JPH055674A - 光フアイバの並行測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 カットバック法と他の測定法による光ファイ
バの測定を並行して実行することができる光ファイバの
並行測定方法を提供する。 【構成】 両端に端末加工を施した被測定ファイバ２の
一端を、光源に接続されたダミーファイバと突合わせ接
続すると共に、他端を測光手段に対向配置し、光源から
の検査光を測光手段で測定した後、被測定ファイバ２を
突合せ端近傍で切断し、切断された被測定ファイバ２に
おける突合せ端側の切断部で再度光源からの検査光を測
定するカットバック法による被測定ファイバの測定を行
うと共に、切断された被測定ファイバの測光手段に対向
配置した端部を用いて他の測定法による被測定ファイバ
の測定を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバのカットバ
ック法による測定と、他の測定方法による測定とを並行
して行う光ファイバの並行測定方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ファイバの伝送損失を測定する方法と
して、従来、カットバック法が知られている。カットバ
ック法は、先ず、一端が光源に接続されたダミーファイ
バの他端に被測定ファイバの一端を突合わせ接続して接
続部とし、光源から出射される検査光をダミーファイバ
を介して被測定ファイバの一端に入射し、他端から出射
される検査光の出力Ｐ₁ をパワーメータ等の測光手段で
測定する。

【０００３】次に、被測定ファイバを前記接続部の近傍
で切断し、この切断部における検査光の出力Ｐ₂ を再度
測光手段で測定する。次いで、前記両測定結果に基づ
き、10log(P₂/P₁)を算出し、この値を被測定ファイバの
残存長で割ることにより伝送損失(dB/km) を求めるもの
で、ダミーファイバとの接続損失の影響を除いた正確な
伝送損失を測定することができるという利点がある。

【０００４】一方、その他の測定方法としては、例え
ば、バックスキャタリング法が知られている。バックス
キャタリング法は、被測定ファイバに入射した検査光が
レーリー散乱によって戻ってくる現象を利用した測定方
法で、この方法を実施する装置としてＯＴＤＲ(optical
time domain reflectometer) が実用化されている。こ
のＯＴＤＲを用いた測定においては、光源と被測定ファ
イバとの間を方向性結合器を介して接続すると共に、散
乱光の強度を表示するディスプレイを方向性結合器に接
続する。

【０００５】これにより、検査光を光源から被測定ファ
イバに出射すると、被測定ファイバから戻ってくる散乱
光の強度がディスプレイ上に表示され、戻ってくる散乱
光から被測定ファイバの伝送損失が、また、散乱光の遅
れ時間から、散乱光が戻ってきた場所を知ることができ
る等、被測定ファイバにおける局部的な損失や反射がわ
かる等の利点がある。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記各測定
方法を実施する場合、従来は各方法毎に異なる装置を使
用しており、例えば、カットバック法による被測定ファ
イバの測定を行った後、このファイバをＯＴＤＲに接続
してバックスキャタリング法による測定を行っていた。

【０００７】しかし、何れの方法を用いても被測定ファ
イバの端末処理は必要で、前記した両方の測定方法によ
って被測定ファイバを測定する必要がある場合には、か
なりの部分で重複した作業を行なわなければならず、作
業上の無駄が多いという問題があった。本発明は上記の
点に鑑みてなされたもので、カットバック法とその他の
測定法、例えば、バックスキャタリング法による光ファ
イバの測定を並行して行うことができる光ファイバの並
行測定方法を提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明の光ファイバの並行測定方法によれば、両端に端
末加工を施した被測定ファイバの一端を、光源に接続さ
れたダミーファイバと突合わせ接続すると共に、他端を
測光手段に対向配置し、前記光源からの検査光を測光手
段で測定した後、前記被測定ファイバを突合せ端近傍で
切断し、切断された被測定ファイバにおける突合せ端側
の切断部で再度前記光源からの検査光を測定するカット
バック法による被測定ファイバの測定を行うと共に、切
断された被測定ファイバに対し、他の測定項目に関する
測定を行うものである。

【０００９】

【作用】突合せ端近傍で切断された被測定ファイバは、
カットバック法においては、ダミーファイバによって伝
送され、突合せ端側の切断部から出射される検査光が測
光手段によって測定され、かかる測定と並行して他の測
定項目に関する測定が行われる。

【００１０】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図１乃至図１３に
基づいて詳細に説明する。先ず、本発明方法の説明に先
立って、本発明の光ファイバの並行測定方法に用いる測
定システムについて簡単に説明しておく。図１乃至図５
は、本発明方法の実施に用いる測定システム１の概略構
成を示すもので、測定システム１は、第１ハンドリング
部１０、第２ハンドリング部２０及び第３ハンドリング
部３０を備えている。

【００１１】第１ハンドリング部１０は、カットバック
法やバックスキャタリング法による測定の際に、被測定
ファイバ２の一端を受光装置あるいは突合せ接続装置と
光接続すべく取り扱う部分で、図１及び図４に示すよう
に、ホルダパレット１１、端末処理装置１２、搬送装置
１３、引出し装置１４、受光装置１５、突合せ接続装置
１６及び押上手段１７を備えており、ホルダパレット１
１には被測定ファイバ２の一端側を保持した複数のホル
ダ１１ａが配列されている。ここで、被測定ファイバ２
は、複数の光ファイバ心線に被覆を施したテープ状の多
心ファイバである。

【００１２】ホルダ１１ａは、２個の磁性金属板材を蝶
番状に連結したもので、磁性金属の磁力により被測定フ
ァイバ２を保持する。端末処理装置１２は、被測定ファ
イバ２の一端に於ける被覆の除去、クリーニング及び被
覆の除去によって露出した複数の光ファイバ心線を所定
長さに切り揃える等の端末処理を行う。

【００１３】搬送装置１３は、カットバック法やバック
スキャタリング法での測定に際し、ホルダパレット１１
上に配列された複数のホルダ１１ａを順次把持して上下
及び水平方向に移動し、ホルダ１１ａを端末処理装置１
２、受光装置１５あるいは突合せ接続装置１６へと順次
搬送した後、ホルダパレット１１上の元の所定位置へと
戻す。

【００１４】引出し装置１４は、端末処理装置１２によ
る被測定ファイバ２の端末処理が不良の場合に、再度端
末処理が可能なように被測定ファイバ２の端部をホルダ
１１ａから所定長さ引き出す。受光装置１５は、カット
バック法による被測定ファイバ２の測定に際し、被測定
ファイバ２を伝送されてくる検査光の光強度を測定する
もので、例えば、パワーメータを使用する。

【００１５】突合せ接続装置１６は、バックスキャタリ
ング法による測定に際し、被測定ファイバ２の端末処理
されて露出した各光ファイバ心線の一端をＯＴＤＲ側に
光接続する接続装置である。押上手段１７は、測定対象
の被測定ファイバ２を保持したホルダ１１ａを、搬送装
置１３による把持が容易なように、ホルダパレット１１
の上方へ順次押上げる。

【００１６】第２ハンドリング部２０は、カットバック
法による測定に際し、切断前の被測定ファイバ２の他端
を光源と光接続させるべく取り扱う部分で、図２及び図
５に示すように、ホルダパレット２１、端末処理装置２
２、搬送装置２３、引出し装置２４、押上手段２６及び
突合せ接続装置２７を備えている。ここで、以下に続く
説明において、第１ハンドリング部１０と同一の構成部
分には、図において対応する符号を付し、その詳細な説
明を省略する。

【００１７】突合せ接続装置２７は、被測定ファイバ２
の他端における各光ファイバ心線をダミーファイバ（図
示せず）の一端と突合せ接続するもので、前記ダミーフ
ァイバの他端は、ＬＥＤ、半導体レーザあるいはハロゲ
ンランプ等の光源と光接続されている。第３ハンドリン
グ部３０は、カットバック法による測定に際し、被測定
ファイバ２の前記ダミーファイバ側を手繰り寄せて所定
位置で切断し、ダミーファイバ側に位置する被測定ファ
イバ２の切断部を受光装置と光接続する部分で、図３及
び図５に示すように、ホルダパレット３１、端末処理装
置３２、搬送装置３３、引出し装置３４、受光装置３
５、押上手段３６、手繰り装置３８、掴み替装置３９及
びチャック装置４０を備えている。

【００１８】ここで、手繰り装置３８は、図５に示すよ
うに、手繰りシリンダ３８ａ、手繰りシリンダ３８ａと
連結された昇降シリンダ３８ｂ、一組のチャック３８
ｃ、ファイバカッタ３８ｄを備えており、一組のチャッ
ク３８ｃとファイバカッタ３８ｄは昇降シリンダ３８ｂ
によって昇降される昇降テーブル３８ｅ上に設置されて
いる。

【００１９】掴み替装置３９は、第２ハンドリング部２
０で切断された被測定ファイバ２のダミーファイバ側に
おける切断部近傍を、一組のチャック３８ｃから掴み替
えてくる装置で、図５に示すように、昇降シリンダ３９
ａ、昇降シリンダ３９ａによって昇降されるロータリー
アクチュエータ（以下、単に「アクチュエータ」とい
う）３９ｂ、アクチュエータ３９ｂに垂設される装着シ
リンダ３９ｃ及び装着シリンダ３９ｃによって昇降され
る設置台３９ｄを有しており、設置台３９ｄの下部には
一組のチャック３９ｅが垂設されている。

【００２０】チャック装置４０は、掴み替装置３９が第
２ハンドリング部２０から掴み替えてきた被測定ファイ
バ２の切断部を把持し、一組のチャック３９ｅと協働し
て被測定ファイバ２をパレットホルダ３１に配列された
ホルダ３１ａに保持させるもので、図示のように、昇降
シリンダ４０ａ、昇降シリンダ４０ａによって押し出さ
れる押出しシリンダ４０ｂ及び押出しシリンダ４０ｂの
先端に設けられるチャック４０ｃを有している。

【００２１】本発明の光ファイバの並行測定方法は、上
記測定システム１を用いて、例えば、カットバック法及
びバックスキャタリング法に関する測定が以下のように
して実行される。ここにおいて、測定システム１におけ
る測定に際しては、予め測定すべき複数の被測定ファイ
バ２の各端部を夫々ホルダ２１ａ，３１ａに保持させ
て、各ホルダパレット２１，３１に配列させておく。そ
して、測定システム１の作動を開始すると、各ハンドリ
ング部１０〜３０がシーケンシャルに作動して、各部の
ホルダがハンドリングされ、各被測定ファイバ２を伝送
されてくる検査光のカットバック法及びバックスキャタ
リング法による測定が夫々並行して自動的に実行され、
検査光の伝送損失が求められる。以下、光ファイバの並
行測定方法を詳細に説明する。

【００２２】先ず、被測定ファイバ２のカットバック法
による測定に際し、第１ハンドリング部１０では、ホル
ダパレット１１に配列された各ホルダ１１ａを搬送装置
１３によって順次把持し、端末処理装置１２に搬送す
る。端末処理装置１２では、ホルダ１１ａに保持された
被測定ファイバ２の一端が端末処理され、搬送装置１０
は端末処理が終了すると、そのホルダ１１ａを把持して
受光装置１５に搬送し、ホルダ１１ａに保持された被測
定ファイバ２の一端を受光装置１５に突合わせる。

【００２３】ここで、端末処理装置１２による被測定フ
ァイバ２の端末処理が不良の場合には、このファイバ２
を保持したホルダ１１ａは搬送装置１３によって引出し
装置１４に搬送され、端末処理装置１２による再処理が
可能なように、被測定ファイバ２の端部がホルダ１１ａ
から所定長さ引き出された後、再度端末処理装置１２に
搬送される。

【００２４】次に、第３ハンドリング部３０において手
繰り装置３８が作動し、昇降シリンダ３８ｂが被測定フ
ァイバ２の高さまで上昇すると、手繰りシリンダ３８ａ
が一組のチャック３８ｃを開放した状態で所定位置まで
繰り出される。次いで、手繰りシリンダ３８ａの繰出し
位置で一組のチャック３８ｃにより被測定ファイバ２を
把持した後、手繰りシリンダ３８ａが、図６に示すよう
に元の位置まで引き戻され、被測定ファイバ２が予め設
定した所定長さ（１〜２ｍ）手繰り寄せられる。

【００２５】しかる後、第２ハンドリング部２０におい
て、ホルダパレット２１に配列された各ホルダ１１ａを
搬送装置２３が順次把持し、第１ハンドリング部１０と
同様にして、端末処理装置２２によりホルダ２１ａに保
持された被測定ファイバ２の他端を端末処理した後、突
合せ接続装置２７に搬送し、被測定ファイバ２の他端を
前記ダミーファイバに突合せ接続する。

【００２６】これにより、被測定ファイバ２は、一端が
受光装置１５に、他端が前記ダミーファイバを介して前
記光源に夫々光接続され、前記光源から伝送されてくる
検査光の強度が受光装置１５で測定される。ここで、前
記第１ハンドリング部１０の場合と同様に、端末処理装
置２２による被測定ファイバ２の端末処理が不良の場合
には、このファイバ２を保持したホルダ２１ａは引出し
装置２４に搬送され、被測定ファイバ２の端部がホルダ
２１ａから所定長さ引き出された後、再度端末処理装置
２２に搬送される。

【００２７】このようにして被測定ファイバ２の全長に
おける測定が終了すると、図７に示すように、被測定フ
ァイバ２がファイバカッタ３８ｄによって第１ハンドリ
ング部１０側で切断される。これにより、被測定ファイ
バ２は、ダミーファイバ側に位置する１〜２ｍ程度の短
い部分と、長さ数kmに及ぶ受光装置１５側に位置する残
余の部分とに分けられる。

【００２８】次に、第３ハンドリング部３０の掴み替装
置３９が作動し、図８に示すように、ダミーファイバ側
の短い被測定ファイバ２を一組のチャック３８ｃから一
組のチャック３９ｅに掴み替えてくる。これと並行し
て、図示したように、押上手段３６がホルダパレット３
１上の所定のホルダ３１ａを上昇させる。次いで、搬送
装置３３が作動し、図９に示すように、昇降シリンダ３
３ａが開放楔３３ｂを下降させ、ホルダパレット３１上
の磁力によって閉じている所定のホルダ３１ａを開く。

【００２９】しかる後、昇降シリンダ３３ａが開放楔３
３ｂを上昇させると共に、アクチュエータ３９ｂが作動
して、装着シリンダ３９ｃを設置台３９ｄと共に 180度
回転させ、図１０に示すように、一組のチャック３９ｅ
が把持している被測定ファイバ２の切断部をチャック装
置４０側に向ける。このとき、アクチュエータ３９ｂの
作動と並行してチャック装置４０が作動し、図に示した
ように、昇降シリンダ４０ａが押出しシリンダ４０ｂを
被測定ファイバ２と対向する位置まで上昇させる。

【００３０】次に、チャック装置４０が作動し、チャッ
ク４０ｃで被測定ファイバ２の切断部を把持して、図１
１に示すように、被測定ファイバ２を開いているホルダ
３１ａの直上まで引き出してくる。次いで、掴み替装置
３９の装着シリンダ３９ｃとチャック装置４０の昇降シ
リンダ４０ａが、夫々設置台３９ｄと押出しシリンダ４
０ｂを下降させ、図１２に示すように、一組のチャック
３９ｅとチャック４０ｃに把持された被測定ファイバ２
を前記ホルダ３１ａ間に装着する。

【００３１】しかる後、搬送装置３３が作動して昇降シ
リンダ３３ａにより一組のチャック３３ｃが下降され、
図１３に示すように、一組のチャック３３ｃで開いてい
るホルダ３１ａを閉じ、被測定ファイバ２の切断部側を
保持させる。次に、搬送装置３３が、ホルダ３１ａを把
持して端末処理装置３２から受光装置３５へと順次搬送
する。これにより、切断された被測定ファイバ２は、一
端が突合せ接続装置２７において前記光源に、他端が受
光装置３５に、夫々光接続され、前記ダミーファイバを
介して被測定ファイバ２の切断部から出射される検査光
は受光装置３５で測定される。

【００３２】かくして、カットバック法による測定が終
了すると、被測定ファイバ２の切断部近傍を保持してい
るホルダ３１ａは、搬送装置３３によりホルダパレット
３１上の元の位置へ戻される。一方、各被測定ファイバ
２の切断部における上記カットバック法による測定と並
行して、切断された残余の被測定ファイバ２に関するバ
ックスキャタリング法による測定が実行される。

【００３３】即ち、第１ハンドリング部１０において、
被測定ファイバ２の受光装置１５側を保持しているホル
ダ１１ａが搬送装置１３により突合せ接続装置１６に搬
送される。これにより、第３ハンドリング部３０のファ
イバカッタ３８ｄで切断された被測定ファイバ２は、突
合せ接続装置１６においてＯＴＤＲ側に光接続され、Ｏ
ＴＤＲから出射される検査光による測定が行われる。こ
のとき、搬送装置１３が把持するホルダ１１ａに保持さ
れた被測定ファイバ２は、長さ数kmに及ぶ受光装置１５
側に位置する部分で、切断部が自由端となっている。

【００３４】このようにして、被測定ファイバ２は、各
部においてカットバック法あるいはバックスキャタリン
グ法による測定が並行して行われ、各測定結果に基づい
て被測定ファイバ２の伝送損失等が求められる。以下、
上記と同様にして他の被測定ファイバ２に関する測定が
自動的に実行され、各被測定ファイバ２の伝送損失等が
求められてゆく。

【００３５】尚、上記実施例は、被測定ファイバが複数
の光ファイバからなる多心ファイバの場合について説明
したが、単心の光ファイバであっても実行可能なことは
言うまでもない。また、その他の測定法としては、バッ
クスキャタリング法に限られるものではなく、光ファイ
バのコア径、クラッド径等の測定法であっても実施可能
であることは言うまでもない。

【００３６】

【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明の
光ファイバの並行測定方法によれば、被測定ファイバの
カットバック法及び他の測定方法による測定を並行して
行うことができ、被測定ファイバの端末処理を測定方法
が異なる度毎に行う必要がないため作業上の無駄がな
く、多数の被測定ファイバを短時間で測定することがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明方法に用いる測定システムの一例を示す
もので、第１ハンドリング部の概略構成図である。

【図２】同じく第２ハンドリング部の概略構成図であ
る。

【図３】同じく第３ハンドリング部の概略構成図であ
る。

【図４】図１に示した第１ハンドリング部の断面正面図
である。

【図５】図２及び図３に示した第２及び第３ハンドリン
グ部の断面正面図である。

【図６】カットバック法による被測定ファイバの測定に
際し、第３ハンドリング部において被測定ファイバの手
繰り寄せを説明する断面正面図である。

【図７】被測定ファイバを、第２ハンドリング部でダミ
ーファイバと突合わせ接続した後、突合せ端近傍で切断
した状態を示す断面正面図である。

【図８】切断した被測定ファイバを切断部で検査光を測
定すべく、被測定ファイバのダミーファイバ側を掴み替
えた状態を示す断面正面図である。

【図９】掴み替えた被測定ファイバを保持させるホルダ
開く状態を示す断面正面図である。

【図１０】掴み替えた被測定ファイバの向きを変えた状
態を示す断面正面図である。

【図１１】向きを変えた被測定ファイバを第３ハンドリ
ング部のホルダ上に引き出した状態を示す断面正面図で
ある。

【図１２】引き出した被測定ファイバを前記ホルダに装
着した状態を示す断面正面図である。

【図１３】被測定ファイバを装着したホルダを閉じた状
態を示す断面正面図である。

【符号の説明】

２ 被測定ファイバ １０ 第１ハンドリング部 １５ 受光装置（測光手段） ２０ 第２ハンドリング部 ２７ 突合せ接続装置 ３０ 第３ハンドリング部 ３８ 手繰り装置 ３８ｄ ファイバカッタ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐々木 宏治 東京都千代田区丸の内２丁目６番１号 古 河電気工業株式会社内

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 【請求項１】 両端に端末加工を施した被測定ファイバ
   の一端を、光源に接続されたダミーファイバと突合わせ
   接続すると共に、他端を測光手段に対向配置し、前記光
   源からの検査光を測光手段で測定した後、前記被測定フ
   ァイバを突合せ端近傍で切断し、切断された被測定ファ
   イバにおける突合せ端側の切断部で再度前記光源からの
   検査光を測定するカットバック法による被測定ファイバ
   の測定を行うと共に、切断された被測定ファイバに対
   し、他の測定項目に関する測定を行うことを特徴とする
   光ファイバの並行測定方法