JPH0675311B2 - Pickup for magneto-optical recording medium - Google Patents
Pickup for magneto-optical recording mediumInfo
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- JPH0675311B2 JPH0675311B2 JP62096720A JP9672087A JPH0675311B2 JP H0675311 B2 JPH0675311 B2 JP H0675311B2 JP 62096720 A JP62096720 A JP 62096720A JP 9672087 A JP9672087 A JP 9672087A JP H0675311 B2 JPH0675311 B2 JP H0675311B2
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Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、光磁気ディスク等の光磁気記録媒体に記録さ
れている信号を読み取るためのピックアップ、特に詳細
には光導波路を用いたピックアップに関するものであ
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pickup for reading a signal recorded on a magneto-optical recording medium such as a magneto-optical disk, and more particularly to a pickup using an optical waveguide. It is a thing.
(従来の技術) 近時、画像信号や音声信号等の記録媒体として、光磁気
ディスク等の光磁気記録媒体が広く実用に供されてい
る。この光磁気記録媒体に磁化の向きの形で記録されて
いる信号は、光学式のピックアップによって読み取られ
る。このピックアップは、例えばレーザ光等の直線偏光
光を光磁気記録媒体表面に照射し、該記録媒体において
反射した光の偏光面が磁化の向きに対応して回転する現
象(磁気カー効果)を利用して、記録媒体上の磁化の向
きを検出するようにしたものである。(Prior Art) Recently, a magneto-optical recording medium such as a magneto-optical disk has been widely put into practical use as a recording medium for image signals and audio signals. A signal recorded in the direction of magnetization on this magneto-optical recording medium is read by an optical pickup. This pickup utilizes a phenomenon (a magnetic Kerr effect) in which the surface of a magneto-optical recording medium is irradiated with linearly polarized light such as laser light, and the plane of polarization of the light reflected by the recording medium rotates in accordance with the direction of magnetization. Then, the direction of magnetization on the recording medium is detected.
具体的にこの光磁気記録媒体用ピックアップにおいて
は、記録媒体からの反射光を検光子を通して光検出器に
より検出し、該反射光の偏光面回転に応じて検出光量が
変化することを利用して上記磁化の向き、すなわち記録
情報を読み取るようにしている。またこのピックアップ
においては、上述のようにして記録情報読取りを行なう
とともに、トラッキングエラー検出、つまり磁化状態検
出のための光ビームが所定のグルーブに沿ったトラック
の中心から左右どちら側にずれて照射されているかを検
出するための機能、およびフォーカスエラー検出、つま
り上記光ビームの焦点が光磁気記録媒体の反射面よりも
近くにあるかあるいは遠くにあるかを検出するための機
能を備えることが求められる。すなわちこのトラッキン
グエラー、フォーカスエラーの検出信号は、該信号が打
ち消されるようにトラッキング制御、フォーカス制御を
かけて、光ビームを所定のトラックに正しく照射するた
め、また該光ビームを光磁気記録媒体の反射面上で正し
く合焦させるために利用される。なお従来より、トラッ
キングエラー検出方法としてプッシュプル法、ヘテロダ
イン法、時間差検出法等が知られており、一方フォーカ
スエラー検出方法としては、非点収差法、臨界角検出
法、フーコー法等が知られている。Specifically, in this magneto-optical recording medium pickup, by utilizing the fact that the reflected light from the recording medium is detected by a photodetector through an analyzer and the detected light amount changes according to the rotation of the polarization plane of the reflected light. The magnetization direction, that is, the recorded information is read. Further, in this pickup, the recording information is read as described above, and the light beam for tracking error detection, that is, for detecting the magnetized state is emitted while deviating to the left or right side from the center of the track along the predetermined groove. And a function for detecting focus error, that is, a function for detecting whether the focus of the light beam is closer or farther than the reflecting surface of the magneto-optical recording medium. To be That is, the tracking error and focus error detection signals are subjected to tracking control and focus control so that the signals are canceled so that the light beam is correctly irradiated to a predetermined track, and the light beam is applied to the magneto-optical recording medium. Used to focus properly on the reflective surface. Conventionally, push-pull method, heterodyne method, time difference detection method, etc. are known as tracking error detection methods, while astigmatism method, critical angle detection method, Foucault method, etc. are known as focus error detection methods. ing.
信号読取機能に加えて上述のような機能を備えるために
従来の光磁気記録媒体用ピックアップは、光源から発せ
られた光ビームを光磁気記録媒体の反射面上で集束させ
るための対物レンズや、光磁気記録媒体において反射し
たビームを、該媒体に向けて照射されている光ビームか
ら分離するためのビームスプリッタや、この反射ビーム
をフォトダイオード等の光検出器の近傍で集束させるた
めの集束レンズや、前述の検光子や、さらには上記トラ
ッキングエラー検出方法およびフォーカスエラー検出方
法を実行するためのプリズム等の微小光学素子から構成
されていた。The conventional magneto-optical recording medium pickup in order to have the above-mentioned function in addition to the signal reading function is an objective lens for focusing the light beam emitted from the light source on the reflecting surface of the magneto-optical recording medium, A beam splitter for separating a beam reflected from the magneto-optical recording medium from a light beam irradiated toward the medium, and a focusing lens for focusing the reflected beam in the vicinity of a photodetector such as a photodiode. In addition, it is composed of the above-mentioned analyzer and a micro optical element such as a prism for executing the tracking error detecting method and the focus error detecting method.
(発明が解決しようとする問題点) しかし上記のような微小光学素子は精密な加工を要し、
またピックアップ組立てに際しての相互の位置調整も面
倒であるので、このような光学素子を用いるピックアッ
プは必然的に高価なものとなっていた。さらにこのよう
な構成のピックアップは、大型で重いものとなるので、
読取装置の小型軽量化や、アクセスタイム短縮化の点で
不利なものとなっていた。(Problems to be solved by the invention) However, the minute optical element as described above requires precise processing,
Further, since it is troublesome to adjust the mutual positions when assembling the pickup, a pickup using such an optical element is inevitably expensive. Furthermore, since the pickup with such a configuration is large and heavy,
It is disadvantageous in terms of downsizing and weight saving of the reading device and shortening of access time.
上記の不具合を解消するため従来より、例えば非球面レ
ンズ等の特殊な光学素子を用いてピックアップの構成を
簡素化する試みも種々なされている。しかしこの種の光
学素子は特に高価であるので、このような素子を用いる
ピックアップは、構成は簡素化されても、コストの点で
は前述のようなピックアップとさほど変わり無いものと
なっている。In order to solve the above problems, various attempts have conventionally been made to simplify the structure of the pickup by using a special optical element such as an aspherical lens. However, since an optical element of this kind is particularly expensive, a pickup using such an element has a structure similar to that of the above-mentioned pickup in terms of cost.
本発明は上記のような事情に鑑みてなされたものであ
り、小型軽量で、しかも極めて安価に形成されうる光磁
気記録媒体用ピックアップを提供することを目的とする
ものである。The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a pickup for a magneto-optical recording medium which is small in size and light in weight and can be formed at an extremely low cost.
(問題点を解決するための手段) 本発明の光磁気記録媒体用ピックアップは、先に述べた
対物レンズ、ビームスプリッタ、集束レンズ、プリズ
ム、検光子などが果たす作用を、集光性回折格子を備え
た光導波路素子によって得るようにしたものであり、具
体的には、 第1の光導波路と、この第1の光導波路に取り付けら
れ、直線偏光した光ビームを該光導波路内に入射させる
光源と、上記第1の光導波路の表面に形成され、該光導
波路内を導波する光ビームを光導波路外に出射させ、光
磁気記録媒体の反射面上で集束させる第1の集光性回折
格子と、光磁気記録媒体で反射した反射ビームを一表面
で受けるような向きに配置された第2の光導波路とを設
け、 上記第2の光導波路の表面の反射ビーム照射位置には、
それぞれ上記反射ビームをこの光導波路内に入射させる
第2,第3の集光性回折格子を並設し、 上記第2,第3の集光性回折格子は、第2の光導波路を照
射する反射ビームの略中心を通りかつ該光導波路の表面
上をトラッキング方向に略直角に延びる軸はをはさんで
並び、それぞれがTEあるいはTM導波モードを励振し、こ
の第2の光導波路内を導波する反射ビームを上記軸をは
さんで互いに離れた位置に各々集束させるように形成
し、 また上記第2の光導波路の表面あるいは端面に、上記第
2および第3の集光性回折格子により集束された各反射
ビームをそれぞれ検出する第1および第2の光検出器を
取り付け、 さらに上記第1および第2の光検出器の出力に基づいて
トラッキングエラーとフォーカスエラー検出を行なうエ
ラー検出回路と、 上記第1および/または第2の光検出器の出力に基づい
て記録情報を検出する光磁気信号検出回路とを設けてな
るものである。(Means for Solving Problems) The pickup for a magneto-optical recording medium according to the present invention has a condensing diffraction grating to perform the functions of the objective lens, the beam splitter, the focusing lens, the prism, the analyzer, and the like described above. The optical waveguide element is provided, and specifically, a first optical waveguide and a light source that is attached to the first optical waveguide and makes a linearly polarized light beam enter the optical waveguide. And a first light-collecting diffractive element that is formed on the surface of the first optical waveguide and emits a light beam guided in the optical waveguide to the outside of the optical waveguide and focuses it on the reflecting surface of the magneto-optical recording medium. A grating and a second optical waveguide arranged so as to receive the reflected beam reflected by the magneto-optical recording medium on one surface are provided, and the reflected beam irradiation position on the surface of the second optical waveguide is
Second and third light converging diffraction gratings for arranging the reflected beam to enter the optical waveguide are arranged in parallel, and the second and third light converging diffraction gratings irradiate the second optical waveguide. The axes passing through the center of the reflected beam and extending on the surface of the optical waveguide at a right angle to the tracking direction are aligned with each other, and each of them excites TE or TM waveguide mode. The reflected beams that are guided are formed so as to be focused at positions separated from each other with the axis interposed therebetween, and the second and third converging diffraction gratings are formed on the surface or end face of the second optical waveguide. Error detection circuit for mounting tracking errors and focus errors based on the outputs of the first and second photodetectors. And above Those formed by providing a magneto-optical signal detection circuit for detecting the recording information based on the output of the first and / or second photodetectors.
上記の集光性回折格子(FGC:Focusing Grating Couple
r)は、曲りとチャープ、または曲りを有する回折格子
であり、光導波路外の空間光波面と光導波路内を進行す
る導波光の波面とを直接結合し、また光導波路外に出射
する光ビームを光導波路外の空間において集束させ、あ
るいは光導波路内において導波光を集束させる。The above focusing grating (FGC: Focusing Grating Couple)
r) is a diffraction grating having bends and chirps or bends, which directly couples the spatial light wavefront outside the optical waveguide with the wavefront of the guided light traveling inside the optical waveguide, and also outputs the light beam outside the optical waveguide. Is focused in a space outside the optical waveguide, or guided light is focused in the optical waveguide.
(作用) 上述のように光磁気記録媒体に照射される光ビームは、
第1の光導波路に設けられた第1の集光性回折格子によ
って記録媒体の反射面上で集束される。これにより、前
述の対物レンズが果たす作用が得られている。一方、光
磁気記録媒体からの反射ビームを上記第2,第3の集光性
回折格子によって第2の光導波路内に取り込むことによ
り、該反射ビームは光路を曲げて光検出器側に導かれ
る。これは前述のビームスプリッタが果たす作用と同じ
である。また第2,第3の集光性回折格子は第2の光導波
路内で反射ビームを集束させるが、これは前述の集束レ
ンズが果たす作用と同じである。さらに第2および第3
の集光性回折格子が2個前述のような位置に配されてい
るから、光磁気記録媒体からの反射ビームは互いにトラ
ッキング方向に分離されて2箇所で集束する。これは前
述のプリズムが果たす作用と同じである。(Operation) As described above, the light beam applied to the magneto-optical recording medium is
It is focused on the reflection surface of the recording medium by the first converging diffraction grating provided in the first optical waveguide. As a result, the function of the above-mentioned objective lens is obtained. On the other hand, when the reflected beam from the magneto-optical recording medium is taken into the second optical waveguide by the second and third converging diffraction gratings, the reflected beam is bent and guided to the photodetector side. . This is the same as the function performed by the beam splitter described above. The second and third converging diffraction gratings focus the reflected beam in the second optical waveguide, which is the same as the function of the focusing lens described above. Second and third
Since the two condensing diffraction gratings are arranged at the positions as described above, the reflected beams from the magneto-optical recording medium are separated from each other in the tracking direction and converge at two positions. This is the same as the function of the prism described above.
第2,第3の集光性回折格子によって第2の光導波路内に
取り込まれる反射ビームの光量は、反射ビームの偏光の
向きに応じて変化する。したがって第1または第2の光
検出器、あるいはこれら双方の出力を測定すれば、反射
ビームの偏光の向き、すなわち光磁気記録媒体の記録情
報が読み取れることになる。このように第2,第3の集光
性回折格子により、前述の検光子が果たす作用が得られ
る。The light amount of the reflected beam taken into the second optical waveguide by the second and third converging diffraction gratings changes according to the polarization direction of the reflected beam. Therefore, by measuring the output of the first or second photodetector or both of them, the polarization direction of the reflected beam, that is, the recorded information on the magneto-optical recording medium can be read. In this way, the second and third converging diffraction gratings provide the function of the analyzer described above.
特に第2,第3の集光性回折格子を、共通の導波モードを
励振するように形成しておけば、第1,第2の光検出器の
出力の和は、トラッキングエラー、フォーカスエラーに
係らず一定になる。したがって、この出力の和に基づけ
ば光磁気記録媒体の記録情報がより正確に読み取れるこ
とになる。In particular, if the second and third converging diffraction gratings are formed so as to excite the common waveguide mode, the sum of the outputs of the first and second photodetectors will be the tracking error and the focus error. It becomes constant regardless of Therefore, based on the sum of these outputs, the recorded information on the magneto-optical recording medium can be read more accurately.
また上記構成においては、第1の光導波路と第2の光導
波路とが一体化されているから、トラッキング制御が行
なわれても、第1の集光性回折格子に対する第2,第3の
集光性回折格子の相対位置は常に一定に保たれる。した
がって、トラッキング制御のために前述の対物レンズを
移動させる従来位置におけるように、対物レンズの傾き
によって反射ビーム検出光量が変動して記録情報読取信
号に雑音が生じたり、あるいは対物レンズのオフセット
によってトラッキングエラーが生じることが防止され
る。Further, in the above configuration, since the first optical waveguide and the second optical waveguide are integrated, even if tracking control is performed, the second and third optical waveguides for the first converging diffraction grating are collected. The relative position of the optical diffraction grating is always kept constant. Therefore, as in the conventional position in which the objective lens is moved for tracking control, the amount of reflected beam detection light varies due to the inclination of the objective lens to cause noise in the recorded information read signal, or the tracking is performed due to the offset of the objective lens. Errors are prevented from occurring.
(実施例) 以下、図面に示す実施例に基づいて本発明を詳細に説明
する。(Example) Hereinafter, the present invention will be described in detail based on an example shown in the drawings.
第1図は本発明の第1実施例による光磁気記録媒体用ピ
ックアップを示すものであり、第2図はこのピックアッ
プの光導波路の平面形状と電気回路を示すものである。
第1図に示されるようにこのピックアップは、紙面に略
垂直な方向に延びるロッド11,11に沿って移動自在とさ
れたブロック12を有している。このブロック12は所定の
グルーブに沿った信号列(トラック)に追随するため
に、例えば精密送りネジと光学系送りモータ等により、
上記トラックの方向(ビーム照射位置において矢印U方
向)に直角な方向、あるいはそれに近い方向に移動され
るようになっている。FIG. 1 shows a pickup for a magneto-optical recording medium according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows a plan view of an optical waveguide of this pickup and an electric circuit.
As shown in FIG. 1, this pickup has a block 12 which is movable along rods 11 extending in a direction substantially perpendicular to the plane of the drawing. In order to follow the signal train (track) along a predetermined groove, this block 12 uses, for example, a precision feed screw and an optical system feed motor,
The track is moved in a direction perpendicular to the direction of the track (direction of arrow U at the beam irradiation position) or a direction close thereto.
上記ブロック12には、例えばnタイプのSi基板23が保持
されている。この基板23上にはバッファ層28を介して光
導波路22が形成されている。この光導波路22の1つの端
面22bは研磨されて、その上には直線偏光した光ビーム
(レーザビーム)15を発する半導体レーザ16が固定され
ている。この半導体レーザ16から発せられたビーム15は
上記端面22bから光導波路22内に入射し、一例としてTE
導波モードで該光導波路22内を進行する。一方光導波路
22の表面22aには、第1の集光性回折格子(以下、FGCと
称する)17が設けられている。このFGC17は曲りとチャ
ープを有する回折格子であり、光導波路22内を導波して
いる光ビーム15を光導波路外に出射させ、そして光磁気
ディスク13の反射面14上で集束させる。基板23は後に詳
述するトラッキング制御、フォーカス制御のために、ト
ラッキング方向(矢印U方向に直角な方向)およびフォ
ーカス方向(矢印V方向)に移動可能に支持され、トラ
ッキングコイル19、フォーカスコイル20によりそれぞれ
上記の方向に移動されるようになっている。The block 12 holds, for example, an n-type Si substrate 23. An optical waveguide 22 is formed on the substrate 23 via a buffer layer 28. One end face 22b of the optical waveguide 22 is polished, and a semiconductor laser 16 which emits a linearly polarized light beam (laser beam) 15 is fixed thereon. The beam 15 emitted from the semiconductor laser 16 enters the optical waveguide 22 through the end face 22b, and as an example, TE
It travels in the optical waveguide 22 in the guided mode. Meanwhile optical waveguide
A surface 22a of the surface 22 is provided with a first converging diffraction grating (hereinafter referred to as FGC) 17. The FGC 17 is a diffraction grating having a bend and a chirp, and emits the light beam 15 guided in the optical waveguide 22 to the outside of the optical waveguide and focuses it on the reflecting surface 14 of the magneto-optical disk 13. The substrate 23 is movably supported in the tracking direction (direction perpendicular to the arrow U direction) and the focus direction (direction V) for tracking control and focus control which will be described later in detail, and is supported by the tracking coil 19 and the focus coil 20. Each is moved in the above direction.
光導波路22は、光ビーム15が反射面14において正反射し
ないように配置されており、したがって光磁気ディスク
13で反射した反射ビーム15′は、第1のFGC17とは離れ
た位置に反射して来る。この反射ビーム15′が照射され
る位置において光導波路22の表面22aには、第2,第3のF
GC31,32が相隣接して設けられている。これらのFGC31,3
2も曲りとチャープ、あるいは曲りを有する回折格子で
あり、それぞれが反射ビーム15′を光導波路22内に入射
させ、そして光導波路22内の一点で集束させるように形
成されている。第2,第3のFGC31,32は、前述のトラッキ
ング方向に対して直角で反射ビーム15′のほぼ中心を通
る光導波路22上の軸(第2図のy軸)をはさんで並設さ
れ、またそれぞれがこのy軸をはさんで互いに離れた位
置に反射ビーム15′を集束させるように形成されてい
る。また第2,第3のFGC31,32は、反射ビーム15′を受け
てTE導波モードを励振するようにそれぞれ格子ピッチが
設定されている。The optical waveguide 22 is arranged so that the light beam 15 does not specularly reflect on the reflecting surface 14, and therefore, the magneto-optical disk.
The reflected beam 15 'reflected at 13 is reflected at a position away from the first FGC 17. At the position irradiated with this reflected beam 15 ', the second and third Fs are formed on the surface 22a of the optical waveguide 22.
GC31 and 32 are provided adjacent to each other. These FGC 31,3
Reference numeral 2 is also a diffraction grating having a bend and a chirp or a bend, and each is formed so that the reflected beam 15 'is made incident on the optical waveguide 22 and is focused at one point in the optical waveguide 22. The second and third FGCs 31, 32 are arranged side by side with an axis (y-axis in FIG. 2) on the optical waveguide 22 which is perpendicular to the above-mentioned tracking direction and which passes through substantially the center of the reflected beam 15 '. Further, each is formed so as to focus the reflected beam 15 'at positions apart from each other across the y-axis. The second and third FGCs 31 and 32 have their grating pitches set so as to receive the reflected beam 15 'and excite the TE guided mode.
上記のような作用を果たすFGC31,32のm番目の格子パタ
ーン形状式は、光導波路22上の位置を上記y軸とx軸
(トラッキング方向軸)とによって規定して、第1のFG
C17によるディスク13上の集光位置を、(fx,fy,fz)と
し、FGC31,32によるビーム集束位置の座標をそれぞれ
(−Fx,Fy)、(Fx,Fy)とし、反射ビーム15′の光波長
をλ、該ビーム15′のFGC31,32への入射角をθ、TEモー
ド光に対する光導波路22の実効屈折率をNTEとすると、 [複合はFGC31に関して+、FGC32に関して−]で与えら
れる。The m-th lattice pattern shape formula of the FGCs 31 and 32 that performs the above-described action defines the position on the optical waveguide 22 by the y-axis and the x-axis (tracking direction axis), and the first FG
The focus position on the disk 13 by C17 is (fx, fy, fz), the coordinates of the beam focus position by FGC31,32 are (-Fx, Fy), (Fx, Fy), respectively, and the reflected beam 15 ' Assuming that the light wavelength is λ, the incident angle of the beam 15 ′ on the FGCs 31 and 32 is θ, and the effective refractive index of the optical waveguide 22 for TE mode light is N TE , [Complex is given as + for FGC31 and-for FGC32].
そしてFGC31,32は第2図に示すように、反射ビーム15′
の直線偏光の向き(矢印P方向)に対して、x軸が45°
傾くような向きに配置されている。なお反射ビーム15′
の直線偏光の向きは、光磁気ディスク13における磁化の
向きに対応して回転するので、本例においては、磁化さ
れていない部分で反射した反射ビーム15′の直線偏光の
向きを基準とし、この向きとx軸とが45°の角度をなす
ようにしている。なおFGC31,32は、光導波路22の表面22
aとは反対側の表面(第1図中の下表面)に設けられて
もよい。As shown in FIG. 2, the FGCs 31 and 32 are reflected beams 15 '.
The x-axis is 45 ° with respect to the direction of the linearly polarized light
It is arranged so that it tilts. The reflected beam 15 '
Since the direction of the linearly polarized light of is rotated according to the direction of the magnetization in the magneto-optical disk 13, in this example, the direction of the linearly polarized light of the reflected beam 15 ′ reflected by the non-magnetized portion is used as a reference, and The direction and the x axis form an angle of 45 °. The FGCs 31 and 32 are the surface 22 of the optical waveguide 22.
It may be provided on the surface opposite to a (the lower surface in FIG. 1).
上記の光導波路22は例えばSi基板23上にSiO2からなるバ
ッファ層28を形成し、その上に♯7059ガラスをスパッタ
して形成することができるし、一方FGC31,32は、光導波
路22上にSi-NをPCVDにて製膜し、電子ビーム直接描画に
よりレジストパターンを形成した後、RIEでSi-N膜に転
写する、等の方法によって形成することができる。ちな
みに、上記の材料で光導波路22およびFGC31,32を形成し
た場合、前述の各形状式で格子パターンが規定されるFG
C31,32(TEモード励起とする)の中心周期は、0.791μ
mとなる。The optical waveguide 22 can be formed, for example, by forming a buffer layer 28 made of SiO 2 on the Si substrate 23 and sputtering # 7059 glass on the buffer layer 28, while the FGCs 31, 32 are formed on the optical waveguide 22. It can be formed by a method in which Si-N is formed into a film by PCVD, a resist pattern is formed by electron beam direct writing, and then transferred to a Si-N film by RIE. By the way, when the optical waveguide 22 and the FGCs 31 and 32 are formed of the above materials, the FG for which the lattice pattern is defined by the above-mentioned shape formulas
The central period of C31,32 (TE mode excitation) is 0.791μ
m.
一方光導波路22の表面22aには、前述のようにして集束
された反射ビーム15′をそれぞれ検出するように、第1
の光検出器24,第2の光検出器25が設けられている。第
1の光検出器24は一例として前記y軸と平行に延びるギ
ャップで2分割されたフォトダイオードPD1,PD2からな
り、また第2の光検出器25も同様のフォトダイオードPD
3,PD4からなる。これらのフォトダイオードPD1〜4は一
例として第3図に詳しく示すように、nタイプのSi基板
23上に、導波している反射ビーム15′の浸み出し光(エ
バネッセント光)が該基板23内に入射することを防ぐバ
ッファ層28を設け、pタイプSi層29と電極30を設けて集
積化されている。このようにして集積化されたフォトダ
イオードPD1〜PD4は、高速応答が可能であるので特に好
ましい。On the other hand, on the surface 22a of the optical waveguide 22, the first reflected beam 15 ', which is focused as described above, is detected so as to be respectively detected.
The photodetector 24 and the second photodetector 25 are provided. As an example, the first photodetector 24 is composed of photodiodes PD1 and PD2 divided into two by a gap extending in parallel with the y-axis, and the second photodetector 25 is also the same photodiode PD.
It consists of 3, PD4. These photodiodes PD1 to PD4 are, for example, as shown in detail in FIG. 3, an n type Si substrate.
A buffer layer 28 for preventing the leaked light (evanescent light) of the guided reflected beam 15 ′ from entering the substrate 23 is provided on 23, and a p-type Si layer 29 and an electrode 30 are provided. It is integrated. The photodiodes PD1 to PD4 integrated in this way are particularly preferable because they can respond at high speed.
第2図に示すようにフォトダイオードPD1,PD2の出力は
加算アンプ34で加算され、またフォトダイオードPD3,PD
4の出力も同様に加算アンプ37で加算され、そして第1,
第2の光検出器24,25それぞれの外側のフォトダイオー
ドPD1,PD4の出力が加算アンプ35で加算され、内側のフ
ォトダイオードPD2,PD3の出力が加算アンプ36で加算さ
れる。また上記加算アンプ34,37の出力は加算アンプ38
および差動アンプ40に入力され、そして加算アンプ35,3
6の出力は差動アンプ39に入力される。上記加算アンプ3
8の出力は、差動アンプ41に入力される。それとともに
この差動アンプ41には、基準信号Srefが入力され、該ア
ンプ41はこれらの入力の差に応じた出力S1を発する。こ
の差動アンプ41の出力S1、差動アンプ39の出力S2、およ
び差動アンプ40の出力S3はそれぞれ、読取回路42、フォ
ーカスコイル駆動制御回路43およびトラッキングコイル
駆動制御回路44に入力される。As shown in FIG. 2, the outputs of the photodiodes PD1 and PD2 are added by the adding amplifier 34, and the photodiodes PD3 and PD2 are also added.
The outputs of 4 are likewise summed by the summing amplifier 37, and
The outputs of the outer photodiodes PD1 and PD4 of the second photodetectors 24 and 25 are added by the adding amplifier 35, and the outputs of the inner photodiodes PD2 and PD3 are added by the adding amplifier 36. The outputs of the summing amplifiers 34 and 37 are the summing amplifier 38.
Input to differential amplifier 40, and summing amplifier 35,3
The output of 6 is input to the differential amplifier 39. Above summing amplifier 3
The output of 8 is input to the differential amplifier 41. At the same time, the reference signal Sref is input to the differential amplifier 41, and the amplifier 41 outputs the output S1 according to the difference between these inputs. The output S1 of the differential amplifier 41, the output S2 of the differential amplifier 39, and the output S3 of the differential amplifier 40 are input to the reading circuit 42, the focus coil drive control circuit 43, and the tracking coil drive control circuit 44, respectively.
次に、上記構成のピックアップの作動について説明す
る。半導体レーザ16から発せられ発散ビームの状態で光
導波路22内を導波する光ビーム(レーザビーム)15は、
第1のFGC17によって光導波路22から出射し、光磁気デ
ィスク13の反射面14上で合焦するように集束される。光
磁気ディスク13は図示しない回転駆動手段により、上記
光ビーム15の照射位置においてトラックが矢印U方向に
移動するように回転される。周知の通り上記トラック
は、磁化の向き(第1図において反射面14の上側に矢印
で示す)の形で記録された画像信号や音声信号等の列で
あり、光磁気ディスク13からの反射ビーム15′の直線偏
光の向きは、磁化されていない部分からの反射ビーム1
5′の直線偏光の向きと比べると、磁化の向きに応じて
互いに反対方向に回転する。つまりある方向に磁化して
いる部分からの反射ビーム15′の偏光の向きは、第2図
の矢印Pで示す偏光方向から時計方向に回転し、それと
は反対方向に磁化している部分からの反射ビーム15′の
偏光の向きは、上記矢印Pで示す偏光方向から反時計方
向に回転する。Next, the operation of the pickup having the above structure will be described. A light beam (laser beam) 15 emitted from the semiconductor laser 16 and guided in the optical waveguide 22 in a divergent beam state is
The light is emitted from the optical waveguide 22 by the first FGC 17 and focused so as to be focused on the reflecting surface 14 of the magneto-optical disk 13. The magneto-optical disk 13 is rotated by a rotation driving means (not shown) so that the track moves in the arrow U direction at the irradiation position of the light beam 15. As is well known, the track is a train of image signals and audio signals recorded in the direction of magnetization (indicated by an arrow above the reflecting surface 14 in FIG. 1). The direction of the 15 'linearly polarized light is the reflected beam 1 from the unmagnetized part.
Compared to the 5'direction of linearly polarized light, they rotate in opposite directions depending on the direction of magnetization. That is, the direction of polarization of the reflected beam 15 'from the part magnetized in a certain direction rotates clockwise from the polarization direction shown by the arrow P in FIG. 2 and from the part magnetized in the opposite direction. The polarization direction of the reflected beam 15 'rotates counterclockwise from the polarization direction indicated by the arrow P.
この反射ビーム15′は、FGC31,32によって光導波路22内
に取り込まれる。該光導波路22内を導波する反射ビーム
15′は、FGC31,32それぞれのビーム集束作用により、y
軸をはさんだ2点で集束するようになる。ここで、先に
述べたように第2,第3のFGC31,32はTE導波モードを励振
するように形成され、第2図の矢印Eで示す方向の電界
ベクトルを有する光を光導波路22内において導波させ
る。したがって、反射ビーム15′の直線偏光の向きが矢
印Pで示す方向よりも時計方向に回転すれば、第2,第3
のFGC31,32により光導波路22内に取り込まれる反射ビー
ム15′の光量が減少する。反射ビーム15′の直線偏光の
向きが矢印P方向よりも反時計方向に回転すれば、上記
の逆となる。より詳しく説明すれば、反射ビーム15′の
直線偏光の向きと第2図のx軸がなす角度をφとする
と、FGC31および32によって光導波路22内に取り込まれ
る光量I1は、第9図に曲線で示すようにcos2φに比例
して変化する。したがって差動アンプ41に入力される基
準信号Srefを、角度φが45°のときの光量P0(第9図参
照)に対応する値に設定しておけば、反射ビーム15′の
直線偏光の向きが第2図の矢印Pで示す方向より時計方
向に回転しているときは差動アンプ41の出力を−(マイ
ナス)とし、反対に反時計方向に回転しているときは差
動アンプ41の出力を+(プラス)とすることができる。
こうして差動アンプ41の出力S1を判別することにより、
光磁気ディスク13上の磁化の向き、つまり記録情報を読
み取ることができる。The reflected beam 15 'is taken into the optical waveguide 22 by the FGCs 31 and 32. Reflected beam guided in the optical waveguide 22
15 ′ is y by the beam focusing action of each of FGC31 and 32.
It comes to focus on two points with the axis in between. Here, as described above, the second and third FGCs 31 and 32 are formed so as to excite the TE waveguide mode, and the light having the electric field vector in the direction indicated by the arrow E in FIG. Guide inside. Therefore, if the direction of the linearly polarized light of the reflected beam 15 'rotates clockwise relative to the direction indicated by the arrow P, the second and third
The FGCs 31 and 32 reduce the light amount of the reflected beam 15 'taken into the optical waveguide 22. If the direction of the linearly polarized light of the reflected beam 15 'rotates counterclockwise as compared with the direction of arrow P, the above is reversed. More specifically, assuming that the angle formed by the direction of the linearly polarized light of the reflected beam 15 'and the x axis in FIG. 2 is φ, the light quantity I 1 taken into the optical waveguide 22 by the FGCs 31 and 32 is shown in FIG. As shown by the curve, it changes in proportion to cos 2 φ. Therefore, if the reference signal Sref input to the differential amplifier 41 is set to a value corresponding to the light amount P 0 (see FIG. 9) when the angle φ is 45 °, the linearly polarized light of the reflected beam 15 ′ is When the direction is clockwise from the direction indicated by arrow P in FIG. 2, the output of the differential amplifier 41 is-(minus), and when the direction is counterclockwise, the differential amplifier 41 is opposite. The output of can be + (plus).
By determining the output S1 of the differential amplifier 41 in this way,
The direction of magnetization on the magneto-optical disk 13, that is, recorded information can be read.
前記第9図から明らかなように、角度φの変化幅が一定
ならば、φ=45°を変化の中心としたときが光量I1の変
化量が最大となり、差動出力S1も最大となる。したがっ
て、光磁気ディスク13上の磁化の向きの違いによる反射
ビーム15′の直線偏光面回転角(カー回転角)が、極め
て小さいものであっても(一般に0.3〜0.5°程度)、こ
の偏光面の回転を精度良く検出可能となる。しかし、光
検出器24,25の検出光量すなわちそれらの出力の和は、
偏光角φが0°のとき最大となるから、差動出力S1のS/
Nの点から考えれば、偏光角φの変化中心点を上記45°
よりもさらに小さい角度(例えば15°等)に設定するの
が好ましい。As is clear from FIG. 9, if the change width of the angle φ is constant, the change amount of the light amount I 1 becomes maximum when the change center is φ = 45 °, and the differential output S 1 also becomes maximum. . Therefore, even if the linear polarization plane rotation angle (Kerr rotation angle) of the reflected beam 15 'due to the difference in the direction of magnetization on the magneto-optical disk 13 is extremely small (generally about 0.3 to 0.5 °), Rotation can be detected with high accuracy. However, the amount of light detected by the photodetectors 24 and 25, that is, the sum of their outputs, is
Since the maximum is obtained when the polarization angle φ is 0 °, S / of the differential output S1
From the point of N, the change center point of the polarization angle φ is 45 ° above.
It is preferable to set the angle smaller than the above (for example, 15 °).
なお上記実施例では、第2および第3のFGC31,32がとも
にTE導波モードを励振するように形成されているが、こ
れらはTE導波モードを励振するように形成されてもよ
い。その場合、光導波路22内に取り込まれる光量I2は、
第9図に曲線で示すように、sin2φに比例して変化す
る。このようにしても、光量I2つまり加算アンプ38の出
力が偏光角φに応じて変化するから、上記と同様にして
記録情報を読取り可能となる。In the above embodiment, both the second and third FGCs 31, 32 are formed so as to excite the TE guided mode, but they may be formed so as to excite the TE guided mode. In that case, the amount of light I 2 taken into the optical waveguide 22 is
As shown by the curve in FIG. 9, it changes in proportion to sin 2 φ. Even in this case, the amount of light I 2, that is, the output of the adding amplifier 38 changes according to the polarization angle φ, so that the recorded information can be read in the same manner as described above.
また上記例においては、第1および第2の光検出器24,2
5の出力を加算した信号に基づいて信号読取りを行なう
ようにしているが、光検出器24,25の一方の出力信号に
基づいて信号読取りを行なうことも可能である。そのよ
うにする場合は、第2,第3のFGC31,32が互いに異なる導
波モードを励振するようにしてもよい。しかしその場合
は、トラッキングエラーによって光検出器24または25の
出力が変動するので、この変動による信号誤検出を防止
するためには上記実施例におけるようにするのが好まし
い。In the above example, the first and second photodetectors 24,2
Although the signal reading is performed based on the signal obtained by adding the outputs of 5, it is also possible to perform the signal reading based on the output signal of one of the photodetectors 24 and 25. In such a case, the second and third FGCs 31 and 32 may excite different waveguide modes. However, in that case, the output of the photodetector 24 or 25 fluctuates due to a tracking error. Therefore, in order to prevent signal erroneous detection due to this fluctuation, it is preferable to adopt the above-mentioned embodiment.
ブロック12は先に述べたように光学系送りモードの駆動
によって矢印U方向と直角な方向、あるいはそれに近い
方向に送られ、それにより光磁気ディスク13上の光ビー
ム15の照射位置(ディスク径方向位置)が変えられて、
記録信号が連続的に読み取られる。ここで上記光ビーム
15は、所定の信号列(トラック)の中心に正しく照射さ
れなければならない。以下、このように光ビーム15の照
射位置を正しく維持する制御、すなわちトラッキング制
御について説明する。反射ビーム15′の中心がちょうど
FGC31とFGC32との間に位置するとき、第1の光検出器24
(フォトダイオードPD1とPD2)によって検出される光量
と、第2の光検出器25(フォトダイオードPD2とPD4)に
よって検出される光量とは一致する。したがってこの場
合は差動アンプ40の出力S3は0(ゼロ)となる。一方光
ビーム15の照射位置が不正になって、反射ビーム15′の
光強度分布が第2図中上方側に変位すると、第1の光検
出器24の検出光量が第2の光検出器25の検出光量を上回
る。したがって差動アンプ40の出力S3は+(プラス)と
なる。反対に反射ビーム15′の光強度分布が第2図中下
方側に変位すると、差動アンプ40の出力S3は−(マイナ
ス)となる。つまり差動アンプ40の出力S3は、トラッキ
ングエラーの方向(第2図の矢印x方向)を示すものと
なる。この出力S3はトラッキングエラー信号としてトラ
ッキングコイル駆動制御回路44に送られる。なおこのよ
うにフォトダイオードPD1〜4の出力を処理してトラッ
キングエラーを検出する方法は、プッシュプル法として
従来から確立されているものである。トラッキングコイ
ル駆動制御回路44は上記トラッキングエラー信号S3を受
け、該信号S3が示すトラッキングエラーの方向に応じた
電流Itをトラッキングコイル19に供給し、このトラッキ
ングエラーが解消される方向に基板23を移動させる。そ
れにより光ビーム15は、常に信号列の中心に正しく照射
されるようになる。As described above, the block 12 is fed in the direction perpendicular to the arrow U direction or a direction close to it by the driving of the optical system feed mode, whereby the irradiation position of the light beam 15 on the magneto-optical disc 13 (disc radial direction). Position) is changed,
The recording signal is continuously read. Where the above light beam
15 must be correctly illuminated in the center of a given signal train (track). Hereinafter, the control for properly maintaining the irradiation position of the light beam 15, that is, the tracking control will be described. The center of the reflected beam 15 'is just
When located between FGC31 and FGC32, the first photodetector 24
The amount of light detected by (photodiodes PD1 and PD2) and the amount of light detected by the second photodetector 25 (photodiodes PD2 and PD4) match. Therefore, in this case, the output S3 of the differential amplifier 40 becomes 0 (zero). On the other hand, when the irradiation position of the light beam 15 becomes incorrect and the light intensity distribution of the reflected beam 15 'is displaced to the upper side in FIG. 2, the amount of light detected by the first photodetector 24 is changed to the second photodetector 25. Exceeds the detected light intensity of. Therefore, the output S3 of the differential amplifier 40 becomes + (plus). On the contrary, when the light intensity distribution of the reflected beam 15 'is displaced downward in FIG. 2, the output S3 of the differential amplifier 40 becomes-(minus). That is, the output S3 of the differential amplifier 40 indicates the direction of tracking error (direction of arrow x in FIG. 2). This output S3 is sent to the tracking coil drive control circuit 44 as a tracking error signal. The method of processing the outputs of the photodiodes PD1 to PD4 to detect the tracking error in this way is conventionally established as a push-pull method. The tracking coil drive control circuit 44 receives the tracking error signal S3, supplies a current It according to the direction of the tracking error indicated by the signal S3 to the tracking coil 19, and moves the substrate 23 in the direction in which the tracking error is eliminated. Let As a result, the light beam 15 is always radiated correctly to the center of the signal train.
次にフォーカス制御、すなわち光ビーム15を光磁気ディ
スク13の反射面14上に正しく集束される制御について説
明する。光ビーム15が光磁気ディスク13の反射面14上で
合焦しているとき、FGC31により集束される反射ビーム1
5′はフォトダイオードPD1とPD2との中間位置で集束す
る。このとき同様にFGC32により集束される反射ビーム1
5′は、フォトダイオードPD3とPD4との中間位置で集束
する。したがって加算アンプ35の出力と加算アンプ36の
出力は等しくなり、差動アンプ39の出力S2は0(ゼロ)
となる。一方光ビーム15が上記反射面14よりも近い位置
で集束しているときは、FGC31,32に入射する反射ビーム
15′は収束ビームとなり、光検出器24,25の各々におけ
る反射ビーム15′の照射位置はそれぞれ内側(フォトダ
イオードPD2側およびフォトダイオードPD3側)に変位す
る。したがってこの場合は加算アンプ35の出力が加算ア
ンプ36の出力を下回り、差動アンプ39の出力S2は−(マ
イナス)となる。反対に光ビーム15が反射面14よりも遠
い位置で集束しているときは、FGC31,32に入射する反射
ビーム15′は発散ビームとなり、光検出器24,25の各々
における反射ビーム15′の照射位置はそれぞれ外側(フ
ォトダイオードPD1側およびフォトダイオードPD4側)に
変位する。したがってこの場合は加算アンプ35の出力が
加算アンプ36の出力を上回り、差動アンプ39の出力S2は
+(プラス)となる。このように差動アンプ39の出力S2
は、フォーカスエラーの方向を示すものとなる。この出
力S2は、フォーカスエラー信号としてフォーカスコイル
駆動制御回路43に送られる。なおこのようにフォトダイ
オードPD1〜4の出力を処理してフォーカスエラーを検
出する方法は、従来より、フーコープリズムを用いるフ
ーコー法において実行されているものである。フォーカ
スコイル駆動制御回路43は上記フォーカスエラー信号S2
を受け、該信号S2が示すフォーカスエラーの方向に応じ
た電流Ifをフォーカスコイル20に供給し、このフォーカ
スエラーが解消される方向に基板23を移動させる。それ
により光ビーム15は、常に光磁気ディスク13の反射面14
上で正しく集束するようになる。Next, focus control, that is, control for correctly focusing the light beam 15 on the reflecting surface 14 of the magneto-optical disk 13 will be described. When the light beam 15 is focused on the reflecting surface 14 of the magneto-optical disk 13, the reflected beam 1 focused by the FGC 31
5'is focused at an intermediate position between the photodiodes PD1 and PD2. At this time, the reflected beam 1 similarly focused by the FGC 32
5'is focused at an intermediate position between the photodiodes PD3 and PD4. Therefore, the output of the adding amplifier 35 and the output of the adding amplifier 36 become equal, and the output S2 of the differential amplifier 39 is 0 (zero).
Becomes On the other hand, when the light beam 15 is focused at a position closer than the reflecting surface 14, the reflected beam incident on the FGC 31, 32
15 'becomes a convergent beam, and the irradiation position of the reflected beam 15' on each of the photodetectors 24 and 25 is displaced inward (to the photodiode PD2 side and the photodiode PD3 side). Therefore, in this case, the output of the addition amplifier 35 becomes lower than the output of the addition amplifier 36, and the output S2 of the differential amplifier 39 becomes-(minus). On the contrary, when the light beam 15 is focused at a position farther than the reflecting surface 14, the reflected beam 15 ′ incident on the FGCs 31, 32 becomes a divergent beam, and the reflected beam 15 ′ at each of the photodetectors 24, 25 becomes The irradiation positions are respectively displaced to the outside (the photodiode PD1 side and the photodiode PD4 side). Therefore, in this case, the output of the adding amplifier 35 exceeds the output of the adding amplifier 36, and the output S2 of the differential amplifier 39 becomes + (plus). Thus, the output S2 of the differential amplifier 39
Indicates the direction of the focus error. This output S2 is sent to the focus coil drive control circuit 43 as a focus error signal. The method of processing the outputs of the photodiodes PD1 to PD4 to detect the focus error in this way is conventionally executed in the Foucault method using a Foucault prism. The focus coil drive control circuit 43 uses the focus error signal S2
In response, the current If corresponding to the direction of the focus error indicated by the signal S2 is supplied to the focus coil 20, and the substrate 23 is moved in the direction in which the focus error is eliminated. As a result, the light beam 15 is always reflected on the reflecting surface 14 of the magneto-optical disk 13.
It will focus correctly on top.
この実施例において光ビーム15は、反射面14において正
反射しないようになっているから、反射ビーム15′が第
1のFGC17から光導波路22内に入射して半導体レーザ16
に戻ることがない。したがって、半導体レーザ16が戻り
光のためにモードホッピングを起こして、出力変動等の
不具合を生じることが防止される。In this embodiment, the light beam 15 is designed not to be specularly reflected by the reflecting surface 14, so that the reflected beam 15 'enters the optical waveguide 22 from the first FGC 17 and the semiconductor laser 16
Never return to. Therefore, it is possible to prevent the semiconductor laser 16 from causing a mode hopping due to the returning light and causing a defect such as an output fluctuation.
なおこの実施例において第2,第3のFGC31,32は、それぞ
れの格子が連続して互いに密接した状態に形成されてい
るが、これらのFGC31,32は少しの距離をおいて互いに独
立に形成されてもよい。これは以下に説明する実施例に
おいても同様である。In this embodiment, the second and third FGCs 31, 32 are formed such that their respective lattices are continuous and in close contact with each other, but these FGCs 31, 32 are formed independently of each other with a small distance. May be done. This also applies to the embodiments described below.
またFGC31,32によってそれぞれ集束される反射ビーム1
5′を互いに交差させる、つまり第2図で説明すればFGC
31によるビーム集束位置がy軸の下側に、FGC32による
ビーム集束位置がy軸の上側に位置するようにFGC31,32
を形成しても構わない。In addition, the reflected beam 1 which is respectively focused by FGC31, 32
5'cross each other, that is, FGC if explained in FIG.
FGC31, 32 so that the beam focusing position by 31 is below the y-axis and the beam focusing position by FGC32 is above the y-axis.
May be formed.
次に第4,5および6図を参照して本発明の第2実施例に
ついて説明する。なおこれら第4,5,6図において第1〜
3図中の要素と同等の要素には同番号を付し、それらに
ついては必要の無い限り説明を省く(以下、同様)。第
1実施例においては、第1の光導波路と第2の光導波路
とが共通のものとされていたが、この第2実施例のピッ
クアップにおいては、それらが別個に形成されている。
すなわち第4図図示のように、基板23上にはバッファ層
28を介して第2の光導波路52が形成され、その上に透明
バッファ層50を介して第1の光導波路51が形成されてい
る。そして第1の光導波路51の表面51aには第1のFGC17
が形成され、第2の光導波路52の表面52aには第2およ
び第3のFGC31,32が形成されている。この第1のFGC17
と、第2および第3のFGC31,32は、互いに重なる位置に
設けられているが、第5,6図に示されるように、格子並
び方向は互いに45°の角度をなすように形成されてい
る。そして光導波路51,52は、第1のFGC17から出射した
光ビーム15が、光磁気ディスク13の反射面14で正反射す
る向きに配置されている。Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In addition, in these FIGS.
Elements that are the same as the elements in FIG. 3 are assigned the same numbers, and explanations thereof are omitted unless necessary (the same applies below). In the first embodiment, the first optical waveguide and the second optical waveguide are common, but in the pickup of the second embodiment, they are formed separately.
That is, as shown in FIG. 4, a buffer layer is formed on the substrate 23.
The second optical waveguide 52 is formed via 28, and the first optical waveguide 51 is formed thereon via the transparent buffer layer 50. The first FGC 17 is formed on the surface 51a of the first optical waveguide 51.
And the second and third FGCs 31 and 32 are formed on the surface 52a of the second optical waveguide 52. This first FGC17
The second and third FGCs 31 and 32 are provided at positions overlapping with each other, but as shown in FIGS. 5 and 6, the lattice arrangement directions are formed so as to form an angle of 45 ° with each other. There is. The optical waveguides 51 and 52 are arranged so that the light beam 15 emitted from the first FGC 17 is specularly reflected by the reflecting surface 14 of the magneto-optical disk 13.
なおこの場合、第1の光導波路51内を導波する光ビーム
15の一部は、第1のFGC17により基板23側に回折し、そ
の光ビーム15はバッファ層50と第2の光導波路52との界
面、さらにはバッファ層28と基板23との界面で反射して
上方(光磁気ディスク13側)に進行する。この方向に回
折した後反射した光ビーム15も有効に利用し、またFGC1
7から光磁気ディスク13側に回折した光ビーム15が弱め
られることがないように、これらの反射光と、FGC17で
光磁気ディスク13側に回折した光とが干渉で強め合うよ
うにバッファ層28,50の厚さを選択するのが好ましい。In this case, the light beam guided in the first optical waveguide 51
Part of 15 is diffracted by the first FGC 17 toward the substrate 23 side, and the light beam 15 is reflected at the interface between the buffer layer 50 and the second optical waveguide 52, and further at the interface between the buffer layer 28 and the substrate 23. And advances upward (to the side of the magneto-optical disk 13). The light beam 15 that is diffracted in this direction and then reflected is also effectively used.
In order to prevent the light beam 15 diffracted from 7 toward the magneto-optical disk 13 side from being weakened, the reflected light and the light diffracted toward the magneto-optical disk 13 side by the FGC 17 interfere with each other by a buffer layer 28. It is preferable to choose a thickness of 50.
この実施例装置においては、光磁気ディスク13からの反
射ビーム15′は第1のFGC17,第1の光導波路51およびバ
ッファ層50を通過して、第2,第3のFGC31,32上に入射
し、これらのFGC31,32によって第2の光導波路52内に取
り込まれる。この場合も、光導波路52内において集束す
る2系統の反射ビーム15′を、第1,第2の光検出器24,2
5で検出し、それらの検出信号を前述のように処理すれ
ば、記録信号、トラッキングエラー、フォーカスエラー
を検出できる。In this embodiment, the reflected beam 15 'from the magneto-optical disk 13 passes through the first FGC 17, the first optical waveguide 51 and the buffer layer 50 and is incident on the second and third FGCs 31,32. Then, these FGCs 31 and 32 take the light into the second optical waveguide 52. In this case as well, the two systems of reflected beams 15 'which are focused in the optical waveguide 52 are converted into the first and second photodetectors 24,2.
If the signals are detected by 5, and the detected signals are processed as described above, the recording signal, the tracking error, and the focus error can be detected.
次に第7図および第8図を参照して本発明の第3実施例
について説明する。この実施例においては、第2実施例
におけるのと同様に、第1,第2の光導波路51,52は別個
に形成され、しかもそれらは別々の基板53,23上に形成
されている。基板53は透明基板とされ、第2の光導波路
52の上に重ねて固定されている。Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 7 and 8. In this embodiment, as in the second embodiment, the first and second optical waveguides 51, 52 are formed separately, and they are formed on separate substrates 53, 23. The substrate 53 is a transparent substrate, and the second optical waveguide
It is fixed on top of 52.
この場合も光導波路51,52は、FGC17から出射した光ビー
ム15が光磁気ディスク13において正反射するように配置
され、第1のFGC17と、第2,第3のFGC31,32は第2実施
例におけるのと同様の位置関係で設置されており、それ
らの作用、効果は第2実施例におけるのと同様である。Also in this case, the optical waveguides 51 and 52 are arranged so that the light beam 15 emitted from the FGC 17 is specularly reflected by the magneto-optical disk 13, and the first FGC 17 and the second and third FGCs 31 and 32 are the second embodiment. They are installed in the same positional relationship as in the example, and their actions and effects are the same as in the second embodiment.
なお以上述べた第2実施例および第3実施例において
は、第1の光導波路51が光磁気ディスク13に近い側に、
そして第2の光導波路52が光磁気ディスク13から遠い側
に配置されているが、これとは反対の位置関係に両光導
波路51,52を配置してもよい。In the second and third embodiments described above, the first optical waveguide 51 is located closer to the magneto-optical disk 13,
Although the second optical waveguide 52 is arranged on the side farther from the magneto-optical disk 13, both optical waveguides 51, 52 may be arranged in a positional relationship opposite to this.
以上説明した3つの実施例においては、第1,第2の光検
出器24,25が光導波路22あるいは光導波路52の表面22a,5
2aに集積化されているが、これらの光検出器24,25はそ
の他の形態で光導波路22あるいは52に取り付けることも
可能である。すなわち1つの光導波路を用いる場合を例
にとれば、例えば第10図に示すように、光導波路22の表
面22aに近接させて光検出器24,25を配置することもでき
る。またこのように光導波路22の表面22aに光検出器24,
25を近接させて配置する場合、第11図図示のように、光
導波路22の表面22aに反射ビーム15′(導波光)を光導
波路22外に出射させる回折格子80を設けて、光検出器2
4,25の受光効率を高めることも可能である。さらに第12
図図示のように、光導波路22の端面22cを研磨した上で
該端面22cに光検出器24,25を密着固定することもでき
る。さらに第13図図示のように、光導波路22上に下部透
明電極27a、薄膜状光導電性材料27b、および上部電極27
cをこの順に装荷してフォトダイオードPD1〜4を形成す
ることもできる。この場合、上記下部透明電極27aと上
部電極27cとの間には、電源27dから所定の電界が印加さ
れる。この構成のフォトダイオードPD1〜4において
は、光導電性材料27bが光照射を受けるとその光量に応
じた光電流が流れる。したがって、端子27eにおける電
位変化を検出すれば、光導電性材料27bの受光光量を検
出することができる。なお薄膜状光導電性材料27bは、
例えばIV族のSi、Ge、IV族のSe、III-V族のGaAs、II-VI
族のZnO、CdS、IV-VI族のPbS等のエピタキシャル膜、多
結晶体膜、非晶質膜等から形成可能であり、また非晶質
カルコゲン膜(a-Se、a-Se-As-Teなど)、非晶質Siを主
体とし水素および/またはフッ素を含む膜(a-Si:H、a-
SiGe:H、a-SiC:Hなど)にIII族、V族の原子(B、Pな
ど)を添加することによりpn接合、p-i-n接合を得てフ
ォトダイオードを形成する膜、前記非晶質Siを主体とし
水素および/またはフッ素を含む膜とショットキー接合
を構成する電極を用いてフォトダイオードを形成する膜
等から形成することもできる。In the three embodiments described above, the first and second photodetectors 24, 25 are the optical waveguide 22 or the surface 22a, 5 of the optical waveguide 52.
Although integrated in 2a, these photodetectors 24, 25 can be attached to the optical waveguide 22 or 52 in other forms. That is, if one optical waveguide is used as an example, the photodetectors 24 and 25 can be arranged close to the surface 22a of the optical waveguide 22, as shown in FIG. 10, for example. Further, in this way, the photodetector 24, on the surface 22a of the optical waveguide 22,
When arranging 25 close to each other, as shown in FIG. 11, a diffraction grating 80 for emitting a reflected beam 15 ′ (guided light) to the outside of the optical waveguide 22 is provided on the surface 22a of the optical waveguide 22, and a photodetector is provided. 2
It is also possible to increase the light receiving efficiency of 4,25. Further 12th
As shown in the figure, after the end face 22c of the optical waveguide 22 is polished, the photodetectors 24 and 25 can be closely fixed to the end face 22c. Further, as shown in FIG. 13, a lower transparent electrode 27a, a thin film photoconductive material 27b, and an upper electrode 27 are provided on the optical waveguide 22.
The photodiodes PD1 to PD4 can be formed by loading c in this order. In this case, a predetermined electric field is applied from the power source 27d between the lower transparent electrode 27a and the upper electrode 27c. In the photodiodes PD1 to PD4 of this configuration, when the photoconductive material 27b is irradiated with light, a photocurrent corresponding to the amount of light flows. Therefore, the amount of received light of the photoconductive material 27b can be detected by detecting the potential change at the terminal 27e. The thin film photoconductive material 27b is
For example, Group IV Si, Ge, Group IV Se, Group III-V GaAs, II-VI
It can be formed from an epitaxial film such as ZnO, CdS of the group III, PbS of the group IV-VI, a polycrystalline film, an amorphous film, etc., and an amorphous chalcogen film (a-Se, a-Se-As- Te, etc.), a film mainly composed of amorphous Si and containing hydrogen and / or fluorine (a-Si: H, a-
SiGe: H, a-SiC: H, etc.) to which a group III or V group atom (B, P, etc.) is added to obtain a pn junction or a pin junction to form a photodiode. It is also possible to form the film from a film or the like for forming a photodiode by using an electrode that mainly forms a film containing hydrogen and / or fluorine to form a Schottky junction.
またFGC31,32は、先に述べた製造方法に限らず、公知の
フォトリソ法、ホログラフィック転写法等によりすべて
プレーナ技術で形成可能であり、容易に大量複製可能で
ある。Further, the FGCs 31 and 32 are not limited to the above-described manufacturing method, and all can be formed by a planar technique by a known photolithography method, a holographic transfer method, or the like, and mass replication can be easily performed.
(発明の効果) 以上詳細に説明した通り本発明の光磁気記録媒体用ピッ
クアップにおいては、従来のピックアップにおいて対物
レンズ、ビームスプリッタ、集束レンズ、プリズムおよ
び検光子等の光学素子が果たしていた作用が光導波路上
に形成した集光性回折格子によって得られるようになっ
ている。したがって本発明のピックアップは、部品点数
が極めて少なく小形軽量に形成されるので、従来装置に
比べて大幅なコストダウンが可能となり、またアクセス
タイムの短縮も可能となる。(Effects of the Invention) As described in detail above, in the magneto-optical recording medium pickup of the present invention, the optical elements such as the objective lens, the beam splitter, the focusing lens, the prism, and the analyzer in the conventional pickup have the optical function. It can be obtained by a converging diffraction grating formed on the waveguide. Therefore, since the pickup of the present invention has a very small number of parts and is formed in a small size and light weight, the cost can be significantly reduced as compared with the conventional device, and the access time can be shortened.
そして本発明のピックアップは、その主要部分がプレー
ナ技術により容易に大量生産されうるので、この点から
も大幅なコストダウンを実現できるものとなる。Since the main part of the pickup of the present invention can be easily mass-produced by the planar technique, a significant cost reduction can be realized from this point as well.
さらに本発明のピックアップにおいては、上記のような
光学素子の位置調整は勿論不要であり、また光導波路に
光検出器を結合したことにより光学素子と光検出器との
位置調整も不要であり、この点でもコストダウンが達成
される。Furthermore, in the pickup of the present invention, it is of course unnecessary to adjust the position of the optical element as described above, and it is also unnecessary to adjust the position of the optical element and the photodetector by coupling the photodetector to the optical waveguide. Also in this respect, cost reduction can be achieved.
その上本発明のピックアップにおいては、トラッキング
制御およびフォーカス制御を実行するに当たり、一体化
された第1,第2の光導波路を移動させているから、これ
らの制御が行なわれても光ビーム出射用の第1の集光性
回折格子と、反射ビーム受光用の第2および第3の集光
性回折格子の相対位置関係が変動することがない。した
がって、これらの制御のために前述の対物レンズを移動
させる従来装置におけるように、対物レンズの傾きによ
って反射ビーム検出光量が変動して記録情報読取信号に
雑音が生じたり、あるいは対物レンズのオフセットによ
ってトラッキングエラーが生じることがない。そしてこ
のように光源側と反射ビーム受光側とを一体的に移動さ
せても、それらは上記の通りともに軽量の光導波路素子
から構成されているから、制御応答性は良好に保たれ
る。Moreover, in the pickup of the present invention, the integrated first and second optical waveguides are moved when executing the tracking control and the focus control, so that even if these controls are performed, the light beam is emitted. The relative positional relationship between the first converging diffraction grating and the second and third converging diffraction gratings for receiving the reflected beam does not change. Therefore, as in the conventional device that moves the objective lens for these controls, the amount of reflected beam detection light varies due to the inclination of the objective lens, which causes noise in the recorded information read signal, or the offset of the objective lens. No tracking error will occur. Even if the light source side and the reflected beam receiving side are integrally moved in this way, since they are both composed of lightweight optical waveguide elements as described above, good control responsiveness is maintained.
第1図は本発明の第1実施例装置を示す側面図、 第2図は上記第1実施例装置の光導波路の平面形状と電
気回路を示す概略図、 第3図は上記第1実施例装置の光検出器を詳しく示す側
面図、 第4図は本発明の第2実施例装置を示す側面図、 第5および6図はそれぞれ、上記第2実施例装置の第1
の光導波路と第2の光導波路を示す平面図、 第7および8図はそれぞれ、本発明の第3実施例装置を
示す側面図と平面図、 第9図は本発明に係る反射ビーム直線偏光面角度と、集
光性回折格子により光導波路内に取り込まれる光量との
関係を示すグラフ、 第10,11,12および13図はそれぞれ、本発明装置に用いら
れる光検出器の他の例を示す側面図である。 13…光磁気ディスク、14…ディスクの反射面 15…光ビーム、15′…反射ビーム 16…半導体レーザ、17…第1のFGC 19…トラッキングコイル、20…フォーカスコイル 22…光導波路、22a…光導波路の表面 22b,22c…光導波路の端面 23,50,53…基板、24…第1の光検出器 25…第2の光検出器、28,50…バッファ層 31…第2のFGC、32…第3のFGC 34,35,36,37,38…加算アンプ 39,40,41…差動アンプ、42…読取回路 43…フォーカスコイル駆動制御回路 44…トラッキングコイル駆動制御回路 51…第1の光導波路 51a…第1の光導波路の表面 52…第2の光導波路 52a…第2の光導波路の表面 PD1〜4…フォトダイオードFIG. 1 is a side view showing the first embodiment device of the present invention, FIG. 2 is a schematic view showing the planar shape of an optical waveguide and an electric circuit of the first embodiment device, and FIG. 3 is the first embodiment. FIG. 4 is a side view showing the photodetector of the apparatus in detail, FIG. 4 is a side view showing the apparatus of the second embodiment of the present invention, and FIGS. 5 and 6 are the first of the apparatus of the second embodiment.
And FIG. 7 are a side view and a plan view showing a third embodiment of the present invention, and FIG. 9 is a reflected beam linear polarization according to the present invention. Graph showing the relationship between the surface angle and the amount of light taken into the optical waveguide by the converging diffraction grating, FIGS. 10, 11, 12 and 13 are respectively other examples of the photodetector used in the device of the present invention. It is a side view shown. 13 ... Magneto-optical disc, 14 ... Reflecting surface of disc 15 ... Light beam, 15 '... Reflected beam 16 ... Semiconductor laser, 17 ... First FGC 19 ... Tracking coil, 20 ... Focus coil 22 ... Optical waveguide, 22a ... Optical Surface of waveguide 22b, 22c ... End face of optical waveguide 23, 50, 53 ... Substrate, 24 ... First photodetector 25 ... Second photodetector, 28, 50 ... Buffer layer 31 ... Second FGC, 32 … Third FGC 34,35,36,37,38… Adding amplifier 39,40,41… Differential amplifier, 42… Reading circuit 43… Focus coil drive control circuit 44… Tracking coil drive control circuit 51… First Optical waveguide 51a ... First optical waveguide surface 52 ... Second optical waveguide 52a ... Second optical waveguide surface PD1 to 4 ... Photodiode
Claims (9)
ームを該光導波路内に入射させる光源と、 この第1の光導波路の表面に形成され、該光導波路内を
導波する前記光ビームを光導波路外に出射させ、光磁気
記録媒体の反射面上で集束させる第1の集光性回折格子
と、 前記第1の光導波路と一体化され、前記光磁気記録媒体
で反射した反射ビームを一表面で受ける向きに配置され
た第2の光導波路と、 この第2の光導波路の表面の反射ビーム照射位置におい
て、該ビームの略中心を通りかつこの表面上をトラッキ
ング方向に略直角に延びる軸をはさんで並設され、それ
ぞれがTEあるいはTM導波モードを励振して前記反射ビー
ムを該光導波路内に入射させるとともに、この第2の光
導波路内を導波する反射ビームを前記軸をはさんで互い
に離れた位置に各々集束させる第2および第3の集光性
回折格子と、 前記第2の光導波路の表面あるいは端面に取り付けら
れ、前記第2および第3の集光性回折格子により集束さ
れた各反射ビームを検出する第1および第2の光検出器
と、 これら第1および第2の光検出器の出力に基づいてトラ
ッキングエラーとフォーカスエラー検出を行なうエラー
検出回路と、 前記第1および/または第2の光検出器の出力に基づい
て、前記記録媒体に記録された情報を検出する光磁気信
号検出回路とからなる光磁気記録媒体用ピックアップ。1. A first optical waveguide, a light source which is attached to the first optical waveguide and causes a linearly polarized light beam to enter the optical waveguide, and which is formed on the surface of the first optical waveguide. A first converging diffraction grating for emitting the light beam guided in the optical waveguide to the outside of the optical waveguide and converging the light beam on the reflecting surface of the magneto-optical recording medium; A second optical waveguide arranged so as to receive the reflected beam reflected by the magneto-optical recording medium on one surface thereof, and at a reflected beam irradiation position on the surface of the second optical waveguide, the second optical waveguide passes through substantially the center of the beam. Moreover, they are juxtaposed on the surface with an axis extending substantially at right angles to the tracking direction, each of which excites a TE or TM waveguide mode to cause the reflected beam to enter the optical waveguide, and the second Reflection guided in the optical waveguide Second and third condensing diffractive gratings for focusing a beam respectively at positions separated from each other with respect to the axis, and attached to a surface or an end surface of the second optical waveguide, and the second and third First and second photodetectors for detecting the respective reflected beams focused by the condensing diffraction grating, and tracking error and focus error detection based on the outputs of the first and second photodetectors. A magneto-optical recording medium pickup comprising: an error detection circuit; and a magneto-optical signal detection circuit that detects information recorded on the recording medium based on the output of the first and / or second photo-detector.
ものとされ、 この光導波路が、前記第1の集光性回折格子から出射し
た光ビームが前記反射面において正反射しない向きに配
置され、 前記第1の集光性回折格子と、第2および第3の集光性
回折格子とが、互いに重ならない位置に設けられている
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光磁気記
録媒体用ピックアップ。2. The first and second optical waveguides are common to each other, and the optical waveguides are oriented so that the light beam emitted from the first converging diffraction grating is not specularly reflected on the reflecting surface. The first condensing diffraction grating and the second and third condensing diffraction gratings are provided at positions that do not overlap each other. A pickup for the magneto-optical recording medium described.
れ、互いに重ね合わせて一体化され、 これらの光導波路が、前記第1の集光性回折格子から出
射した光ビームが前記反射面において正反射する向きに
配置され、 前記第1の集光性回折格子と、第2および第3の集光性
回折格子とが、互いに重なり合う位置に設けられている
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光磁気記
録媒体用ピックアップ。3. The first and second optical waveguides are formed separately, and are superposed on each other and integrated, and the optical waveguides emit light beams emitted from the first converging diffraction grating. The first condensing diffraction grating and the second and third condensing diffraction gratings are arranged so as to be specularly reflected on a reflecting surface, and the first converging diffraction grating and the second converging diffraction grating are provided at positions overlapping with each other. The pickup for a magneto-optical recording medium according to claim 1.
ッファ層を介して共通の基板上に形成されていることを
特徴とする特許請求の範囲第3項記載の光磁気記録媒体
用ピックアップ。4. The magneto-optical recording medium according to claim 3, wherein the first and second optical waveguides are formed on a common substrate with a transparent buffer layer interposed therebetween. For pickup.
基板上に形成され、両光導波路の間に位置する基板が透
明基板とされていることを特徴とする特許請求の範囲第
3項記載の光磁気記録媒体用ピックアップ。5. The first and second optical waveguides are formed on separate substrates, respectively, and the substrate located between the optical waveguides is a transparent substrate. 3. A pickup for a magneto-optical recording medium according to item 3.
接固定されて、該端面からこの第1の光導波路内に光ビ
ームを入射させるように形成されていることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項から第5項いずれか1項記載の
光磁気記録媒体用ピックアップ。6. The light source is directly fixed to an end face of the first optical waveguide, and is formed so that a light beam is incident from the end face into the first optical waveguide. The pickup for a magneto-optical recording medium according to any one of claims 1 to 5.
波モードを励振するように形成され、 前記光磁気信号検出回路が、前記第1,第2の光検出器の
出力の和に基づいて前記情報を検出するように構成され
ていることを特徴とする特許請求の範囲第1項から第6
項いずれか1項記載の光磁気記録媒体用ピックアップ。7. The second and third converging diffraction gratings are formed so as to excite a common waveguide mode, and the magneto-optical signal detection circuit includes a first photodetector and a second photodetector. Claims 1 to 6 characterized in that the information is detected based on the sum of outputs.
Item 7. A pickup for a magneto-optical recording medium according to any one of items.
と、反射ビームの偏光方向が略0°〜45°傾くように、
前記第2の光導波路が配置されていることを特徴とする
特許請求の範囲第1項から第7項いずれか1項記載の光
磁気記録媒体用ピックアップ。8. A plane including the axis and the central axis of the reflected beam, and a polarization direction of the reflected beam are inclined by approximately 0 ° to 45 °,
8. The pickup for a magneto-optical recording medium according to claim 1, wherein the second optical waveguide is arranged.
ッキングエラー検出、フォーカスエラー検出をそれぞれ
プッシュプル法,フーコー法で行なえるように、前記軸
と略平行に延びるギャップで分割された2分割光検出器
からなることを特徴とする特許請求の範囲第1項から第
8項いずれか1項記載の光磁気記録媒体用ピックアッ
プ。9. The first and second photodetectors are divided by a gap extending substantially parallel to the axis so that tracking error detection and focus error detection can be performed by a push-pull method and a Foucault method, respectively. A magneto-optical recording medium pickup according to any one of claims 1 to 8, characterized in that it comprises a two-divided photodetector.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62096720A JPH0675311B2 (en) | 1987-04-20 | 1987-04-20 | Pickup for magneto-optical recording medium |
| US07/704,691 US5153860A (en) | 1987-04-20 | 1991-05-17 | Optical pickup apparatus for detecting and correcting focusing and tracking errors in detected recorded signals |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62096720A JPH0675311B2 (en) | 1987-04-20 | 1987-04-20 | Pickup for magneto-optical recording medium |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63261559A JPS63261559A (en) | 1988-10-28 |
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Family
ID=14172574
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62096720A Expired - Lifetime JPH0675311B2 (en) | 1987-04-20 | 1987-04-20 | Pickup for magneto-optical recording medium |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| JP (1) | JPH0675311B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5644524B2 (en) * | 2011-01-14 | 2014-12-24 | 富士通株式会社 | Semiconductor laser |
-
1987
- 1987-04-20 JP JP62096720A patent/JPH0675311B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63261559A (en) | 1988-10-28 |
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