JPH0640058B2 - Particle size distribution measuring device - Google Patents
Particle size distribution measuring deviceInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明はレーザ回折/散乱式の粒度分布測定装置に関す
る。The present invention relates to a laser diffraction / scattering type particle size distribution measuring device.
<従来の技術> レーザ回折/散乱法を用いた粒度分布測定装置では、測
定対象となる粒子群にレーザ光を照射することによって
生じる回折/散乱光の強度分布から、被測定粒子群の粒
度分布を演算によって求める。<Prior Art> In a particle size distribution measuring apparatus using a laser diffraction / scattering method, a particle size distribution of a particle group to be measured is calculated from an intensity distribution of diffracted / scattered light generated by irradiating a particle group to be measured with laser light. Is calculated.
すなわち、粒子群にレーザ光を照射すると、その粒子群
に含まれる粒子の大きさに応じた回折/散乱光の強度分
布パターンが生じる。That is, when the particle group is irradiated with laser light, an intensity distribution pattern of diffracted / scattered light corresponding to the size of the particles included in the particle group is generated.
この光強度分布パターンは、レンズによって集光され、
焦点距離の位置に回折/散乱像を結ぶが、この像を、互
いに異なる半径の受光面を持つ複数の光検出素子が同心
円上に配列されたリングデテクタを焦点位置に置くこと
によって検出する。また、側方散乱光については、リン
グデテクタとは別に置かれた側方散乱光センサによって
検出する。This light intensity distribution pattern is condensed by the lens,
A diffraction / scattering image is formed at the position of the focal length, and this image is detected by placing a ring detector in which a plurality of photo-detecting elements having light receiving surfaces having different radii are concentrically arranged at the focal position. The side scattered light is detected by a side scattered light sensor placed separately from the ring detector.
この光強度パターンは、粒子の大きさに応じて変化する
が、実際のサンプルには、大きさの異なる種々の径を持
つ粒子が混在しているため、粒子群から生ずる光強度パ
ターンは、それぞれの粒子からの回折/散乱光の重ね合
わせである。This light intensity pattern changes depending on the size of the particles, but since the actual sample contains particles with various sizes and different diameters, the light intensity patterns generated from the particle groups are different from each other. Is a superposition of the diffracted / scattered light from the particles.
これをマトリクス(行列)で表現すると、 となる。If this is expressed in a matrix, Becomes
ただし、 はそれぞれ、以下に示す通りである。However, Are as shown below.
ここに は光強度分布スペクトルである。その要素ri(i=1,
2,……m)は、リングデテクタの各素子および側方散乱
光センサによって検出される入射光量である。 here Is a light intensity distribution spectrum. The element r i (i = 1,
2, ... M) is the amount of incident light detected by each element of the ring detector and the side scattered light sensor.
は粒度分布(頻度分布%)ベクトルである。粒度分布範
囲を有限とし、この範囲内をn分割して、最大値をd1,
最小値をdn+1とする。それぞれの分割区間[dj,
dj+1]を一つの粒子径Dj(j=1,2,……n)で代表
させる。fの要素f(j=1,2,……n)は、粒子径Dj
に対応する粒子量である。 Is a particle size distribution (frequency distribution%) vector. The particle size distribution range is finite, the range is divided into n, and the maximum value is d 1,
The minimum value is d n + 1 . Each divided section [d j ,
[d j + 1 ] is represented by one particle diameter D j (j = 1, 2, ... N). The element f of f (j = 1,2, ... n) is the particle diameter D j
Is the amount of particles corresponding to.
通常は、 Σfj=100(%) ……(4) となるように正規化(ノルマライズ)を行っている。Normally, normalization is performed so that Σf j = 100 (%) (4).
は、粒度分布(ベクトル) を、光強度分布(ベクトル) に変換する係数行列である。 Is the particle size distribution (vector) The light intensity distribution (vector) Is a coefficient matrix to be converted into.
の要素ai,j(i=1,2,……m,j=1,2,……n)の物
理的意味は、粒子径Djの単位粒子量の粒子群によって
回折/散乱した光のi番目の素子に対する入射光量であ
る。 The physical meaning of the elements a i, j (i = 1,2, ... m, j = 1,2, ... n) of is the light diffracted / scattered by the particle group of the unit particle amount of the particle diameter D j. Is the amount of incident light on the i-th element of.
ai,jの数値は理論的に計算することができる。The numerical value of a i, j can be theoretically calculated.
これには、粒子径が光源となるレーザ光の波長に比べて
充分に大きい場合には、フラウンホーファ回折理論を用
いる。しかし、粒子径がレーザ光の波長と同程度か、あ
るいはそれより小さいサブミクロン領域の場合には、ミ
ー散乱理論を用いる必要がある。フラウンホーファ回折
理論は、前方微小角散乱において、粒子径が波長に比べ
て充分大きな場合に有効なミー散乱理論の優れた近似で
あると考えるとこができる。For this, the Fraunhofer diffraction theory is used when the particle diameter is sufficiently larger than the wavelength of the laser light serving as the light source. However, when the particle size is in the submicron region which is about the same as or smaller than the wavelength of the laser light, it is necessary to use the Mie scattering theory. It can be considered that the Fraunhofer diffraction theory is an excellent approximation of the Mie scattering theory, which is effective when the particle size is sufficiently larger than the wavelength in the forward small angle scattering.
なお、ミー散乱理論を用いて係数行列の の要素を計算するためには、前記したように粒子および
それを分散させる媒液の屈折率を設定する必要がある。In addition, using Mie scattering theory, In order to calculate the factor of, it is necessary to set the refractive index of the particles and the liquid medium in which they are dispersed, as described above.
さて、(1)式に基づいて粒度分布 の最小自乗解を求める式を導出すると、 が得られる。ただし、 の転置行列であり、()-1が逆行列を現す。Now, based on equation (1), the particle size distribution Derivation of the formula for the least squares solution of Is obtained. However, Is the transposed matrix of, and () -1 represents the inverse matrix.
(5)式の右辺において、光強度分布 の各要素はリングデテクタおよび側方散乱光センサで検
出される数値で、また、係数行列 は、フラウンホーファ回折理論あるいはミー散乱理論を
用いてあらかじめ計算しておくことができるから、それ
らの既知のデータを用いて(5)式の計算を実行すれば粒
度分布 が求まることは明らかである。Light intensity distribution on the right side of equation (5) Each element of is the numerical value detected by the ring detector and the side scattered light sensor, and the coefficient matrix Can be calculated in advance using Fraunhofer diffraction theory or Mie scattering theory, so if the calculation of Eq. (5) is executed using these known data, the particle size distribution can be calculated. It is clear that
以上がレーザ回折/散乱法の基本的な測定原理である
が、ここで示したのは粒度分布の計算方法の一例であ
り、この他にも様々なバリエーションが存在する。ま
た、センサ、デテクタの種類および配置等にも様々なバ
リエーションがある。The above is the basic measurement principle of the laser diffraction / scattering method, but the one shown here is an example of the calculation method of the particle size distribution, and there are various other variations. Also, there are various variations in the types and arrangements of the sensors and detectors.
<発明が解決しようとする課題> ところで、以上のような従来の粒度分布測定装置におい
て、広い測定範囲(例えば1レンジで0.1〜200μ
m)で粒度分布測定を行う場合、サンプル粒子の実際の
分布範囲がこの測定範囲小さい側、例えば第3図(a)に
示すように0.5〜2μm程度に偏っていると、この測
定範囲の大きい方、例えば同図(b)に示すように、150〜
200μmの粒子径のところに、存在するはずのないゴー
ストピークGが現れることがある。<Problems to be Solved by the Invention> By the way, in the conventional particle size distribution measuring apparatus as described above, a wide measuring range (for example, 0.1 to 200 μ in one range) is used.
m), when the particle size distribution measurement is performed, if the actual distribution range of the sample particles is on the smaller side of this measurement range, for example, about 0.5 to 2 μm as shown in FIG. The larger one, for example, 150 ~
A ghost peak G, which should not exist, may appear at a particle size of 200 μm.
これは、光強度分布の検出誤差や、粒度分布計算に伴う
計算誤差が原因であるが、測定結果からはあたかも実際
にそのような粒子が存在しているかのように見える。This is due to the detection error of the light intensity distribution and the calculation error associated with the particle size distribution calculation, but the measurement results show that such particles actually exist.
本発明の目的は、このようなゴーストピークを無くすべ
く、例えば適当な分布関数を当てはめる等の消極的な対
策ではなく、光強度分布を利用して、測定原理に基づい
てゴーストピークを解消し、しかもこのゴーストピーク
の存在に起因する無駄な演算を行うことなく、正確で効
率的な粒度分布演算を行うことのできる粒度分布測定装
置を提供することにある。The purpose of the present invention is to eliminate such ghost peaks, for example, not a passive measure such as applying an appropriate distribution function, but using light intensity distribution to eliminate ghost peaks based on the measurement principle, Moreover, it is an object of the present invention to provide a particle size distribution measuring device capable of performing accurate and efficient particle size distribution calculation without performing unnecessary calculation due to the presence of this ghost peak.
<課題を解決するための手段> 上記の目的を達成するための構成を、第1図に示す基本
概念図を参照しつつ説明すると、本発明は、分散状態の
粒子群Sにレーザ光Lを照射することによって生じる回
折/散乱光Dの強度分布を検出する検出光学系aと、そ
の強度分布検出結果から所定のアルゴリズムに基づいて
粒子群の粒度分布を算出する演算手段bを有する装置に
おいて、検出された回折/散乱光の強度分布から当該粒
子群に存在する最大粒子の大きさを求める最大粒子径推
定手段cを備え、演算手段bは、上記したアルゴリズム
から最大粒子径推定手段cにより推定された最大粒子径
を越える粒子径の範囲に関する部分を除外して演算を行
うように構成したことによって特徴付けられる。<Means for Solving the Problems> A configuration for achieving the above object will be described with reference to the basic conceptual diagram shown in FIG. 1. According to the present invention, a laser beam L is applied to a particle group S in a dispersed state. In a device having a detection optical system a for detecting the intensity distribution of the diffracted / scattered light D generated by irradiation, and a calculation means b for calculating the particle size distribution of the particle group based on a predetermined algorithm from the intensity distribution detection result, The maximum particle size estimating means c for obtaining the size of the maximum particle existing in the particle group from the intensity distribution of the detected diffraction / scattered light is provided, and the calculating means b is estimated by the maximum particle size estimating means c from the above-mentioned algorithm. It is characterized in that the calculation is performed by excluding the part relating to the range of the particle size exceeding the maximum particle size.
<作用> 10μm以上の比較的大きい粒子の場合、特定の粒子径の
光強度分布パターンのピーク値が、リングデテクタのど
の素子に対応するかをフラウンフォーファー回折理論を
用いて求めることができる。<Operation> In the case of a relatively large particle having a size of 10 μm or more, it is possible to determine which element of the ring detector the peak value of the light intensity distribution pattern of a specific particle diameter corresponds to by using Fraunhofer diffraction theory. .
本発明の最大粒子径推定手段cは、回折/散乱光強度分
布パターンの検出結果、つまりリングデテクタの各素子
に入射した光強度から、上述の大粒子の存在の有無を推
定し、その結果に基づいて光強度分布から粒度分布への
換算時に、不存在粒子径に相当する部分の不要な演算を
行わず、従って演算結果にゴーストピークが現れず、し
かも演算効率も向上する。The maximum particle size estimating means c of the present invention estimates the presence or absence of the above-mentioned large particles from the detection result of the diffraction / scattered light intensity distribution pattern, that is, the light intensity incident on each element of the ring detector, and Based on this, when converting the light intensity distribution to the particle size distribution, unnecessary calculation of the portion corresponding to the non-existing particle diameter is not performed, so that no ghost peak appears in the calculation result, and the calculation efficiency is improved.
<実施例> 第2図は本発明実施例の全体構成図である。<Embodiment> FIG. 2 is an overall configuration diagram of an embodiment of the present invention.
フローセル1には紙面に直交する方向に入口と出口が形
成されており、その内部にサンプル粒子群を媒液中に均
一に拡散させた試料懸濁液が流される。An inlet and an outlet are formed in the flow cell 1 in a direction orthogonal to the paper surface, and a sample suspension in which a sample particle group is uniformly dispersed in a liquid medium is allowed to flow inside the inlet and the outlet.
フローセル1の一方側には、レーザ光源2とその出力光
を所定の断面積を持つ平行光束にするコリメータ3が配
設されており、コリメータ3を経た平行レーザ光がフロ
ーセル1内の試料懸濁液に照射される。On one side of the flow cell 1, a laser light source 2 and a collimator 3 for converting its output light into a parallel light flux having a predetermined cross-sectional area are arranged, and the parallel laser light passing through the collimator 3 suspends the sample in the flow cell 1. The liquid is irradiated.
フローセル1を挟んでレーザ光源2と反対側には、集光
レンズ4とその焦点面上に置かれたリングデテクタ5が
配設されており、フローセル1内の試料粒子による回折
/散乱光はリングデテクタ5の受光面上に回折/散乱像
を結ぶ。リングデテクタ5は、互いに異なる半径を持つ
複数のリング状光センサが同心に並べられたもので、そ
れぞれのセンサにより各回折/散乱角の光強度が測定さ
れる。また、大きな散乱角を持つ散乱光の強度は、セル
1の側方に置かれた側方散乱光センサ6によって測定さ
れる。A condensing lens 4 and a ring detector 5 placed on the focal plane of the condensing lens 4 are disposed on the side opposite to the laser light source 2 with the flow cell 1 interposed therebetween, and the diffraction / scattered light by the sample particles in the flow cell 1 is ring-shaped. A diffraction / scattering image is formed on the light receiving surface of the detector 5. The ring detector 5 is a concentric array of a plurality of ring-shaped optical sensors having different radii, and the light intensity of each diffraction / scattering angle is measured by each sensor. The intensity of scattered light having a large scattering angle is measured by the side scattered light sensor 6 placed on the side of the cell 1.
リングデテクタ5の出力と側方散乱光センサ6の出力
は、それぞれ増幅器およびA−D変換器等(いずれも図
示せず)を介してコンピュータ7に採り込まれる。The output of the ring detector 5 and the output of the side scattered light sensor 6 are taken into the computer 7 via an amplifier, an AD converter, etc. (neither is shown).
コンピュータ7では、前記した(5)式に基づいて、リン
グデテクタ5および側方散乱光センサ6による介折/散
乱光強度分布データから粒度分布を算出するわけである
が、この実施例では、この演算を行う前に、以下に示す
ように、回折/散乱光強度分布データからサンプル粒子
群に存在する最大粒子径を推定する。ここで問題となる
のは、前記したように10μm以上の粒径範囲であり、リ
ングデテクタ5の各センサの出力からこの推定を行う。In the computer 7, the particle size distribution is calculated from the interleaved / scattered light intensity distribution data by the ring detector 5 and the side scattered light sensor 6 based on the above equation (5). Before performing the calculation, the maximum particle diameter existing in the sample particle group is estimated from the diffraction / scattered light intensity distribution data as shown below. The problem here is the particle size range of 10 μm or more as described above, and this estimation is performed from the output of each sensor of the ring detector 5.
フラウンホーファ回折理論において、10μm以上の径を
持つ粒子が存在するか否かは次の(6)式を用いて確認す
ることができる。In the Fraunhofer diffraction theory, whether or not particles having a diameter of 10 μm or more can be confirmed using the following equation (6).
πDs/λf=1.375 ……(6) ここで、Dは粒子径、sはピーク値が現れるデテクタ半
径、λは照射レーザ光の波長、fは集光レンズ4の焦点
距離である。πDs / λf = 1.375 (6) Here, D is the particle diameter, s is the detector radius at which the peak value appears, λ is the wavelength of the irradiation laser light, and f is the focal length of the condenser lens 4.
すなわち、まず、リングデテクタ5の各センサ出力デー
タが、一定の閾値(0もしくは検出誤差範囲)を越えて
いるか否かを判別する。そして、この閾値以下の出力の
センサで、かつ、最外方(最大半径)のセンサ半径をs
とし、(6)式を用いてそれに相当する粒子径Dを求め
る。これにより、粒子径D以上の大きい粒子は存在しな
いとみなすことができる。That is, first, it is determined whether or not each sensor output data of the ring detector 5 exceeds a certain threshold value (0 or a detection error range). Then, the sensor radius of the output below this threshold and the outermost (maximum radius) sensor radius is s
Then, the particle diameter D corresponding to it is determined using the equation (6). Accordingly, it can be considered that there are no large particles having a particle diameter D or more.
つまり、大きい方からw番目の粒子(粒子径DW)の光
強度分布パターンのピーク値がリングデテクタ5の内側
からv番目のセンサに対応するデテクタ半径の位置に現
れることを理論的に計算することができる。そして、内
側からv番目までのセンサに入射した光強度が0もしく
は検出誤差範囲内にあるときは、大きい方からw番目ま
での粒子径範囲(Dl〜Dw)の粒子は存在しないと推
定できる。That is, it is theoretically calculated that the peak value of the light intensity distribution pattern of the w-th largest particle (particle diameter D W ) appears at the position of the detector radius corresponding to the v-th sensor from the inside of the ring detector 5. be able to. Then, when the light intensity incident on the vth sensor from the inside is 0 or within the detection error range, it is estimated that there are no particles in the particle size range (D 1 to D w ) from the largest to the wth. it can.
この推定結果を考慮すると、(1)式は、 となる。Considering this estimation result, equation (1) becomes Becomes
ただし、 はそれぞれ以下に示す通りである。However, Are as shown below.
である。従って、回折/散乱光強度分布を粒度分布に変
換するための式は、通常の(5)式から、 とすることができる。 Is. Therefore, the formula for converting the diffraction / scattered light intensity distribution into the particle size distribution is Can be
この(10)式を用いることにより、ゴーストピークを取り
去ることができると同時に、(5)式に比べてマトリクス
およびベクトルの次元が小さいので、計算時間も短くな
る。By using the equation (10), the ghost peak can be removed, and at the same time, the dimension of the matrix and the vector is smaller than that of the equation (5), so that the calculation time is shortened.
<発明の効果> 以上説明したように、本発明によれば、粒子群の回折/
散乱光強度分布データから、その粒子群に存在する粒子
の最大粒子径を推定し、その推定結果に基づいて粒度分
布算出のための演算式から不存在の粒子についての部分
を除去して計算を行うので、サンプル粒子の粒度分布が
小さい方に偏在していても、従来のように大きい方にゴ
ーストピークが現れることがなく、しかも、不要な部分
についての演算を除外するので、その演算時間を短縮す
るか、あるいは、同等の演算時間を用いてより計算精度
を向上することが可能となる。<Effects of the Invention> As described above, according to the present invention, the diffraction of particle groups /
From the scattered light intensity distribution data, estimate the maximum particle size of the particles that exist in the particle group, and based on the estimation result, remove the part for the nonexistent particles from the calculation formula for calculating the particle size distribution, and perform the calculation. Since it is performed, even if the particle size distribution of the sample particles is unevenly distributed in the smaller one, the ghost peak does not appear in the larger one as in the past, and the calculation for unnecessary parts is excluded, so the calculation time is reduced. It is possible to shorten the time or improve the calculation accuracy by using the same calculation time.
第1図は本発明の構成を示す基本概念図、 第2図は本発明実施例の全体構成図、 第3図はゴーストピークの説明図である。 1……フローセル 2……レーザ光源 3……コリメータ 4……集光レンズ 5……リングデテクタ 6……側方散乱光センサ 7……コンピュータ FIG. 1 is a basic conceptual diagram showing the configuration of the present invention, FIG. 2 is an overall configuration diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is an explanatory diagram of a ghost peak. 1 ... Flow cell 2 ... Laser light source 3 ... Collimator 4 ... Condensing lens 5 ... Ring detector 6 ... Side scattered light sensor 7 ... Computer
Claims (1)
とによって生じる回折/散乱光の強度分布を検出する検
出光学系と、その強度分布検出結果から所定のアルゴリ
ズムに基づいて粒子群の粒度分布を算出する演算手段を
有する装置において、検出された回折/散乱光の強度分
布から当該粒子群に存在する最大粒子の大きさを求める
最大粒子径推定手段を備え、上記演算手段は、上記アル
ゴリズムから上記最大粒子径推定手段により推定された
最大粒子径を越える粒子径の範囲に関する部分を除外し
て演算を行うよう構成されていることを特徴とする粒度
分布測定装置。1. A detection optical system for detecting an intensity distribution of diffracted / scattered light generated by irradiating a dispersed particle group with a laser beam, and a particle size of the particle group based on a predetermined algorithm from the intensity distribution detection result. An apparatus having an arithmetic means for calculating a distribution comprises a maximum particle diameter estimating means for determining the size of the maximum particle existing in the particle group from the intensity distribution of the detected diffracted / scattered light, and the arithmetic means comprises the algorithm described above. The particle size distribution measuring apparatus is configured to perform the calculation by excluding a portion related to a particle diameter range exceeding the maximum particle diameter estimated by the maximum particle diameter estimating means.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2323480A JPH0640058B2 (en) | 1990-11-26 | 1990-11-26 | Particle size distribution measuring device |
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| JP2323480A JPH0640058B2 (en) | 1990-11-26 | 1990-11-26 | Particle size distribution measuring device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| JPH04191640A JPH04191640A (en) | 1992-07-09 |
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ID=18155161
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| JP (1) | JPH0640058B2 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2009085969A (en) * | 2008-12-15 | 2009-04-23 | Shimadzu Corp | Laser diffraction / scattering particle size distribution analyzer |
| CN111331249A (en) * | 2020-02-28 | 2020-06-26 | 中国科学院微电子研究所 | A configuration device and method for uniform light parameters, and a stripping system and method |
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- 1990-11-26 JP JP2323480A patent/JPH0640058B2/en not_active Expired - Fee Related
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| JPH04191640A (en) | 1992-07-09 |
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