JPH06201473A

JPH06201473A - 偏光計の再較正方法及び装置

Info

Publication number: JPH06201473A
Application number: JP5277637A
Authority: JP
Inventors: Brian L Heffner; ブライアン・エル・ヘッフナー
Original assignee: Hewlett Packard Co
Current assignee: HP Inc
Priority date: 1992-10-08
Filing date: 1993-10-08
Publication date: 1994-07-19
Also published as: DE69303571T2; EP0592187A1; EP0592187B1; US5296913A; DE69303571D1

Abstract

(57)【要約】【目的】標準光源を必要とせずに、偏光計の再較正を迅
速かつ容易に行うことのできる方法及び装置を提供す
る。【構成】本発明の一実施例によれば、入力電磁波は偏光
程度がほぼ同じの多くの電磁波に変換される。これらの
電磁波の少なくとも３つは異なる偏光状態を有する。入
力電磁波からこれらの電磁波を発生するためには波長板
のような複屈折性材料を用いることができる。これらの
電磁波は偏光計により測定され、次にほぼ同じ偏光の程
度を持つよう較正係数が計算される。入力電磁波が光波
の場合、光ファイバのループまたはLiNbO₃結晶のような
電気光学材料が複屈折性材料として用いられる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、一般に、偏光計の較正
に関するものであり、とりわけ、既知の偏りを示す電磁
波を必要とせずに、偏光計を再較正する方法及び装置に
関するものである。

【０００２】

【従来の技術】電磁波の偏光を測定するための計器であ
る全ての偏光計は、較正を必要とする。較正後、偏光計
は、時間とともにドリフトする。偏光計は、とりわけ、
正確な測定を行っている場合には、定期的に再較正を行
う必要がある。典型的な再較正の場合、偏光計は、標準
光源によって発生する既知の偏りを示す電磁波を測定す
る。次に、ある関係について計算を行って、測定した信
号に調整を施し、その電磁波の偏光を表示するようにす
る。あいにく、実際の標準光源は、時間とともにドリフ
トする。退屈な仕事になる可能性があるが、光源をその
正確な値に戻さなければ、ドリフトした光源によって、
間違った再較正が行われることになる。

【０００３】標準光源は、安定していなければならない
だけでなく、その波長が既知でなければならない。再較
生後、偏光計は、標準光源とほぼ同じ波長を備えた電磁
波の偏光を正確に測定することができる。波長が、標準
光源の波長とかなり異なっている場合には、測定の精度
は、大幅に劣化する。従って、正確な偏光測定を行うた
めには、測定すべき電磁波の波長が、標準光源の波長に
できる限り近くなければならない。安定した標準光源に
依存しない方法によって、偏光計の再較正を実施するた
めの方法が必要になる。再較正した偏光計は、電磁波の
波長を正確に知ることを必要とせずに、電磁波の偏光を
測定できることが望ましい。再較性のプロセスは、とり
わけ、偏光計を利用して正確な測定を行う場合に、迅速
に、かつ、容易に実施することが望ましい。

【０００４】

【発明の目的】本発明は、標準光源を必要とせずに、偏
光計の再較正を迅速かつ容易に行うことのできる方法及
び装置を提供することを目的とする。

【０００５】

【発明の概要】本発明は、標準光源を必要とせずに、偏
光計の再較正を迅速かつ容易に行う方法及び装置を提供
するものである。偏光計が電磁波の測定を行っている間
に、再較性を実施することが可能である。この再較正案
では、既知の偏りを示す電磁波の代わりに、測定すべき
電磁波を利用して、偏光計の再較性を行う。この方法に
よって再較正される偏光計は、測定すべき電磁波自体を
利用して、偏光計の再較正が行われるので、波長を正確
に知らなくても、電磁波の偏光を測定することが可能で
ある。さらに、本発明を具現化した装置は、簡単に偏光
計に組み込むことが可能である。

【０００６】要するに、一般的に言えば、本発明による
偏光計の較正方法には、偏光計で入力電磁波を測定し
て、電磁波の偏光の状態及び程度を表した生の値（生
値）を求めることと、前記電磁波を偏光の状態が異なる
が、偏光の程度はほぼ同じ電磁波に変換することと、変
換された電磁波を測定して、偏光の状態及び程度を表し
た生値を求めることと、少なくとも３つの電磁波につい
て、生値が得られるまで、反復することと、生値を利用
して、較正係数を計算することと、較正係数を利用し
て、偏光計の再較正を行うことが含まれる。較正係数
は、生値に適用すると、生値が変更されて、各電磁波毎
に、ほぼ同じ偏光の程度を示すことになるように計算さ
れる。適合アルゴリズムまたは他の適合する技法を利用
して、較正係数が計算される。

【０００７】望ましい実施例の１つでは、入力電磁波
は、複屈折の調整が可能な複屈折性材料によって複数の
電磁波に変換される。入力電磁波は、入力電磁波の偏光
状態を変化させて、複数の電磁波を発生するように調整
された複屈折性材料によってガイドされる。とりわけ、
光学式偏光計に適したもう１つの望ましい実施例の場
合、複屈折性材料は、入力光波がループを伝搬し、偏光
計に結合されるように、互いに直列に接続された光ファ
イバの複数のループである。各ループは、複数の位置を
通って回転し、複数の状態を変化させるので、複数の電
磁波が発生することになる。他の実施例の場合、波長板
またはニオブ酸リチウム（ＬｉＮｂＯ₃）結晶のような
電気光学材料が、複屈折性材料として利用される。本発
明の他の態様及び利点については、本発明の原理を例示
した、添付の図面に関連して行われる下記の詳細な説明
から明らかになる。

【０００８】

【実施例】本発明は、偏光計がドリフトして較正された
状態から離脱すると、偏光計を迅速かつ容易に再較正す
る方法及び装置を提供する。再較正案は、既知の偏りを
示す電磁波を必要とせず、代わりに、測定すべき電磁波
を利用して、偏光計を再較正する。本発明によれば、測
定すべき電磁波を利用して、偏光計の再較正が行われて
いるので、測定すべき電磁波の波長を正確に知る必要が
なくなる。さらに、該装置は、偏光計に簡単に組み込む
ことが可能である。

【０００９】図１Ａのフローチャートに示すように、本
発明に基づいて偏光計を再較正する方法は、偏光計で入
力電磁波を測定して、電磁波の偏光の状態及び程度を表
した生値を得るステップから開始される（１１）。次
に、入力波は、すぐに説明することになる手段によっ
て、偏光の状態は異なるが、偏光の程度はほぼ同じであ
る、もう１つの電磁波に変換される（１３）。次に、変
換された電磁波を偏光器で測定することによって、電磁
波の偏光の状態及び程度を表す生値が求められる（１
５）。電磁波を変換するステップ（１３）、及び、変換
された電磁波を測定するステップ（１５）は、それぞ
れ、他とは偏光の状態が異なる、所望の数の電磁波が測
定されるまで、繰り返される（１７）。次のステップ
は、生値を変更して、変更後、生値が、電磁波のそれぞ
れに関してほぼ同じ程度の偏光を示すようにするのに有
効な、較正係数を計算することである（１９）。最後
に、較正係数を利用して、偏光計の再較正が行われる
（２１）。

【００１０】入力電磁波を変換するステップ（１３）及
び変換された電磁波を測定するステップ（１５）は、各
組とも、他のそれぞれとは偏光状態の異なる電磁波に符
号する、全部で３組の測定された生値を得るのに十分な
回数だけ実施される。もちろん、これらのステップは、
所望の精度、及び、再較正手順を実施するために利用可
能な時間長のような事項に基づいて、所望の他の回数だ
け実施することが可能である。

【００１１】図１Ｂのフローチャートには、較正係数を
計算する（１９）望ましい方法が示されている。まず、
較正係数が、初期設定される（２３）。次に、測定され
た各電磁波の偏光の程度が、計算される（２５）。この
計算には、すぐに、その全てについてさらに詳述するこ
とになる、初期設定された較正係数、測定された電磁波
の生値、及び、所定の計器の行列が含まれる。従って、
較正係数は、計算された電磁波の偏光の程度に基づいて
補正される（２７）。

【００１２】ほとんどの場合、較正係数の単一の補正
は、十分ではない。代わりに、偏光の程度は、補正され
た較正係数によって再計算され（２９）、較正係数は、
今回は、再計算された偏光の程度に基づいて、再び、補
正される（２７）。この手順は、所望の停止ポイントに
達するまで、繰り返し実施される（３１）。例えば、実
施例の１つでは、再計算された偏光の程度が、所定の量
を超えて、互いに異なることになるまで、偏光の程度を
再計算するステップ及び較正係数を補正するステップ
が、繰り返される。代替案として、これらのステップ
が、所定の回数だけ繰り返される。

【００１３】各電磁波の偏光の状態及び程度を表す生値
は、偏光計で電磁波を測定することによって得られる。
偏光計は、それぞれ、検出器に入射するパワーに比例し
た生値を有する信号を発生する、複数の、普通は４つの
検出器を備えている。これらの生値は、要素Ｉ₀〜Ｉ₃を
備えた１×４の行列［Ｉ］として表すことができる。任
意の偏光計において用いられる検出器のタイプは、測定
すべき電磁波のタイプによって決定される。電磁波が光
波の場合、検出器は、一般に、フォトダイオード、光電
子増倍管等である。マイクロ波偏光計では、代わりに、
マイクロ波検出器を利用する。所定の計器行列は、用い
られている特定の偏光計の特性である。４つの検出器を
備えた偏光器の場合、計器行列は、４×４の行列［Ａ］
の形を備えている。一般に、行列［Ａ］の要素の値は、
偏光計のもとの較正時に、決定される。同様に、較正係
数は、４×４の較正行列［Ｃ］の形をとる。［Ｃ］は、
非ゼロの対角要素Ｃ₀〜Ｃ₃を備えた対角行列であり、こ
の場合、Ｃ₀は１に等しくなるようにセットされる。

【００１４】電磁波の偏光は、Ｓｔｏｋｅｓベクトル
［Ｓ］によって完全に表される。このベクトルは、４つ
の要素、すなわち、Ｓ₀〜Ｓ₃を備えている。任意の電磁
波に関するＳｔｏｋｅｓベクトルは、偏光計により、下
記の行列式に基づく行列［Ａ］、［Ｃ］、及び、［Ｉ］
の行列積を自動的に計算することによって得られる：［Ｓ］＝［Ａ］×［Ｃ］×［Ｉ］（１）

【００１５】上述のように、較正係数は、偏光の状態が
互いに異なる３つの電磁波に符合する生値によって決定
するのが望ましい。２つの電磁波間における偏光状態の
差は、これら２つの電磁波の正規化されたＳｔｏｋｅｓ
ベクトルのスカラー積によって決まる。正規化されたＳ
ｔｏｋｅｓベクトルのパラメータは、Ｓ₁／Ｓ₀、Ｓ₂／
Ｓ₀、及び、Ｓ₃／Ｓ₀として定義される。正規化された
Ｓｔｏｋｅｓベクトルの要素は、正規化されたＳｔｏｋ
ｅｓベクトルのパラメータである。電磁波の偏光の状態
間における望ましい差は、正規化されたＳｔｏｋｅｓベ
クトルのスカラー積が、−０．５である場合に得られ
る。式（１）によって得られる任意の電磁波に関するＳ
ｔｏｋｅｓベクトルを利用して、下記の式に基づいて、
その電磁波の偏光の程度ＤＯＰが計算される：

【００１６】

【数１】

【００１７】各電磁波のＤＯＰは、他の電磁波のＤＯＰ
と比較される。この比較に基づいて、補正された較正係
数を求め、式（１）に代入することによって、新しいＳ
ｔｏｋｅｓベクトルが得られる。この新しいＳｔｏｋｅ
ｓベクトルから、各電磁波に関する新しいＤＯＰ値が計
算され、所望に応じて、このプロセスが、繰り返され
る。図２には、補正された較正係数の計算に用いること
の可能な適合アルゴリズムが、フローチャートの形態で
示されている。まず、較正係数［Ｃ］は、要素Ｃ₁〜Ｃ₃
を１に等しくなるようにセットすることによって初期設
定される。次に、対話式に、適合アルゴリズムによっ
て、較正値に修正が施され、計算された全電磁波の偏光
の程度がほぼ同じになるまで、パラメータ集合を変化さ
せるために利用される。

【００１８】図２には、較正係数を修正する適合アルゴ
リズムについて、さらに詳細に表した、フローチャート
が示されている（２８）。集合Ｃ₁〜Ｃ₃及びＯＬＤＣ₁
〜ＯＬＤＣ₃は、両方とも、較正値を表している。５０
では、較正値は、全て、１に初期設定され、変数ＯＬＤ
Ｃ₁〜ＯＬＤＣ₃に収容される（５４）。もう１つの変数
△Ｃは、０．２に初期設定される（５２）。次に、Ｃ₁
〜Ｃ₃が、修正される（５６）。この例では、ｊ、ｋ、
及び、ｌは、それぞれ３つの値を有しているので、全体
で、２７の異なる較正係数が存在する可能性がある（５
５）。各較正係数は、電磁波のＤＯＰを計算するため、
各電磁波に適用される。電磁波に関するＤＯＰを計算す
る方法の１つは、式（１）によってそのＳｔｏｋｅｓパ
ラメータを求め、式（２）によってそのＤＯＰを解くこ
とである。１６の異なる電磁波が存在する場合、全ての
電磁波への適用後、各較正係数毎に、１６のＤＯＰが発
生することになる。各較正係数毎に、全てのＤＯＰの範
囲が、１６のＤＯＰにおける最大のＤＯＰから最小のＤ
ＯＰを引いた値として記録される。全ての較正係数を使
い果たすまで、２７の較正係数のうち別の較正係数につ
いて、繰り返し、ＤＯＰの範囲の解が求められる（５
８）。この結果、２７のＤＯＰの範囲が生じることにな
る。２７のＤＯＰ範囲のうち最小のＤＯＰ範囲が選択さ
れ（６２）、その対応するｊ、ｋ、及び、ｌを利用し
て、較正係数がリセットされる（６４）。変数△Ｃは、
その前方の値の１／３まで減少する（６６）。ステップ
５４〜６６を５回繰り返すことによって（６８）、最終
的な較正係数が発生する（７２）。この繰り返し方法
は、較正係数を修正することによって、計算された全電
磁波の偏光の程度が、ごくわずかな範囲内になるか、あ
るいは、ほぼ同じになる。繰り返しを必要としない他の
適合アルゴリズムも、有効に作用する。

【００１９】最適化された較正係数を利用して、偏光計
は、その計器行列Ａを行列（Ａ＊Ｃ）に置き換えること
によって調整されるが（図１のステップ３２）、Ｃは、
最適化較正係数からの較正行列である。調整後、偏光計
は、再較正され、この結果、複数の電磁波の場合、ほぼ
同じ程度の偏光を示すことになる。適合アルゴリズムの
タイプ及び較正係数について解を求めるのに利用される
繰り返し数によって、較正の精度及び速度が影響を受け
る。

【００２０】本発明は、検出器の応答性に、さまざまな
量のドリフトを生じる偏光計の再較正にとりわけ適して
いる。各検出器の応答性が、１０倍以上ドリフトしたと
しても、本発明の方法は、やはり、偏光計の再較性を行
うことができる。検出器の応答性におけるドリフト上限
は、偏光計のノイズである。本発明は、測定すべき電磁
波を利用して、偏光計を再較正するが、偏光計を表す計
器行列Ａは、波長に依存するので、偏光計によって、全
ての波長を測定できるわけではない。しかし、再較正さ
れた偏光計は、既知の標準光源を利用する一般的な方法
によって較正される偏光計に比べると、波長の感度が少
なくとも１／１０になる。このことは、偏光計が同じ電
磁波を利用して再較正された場合、再較正された偏光計
は、その波長を正確に明示することを必要とせずに、電
磁波の偏光を正確に測定できるということになる。

【００２１】入力電磁波を複数の電磁波に変換するため
の実施例の１つは、複屈折材料に入力電磁波をガイドす
ることによって行われる。複屈折材料は、入力電磁波の
偏光の状態を変化させて、複数の電磁波を発生するよう
に調整される。複屈折性の調整が可能な任意の材料を利
用することができる。複屈折材料は、必要な再較正の精
度に基づいて選択される。実施例の１つでは、次の２つ
の条件が満たされると、複屈折材料が選択される。ま
ず、複屈折材料の偏光の主たる状態間における遅延、す
なわち、その差動遅延Ｔｄが、入力電磁波の周期の少な
くとも１／１０である。第２に、その複屈折性が調整さ
れる際における、材料の偏光の主たる状態間の遅延の変
化、すなわち、差動遅延△Ｔｄは、Ｔｃ、すなわち、入
力電磁波のコヒーレンス時間よりも大幅に少なく、例え
ば、△Ｔｄ＜０．０１＊Ｔｃということになる。

【００２２】もう１つの実施例の場合、複屈折材料は、
既知の精度を備える、較正された偏光計を用いて経験に
基づいて選択される。この方法によれば、複屈折材料
は、入力電磁波を複数の電磁波に変換し、そのＤＯＰ
は、較正された偏光計によって測定される。全てのＤＯ
Ｐが、ほぼ同じになれば、複屈折材料が選択され、再較
正の精度は、較正された偏光計の精度と同様になる。本
発明は、純粋に、本発明の利用の典型的な例であること
を意図した、下記の例を考察することによってさらに明
らかになる。

【００２３】図３には、複屈折材料として、光ファイバ
のループを用いた本発明の望ましい実施例が示されてい
る。光ファイバは、機械的複屈折材料、すなわち、応力
複屈折材料である。横方向の圧縮または張力下において
は、光ファイバは、負または正の単軸結晶の特性を示
す。入力電磁波は、光波１０２である。複屈折材料１０
４には、複数の組をなす光ファイバのループが含まれて
おり、各組は、例えば、ループの組１０６がループの組
１０８に接続されるといったように、互いに、直列に接
続される。各組をなすループは、パドルに取り付けられ
て、それを機械的に固定する。ループは、入力電磁波を
受けると、偏光計にとって必要な全ての計算及び調整を
実施するため、コンピュータが組み込まれた偏光計１１
２にガイドする。このタイプの複屈折変換方法について
は、例えば、その開示が参考までに組み込まれている、
１９８０年９月２５日の、ＥｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓＬ
ｅｔｔｅｒｓ第１６巻、第２０号、７７８〜７８０ペー
ジにおける、Ｌｅｆｅｖｒｅによる「Ｓｉｎｇｌｅ−Ｍ
ｏｄｅＦｉｂｒｅＦｒａｃｔｉｏｎａｌＷａｖｅ
ＤｅｖｉｃｅｓａｎｄＰｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ
Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒｓ」に示されている。

【００２４】パドルの配向を変更することによって、入
力電磁波の偏光状態は、変化する。組をなす光学ループ
を備えた各パドルは、ソレノイド１１４のようなソレノ
イドによって、複数の位置まで回転する。こうした望ま
しい回転案の１つは、各ループ組を回転させて、約４５
゜離れた位置を通過させることである。各光学ループ組
が入力電磁波の周期の１／４のＴｄを発生する場合、ル
ープの半径は、下記の式によって決定される：Ｒ＝（８＊π＊ａ＊ｒ²＊Ｎ）／λ ここで、Ｒ＝ループ半径、ａ＝ファイバの材料の光弾性定数、ｒ＝ファイバの半径Ｎ＝各ループ組のループ数 λ＝入力電磁波の波長。

【００２５】実施例の１つでは、各ループが、下記の値
を有する、５組のループを備えている：Ｒ≒１．５″；ａ≒０．１３３（商用グレードの光ファイバの場合）；ｒ≒６２ミクロン；Ｎ＝４このセット・アップを利用して、波長が１．２〜１．６
ミクロンで、Ｔｃが少なくとも１ｐｓの入力電磁波を測
定する。各ループ組によって、約１〜１．５ｆｓのＴｄ
が得られる。入力電磁波の波長が、計器行列Ａを求める
のに利用された電磁波の波長から±３０ｎｍ内にある限
り、入力電磁波の正規化Ｓｔｏｋｅｓパラメータは、±
０．０１の精度で定義することができる。

【００２６】各組が水平位置か、あるいは、水平位置か
ら４５゜の位置につく、５組のループの場合、３２の異
なる電磁波を発生する３２の異なる組み合わせが存在す
る。パドルをフリップして、全部で３２の配向につくよ
うにする時間を含めて、偏光計の再較正を実施するのに
要する時間は、約１６秒である。パドル位置の配向が、
１６だけしか利用されない場合、実際には、全ての時間
がパドルのフリッピングに費やされることになるので、
時間はさらに短縮することが可能であり、計算時間は、
１秒未満になる。４つ以上の電磁波を利用することによ
って、大幅に偏光状態の異なる、少なくとも３つの電磁
波が確実に生じることになる。その位置がソレノイドに
よって制御される光ファイバのループは、偏光計への入
力経路の働きをする同じファイバによって形成すること
ができるので、偏光計に簡単に組み込むことが可能であ
る。

【００２７】次の３つの理由から、偏光計が入力電磁波
の測定プロセスを行っている間に、再較正を実施するこ
とができる：再較正の時間が、極めて短く、パドルは、
偏光計への組み込みが簡単であり、再較正に用いられる
電磁波は、測定すべき電磁波である。測定は、偏光計の
再較正の直後に行われ、測定すべき電磁波にスイッチす
る必要さえないので、入力電磁波の偏光は、極めて正確
に行うことが可能である。図４には、複屈折材料とし
て、ＬｉＮｂＯ₃のような電気光学材料を備えた、本発
明の望ましい実施例が示されている。入力電磁波２０２
は、光波である。ＬｉＮｂＯ₃結晶２０４の複屈折は、
複数の電気信号２１４によって調整される。

【００２８】入力電磁波２０２は、複屈折材料２０４に
結合された光ファイバ２０６によって受信され、電界２
１６が、電気信号２１４によって発生する。光ファイバ
２０６は、また、入力電磁波２０２を偏光計２１２にガ
イドする。各電気信号は、例えば、印加装置２０８のよ
うな印加装置を介して入力電磁波に印加され、入力電磁
波の周期の１／４のＴｄを発生できるように設計されて
いる。電気信号の電圧を変化させることによって、複数
の電磁波を発生するように、光波の偏光状態が調整され
る。レンズ・システムのような他の手段を利用して、入
力電磁波２０２を複屈折材料２０４に、さらに、複屈折
材料２０４から偏光計２１２に結合することが可能であ
る。光ファイバ２０６によって電磁波２０２をガイドす
る代わりに、レンズ・システムの１つが、自由空間にお
いて、入力電磁波２０２の焦点を複屈折材料２０４に合
わせ、もう１つのレンズ・システムが、複屈折材料２０
４から偏光計２１２に電磁波の焦点を合わせる。

【００２９】図５には、複屈折材料として波長板を用い
る、本発明のもう１つの望ましい実施例が示されてい
る。複数の波長板３０４が、複数のモータ３１４によっ
て回転する。モータ３１４によって調整される波長板
は、入力電磁波の偏光状態を変化させて、複数の電磁波
を発生する。３１４のような各波長板は、入力電磁波の
周期の約１／４のＴｄを発生することができるように設
計されている。入力電磁波３０２は、波長板３０４を通
過した後、偏光計３１２に結合される。

【００３０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明を用いるこ
とにより、標準光源を必要とせずに、偏光計の再較正を
迅速かつ容易に行うことができる。また、測定中に、偏
光計の再較正を行うことが可能である。さらに、本発明
による装置は、偏光計に簡単に組み込むことが可能であ
る。さらにまた、本発明による方法は、マイクロ波、ミ
リメートル波、及び、光波を含む、任意のタイプの電磁
波に用いることが可能である。

【図面の簡単な説明】

【図１Ａ】本発明に従って偏光計を較正する方法の一実
施例を示すフローチャートである。

【図１Ｂ】図１Ａのブロック１９として較正係数を計算
する方法を示すフローチャートである。

【図２】図１のブロック１９のように、較正係数を計算
するための適合アルゴリズムをより詳細に示したフロー
チャートである。

【図３】複屈折性材料として光ファイバのループを利用
する、本発明の装置の一実施例を示す図である。

【図４】複屈折性材料としてＬｉＮｂＯ₃のような電気
光学材料を備えた、本発明の装置の第２の実施例を示す
図である。

【図５】複屈折材料として波長板を備えた、本発明の装
置のさらに別の実施例を示す図である。

【符号の説明】

１０２：光波１０４：複屈折材料１０６、１０８：ループの組１１２：偏光計１１４：ソレノイド

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】偏光計を用いて入力電磁波を測定し、該電
磁波の偏光の状態及び程度を表す生値を求めるステップ
と、前記電磁波を変換して、偏光の状態は異なるが、変換後
における偏光の程度が変換前とほぼ同じである別の電磁
波にするステップと、前記変換された電磁波を偏光計により測定し、該電磁波
の偏光の状態及び程度を表す生値を求めるステップと、それぞれ偏光状態が異なる少なくとも３つの電磁波の測
定が済むまで、先行する２つのステップを繰り返すステ
ップと、前記生値を変更して、変更後の生値が、前記各電磁波に
ついてほぼ同じ程度の偏光を示すようにするのに有効な
較正係数を計算するステップと、前記較正係数により偏光計を再較正するステップと、を備えて成る、偏光計の再較正方法。