JPH06504876A - ノッチフィルタを用いる化学的イオン化質量分析法 - Google Patents
ノッチフィルタを用いる化学的イオン化質量分析法Info
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Abstract
Description
Claims (20)
- 1.(a)選択された範囲内の質量対電荷比を有する試薬イオン及び結果イオン を貯蔵できる捕捉フィールドを、1組の電極で境界が定められる捕捉区域内で確 定し、 (b)濾波された雑音信号を該電極の少なくとも1つに印加して第2の選択され た範囲内の質量対電荷比を有する不要イオンを該捕捉区域で共振させる段階を含 む、質量分析法。
- 2.前記選択された範囲がイオン共振周波数の捕捉範囲に相当し、前記濾波され た雑音信号が、第1の周波数からノッチ周波数帯域までの低い周波数範囲内、及 び該ノッチ周波数帯域から第2の周波数までの高い周波数範囲内の周波数成分を 有し、該第1周波数及び該第2周波数によって広がる周波数範囲に該捕捉範囲が 含まれる、請求項1記載の質量分析法。
- 3.前記第1周波数が実質的に10kHzに等しく、前記第2周波数が実質的に 500kHzに等しく、前記ノッチ周波数帯域が実質的に1kHzに等しい帯域 幅を有する、請求項2記載の質量分析法。
- 4.前記濾波された雑音信号の周波数成分が、10V程度の振幅を有する、請求 項3記載の質量分析法。
- 5.前記捕捉フィールドが3次元四極子電極捕捉フィールドである請求項2記載 の質量分析法であって、前記段階(a)に、 高周波成分と、望ましい低い周波数遮断特性及び望ましい高い周波数遮断特性の 両方を該捕捉フィールドに関して確定すべく選ばれる振幅を有する直流成分とを 具える基本電圧信号を前記電極の少なくとも1つに印加し、前記第1周波数が該 低い周波数遮断特性よりも有意に低くなく、前記第2周波数が該高い周波数遮断 特性よりも有意に高くない 段階を含む、方法。
- 6.前記捕捉フィールドが3次元四極子電極捕捉フィールドであり、前記電極に 環状電極と1組の電極とを含み、前記段階(a)に基本電圧信号を該環状電極に 印加して該捕捉フィールドを確定する段階を含む、請求項1記載の質量分析法で あって、前記段階(b)に、前記濾波された雑音信号を該環状電極に印加して前 記不要イオンを前記捕捉区域で該環状電極に向かって半径方向に共振させる 段階を含む、方法。
- 7.前記段階(b)の後に試薬イオンが前記捕捉区域内に捕捉される、請求項6 記載の質量分析法であって、また、 (c)サンプルの分子を該捕捉区域に導入し、(d)段階(b)及び(c)の後 に、該サンプル分子及び該試薬イオンを反応させて、選択された範囲内の質量対 電荷比を有する結果のイオンを生成させ、(e)段階(d)の後に、該結果イオ ンを、前記環状電極から離れて配置される検出器を用いて検出する段階をも含む 、方法。
- 8.前記検出器が、前記端電極の1つで構成されるか、或いは、該端電極の1つ と共に統合的に取り付けられる、請求項7記載の質量分析法。
- 9.前記環状電極が中心の長手方向z軸を具え、前記端電極及び前記検出器が該 z軸に沿って配置される、請求項7記載の質量分析法。
- 10.請求項6記載の質量分析法であって、前記選択された範囲がイオン周波数 の捕捉範囲に相当し、前記濾波された雑音信号が、第1の周波数からノッチ周波 数帯域までの低い周波数範囲内と、該ノッチ周波数帯域から第2の周波数までの 高い周波数範囲内の周波数成分を有し、該第1周波数及び該第2周波数によって 広がる周波数範囲が該捕捉範囲を含み、前記基本電圧信号が、高周波成分と、望 ましい低い周波数遮断特性及び望ましい高い周波数遮断特性の両方を捕捉フィー ルドに関して確定すべく選ばれる振幅を有する直流成分とを具え、該第1周波数 が該低い周波数遮断特性よりも有意に低くなく、該第2周波数が該高い周波数遮 断特性よりも有意に高くない、方法。
- 11.(a)選択された範囲内の共振周波数を有するイオンを貯蔵できる3次元 四極子捕捉フィールドを、環状電極と1組の電極で境界が定められる捕捉区域内 で確定し、 (b)ノッチ周波数帯域内の共振周波数を有する試薬イオンを該捕捉区域に導入 し、濾波された雑音信号を該電極の少なくとも1つに印加して、第1の周波数か ら該選択された範囲内にあるノッチ周波数帯域までの低い周波数範囲内、及び該 ノッチ周波数帯域から第2の周波数までの高い周波数範囲内の共振周波数を有す る不要イオンを捕捉区域で共振させ、 (c)サンプルの分子を該捕捉区域に導入し、(d)該サンプル分子を該試薬イ オンと反応させて、選択された範囲内の少なくとも1つの共振周波数を有する結 果のイオンを生成させ、 (e)段階(d)の後に、該結果イオンを検出する段階を含む、質量分析法。
- 12.前記環状電極が中心の長手方向z軸を具え、前記端電極及び前記検出器が 該z軸に沿って配置される、請求項11記載の質量分析法であって、前記段階( e)に、前記結果イオンを実質的に該z軸に平行な方向に前記捕捉区域から放出 し、 該放出された結果イオンを、該z軸に沿って配置される検出器を用いて検出する 段階を含む、方法。
- 13.前記環状電極が中心の長手方向z軸を具え、前記端電極及び前記検出器が 該z軸に沿って配置される、請求項11記載の質量分析法であって、前記段階( e)に、前記結果イオンを実質的に該z軸に平行な方向に共振させ、 該放出された結果イオンを、該端電極の少なくとも1つで構成されるか、或いは 、該端電極の少なくとも1つと共に統合的に取り付けられる検出器を用いて検出 する 段階を含む、方法。
- 14.前記環状電極が中心の長手方向z軸を具え、前記端電極及び前記検出器が 該z軸に沿って配置される、請求項11記載の質量分析法であって、前記段階( e)に,前記結果イオンを実質的に該z軸に平行な方向に共振させ、 該放出された結果イオンを、該z軸に沿って配置される検出器を用いて検出する 段階を含む、方法。
- 15.前記第1周波数が実質的に10kHzに等しく、前記第2周波数が実質的 に500kHzに等しく、前記ノッチ周波数帯域が実質的に1kHzに等しい帯 域幅を有する、請求項11記載の質量分析法。
- 16.前記濾波された雑音信号の周波数成分が、10V程度の振幅を有する、請 求項15記載の質量分析法。
- 17.請求項11記載の質量分析法であって、前記段階(a)に、 基本電圧信号信号を前記電極の少なくとも1つに印加し、基本電圧信号信号が、 高周波成分と、望ましい低い周波数遮断特性及び望ましい高い周波数遮断特性の 両方を前記捕捉フィールドに関して確定すべく選ばれる振幅を有する直流成分と を具え、前記第1周波数が該低い周波数遮断特性よりも有意に低くなく、前記第 2周波数が該高い周波数遮断特性よりも有意に高くない 段階を含む、方法。
- 18.前記段階(a)に基本電圧信号を前記環状電極に印加して前記捕捉フィー ルド確定する段階を含む、請求項11記載の質量分析法であって、前記段階(b )に、前記濾波された雑音信号を該環状電極に印加して前記不要イオンを該捕捉 区域で該環状電極に向かって半径方向に共振させる 段階を含む方法。
- 19.(a)選択された範囲内の共振周波数を有するイオンを貯蔵できる3次元 四極子捕捉フィールドを、環状電極と1組の電極で境界が定められる捕捉区域内 で確定し、 (b)ノッチ周波数帯域内の共振周波数を有する試薬イオンを該捕捉区域に導入 し、濾波された雑音信号を該電極の少なくとも1つに印加して、第1の周波数か ら該選択された範囲内にあるノッチ周波数帯域までの低い周波数範囲内、及び該 ノッチ周波数帯域から第2の周波数までの高い周波数範囲内の共振周波数を有す る不要イオンを該捕捉区域で共振させ、(c)サンプルの分子を該捕捉区域に導 入し、(d)該サンプル分子を該試薬イオンと反応させて、選択された範囲内の 少なくとも1つの共振周波数を有する結果のイオンを生成させ、 (e)該結果イオン以外のイオンを該トラップから放出させ、 (f)段階(e)の後に、該結果イオンの共振周波数に整合する周波数を有する 基本電圧信号信号を前記電極の少なくとも1つに印加して該結果イオンを解離さ せて娘イオンを誘導させ、 (g)段階(f)の後に、該娘イオンを検出する段階を含む、質量分析法。
- 20.請求項19記載の質量分析法であって、また、段階(d)よりも遅くない 段階で、前記捕捉フィールドを変更して前記娘イオンを貯蔵できるようにする段 階をも含む、方法。
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| US5381006A (en) * | 1992-05-29 | 1995-01-10 | Varian Associates, Inc. | Methods of using ion trap mass spectrometers |
| DE4324233C1 (de) * | 1993-07-20 | 1995-01-19 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Verfahren zur Auswahl der Reaktionspfade in Ionenfallen |
| US5396064A (en) * | 1994-01-11 | 1995-03-07 | Varian Associates, Inc. | Quadrupole trap ion isolation method |
| JP3756365B2 (ja) * | 1999-12-02 | 2006-03-15 | 株式会社日立製作所 | イオントラップ質量分析方法 |
| JP3791455B2 (ja) * | 2002-05-20 | 2006-06-28 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ型質量分析装置 |
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| US7141784B2 (en) * | 2004-05-24 | 2006-11-28 | University Of Massachusetts | Multiplexed tandem mass spectrometry |
| US7656236B2 (en) * | 2007-05-15 | 2010-02-02 | Teledyne Wireless, Llc | Noise canceling technique for frequency synthesizer |
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