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JPH07270303A - Environment tester - Google Patents

Environment tester

Info

Publication number
JPH07270303A
JPH07270303A JP6064831A JP6483194A JPH07270303A JP H07270303 A JPH07270303 A JP H07270303A JP 6064831 A JP6064831 A JP 6064831A JP 6483194 A JP6483194 A JP 6483194A JP H07270303 A JPH07270303 A JP H07270303A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
test
test chamber
suction port
heat exchange
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6064831A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaaki Kato
正昭 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
KATOO KK
Original Assignee
KATOO KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by KATOO KK filed Critical KATOO KK
Priority to JP6064831A priority Critical patent/JPH07270303A/en
Publication of JPH07270303A publication Critical patent/JPH07270303A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
  • Control Of Temperature (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enhance the test efficiency by making the temperature almost at the center in a test chamber to be accurately controlled without disturbing the housing of test pieces while making the temperature reach a set temperature as early as possible at the start of a testing and at the altering of the set temperature. CONSTITUTION:A closed test chamber 3 to house test pieces is formed in a box body 4 of an apparatus body. Air in the test chamber 3 is circulated by the rotation of a fan 15 and sucked into an suction port 9 so that it passes through a heat exchange section 13 comprising a cooling coil 12 and a heater 11 to be blown into the test chamber 3 through a blowoff port 10. Then, platinum resistance thermometer elements 21 and 22 are arranged near the suction port 9 and near the blowoff port 10 as temperature sensors respectively and a controller controls the heat exchange section 13 so that a means of measured temperatures with the respective temperature sensors coincides with a target temperature.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、電子部品や電子機器
等の各種試験品を想定し得る温度や湿度等の使用環境条
件に置いて、その特性や異常の有無を調べる際に使用す
る環境試験装置に関する。この環境試験装置には、恒温
恒湿器,高低温恒温器,耐候性試験機,熱衝撃試験装
置,冷熱サイクル装置等を含むものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an environment used for investigating the characteristics and presence / absence of abnormalities under various environmental conditions such as temperature and humidity that can be assumed for various test products such as electronic parts and electronic devices. Regarding test equipment. This environmental test device includes a thermo-hygrostat, a high-low temperature thermostat, a weather resistance tester, a thermal shock test device, a thermal cycler, and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】各種の電子部品や電機部品等を用いた製
品では、それがさまざまな環境条件で使用されても何ら
不具合を生じないようにするため、完成後の製品を人工
的につくり上げた想定される使用条件(温度,湿度等)
の中に置いて異常の有無を調べたり、開発段階の製品を
各種環境条件で特性を測定したりして開発時における技
術データとしたり、あるいは発売後の製品が何らかの不
具合でメーカーに戻された時にその原因を追及したりす
るために、それが使用された環境条件を再現して不具合
が発生した原因を調査したりすることが行なわれてい
る。
2. Description of the Related Art Products using various electronic parts and electric parts are artificially manufactured after completion in order to prevent any problems even if they are used under various environmental conditions. Assumed usage conditions (temperature, humidity, etc.)
Placed inside the product to check for abnormalities, measure the characteristics of the product in the development stage under various environmental conditions and use it as the technical data at the time of development, or the product after sale was returned to the manufacturer due to some defect. At times, in order to investigate the cause, it is performed to reproduce the environmental conditions under which it was used and investigate the cause of the failure.

【0003】このような環境条件を人工的につくるに
は、例えば恒温恒湿器(高湿も可能),高低温恒温器,耐
候性試験機,熱衝撃試験装置,冷熱サイクル装置(温度
サイクル試験器)等の環境試験装置が使用される。この
ような環境試験装置は、いずれも環境試験を行なう試験
品を収納するための密閉された試験室を形成する筐体
と、その試験室内を所要の温度にするための加熱部(ヒ
ータ等)及び冷却部(冷凍コイル等)の両方又は一方か
らなる熱交換部及びその制御手段(コントローラ)とを
備えている。
To artificially create such environmental conditions, for example, a constant temperature and humidity chamber (high humidity is also possible), a high and low temperature constant temperature chamber, a weather resistance tester, a thermal shock test device, a thermal cycle device (temperature cycle test). Environment test equipment such as a container) is used. Such an environmental test device is a case that forms a sealed test chamber for storing a test product to be subjected to an environmental test, and a heating unit (heater or the like) for keeping the test chamber at a required temperature. And a heat exchanging unit including both or one of a cooling unit (freezing coil and the like) and a control unit (controller) for the heat exchanging unit.

【0004】さらに、試験室の上部と下部等の離れた位
置に吸込口と吹出口を開口し、その吸込口から試験室内
の空気を吸入して上記熱交換部を通して吹出口から試験
室内へ吹き出す送風手段(送風ファン等)を備え、試験
室内の空気を循環させながら設定された目標温度に保つ
ように温度制御するようになっている。
Further, a suction port and an air outlet are opened at positions such as upper and lower portions of the test chamber, air in the test chamber is sucked from the air inlet, and blown into the test chamber from the air outlet through the heat exchange section. An air blower (a blower fan or the like) is provided, and the temperature is controlled so as to maintain the set target temperature while circulating the air in the test chamber.

【0005】そのため、従来の環境試験装置では、一般
に吹出口の近傍に温度センサを配設して、送風手段によ
って試験室へ吹き出す温風あるいは冷風の温度を計測
し、その温度が設定された目標温度と一致するように、
コントローラが熱交換部のヒータ等を制御していた。あ
るいは、吸込口の近傍に温度センサを配設して試験室か
ら還流される空気の温度を計測して、その温度を目標温
度と一致させるように温度制御する場合もある。
Therefore, in the conventional environmental test apparatus, a temperature sensor is generally arranged near the outlet, and the temperature of the warm air or the cold air blown into the test chamber is measured by the blowing means, and the temperature is set as the target. To match the temperature,
The controller was controlling the heater etc. of the heat exchange part. Alternatively, a temperature sensor may be arranged near the suction port to measure the temperature of the air recirculated from the test chamber, and the temperature may be controlled to match the target temperature.

【0006】そして、このような環境試験装置において
制御可能な試験室内の温度は、一般的なものでは−20
℃〜+100℃程度であるが、−70℃まで冷却が可能
なものもあり、さらに熱衝撃試験装置等においては+2
00℃以上にも加熱が可能である。また、試験室内の環
境条件(温度等)は、常に一定の条件に保つ他に、所定
の時間ごとに環境条件を変えるプログラム設定も可能で
ある。
The temperature within the test chamber that can be controlled by such an environmental test apparatus is generally -20.
℃ ~ +100 ℃, but some can be cooled to -70 ℃, +2 in thermal shock test equipment
It is possible to heat above 00 ° C. Further, the environmental conditions (temperature, etc.) in the test chamber can be set to a program that changes the environmental conditions every predetermined time, in addition to always maintaining constant conditions.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな環境試験装置では、試験室内の空気は循環している
とはいえ室内全域で均一ではなく、温度センサによって
測温する位置と実際に試験品を載置する位置(通常は中
央部が多い)とで温度差があるため、試験品を正確に設
定温度に保持できないという問題がある。
However, in such an environmental test apparatus, although the air in the test chamber is circulated, it is not uniform in the entire room, and the position where the temperature is measured by the temperature sensor and the actual test product are measured. Since there is a temperature difference between the mounting position (usually the central portion is large), the test product cannot be accurately maintained at the set temperature.

【0008】また、試験室内に新たな試験品を収納して
テストを開始する際や、設定温度を任意にあるいは所定
のサイクルで変更してテストするような場合には、設定
温度と試験品との温度差が大きくなるため、試験品の熱
容量による吸熱あるいは放熱が生じ、吹出口付近と試験
品付近あるいは吸込口付近との温度差が大きくなり、上
述した問題が顕著になる。
Further, when a new test product is stored in the test chamber to start the test, or when the test is performed by changing the set temperature arbitrarily or in a predetermined cycle, the set temperature and the test product are compared with each other. Since the temperature difference becomes large, heat absorption or heat dissipation occurs due to the heat capacity of the test product, and the temperature difference between the vicinity of the blowout port and the vicinity of the test product or the suction port becomes large, and the above-mentioned problem becomes remarkable.

【0009】そのため、厳密な温度条件での環境試験が
できなかったり、吹出口付近に温度センサを設置した場
合には、室内温度を加熱時には高めに冷却時には低めに
測定してしまうため、加熱あるいは冷却が抑制されて設
定温度に達するまでに時間がかかり、試験時間も長くか
かることになるという問題があり、吸込口付近に温度セ
ンサを設置した場合には、室内温度を加熱時には低めに
冷却時には高めに測定してしまうため、加熱あるいは冷
却が過剰になってしまう恐れがあるので、安全性の上で
好ましくないという問題があった。
Therefore, if an environmental test cannot be performed under strict temperature conditions, or if a temperature sensor is installed near the air outlet, the room temperature will be measured high during heating and low during cooling. There is a problem that cooling is suppressed and it takes time to reach the set temperature, and the test time also takes a long time.If a temperature sensor is installed near the suction port, the room temperature should be low when heating and low when cooling. Since the measurement is performed at a high level, heating or cooling may be excessive, which is not preferable in terms of safety.

【0010】このような問題を解決するために、温度セ
ンサを試験室の中央部に設置することが考えられるが、
そうすると種々の形状及び大きさの試験品を収納するの
に邪魔になってしまうし、温度センサが試験品に接触し
てしまうと正確な室内温度を測定できなくなるなどの問
題が生じる。
In order to solve such a problem, it is possible to install a temperature sensor in the center of the test chamber.
This will hinder the storage of test products of various shapes and sizes, and if the temperature sensor comes into contact with the test products, it will not be possible to accurately measure the room temperature.

【0011】この発明は、このような種々の問題を解決
するためになされたものであり、試験品の収納に支障を
きたすことなく、試験室内のほぼ中央部の温度を正確に
制御できるようにすると共に、試験開始時及び設定温度
変更時にその設定温度に安全に早く到達して、試験効率
を高めることができようにすることを目的とする。
The present invention has been made in order to solve these various problems, and it is possible to accurately control the temperature in the substantially central portion of the test chamber without hindering the storage of test products. At the same time, it is an object of the present invention to safely and quickly reach the set temperature at the start of the test and when the set temperature is changed so that the test efficiency can be improved.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】この発明は、上述のよう
な環境試験装置において上記の目的を達成するため、試
験室の吸込口の近傍と吹出口の近傍にそれぞれ温度セン
サを配設し、制御手段がその各温度センサによる計測温
度の平均値を目標温度(設定値)と一致させるように熱交
換部(加熱部あるいは冷却部)を制御するように構成し
たものである。上記熱交換部が加熱部と冷却部からなる
ものにおいて、制御手段が上記各温度センサによる計測
温度の平均値を目標温度と一致させるように、その加熱
部のみを制御するように構成してもよい。
In order to achieve the above-mentioned object in the above-mentioned environmental test apparatus, the present invention provides temperature sensors in the vicinity of the inlet and the outlet of the test chamber, The control means is configured to control the heat exchange section (heating section or cooling section) so that the average value of the temperatures measured by the respective temperature sensors coincides with the target temperature (set value). In the heat exchange part including a heating part and a cooling part, the control means may be configured to control only the heating part so that the average value of the temperatures measured by the temperature sensors coincides with the target temperature. Good.

【0013】上記各温度センサとして白金測温抵抗体を
用いるとよい。その場合、吸込口の近傍と吹出口の近傍
にそれぞれ配設した2個の白金測温抵抗体を直列に接続
して一定電流を流し、その2個の白金測温抵抗体の直列
回路の両端間に生ずる電位差を各温度センサによる計測
温度の平均値に相当する情報として上記制御手段に入力
させるように測温回路を構成することができる。
A platinum resistance temperature detector may be used as each of the temperature sensors. In that case, two platinum resistance temperature detectors, which are respectively arranged near the suction port and near the blowout port, are connected in series to flow a constant current, and both ends of the series circuit of the two platinum resistance temperature detectors are connected. The temperature measuring circuit can be configured so that the potential difference generated between them is input to the control means as information corresponding to the average value of the temperature measured by each temperature sensor.

【0014】[0014]

【作用】このように構成した環境試験装置は、試験室の
吸込口の近傍と吹出口の近傍にそれぞれ配置した温度セ
ンサによって計測される試験室からの吸気温度と吹き出
し風温度の平均値を目標温度(設定値)と一致させるよう
に熱交換部の加熱部あるいは冷却部を制御するので、試
験品が載置される略中央部の温度を設定値にすることが
できる。しかも、温度上昇時にも低下時にも計測温度が
高めになったり低めになったりすることがなくなり、加
熱あるいは冷却が抑制されて設定温度に到達するまで時
間が延びたり、逆に加熱あるいは冷却されすぎて安全性
を損ねたりすることがない。
The environmental test apparatus thus constructed targets the average value of the intake air temperature and the blown air temperature from the test chamber, which are measured by the temperature sensors respectively arranged near the inlet and the outlet of the test chamber. Since the heating section or the cooling section of the heat exchange section is controlled so as to match the temperature (set value), the temperature of the substantially central portion where the test article is placed can be set to the set value. Moreover, the measured temperature never rises or falls when the temperature rises or falls, heating or cooling is suppressed and the time until the set temperature is reached is extended, and conversely heating or cooling is excessive. There is no loss of safety.

【0015】熱交換部が加熱部と冷却部からなるものの
場合には、その冷却部を作用させる一般の冷凍機はその
冷却出力の微調整ができないので、試験中は常に作動さ
せておき、加熱部のみの制御によって試験室の中央部の
温度を設定温度にし、それを維持することができる。
In the case where the heat exchanging section is composed of a heating section and a cooling section, a general refrigerator operating the cooling section cannot finely adjust the cooling output, so that it is always operated during the test and heated. The temperature of the central part of the test chamber can be set to the set temperature and maintained by the control of only the part.

【0016】吸込口の近傍と吹出口の近傍にそれぞれ配
置する温度センサとして白金測温抵抗体を用いれば、安
定性がよく高精度な温度制御が可能である。また、その
2個の白金測温抵抗体を直列に接続してそれに一定電流
(白金測温抵抗体が1個の場合の1/2の電流)を流す
測温回路により、その2個の白金測温抵抗体の直列回路
の両端間に生ずる電位差すなわち計測温度に相当する値
は、各白金測温抵抗体による計測温度の平均値に相当す
る値となり、それを制御手段(コントローラ)に測温情
報として入力させるようにすれば、従来の制御手段を殆
んどそのまま使用することができる。
If a platinum resistance temperature detector is used as the temperature sensors arranged near the suction port and near the air outlet, respectively, the temperature can be controlled with high stability and high accuracy. In addition, the two platinum resistance thermometers are connected in series, and a constant current (a current that is 1/2 that of a single platinum resistance temperature detector) is applied to the two platinum resistance thermometers. The potential difference between both ends of the series circuit of the resistance temperature detector, that is, the value corresponding to the measured temperature, becomes a value corresponding to the average value of the temperature measured by each platinum resistance temperature sensor, and the value is measured by the control means (controller). If the input is made as information, the conventional control means can be used almost as it is.

【0017】[0017]

【実施例】以下、この発明の実施例を図面に基づいて具
体的に説明する。図2はこの発明の一実施例を示す環境
試験装置の正面図、図1はそのA−A線に沿う模式的な
断面図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT An embodiment of the present invention will be specifically described below with reference to the drawings. FIG. 2 is a front view of an environmental test apparatus showing an embodiment of the present invention, and FIG. 1 is a schematic sectional view taken along the line AA.

【0018】この環境試験装置は、高低温恒温器及び冷
熱サイクル装置等として使用できるものであり、図2に
示すように、環境試験を行なう試験品を収納するための
密閉された試験室3を形成する筐体4を主体とする装置
本体1と、その側面に沿って立設する制御盤ユニット2
とによって構成されている。
This environmental testing device can be used as a high and low temperature incubator, a cooling and heating cycle device, and the like. As shown in FIG. 2, a sealed test chamber 3 for accommodating a test product to be environmentally tested is provided. An apparatus main body 1 mainly including a casing 4 to be formed, and a control panel unit 2 standing upright along the side surface thereof.
It is composed of and.

【0019】装置本体1の試験室3を形成する筐体4の
部分は、図1に示すように内外面を金属板で形成し、そ
の間に充分な断熱材を挾んだサンドイッチ構造の断熱壁
4aで試験室3を囲み、前面には同様な断熱構造の扉5
を開閉可能に蝶着している。その扉5の中央部には観測
窓6が設けられ、両面ヒータ付きの曇り防止ガラス6a
が嵌め込まれている。7は扉の開閉及びロック用レバー
である。
As shown in FIG. 1, the portion of the housing 4 forming the test chamber 3 of the apparatus main body 1 is formed of a metal plate on the inner and outer surfaces, and a heat insulating wall having a sandwich structure in which a sufficient heat insulating material is sandwiched therebetween. The test chamber 3 is surrounded by 4a, and a door 5 having a similar heat insulation structure is provided on the front side.
Is hinged so that it can be opened and closed. An observation window 6 is provided at the center of the door 5, and a fog prevention glass 6a with a double-sided heater is provided.
Is fitted. Reference numeral 7 is a door opening / closing and locking lever.

【0020】試験室3の後部は図1に示すように仕切板
8で仕切られており、その下部には吸込口9が、上部に
は吹出口10がそれぞれ設けられ、その背後には、加熱
部であるヒータ11と冷却部である冷却コイル12から
なる熱交換部13と、ファンモータ14によって回転さ
れる送風手段であるファン15が設けられている。吸込
口9と吹出口10にはルーバあるいは網が設けられてい
る。
As shown in FIG. 1, the rear part of the test chamber 3 is partitioned by a partition plate 8, a suction port 9 is provided in the lower part of the test chamber 3, and a blow-out port 10 is provided in the upper part thereof. A heat exchange section 13 including a heater 11 which is a section and a cooling coil 12 which is a cooling section, and a fan 15 which is a blowing unit rotated by a fan motor 14 are provided. Louvers or nets are provided at the suction port 9 and the air outlet 10.

【0021】そして、ファンモータ14によるファン1
5の回転によって、吸込口9から試験室3内の空気を吸
入して熱交換部13を通し、その熱交換後の空気を吹出
口10から試験室内3へ吹き出して、試験室3内の空気
を図1に矢印で示すように循環させて調温する。装置本
体1の下部には、冷却コイル12を冷却するための冷凍
機16が収納され、その前面には図2に示すように、冷
凍機16からの放熱用の外気を流通させるルーバ17が
設けられている。図1において、冷凍機16と冷却コイ
ル12との間の配管は図示を省略している。試験室3の
天井には室内灯18が設けられ、室内には試験品を載置
する二段の棚19が設けられている。
Then, the fan 1 by the fan motor 14
By the rotation of 5, the air in the test chamber 3 is sucked in through the suction port 9 and passed through the heat exchange section 13, and the air after the heat exchange is blown out from the blowout port 10 into the test chamber 3 and the air in the test chamber 3 is discharged. Is circulated as indicated by the arrow in FIG. 1 to adjust the temperature. A refrigerator 16 for cooling the cooling coil 12 is housed in the lower part of the device body 1, and a louver 17 for circulating outside air for heat radiation from the refrigerator 16 is provided on the front surface thereof as shown in FIG. Has been. In FIG. 1, piping between the refrigerator 16 and the cooling coil 12 is omitted. An indoor lamp 18 is provided on the ceiling of the test room 3, and a two-stage shelf 19 for mounting a test product is provided in the room.

【0022】そして、温度センサとして2本の棒状の白
金測温抵抗体21,22を、図2に破線で示すように筐
体4の側壁を貫通させて試験室3内に突出するように挿
着し、その各白金測温抵抗体21,22の先端部の抵抗
素子を内蔵する測温部を、それぞれ図1に示すように吸
込口9の近傍(後側)と吹出口10の近傍(前側)に位
置させるようにしている。
Two rod-shaped platinum resistance temperature detectors 21 and 22 are inserted as temperature sensors so as to penetrate the side wall of the housing 4 and project into the test chamber 3 as shown by a broken line in FIG. As shown in FIG. 1, each of the platinum temperature measuring resistors 21 and 22 having a built-in resistance element at the tip of each of the resistance temperature detectors 21 and 22 is attached near the suction port 9 (rear side) and near the air outlet 10 ( It is located on the front side).

【0023】一方、制御盤ユニット2は、その前面上部
に各種の入力を行なう際に使用する多数のキーからなる
キーボード23と、試験条件等の入力情報や試験室3内
の温度情報等を表示するCRTディスプレイ24、及び
図示を省略したライトペン等を備えた計装部25と、蓄
積データをプリントアウトするハイブリッドレコーダ2
6を備え、下部に電源スイッチ27を配設している。
On the other hand, the control panel unit 2 displays a keyboard 23 consisting of a large number of keys used for various inputs on the front upper part thereof, input information such as test conditions and temperature information in the test chamber 3. CRT display 24, instrumentation section 25 including a light pen (not shown), and hybrid recorder 2 for printing out accumulated data
6, and a power switch 27 is arranged at the bottom.

【0024】さらに、この制御盤ユニット2内には、2
本の白金測温抵抗体21,22による計測温度の平均値
を設定された目標温度と一致させるように熱交換部13
(この実施例ではヒータ11)を制御する機能を有する
制御手段であるコントローラを備えている。
Further, in the control panel unit 2, 2
The heat exchange unit 13 is arranged so that the average value of the temperatures measured by the platinum resistance temperature detectors 21 and 22 matches the set target temperature.
The controller is a controller having a function of controlling the heater 11 in this embodiment.

【0025】図3はそのコントローラの構成例を示すブ
ロック図である。このコントローラ30は、CPU,R
OM,RAM等によって構成されたマイクロコンピュー
タ(以下「マイコン」と略称する)31と、A/Dコン
バータ32,D/Aコンバータ33,及びソリッドステ
ート・リレー(以下「SSR」と略称する)34からな
る。
FIG. 3 is a block diagram showing a configuration example of the controller. This controller 30 is a CPU, R
From a microcomputer (hereinafter abbreviated as "microcomputer") 31 configured by OM, RAM, etc., an A / D converter 32, a D / A converter 33, and a solid state relay (hereinafter abbreviated as "SSR") 34 Become.

【0026】また、2本の白金測温抵抗体21,22の
抵抗素子を直列に接続し、それに定電流源回路35によ
って一定電流Isを流すようにして測温回路を構成し、
その白金測温抵抗体21,22の直列回路の両端間に生
ずる電位差Viをコントローラ30のA/Dコンバータ
32に入力させ、デジタルデータに変換してマイコン3
1に読み込ませるようにしている。
Further, the resistance elements of the two platinum resistance temperature detectors 21 and 22 are connected in series, and the constant current source circuit 35 causes a constant current Is to flow therethrough to form a temperature measuring circuit.
The potential difference Vi generated between both ends of the series circuit of the platinum resistance temperature detectors 21 and 22 is input to the A / D converter 32 of the controller 30, converted into digital data, and converted into the microcomputer 3.
I am trying to read it in 1.

【0027】ここで、各白金測温抵抗体21,22の抵
抗素子の温度に応じて変化する抵抗値をそれぞれR1
2とし、この各抵抗値R1,R2それによってそれぞれ
発生する電位差をV1,V2とすると、この各電位差が各
白金測温抵抗体21,22による計測温度に対応し、直
列回路の両端の電位差Viはその和であるから、一定電
流Isを流したときに得られる電位差Viは次式によっ
て求まる。 Vi=V1+V2=(R1+R2)Is
Here, the resistance values which change according to the temperature of the resistance elements of the platinum resistance temperature detectors 21 and 22 are R 1 and R 2 , respectively.
Let R 2 be the resistance values R 1 and R 2 and the potential differences generated thereby are V 1 and V 2 , respectively, and the potential differences correspond to the temperatures measured by the platinum resistance temperature detectors 21 and 22, respectively. Since the potential difference Vi at both ends of is a sum thereof, the potential difference Vi obtained when the constant current Is is passed is obtained by the following equation. Vi = V 1 + V 2 = (R 1 + R 2 ) Is

【0028】そして、従来のように吹出口あるいは吸込
口付近に1本の白金測温抵抗体を配置して測温する場合
に、その白金測温抵抗体に流していた電流値をI0,その
白金測温抵抗体の抵抗素子の抵抗値をR0, その両端間
に発生する電位差をV0とすると、V0=R0・I0 であ
る。そこで、Is=I0/2 とすることにより、Vi
=(R1+R2)Is=(R1+R2)I0/2となる。
When one platinum resistance temperature detector is arranged near the air outlet or suction port to measure temperature as in the conventional case, the current value flowing through the platinum resistance temperature detector is I 0 , When the resistance value of the resistance element of the platinum resistance thermometer is R 0 and the potential difference generated across the resistance element is V 0 , V 0 = R 0 · I 0 . Therefore, by the Is = I 0/2, Vi
= (R 1 + R 2 ) Is = (R 1 + R 2 ) I 0/2 .

【0029】この式で、右辺の分子であるR1・I0とR2
・I0は、それぞれ各白金測温抵抗体21,22に従来と
同じ電流値I0 の電流を流した時の計測温度に相当する
電位差であり、Viはその和を1/2にした平均値であ
ることは明らかである。したがって、この電位差Viを
コントローラ30に入力することにより、特別な演算回
路などを使用せずに、試験室3内の吹出口10の近傍
(熱を使う前)の温度と吸込口9の近傍(熱を使った
後)の温度の平均値に相当する情報を検出温度Tiとし
て入力することができる。
In this formula, the numerator on the right side, R 1 · I 0 and R 2
I 0 is a potential difference corresponding to the measured temperature when a current having the same current value I 0 as that in the conventional case is applied to each of the platinum resistance temperature detectors 21 and 22, and Vi is an average obtained by halving the sum. Clearly the value. Therefore, by inputting this potential difference Vi into the controller 30, the temperature in the vicinity of the air outlet 10 (before heat is used) and the vicinity of the air inlet 9 in the test chamber 3 (without using a special arithmetic circuit) ( Information corresponding to the average value of the temperature (after using heat) can be input as the detected temperature Ti.

【0030】コントローラ30のマイコン31は、それ
をA/D変換したデータを読み込んで、計装部25によ
って設定されるか、指定された試験条件に対して予めプ
ログラムされた設定温度(Tsとする)と比較して、そ
の差に応じた制御データをD/Aコンバータ33に出力
する。D/Aコンバータ33は、それをデューティ制御
信号に変換してSSR34のONデューティ(矩形波交
流の周期に対するヒータ11に通電する時間の割合)を
制御して、ヒータ11の発熱量を調節し、検出温度Ti
を設定温度Tsと一致させるように循環風を調温制御す
る。
The microcomputer 31 of the controller 30 reads the data obtained by A / D conversion of the data, and sets the temperature (Ts) which is set by the instrumentation section 25 or preprogrammed for a specified test condition. ), And outputs control data according to the difference to the D / A converter 33. The D / A converter 33 converts it into a duty control signal to control the ON duty of the SSR 34 (the ratio of the time during which the heater 11 is energized with respect to the cycle of the rectangular wave AC) to adjust the heat generation amount of the heater 11, Detection temperature Ti
The temperature of the circulated air is controlled to match the temperature Ts with the set temperature Ts.

【0031】この実施例では、冷凍機16による冷却コ
イル12の細かい温度制御はできないため、図3では冷
凍機16の駆動回路の図示は省略しているが、図2の電
源スイッチ27がONになると常時冷凍機16を動作さ
せ、ヒータへの通電制御のみによって調温するようにし
ている。
In this embodiment, since the refrigerator 16 cannot finely control the temperature of the cooling coil 12, the drive circuit of the refrigerator 16 is not shown in FIG. 3, but the power switch 27 of FIG. 2 is turned on. In this case, the refrigerator 16 is always operated and the temperature is controlled only by controlling the energization of the heater.

【0032】図4は温度上昇時のヒータ制御の説明図、
図5は図3のコントローラ30(主としてマイコン3
1)による調温制御の処理フロー図である。コントロー
ラ30は、電源スイッチ27のONにより図5に示す処
理をスタートし、ステップ1で冷凍機16をONにす
る。
FIG. 4 is an explanatory diagram of heater control when the temperature rises,
FIG. 5 shows the controller 30 of FIG. 3 (mainly the microcomputer 3
It is a processing flow figure of temperature control by 1). The controller 30 starts the process shown in FIG. 5 by turning on the power switch 27, and turns on the refrigerator 16 in step 1.

【0033】次いで、ステップ2で設定温度Tsを読み
込み、ステップ3で前述した検出温度Tiを読み込む。
そして、ステップ4で Ti≧Ts−ΔT1 か否かを判
断し、NO(Ti<Ts−ΔT1)であればステップ5
へ進んで、デューティ100%でヒータ11をONにす
る。また、ステップ4でYESの場合には、ステップ6
へ進んで Ti>Ts+ΔT2 か否かを判断する。
Next, in step 2, the set temperature Ts is read, and in step 3, the above-mentioned detected temperature Ti is read.
Then, in step 4, it is judged whether or not Ti ≧ Ts−ΔT1, and if NO (Ti <Ts−ΔT1), step 5
Then, the heater 11 is turned on with a duty of 100%. If YES in step 4, step 6
Go to and determine if Ti> Ts + ΔT2.

【0034】そして、NO(Ti≦Ts+ΔT2 )であれ
ばステップ7に進んで、Ti−Tsの値に応じたデュー
ティを算出し、ステップ8でその算出したデューティで
ヒータ11をONにする。ステップ6の判断でもしYE
Sであると、オーバヒート状態なのでステップ9へ進ん
でヒータ11をOFFにする。この時さらに、警告ラン
プを点灯したりブザーを鳴らすなどの警告処理を行なう
ようにしてもよい。ここで、ΔT1 とΔT2 は、図4に
示すように設定温度Tsの上下のヒータをデューティ制
御する温度幅である。
If NO (Ti≤Ts + ΔT2), the routine proceeds to step 7, where the duty corresponding to the value of Ti-Ts is calculated, and at step 8, the heater 11 is turned on with the calculated duty. Yes in the judgment of step 6
If it is S, it means that the heater 11 is off because it is in an overheated state. At this time, a warning process such as turning on a warning lamp or sounding a buzzer may be performed. Here, .DELTA.T1 and .DELTA.T2 are temperature ranges in which the heaters above and below the set temperature Ts are duty-controlled as shown in FIG.

【0035】次に、ステップ10で停止の指示があった
か否かを判断して、なければステップ11で設定温度T
sが変更されたか否かを判断し、変更されていなければ
ステップ3へ戻って再び検出温度の読み込みからの処理
を繰り返す。もし設定温度が変更されていれば、ステッ
プ2へ戻って新たな設定温度Tsを読み込んだ後、ステ
ップ3からの処理を繰り返す。ステップ10で停止の指
示がされていれば、ステップ12でヒータ11をOFF
にし、次いでステップ13で冷凍機15をOFFにし
て、この調温処理を終了する。
Next, in step 10, it is judged whether or not there is a stop instruction, and if not, in step 11, the set temperature T is set.
It is determined whether or not s has been changed, and if it has not been changed, the process returns to step 3 and the process from reading the detected temperature is repeated. If the set temperature has been changed, the process returns to step 2 to read a new set temperature Ts, and then the process from step 3 is repeated. If the stop instruction is given in step 10, the heater 11 is turned off in step 12.
Then, in step 13, the refrigerator 15 is turned off, and this temperature adjustment process is completed.

【0036】したがって、試験室3内の温度が設定温度
Tsよりかなり低い状態から上述の調温制御を開始した
ときには、図4に示すように、検出温度TiがTs−Δ
T1になるまでは、ヒータ11をデューティ100%で
ONにして急速に温度を上昇させ、TiがTs−ΔT1
になった後は、ヒータ11をONにしたままTs−Ti
の値に応じたPID(比例・積分・微分)制御により、
検出温度Tiをなるべく早く設定温度Tsと一致させる
ように、そのONデューティを徐々に小さく変化させ
る。
Therefore, when the temperature control described above is started from a state where the temperature in the test chamber 3 is considerably lower than the set temperature Ts, the detected temperature Ti is Ts-Δ, as shown in FIG.
Until T1 is reached, the heater 11 is turned on with a duty of 100% to rapidly raise the temperature and Ti becomes Ts-ΔT1.
After that, Ts-Ti with heater 11 turned on
By PID (proportional / integral / derivative) control according to the value of
The ON duty is gradually decreased so that the detected temperature Ti matches the set temperature Ts as soon as possible.

【0037】そして、Ti=Tsになっても、冷却コイ
ル12による冷却及び循環中の筐体4から外気への僅か
な放熱、試験室3内の試験品等による吸熱等を補なうた
めにあるデューティでヒータ11をONさせている。し
かし、Ti>TsになるとTs−Tiが負になるので、
デューティをさらに小さくし、TiがTs+ΔT2 を越
えた場合には、オーバヒート状態と判断してヒータ11
をOFF(デューティ:0%)にする。
Even if Ti = Ts, in order to compensate for the slight heat dissipation from the housing 4 during cooling and circulation by the cooling coil 12 to the outside air, the heat absorption by the test article in the test chamber 3, and the like. The heater 11 is turned on at a certain duty. However, when Ti> Ts, Ts-Ti becomes negative, so
When the duty is further reduced and Ti exceeds Ts + ΔT2, it is judged that the heater 11 is overheated.
Is turned off (duty: 0%).

【0038】検出温度Tiが設定温度Tsよりかなり高
い状態から降下させる場合の動作は、上述の場合と反対
にヒータ11をOFFにして冷却コイル12による冷却
によって試験室3の温度を急速に低下させ、TiがTs
+ΔT2 まで低下するとヒータ11をONにして、Ts
−Tiの値に応じたデューティ制御を開始し、検出温度
Tiをなるべく早く目標温度Tsに近づけるように制御
する。このようなデューティ制御は、サイリスタ等を用
いた交流波形の位相制御によっても可能であるが、この
実施例ではSSR34によって、一定時間(例えば4Se
c :50サイクルの交流で200周期)毎にデューティ
に相当するサイクル分のみヒータ11に通電するように
している。
Contrary to the above case, the heater 11 is turned off and the cooling coil 12 cools the temperature of the test chamber 3 rapidly to lower the detected temperature Ti from a state considerably higher than the set temperature Ts. , Ti is Ts
When it decreases to + ΔT2, the heater 11 is turned on and Ts
-The duty control according to the value of Ti is started, and the detected temperature Ti is controlled to approach the target temperature Ts as soon as possible. Such duty control can also be performed by phase control of an AC waveform using a thyristor or the like, but in this embodiment, the SSR 34 is used for a fixed time (for example, 4 Se).
The heater 11 is energized for each cycle corresponding to the duty every c: 200 cycles of 50 cycles of alternating current.

【0039】このような調温制御は従来の環境試験装置
でも行なわれているが、その検出温度Tiが、通常は試
験室の吹出口の近傍に配設した白金測温抵抗体等の温度
センサによって計測される吹き出し風の温度なので、検
出温度Tiが試験室の中心部より高めに計測されるため
ヒータの加熱を早く抑制してしまうことになる。そのた
め、ヒータのデューティ制御を開始してから検出温度T
iが設定温度Tsに達するまでに要する時間(図4にお
ける検出温度Tiの曲線部の時間)が長くかかり、しか
も試験室の中央部の温度を正確に設定温度に保持するこ
とができなかった。
Although such temperature control is carried out in the conventional environment test apparatus, the detected temperature Ti is usually a temperature sensor such as a platinum resistance temperature detector arranged near the outlet of the test chamber. Since the temperature of the blown air is measured by, the detected temperature Ti is measured higher than the central portion of the test chamber, so that heating of the heater is suppressed early. Therefore, after the duty control of the heater is started, the detected temperature T
The time required for i to reach the set temperature Ts (the time at the curve of the detected temperature Ti in FIG. 4) was long, and the temperature at the center of the test chamber could not be accurately maintained at the set temperature.

【0040】これに対し、この実施例によれば、検出温
度Tiが試験室3の吸込口9と吹出口10の近傍にそれ
ぞれ配設された2本の白金測温抵抗体21,22によっ
て計測される吸い込み風の温度と吹き出し風の温度の平
均値であるため、ヒータ11のデューティ制御を開始し
てから設定温度Tsに達するまでに要する時間が短くな
り、しかも試験室の中央部の温度を正確に設定温度に保
持することができるのである。
On the other hand, according to this embodiment, the detected temperature Ti is measured by the two platinum resistance temperature detectors 21 and 22 arranged in the vicinity of the inlet 9 and the outlet 10 of the test chamber 3, respectively. Since it is the average value of the temperature of the sucked air and the temperature of the blown air, the time required to reach the set temperature Ts after starting the duty control of the heater 11 is shortened, and moreover, the temperature of the central portion of the test chamber is reduced. The set temperature can be accurately maintained.

【0041】この作用・効果は、図6と図7の比較によ
ってはっきりと判る。図6はこの発明の実施例による調
温テスト結果を、図7は従来の環境試験装置(白金測温
抵抗体を吹出口の近傍にのみ設置したもの)による調温
テスト結果をそれぞれ示す曲線図である。
This action / effect can be clearly understood by comparing FIG. 6 and FIG. FIG. 6 is a curve diagram showing temperature control test results according to the embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a temperature control test result by a conventional environmental test device (a platinum resistance temperature detector is installed only near the outlet). Is.

【0042】これらの図において、縦軸は温度(C
°),横軸は経過時間(アワー)であり、いずれも設定
温度Tsを、−35C°から予めプログラムした時間経
過に応じて25,70,50,25,10,−15,−
30(C°)に順次変化させ、試験室3内の全域に分散
して配置した30個の温度センサ(白金測温抵抗体)に
よって実際に測定した温度の変化を曲線で示している。
これらの曲線が二重になっている部分は、30個の温度
センサの各計測値のうち最も高い温度(上側の曲線)と
最も低い温度(下側の曲線)を示し、一点鎖線は試験室
の中央部に配置した温度センサによる計測温度を示して
いる。
In these figures, the vertical axis indicates temperature (C
°), and the horizontal axis is the elapsed time (hour). In each case, the set temperature Ts is 25, 70, 50, 25, 10, -15,-
A change in temperature actually measured by 30 temperature sensors (platinum resistance thermometers), which are sequentially changed to 30 (C °) and dispersed throughout the test chamber 3, is shown by a curve.
The part where these curves are doubled shows the highest temperature (upper curve) and the lowest temperature (lower curve) among the measured values of the 30 temperature sensors, and the one-dot chain line shows the test room. It shows the temperature measured by the temperature sensor arranged in the central part.

【0043】これらの図から、設定温度が変更されてか
ら検出温度が略その設定温度に安定するまでに要する時
間を、図6に示すこの発明の実施例によるテスト結果
(例えば時間t1,t2,t3,t4)と、図7に示す従来
の環境試験装置によるテスト結果(時間t1,t2
3,t4 にそれぞれ対応する時間t1′,t2′,
3′,t4′)で比較すると、明らかに前者の方が短く
なっている。
From these figures, the time required for the detected temperature to stabilize at the set temperature after the set temperature is changed is shown by the test results (for example, times t 1 and t) according to the embodiment of the present invention shown in FIG. 2 , t 3 , t 4 ) and the test results (time t 1 , t 2 ,
Times t 1 ′, t 2 ′, which correspond to t 3 and t 4 , respectively.
Comparing t 3 ′ and t 4 ′), the former is clearly shorter.

【0044】すなわち、この実施例による方が温度の直
線的な上昇あるいは下降状態から設定温度の水平状態に
移行するカーブが急俊であり、早く設定温度に安定す
る。しかも、試験室の中央部の温度を正確に設定温度に
保持することができる。したがって、正確な設定温度で
の環境試験を早く開始でき、設定温度を複数段階に変化
させて行なう環境試験全体も従来より短い時間で効率よ
く行なうことができる。
That is, in this embodiment, the curve in which the temperature linearly rises or falls and shifts to the horizontal state of the set temperature is steep, and the temperature is quickly stabilized at the set temperature. Moreover, the temperature of the central portion of the test chamber can be accurately maintained at the set temperature. Therefore, it is possible to quickly start the environmental test at the accurate set temperature, and it is possible to efficiently perform the entire environmental test performed by changing the set temperature in a plurality of steps in a shorter time than before.

【0045】それによって、多量の製品の環境試験を限
られた時間内で行なうような場合にも、使用する環境試
験装置の台数が少なくて済むので、設備費用を低減する
ことができ、また電力の消費量も少なくて済む。
As a result, even when a large number of products are subjected to environmental testing within a limited time, the number of environmental testing devices to be used can be small, so that equipment cost can be reduced and power consumption can be reduced. It consumes less.

【0046】この実施例では、熱交換部に加熱部と冷却
部を備えており、そのうち加熱部のヒータのみを制御し
て調温するようにしたが、冷却部に半導体熱電素子を用
いた電子冷凍器等の細かい制御が可能なものを使用する
場合には、それも制御して調温するようにしてもよい。
また、高温恒温器の場合は加熱部のみ、低温恒温器の場
合には冷却部のみを、それぞれ制御可能な熱交換部とし
て設けてもよい。
In this embodiment, the heat exchanging part is provided with the heating part and the cooling part, and only the heater of the heating part is controlled to adjust the temperature. However, the electronic part using the semiconductor thermoelectric element in the cooling part is used. When a refrigerator or the like that can be finely controlled is used, it may also be controlled to adjust the temperature.
Further, in the case of the high temperature incubator, only the heating section may be provided, and in the case of the low temperature incubator, only the cooling section may be provided as the controllable heat exchange section.

【0047】さらに、加湿器及び湿度制御部などを組み
合わせることもできる。温度センサとしては、現状では
白金測温抵抗体が計測精度及び安定性がよいので好まし
いが、これに限るものではなく、用途によってはサーミ
スタ,熱電対,水晶温度センサ,IC温度センサ等の各
種温度センサを使用することもできる。さらに、この発
明を冷暖房器や略密閉された室内の温度をコントロール
する空調装置等にも応用することができる。
Furthermore, a humidifier and a humidity controller can be combined. Currently, platinum resistance thermometers are preferable as the temperature sensor because of their good measurement accuracy and stability, but the present invention is not limited to this, and depending on the application, various temperatures such as thermistors, thermocouples, crystal temperature sensors, IC temperature sensors, etc. Sensors can also be used. Further, the present invention can be applied to an air conditioner, an air conditioner that controls the temperature of a substantially sealed room, and the like.

【0048】[0048]

【発明の効果】以上説明してきたように、この発明によ
る環境試験装置は、試験品の収納に支障をきたすことな
く、試験室内のほぼ中央部の温度を正確に制御すること
ができ、しかも、試験開始時及び設定温度変更時にその
設定温度に安全に早く且つ正確に到達して安定するの
で、試験効率を高めることができる。それによって設備
費用の節減や電力消費量の低減も図ることができる。
As described above, the environmental test apparatus according to the present invention can accurately control the temperature in the substantially central portion of the test chamber without hindering the storage of the test product. At the start of the test and when the set temperature is changed, the set temperature can be reached safely and quickly and accurately and becomes stable, so that the test efficiency can be improved. As a result, it is possible to reduce equipment costs and power consumption.

【0049】さらに、温度センサとして2本の白金測温
抵抗体を使用し、それを直列に接続して従来の1/2の
定電流を流し、その直列回路の両端間に生ずる電位差を
検出温度の情報とすることにより、特別な演算回路など
を使用せずに両温度センサによる計測温度の平均値に相
当する情報を得ることができ、従来の制御部を殆どその
まま使用することができる。
Further, two platinum resistance temperature detectors are used as a temperature sensor, and they are connected in series to flow a constant current of 1/2 of the conventional one, and the potential difference generated between both ends of the series circuit is detected. By using this information, the information corresponding to the average value of the temperature measured by both temperature sensors can be obtained without using a special arithmetic circuit, and the conventional control unit can be used almost as it is.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図2のA−A線に沿う模式的な断面図である。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view taken along the line AA of FIG.

【図2】この発明の一実施例を示す環境試験装置の正面
図である。
FIG. 2 is a front view of an environment test apparatus showing an embodiment of the present invention.

【図3】図2の制御盤ユニット2内のコントローラの構
成例を示すブロック図である。
3 is a block diagram showing a configuration example of a controller in the control panel unit 2 of FIG.

【図4】図3のコントローラによる温度上昇時のヒータ
制御の説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram of heater control at the time of temperature rise by the controller of FIG.

【図5】同じくコントローラ30(主としてマイコン3
1)による調温制御の処理フロー図である。
FIG. 5 is also a controller 30 (mainly the microcomputer 3
It is a processing flow figure of temperature control by 1).

【図6】この発明の実施例による調温テスト結果を示す
曲線図である。
FIG. 6 is a curve diagram showing a temperature control test result according to an example of the present invention.

【図7】従来の環境試験装置(白金測温抵抗体を吹出口
の近傍にのみ設置したもの)による調温テスト結果を示
す曲線図である。
FIG. 7 is a curve diagram showing a temperature control test result by a conventional environment test device (a platinum resistance temperature detector is installed only in the vicinity of an outlet).

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:装置本体 2:制御盤ユニット 3:試験室 4:筐体 5:扉 6:観測窓 8:仕切板 9:吸込口 10:吹出口 11:ヒータ(加熱部) 12:冷却コイル(冷却部) 13:熱交換部 14:ファンモータ 15:ファン(送風手段) 16:冷凍機 21,22:白金測温抵抗体(温度センサ) 23:キーボード 24:CRTディスプレイ 25:計装部 26:ハイブリツドレコーダ 27:電源スイッチ 30:コントローラ(制御手段) 31:マイクロコンピュータ(マイコン) 32:A/Dコンバータ 33:D/Aコンバータ 34:ソリッド・ステート・リレー(SSR) 35:定電流回路 1: Device main body 2: Control panel unit 3: Test chamber 4: Case 5: Door 6: Observation window 8: Partition plate 9: Suction port 10: Air outlet 11: Heater (heating unit) 12: Cooling coil (cooling unit) ) 13: Heat exchange part 14: Fan motor 15: Fan (blower means) 16: Refrigerator 21, 22: Platinum resistance thermometer (temperature sensor) 23: Keyboard 24: CRT display 25: Instrumentation part 26: Hybrid recorder 27: Power switch 30: Controller (control means) 31: Microcomputer (microcomputer) 32: A / D converter 33: D / A converter 34: Solid state relay (SSR) 35: Constant current circuit

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 環境試験を行なう試験品を収納するため
の密閉された試験室を形成する筐体と、前記試験室内を
所要の温度にするための加熱部及び冷却部の両方又は一
方からなる熱交換部及びその制御手段と、前記試験室の
離れた位置に開口する吸込口及び吹出口と、前記吸込口
から前記試験室内の空気を吸入して前記熱交換部を通し
て前記吹出口から該試験室内へ吹き出す送風手段とを備
えた環境試験装置において、 前記吸込口の近傍と前記吹出口の近傍にそれぞれ温度セ
ンサを配設し、前記制御手段がその各温度センサによる
計測温度の平均値を目標温度と一致させるように前記熱
交換部を制御するように構成したことを特徴とする環境
試験装置。
1. A housing comprising a sealed test chamber for storing a test product to be subjected to an environmental test, and a heating unit and / or a cooling unit for bringing the test chamber to a required temperature. The heat exchange section and its control means, a suction port and a blowout port which are opened at positions distant from the test chamber, the air in the test chamber is sucked from the suction port, and the test is performed from the blowout port through the heat exchange section. In an environmental testing device having a blowing means for blowing into the room, temperature sensors are arranged in the vicinity of the suction port and in the vicinity of the blowing port, and the control means targets the average value of the temperature measured by each temperature sensor. An environment test apparatus characterized in that the heat exchange section is controlled so as to match the temperature.
【請求項2】 環境試験を行なう試験品を収納するため
の密閉された試験室を形成する筐体と、前記試験室内を
所要の温度にするための加熱部及び冷却部からなる熱交
換部及びその加熱部の制御手段と、前記試験室の離れた
位置に開口する吸込口及び吹出口と、前記吸込口から前
記試験室内の空気を吸入して前記熱交換部を通して前記
吹出口から該試験室内へ吹き出す送風手段とを備えた環
境試験装置において、 前記吸入口の近傍と前記吹出口の近傍にそれぞれ温度セ
ンサを配設し、前記制御手段がその各温度センサによる
計測温度の平均値を目標温度と一致させるように前記加
熱部を制御するように構成したことを特徴とする環境試
験装置。
2. A housing for forming a sealed test chamber for storing a test product to be subjected to an environmental test, a heat exchange unit including a heating unit and a cooling unit for keeping the test chamber at a required temperature, and Control means for the heating unit, a suction port and a blowout port that are opened at positions distant from the test chamber, air in the test chamber is sucked from the suction port, and the test chamber is blown from the blowout port through the heat exchange unit. In an environmental testing device having a blowing means for blowing out to, a temperature sensor is arranged in the vicinity of the inlet and the vicinity of the outlet, the control means the average value of the temperature measured by each temperature sensor target temperature An environment test apparatus characterized in that the heating unit is controlled so as to match with the above.
【請求項3】 請求項1又は2記載の環境試験装置にお
いて、前記各温度センサが白金測温抵抗体であることを
特徴とする環境試験装置。
3. The environmental test apparatus according to claim 1, wherein each of the temperature sensors is a platinum resistance temperature detector.
【請求項4】 請求項3記載の環境試験装置において、
前記吸込口の近傍と前記吹出口の近傍にそれぞれ配設し
た2個の白金測温抵抗体を直列に接続して一定電流を流
し、前記制御手段がその2個の白金測温抵抗体の直列回
路の両端間に生ずる電位差を前記各温度センサによる計
測温度の平均値に相当する情報として入力するように測
温回路を構成したことを特徴とする環境試験装置。
4. The environment test apparatus according to claim 3,
Two platinum resistance temperature detectors respectively arranged near the suction port and near the blowout port are connected in series to flow a constant current, and the control means connects the two platinum resistance temperature resistors in series. An environment test apparatus, wherein a temperature measuring circuit is configured so that a potential difference generated between both ends of the circuit is input as information corresponding to an average value of temperature measured by each of the temperature sensors.
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