JPH057016A - 半導体発光素子及びその製造方法 - Google Patents
半導体発光素子及びその製造方法Info
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- JPH057016A JPH057016A JP3021159A JP2115991A JPH057016A JP H057016 A JPH057016 A JP H057016A JP 3021159 A JP3021159 A JP 3021159A JP 2115991 A JP2115991 A JP 2115991A JP H057016 A JPH057016 A JP H057016A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 SiC結晶を用いて高光度で青より短波長の
発光ができる半導体発光素子を提供することを目的とす
る。 【構成】 六方晶型結晶構造を有する炭化珪素(Si
C)からなる基板結晶11上に超格子構造の発光層12
を形成した半導体発光素子において、基板結晶11の主
面を(11-20)の面方位に設定し、且つ発光層12の
超格子構造を基板結晶11の格子面間隔の2倍の周期に
設定したことを特徴とする。
発光ができる半導体発光素子を提供することを目的とす
る。 【構成】 六方晶型結晶構造を有する炭化珪素(Si
C)からなる基板結晶11上に超格子構造の発光層12
を形成した半導体発光素子において、基板結晶11の主
面を(11-20)の面方位に設定し、且つ発光層12の
超格子構造を基板結晶11の格子面間隔の2倍の周期に
設定したことを特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、耐環境素子,可視発光
ダイオード等に使用する半導体発光素子に係わり、特に
六方晶型結晶構造を有する炭化珪素(SiC)を用いた
半導体発光素子及びその製造方法に関する。
ダイオード等に使用する半導体発光素子に係わり、特に
六方晶型結晶構造を有する炭化珪素(SiC)を用いた
半導体発光素子及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】SiC結晶は広い禁制帯幅を持ち(2.
2〜3,3eV)、且つpn接合やMOS構造を容易に
作ることができる。このため、従来よりSiC結晶を用
いた青色,紫色の可視の発光ダイオードの研究がなされ
ている。
2〜3,3eV)、且つpn接合やMOS構造を容易に
作ることができる。このため、従来よりSiC結晶を用
いた青色,紫色の可視の発光ダイオードの研究がなされ
ている。
【0003】青色,紫色の領域の発光を行えるのは、六
方晶型の結晶構造を持つSiCである。最も安定な6H
型の結晶を用いて、現在まで青色発光ダイオードが作ら
れている。しかし、SiC結晶を用いた発光ダイオード
は発光光度が弱く、赤,緑色の発光ダイオードと並べて
使用しフルカラーディスプレイを形成することはできな
かった。
方晶型の結晶構造を持つSiCである。最も安定な6H
型の結晶を用いて、現在まで青色発光ダイオードが作ら
れている。しかし、SiC結晶を用いた発光ダイオード
は発光光度が弱く、赤,緑色の発光ダイオードと並べて
使用しフルカラーディスプレイを形成することはできな
かった。
【0004】この主たる原因は、SiC結晶が図4に示
すように間接遷移型のバンド構造を有し、輻射遷移が起
こり難いといった物質固有の性質によるものである。ま
た、青色発光を得るために使用する不純物レベルが約2
20eVと浅く、十分にキャリアを捕獲できない。この
ため、結晶中の欠陥等の非輻射再結合過程の影響を受け
易く、またSiC結晶の成長方法が未だ確率されていな
いため欠陥が結晶中に多く存在し、これが発光光度を下
げる要因ともなっていた。
すように間接遷移型のバンド構造を有し、輻射遷移が起
こり難いといった物質固有の性質によるものである。ま
た、青色発光を得るために使用する不純物レベルが約2
20eVと浅く、十分にキャリアを捕獲できない。この
ため、結晶中の欠陥等の非輻射再結合過程の影響を受け
易く、またSiC結晶の成長方法が未だ確率されていな
いため欠陥が結晶中に多く存在し、これが発光光度を下
げる要因ともなっていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このように従来、Si
C結晶を用いて青より短波長領域で発光を行う素子にお
いては、種々の要因により十分な発光強度を得ることは
できなかった。
C結晶を用いて青より短波長領域で発光を行う素子にお
いては、種々の要因により十分な発光強度を得ることは
できなかった。
【0006】本発明は、このような事情を考慮してなさ
れたもので、その目的とするところは、SiC結晶を用
いて青よりも短波長の発光を行うことができ、且つ十分
な発光強度を得ることのできる半導体発光素子及びその
製造方法を提供することにある。
れたもので、その目的とするところは、SiC結晶を用
いて青よりも短波長の発光を行うことができ、且つ十分
な発光強度を得ることのできる半導体発光素子及びその
製造方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の骨子は、SiC
結晶を用いた発光層のバンド構造を直接遷移型にして発
光効率の増大をはかることにある。
結晶を用いた発光層のバンド構造を直接遷移型にして発
光効率の増大をはかることにある。
【0008】即ち本発明は、六方晶型結晶構造を有する
炭化珪素(SiC)からなる基板結晶上に超格子構造の
発光層を形成した半導体発光素子において、基板結晶の
主面を(11-20)又は(1-100)の面方位に設定
し、且つ発光層の超格子構造を基板結晶の格子面間隔の
偶数倍の周期に設定したことを特徴としている。なお、
結晶方位の負の向きは一般にはインバースで示される
が、本明細書では−記号で示している。
炭化珪素(SiC)からなる基板結晶上に超格子構造の
発光層を形成した半導体発光素子において、基板結晶の
主面を(11-20)又は(1-100)の面方位に設定
し、且つ発光層の超格子構造を基板結晶の格子面間隔の
偶数倍の周期に設定したことを特徴としている。なお、
結晶方位の負の向きは一般にはインバースで示される
が、本明細書では−記号で示している。
【0009】また本発明は、上記半導体発光素子の製造
方法において、六方晶型結晶構造を有する炭化珪素(S
iC)からなる第1導電型の基板結晶の主面を(11-2
0)又は(1-100)の面方位に切り出したのち、この
基板結晶の主面上に超格子構造の第1導電型の発光層を
成長形成し、且つこの発光層の超格子構造を基板結晶の
格子面間隔の偶数倍の周期に設定し、次いでこの発光層
上に第2導電型の半導体層を成長形成することを特徴と
している。
方法において、六方晶型結晶構造を有する炭化珪素(S
iC)からなる第1導電型の基板結晶の主面を(11-2
0)又は(1-100)の面方位に切り出したのち、この
基板結晶の主面上に超格子構造の第1導電型の発光層を
成長形成し、且つこの発光層の超格子構造を基板結晶の
格子面間隔の偶数倍の周期に設定し、次いでこの発光層
上に第2導電型の半導体層を成長形成することを特徴と
している。
【0010】また、本発明の望ましい実施態様として
は、発光層を成長する際に、不純物添加を行う層と行わ
ない層とを交互に成長する、又は異なる材料を積層して
歪超格子構造に形成することを特徴としている。
は、発光層を成長する際に、不純物添加を行う層と行わ
ない層とを交互に成長する、又は異なる材料を積層して
歪超格子構造に形成することを特徴としている。
【0011】
【作用】前述のように、通常のSiC結晶は、図4に示
すように間接遷移型のバンド構造を有する。その伝導帯
の最小はM点(11-20)又はK点(1-100)に位置
する。ここで、[11-20]方向又は[1-100]方向
に2倍の周期を持つ構造を達成すれば、第1ブリリアン
ゾーンは1/2になる。この結果、M点又はK点にあっ
た伝導帯の底はΓ点に移動する。このため、価電子帯の
頂上と伝導帯の底とは同じ位置になり、直接遷移型に転
位する。
すように間接遷移型のバンド構造を有する。その伝導帯
の最小はM点(11-20)又はK点(1-100)に位置
する。ここで、[11-20]方向又は[1-100]方向
に2倍の周期を持つ構造を達成すれば、第1ブリリアン
ゾーンは1/2になる。この結果、M点又はK点にあっ
た伝導帯の底はΓ点に移動する。このため、価電子帯の
頂上と伝導帯の底とは同じ位置になり、直接遷移型に転
位する。
【0012】本発明によれば、六方晶型結晶構造を有す
る炭化珪素(SiC)からなる基板結晶の面方位を(1
1-20)又は(1-100)に規定し、その上に通常の六
方晶型結晶の格子面間隔の偶数倍の周期を持つ超格子構
造の発光層を成長しているので、発光層のバンド構造は
直接遷移型に変化する。これにより、輻射再結合過程が
大きく増大し、発光効率を増大することが可能となる。
る炭化珪素(SiC)からなる基板結晶の面方位を(1
1-20)又は(1-100)に規定し、その上に通常の六
方晶型結晶の格子面間隔の偶数倍の周期を持つ超格子構
造の発光層を成長しているので、発光層のバンド構造は
直接遷移型に変化する。これにより、輻射再結合過程が
大きく増大し、発光効率を増大することが可能となる。
【0013】また、(11-20)方向又は(1-100)
方向の格子定数の偶数倍の間隔で不純物添加を行うこと
により、発光層には結晶格子の2倍の周期性が現れてく
る。このことにより、前述したように発光層を直接遷移
型に容易に転位させることが可能となる。
方向の格子定数の偶数倍の間隔で不純物添加を行うこと
により、発光層には結晶格子の2倍の周期性が現れてく
る。このことにより、前述したように発光層を直接遷移
型に容易に転位させることが可能となる。
【0014】
【実施例】以下、本発明の詳細を図示の実施例によって
説明する。
説明する。
【0015】図1は本発明の第1の実施例に係わるSi
C:Al,N発光ダイオードの概略構成を示す断面図で
ある。図中11は(11-20)面に切り出した6H型S
iC結晶からなるn型基板であり、この基板11上に基
板結晶の格子面間隔の2倍の周期構造を持つ超格子構造
のn型発光層12が成長形成されている。発光層12上
には、円形のp型層13が選択的に形成されている。そ
して、p型層13上にはp側電極14が形成され、n型
基板11の下にはn側電極15が形成されている。この
発光ダイオードを製造するには、有機金属化学気相成長
法(MOCVD)を用いて、次のようにして行う。
C:Al,N発光ダイオードの概略構成を示す断面図で
ある。図中11は(11-20)面に切り出した6H型S
iC結晶からなるn型基板であり、この基板11上に基
板結晶の格子面間隔の2倍の周期構造を持つ超格子構造
のn型発光層12が成長形成されている。発光層12上
には、円形のp型層13が選択的に形成されている。そ
して、p型層13上にはp側電極14が形成され、n型
基板11の下にはn側電極15が形成されている。この
発光ダイオードを製造するには、有機金属化学気相成長
法(MOCVD)を用いて、次のようにして行う。
【0016】まず、(11-20)面に切り出した6H型
SiC結晶基板11を、MOCVD装置に入れ高温で表
面処理を行う。次いで、基板温度を成長温度(1500
℃)まで降下した後、キャリアガスで希釈したシリコン
(Si)の原料であるシランと炭素(C)の原料である
プロパンガスとを交互に導入する。その切替えの途中で
塩化水素ガスを導入し、余分のSi,Cを除去する。
SiC結晶基板11を、MOCVD装置に入れ高温で表
面処理を行う。次いで、基板温度を成長温度(1500
℃)まで降下した後、キャリアガスで希釈したシリコン
(Si)の原料であるシランと炭素(C)の原料である
プロパンガスとを交互に導入する。その切替えの途中で
塩化水素ガスを導入し、余分のSi,Cを除去する。
【0017】このようにすることにより、1原子ずつ成
長を行うことができる。この成長を行うとき、SiC層
の1層ごと交互に不純物添加を行う層と行わない層とを
交互に成長させ、超格子構造のn型発光層12を形成す
る。不純物としては、導電型決定には窒素(N)を、発
光中心として窒素の量を上回らない程度アルミニウム
(Al)を導入する。
長を行うことができる。この成長を行うとき、SiC層
の1層ごと交互に不純物添加を行う層と行わない層とを
交互に成長させ、超格子構造のn型発光層12を形成す
る。不純物としては、導電型決定には窒素(N)を、発
光中心として窒素の量を上回らない程度アルミニウム
(Al)を導入する。
【0018】ここで、発光層12の超格子構造におい
て、その周期は図4に示すバンド構造におけるM点とΓ
点との間隔(格子定数)の2倍とする。また、不純物と
してのAl,Nの添加量は1013cm-2〜1014cm-2
の範囲とする。
て、その周期は図4に示すバンド構造におけるM点とΓ
点との間隔(格子定数)の2倍とする。また、不純物と
してのAl,Nの添加量は1013cm-2〜1014cm-2
の範囲とする。
【0019】上記の方法によりn型発光層12を300
nm成長した後、この発光層12上にAlを導電型決定
不純物としてp型層13を500nm程度成長する。p
型層13の成長には原料ガス,不純物ガスは同時に流し
た。その後、p型層13にはp側電極としてTiとAl
の積層電極14を付着し、基板11にはn側電極として
Ni電極15を付着して、それぞれオーミック電極を形
成した。
nm成長した後、この発光層12上にAlを導電型決定
不純物としてp型層13を500nm程度成長する。p
型層13の成長には原料ガス,不純物ガスは同時に流し
た。その後、p型層13にはp側電極としてTiとAl
の積層電極14を付着し、基板11にはn側電極として
Ni電極15を付着して、それぞれオーミック電極を形
成した。
【0020】このようにして製作した発光ダイオードに
おいては、発光層12のバンド構造が直接遷移型に転位
することになり、輻射遷移が起こり易く、発光効率を高
めることができる。本発明者らの実験によれば、図2に
示すように、本実施例素子は従来より1桁以上の発光強
度を実現することができた。また、本実施例では、従来
困難であった青や紫色の高光度の発光素子が実現され
る。これにより、赤又は緑色の発光ダイオードと組み合
わせることにより、フルカラーの表示発光素子を製作す
ることが可能となる。
おいては、発光層12のバンド構造が直接遷移型に転位
することになり、輻射遷移が起こり易く、発光効率を高
めることができる。本発明者らの実験によれば、図2に
示すように、本実施例素子は従来より1桁以上の発光強
度を実現することができた。また、本実施例では、従来
困難であった青や紫色の高光度の発光素子が実現され
る。これにより、赤又は緑色の発光ダイオードと組み合
わせることにより、フルカラーの表示発光素子を製作す
ることが可能となる。
【0021】図3は、本発明の第2の実施例に係わる発
光ダイオードの概略構成を示す断面図である。なお、図
1と同一部分には同一符号を付して、その詳しい説明は
省略する。
光ダイオードの概略構成を示す断面図である。なお、図
1と同一部分には同一符号を付して、その詳しい説明は
省略する。
【0022】この実施例は、6H型のn型SiC結晶基
板11上に2H型のn型SiCバッファ層21を形成
し、この上に6H又は4H型のn型発光層22及び2H
型のp型層23を成長形成したものである。ここで、バ
ッファ層21は、MOCVD法でSiCにAl,Nを混
合して成長することにより得られる。また、発光層22
は通常の成長温度1450〜1600℃で成長し、p型
層23はこれよりも低い成長温度1200〜1300℃
で成長すればよい。
板11上に2H型のn型SiCバッファ層21を形成
し、この上に6H又は4H型のn型発光層22及び2H
型のp型層23を成長形成したものである。ここで、バ
ッファ層21は、MOCVD法でSiCにAl,Nを混
合して成長することにより得られる。また、発光層22
は通常の成長温度1450〜1600℃で成長し、p型
層23はこれよりも低い成長温度1200〜1300℃
で成長すればよい。
【0023】このような実施例では、発光層22が6H
型又は4H型で基板21及びp型層23が2H型である
ことから、発光層22のバンドギャップが基板21及び
p型層23よりも十分に小さくなり、発光強度をより高
めることができる。これは、2H型の方が6H型よりも
バンドギャップが大きくなるからである。
型又は4H型で基板21及びp型層23が2H型である
ことから、発光層22のバンドギャップが基板21及び
p型層23よりも十分に小さくなり、発光強度をより高
めることができる。これは、2H型の方が6H型よりも
バンドギャップが大きくなるからである。
【0024】なお、本発明は上述した実施例に限定され
るものではない。実施例ではSiC基板の面方位を(1
1-20)としたが、この代わりに(1-100)の面方位
を選択してもよい。さらに、実施例では発光層の超格子
構造を基板結晶の格子面間隔の2倍の周期としたが、偶
数倍の周期であれば同様の効果が得られる。また、発光
層に添加する不純物としては、III ,V族元素以外にG
e,Sn等のIV族元素も使用することができる。さら
に、結晶型は6H以外に4H型,2H型,15R型等の
他の六方晶の結晶型のものが使用可能である。
るものではない。実施例ではSiC基板の面方位を(1
1-20)としたが、この代わりに(1-100)の面方位
を選択してもよい。さらに、実施例では発光層の超格子
構造を基板結晶の格子面間隔の2倍の周期としたが、偶
数倍の周期であれば同様の効果が得られる。また、発光
層に添加する不純物としては、III ,V族元素以外にG
e,Sn等のIV族元素も使用することができる。さら
に、結晶型は6H以外に4H型,2H型,15R型等の
他の六方晶の結晶型のものが使用可能である。
【0025】また、超格子構造の発光層としては、Si
CとAlN又はGaNの歪超格子構造を(11-20)又
は(1-100)面上に成長形成してもよい。さらに、発
光層の成長方法は、MOCVD法以外に分子線エピタキ
シャル法などの他の気相成長法を使用することができ
る。その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々変
形して実施することができる。
CとAlN又はGaNの歪超格子構造を(11-20)又
は(1-100)面上に成長形成してもよい。さらに、発
光層の成長方法は、MOCVD法以外に分子線エピタキ
シャル法などの他の気相成長法を使用することができ
る。その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々変
形して実施することができる。
【0026】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、六
方晶型結晶構造のSiC結晶基板の面方位を(11-2
0)又は(1-100)に規定し、発光層を基板結晶の格
子面間隔の偶数倍の周期構造としているので、発光層の
バンド構造を直接遷移型にすることができ、SiCを用
いて高光度で青より短波長の発光ができる半導体発光素
子を実現することが可能となる。
方晶型結晶構造のSiC結晶基板の面方位を(11-2
0)又は(1-100)に規定し、発光層を基板結晶の格
子面間隔の偶数倍の周期構造としているので、発光層の
バンド構造を直接遷移型にすることができ、SiCを用
いて高光度で青より短波長の発光ができる半導体発光素
子を実現することが可能となる。
【図1】本発明の第1の実施例に係わる発光ダイオード
の概略構成を示す断面図。
の概略構成を示す断面図。
【図2】実施例と従来例との発光特性の違いを示す特性
図。
図。
【図3】本発明の第2の実施例に係わる発光ダイオード
の概略構成を示す断面図。
の概略構成を示す断面図。
【図4】従来素子のバンド構造を示す図。
【符号の説明】
11…n型SiC基板、
12…n型発光層、(6H型SiC)
13…p型層(6H型SiC)、
14…p側電極、
15…n側電極、
21…n型バッファ層(2H型SiC)、
22…n型発光層(6H又は4H型SiC)、
23…p型層(2H型SiC)。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成4年6月23日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
Claims (3)
- 【請求項1】六方晶型結晶構造を有する炭化珪素(Si
C)からなる基板結晶と、この基板結晶上に形成された
超格子構造の発光層とを具備し、前記基板結晶の主面を
(11-20)又は(1-100)の面方位に設定し、且つ
前記発光層の超格子構造を前記基板結晶の格子面間隔の
偶数倍の周期に設定してなることを特徴とする半導体発
光素子。 - 【請求項2】六方晶型結晶構造を有する炭化珪素(Si
C)からなる第1導電型の基板結晶の主面を(11-2
0)又は(1-100)の面方位に切り出す工程と、前記
基板結晶の主面上に超格子構造の第1導電型の発光層を
成長形成し、且つこの発光層の超格子構造を前記基板結
晶の格子面間隔の偶数倍の周期に設定する工程と、前記
発光層上に第2導電型の半導体層を成長形成する工程と
を含むことを特徴とする半導体発光素子の製造方法。 - 【請求項3】前記発光層を成長形成する工程として、不
純物を添加した層と添加しない層とを交互に積層するこ
とを特徴とする請求項2記載の半導体発光素子の製造方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2115991A JP3267983B2 (ja) | 1991-02-14 | 1991-02-14 | 半導体発光素子及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2115991A JP3267983B2 (ja) | 1991-02-14 | 1991-02-14 | 半導体発光素子及びその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH057016A true JPH057016A (ja) | 1993-01-14 |
| JP3267983B2 JP3267983B2 (ja) | 2002-03-25 |
Family
ID=12047136
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2115991A Expired - Fee Related JP3267983B2 (ja) | 1991-02-14 | 1991-02-14 | 半導体発光素子及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3267983B2 (ja) |
Cited By (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| WO1997011518A1 (fr) * | 1995-09-18 | 1997-03-27 | Hitachi, Ltd. | Materiau semi-conducteur, procede de production de ce materiau semi-conducteur et dispositif a semi-conducteur |
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