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JPH07226336A - Method for manufacturing solid electrolytic capacitor - Google Patents

Method for manufacturing solid electrolytic capacitor

Info

Publication number
JPH07226336A
JPH07226336A JP6015164A JP1516494A JPH07226336A JP H07226336 A JPH07226336 A JP H07226336A JP 6015164 A JP6015164 A JP 6015164A JP 1516494 A JP1516494 A JP 1516494A JP H07226336 A JPH07226336 A JP H07226336A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capacitor element
lead frame
capacitor
solid electrolytic
resin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6015164A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3185514B2 (en
Inventor
Hiromichi Yamamoto
博道 山本
Yoshiro Okamura
芳郎 岡村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP1516494A priority Critical patent/JP3185514B2/en
Publication of JPH07226336A publication Critical patent/JPH07226336A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3185514B2 publication Critical patent/JP3185514B2/en
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  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 外装の気密性の優れたものが得られる固体電
解コンデンサの製造方法を提供することを目的とする。 【構成】 コンデンサ素子21およびこのコンデンサ素
子21の側面より突出するリードフレーム22をモール
ド樹脂で被覆する樹脂外装の前に、コンデンサ素子21
の側面より突出するリードフレーム22の突出部分を下
側のベークライト板26と上側ベークライト板29に設
けたシリコンゴム28とにより遮蔽した状態で、高温多
湿の雰囲気中で電圧を印加することによりコンデンサ素
子21のエージングを行うようにしたものである。
(57) [Abstract] [Purpose] It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a solid electrolytic capacitor, which can obtain a package having excellent airtightness. [Structure] A capacitor element 21 and a lead frame 22 protruding from a side surface of the capacitor element 21 are covered with a mold resin before a resin sheathing.
The projecting portion of the lead frame 22 projecting from the side surface of the capacitor element is shielded by the lower bakelite plate 26 and the silicon rubber 28 provided on the upper bakelite plate 29, and a voltage is applied in a high temperature and high humidity atmosphere to form a capacitor element. 21 is aged.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は各種電子機器に用いられ
る固体電解コンデンサの製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a solid electrolytic capacitor used in various electronic devices.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子機器の進歩に伴って電子部品
のチップ化が進み、電子回路の組立が表面実装により行
われることが主流となってきた。このため、チップ部品
のリード端子の半田付け性が要求されるのはもちろん、
半田付け時の高温下に長時間耐える耐熱性も要求される
ようになってきた。従来、耐熱性に乏しいと言われた電
解コンデンサの分野でも材料と技術の進歩により、表面
実装のできるチップ部品が主流となりつつある。例え
ば、図7に示すように、コンデンサ素子を陽極端子1お
よび陰極端子2を構成するリードフレームとともにモー
ルド樹脂で被覆して樹脂外装3を施した固体電解コンデ
ンサが知られている。
2. Description of the Related Art In recent years, with the progress of electronic equipment, electronic parts have been made into chips, and it has become mainstream to assemble electronic circuits by surface mounting. Therefore, of course, the solderability of the lead terminals of the chip parts is required,
It has become necessary to have heat resistance to withstand a high temperature during soldering for a long time. In the field of electrolytic capacitors, which have been conventionally said to have poor heat resistance, surface mountable chip components are becoming mainstream due to advances in materials and technology. For example, as shown in FIG. 7, there is known a solid electrolytic capacitor in which a capacitor element is coated with a molding resin together with lead frames forming an anode terminal 1 and a cathode terminal 2 and a resin sheath 3 is applied.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな樹脂外装3を施した固体電解コンデンサにおいて
は、表面実装時の半田付け時に高温に曝されることで外
装の気密性が低下し、外部から空気中の酸素や水蒸気が
内部に侵入するため、内部のコンデンサ素子にダメージ
を与え、特性の劣化を引き起こすことがしばしばあっ
た。この原因としては次のような理由が考えられる。す
なわち、固体電解コンデンサにおいては、製造工程で高
温での処理や酸やアルカリなどの試薬による処理、機械
ストレスによって陽極酸化皮膜の劣化が起こるため、こ
の陽極酸化皮膜を修復するエージング処理が必要である
が、従来においては、コンデンサ素子をモールド樹脂で
被覆する前に、85℃以上の高温多湿の雰囲気中で電圧
印加を行うことによりエージング処理を施すようにして
いた。
However, in the solid electrolytic capacitor provided with such a resin outer package 3, the airtightness of the outer package is lowered by being exposed to a high temperature during soldering at the time of surface mounting, so that the external enclosure is not exposed. Since oxygen and water vapor in the air penetrate into the inside, it often damages the internal capacitor element and causes deterioration of characteristics. The possible reasons for this are as follows. That is, in a solid electrolytic capacitor, treatment at a high temperature in the manufacturing process, treatment with a reagent such as acid or alkali, and deterioration of the anodized film due to mechanical stress occur, so aging treatment for repairing the anodized film is necessary. However, conventionally, before coating the capacitor element with the mold resin, the aging treatment is performed by applying a voltage in an atmosphere of high temperature and high humidity of 85 ° C. or higher.

【0004】しかしながら、従来のエージング方法にお
いては、コンデンサ素子だけでなく、陽極端子1および
陰極端子2を構成するリードフレームも85℃以上の高
温多湿の雰囲気中に曝されているため、リードフレーム
の表面にも酸化皮膜が形成されることになる。このよう
にリードフレーム表面に酸化皮膜が形成された状態で次
の工程であるモールド樹脂によるコンデンサ素子および
リードフレームの被覆を行った場合、モールド樹脂とリ
ードフレームとの接着強度は、リードフレームの表面に
酸化皮膜が形成されていることによって低下するもの
で、このような状態の固体電解コンデンサを電子機器に
表面実装するために半田付けを行った場合、この固体電
解コンデンサは半田付け時の高温に曝されることになる
ため、リードフレームとモールド樹脂との接着面におい
ては両者の膨張収縮が起こって、前記リードフレームの
表面に形成された酸化皮膜の部分で空隙が生じ、そして
この空隙を介して空気中の酸素や水蒸気が内部に侵入し
て、内部のコンデンサ素子にダメージを与えて特性を劣
化させるという問題点を有していた。
However, in the conventional aging method, not only the capacitor elements but also the lead frames forming the anode terminal 1 and the cathode terminal 2 are exposed to a high temperature and high humidity atmosphere of 85 ° C. or higher, and therefore the lead frame An oxide film is also formed on the surface. When the capacitor element and the lead frame are covered with the mold resin in the next step with the oxide film formed on the lead frame surface in this manner, the adhesive strength between the mold resin and the lead frame is When the solid electrolytic capacitor in such a state is soldered for surface mounting on an electronic device, this solid electrolytic capacitor is exposed to high temperatures during soldering. Since it is exposed, the expansion and contraction of the lead frame and the molding resin occur at the bonding surface between the two, resulting in a void in the oxide film formed on the surface of the lead frame, and through this void. When oxygen and water vapor in the air penetrate inside, it damages the internal capacitor element and deteriorates the characteristics. Cormorants had a problem.

【0005】本発明は上記従来の技術の問題点を解決す
るもので、コンデンサ素子およびこのコンデンサ素子の
側面より突出するリードフレームをモールド樹脂で被覆
して樹脂外装を施した場合、外装の気密性の優れたもの
が得られる固体電解コンデンサの製造方法を提供するこ
とを目的とするものである。
The present invention solves the above-mentioned problems of the prior art. When the capacitor element and the lead frame protruding from the side surface of the capacitor element are covered with a mold resin to form a resin exterior, the exterior is airtight. It is an object of the present invention to provide a method for producing a solid electrolytic capacitor, which is excellent in

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の固体電解コンデンサの製造方法は、表面に誘
電体となる陽極酸化皮膜を形成した弁作用金属における
陽極酸化皮膜の表面の所定部分に絶縁物帯部を設けて弁
作用金属を陽極部と陰極部に二分し、かつ前記陰極部の
陽極酸化皮膜上に導電物質層、導電性高分子層および導
電体層を順次形成することにより構成されたコンデンサ
素子と、このコンデンサ素子の陽極部と陰極部に接続さ
れるリードフレームと、前記コンデンサ素子およびこの
コンデンサ素子の側面より突出するリードフレームをモ
ールド樹脂で被覆する樹脂外装を備え、前記モールド樹
脂による被覆の前に、前記コンデンサ素子の側面より突
出するリードフレームの突出部分を遮蔽した状態で高温
多湿の雰囲気中で電圧を印加することによりコンデンサ
素子のエージングを行うようにしたものである。
In order to achieve the above object, a method of manufacturing a solid electrolytic capacitor according to the present invention comprises a predetermined surface of an anodized film in a valve metal having an anodized film serving as a dielectric formed on the surface thereof. Providing an insulating strip in a part to divide the valve metal into an anode part and a cathode part, and sequentially forming a conductive substance layer, a conductive polymer layer and a conductor layer on the anodic oxide film of the cathode part. A capacitor element constituted by, a lead frame connected to the anode part and the cathode part of the capacitor element, a resin exterior for coating the capacitor element and the lead frame protruding from the side surface of the capacitor element with a mold resin, Before coating with the mold resin, in a hot and humid atmosphere with the protruding portion of the lead frame protruding from the side surface of the capacitor element shielded. It is obtained to perform the aging of the capacitor element by applying a pressure.

【0007】[0007]

【作用】上記した本発明の固体電解コンデンサの製造方
法によれば、コンデンサ素子およびこのコンデンサ素子
の側面より突出するリードフレームをモールド樹脂で被
覆する前に、前記コンデンサ素子の側面より突出するリ
ードフレームの突出部分を遮蔽した状態で、高温多湿の
雰囲気中で電圧を印加することによりコンデンサ素子の
エージングを行うようにしているため、このエージング
中にコンデンサ素子の側面より突出するリードフレーム
の突出部分が高温多湿の雰囲気中に曝されるということ
はなくなる。
According to the above-described method for manufacturing a solid electrolytic capacitor of the present invention, the lead frame protruding from the side surface of the capacitor element before the capacitor element and the lead frame protruding from the side surface of the capacitor element are covered with the molding resin. Since the aging of the capacitor element is performed by applying a voltage in a hot and humid atmosphere with the protruding portion of the capacitor shielded, the protruding portion of the lead frame protruding from the side surface of the capacitor element during this aging It is no longer exposed to a hot and humid atmosphere.

【0008】これにより、従来のようにリードフレーム
の突出部分に酸化皮膜が形成されるようなことはなくな
るため、次の工程であるモールド樹脂によるコンデンサ
素子およびこのコンデンサ素子の側面より突出するリー
ドフレームの被覆を行った場合においても、モールド樹
脂とリードフレームとの接着強度が低下するということ
はなく、したがって、この固体電解コンデンサを電子機
器に表面実装するために半田付けを行った際にリードフ
レームとモールド樹脂との接着面において両者の膨張収
縮が起こっても従来のような空隙が生じるということは
なくなるため、空気中の酸素や水蒸気のコンデンサ内部
への侵入によるコンデンサの特性の劣化もなくなって、
外装の気密性の優れたものが得られるものである。
As a result, an oxide film is not formed on the projecting portion of the lead frame as in the conventional case. Therefore, in the next step, the capacitor element made of the mold resin and the lead frame projecting from the side surface of the capacitor element are formed. The adhesive strength between the mold resin and the lead frame does not deteriorate even when the lead frame is coated, and therefore, when the solid electrolytic capacitor is surface-mounted on an electronic device, the lead frame is soldered. Even if expansion and contraction occur between the adhesive surface and the mold resin, the conventional voids will not occur, so there will be no deterioration of the capacitor characteristics due to the ingress of oxygen or water vapor in the air into the capacitor. ,
It is possible to obtain the one having excellent airtightness of the exterior.

【0009】[0009]

【実施例】以下、本発明の一実施例を添付図面にもとづ
いて説明する。まず、図2に示すように、エッチングに
より粗面化され、かつ表面に誘電体となる陽極酸化皮膜
11を形成した厚み100μmのアルミニウム化成箔よ
りなる弁作用金属12における陽極酸化皮膜11の表面
の所定部分に短冊状の耐熱性を有する絶縁フィルムより
なる絶縁物帯部13を設けて弁作用金属12を陽極部1
4と陰極部15に二分した。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. First, as shown in FIG. 2, the surface of the anodic oxide film 11 in the valve metal 12 made of an aluminum chemical conversion foil having a thickness of 100 μm, which is roughened by etching and has an anodized film 11 serving as a dielectric formed on the surface, An insulating material strip 13 made of a strip-shaped insulating film having heat resistance is provided at a predetermined portion, and the valve metal 12 is attached to the anode portion 1.
4 and cathode part 15.

【0010】そして図1(a)(b)に示すように陰極
部15の陽極酸化皮膜11の上に薄膜状のマンガン酸化
物質層よりなる導電物質層16を形成し、次にアルキル
ナフタレンスルフォン酸塩を支持電解質としたピロール
を含有するエマルジョン中で電解重合を行い、導電物質
層16上にポリピロールの導電性高分子層17を形成し
た。
Then, as shown in FIGS. 1A and 1B, a conductive material layer 16 made of a thin manganese oxide material layer is formed on the anodic oxide film 11 of the cathode portion 15, and then alkylnaphthalene sulfonic acid is formed. Electrolytic polymerization was performed in an emulsion containing pyrrole with salt as a supporting electrolyte to form a conductive polymer layer 17 of polypyrrole on the conductive material layer 16.

【0011】さらに、その上にグラファイト層18およ
び銀ペイント層19からなる導電体層20を順次形成す
ることにより、図1(a)(b)に示すようなコンデン
サ素子21を得た。なお、前記絶縁物帯部13は粘着剤
13aを塗布して貼り付けているものである。
Further, a conductor layer 20 composed of a graphite layer 18 and a silver paint layer 19 was successively formed thereon, whereby a capacitor element 21 as shown in FIGS. 1A and 1B was obtained. The insulating strip 13 is formed by applying an adhesive 13a and adhering it.

【0012】次に、厚さ0.1mmの鉄基材をプレスによ
り図3に示すリードフレーム22の形状に打ち抜き、そ
の表面に厚さ3μmの銅メッキよりなる銅金属層を形成
し、その後、厚さ1〜10μmの半田メッキよりなる半
田合金層を形成してリードフレーム22を形成した。そ
して、このリードフレーム22は図4(a)に示すよう
に表面の所定の部分23(図4(a)(b)中ハッチン
グで示したモールド樹脂による樹脂外装がなされる部
分)以外を厚さ1mmのブタジエンゴム製のマスク材でマ
スクし、それ以外の部分をアルミナ研磨材を用いて乾式
サンドブラスト法によって半田合金層が完全に除去され
るまで研磨することにより銅金属層を露出させて、所定
の部分23のみを粗面化した。
Next, an iron base material having a thickness of 0.1 mm is punched into the shape of the lead frame 22 shown in FIG. 3 by a press to form a copper metal layer of copper plating having a thickness of 3 μm on the surface thereof, and thereafter, A lead alloy 22 was formed by forming a solder alloy layer of solder plating having a thickness of 1 to 10 μm. Then, as shown in FIG. 4A, the lead frame 22 has a thickness other than a predetermined portion 23 on the surface (portion where the resin coating with the mold resin is hatched in FIGS. 4A and 4B). Mask with a mask material made of 1 mm butadiene rubber, and polish the other parts by alumina sand with dry sand blast method until the solder alloy layer is completely removed to expose the copper metal layer Only the portion 23 of was roughened.

【0013】この部分的に粗面化したリードフレーム2
2上の陰極部15に対応する位置24に導電性接着剤を
少量塗布した後、図4(b)に示すようにコンデンサ素
子21を積層することにより載置した。さらに陽極部1
4側は陽極押さえ25の上からレーザ溶接を行って接合
することにより、図4(b)に示すようにコンデンサ素
子21の陽極部14と陰極部15をリードフレーム22
上に接続した。
This partially roughened lead frame 2
After a small amount of a conductive adhesive was applied to the position 24 corresponding to the cathode portion 15 on the upper surface 2, the capacitor element 21 was placed by stacking it as shown in FIG. 4B. Furthermore, the anode part 1
On the 4 side, laser welding is performed from above the anode presser 25 to join the anode part 14 and the cathode part 15 of the capacitor element 21 to the lead frame 22 as shown in FIG. 4B.
Connected on.

【0014】そしてリードフレーム22上に固定された
コンデンサ素子21は以上の工程における各種のストレ
スを受けて陽極酸化皮膜が劣化しているため、モールド
樹脂で樹脂外装を行う前に陽極酸化皮膜を修復するため
のエージング処理を行う必要がある。
Since the anodic oxide film of the capacitor element 21 fixed on the lead frame 22 has been deteriorated by various stresses in the above process, the anodic oxide film is restored before the resin coating with the molding resin. It is necessary to perform an aging process for this.

【0015】このエージング処理は図5(a)に示す溝
部26aを有する布入りのベークライト板26上に、図
4(b)に示すリードフレーム22の点線部を切断して
陽極部14側を分離したリードフレーム22を載置し、
そしてこのリードフレーム22を載置した下側のベーク
ライト板26の上に、図5(b)に示すようなエージン
グ処理時の電圧印加用のコンタクトピン27を内蔵した
シリコンゴム28を取り付けてなる上側のベークライト
板29を、シリコンゴム28が下側となるように置く。
This aging treatment is carried out by cutting the dotted line portion of the lead frame 22 shown in FIG. 4B on the bakelite plate 26 containing cloth having the groove portion 26a shown in FIG. 5A to separate the anode portion 14 side. Place the lead frame 22
Then, on the lower bakelite plate 26 on which the lead frame 22 is placed, the silicon rubber 28 in which the contact pins 27 for voltage application at the time of aging as shown in FIG. The bakelite plate 29 is placed so that the silicone rubber 28 is on the lower side.

【0016】この場合、上側のベークライト板29に
も、下側のベークライト板26に設けた溝部26aと同
一の幅を有する溝部29aを設けており、そしてこれら
の溝部26a,29aの幅はコンデンサ素子21の両側
面間の幅と同じにしている。このような寸法関係となっ
ているため、下側のベークライト板26の上に上側のベ
ークライト板29を置いた状態では、上側のベークライ
ト板29のシリコンゴム28がコンデンサ素子21の側
面より突出するリードフレーム22の突出部分を遮蔽す
るものである。
In this case, the upper bakelite plate 29 is also provided with a groove portion 29a having the same width as the groove portion 26a provided on the lower bakelite plate 26, and the widths of these groove portions 26a, 29a are the capacitor elements. It is the same as the width between both side surfaces of 21. Due to such a dimensional relationship, in a state where the upper bakelite plate 29 is placed on the lower bakelite plate 26, the leads in which the silicon rubber 28 of the upper bakelite plate 29 projects from the side surface of the capacitor element 21. The protruding portion of the frame 22 is shielded.

【0017】そして図5(c)に示すように下側のベー
クライト板26の上に上側のベークライト板29を置い
た後、クリップ30で下側のベークライト板26と上側
のベークライト板29を加圧固定し、そしてこれらを8
5℃および105℃の温度で相対湿度90%の雰囲気中
に置いて定格電圧の125%の電圧を1時間印加してエ
ージング処理を行った。
Then, as shown in FIG. 5C, after placing the upper bakelite plate 29 on the lower bakelite plate 26, a clip 30 presses the lower bakelite plate 26 and the upper bakelite plate 29. Fix and these 8
The sample was placed in an atmosphere having a relative humidity of 90% at a temperature of 5 ° C. and 105 ° C. and a voltage of 125% of the rated voltage was applied for 1 hour to perform an aging treatment.

【0018】このエージング処理においては、コンデン
サ素子21の側面より突出するリードフレーム22の突
出部分は上側のベークライト板29のシリコンゴム28
により温度が85℃および105℃で相対湿度90%の
雰囲気中から隔離された状態となるため、リードフレー
ム22の突出部分に酸化皮膜が形成されるということは
なくなる。
In this aging process, the protruding portion of the lead frame 22 protruding from the side surface of the capacitor element 21 is the silicon rubber 28 of the upper bakelite plate 29.
By this, the temperature is set to 85 ° C. and 105 ° C. and the state is isolated from the atmosphere having a relative humidity of 90%, so that the oxide film is not formed on the protruding portion of the lead frame 22.

【0019】次に、図6に示すようにコンデンサ素子2
1およびこのコンデンサ素子21の側面より突出するリ
ードフレーム22をモールド樹脂で被覆して樹脂外装3
1を施すが、この場合、トランスファーモールド成形法
によってエポキシ樹脂からなるモールド樹脂を用いてモ
ールド成形を行っている。そしてこの成形が済んだ後、
樹脂ビーズを研磨材としてサンドブラスト法により成形
時の樹脂バリを取り除き、その後、リードフレーム22
を所定の寸法のところで切断して個々の固体電解コンデ
ンサを得た。
Next, as shown in FIG. 6, the capacitor element 2
1 and the lead frame 22 protruding from the side surface of the capacitor element 21 are covered with a mold resin to form a resin sheath 3
1 is performed, but in this case, molding is performed using a molding resin made of an epoxy resin by the transfer molding method. And after this molding is completed,
Resin burrs at the time of molding are removed by sandblasting using resin beads as an abrasive, and then the lead frame 22
Was cut at a predetermined size to obtain individual solid electrolytic capacitors.

【0020】上記した本発明の一実施例においては、エ
ージング処理時に、コンデンサ素子21の側面より突出
するリードフレーム22の突出部分を下側のベークライ
ト板26とシリコンゴム28によって遮蔽するようにし
ているため、リードフレーム22の突出部分が高温多湿
の雰囲気中に曝されるということはなくなり、これによ
り、リードフレーム22の突出部分に酸化皮膜が形成さ
れるようなことはなくなるため、次の工程であるモール
ド樹脂によるコンデンサ素子21およびこのコンデンサ
素子21の側面より突出するリードフレーム22の被覆
を行った場合においても、樹脂外装31とリードフレー
ム22との接着強度が低下するということはなくなる。
In the above-described embodiment of the present invention, the protruding portion of the lead frame 22 protruding from the side surface of the capacitor element 21 is shielded by the lower bakelite plate 26 and the silicone rubber 28 during the aging process. Therefore, the projecting portion of the lead frame 22 is not exposed to the high temperature and high humidity atmosphere, and thus the oxide film is not formed on the projecting portion of the lead frame 22. Even when the capacitor element 21 and the lead frame 22 projecting from the side surface of the capacitor element 21 are covered with a certain mold resin, the adhesive strength between the resin exterior 31 and the lead frame 22 does not decrease.

【0021】これによって、この固体電解コンデンサを
電子機器に表面実装するために半田付けを行った際にリ
ードフレーム22と樹脂外装31との接着面において両
者の膨張収縮が起こっても空隙が生じるということはな
くなるため、空気中の酸素や水蒸気のコンデンサ内部へ
の侵入によるコンデンサの特性劣化ということはなくな
るものである。
As a result, when the solid electrolytic capacitor is soldered to be surface-mounted on an electronic device, a void is generated even if expansion and contraction occur between the lead frame 22 and the resin outer package 31. Therefore, the deterioration of the characteristics of the capacitor due to the invasion of oxygen and water vapor in the air into the inside of the capacitor is eliminated.

【0022】上記した本発明の一実施例における固体電
解コンデンサの外装気密性の評価は250±5℃の恒温
槽中に5分間放置した後、室温中に取り出す操作を3回
繰り返す熱処理を行ったものを、次のようなオートラジ
オグラフィー外装気密試験によりテストした。すなわ
ち、供試コンデンサのサンプルを放射性同位元素Kr8
5を含む7MPaに加圧された不活性ガスの雰囲気中に
30分間保持した後、各コンデンサのサンプルが保持す
る放射線量を測定することによって樹脂外装31内に取
り込まれた外気量を定量し、そして写真フィルム上で感
光させることにより外装気密性破壊サンプルを検出する
外装気密試験によりテストした。
The evaluation of the airtightness of the exterior of the solid electrolytic capacitor in the above-described embodiment of the present invention was carried out by heat treatment in which the solid electrolytic capacitor was left in a constant temperature bath at 250 ± 5 ° C. for 5 minutes and then taken out at room temperature, which was repeated three times. The ones were tested by the following autoradiographic exterior tightness test. That is, the sample of the capacitor under test is used as the radioactive isotope Kr8.
After holding in an atmosphere of an inert gas pressurized to 7 MPa including 5 for 30 minutes, the amount of outside air taken into the resin outer package 31 is quantified by measuring the amount of radiation held by each capacitor sample, Then, it was tested by an exterior airtightness test in which an exterior airtightness broken sample was detected by exposing on a photographic film.

【0023】このテスト結果は試験サンプルの母数に対
する不良数を分数で表し、(表1)に示した。また比較
例としては、コンデンサ素子21の側面より突出するリ
ードフレーム22の突出部分が何ら遮蔽されていない固
体電解コンデンサを用いたもので、これについても、本
発明の一実施例と同様の外装気密試験によるテストを実
施し、そしてこのテスト結果も試験サンプルの母数に対
する不良数を分数で表し、(表1)に示した。
The test results are shown in (Table 1), in which the number of defects with respect to the population of the test sample is expressed as a fraction. Further, as a comparative example, a solid electrolytic capacitor in which the projecting portion of the lead frame 22 projecting from the side surface of the capacitor element 21 is not shielded at all is used. A test was conducted by a test, and this test result is also shown in (Table 1) in which the number of defects with respect to the population of the test sample is expressed as a fraction.

【0024】[0024]

【表1】 [Table 1]

【0025】(表1)から明らかなように、本発明の一
実施例における固体電解コンデンサは、不良数がゼロで
あったが、比較例の固体電解コンデンサは、不良数が3
個または12個あった。
As is clear from (Table 1), the number of defects was zero in the solid electrolytic capacitor in one example of the present invention, while the number of defects was 3 in the solid electrolytic capacitor of the comparative example.
There were 12 or 12.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上のように本発明の固体電解コンデン
サの製造方法によれば、コンデンサ素子およびこのコン
デンサ素子の側面より突出するリードフレームをモール
ド樹脂で被覆する前に、前記コンデンサ素子の側面より
突出するリードフレームの突出部分を遮蔽した状態で、
高温多湿の雰囲気中で電圧を印加することによりコンデ
ンサ素子のエージングを行うようにしているため、この
エージング中にコンデンサ素子の側面より突出するリー
ドフレームの突出部分が高温多湿の雰囲気中に曝される
ということはなくなる。
As described above, according to the method for manufacturing a solid electrolytic capacitor of the present invention, before the capacitor element and the lead frame protruding from the side surface of the capacitor element are covered with the molding resin, the capacitor element is removed from the side surface of the capacitor element. With the protruding part of the protruding lead frame shielded,
Since the capacitor element is aged by applying a voltage in a hot and humid atmosphere, the protruding portion of the lead frame protruding from the side surface of the capacitor element is exposed to the hot and humid atmosphere during this aging. That will disappear.

【0027】これにより、従来のようにリードフレーム
の突出部分に酸化皮膜が形成されるようなことはなくな
るため、次の工程であるモールド樹脂によるコンデンサ
素子およびこのコンデンサ素子の側面より突出するリー
ドフレームの被覆を行った場合においても、モールド樹
脂とリードフレームとの接着強度が低下するということ
はなく、したがって、この固体電解コンデンサを電子機
器に表面実装するために半田付けを行った際にリードフ
レームとモールド樹脂との接着面において両者の膨張収
縮が起こっても従来のような空隙が生じるということは
なくなるため、空気中の酸素や水蒸気のコンデンサ内部
への侵入によるコンデンサの特性の劣化もなくなって、
外装の気密性の優れたものが得られるものである。
As a result, an oxide film is not formed on the projecting portion of the lead frame as in the conventional case. Therefore, in the next step, the capacitor element made of mold resin and the lead frame projecting from the side surface of this capacitor element are formed. The adhesive strength between the mold resin and the lead frame does not deteriorate even when the lead frame is coated, and therefore, when the solid electrolytic capacitor is surface-mounted on an electronic device, the lead frame is soldered. Even if expansion and contraction occur on the bonding surface between the resin and the mold resin, the conventional voids will not occur, so there will be no deterioration of the capacitor characteristics due to ingress of oxygen or water vapor in the air into the capacitor. ,
It is possible to obtain the one having excellent airtightness of the exterior.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】(a)本発明の一実施例を示す固体電解コンデ
ンサにおけるコンデンサ素子の平面図 (b)図1(a)におけるA−A′断面図
1A is a plan view of a capacitor element in a solid electrolytic capacitor showing an embodiment of the present invention, FIG. 1B is a sectional view taken along the line AA ′ in FIG.

【図2】同コンデンサ素子を構成するアルミニウム化成
箔の斜視図
FIG. 2 is a perspective view of an aluminum conversion foil forming the same capacitor element.

【図3】同コンデンサに使用されるリードフレームの形
状を示す平面図
FIG. 3 is a plan view showing the shape of a lead frame used in the capacitor.

【図4】(a)同リードフレームの部分拡大平面図 (b)同リードフレームにコンデンサ素子を載置した状
態を示す部分拡大平面図
FIG. 4A is a partially enlarged plan view of the lead frame, and FIG. 4B is a partially enlarged plan view showing a state in which a capacitor element is mounted on the lead frame.

【図5】(a)コンデンサ素子を載置したリードフレー
ムを下側のベークライト板に載置した状態を示す部分斜
視図 (b)上側のベークライト板を示す部分斜視図 (c)下側のベークライト板と上側のベークライト板を
用いてのコンデンサ素子のエージング状態を示す側面図
5A is a partial perspective view showing a state in which a lead frame having a capacitor element is placed on a lower bakelite plate, FIG. 5B is a partial perspective view showing an upper bakelite plate, and FIG. 5C is a lower bakelite. Side view showing the aging state of the capacitor element using the plate and the upper Bakelite plate

【図6】同コンデンサ素子をリードフレームとともに樹
脂外装した状態を示す平面図
FIG. 6 is a plan view showing a state in which the capacitor element and a lead frame are covered with resin.

【図7】従来の固体電解コンデンサを示す斜視図FIG. 7 is a perspective view showing a conventional solid electrolytic capacitor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 陽極酸化皮膜 12 弁作用金属 13 絶縁物帯部 14 陽極部 15 陰極部 16 導電物質層 17 導電性高分子層 20 導電体層 21 コンデンサ素子 22 リードフレーム 31 樹脂外装 11 Anodized Film 12 Valve Metal 13 Insulator Band 14 Anode 15 Cathode 16 Conductive Material Layer 17 Conductive Polymer Layer 20 Conductor Layer 21 Capacitor Element 22 Lead Frame 31 Resin Exterior

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 表面に誘電体となる陽極酸化皮膜を形成
した弁作用金属における陽極酸化皮膜の表面の所定部分
に絶縁物帯部を設けて弁作用金属を陽極部と陰極部に二
分し、かつ前記陰極部の陽極酸化皮膜上に導電物質層、
導電性高分子層および導電体層を順次形成することによ
り構成されたコンデンサ素子と、このコンデンサ素子の
陽極部と陰極部に接続されるリードフレームと、前記コ
ンデンサ素子およびこのコンデンサ素子の側面より突出
するリードフレームをモールド樹脂で被覆する樹脂外装
を備え、前記モールド樹脂による被覆の前に、前記コン
デンサ素子の側面より突出するリードフレームの突出部
分を遮蔽した状態で高温多湿の雰囲気中で電圧を印加す
ることによりコンデンサ素子のエージングを行うように
した固体電解コンデンサの製造方法。
1. A valve metal is divided into an anode part and a cathode part by providing an insulating band portion at a predetermined portion of the surface of the anodic oxide film in the valve metal having a anodic oxide film as a dielectric formed on the surface thereof. And a conductive material layer on the anodized film of the cathode part,
A capacitor element formed by sequentially forming a conductive polymer layer and a conductor layer, a lead frame connected to an anode part and a cathode part of the capacitor element, and the capacitor element and a side surface of the capacitor element protruding from the side surface. The lead frame is coated with a mold resin, and a voltage is applied in a hot and humid atmosphere with the projecting portion of the lead frame projecting from the side surface of the capacitor element being shielded before coating with the mold resin. A method for manufacturing a solid electrolytic capacitor in which the aging of the capacitor element is performed by the above.
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