JPH06169134A - Semiconductor laser and manufacture thereof - Google Patents
Semiconductor laser and manufacture thereofInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、電流通路のためのスト
ライプ溝を設けたインナーストライプ構造の半導体レー
ザ及びその製造方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor laser having an inner stripe structure having a stripe groove for a current path and a method for manufacturing the same.
【0002】[0002]
【従来の技術】インナーストライプ構造の半導体レーザ
にあっては、ストライプ溝のパターンに合わせて電極を
パターン形成する必要があり、従来の製造方法では、所
謂、例えば溝出しという工程が必須である。図6,図7
は、この溝出し工程を含む従来のこのタイプの半導体レ
ーザの製造方法を示す斜視図である。以下、図6,図7
を参照して従来の製造方法について説明する。2. Description of the Related Art In a semiconductor laser having an inner stripe structure, it is necessary to form electrodes in accordance with the pattern of stripe grooves, and in the conventional manufacturing method, a so-called groove forming step is essential. 6 and 7
FIG. 6 is a perspective view showing a conventional method for manufacturing a semiconductor laser of this type including this groove forming step. Hereinafter, FIG. 6 and FIG.
A conventional manufacturing method will be described with reference to FIG.
【0003】まず、基板11上に電流阻止層12を形成した
後、等ピッチにて複数のストライプ溝20をメサ方向に形
成する(図6(a))。次に、電流阻止層12上に、p−
クラッド層13, 活性層14, n−クラッド層15, キャップ
層16からなるダブルヘテロ構造を積層形成する(図6
(b))。ダブルヘテロ構造にて表面全域が覆われてい
て、ストライプ溝20のパターンが分からないので、選択
エッチングにより、p−クラッド層13, 活性層14, n−
クラッド層15, キャップ層16からなる一部のダブルヘテ
ロ構造を除去してその部分のストライプ溝20を露出させ
る、所謂、溝出し工程を実施する(図7(c))。露出
したストライプ溝20のパターンを参照して、残存する部
分のダブルヘテロ構造上に、埋め込まれたストライプ溝
20に合わせた等ピッチにて複数の一方の電極17をパター
ン形成し、また、基板11の裏面全域にに他方の電極18を
形成する(図7(d))。First, after forming the current blocking layer 12 on the substrate 11, a plurality of stripe grooves 20 are formed at equal pitches in the mesa direction (FIG. 6A). Then, on the current blocking layer 12, p−
A double hetero structure is formed by laminating a clad layer 13, an active layer 14, an n-clad layer 15, and a cap layer 16 (FIG. 6).
(B)). Since the entire surface is covered with the double hetero structure and the pattern of the stripe groove 20 is unknown, the p-clad layer 13, active layer 14, n-
A so-called grooving step is carried out in which a part of the double hetero structure composed of the clad layer 15 and the cap layer 16 is removed to expose the stripe groove 20 in that part (FIG. 7C). Referring to the pattern of the exposed stripe groove 20, the stripe groove embedded on the remaining double hetero structure
A plurality of one electrodes 17 are patterned at an equal pitch according to 20, and the other electrode 18 is formed over the entire back surface of the substrate 11 (FIG. 7D).
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の製造方
法では、例えば溝出し工程が必須であり、この溝出し工
程はアンモニア系のエッチャントを含む数種類のエッチ
ング液を必要とし、全体として工程数が多く製造に長時
間を要するという問題がある。また、ダブルヘテロ構造
成長後にエッチングを施すので、ダブルヘテロ構造表面
にピンホールがあったり、またはエッチング時のマスキ
ングが不備である場合には、残存すべきダブルヘテロ構
造部分も広い範囲にわたってエッチング液に侵されて、
製造した半導体レーザの特性が悪く、歩留りが低くなる
という問題もある。In the above-mentioned conventional manufacturing method, for example, a grooving step is indispensable, and this grooving step requires several kinds of etching solutions containing an ammonia-based etchant, and the total number of steps is In many cases, there is a problem that it takes a long time to manufacture. Also, since etching is performed after the growth of the double hetero structure, if there are pinholes on the surface of the double hetero structure or if the masking during etching is inadequate, the portion of the double hetero structure that should remain will also be exposed to the etching solution over a wide range. Being invaded,
There is also a problem that the characteristics of the manufactured semiconductor laser are poor and the yield is low.
【0005】本発明は斯かる事情に鑑みてなされたもの
であり、溝出し工程を不要として工程数を削減すること
ができ、また上述したようなエッチングを不要として歩
留りの向上を図ることができる半導体レーザ及びその製
造方法を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of such circumstances, and the number of steps can be reduced by eliminating the groove forming step, and the yield can be improved by eliminating the above-described etching. An object of the present invention is to provide a semiconductor laser and a manufacturing method thereof.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明に係る半導体レー
ザは、電流通路のためのストライプ溝を基板上に有した
インナーストライプ構造の半導体レーザにおいて、前記
基板が傾斜基板であることを特徴とする。A semiconductor laser according to the present invention is an inner stripe structure semiconductor laser having a stripe groove for a current passage on a substrate, wherein the substrate is an inclined substrate. .
【0007】本発明に係る半導体レーザの製造方法は、
電流通路のためのストライプ溝を有したインナーストラ
イプ構造の半導体レーザを製造する方法において、傾斜
基板上に電流阻止層を形成する工程と、該電流阻止層に
前記ストライプ溝を形成する工程と、前記電流阻止層上
にダブルヘテロ構造を形成する工程と、形成したダブル
ヘテロ構造の表面モフォロジに合わせてパターン電極を
形成する工程とを有することを特徴とする。A method of manufacturing a semiconductor laser according to the present invention is
In a method for manufacturing a semiconductor laser having an inner stripe structure having a stripe groove for a current path, a step of forming a current blocking layer on a tilted substrate, a step of forming the stripe groove in the current blocking layer, The method is characterized by including a step of forming a double hetero structure on the current blocking layer and a step of forming a pattern electrode in accordance with the surface morphology of the formed double hetero structure.
【0008】[0008]
【作用】本発明では、基板として傾斜基板を使用する。
傾斜基板を使用して、ストライプ溝形成後にダブルヘテ
ロ構造を例えば液相成長により積層形成すると、その表
面にストライプ溝のパターン(位置)を明瞭に示す表面
モフォロジが現れる。そして、その表面モフォロジに応
じてパターン電極を形成する。ダブルヘテロ構造をエッ
チング除去することなく、表面モフォロジからストライ
プ溝のパターンを認識できるので、容易にパターン電極
をストライプ溝に位置合わせできる。In the present invention, a tilted substrate is used as the substrate.
When a double hetero structure is laminated by, for example, liquid phase growth after forming a stripe groove using an inclined substrate, surface morphology clearly showing the pattern (position) of the stripe groove appears on the surface. Then, a pattern electrode is formed according to the surface morphology. Since the pattern of the stripe groove can be recognized from the surface morphology without removing the double hetero structure by etching, the pattern electrode can be easily aligned with the stripe groove.
【0009】[0009]
【実施例】以下、本発明をその実施例を示す図面に基づ
いて具体的に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be specifically described below with reference to the drawings showing the embodiments.
【0010】図1は、本発明に係る半導体レーザの構造
を示す斜視図である。図1において、1は(001)面
に対して0度より大きくて10数度以下だけ傾斜したGa
As傾斜基板である。本実施例では、(001)面から
0.5 度傾斜したGaAs傾斜基板である。傾斜基板1上
にはストライプ溝10が等ピッチにて設けられたn−Ga
As層(膜厚:1.2 μm)からなる電流阻止層2が積層
されている。電流阻止層2上には、p−Al0.4 Ga
0.6 As層(膜厚:0.35μm)のp−クラッド層3,ア
ンドープAl0.06Ga0.94As層(膜厚:0.05μm)の
活性層4,n−Al0.4 Ga0.6 As層(膜厚:2.5 μ
m)のn−クラッド層5,n−GaAs層(膜厚:3.5
μm)のキャップ層6からなるダブルヘテロ構造が積層
されている。キャップ層6上には、パターン電極である
n側電極7が、ストライプ溝10のパターンに合わせてパ
ターン形成されており、一方、傾斜基板1の裏面全域に
はp側電極8が形成されている。FIG. 1 is a perspective view showing the structure of a semiconductor laser according to the present invention. In FIG. 1, 1 is Ga that is inclined from the (001) plane by more than 0 degree and 10 degrees or less.
It is an As tilted substrate. In this embodiment, from the (001) plane
It is a GaAs tilted substrate tilted by 0.5 degree. N-Ga in which stripe grooves 10 are provided at equal pitches on the inclined substrate 1
A current blocking layer 2 made of an As layer (film thickness: 1.2 μm) is laminated. On the current blocking layer 2, p-Al 0.4 Ga is formed.
0.6- As layer (film thickness: 0.35 μm) p-cladding layer 3, undoped Al 0.06 Ga 0.94 As layer (film thickness: 0.05 μm) active layer 4, n-Al 0.4 Ga 0.6 As layer (film thickness: 2.5 μ)
m) n-clad layer 5, n-GaAs layer (film thickness: 3.5
μm) of the double heterostructure including the cap layer 6 is laminated. An n-side electrode 7, which is a pattern electrode, is formed on the cap layer 6 according to the pattern of the stripe groove 10, while a p-side electrode 8 is formed on the entire back surface of the tilted substrate 1. .
【0011】次に、図1に示すような構造の半導体レー
ザを製造するための本発明に係る製造方法について説明
する。図2,図3は、この製造方法の工程を示す斜視図
である。Next, a manufacturing method according to the present invention for manufacturing a semiconductor laser having a structure as shown in FIG. 1 will be described. 2 and 3 are perspective views showing steps of this manufacturing method.
【0012】まず、0.5 度以上のGaAs傾斜基板1上
に電流阻止層(n−GaAs層)2を気相成長法を用い
て膜厚1.2 μm成長させる(図2(a))。何れの方向
に傾斜していても、ストライプ溝10のパターンを示す表
面モフォロジが見られるので、(001)面から任意の
方向に傾斜したGaAs傾斜基板1を使用できる。本実
施例では、〈011〉結晶軸方向に傾斜している。次
に、100 μmの等ピッチにて複数のストライプ溝10(深
さ:1.4 μm, 幅:2.8 μm)をメサ方向に形成する
(図2(b))。First, a current blocking layer (n-GaAs layer) 2 is grown to a thickness of 1.2 μm on a GaAs inclined substrate 1 of 0.5 ° or more by a vapor phase growth method (FIG. 2A). Since the surface morphology showing the pattern of the stripe groove 10 can be seen in any direction, the GaAs tilted substrate 1 tilted in any direction from the (001) plane can be used. In the present embodiment, it is tilted in the <011> crystal axis direction. Next, a plurality of stripe grooves 10 (depth: 1.4 μm, width: 2.8 μm) are formed in the mesa direction at an equal pitch of 100 μm (FIG. 2B).
【0013】次いで、電流阻止層2上に、液相成長法を
用いて、p−クラッド層(p−Al0.4 Ga0.6 As
層)3, 活性層(u−Al0.06Ga0.94As層)4, n
−クラッド層(n−Al0.4 Ga0.6 As層)5, キャ
ップ層(n−GaAs層)6を、上記膜厚だけ成長させ
て、ダブルヘテロ構造を積層形成する(図3(c))。
この際の条件は、成長温度が820 ℃, 冷却速度が0.5 ℃
/分であり、各層の成長時間はそれぞれ80秒, 1秒, 10
20秒, 900 秒である。そうすると、ダブルヘテロ構造の
表面モフォロジに、ストライプ溝10に合ったパターンラ
インAが見られる。図4は、本発明のように、傾斜基板
上にストライプ溝を形成した後、液相成長法によりダブ
ルヘテロ構造を成長させた後の表面写真であり、ストラ
イプ溝の上にその影響を受けた表面モフォロジが明瞭に
観察され、ストライプ溝の位置を明確に示している。図
4において、白っぽくライン状に見える部分が、ストラ
イプ溝の影響を受けた部分(図3(c)のAに相当)で
ある。図5は、傾斜していない通常の基板上に同様の処
理を施した場合の表面写真であり、その表面モフォロジ
にはストライプ溝の影響が見られない。Then, a p-clad layer (p-Al 0.4 Ga 0.6 As) is formed on the current blocking layer 2 by a liquid phase growth method.
Layer) 3, active layer (u-Al 0.06 Ga 0.94 As layer) 4, n
- cladding layer (n-Al 0.4 Ga 0.6 As layer) 5, a cap layer (n-GaAs layer) 6, is grown by the film thickness, is stacked double heterostructure (Figure 3 (c)).
The growth temperature is 820 ℃ and the cooling rate is 0.5 ℃.
/ Min, and the growth time of each layer is 80 seconds, 1 second, 10
20 seconds and 900 seconds. Then, the pattern line A matching the stripe groove 10 can be seen in the surface morphology of the double hetero structure. FIG. 4 is a surface photograph after forming a stripe groove on an inclined substrate and growing a double hetero structure by a liquid phase growth method as in the present invention, which was affected by the stripe groove. The surface morphology is clearly observed, clearly indicating the position of the stripe groove. In FIG. 4, a whitish line-like portion is a portion affected by the stripe groove (corresponding to A in FIG. 3C). FIG. 5 is a photograph of the surface of a non-tilted ordinary substrate which has been subjected to the same treatment, and the surface morphology shows no influence of stripe grooves.
【0014】ダブルヘテロ構造表面のパターンラインA
に沿わせてn側電極7をパターン形成し、また、傾斜基
板1の裏面全域に他方のp側電極8を形成して、図1に
示すような半導体レーザを製造する(図3(d))。Pattern line A on the surface of the double hetero structure
To form a semiconductor laser as shown in FIG. 1 by patterning the n-side electrode 7 along the line and forming the other p-side electrode 8 over the entire rear surface of the tilted substrate 1 (FIG. 3D). ).
【0015】なお、使用する傾斜基板の傾斜角が大きい
場合、または、成長させるダブルヘテロ構造の膜厚が大
きい場合には、ストライプ溝の直上でなく少しずれた位
置にストライプ溝の影響を受けた表面モフォロジは観察
されるが、この場合にもストライプ溝の影響による表面
モフォロジの規則性は保たれるので、上述の実施例と同
様に、容易にパターン電極を形成できる。If the tilt angle of the tilted substrate used is large, or if the double hetero structure to be grown has a large film thickness, the stripe groove is affected not at a position directly above the stripe groove but at a position slightly displaced from the stripe groove. Although the surface morphology is observed, the regularity of the surface morphology due to the influence of the stripe groove is maintained in this case as well, so that the pattern electrode can be easily formed as in the above-described embodiments.
【0016】なお、上述の実施例では単一ストライプ構
造の半導体レーザについて説明したが、アレイ構造の半
導体レーザ,ブロードエリア半導体レーザ,マルチビー
ム半導体レーザ等についても、本発明を適用できること
は勿論である。Although the semiconductor laser having a single stripe structure has been described in the above embodiments, the present invention can be applied to a semiconductor laser having an array structure, a broad area semiconductor laser, a multi-beam semiconductor laser and the like. .
【0017】[0017]
【発明の効果】以上詳述したように、本発明では傾斜基
板を使用して容易にストライプ溝のパターンを確認でき
るので、溝出し工程の除去による工程数の削減を図って
製造時間を短縮できる、また、溝出し工程におけるエッ
チング処理に伴う弊害を受けることがなくて歩留りの向
上を図れる等、本発明は優れた効果を奏する。As described above in detail, in the present invention, since the pattern of the stripe groove can be easily confirmed by using the inclined substrate, the number of steps can be reduced by eliminating the groove forming step and the manufacturing time can be shortened. In addition, the present invention has excellent effects such that the yield is improved without being affected by the etching process in the groove forming process.
【図1】本発明に係る半導体レーザの構造を示す斜視図
である。FIG. 1 is a perspective view showing a structure of a semiconductor laser according to the present invention.
【図2】本発明に係る半導体レーザの製造方法の工程を
示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing steps of a method for manufacturing a semiconductor laser according to the present invention.
【図3】本発明に係る半導体レーザの製造方法の工程を
示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing a step of a method for manufacturing a semiconductor laser according to the present invention.
【図4】傾斜基板上にダブルヘテロ層を成長させた表面
写真である。FIG. 4 is a surface photograph of a double hetero layer grown on a tilted substrate.
【図5】通常の非傾斜基板上にダブルヘテロ層を成長さ
せた表面写真である。FIG. 5 is a surface photograph of a double hetero layer grown on a conventional non-tilted substrate.
【図6】従来の半導体レーザの製造方法の工程を示す斜
視図である。FIG. 6 is a perspective view showing steps of a conventional method for manufacturing a semiconductor laser.
【図7】従来の半導体レーザの製造方法の工程を示す斜
視図である。FIG. 7 is a perspective view showing steps of a conventional method for manufacturing a semiconductor laser.
1 GaAs傾斜基板 2 電流阻止層(n−GaAs層) 3 p−クラッド層(p−Al0.4 Ga0.6 As層) 4 活性層(u−Al0.06Ga0.94As層) 5 n−クラッド層(n−Al0.4 Ga0.6 As層) 6 キャップ層(n−GaAs層) 7 n側電極 8 p側電極 10 ストライプ溝 A 表面モフォロジに見えるパターンライン1 GaAs inclined substrate 2 current blocking layer (n-GaAs layer) 3 p-clad layer (p-Al 0.4 Ga 0.6 As layer) 4 active layer (u-Al 0.06 Ga 0.94 As layer) 5 n-clad layer (n- Al 0.4 Ga 0.6 As layer 6 Cap layer (n-GaAs layer) 7 n-side electrode 8 p-side electrode 10 Stripe groove A Pattern line that looks like surface morphology
Claims (2)
に有したインナーストライプ構造の半導体レーザにおい
て、前記基板が傾斜基板であることを特徴とする半導体
レーザ。1. A semiconductor laser having an inner stripe structure having a stripe groove for a current path on a substrate, wherein the substrate is an inclined substrate.
インナーストライプ構造の半導体レーザを製造する方法
において、傾斜基板上に電流阻止層を形成する工程と、
該電流阻止層に前記ストライプ溝を形成する工程と、前
記電流阻止層上にダブルヘテロ構造を形成する工程と、
形成したダブルヘテロ構造の表面モフォロジに合わせて
パターン電極を形成する工程とを有することを特徴とす
る半導体レーザの製造方法。2. A method of manufacturing a semiconductor laser having an inner stripe structure having a stripe groove for a current path, the method comprising forming a current blocking layer on a tilted substrate,
Forming the stripe groove in the current blocking layer, forming a double heterostructure on the current blocking layer,
And a step of forming a pattern electrode according to the surface morphology of the formed double hetero structure.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34547092A JPH06169134A (en) | 1992-11-30 | 1992-11-30 | Semiconductor laser and manufacture thereof |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34547092A JPH06169134A (en) | 1992-11-30 | 1992-11-30 | Semiconductor laser and manufacture thereof |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06169134A true JPH06169134A (en) | 1994-06-14 |
Family
ID=18376819
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34547092A Pending JPH06169134A (en) | 1992-11-30 | 1992-11-30 | Semiconductor laser and manufacture thereof |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06169134A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002113836A (en) * | 2000-06-30 | 2002-04-16 | Heidelberger Druckmas Ag | Apparatus for forming image on plate and inter-sleeve raster scanning method |
-
1992
- 1992-11-30 JP JP34547092A patent/JPH06169134A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002113836A (en) * | 2000-06-30 | 2002-04-16 | Heidelberger Druckmas Ag | Apparatus for forming image on plate and inter-sleeve raster scanning method |
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