmospheric pressure in the test strip chamber 7, and the test strip 1 has the reagent table 41.
The test piece 1 is mounted on the turntable 46 by pushing the push bar 43 to move the test piece 1 by operating the motor 122.
【００３４】ターンテーブル４６上で試験片１を再度瞬
間的に吸引して、試験片１の表裏を判断し、圧力センサ
ーＳ１の検出値が設定値と比較され、図示されない制御
装置が、試験片１が裏を向いていると判別すると、真空
吸着回路装置の動作を中断する。圧力センサーＳ１の検
出値が設定値と比較され、図示されない制御装置が表を
向いていると判別すると、制御装置は、電磁弁Ｖ5 にオ
ンの指令をする。電磁弁Ｖ5 がオンすると、回路ＯＰ５
〜Ｖ5 〜Ｍ２〜Ｐ１が導通し、ターンテーブル４６の吸
引孔４７が吸引を開始し、試験片１を吸引する。次に、
試験片１をターンテーブル４６上に吸着させながら、図
示しないモータを駆動させてターンテーブル４６を下降
させて、試験片１を次の試験片浸漬段階に送る。搬送テ
ーブル４１上では、次の試験片が供給され、上記動作が
繰り返される。The test piece 1 is momentarily sucked again on the turntable 46 to judge the front and back of the test piece 1, the detected value of the pressure sensor S1 is compared with the set value, and a control device (not shown) If it is determined that 1 is facing down, the operation of the vacuum suction circuit device is interrupted. The detection value of the pressure sensor S1 is compared with the set value, and when it is determined that the control device (not shown) is facing the front, the control device commands the solenoid valve V 5 to turn on. When the solenoid valve V 5 turns on, the circuit OP5
~V 5 ~M2~P1 conducts, suction holes 47 of the turntable 46 starts suction to suck specimen 1. next,
While adsorbing the test piece 1 on the turntable 46, a motor (not shown) is driven to lower the turntable 46, and the test piece 1 is sent to the next test piece dipping stage. The next test piece is supplied on the transport table 41, and the above operation is repeated.
【００３５】搬送ステージ４１及びターンテーブル４６
の吸引孔４５及び４７は、プッシュバー４３で押動され
る試験片１の試験パッド３と試験パッド３との間隙に対
応する位置に形成されている。したがって、試験片１が
裏を向いている場合には、図１１に示すように吸引孔４
７は塞がれないため吸引しても真空度が上がらない。一
方試験片１が表を向いている場合には、図１２に示すよ
うに吸引孔４７を塞ぐため真空度が上がる。したがっ
て、試験片１を吸引して真空度を圧力センサーＳ１で測
定することにより、簡単に試験片１の表裏の判別ができ
る。Transport stage 41 and turntable 46
The suction holes 45 and 47 are formed at positions corresponding to the gap between the test pad 3 and the test pad 3 of the test piece 1 pushed by the push bar 43. Therefore, when the test piece 1 faces the back side, as shown in FIG.
Since 7 is not blocked, the degree of vacuum does not rise even if it is sucked. On the other hand, when the test piece 1 is facing the front, the degree of vacuum is increased because the suction hole 47 is closed as shown in FIG. Therefore, by sucking the test piece 1 and measuring the degree of vacuum with the pressure sensor S1, the front and back of the test piece 1 can be easily distinguished.
【００３６】試験片１の表裏の判別は、搬送ステージ４
１に形成された吸引孔４５及びターンテーブル４６上に
形成された吸引孔４７で行い、さらにターンテーブル４
６上で試験片１が裏を向いていると２回判定されると、
連続自動液体試料分析装置は停止する。これにより試験
片１が裏を向いたまま、次の浸漬段階に搬送されること
はない。The front and back of the test piece 1 are discriminated by the transfer stage 4
1 and the suction holes 47 formed on the turntable 46.
When it is judged twice that the test piece 1 is facing back on 6 above,
The continuous automatic liquid sample analyzer is stopped. As a result, the test piece 1 is not conveyed to the next dipping step while facing the back.
【００３７】表裏反転機構の表裏反転の判別は、一定の
真空圧が達成されずに試験片１が裏を向いている信号を
圧力センサーＳ１が出力すると、反転器１２５で試験片
１を吸着し（図１３）、モータ１３０（図示せず）を作
動させて反転器１２５を１８０度回転させて（図１
４）、試験片１が表を向くようにターンテーブル４６上
に乗せる（図１５）。電磁弁Ｖ1 〜Ｖ5 のオン・オフ
は、圧力センサーＳ１により吸引圧を検出され、図示さ
れない制御装置に制御される。The front / back reversing mechanism determines whether the test piece 1 is adsorbed by the reversing device 125 when the pressure sensor S1 outputs a signal indicating that the test piece 1 faces the back without achieving a constant vacuum pressure. (Fig. 13), the motor 130 (not shown) is operated to rotate the reversing device 125 by 180 degrees (Fig. 1).
4) Then, the test piece 1 is placed on the turntable 46 so that it faces the front (FIG. 15). On-off solenoid valve V 1 ~V 5 is detected suction pressure by the pressure sensor S1, it is controlled to not shown control device.
【００３８】過剰尿吸引機構は、図１０において、ハン
ドリングチャック２２２が試料容器２２３の設定された
下至点に到着した時、電磁弁Ｖ6 は、オンされる。電磁
弁Ｖ6 が、オンすると、図２乃至図３において、回路Ｏ
Ｐ６〜Ｖ6 〜Ｐ２が導通する。真空ポンプＰ２の吸引力
により、過剰尿が廃棄タンクＴｋに流入する。ハンドリ
ングチャック２２２が吸引部２０８の上至点に到着した
時、電磁弁Ｖ6 は、オフする。電磁弁Ｖ6 が、オフする
と、回路ＯＰ６〜Ｖ6 〜Ｐ２は非導通となり、吸引孔２
１２から吸引されない。電磁弁Ｖ6 のオン・オフは、図
示されない制御装置によって制御されている。このエア
ー回路の真空値の状態は、圧力センサーＳ２によって検
出され、過剰尿吸引機構は、図示されない制御装置によ
り制御される。In the excess urine suction mechanism in FIG. 10, when the handling chuck 222 reaches the set lowermost point of the sample container 223, the solenoid valve V 6 is turned on. When the solenoid valve V 6 is turned on, the circuit O in FIGS.
P6~V 6 ~P2 is turned on. Excess urine flows into the waste tank Tk by the suction force of the vacuum pump P2. When the handling chuck 222 reaches the uppermost point of the suction section 208, the solenoid valve V 6 is turned off. Solenoid valve V 6 is turned off, the circuit OP6~V 6 ~P2 becomes non-conductive, the suction holes 2
Not sucked from 12. Turning on / off of the solenoid valve V 6 is controlled by a control device (not shown). The state of the vacuum value of the air circuit is detected by the pressure sensor S2, and the excess urine suction mechanism is controlled by a control device (not shown).
【００３９】[0039]
【発明の効果】本発明は、試験片ボトルに収納されてい
る試験片のストリップに反りが発生した試験片であって
も、真空吸引方式を採用することにより、試験片ボトル
から１本の試験片を確実に取り出し、試験片がピックア
ップ機構の吸引孔に吸着しているかを判別し、１本の試
験片を吸着保持しながら取り出し、試験片の表裏を判別
し、試験片のストリップが上向きの場合は、試験片を吸
着保持しながら反転し、試験パッドを上向きにし、更に
試験片の表裏を判別し、試験片を吸着保持しながらハン
ドリングチャックに引き渡し、試料容器の液体試料に浸
漬後、過剰液体試料を吸引する一連の工程を処理するこ
とのできる。INDUSTRIAL APPLICABILITY According to the present invention, even if the strip of the test piece contained in the test piece bottle is warped, the vacuum suction method is adopted to make one test from the test piece bottle. Take out the piece surely, determine whether the test piece is adsorbed in the suction hole of the pickup mechanism, take out one test piece while adsorbing and holding it, determine the front and back of the test piece, and check that the strip of the test piece is facing upward. In this case, turn the test piece upside down while holding it by suction, turn the test pad upward, determine the front and back of the test piece, hand over the test piece to the handling chuck while holding it by suction, and dip it in the liquid sample in the sample container. A series of steps of aspirating a liquid sample can be processed.
【図１】本発明の試験片取り出し装置の斜視図である。FIG. 1 is a perspective view of a test strip extracting device of the present invention.
【図２】本発明の試験片取り出し回路である。FIG. 2 is a test piece takeout circuit of the present invention.
【図３】本発明の過剰尿吸引回路である。FIG. 3 is an excess urine suction circuit of the present invention.
【図４】本発明の試験片吸着機構の要部断面図である。FIG. 4 is a sectional view of an essential part of a test piece adsorption mechanism of the present invention.
【図５】本発明の試験片吸着機構の要部断面図である。FIG. 5 is a sectional view of an essential part of a test piece adsorption mechanism of the present invention.
【図６】本発明の試験片吸着機構の要部断面図である。FIG. 6 is a sectional view of an essential part of a test piece adsorption mechanism of the present invention.
【図７】本発明の試験片吸着機構およびピックアップ機
構の要部背面図である。FIG. 7 is a rear view of the essential parts of the test piece suction mechanism and the pickup mechanism of the present invention.
【図８】本発明の別の試験片吸着機構およびピックアッ
プ機構の要部背面図である。FIG. 8 is a rear view of the main parts of another test strip suction mechanism and pickup mechanism of the present invention.
【図９】本発明の表裏判別機構、表裏反転機構、ターン
テーブル機構の斜視図である。FIG. 9 is a perspective view of a front / back discriminating mechanism, a front / back reversing mechanism, and a turntable mechanism of the present invention.
【図１０】本発明の過剰尿吸引機構の要部斜視図であ
る。FIG. 10 is a perspective view of a main part of the excess urine suction mechanism of the present invention.
【図１１】本発明のターンテーブル機構の表裏判別動作
の説明図である。FIG. 11 is an explanatory diagram of front / back discriminating operation of the turntable mechanism of the present invention.
【図１２】本発明のターンテーブル機構の表裏判別動作
の説明図である。FIG. 12 is an explanatory diagram of front / back discriminating operation of the turntable mechanism of the present invention.
【図１３】本発明の表裏反転機構の表裏反転動作の説明
図である。FIG. 13 is an explanatory diagram of a front / back reversing operation of the front / back reversing mechanism of the present invention.
【図１４】本発明の表裏反転機構の表裏反転動作の説明
図である。FIG. 14 is an explanatory diagram of a front / back reversing operation of the front / back reversing mechanism of the present invention.
【図１５】本発明のターンテーブル機構の表裏判別動作
の説明図である。FIG. 15 is an explanatory diagram of front / back discriminating operation of the turntable mechanism of the present invention.
【図１６】本発明の試験片の斜視図である。FIG. 16 is a perspective view of a test piece of the present invention.
１ 試験片 ２ ストリップ ３ 試験パッド ４ 把持部 ５ 基材 ６ 側部領域 ７ 試験片チャンバー ８ 試験片吸着機構 ９ ボトル駆動機構 １０ ピックアップ機構 １１ 乾燥剤 １２ 駆動系チャンバー １３ 表裏判別機構 １４ ターンテーブル機構 １５ ダイヤフラム １６ ステッピングモーター １７ 電磁弁 １８ 圧力センサー １９ フィルター ２０ 真空ポンプ ２１ ボトルホルダー ２２ 爪 ２３ ガイド部材 ２４ ガイド部 ２５ 試験片引出用窓 ２６ 吸引孔 ２７ ウォーム歯車 ２８ エアーチャック ３７ 吸引孔 ３８ エアー管 ４１ 搬送ステージ ４３ プッシュバー ４４ 開口部 ４５ 吸引孔 ４７ 吸引孔 ６５ ガイド板 ６７ 吸引孔 ７８ フラッパ １００ 試験片ボトル １２５ 反転器 １２６ 反転板 １２７ 吸引孔 １２８ 歯車 １２９ 歯車 １３０ モータ １３１ 回転軸 １３２ エアー管 １３３ リミットスイッチ １３４ リミットスイッチ ２０８ 吸引部 ２０９ 基部 ２１０ エアー管取付部 ２１１ エアー管 ２１３ アーム ２２２ ハンドリングチャック ２２３ 試料容器 ＯＰ１ 試験片吸着機構の吸引孔 ＯＰ２ ピックアップ機構の吸引孔 ＯＰ３ 表裏判別機構の吸引孔 ＯＰ４ 表裏反転機構の吸引孔 ＯＰ５ ターンテーブル機構の吸引孔 ＯＰ６ 過剰尿吸引機構の吸引孔 ｆ1 〜ｆ6 フィルター Ｖ1 〜Ｖ6 電磁弁 Ｍ１，Ｍ２ マニホールド Ｓ１，Ｓ２ 圧力センサー Ｐ１，Ｐ２ 真空ポンプ Ｔｋ 廃棄タンク1 test piece 2 strip 3 test pad 4 gripping part 5 base material 6 side area 7 test piece chamber 8 test piece adsorbing mechanism 9 bottle driving mechanism 10 pickup mechanism 11 desiccant 12 drive system chamber 13 front and back discriminating mechanism 14 turntable mechanism 15 Diaphragm 16 Stepping motor 17 Solenoid valve 18 Pressure sensor 19 Filter 20 Vacuum pump 21 Bottle holder 22 Claw 23 Guide member 24 Guide part 25 Specimen drawing window 26 Suction hole 27 Worm gear 28 Air chuck 37 Suction hole 38 Air tube 41 Transfer stage 43 push bar 44 opening 45 suction hole 47 suction hole 65 guide plate 67 suction hole 78 flapper 100 test piece bottle 125 reversing device 126 reversing plate 127 suction hole 128 gear 129 gear 130 motor 1 1 rotary shaft 132 air tube 133 limit switch 134 limit switch 208 suction section 209 base 210 air tube mounting section 211 air tube 213 arm 222 handling chuck 223 sample container OP1 suction hole of test piece adsorption mechanism OP2 suction hole of pickup mechanism OP3 front / back discrimination mechanism suction holes f 1 of the suction holes OP4 suction holes OP6 excess urine suction mechanism of the suction holes OP5 turntable mechanism reversing mechanism ~f 6 filter V 1 ~V 6 solenoid valves M1, M2 manifold S1, S2 pressure sensors P1, P2 Vacuum pump Tk Waste tank
Claims (4)
料と試験片上に設けた試薬との反応で発色した部分を光
学的に測定することにより液体試料中の成分を分析する
連続自動液体試料分析装置において、 真空ポンプと、 複数の試験片が収納された試験片ボトルから試験片を吸
着して取り出すピックアップ機構に設けた吸引孔、取り
出した試験片の表裏を判別する表裏判別機構に設けた吸
引孔、試験片のパッド面が下側にある場合に試験片を反
転する表裏反転機構に設けた吸引孔、試験片の表裏をさ
らに判別し、ハンドリングチャックに引き渡すターンテ
ーブル機構に設けた吸引孔の少なくとも１以上を、マニ
ホールドおよび開閉弁を介して前記真空ポンプに選択的
に接続するエアー管路と、 前記エアー管路内の少なくとも１ケ所に設けた圧力セン
サーと、 を含み、前記開閉弁の選択的操作および／または前記圧
力センサーの出力に基づいて、試験片を取り出し、保持
し、試験片の表裏を判別し、試験片の表裏を反転し、試
験片の表裏を再度判別し、次のハンドリングチャックに
移送する動作の少なくとも１つを選択的に実行させるこ
とを特徴とする真空吸引回路装置。1. A continuous automatic liquid sample for analyzing a component in a liquid sample by adhering a liquid sample to a test piece and optically measuring a portion developed by a reaction between the liquid sample and a reagent provided on the test piece. In the analyzer, a vacuum pump, a suction hole provided in a pickup mechanism that picks up and removes test pieces from a test piece bottle that contains a plurality of test pieces, and a front and back side determination mechanism that distinguishes the front and back sides of the taken out test pieces Suction hole, suction hole provided on the front and back reversing mechanism that reverses the test piece when the pad surface of the test piece is on the lower side, suction hole provided on the turntable mechanism that further distinguishes the front and back of the test piece and delivers it to the handling chuck At least one of which is selectively connected to the vacuum pump via a manifold and an opening / closing valve, and a pressure provided at least at one place in the air pipeline. A force sensor, and, based on the selective operation of the opening / closing valve and / or the output of the pressure sensor, removes and holds the test piece, determines the front and back of the test piece, and reverses the front and back of the test piece, A vacuum suction circuit device characterized in that at least one of the operations of re-distinguishing the front and back of a test piece and transferring it to the next handling chuck is selectively executed.
から試験片を吸着して取り出すピックアップ機構に設け
た吸引孔、取り出した試験片の表裏を判別する表裏判別
機構に設けた吸引孔、試験片のパッド面が下側にある場
合に試験片を反転する表裏反転機構に設けた吸引孔、試
験片の表裏を再度判別し、ハンドリングチャックに移送
するターンテーブル機構に設けた吸引孔の少なくとも１
以上が配置された試験片チャンバーと、マニホールドを
介して開閉弁に選択的に接続するエアー管路と、を含
み、前記開閉弁の選択的操作に基づいて前記エアー管路
の気圧を常圧に復帰させることを特徴とする真空吸引回
路装置。2. A suction hole provided in a pickup mechanism for adsorbing and taking out the test piece from a test piece bottle containing a plurality of test pieces, a suction hole provided in a front and back side discriminating mechanism for discriminating the front and back sides of the taken out test piece, At least the suction holes provided in the front / back reversing mechanism that reverses the test piece when the pad surface of the test piece is on the lower side, and the suction hole provided in the turntable mechanism that re-determines the front and back of the test piece and transfers it to the handling chuck. 1
A test piece chamber in which the above is arranged, and an air pipeline that is selectively connected to the on-off valve via a manifold, and the atmospheric pressure of the air pipeline is set to normal pressure based on the selective operation of the on-off valve. Vacuum suction circuit device characterized by being restored.
料と試験片上に設けた試薬との反応で発色した部分を光
学的に測定することにより液体試料中の成分を分析する
連続自動液体試料分析装置において、 真空ポンプと、 過剰液吸引機構に設けられた吸引孔と密閉された過剰液
廃棄タンクを開閉弁を介して前記真空ポンプに接続する
エアー管路と前記エアー管路内の少なくとも１ケ所に設
けられた圧力センサーと、 を含み、前記開閉弁の選択的操作および前記圧力センサ
ーの出力に基づいて、少なくとも前記真空ポンプの能
力、前記過剰液吸引機構に設けられた吸引孔の詰まりを
検出し得ることを特徴とする試験片の過剰液を吸引する
ことを特徴とする真空吸引回路装置。3. A continuous automatic liquid sample for analyzing a component in a liquid sample by adhering a liquid sample to the test piece and optically measuring a portion colored by a reaction between the liquid sample and a reagent provided on the test piece. In the analyzer, a vacuum pump, an air passage connecting a suction hole provided in the excess liquid suction mechanism and a sealed excess liquid waste tank to the vacuum pump through an opening / closing valve, and at least one of the air pipelines. A pressure sensor provided at a location, and based on the selective operation of the opening / closing valve and the output of the pressure sensor, at least the capacity of the vacuum pump and the clogging of the suction hole provided in the excess liquid suction mechanism are prevented. A vacuum suction circuit device characterized by being capable of detecting and sucking an excess liquid of a test piece.
料と試験片上に設けた試薬との反応で発色した部分を光
学的に測定することにより液体試料中の成分を分析する
連続自動液体試料分析装置において、 複数の試験片が収納された試験片ボトル内で１本の試験
片を吸着し、前記試験片の吸着有無を判別し、ピックア
ップ機構により前記試験片を取り出し、表裏判別機構に
より前記試験片の表裏を判別し、前記試験片のパッド面
が上側にある場合には、前記試験片をターンテーブルに
載置し、前記試験片のパッド面が下側にある場合には、
表裏反転機構により前記試験片を反転し、ターンテーブ
ルに載置し、再度、ターンテーブル機構により前記試験
片の表裏を判別し、前記試験片のパッド面が上側にある
場合には、前記試験片を吸着保持してハンドリングチャ
ックに移送し、前記試験片のパッド面が下側にある場合
には、表裏反転機構により前記試験片を吸着保持し、さ
らに前記試験片を逆反転し、前記試験片を試薬テーブル
に載置し、前記試験片をターンテーブルに移送し、さら
に再びターンテーブル機構により前記試験片の表裏を判
別し、前記試験片のパッド面が上側にある場合には、前
記試験片を吸着保持してハンドリングチャックに引き渡
し、前記試験片のパッド面が下側にある場合には、シス
テムを停止し、試料容器の液体試料に前記試験片を浸漬
後、試薬に付着した過剰液を前記試験片の引き上げと同
時に、吸引し、前記試験片を分析装置に移送する試験片
の真空吸引方法。4. A continuous automatic liquid sample for analyzing a component in a liquid sample by adhering a liquid sample to the test piece and optically measuring a portion colored by a reaction between the liquid sample and a reagent provided on the test piece. In the analyzer, one test piece is adsorbed in a test piece bottle containing a plurality of test pieces, whether or not the test piece is adsorbed is determined, the test piece is taken out by a pickup mechanism, and the front and back side discrimination mechanism is used to Determine the front and back of the test piece, when the pad surface of the test piece is on the upper side, the test piece is placed on a turntable, when the pad surface of the test piece is on the lower side,
The test piece is inverted by the front and back reversing mechanism, placed on a turntable, the front and back of the test piece is discriminated again by the turntable mechanism, and when the pad surface of the test piece is on the upper side, the test piece is Is suction-held and transferred to a handling chuck, and when the pad surface of the test piece is on the lower side, the test piece is suction-held by a front / back reversing mechanism, and the test piece is reverse-inverted. Is placed on a reagent table, the test piece is transferred to a turntable, and the front and back of the test piece are discriminated again by a turntable mechanism. When the pad surface of the test piece is on the upper side, the test piece is placed. Adsorb and hold it on the handling chuck, and if the pad surface of the test piece is on the lower side, stop the system and after dipping the test piece in the liquid sample in the sample container, attach it to the reagent. Simultaneously with pulling of excess liquid the specimen, suction, vacuum suction method of the test piece transferring the specimen into the analyzer.
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|---|---|---|---|
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-
1994
- 1994-05-10 JP JP11976094A patent/JP3331257B2/en not_active Expired - Fee Related
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| US10101345B2 (en) | 2013-09-26 | 2018-10-16 | Sysmex Corporation | Test strip pickup mechanism, test strip moving apparatus, liquid sample analyzer, and test strip pickup method |
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