JPH06177203A - Semiconductor device and manufacture thereof - Google Patents
Semiconductor device and manufacture thereofInfo
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- JPH06177203A JPH06177203A JP4323511A JP32351192A JPH06177203A JP H06177203 A JPH06177203 A JP H06177203A JP 4323511 A JP4323511 A JP 4323511A JP 32351192 A JP32351192 A JP 32351192A JP H06177203 A JPH06177203 A JP H06177203A
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- tape
- support ring
- semiconductor device
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- semiconductor chip
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-
- H10W72/701—
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- Wire Bonding (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 テープキャリアパッケージを用いた半導体装
置に関し, リードのボンディング時に発生する熱の影響
や封樹脂硬化時の収縮に伴う影響を緩和し,また熱抵抗
を下げ,さらにTAB テープを低コストで多層化すること
を目的とする。
【構成】 1)半導体チップの周囲に枠状のサポートリ
ングを有し且つ該サポートリングにその内外を結び延在
する複数のリードが被着されているテープが用いられ,
該サポートリングの内側に延在する該リードは該半導体
チップに接続され, 該半導体チップが樹脂封止された半
導体装置であって,該テープの該サポートリング上にス
ルーホール導体を有する枠状の基板が取りつけられてい
る,2)前記基板の取りつけが,接着剤を用いるか,あ
るいは前記テープに前記スルーホール導体に対応する位
置で孔を開け該スルーホール導体と前記リードを接合す
るか,あるいは両者が併用して行われるように構成す
る。
(57) [Abstract] [Purpose] For a semiconductor device using a tape carrier package, mitigating the effects of heat generated during lead bonding and shrinkage during curing of the sealing resin, and also reduces thermal resistance. The purpose is to make the tape multi-layered at low cost. [Structure] 1) A tape having a frame-shaped support ring around a semiconductor chip, and a plurality of leads attached to and extending from the inside and outside of the support ring are applied to the tape.
A semiconductor device in which the lead extending inside the support ring is connected to the semiconductor chip, and the semiconductor chip is resin-sealed, and has a frame-like shape having a through-hole conductor on the support ring of the tape. A substrate is attached, 2) the attachment of the substrate uses an adhesive, or a hole is formed in the tape at a position corresponding to the through-hole conductor, and the through-hole conductor and the lead are joined, or Both are configured to be performed in combination.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明はTAB(Tape Automated Bon
ding) テープを用い樹脂封止する半導体装置と製造方法
に関する。The present invention relates to TAB (Tape Automated Bonus).
ding) The present invention relates to a semiconductor device in which a tape is used for resin sealing and a manufacturing method.
【0002】近年, 電子機器の小型化および軽薄化によ
り, テープキャリアパッケージ(TCP;Tape Carrier Pac
kage) が多用されており,その性能と信頼性の向上と原
価の低減が要望されている。そのため,TAB テープの新
たな構造が求められている。In recent years, with the miniaturization and thinning of electronic devices, tape carrier packages (TCP; Tape Carrier Pac
Kage) is frequently used, and there is a demand for improved performance and reliability and cost reduction. Therefore, a new structure of TAB tape is required.
【0003】[0003]
【従来の技術】図2(A),(B) は従来例によるTAB テープ
の説明図である。図2(B) はTAB テープの平面図で,図
2(A) は図2(B) の矢印で示される箇所の断面図であ
る。2. Description of the Related Art FIGS. 2A and 2B are explanatory views of a conventional TAB tape. 2 (B) is a plan view of the TAB tape, and FIG. 2 (A) is a sectional view of a portion indicated by an arrow in FIG. 2 (B).
【0004】図において, 1はTAB テープ(ポリイミド
膜等), 1AはTAB テープのリードを保持する部分でサポ
ートリング, 1Bはサポートリングを保持するサポートバ
ー,1CはTAB テープ上に形成された試験用パッド, 2は
インナリード, 3はアウタリード, 4はリードをTAB テ
ープに接着するエポキシ系接着剤, 5は半導体チップ,
6は封止樹脂, 7はソルダレジストである。In the figure, 1 is a TAB tape (polyimide film or the like), 1A is a support ring for holding the lead of the TAB tape, 1B is a support bar for holding the support ring, and 1C is a test formed on the TAB tape. Pad, 2 inner lead, 3 outer lead, 4 epoxy adhesive to attach lead to TAB tape, 5 semiconductor chip,
6 is a sealing resin, and 7 is a solder resist.
【0005】インナリード 2は半導体チップ 5上に形成
されたボンディングバンプにインナリードボンディング
(ILB) によって接合され,アウタリード 3はTAB テープ
1上に設けられた試験用パッド1Cに接続されており,こ
の試験用パッドを利用して試験を行った後アウタリード
3はサポートリングの直ぐ外側でアウタリードボンディ
ング(0LB) により実装され, ボンディング部の外側でリ
ード切断を行いチップ周辺のTAB テープ不要部が除去さ
れる。The inner leads 2 are bonded to the bonding bumps formed on the semiconductor chip 5 by inner lead bonding.
(ILB) and outer lead 3 is TAB tape
It is connected to the test pad 1C provided on the upper part of the 1 and after the test is performed using this test pad, the outer lead
3 is mounted by outer lead bonding (0LB) just outside the support ring, and leads are cut outside the bonding part to remove the TAB tape unnecessary part around the chip.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】上記のILB 時の熱によ
るポリイミド膜の収縮によりインナリードの位置ズレや
反り等によりバンプとの接合不良を起こしたり,また,
0LB 時の熱によるポリイミド膜の収縮や, 樹脂封止時の
樹脂硬化に伴い起こる収縮によるパッケージ自体の反り
を発生していた。The shrinkage of the polyimide film due to the heat at the time of ILB causes the inner leads to be misaligned or warped, resulting in defective bonding with the bumps.
The polyimide film shrinks due to heat at 0LB, and the package itself warps due to shrinkage that accompanies resin curing during resin encapsulation.
【0007】また,テープキャリアパッケージはリード
等の放熱面積が小さいことから熱抵抗が高いという欠点
がある。さらに, TAB テープを多層化する場合はコスト
高となっていた。Further, the tape carrier package has a drawback in that it has a high heat resistance because the heat radiation area of the leads and the like is small. Furthermore, the cost was high when the TAB tape was multi-layered.
【0008】本発明はテープキャリアパッケージを用い
た半導体装置において,リードのボンディング時に発生
する熱の影響や封樹脂硬化時の収縮に伴う影響を緩和
し,また熱抵抗を下げ,さらにTAB テープを低コストで
多層化できるようにすることを目的とする。According to the present invention, in a semiconductor device using a tape carrier package, the effects of heat generated at the time of bonding the leads and the effects caused by shrinkage when the sealing resin is cured are reduced, the thermal resistance is reduced, and the TAB tape is made low. The purpose is to enable multiple layers at cost.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】上記課題の解決は,1)
半導体チップの周囲に枠状のサポートリングを有し且つ
該サポートリングにその内外を結び延在する複数のリー
ドが被着されているテープが用いられ, 該サポートリン
グの内側に延在する該リードは該半導体チップに接続さ
れ, 該半導体チップが樹脂封止された半導体装置であっ
て,該テープの該サポートリング上にスルーホール導体
を有する枠状の基板が取りつけられている半導体装置,
あるいは2)請求項1記載の半導体装置の前記基板の取
りつけが,接着剤を用いるか,あるいは前記テープに前
記スルーホール導体に対応する位置で孔を開け該スルー
ホール導体と前記リードを接合するか,あるいは両者が
併用して行われる半導体装置の製造方法により達成され
る。[Means for Solving the Problems] 1)
A tape having a frame-shaped support ring around a semiconductor chip and having a plurality of leads attached to and extending from the inside and outside of the support ring is used, and the leads extending inside the support ring are used. Is a semiconductor device connected to the semiconductor chip, the semiconductor chip being resin-sealed, wherein a frame-shaped substrate having a through-hole conductor is mounted on the support ring of the tape,
Or 2) whether the substrate of the semiconductor device according to claim 1 is mounted by using an adhesive, or whether a hole is formed in the tape at a position corresponding to the through-hole conductor and the through-hole conductor and the lead are joined. , Or a method of manufacturing a semiconductor device in which both are used in combination.
【0010】[0010]
【作用】本発明では,TAB テープのサポートリング上に
スルーホール導体を有する枠状の基板を設けることによ
り, 半導体チップで発生する熱をこの基板に逃がすこと
により半導体装置の熱抵抗を下げ,また,サポートリン
グが基板で補強されるため反りのないテープキャリアパ
ッケージが得られた。また,枠状の基板はサポートリン
グを保持するサポートバーの上にも一部接着されるた
め,サポートバーの補強も行っている。さらに,基板に
回路パターンを形成することにより半導体装置に電気的
特性を付加でき,低コストで多層TAB テープと同等の性
能を与えることができる。In the present invention, by providing a frame-shaped substrate having through-hole conductors on the support ring of the TAB tape, the heat generated in the semiconductor chip is released to this substrate to lower the thermal resistance of the semiconductor device, and As the support ring is reinforced by the substrate, a tape carrier package with no warping was obtained. In addition, the frame-shaped substrate is also partially bonded onto the support bar that holds the support ring, so the support bar is also reinforced. Furthermore, by forming a circuit pattern on the substrate, electrical characteristics can be added to the semiconductor device, and the performance equivalent to that of a multilayer TAB tape can be provided at low cost.
【0011】[0011]
【実施例】図1(A) 〜(C) は本発明の実施例によるTAB
テープの説明図である。図1(C) はTAB テープの平面図
で,図1(A) は図1(C) の矢印で示される箇所の断面
図,図1(B) は拡大断面図である。Embodiments FIGS. 1 (A) to 1 (C) show a TAB according to an embodiment of the present invention.
It is explanatory drawing of a tape. FIG. 1 (C) is a plan view of the TAB tape, FIG. 1 (A) is a sectional view of a portion indicated by an arrow in FIG. 1 (C), and FIG. 1 (B) is an enlarged sectional view.
【0012】図において, 1はTAB テープ(ポリイミド
膜等), 1AはTAB テープのリードを保持する部分でサポ
ートリング, 1Bはサポートリングを保持するサポートバ
ー,1CはTAB テープ上に形成された試験用パッド, 2 は
インナリード, 3はアウタリード, 4はリードをTAB テ
ープに接着するエポキシ系接着剤, 5は半導体チップ,
6は封止樹脂, 8は本発明の基板で,例えばガラスエポ
キシ系または金属ベース等からなる基板, 8Aはスルーホ
ール導体(VIA), 8Bは回路パターンである。In the figure, 1 is a TAB tape (polyimide film, etc.), 1A is a support ring that holds the lead of the TAB tape, 1B is a support bar that holds the support ring, and 1C is a test formed on the TAB tape. Pad, 2 inner lead, 3 outer lead, 4 epoxy adhesive to attach lead to TAB tape, 5 semiconductor chip,
6 is a sealing resin, 8 is a substrate of the present invention, for example, a substrate made of glass epoxy or metal base, 8A is a through-hole conductor (VIA), and 8B is a circuit pattern.
【0013】ここで,枠状基板をサポートリングに取り
つける方法は以下のようにする。 (1) 枠状基板のスルーホール導体とテープ上のリードと
をレーザ溶接する。 (2) エポキシ系接着剤で枠状基板をサポートリングに接
着する。The method of attaching the frame-shaped substrate to the support ring is as follows. (1) Laser welding the through-hole conductor of the frame-shaped substrate and the lead on the tape. (2) Adhere the frame-shaped substrate to the support ring with an epoxy adhesive.
【0014】このいずれかの方法または両方の方法を用
いて, サポートリング上に枠状基板を設ける。また,基
板の取りつけ時期は,ILB 前に取りつける場合と,ILB後
に取りつける場合と二通りなる。A frame-shaped substrate is provided on the support ring by using either one or both of these methods. The board can be mounted either before or after the ILB.
【0015】このように, 枠状基板をサポートリング上
に設けることにより, ILO 時の熱によるポリイミドの収
縮により発生するインナリードの位置ズレやバンプとの
接合不良がなくなった。また,OLB 時のポリイミドの収
縮や樹脂封止時の樹脂硬化収縮によるパッケージ自体の
反りの発生を抑制することができた。As described above, by providing the frame-shaped substrate on the support ring, the positional deviation of the inner leads and the bonding failure with the bumps caused by the contraction of the polyimide due to the heat at the time of ILO are eliminated. In addition, it was possible to suppress warpage of the package itself due to shrinkage of polyimide during OLB and shrinkage of resin curing during resin encapsulation.
【0016】また, 基板の回路パターンにより, 放熱面
積が大きくなって放熱性を向上し,電気的特性を向上さ
せることができた。さらに, 基板上に形成する回路パタ
ーンを多層化することにより, 低コストで多層TAB テー
プと同等の性能を持つテープキャリアパッケージが得ら
れた。Further, the circuit pattern of the substrate makes it possible to increase the heat dissipation area, improve heat dissipation, and improve the electrical characteristics. Furthermore, by making the circuit pattern formed on the substrate multi-layered, a tape carrier package with the same performance as the multi-layer TAB tape was obtained at low cost.
【0017】[0017]
【発明の効果】本発明によれば, テープキャリアパッケ
ージを用いた半導体装置において,リードのボンディン
グ時に発生する熱の影響や封樹脂硬化時の収縮に伴う影
響を緩和し,また半導体装置の熱抵抗を下げ,さらにTA
B テープを低コストで多層化できるようになった。According to the present invention, in a semiconductor device using a tape carrier package, the influence of heat generated during bonding of leads and the contraction caused when the sealing resin is cured are alleviated, and the thermal resistance of the semiconductor device is reduced. Lower, and TA
B tape can now be multi-layered at low cost.
【図1】 本発明の実施例によるTAB テープの説明図FIG. 1 is an explanatory view of a TAB tape according to an embodiment of the present invention.
【図2】 従来例によるTAB テープの説明図[Fig. 2] Illustration of a conventional TAB tape
1 TAB テープ(ポリイミド膜等) 1A TABテープのリードを保持する部分でサポートリン
グ 1B サポートリングを保持するサポートバー 1C TAB テープ上に形成された試験用パッド 2 インナリード 3 アウタリード 4 リードをTAB テープに接着するエポキシ系接着剤 5 半導体チップ 6 封止樹脂 8 本発明の枠状基板 8A スルーホール導体(VIA) 8B 回路パターン1 TAB tape (polyimide film, etc.) 1A Support ring for holding the lead of TAB tape 1B Support bar holding the support ring 1C Test pad formed on TAB tape 2 Inner lead 3 Outer lead 4 Lead to TAB tape Epoxy adhesive to be bonded 5 Semiconductor chip 6 Encapsulation resin 8 Frame substrate of the present invention 8A Through hole conductor (VIA) 8B Circuit pattern
Claims (2)
ングを有し且つ該サポートリングにその内外を結び延在
する複数のリードが被着されているテープが用いられ,
該サポートリングの内側に延在する該リードは該半導体
チップに接続され, 該半導体チップが樹脂封止された半
導体装置であって,該テープの該サポートリング上にス
ルーホール導体を有する枠状の基板が取りつけられてい
ることを特徴とする半導体装置。1. A tape having a frame-shaped support ring around a semiconductor chip, and a plurality of leads attached to extend inside and outside the support ring are attached to the tape.
A semiconductor device in which the lead extending inside the support ring is connected to the semiconductor chip, and the semiconductor chip is resin-sealed, and has a frame-like shape having a through-hole conductor on the support ring of the tape. A semiconductor device having a substrate attached thereto.
取りつけが,接着剤を用いるか,あるいは前記テープに
前記スルーホール導体に対応する位置で孔を開け該スル
ーホール導体と前記リードを接合するか,あるいは両者
が併用して行われることを特徴とする半導体装置の製造
方法。2. The semiconductor device according to claim 1, wherein the substrate is mounted by using an adhesive, or a hole is formed in the tape at a position corresponding to the through-hole conductor, and the through-hole conductor and the lead are joined. A method of manufacturing a semiconductor device, characterized in that both are performed or both are performed in combination.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32351192A JP3278938B2 (en) | 1992-12-03 | 1992-12-03 | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32351192A JP3278938B2 (en) | 1992-12-03 | 1992-12-03 | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06177203A true JPH06177203A (en) | 1994-06-24 |
| JP3278938B2 JP3278938B2 (en) | 2002-04-30 |
Family
ID=18155508
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32351192A Expired - Fee Related JP3278938B2 (en) | 1992-12-03 | 1992-12-03 | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3278938B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09306947A (en) * | 1996-05-10 | 1997-11-28 | Nec Corp | Semiconductor device |
-
1992
- 1992-12-03 JP JP32351192A patent/JP3278938B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09306947A (en) * | 1996-05-10 | 1997-11-28 | Nec Corp | Semiconductor device |
| US5977617A (en) * | 1996-05-10 | 1999-11-02 | Nec Corporation | Semiconductor device having multilayer film carrier |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3278938B2 (en) | 2002-04-30 |
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