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JPH061173B2 - 曲面性状検査装置 - Google Patents

曲面性状検査装置

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Publication number
JPH061173B2
JPH061173B2 JP63112054A JP11205488A JPH061173B2 JP H061173 B2 JPH061173 B2 JP H061173B2 JP 63112054 A JP63112054 A JP 63112054A JP 11205488 A JP11205488 A JP 11205488A JP H061173 B2 JPH061173 B2 JP H061173B2
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JP
Japan
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light
hue
curved surface
unit
inspection
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP63112054A
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English (en)
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JPH01282410A (ja
Inventor
茂樹 小林
保明 谷村
輝久 四ツ谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Tateisi Electronics Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Tateisi Electronics Co
Priority to JP63112054A priority Critical patent/JPH061173B2/ja
Priority to EP95113574A priority patent/EP0687901B1/en
Priority to SG1996003459A priority patent/SG47652A1/en
Priority to SG1996004112A priority patent/SG47736A1/en
Priority to US07/601,722 priority patent/US5245671A/en
Priority to AU35436/89A priority patent/AU3543689A/en
Priority to EP95113579A priority patent/EP0685732B1/en
Priority to SG1996003498A priority patent/SG66545A1/en
Priority to PCT/JP1989/000470 priority patent/WO1989011093A1/ja
Priority to DE68925901T priority patent/DE68925901T2/de
Priority to AT89905170T priority patent/ATE135110T1/de
Priority to DE68929062T priority patent/DE68929062T2/de
Priority to KR1019900700025A priority patent/KR920006031B1/ko
Priority to EP89905170A priority patent/EP0413817B1/en
Priority to DE68929481T priority patent/DE68929481T2/de
Publication of JPH01282410A publication Critical patent/JPH01282410A/ja
Publication of JPH061173B2 publication Critical patent/JPH061173B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N21/95684Patterns showing highly reflecting parts, e.g. metallic elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features

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  • Pathology (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この発明は、表面の曲面性状が異なる方向に配向してい
る多数の曲面要素の集合より成る鏡面反射性の曲面体に
つき、各曲面要素の配向生を検出するのに適用される曲
面性状検査装置に関連し、殊にこの発明は、基板上に実
装された部品につき、そのハンダ付け部分の形状などを
検査するのに好適な曲面性状検査装置に関する。
〈従来の技術〉 多配向性曲面をもつ鏡面反射性の曲面体として、基板上
に実装された部品におけるハンダ付け部位の表面形状が
その代表例に挙げられる。従来このハンダ付け部位は、
目視検査により検査されており、ハンダ付け状態の良
否、すなわちハンダの有無、量、溶解性、短絡、導通不
良などがこの目視検査によって判定されている。
ところがこのような目視検査による方法では、検査ミス
の発生が避けられず、判定結果も検査する者によりまち
まちであり、また検査処理能力にも限界がある。
そこで近年、この種の検査を自動的に行うことができる
自動検査装置が各種提案されている。
ところでハンダ付け部位の表面形状は、3次元の拡がり
をもつ立体形状であって、これを検査するには、3次元
の形状情報を検出できることが不可欠の条件となる。
第3図はこの条件を満たす自動検査装置の一例を示すも
のであり、レーザなどの光源から板状をなすスリット光
1を基板2上のハンダ付け部位へ照射している。このス
リット光1の照射により、ハンダ付け部位を含む基板2
の表面には、立体形状に沿って歪を受けた光切断線3が
生成されるもので、その光切断線3の反射光像を撮像装
置4で撮像して、その撮像パターンの歪状態をチェック
することにより、ハンダ付け部位の立体形状を検出す
る。
ところがこの検査方法の場合、スリット光1が照射され
た部分の形状情報が得られるのみであって、それ以外の
部分の立体形状を把握することは困難である。しかもハ
ンダ付け部位の表面は、その配向方向が基板2の垂直方
向に対して不定であるため、光源と撮像装置4との組み
合わせが少なくとも4組以上は必要であり、これがため
装置が複雑化し、かつ高精度の組立作業が必要となり、
コスト高を招くなどの問題がある。
そこでこの種問題を解消した方法として、検査対象であ
る曲面体の表面へ入射角が異なる光を照射し、曲面体の
表面からの各反射光像を撮像して、それぞれの撮像パタ
ーンより曲面体の有する各曲面要素の配向性を検出する
という方法が存在する。この方法の原理は、3次元像情
報検出のひとつである「アクティブ・センシング法」に
属するものである。すなわちこの方法は、一定のパター
ンをもった光束を検査対象に投光したとき、その検査対
象から得られる反射光束のパターンが検査対象の立体的
形状に対応して変形を受けることに着目したもので、そ
の変形パターンから検査対象の形状を推定するという方
法である。
第4図は、この方法の原理説明図であり、投光装置5と
撮像装置6とから成る検出系と、検査対象である曲面体
7との位置関係を示している。
同図において、投光装置5より曲面体7の表面に対して
入射角iで光束8を投光すると、角度i′(=i)の反
射光束9が真上に置かれた撮像装置6に入射して検出さ
れる。これにより前記光束8で照明された曲面体7の曲
面要素は基準面10に対してiの角度をなして配向して
いることが検出されたことになる。従ってもし曲面体7
の表面形状が、ハンダ付け面のように異なる方向に配向
している多数の曲面要素から成るものであれば、入射角
が異なる複数の投光装置を用いて曲面体7の表面に投光
すれば、それぞれの入射角に対応する曲面要素の群が撮
像装置6により検出され、これにより曲面体7表面の各
曲面要素がそれぞれどんな配向をしているか、すなわち
ハンダ付け部位の表面形状がどのようであるかを検出で
きる。
また投光装置5が、入射角がi+Δiからi−Δiまで
2Δiの幅をもつ光束8を投光するならば、その幅に対
応した幅を有する反射光束9が撮像装置6により検出す
ることになる。すなわちこの場合は、基準面10となす
傾斜角がi+Δiからi−Δiまでの幅の角度をもつ曲
面要素が検出できることになる。
さらに投光装置5が、第5図に示す如く、基準面10に
対して水平に設置されたリング状のものであれば、曲面
体7が基準面10に垂直な軸に対してどのような回転角
をもっていても、投光装置5と曲面体7との距離は一定
であり、曲面要素の回転角方向の配向性は消去されるの
で、基準面10となす傾斜角だけが検出されることにな
る。
またこの第5図に示すように、投光装置5を曲面体7へ
の入射角が異なる複数のリング状発光体11,12,1
3をもって構成すれば、各発光体による光束14,1
5,16の入射角に対応した配向をもつ曲面要素がそれ
だけ詳細に検出できることは前述したとおりである。
いま半径がr(ただしn=1,2,3)の3個のリング状
の発光体11,12,13を基準面10に対して高さh
(n=1,2,3)の位置に水平に設置すれば、曲面体7
への各光束14,15,16の入射角はそれぞれi
(n=1,2,3)となり、曲面体7における傾斜角がそ
れぞれiである各曲面要素を撮像装置6により検出す
ることができる。このとき各発光体11,12,13か
ら曲面体7の表面を経て撮像装置6に至る全光路長に比
して曲面要素の大きさが十分に小さいので、次式により
入射角、すなわち検出しようとする曲面要素の傾斜角を
定めればよい。
上記の原理に基づきハンダ付け部位の外観を検査する方
法として、前記の各発光体11,12,13に白色光源
を用いたものが提案されている(特開昭61-293657
号)。この検査方法においては、ハンダ付け面に対する
入射角の異なる3個の発光体11,12,13による反
射光像を相互に識別するために、それぞれ発光体11,
12,13を時間的に異なったタイミングで点灯し、ま
た消灯している。
〈発明が解決しようとする問題点〉 しかしながらこのような方法では、異なる投光タイミン
グで得た各画像を貯蔵するためのメモリや、これら画像
を同一視野像として演算処理するための演算装置や、各
発光体を瞬間的に点灯動作させるための点灯装置などが
必要であり、技術面での煩雑さが多く、またそれがコス
ト面や信頼性の面で課題となっている。
そこで、このようなタイム・シェアリング方式の課題を
一挙に解消する方法として、ワイヤのような線状物体を
検査する装置として提案された方法が存在する(特開昭
62-127617号)。この方法では、検査対象に対する入射
角の異なる3個の発光体として、赤、緑、青の三原色光
源を用いており、検査対象からの赤色、緑色、青色の各
反射光像をカラーテレビカメラのような色相感知型の撮
像装置により同一タイミングで分離して検出するもので
ある。
この方法をハンダ付け部位の自動検査装置に適用する
と、ハンダ付け部位の曲面性状を短時間で検出すること
は理論上可能となるが、基板上の各部位に関する情報
(例えば部品番号、極性、カラーコードなど)や基板パ
ターン情報(種々のマークなど)のような基板実装部品
の自動検査に不可欠な周辺情報を検出する工夫がなされ
ているため、このままでは装置の実用化は到底困難であ
る。
この発明は、上記問題に着目してなされたもので、各発
光体の照射光を合成すると白色光となるように工夫する
ことにより、ハンダ付け部位のような鏡面反射性の曲面
体の曲面性状を短時間で検出でき、しかも実際の検査に
不可欠な周辺情報の検出をも可能とした曲面性状検査装
置を提供することを目的とする。
〈問題点を解決するための手段〉 上記目的を達成するため、この発明では、第1の色相
光、第2の色相光、第3の色相光をそれぞれ発生するリ
ング状をなす3個の発光体が、鏡面反射性の曲面体の表
面への各色相光の入射角が異なるように配置されて成る
投光手段と、前記鏡面反射性の曲面体の表面からの反射
光像を各色相別に撮像するための撮像手段と、前記撮像
手段で得られた撮像パターンより前記鏡面反射性の曲面
体を有する各曲面要素の傾斜角を検出するための処理手
段とで曲面性状検査装置を構成している。そして前記投
光手段の各発光体は、それぞれの色相光の合成により白
色光となるような対波長発光エネルギー分布を有すると
共に、前記投光手段には、各発光体による色相光を合成
したとき白色光となるように各発光体の光量を調整する
ための光量調節手段が接続している。
〈作用〉 鏡面反射性の曲面体の表面に対し異なる入射角をもって
各発光体から第1の色相光、第2の色相光、第3の色相
光が照射されると、前記曲面体の表面からの第1の色相
光、第2の色相光、第3の色相光の各反射光像が撮像手
段により同時に分離して検出される。この場合に、各発
光体は、それぞれの色相光の構成により白色光となるよ
うな対波長発光エネルギー分布を有し、各発光体による
色相光を合成したとき、白色光となるように各発光体の
光量が調整されるため、実装部品のハンダ検査などで
は、ハンダ付け部位の曲面性状に関する情報を加えて、
部品に関する情報のような周辺情報も同時に検出される
ことになる。
〈実施例〉 第1図は、この発明の一実施例にかかる基板検査装置の
概略構成を示している。
図示例の基板検査装置は、位置決め基板20Sを撮像して
得られた前記位置決め基板20S上にある各部品21S
の検査領域のパラメータ(判定データ)と、被検査基板
20Tを撮像して得られた前記被検査基板20T上にあ
る各部品21Tの検査領域のパラメータ(被検査デー
タ)とを比較して、これらの各部品21Tが正しく実装
されかつハンダ付けされているかどうかを検査するため
のものであって、X軸テーブル軸22、Y軸テーブル部
23、投光部24、撮像部25、処理部26などをその
構成として含んでいる。
X軸テーブル部22およびY軸テーブル部23は、それ
ぞれ処理部26からの制御信号に基づいて動作するモー
タ(図示せず)を備えており、これらモータの駆動によ
りX軸テーブル部22が撮像部25をX方向へ移動さ
せ、またY軸テーブル部23が基板20S,20Tを支
持するコンベヤ27をY方向へ移動させる。
これら基板20S,20Tは、投光部24からの照射光
を受けつつ撮像部25により撮像される。
投光部24は、処理部26からの制御信号に基づき赤色
光、緑色光、青色光をそれぞれ発生するリング状をなす
3個の発光体28,29,30を備えている。各発光体
28,29,30は、検査対象への各色相光の入射角が
異なるように配置されており、これら発光体28,2
9,30を発した三原色光の混合した光が前記基板20
S,20Tへ投光される。撮像部25は前記基板20
S,20Tでの反射光像を得てこれを電気信号に変換す
る。この実施例の場合、前記の各発光体28,29,3
0は白色光源に赤色、緑色、青色の各フィルタを被せた
構造のものを用いているが、三原色の各色相光を発生さ
せるものであれば、このような構成に限られないことは
勿論である。
またこの投光部24は、その照明下で基板20S,20
T上の部品に関する情報(部品番号、極性、カラーコー
ドなど)や基板パターン情報(種々のマークなど)を検
出することを可能となすため、各発光体28,29,3
0が発する各色相の光が混色されると完全な白色光とな
るような工夫を施してある。すなわち各発光体28,2
9,30は、混色により白色光となるような対波長発光
エネルギー分布を有する赤色光スペクトル、緑色光スペ
クトル、青色光スペクトルの光を発する発光体をもって
構成すると共に、各発光体28,29,30から照射さ
れた赤色光、緑色光、青色光が混色して白色光となるよ
うに、撮像コントローラ31により各色相光の光量の調
整を可能としている。
つぎに撮像部25は、前記投光部24の上方に位置させ
たカラーテレビカメラ32を備えており、前記基板20
Sまたは20Tからの反射光はこのカラーテレビカメラ
32によって三原色のカラー信号R,G,Bに変換され
て処理部26へ供給される。
処理部26は、A/D変換部33、メモリ38、ティー
チングテーブル35、画像処理部34、判定部36、
X,Yテーブルコントローラ37、撮像コントローラ3
1、CRT表示部41、プリンタ42、キーボード4
0、フロッピディスク装置43、制御部(CPU)39
などから構成されるもので、ティーチングモードのと
き、位置決め基板20Sについてのカラー信号R,G,
Bを処理しハンダ付け状態が良好な各部品21Sの所定
領域につき赤色、緑色、青色の各色相パターンを検出し
て判定データファイルを作成し、また検査モードのと
き、被検査基板20Tについてのカラー信号R,G,B
を処理し基板上の各部品21Tの所定領域につき同様の
各色相パターンを検出して被検査データファイルを作成
する。そしてこの被検査データファイルと前記判定デー
タファイルとを比較して、この比較結果から被検査基板
20T上の所定の部品21Tにつきハンダ付け部分の
良、不良を自動的に判定する。
第2図は、ハンダ付けが良好であるとき、部品が欠陥し
ているとき、ハンダ不足の状態にあるときのそれぞれハ
ンダ44の断面形態と、各場合の撮像パターン、赤色パ
ターン、緑色パターン、青色パターンとの関係を一覧表
で示したものであり、いずれかの色相パターン間には明
確な差異が現われるため、部品の有無やハンダ付けの良
否が判定できることになる。
第1図に戻って、A/D変換部33は前記撮像部25か
らカラー信号R,G,Bが供給されたときに、これをア
ナログ・ディジタル変換して制御部39へ出力する。メ
モリ38はRAMなどを備え、制御部39の作業エリア
として使われる。画像処理部34は制御部39を介して
供給された画像データを画像処理して前記被検査データ
ファイルや判定データファイルを作成し、これらを制御
部39や判定部36へ供給する。
ティーチングテーブル35はティーチング時に制御部3
9から判定データファイルが供給されたとき、これを記
憶し、また検査時に制御部39が転送要求を出力したと
き、この要求に応じて判定データファイルを読み出し
て、これを制御部39や判定部36などへ供給する。
判定部36は、検査時に制御部39から供給された判定
データファイルと、前記画像処理部34から転送された
被検査データファイルとを比較して、その被検査基板2
0Tにつきハンダ付け状態の良否を判定し、その判定結
果を制御部39へ出力する。
撮像コントローラ31は、制御部39と投光部24およ
び撮像部25とを接続するインターフェースなどを備
え、制御部39の出力に基づき投光部24の各発光体2
8,29,30の光量を調整したり、撮像部25のカラ
ーテレビカメラ32の各色光出力の相互バランスを保つ
などの制御を行う。
X,Yテーブルコントローラ37は制御部39と前記X
軸テーブル部22およびY軸テーブル部23とを接続す
るインターフェースなどを備え、制御部39の出力に基
づきX軸テーブル部22およびY軸テーブル部23を制
御する。
CRT表示部41はブラウン管(CRT)を備え、制御
部39から画像データ、判定結果、キー入力データなど
が供給されたとき、これを画面上に表示する。プリンタ
42は制御部39から判定結果などが供給されたとき、
これを予め決められた書式(フォーマット)でプリント
アウトする。キーボート40は操作情報や位置決め基板
20Sに関するデータ、この位置決め基板20S上の部
品21Sに関するデータなどを入力するのに必要な各種
キーを備えており、このキーボード40から入力された
情報やデータなどは制御部39へ供給される。
制御部39は、マイクロプロセッサなどを備えており、
つぎに述べる手順に沿って動作する。
まず新たな被検査基板20Tを検査するときには、制御
部39は、ティーチングを実行するために装置各部を制
御して投光部24や撮像部25をオンし、また撮像条件
やデータの処理条件を整える。つぎにY軸テーブル部2
3上に位置決め基板20Sがセットされると、制御部3
9はX軸テーブル部22およびY軸テーブル部23を制
御して位置決め基板20Sを位置出しした後、撮像部2
5に位置決め基板20Sを撮像させる。この撮像動作で
得られた三原色のカラー信号R,G,BはA/D変換部
33でA/D変換され、その変換結果はメモリ38にリ
アルタイムで記憶される。
ついで制御部39は、前記メモリ38より各色相に対応
する画像データを画像処理部34へ転送させ、この画像
処理部34にて各色相の画像データを各色相別の適当な
しきい値で2値化するなどして、赤色、緑色、青色のパ
ターンを検出する。また制御部39は、画像処理部34
を制御し、各部品21Sの撮像パターンにつき各部分
(電極など)の明度をチェックするなどして各部品21
Sの電極の位置や極性マークの位置などを識別させる。
この後制御部39は、前記の各色相パターンと前記の識
別結果とに基づいて、被検査基板20Tを検査するのに
必要な判定データファイルを作成し、これをティーチン
グテーブル35に記憶させた後、ティーチングを終了す
る。
つぎに検査モードに移行すると、制御部39はティーチ
ングテーブル35やキーボード40からその日の日付デ
ータや、被検査基板20TのIDナンバ(識別番号)を
取り込むとともに、ティーチングテーブル35から判定
データファイルを読み出して、これを判定部36に供給
する。
この後、制御部39は、撮像条件やデータの処理条件を
整えた後、Y軸テーブル部23上に被検査基板20Tが
セットされたかどうかをチェックする。
もしセットされておれば、制御部39は前記と同様、画
像処理部34にて各色相パターンの検出および電極や極
性マークの識別を順次行わせた後、各色相パターンと前
記の識別結果とに基づき被検査データファイルを作成す
る。ついで制御部39は、前記被検査データファイルを
判定部36に転送させ、この被検査データファイルと前
記判定データファイルとを比較させて、被検査基板20
T上の所定の部品21Tにつきハンダ付けの良否を判定
させると共に、この判定結果やCRT表示部41やプリ
ンタ42に供給して、これらを表示させ、またプリント
アウトさせる。
〈発明の効果〉 この発明は上記の如く、鏡面反射性の曲面体の表面に対
し異なる入射角をもってリング状の各発光体から第1、
第2、第3の各色相光を照射して、前記曲面体の表面か
らの反射光像を各色相別に同時に得るように構成したか
ら、各色相パターンを用いて鏡面反射性の曲面体の性状
を短時間で検出できる。しかも各発光体は、それぞれの
光の合成により白色色となるような対波長発光エネルギ
ー分布を有すると共に、各発光体による色相光を合成し
たとき白色光となるように各発光体の光量を調整するよ
うに構成したから、実装部品のハンダ検査において必要
不可欠な周辺情報の検出も可能であり、ハンダ検査の自
動化を実現するなど、発明目的を達成した顕著な効果を
奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例にかかる基板検査装置の全
体構成を示す説明図、第2図はハンダ付け状態の良否と
パターンとの関係を示す説明図、第3図は従来のハンダ
付け状態の自動検査装置を示す原理説明図、第4図およ
び第5図はこの発明の原理を示す原理説明図である。 24…投光部 25…撮像部 26…処理部 28,29,30…発光体 31…撮像コントローラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−293657(JP,A) 特開 昭62−127617(JP,A) 特開 昭59−153108(JP,A)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1の色相光、第2の色相光、第3の色相
    光をそれぞれ発生するリング状をなす3個の発光体が、
    鏡面反射性の曲面体の表面への各色相光の入射角が異な
    るように配置されて成る投光手段と、 前記鏡面反射性の曲面体の表面からの反射光像を各色相
    別に撮像するための撮像手段と、 前記撮像手段で得られた撮像パターンより前記鏡面反射
    性の曲面体の有する各曲面要素の傾斜角を検出するため
    の処理手段とから成る曲面性状検査装置であって、 前記投光手段の各発光体は、それぞれの色相光の合成に
    より白色光となるような対波長発光エネルギー分布を有
    すると共に、前記投光手段には、各発光体による色相光
    を合成したとき白色光となるように各発光体の光量を調
    整するための光量調節手段が接続されて成る曲面性状検
    査装置。
JP63112054A 1988-05-09 1988-05-09 曲面性状検査装置 Expired - Lifetime JPH061173B2 (ja)

Priority Applications (15)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63112054A JPH061173B2 (ja) 1988-05-09 1988-05-09 曲面性状検査装置
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