JPH07188907A - Laser thin film forming method and thin film forming apparatus - Google Patents
Laser thin film forming method and thin film forming apparatusInfo
- Publication number
- JPH07188907A JPH07188907A JP33442293A JP33442293A JPH07188907A JP H07188907 A JPH07188907 A JP H07188907A JP 33442293 A JP33442293 A JP 33442293A JP 33442293 A JP33442293 A JP 33442293A JP H07188907 A JPH07188907 A JP H07188907A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- vapor deposition
- thin film
- target
- film forming
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 64
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 38
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims abstract description 37
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 27
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims abstract description 19
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 10
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 8
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 10
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 abstract description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 4
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 3
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 description 3
- 235000008733 Citrus aurantifolia Nutrition 0.000 description 2
- 235000011941 Tilia x europaea Nutrition 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000005355 lead glass Substances 0.000 description 2
- 239000004571 lime Substances 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 真空チャンバ1内に配置されたターゲット11
にレーザ光20を照射して加熱させるとともに、この加熱
により蒸発された原料粒子を基板12の表面に蒸着させる
際に、基板12を透光性材料で構成するとともに、この基
板12をレーザ光20の透過窓4とターゲット11との間に配
置して、この基板11を透過したレーザ光20によりターゲ
ット11を加熱蒸発させる薄膜形成方法である。
【効果】 蒸着原料から蒸発した原料粒子の殆どが基板
に付着し、透過窓などの光学系に付着することがなくな
り、したがって光学系を清浄する必要がないので、基板
の成膜を連続して行うことができるとともに、クリーニ
ング装置なども必要としない。
(57) [Abstract] [Structure] Target 11 placed in vacuum chamber 1
The substrate 12 is made of a light-transmissive material when the raw material particles evaporated by the heating are vapor-deposited on the surface of the substrate 12, and the substrate 12 is irradiated with the laser beam 20. The thin film forming method is arranged between the transmission window 4 and the target 11 and heats and evaporates the target 11 by the laser light 20 transmitted through the substrate 11. [Effect] Most of the raw material particles evaporated from the vapor deposition raw material do not adhere to the substrate and adhere to the optical system such as the transmission window. Therefore, it is not necessary to clean the optical system. It can be done and does not require a cleaning device or the like.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光を使用して、
透明導電性薄膜などの薄膜を形成する薄膜形成方法およ
び薄膜形成装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention uses laser light to
The present invention relates to a thin film forming method and a thin film forming apparatus for forming a thin film such as a transparent conductive thin film.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、レーザ光を使用した薄膜形成装置
としては、例えば特公平5−41700号公報に開示さ
れたものがある。2. Description of the Related Art Conventionally, as a thin film forming apparatus using a laser beam, for example, there is one disclosed in Japanese Patent Publication No. 5-41700.
【0003】この薄膜形成装置は、図3に示すように、
真空チャンバ61内に、蒸着原料(以下、ターゲットと
いう)51および基板52とを所定距離だけ離して配置
するとともに、レーザ光53を第1平面鏡62および透
過窓63を介して、真空チャンバ61内に入射し、そし
て真空チャンバ61内に入射されたレーザ光53を第2
平面鏡64を介して、回転されるターゲット51の表面
に照射し、ターゲット51を蒸発させて基板52の表面
に原料粒子を蒸着させるようにしたものである。This thin film forming apparatus, as shown in FIG.
A vapor deposition material (hereinafter referred to as a target) 51 and a substrate 52 are arranged in the vacuum chamber 61 with a predetermined distance therebetween, and a laser beam 53 is introduced into the vacuum chamber 61 via a first plane mirror 62 and a transmission window 63. The laser light 53 that has entered the vacuum chamber 61
The surface of the rotated target 51 is irradiated with the light through the plane mirror 64 to evaporate the target 51 and deposit the raw material particles on the surface of the substrate 52.
【0004】また、この薄膜形成装置には、透過窓6
3、真空チャンバ61内の第2平面鏡64などからなる
光学系の汚れを検出するためのモニタリング装置71が
具備されている。例えば、このモニタリング装置71
は、真空チャンバ61内に入射する前のレーザ光53の
強度を検出する第1検出センサ72と、第2平面鏡64
から反射されたレーザ光53の強度を検出する第2検出
センサ73と、これら両検出センサ72,73からの強
度を入力するとともに、両レーザ光53の強度を比較す
る制御装置74とから構成されている。Further, in this thin film forming apparatus, the transmission window 6
3. A monitoring device 71 for detecting dirt on the optical system including the second plane mirror 64 in the vacuum chamber 61 is provided. For example, this monitoring device 71
Is a first detection sensor 72 that detects the intensity of the laser light 53 before it enters the vacuum chamber 61, and a second plane mirror 64.
The second detection sensor 73 detects the intensity of the laser light 53 reflected from the second detection sensor 73, and the control device 74 which inputs the intensities from both the detection sensors 72 and 73 and compares the intensities of the two laser lights 53. ing.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】上記の薄膜形成装置の
構成によると、ターゲット51と基板52との間隔が常
に一定であるため、蒸着が進むにつれてターゲット51
と基板52表面との距離が変化して、蒸着効率(ターゲ
ットの消耗と成膜量との関係)が悪くなるという問題が
あり、また蒸発した原料粒子が、透過窓63、第2平面
鏡64などの光学系に付着して、モニタリング装置71
により汚れが検出された場合には、光学系を清浄にする
必要が生じ、したがって連続的に成膜を行うことができ
ないという問題があった。According to the structure of the thin film forming apparatus described above, the distance between the target 51 and the substrate 52 is always constant.
There is a problem that the vapor deposition efficiency (relationship between the consumption of the target and the film formation amount) is deteriorated due to the change in the distance between the substrate 52 and the surface of the substrate 52, and the vaporized raw material particles are transmitted through the transmission window 63, the second plane mirror 64, etc. Attached to the optical system of the monitoring device 71
Therefore, when the stain is detected, it is necessary to clean the optical system, so that there is a problem in that continuous film formation cannot be performed.
【0006】そこで、本発明は上記問題を解消し得るレ
ーザによる薄膜形成方法および薄膜形成装置を提供する
ことを目的とする。Therefore, an object of the present invention is to provide a thin film forming method and a thin film forming apparatus using a laser which can solve the above problems.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明のレーザによる薄膜形成方法は、真空チャン
バ内に配置された蒸着原料にレーザ光を照射して加熱さ
せるとともに、この加熱により蒸発された原料粒子を基
板の表面に蒸着させる際に、基板を透光性材料で構成す
るとともに、この基板をレーザ光の透過窓と蒸着原料と
の間に配置して、この基板を透過したレーザ光により上
記蒸着原料を加熱蒸発させる方法である。In order to solve the above problems, a thin film forming method using a laser according to the present invention irradiates a vapor deposition material placed in a vacuum chamber with laser light to heat it, and evaporates by this heating. When the deposited raw material particles are vapor-deposited on the surface of the substrate, the substrate is made of a translucent material, and the substrate is placed between the laser light transmission window and the vapor deposition raw material, and the laser beam transmitted through the substrate is transmitted. It is a method of heating and evaporating the above vapor deposition material by light.
【0008】また、上記課題を解決するため、本発明の
レーザによる薄膜形成装置は、真空チャンバの壁部にレ
ーザ光の透過窓を設け、この真空チャンバ内の上記透過
窓に対応する位置に、蒸着原料を移動部材を介して、透
過窓に対して接近離間自在に設けるとともに、基板を透
過窓と蒸着原料との間でかつ蒸着原料の表面に沿って基
板を移動自在に設け、上記真空チャンバ内の基板よりも
透過窓側位置に基板加熱用の加熱器を設け、かつ上記基
板をレーザ光を通過させ得る透光性材料で構成したもの
である。In order to solve the above problems, the thin film forming apparatus using a laser of the present invention is provided with a laser beam transmission window on the wall of the vacuum chamber, and a position corresponding to the transmission window in the vacuum chamber is provided. The vapor deposition material is provided to be movable toward and away from the transmission window through a moving member, and the substrate is provided to be movable between the transmission window and the vapor deposition material and along the surface of the vapor deposition material. A heater for heating the substrate is provided at a position closer to the transmission window than the substrate inside, and the substrate is made of a translucent material that allows laser light to pass therethrough.
【0009】[0009]
【作用】上記の構成によると、蒸着原料と透過窓との間
の空間部に蒸着される基板を配置するとともに、レーザ
光を基板内を通過させて蒸着原料に照射するようにして
いるので、蒸着原料から蒸発した原料粒子の殆どが基板
に付着し、透過窓などの光学系に付着することがない。According to the above construction, the substrate to be vapor-deposited is arranged in the space between the vapor deposition material and the transmission window, and the laser light is passed through the substrate to irradiate the vapor deposition material. Most of the material particles evaporated from the evaporation material adhere to the substrate and do not adhere to the optical system such as the transmission window.
【0010】また、蒸着原料は移動部材により、基板表
面に対して接近離間自在に構成されているので、蒸着原
料が減少した場合でも、基板表面と蒸着原料との間の距
離を、一定に保持することができる。Further, since the vapor deposition material can be moved toward and away from the substrate surface by the moving member, the distance between the substrate surface and the vapor deposition material can be kept constant even when the vapor deposition material decreases. can do.
【0011】[0011]
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1および図2に
基づき説明する。図1および図2において、1は排気通
路2を介して真空装置(図示せず)に接続された真空チ
ャンバで、その上壁部1aには、レーザ光の導入枠3が
左右の幅方向でもって設けられるとともに、この導入枠
3の上傾斜部にはレーザ光の通過穴3aが形成されてい
る。そして、この通過穴3aには、透光性材料からなる
透過窓4が設けられており、また上記導入枠3の側部に
は、ガス導入管5が接続されている。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. In FIGS. 1 and 2, reference numeral 1 denotes a vacuum chamber connected to a vacuum device (not shown) through an exhaust passage 2, and a laser beam introduction frame 3 is arranged in a left-right width direction on an upper wall portion 1a thereof. The introduction hole 3 is provided with a laser beam passage hole 3a in the upper inclined portion. A transmission window 4 made of a translucent material is provided in the passage hole 3a, and a gas introduction pipe 5 is connected to a side portion of the introduction frame 3.
【0012】上記真空チャンバ1内の導入枠3に対応す
る位置には、移動台(移動部材)6を介して蒸着原料
(以下、ターゲットという)11が載置されており、ま
たこの移動台6は、駆動機構(図示しないが、モータ、
ねじ機構などを使用したもの)により、矢印a,b方向
で示すように、前後および昇降自在にされている。A vapor deposition material (hereinafter, referred to as a target) 11 is placed at a position corresponding to the introduction frame 3 in the vacuum chamber 1 through a moving table (moving member) 6, and the moving table 6 is also placed. Is a drive mechanism (not shown, motor,
By using a screw mechanism or the like), it can be moved forward and backward and up and down as shown by the directions of arrows a and b.
【0013】そして、真空チャンバ1内においては、蒸
着される基板12が、通過枠3とターゲット11との間
でかつ上壁部1aと平行に、すなわち水平方向cに移動
し得るように移動トレイ(図示せず)に支持されてい
る。また、上壁部1aの導入枠3の前後部の下面位置に
は基板12を加熱するための加熱器(ヒータ)7が配置
されている。In the vacuum chamber 1, a moving tray is provided so that the substrate 12 to be vapor-deposited can move between the passage frame 3 and the target 11 and in parallel with the upper wall portion 1a, that is, in the horizontal direction c. It is supported by (not shown). Further, a heater (heater) 7 for heating the substrate 12 is arranged at the lower surface positions of the front and rear portions of the introduction frame 3 of the upper wall portion 1a.
【0014】また、上記導入枠3の上傾斜壁面には、真
空チャンバ1の幅方向でガイド部材(例えば、ガイドレ
ール)21が設けられるとともに、このガイド部材21
には、透過窓4から真空チャンバ1内にレーザ光20を
照射するためのレーザ照射器22が幅方向dで移動自在
に案内されており、したがってレーザ照射器22から照
射されるレーザ光20は、矢印dにて示すように、上記
ターゲット11上を、基板12の表面に沿って往復移動
し得るように構成されている。A guide member (for example, a guide rail) 21 is provided on the upper inclined wall surface of the introduction frame 3 in the width direction of the vacuum chamber 1, and the guide member 21 is also provided.
A laser irradiator 22 for irradiating the laser light 20 from the transmission window 4 into the vacuum chamber 1 is guided movably in the width direction d. Therefore, the laser light 20 radiated from the laser irradiator 22 is As shown by the arrow d, the target 11 is configured to be capable of reciprocating along the surface of the substrate 12.
【0015】さらに、上記基板12は透光性材料で構成
されており、透過窓4もこの基板12と同一の材料で構
成されている。この基板12の材料としては、例えばレ
ーザ光20の波長に対する透過率が、レーザ波長が約0.
3 〜2.0 μm の範囲で、80%以上となるようなものが使
用される。具体的には、例えば石英(コーニング7059,
日本電気硝子OA−2など)、鉛ガラス、石灰ガラスな
どが使用される。Further, the substrate 12 is made of a translucent material, and the transmission window 4 is also made of the same material as the substrate 12. As the material of the substrate 12, for example, the transmittance for the wavelength of the laser light 20 is about 0.
In the range of 3 to 2.0 μm, a material with 80% or more is used. Specifically, for example, quartz (Corning 7059,
Nippon Electric Glass OA-2), lead glass, lime glass, etc. are used.
【0016】次に、レーザによる薄膜形成方法について
説明する。まず、真空チャンバ1内の移動台6上に、タ
ーゲット11を載置するとともに、移動トレイに基板1
2を支持させる。Next, a method of forming a thin film by laser will be described. First, the target 11 is placed on the moving table 6 in the vacuum chamber 1, and the substrate 1 is placed on the moving tray.
Support 2.
【0017】次に、真空装置により、真空チャンバ1内
を所定の真空度にするとともに、ガス導入管5より所定
の雰囲気ガスを注入し、加熱器7により、基板12を所
定の温度に加熱する。Next, the inside of the vacuum chamber 1 is made to have a predetermined degree of vacuum by a vacuum device, a predetermined atmosphere gas is injected from the gas introduction pipe 5, and the substrate 12 is heated to a predetermined temperature by the heater 7. .
【0018】そして、基板12をターゲット11上に移
動させるとともに、透過窓4より、所定のレーザ光22
を真空チャンバ1内に照射する。真空チャンバ1内に照
射されたレーザ光20は、基板12を通過してターゲッ
ト11の表面を加熱する。なお、このとき、レーザ光2
0は、矢印dにて示すように、ターゲット11上を左右
の幅方向で往復移動されて、ターゲット11の表面を万
遍なく加熱する。Then, the substrate 12 is moved onto the target 11, and a predetermined laser beam 22 is passed through the transmission window 4.
Is radiated into the vacuum chamber 1. The laser light 20 radiated into the vacuum chamber 1 passes through the substrate 12 and heats the surface of the target 11. At this time, the laser light 2
As indicated by arrow d, 0 is reciprocated on the target 11 in the left-right width direction to uniformly heat the surface of the target 11.
【0019】このようにして、レーザ光20により加熱
されて蒸発した原料粒子は、基板12の下面に一様に付
着して、所定の薄膜が蒸着により形成される。勿論、基
板12は、矢印c方向に所定の速度でもってゆっくりと
移動され、基板12全体にターゲット11の蒸着が行わ
れる。In this way, the raw material particles heated and evaporated by the laser beam 20 are uniformly attached to the lower surface of the substrate 12 to form a predetermined thin film by vapor deposition. Of course, the substrate 12 is slowly moved in the direction of arrow c at a predetermined speed, and the target 11 is deposited on the entire substrate 12.
【0020】また、ターゲット11の蒸発が進み、基板
12表面とターゲット11との距離が変化した場合に
は、矢印bに示すように、移動台6を昇降させて、常
に、基板12表面とターゲット11との距離が一定とな
るように制御される。なお、ターゲット11は、移動台
6により、前後方向にも移動されて、ターゲット11の
表面も万遍に加熱される。When the evaporation of the target 11 progresses and the distance between the surface of the substrate 12 and the target 11 changes, the moving table 6 is moved up and down as shown by an arrow b, and the surface of the substrate 12 and the target 11 are always kept. The distance from 11 is controlled to be constant. The target 11 is also moved in the front-back direction by the moving table 6, and the surface of the target 11 is evenly heated.
【0021】このように、ターゲット11と透過窓4と
の間の空間部に、蒸着される基板12を配置するととも
に、レーザ光20を基板12内を通過させてターゲット
11に照射するようにしているので、ターゲット11か
ら蒸発した原料粒子の殆どが基板11に付着し、透過窓
4などの光学系に付着することがなく、したがって従来
例におけるような、光学系を清浄する必要がないので、
基板12の成膜を連続して行うことができるとともに、
クリーニング装置なども必要としない。Thus, the substrate 12 to be vapor-deposited is arranged in the space between the target 11 and the transmission window 4, and the laser light 20 is passed through the substrate 12 to irradiate the target 11. Since most of the raw material particles evaporated from the target 11 adhere to the substrate 11 and do not adhere to the optical system such as the transmission window 4, it is not necessary to clean the optical system as in the conventional example.
The substrate 12 can be continuously formed, and
No cleaning device is required.
【0022】また、上述したように、移動台6により、
常に、基板12表面とターゲット11との距離を一定に
保持することができるので、蒸着効率を良好な状態に維
持することができる。Further, as described above, by the moving table 6,
Since the distance between the surface of the substrate 12 and the target 11 can always be kept constant, the vapor deposition efficiency can be maintained in a good state.
【0023】[0023]
【発明の効果】以上のように本発明の構成によると、蒸
着原料と透過窓との間の空間部に、蒸着される基板を配
置するとともに、レーザ光を基板内を通過させて蒸着原
料に照射するようにしているので、蒸着原料から蒸発し
た原料粒子の殆どが基板に付着し、透過窓などの光学系
に付着することがなくなり、したがって従来例のような
光学系を清浄する必要がないので、基板の成膜を連続し
て行うことができるとともに、クリーニング装置なども
必要としない。As described above, according to the structure of the present invention, the substrate to be vapor-deposited is arranged in the space between the vapor-deposition raw material and the transmission window, and the laser light is passed through the substrate to be used as the vapor-deposition raw material. Since the irradiation is performed, most of the raw material particles evaporated from the vapor deposition raw material do not adhere to the substrate and do not adhere to the optical system such as the transmission window. Therefore, it is not necessary to clean the optical system as in the conventional example. Therefore, the substrate can be continuously formed, and a cleaning device or the like is not required.
【0024】また、蒸着原料は移動部材により、透過窓
に対して、すなわち基板表面に対して接近離間自在に構
成されているので、蒸着原料が減少した場合でも、基板
表面と蒸着原料との間の距離を、常に、一定に保持する
ことができ、したがって蒸着効率を良好な状態に維持す
ることができる。Further, since the vapor deposition raw material is configured to be movable toward and away from the transmission window, that is, the substrate surface by the moving member, even when the vapor deposition raw material is reduced, the vapor deposition raw material can be kept between the substrate surface and the vapor deposition raw material. Can always be kept constant, and therefore the vapor deposition efficiency can be maintained in a good state.
【図1】本発明の一実施例における薄膜形成装置の概略
構成を示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of a thin film forming apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】同実施例における薄膜形成装置の概略構成を示
す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing a schematic configuration of a thin film forming apparatus in the embodiment.
【図3】従来例における薄膜形成装置の概略構成を示す
断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of a thin film forming apparatus in a conventional example.
1 真空チャンバ 3 導入枠 3a 通過穴 4 透過窓 6 移動台 7 加熱器 11 ターゲット 12 基板 20 レーザ光 22 レーザ照射器 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Vacuum chamber 3 Introduction frame 3a Pass hole 4 Transmission window 6 Moving table 7 Heater 11 Target 12 Substrate 20 Laser light 22 Laser irradiator
─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───
【手続補正書】[Procedure amendment]
【提出日】平成6年3月4日[Submission date] March 4, 1994
【手続補正1】[Procedure Amendment 1]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0015[Name of item to be corrected] 0015
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0015】さらに、上記基板12は透光性材料で構成
されている。この基板12の材料としては、例えばレー
ザ光20の波長に対する透過率が、レーザ波長が約0.3
〜2.0 μm の範囲で、80%以上となるようなものが使用
される。具体的には、例えば石英(コーニング7059,日
本電気硝子OA−2など)、鉛ガラス、石灰ガラスなど
が使用される。Further, the substrate 12 is made of a translucent material . As the material of the substrate 12, for example, the transmittance for the wavelength of the laser light 20 is about 0.3 for the laser wavelength.
Within the range of up to 2.0 μm, a material with 80% or more is used. Specifically, for example, quartz (Corning 7059, Nippon Electric Glass OA-2, etc.), lead glass, lime glass, etc. are used.
【手続補正2】[Procedure Amendment 2]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0020[Correction target item name] 0020
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0020】また、ターゲット11の蒸発が進み、基板
12表面とターゲット11との距離が変化した場合に
は、矢印bに示すように、移動台6を昇降させて、常
に、基板12表面とターゲット11との距離が一定とな
るように制御される。なお、ターゲット11は、移動台
6により、レーザ光の往復移動に同期して前後方向(矢
印a方向)にも往復移動されて、ターゲット11の表面
が万遍なく加熱される。 When the evaporation of the target 11 progresses and the distance between the surface of the substrate 12 and the target 11 changes, the moving table 6 is moved up and down as shown by an arrow b, and the surface of the substrate 12 and the target 11 are always kept. The distance from 11 is controlled to be constant. The target 11 is moved in the front-back direction (arrow direction) by the moving table 6 in synchronization with the reciprocating movement of the laser light.
The surface of the target 11 is also reciprocated in the direction of mark a).
Is evenly heated.
【手続補正3】[Procedure 3]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0024[Name of item to be corrected] 0024
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0024】また、蒸着原料は移動部材により、透過窓
に対して、すなわち基板表面に対して接近離間自在に構
成されているので、蒸着原料が減少した場合でも、基板
表面と蒸着原料との間の距離を、常に、一定に保持する
ことができ、したがって蒸着効率を良好な状態に維持す
ることができる。さらに、レーザ走査と蒸着原料の移動
とにより、蒸着原料の利用を著しく改善することができ
る。 Further, since the vapor deposition material is configured to be movable toward and away from the transmission window, that is, the substrate surface by the moving member, even when the vapor deposition material is reduced, the vapor deposition material is kept between the substrate surface and the vapor deposition material. Can always be kept constant, and therefore the vapor deposition efficiency can be maintained in a good state. Furthermore, laser scanning and movement of vapor deposition material
Can significantly improve the use of deposition materials
It
Claims (2)
ーザ光を照射して加熱させるとともに、この加熱により
蒸発された原料粒子を基板の表面に蒸着させる際に、基
板を透光性材料で構成するとともに、この基板をレーザ
光の透過窓と蒸着原料との間に配置して、この基板を透
過したレーザ光により上記蒸着原料を加熱蒸発させるこ
とを特徴とするレーザによる薄膜形成方法。1. A substrate is made of a translucent material when a vapor deposition material disposed in a vacuum chamber is irradiated with laser light to be heated and the material particles evaporated by this heating are vapor-deposited on the surface of the substrate. A method for forming a thin film by a laser, comprising: arranging the substrate between a laser beam transmission window and a vapor deposition raw material, and heating and vaporizing the vapor deposition raw material by the laser light transmitted through the substrate.
設け、この真空チャンバ内の上記透過窓に対応する位置
に、蒸着原料を移動部材を介して、透過窓に対して接近
離間自在に設けるとともに、基板を透過窓と蒸着原料と
の間でかつ蒸着原料の表面に沿って基板を移動自在に設
け、上記真空チャンバ内の基板よりも透過窓側位置に基
板加熱用の加熱器を設け、かつ上記基板をレーザ光を通
過させ得る透光性材料で構成したことを特徴とするレー
ザによる薄膜形成装置。2. A transparent window for laser light is provided on the wall of the vacuum chamber, and the vapor deposition material can be moved toward and away from the transparent window at a position corresponding to the transparent window in the vacuum chamber through a moving member. The substrate is movably provided between the transmission window and the vapor deposition material and along the surface of the vapor deposition material, and a heater for heating the substrate is provided at a position closer to the transmission window than the substrate in the vacuum chamber. And a thin film forming apparatus using a laser, wherein the substrate is made of a translucent material that allows laser light to pass therethrough.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33442293A JPH07188907A (en) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | Laser thin film forming method and thin film forming apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33442293A JPH07188907A (en) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | Laser thin film forming method and thin film forming apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07188907A true JPH07188907A (en) | 1995-07-25 |
Family
ID=18277203
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33442293A Pending JPH07188907A (en) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | Laser thin film forming method and thin film forming apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07188907A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014040666A (en) * | 2006-04-17 | 2014-03-06 | Imra America Inc | Method of manufacturing p-type semiconductor zink oxide film, and method of pulse laser deposition using transparent substrate |
| JP2024526518A (en) * | 2021-07-28 | 2024-07-19 | マツクス-プランク-ゲゼルシヤフト ツール フエルデルング デル ヴイツセンシヤフテン エー フアウ | Method for coating a coating area on a front surface of a substrate and apparatus for a thermal evaporation system - Patents.com |
| JP2024528365A (en) * | 2021-07-28 | 2024-07-30 | マツクス-プランク-ゲゼルシヤフト ツール フエルデルング デル ヴイツセンシヤフテン エー フアウ | Apparatus for a thermal evaporation system and method for coating a coating area on a front surface of a substrate - Patents.com |
-
1993
- 1993-12-28 JP JP33442293A patent/JPH07188907A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014040666A (en) * | 2006-04-17 | 2014-03-06 | Imra America Inc | Method of manufacturing p-type semiconductor zink oxide film, and method of pulse laser deposition using transparent substrate |
| JP2024526518A (en) * | 2021-07-28 | 2024-07-19 | マツクス-プランク-ゲゼルシヤフト ツール フエルデルング デル ヴイツセンシヤフテン エー フアウ | Method for coating a coating area on a front surface of a substrate and apparatus for a thermal evaporation system - Patents.com |
| JP2024528365A (en) * | 2021-07-28 | 2024-07-30 | マツクス-プランク-ゲゼルシヤフト ツール フエルデルング デル ヴイツセンシヤフテン エー フアウ | Apparatus for a thermal evaporation system and method for coating a coating area on a front surface of a substrate - Patents.com |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI299758B (en) | Method and apparatus for measuring the thickness of deposited film, method and apparatus for forming material layer | |
| JPH09506565A (en) | Imaging by abrasion using proximity lithographic printing | |
| KR101219225B1 (en) | Pulsed laser deposition system | |
| KR102315185B1 (en) | Apparatus and mehtod for measuring a deposition rate | |
| JPH07188907A (en) | Laser thin film forming method and thin film forming apparatus | |
| KR20100100889A (en) | Method and system for continuous or semi-continuous laser deposition | |
| JPS6021224B2 (en) | Laser thin film forming equipment | |
| US9869014B2 (en) | Formation of an alignment film for a liquid crystal on a substrate | |
| JP2016222974A (en) | Vacuum deposition equipment | |
| US6316747B1 (en) | Apparatus for the thermal treatment of substrates | |
| JPH0770740A (en) | Method for forming conductive thin film | |
| CN108374146A (en) | organic deposition device and method | |
| JPS58110042A (en) | Beam irradiation apparatus | |
| JPH0819517B2 (en) | Laser vapor deposition method | |
| JPH0248627B2 (en) | HAKUMAKUKEISEIBUHINNOSEIZOHOHOOYOBISOCHI | |
| JPH03174307A (en) | Production of oxide superconductor | |
| JPS62294164A (en) | Method and apparatus for vapor deposition | |
| JPH0819519B2 (en) | Laser vapor deposition equipment | |
| JP2001108615A (en) | Atomic-absorption-type rate monitor | |
| JPH0483866A (en) | Laser vapor deposition device | |
| JP2003277919A (en) | Laser ablation method and apparatus | |
| JP2601682B2 (en) | Beam annealing method and beam annealing apparatus | |
| JPH01208455A (en) | Laser vacuum evaporation equipment | |
| JPS63157860A (en) | Laser deposition equipment | |
| CN1266107A (en) | Device for preparing diamond-like carbon film |