JPH06229829A - 受光素子アレイ - Google Patents
受光素子アレイInfo
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- JPH06229829A JPH06229829A JP1741493A JP1741493A JPH06229829A JP H06229829 A JPH06229829 A JP H06229829A JP 1741493 A JP1741493 A JP 1741493A JP 1741493 A JP1741493 A JP 1741493A JP H06229829 A JPH06229829 A JP H06229829A
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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-
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】迷光を効率よく除去できるとともに、製造の容
易な受光素子アレイを提供することにある。 【構成】分散した複数の単色光を透過させる保護ガラス
17と、この保護ガラス17を透過した単色光を受光す
るフォトダイオ−ドアレイチップ14とを有する受光素
子アレイ11において、遮光マスク18と分光フィルタ
20a、20b、…を備え、これら遮光マスク18と分
光フィルタ20a、20b、…とを保護ガラスに一体に
形成した。
易な受光素子アレイを提供することにある。 【構成】分散した複数の単色光を透過させる保護ガラス
17と、この保護ガラス17を透過した単色光を受光す
るフォトダイオ−ドアレイチップ14とを有する受光素
子アレイ11において、遮光マスク18と分光フィルタ
20a、20b、…を備え、これら遮光マスク18と分
光フィルタ20a、20b、…とを保護ガラスに一体に
形成した。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、自動化学分析
装置の多波長分光光度計に備えられ、分散した単色光の
光量を測定する受光素子アレイに関する。
装置の多波長分光光度計に備えられ、分散した単色光の
光量を測定する受光素子アレイに関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、自動化学分析装置の多波長分光
光度計には図7に示すような受光素子アレイ1が備えら
れている。この受光素子アレイ1においては、矩形な受
光面を有するフォトダイオ−ド2…が単色光の分散方向
に沿って複数配列されている。そして、フォトダイオ−
ド2…として、S/N比が良くダイナミックレンジの大
きいものが採用されている。
光度計には図7に示すような受光素子アレイ1が備えら
れている。この受光素子アレイ1においては、矩形な受
光面を有するフォトダイオ−ド2…が単色光の分散方向
に沿って複数配列されている。そして、フォトダイオ−
ド2…として、S/N比が良くダイナミックレンジの大
きいものが採用されている。
【0003】図8(a)に示すように、分光のために凹
面回折格子3を用いた場合、分散光4は受光素子アレイ
1上に、波長λ1 〜λn の連続光として集光される。つ
まり、分散した特定波長λk の単色光が受光素子アレイ
1の対応するフォトダイオ−ド2に入射する。
面回折格子3を用いた場合、分散光4は受光素子アレイ
1上に、波長λ1 〜λn の連続光として集光される。つ
まり、分散した特定波長λk の単色光が受光素子アレイ
1の対応するフォトダイオ−ド2に入射する。
【0004】しかし、凹面回折格子1の性能や光路系に
おける多重反射等を原因として、各フォトダイ−ド2…
には、特定波長λk 以外の波長成分が入射する。迷光量
をIλs とし、波長λk の光量をIλk とすると、迷光
成分Rstray は以下のように表される。
おける多重反射等を原因として、各フォトダイ−ド2…
には、特定波長λk 以外の波長成分が入射する。迷光量
をIλs とし、波長λk の光量をIλk とすると、迷光
成分Rstray は以下のように表される。
【0005】Rstray =Iλs /Iλk (%) この迷光成分は測光量に測定誤差として加わり、特に、
340nm近辺の短波長領域の信号成分の少ない波長で測光
性能の劣化が見られる。
340nm近辺の短波長領域の信号成分の少ない波長で測光
性能の劣化が見られる。
【0006】従って一般には、迷光除去のために色ガラ
スフィルタ(分光フィルタ)が利用されている。色ガラ
スフィルタはフォトダイオ−ドの前段に配置され、高次
光等の迷光を吸収し除去している。色ガラスフィルタを
用いることにより、特定波長λk 以外の光は信号成分と
して取出されず、迷光量Iλs が最小限に抑えられる。
具体的には、図9に示すように、色ガラスフィルタ5…
は短冊状に切断されており、それぞれ対応するフォトダ
イオ−ド2…に対向している。
スフィルタ(分光フィルタ)が利用されている。色ガラ
スフィルタはフォトダイオ−ドの前段に配置され、高次
光等の迷光を吸収し除去している。色ガラスフィルタを
用いることにより、特定波長λk 以外の光は信号成分と
して取出されず、迷光量Iλs が最小限に抑えられる。
具体的には、図9に示すように、色ガラスフィルタ5…
は短冊状に切断されており、それぞれ対応するフォトダ
イオ−ド2…に対向している。
【0007】なお、このような受光素子アレイは、例え
ば特開昭58−105024号公報に開示されている。
ば特開昭58−105024号公報に開示されている。
【0008】また、迷光除去のために、図12及び図1
3に示すような遮光マスク6を用いたものも在る。この
遮光マスク6は複数のスリット8…を有しており、これ
らスリット8…が光透過領域として利用される。そし
て、遮光マスク6は、フォトダイ−ド2…に受光されな
い光を遮断し、多重反射光の発生を防止する。
3に示すような遮光マスク6を用いたものも在る。この
遮光マスク6は複数のスリット8…を有しており、これ
らスリット8…が光透過領域として利用される。そし
て、遮光マスク6は、フォトダイ−ド2…に受光されな
い光を遮断し、多重反射光の発生を防止する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年は、自
動化学分析装置の設置環境が制限されているため、多波
長分光光度計の小型化が強く望まれている。例えば、図
8(b)に示すように凹面回折格子3´の焦点距離を短
くすれば、光路長が短くなるため、多波長分光光度計の
小型化が可能である。しかし、この場合には単色光の分
散範囲が狭まるため、受光素子アレイ1´の小型化が必
要である。
動化学分析装置の設置環境が制限されているため、多波
長分光光度計の小型化が強く望まれている。例えば、図
8(b)に示すように凹面回折格子3´の焦点距離を短
くすれば、光路長が短くなるため、多波長分光光度計の
小型化が可能である。しかし、この場合には単色光の分
散範囲が狭まるため、受光素子アレイ1´の小型化が必
要である。
【0010】凹面回折格子3´においては、焦点距離を
短くするために回折格子自体の設計が制限されるので、
回折格子の迷光成分の除去性能が悪くなる。したがっ
て、受光素子アレイ1自体の迷光除去対策が更に重要に
なる。
短くするために回折格子自体の設計が制限されるので、
回折格子の迷光成分の除去性能が悪くなる。したがっ
て、受光素子アレイ1自体の迷光除去対策が更に重要に
なる。
【0011】図9に示すように複数の色ガラスフィルタ
5…を使用した受光素子アレイを小型化する場合、色ガ
ラスフィルタ5…も微細化されるので、接合面の加工精
度の要求が厳しくなるとともに、色ガラスフィルタ5…
どうしの貼り付けが困難になる。
5…を使用した受光素子アレイを小型化する場合、色ガ
ラスフィルタ5…も微細化されるので、接合面の加工精
度の要求が厳しくなるとともに、色ガラスフィルタ5…
どうしの貼り付けが困難になる。
【0012】また、図10(a)及び(b)に示すよう
に、フォトダイオ−ド2と色ガラスフィルタ5との平行
度を保つことも困難である。フォトダイオ−ド2と色ガ
ラスフィルタ5との平行度の設定が不十分な場合には、
高次の迷光を効率よくカットすることが難しい。
に、フォトダイオ−ド2と色ガラスフィルタ5との平行
度を保つことも困難である。フォトダイオ−ド2と色ガ
ラスフィルタ5との平行度の設定が不十分な場合には、
高次の迷光を効率よくカットすることが難しい。
【0013】さらに、色ガラスフィルタ5…の枚数が増
えると、機械的強度が低下する。また、各色ガラスフィ
ルタ5…毎に透過率が決まっているため、保護ガラスの
代用として色ガラスフィルタ5…を用いる場合には各色
ガラスフィルタ5…の肉厚を各波長に合せて変化させる
必要がある。しかし、微小な色ガラスフィルタの肉厚を
一枚づつ異ならせることは、製造上困難である。
えると、機械的強度が低下する。また、各色ガラスフィ
ルタ5…毎に透過率が決まっているため、保護ガラスの
代用として色ガラスフィルタ5…を用いる場合には各色
ガラスフィルタ5…の肉厚を各波長に合せて変化させる
必要がある。しかし、微小な色ガラスフィルタの肉厚を
一枚づつ異ならせることは、製造上困難である。
【0014】一方、不連続な波長の分散光を測定する場
合、図11に示すように保護ガラス7での多重反射を原
因として迷光が生じることが分かっている。そして、こ
の迷光を除去するために、図12に示すような遮光マス
ク6が用いられる場合がある。しかし、この遮光マスク
6を用いた場合にも、単色光の分散範囲が狭まれば、遮
光マスク6と受光素子アレイ1との位置合せが困難にな
る。
合、図11に示すように保護ガラス7での多重反射を原
因として迷光が生じることが分かっている。そして、こ
の迷光を除去するために、図12に示すような遮光マス
ク6が用いられる場合がある。しかし、この遮光マスク
6を用いた場合にも、単色光の分散範囲が狭まれば、遮
光マスク6と受光素子アレイ1との位置合せが困難にな
る。
【0015】本発明の目的とするところは、迷光を効率
よく除去できるとともに、製造の容易な受光素子アレイ
を提供することにある。
よく除去できるとともに、製造の容易な受光素子アレイ
を提供することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段および作用】上記目的を達
成するために本発明は、分散した複数の単色光を透過さ
せる光透過部材と、この光透過部材を透過した単色光を
受光する受光素子とを有する受光素子アレイにおいて、
迷光除去手段を備え、この迷光除去手段を光透過部材に
一体に形成したことにある。
成するために本発明は、分散した複数の単色光を透過さ
せる光透過部材と、この光透過部材を透過した単色光を
受光する受光素子とを有する受光素子アレイにおいて、
迷光除去手段を備え、この迷光除去手段を光透過部材に
一体に形成したことにある。
【0017】こうすることによって本発明は、迷光を効
率よく除去できるとともに、受光素子アレイを容易に製
造できるようにしたことにある。
率よく除去できるとともに、受光素子アレイを容易に製
造できるようにしたことにある。
【0018】本発明は、吸光度分析を行う装置のいずれ
にも有効に適用できるが、特に生化学分析における吸光
度の高いものに対する測定に対してより有効である。例
えば、 GOT、GPT などの測定項目でNADHから NADへの化
学変化の際の吸光度変化をとらえる場合などが挙げられ
る。
にも有効に適用できるが、特に生化学分析における吸光
度の高いものに対する測定に対してより有効である。例
えば、 GOT、GPT などの測定項目でNADHから NADへの化
学変化の際の吸光度変化をとらえる場合などが挙げられ
る。
【0019】
【実施例】以下、本発明の各実施例を図1〜図6に基づ
いて説明する。
いて説明する。
【0020】図1は本発明の第1実施例の要部を示して
おり、図中の符号11は受光素子アレイである。この受
光素子アレイ11はパッケ−ジ本体12を有しており、
このパッケ−ジ本体12には凹陥部13が形成されてい
る。凹陥部13はパッケ−ジ本体12の上面に開口して
おり、凹陥部13内には受光素子としてのフォトダイオ
−ドアレイチップ14が収容されている。
おり、図中の符号11は受光素子アレイである。この受
光素子アレイ11はパッケ−ジ本体12を有しており、
このパッケ−ジ本体12には凹陥部13が形成されてい
る。凹陥部13はパッケ−ジ本体12の上面に開口して
おり、凹陥部13内には受光素子としてのフォトダイオ
−ドアレイチップ14が収容されている。
【0021】凹陥部13の底部の形状はフォトダイオ−
ドアレイチップ14の形状に合せて成形されており、フ
ォトダイオ−ドアレイチップ14はパッケ−ジ本体12
に係合している。
ドアレイチップ14の形状に合せて成形されており、フ
ォトダイオ−ドアレイチップ14はパッケ−ジ本体12
に係合している。
【0022】フォトダイオ−ドアレイチップ14の表面
には複数の受光部15…が形成されており、これら受光
部15…は、測定対象の単色光の分散方向に沿って並ん
でいる。ここで、フォトダイオ−ドアレイチップ14と
しては、一般的なものを採用することが可能である。ま
た、図示しないが、フォトダイオ−ドアレイチップ14
に接続されたリ−ド端子がパッケ−ジ本体12の外側に
導出されている。
には複数の受光部15…が形成されており、これら受光
部15…は、測定対象の単色光の分散方向に沿って並ん
でいる。ここで、フォトダイオ−ドアレイチップ14と
しては、一般的なものを採用することが可能である。ま
た、図示しないが、フォトダイオ−ドアレイチップ14
に接続されたリ−ド端子がパッケ−ジ本体12の外側に
導出されている。
【0023】パッケ−ジ本体12の内周縁部には段差部
16が形成されており、この段差部16は下側で狭まっ
ている。光透過部材としての板状の保護ガラス17がこ
の段差部16に上方から係合しており、保護ガラス17
の周縁部が段差部16に当接している。そして、保護ガ
ラス17はパッケ−ジ本体12に例えば接着等の手段に
よって固定されており、凹陥部13は保護ガラス17に
よって気密的に閉じられている。
16が形成されており、この段差部16は下側で狭まっ
ている。光透過部材としての板状の保護ガラス17がこ
の段差部16に上方から係合しており、保護ガラス17
の周縁部が段差部16に当接している。そして、保護ガ
ラス17はパッケ−ジ本体12に例えば接着等の手段に
よって固定されており、凹陥部13は保護ガラス17に
よって気密的に閉じられている。
【0024】保護ガラス17の内側面には、迷光除去手
段としての黒色の遮光マスク18が形成されている。遮
光マスク18は薄膜であり、図2に示すように、複数の
光透過領域19…を残して保護ガラス17の内側面を覆
っている。光透過領域19…は、受光部15…の形状に
合わせて、矩形なスリット状に開口している。そして、
光透過領域19…の配置は受光部15…の配置に合せて
設定されており、光透過領域19…は受光部15…に対
向している。
段としての黒色の遮光マスク18が形成されている。遮
光マスク18は薄膜であり、図2に示すように、複数の
光透過領域19…を残して保護ガラス17の内側面を覆
っている。光透過領域19…は、受光部15…の形状に
合わせて、矩形なスリット状に開口している。そして、
光透過領域19…の配置は受光部15…の配置に合せて
設定されており、光透過領域19…は受光部15…に対
向している。
【0025】遮光マスク18の作製の際には、例えば黒
色顔料を混ぜられた感光性樹脂が、保護ガラス17に塗
布された後、露光・現像される。このパタ−ニングの結
果、保護ガラス17に遮光マスク18が積層される。遮
光マスク18の作製には、いわゆる半導体製造のための
フォトリソグラフィ工程と同様の方法を適用することが
可能であるため、1μm以下のパタ−ン精度を実現でき
る。
色顔料を混ぜられた感光性樹脂が、保護ガラス17に塗
布された後、露光・現像される。このパタ−ニングの結
果、保護ガラス17に遮光マスク18が積層される。遮
光マスク18の作製には、いわゆる半導体製造のための
フォトリソグラフィ工程と同様の方法を適用することが
可能であるため、1μm以下のパタ−ン精度を実現でき
る。
【0026】一部の光透過領域19…には迷光除去手段
としての分光フィルタ20a、20b、…が形成されて
いる。各分光フィルタ20a、20b、…も遮光マスク
18と同様に薄膜であり、保護ガラス17の内側面に積
層されている。そして、各分光フィルタ20a、20
b、…は、特定波長の単色光以外の光を遮断できるよ
う、それぞれ異なる分光特性を有している。
としての分光フィルタ20a、20b、…が形成されて
いる。各分光フィルタ20a、20b、…も遮光マスク
18と同様に薄膜であり、保護ガラス17の内側面に積
層されている。そして、各分光フィルタ20a、20
b、…は、特定波長の単色光以外の光を遮断できるよ
う、それぞれ異なる分光特性を有している。
【0027】各分光フィルタ20a、20b……の作製
の際には、所望の分光特性を有する顔料が感光性樹脂に
混ぜられ、この感光性樹脂が保護ガラス17に塗布され
て露光・現像される。つまり、分光フィルタ20a、2
0b…も遮光マスク18と同様の手順によって作製する
ことが可能である。
の際には、所望の分光特性を有する顔料が感光性樹脂に
混ぜられ、この感光性樹脂が保護ガラス17に塗布され
て露光・現像される。つまり、分光フィルタ20a、2
0b…も遮光マスク18と同様の手順によって作製する
ことが可能である。
【0028】ここで、図1中においては、遮光マスク1
8や分光フィルタ20a、20b…の厚さの比率は、説
明が容易になるよう、実際よりも大きく示されている。
また、図1中の符号21a、21b、…は入射光を示し
ている。
8や分光フィルタ20a、20b…の厚さの比率は、説
明が容易になるよう、実際よりも大きく示されている。
また、図1中の符号21a、21b、…は入射光を示し
ている。
【0029】前記光透過領域19…と受光部15…との
位置合せは、保護ガラス17の取付けによって達成され
る。つまり、保護ガラス17の取付けの際には、パッケ
−ジ本体12に保護ガラス17が組合され、保護ガラス
17の周縁部がパッケ−ジ本体12の段差部16に押当
てられる。そして、保護ガラス17がパッケ−ジ本体1
2に係合し、光透過領域19…と受光部15…とが対向
する。この様な方法により、0.1 mm程度の位置精度が容
易に得られる。
位置合せは、保護ガラス17の取付けによって達成され
る。つまり、保護ガラス17の取付けの際には、パッケ
−ジ本体12に保護ガラス17が組合され、保護ガラス
17の周縁部がパッケ−ジ本体12の段差部16に押当
てられる。そして、保護ガラス17がパッケ−ジ本体1
2に係合し、光透過領域19…と受光部15…とが対向
する。この様な方法により、0.1 mm程度の位置精度が容
易に得られる。
【0030】すなわち、上述のような受光素子アレイ1
1においては、遮光マスク18と分光フィルタ20a、
20b、…とが保護ガラス17に直接形成されているの
で、保護ガラス17とフォトダイオ−ドアレイチップ1
4とを近接して配置することが可能になる。そして、受
光素子アレイ11の小型化が可能になる。また、フォト
ダイオ−ドアレイチップ14の受光部15…と遮光マス
ク18の光透過領域19…との位置合せを容易に且つ高
精度に行うことができる。そして、受光素子アレイ11
を小型化しても、充分な位置精度を確保できる。さら
に、遮光マスク18と分光フィルタ20a、20b、…
が保護ガラス17に積層されているので、遮光マスク1
8と分光フィルタ20、20b、…の作製が容易であ
る。
1においては、遮光マスク18と分光フィルタ20a、
20b、…とが保護ガラス17に直接形成されているの
で、保護ガラス17とフォトダイオ−ドアレイチップ1
4とを近接して配置することが可能になる。そして、受
光素子アレイ11の小型化が可能になる。また、フォト
ダイオ−ドアレイチップ14の受光部15…と遮光マス
ク18の光透過領域19…との位置合せを容易に且つ高
精度に行うことができる。そして、受光素子アレイ11
を小型化しても、充分な位置精度を確保できる。さら
に、遮光マスク18と分光フィルタ20a、20b、…
が保護ガラス17に積層されているので、遮光マスク1
8と分光フィルタ20、20b、…の作製が容易であ
る。
【0031】また、分光フィルタ20a、20b…が薄
膜であるので、分光特性は材料の種類や量によって調節
される。このため、分光特性の調節が容易である。
膜であるので、分光特性は材料の種類や量によって調節
される。このため、分光特性の調節が容易である。
【0032】したがって、迷光成分を効率よく遮断で
き、多重反射を防止できる。さらに、分光フィルタ20
a、20b、…の設計の自由度が高まり、高次光の迷光
の遮断を効率よく行うことができる。
き、多重反射を防止できる。さらに、分光フィルタ20
a、20b、…の設計の自由度が高まり、高次光の迷光
の遮断を効率よく行うことができる。
【0033】分光フィルタ20a、20b、…は遮光マ
スク18によって囲まれており、分光20a、20b、
…の外側に遮光マスク18が位置しているので、高次の
迷光も効率よく除去できる。したがって、微細な離散的
波長領域の迷光を除去できる。
スク18によって囲まれており、分光20a、20b、
…の外側に遮光マスク18が位置しているので、高次の
迷光も効率よく除去できる。したがって、微細な離散的
波長領域の迷光を除去できる。
【0034】そして、これらの結果として、測定精度を
低下させることなく、小型で安価な分光光度計を提供す
ることが可能になる。
低下させることなく、小型で安価な分光光度計を提供す
ることが可能になる。
【0035】なお、本発明は上述の実施例に限られるこ
となく、種々に変更することが可能である。例えば、保
護ガラスをプラスチックに変えるなどのように構成部材
の材料の変更が可能であることはもちろん、遮光マスク
18や分光フィルタ20a,20b、…の製法を変えて
実施することも可能である。
となく、種々に変更することが可能である。例えば、保
護ガラスをプラスチックに変えるなどのように構成部材
の材料の変更が可能であることはもちろん、遮光マスク
18や分光フィルタ20a,20b、…の製法を変えて
実施することも可能である。
【0036】さらに、図3に示すように遮光マスク18
と分光フィルタ20a、20b…とを保護ガラス17の
外側面に形成してもよく、或いは、図4に示すように遮
光マスク18と分光フィルタ20a、20b、…との形
成面を逆に設定してもよい。
と分光フィルタ20a、20b…とを保護ガラス17の
外側面に形成してもよく、或いは、図4に示すように遮
光マスク18と分光フィルタ20a、20b、…との形
成面を逆に設定してもよい。
【0037】つぎに、本発明の第2実施例を図5に基づ
いて説明する。なお、第1実施例と同様な部分について
は同一番号を付し、その説明は省略する。
いて説明する。なお、第1実施例と同様な部分について
は同一番号を付し、その説明は省略する。
【0038】多波長分光光度計に用いられる受光素子ア
レイにとっては、入射光を外へ反射させないことも大切
である。受光素子アレイの外へ反射した光は、回折格子
をはじめとする分光光学系の構成部材で反射し、再び受
光素子アレイに戻る。このような戻り光は迷光成分とな
る。
レイにとっては、入射光を外へ反射させないことも大切
である。受光素子アレイの外へ反射した光は、回折格子
をはじめとする分光光学系の構成部材で反射し、再び受
光素子アレイに戻る。このような戻り光は迷光成分とな
る。
【0039】本発明の第2実施例の受光素子アレイ31
は、保護ガラス17の表面での反射を抑制するように工
夫したものである。
は、保護ガラス17の表面での反射を抑制するように工
夫したものである。
【0040】図5に示すように、保護ガラス17の表面
には反射防止膜32が形成されている。この反射防止膜
32は、例えばAl2 O3 やMgF2 等を蒸着すること
により形成されている。この反射防止膜32が入射光の
反射を低減させ、戻り光を抑制する。
には反射防止膜32が形成されている。この反射防止膜
32は、例えばAl2 O3 やMgF2 等を蒸着すること
により形成されている。この反射防止膜32が入射光の
反射を低減させ、戻り光を抑制する。
【0041】図6は本発明の第3実施例を示している。
図6の受光素子アレイ41においては、保護ガラス17
の表面にも黒色の遮光マスク42が形成されている。遮
光マスク42には、入射光の透過を許すように、光透過
領域43…が形成されている。そして、遮光マスク42
は保護ガラス17の表面での反射を抑制する。
図6の受光素子アレイ41においては、保護ガラス17
の表面にも黒色の遮光マスク42が形成されている。遮
光マスク42には、入射光の透過を許すように、光透過
領域43…が形成されている。そして、遮光マスク42
は保護ガラス17の表面での反射を抑制する。
【0042】第2実施例の反射防止膜32においては波
長毎に反射率が変化するが、このように遮光マスク42
を形成した場合には、広い波長範囲に亘って反射率を小
さい値に抑制できる。
長毎に反射率が変化するが、このように遮光マスク42
を形成した場合には、広い波長範囲に亘って反射率を小
さい値に抑制できる。
【0043】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、分散した
複数の単色光を透過させる光透過部材と、この光透過部
材を透過した単色光を受光する受光素子とを有する受光
素子アレイにおいて、迷光除去手段を備え、この迷光除
去手段を光透過部材に一体に形成したものである。
複数の単色光を透過させる光透過部材と、この光透過部
材を透過した単色光を受光する受光素子とを有する受光
素子アレイにおいて、迷光除去手段を備え、この迷光除
去手段を光透過部材に一体に形成したものである。
【0044】したがって本発明は、迷光を効率よく除去
できるとともに、受光素子アレイを容易に製造できると
いう効果がある。
できるとともに、受光素子アレイを容易に製造できると
いう効果がある。
【図1】本発明の第1実施例の受光素子アレイの要部を
示す断面図。
示す断面図。
【図2】保護ガラスを示す平面図。
【図3】第1実施例の受光素子アレイの変形例を示す断
面図。
面図。
【図4】第1実施例の受光素子アレイの他の変形例を示
す断面図。
す断面図。
【図5】本発明の第2実施例の受光素子アレイの要部を
示す断面図。
示す断面図。
【図6】本発明の第3実施例の受光素子アレイの要部を
示す断面図。
示す断面図。
【図7】一般の受光素子アレイを示す斜視図。
【図8】(a)及び(b)はそれぞれ凹面回折格子の焦
点距離が異なる分光光学系を概略的に示す説明図。
点距離が異なる分光光学系を概略的に示す説明図。
【図9】分割された色ガラスフィルタを有する受光素子
アレイを一部省略して示す説明図。
アレイを一部省略して示す説明図。
【図10】(a)及び(b)は色ガラスフィルタとフォ
トダイオ−ドの平行度を説明する図。
トダイオ−ドの平行度を説明する図。
【図11】保護ガラスでの多重反射を説明する図。
【図12】従来の遮光フィルタを備えた受光素子を一部
省略して示す平面図。
省略して示す平面図。
【図13】従来の遮光フィルタを備えた受光素子を一部
省略して示す側断面図。
省略して示す側断面図。
11…受光素子アレイ、14…フォトダイオ−ドアレイ
チップ(受光素子)、17…保護ガラス(光透過部
材)、18…遮光マスク(迷光除去手段)、20a、2
0b、…分光フィルタ(迷光除去手段)。
チップ(受光素子)、17…保護ガラス(光透過部
材)、18…遮光マスク(迷光除去手段)、20a、2
0b、…分光フィルタ(迷光除去手段)。
Claims (1)
- 【請求項1】 分散した複数の単色光を透過させる光透
過部材と、この光透過部材を透過した上記単色光を受光
する受光素子とを有する受光素子アレイにおいて、迷光
除去手段を備え、この迷光除去手段を上記光透過部材に
一体に形成したことを特徴とする受光素子アレイ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1741493A JPH06229829A (ja) | 1993-02-04 | 1993-02-04 | 受光素子アレイ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1741493A JPH06229829A (ja) | 1993-02-04 | 1993-02-04 | 受光素子アレイ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06229829A true JPH06229829A (ja) | 1994-08-19 |
Family
ID=11943351
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1741493A Pending JPH06229829A (ja) | 1993-02-04 | 1993-02-04 | 受光素子アレイ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06229829A (ja) |
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008051822A (ja) * | 2007-10-09 | 2008-03-06 | Toshiba Corp | 化学分析装置 |
| EP1992936A1 (en) | 2007-05-16 | 2008-11-19 | Hitachi High-Technologies Corporation | Analyzing apparatus |
| WO2008149940A1 (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-11 | Hamamatsu Photonics K.K. | 分光モジュール |
| WO2008149941A1 (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-11 | Hamamatsu Photonics K.K. | 分光モジュール |
| WO2008149930A1 (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-11 | Hamamatsu Photonics K.K. | 分光モジュール |
| WO2008149928A1 (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-11 | Hamamatsu Photonics K.K. | 分光モジュール |
| JP2008304379A (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-18 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光モジュール |
| JP2008304387A (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-18 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光モジュール |
| JP2009069017A (ja) * | 2007-09-13 | 2009-04-02 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光モジュール |
| JP2009069016A (ja) * | 2007-09-13 | 2009-04-02 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光モジュール |
| JP2009069012A (ja) * | 2007-09-13 | 2009-04-02 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光モジュール |
| US8031336B2 (en) | 2007-06-08 | 2011-10-04 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectroscope |
| JP2012037533A (ja) * | 2011-11-18 | 2012-02-23 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光モジュール |
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-
1993
- 1993-02-04 JP JP1741493A patent/JPH06229829A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20020319 |