[go: up one dir, main page]

JPH05323201A - microscope - Google Patents

microscope

Info

Publication number
JPH05323201A
JPH05323201A JP4148937A JP14893792A JPH05323201A JP H05323201 A JPH05323201 A JP H05323201A JP 4148937 A JP4148937 A JP 4148937A JP 14893792 A JP14893792 A JP 14893792A JP H05323201 A JPH05323201 A JP H05323201A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
arm
microscope
stage
optical system
lens barrel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4148937A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hidehiko Furuhashi
英彦 古橋
Manabu Sato
学 佐藤
Toshinobu Ito
敏伸 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP4148937A priority Critical patent/JPH05323201A/en
Publication of JPH05323201A publication Critical patent/JPH05323201A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 顕微鏡本体を支持するアームを軽量化すると
ともに、顕微鏡に作用する振動を遮断する。 【構成】 顕微鏡を支持する門型アーム7を円弧アーチ
形状と、ステージ4を跨ぐように架設し、その脚部7c
をベース1に固定する。またアーム7のスパンのほぼ中
央位置に焦準用昇降機構15を独立して吊持し、延長リ
レー鏡筒14を長手方向にアーム7に一体的に取り付
け、観察用鏡筒13を直接アーム7本体に取り付ける。
(57) [Summary] [Purpose] The weight of the arm that supports the microscope body is reduced, and the vibration that acts on the microscope is blocked. [Arrangement] A gate-shaped arm 7 for supporting a microscope is installed in an arcuate arch shape so as to straddle the stage 4, and its leg portion 7c.
Is fixed to the base 1. Further, the focusing elevating mechanism 15 is independently suspended at a substantially central position of the span of the arm 7, the extension relay lens barrel 14 is integrally attached to the arm 7 in the longitudinal direction, and the observation lens barrel 13 is directly attached to the arm 7 main body. Attach to.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は顕微鏡に係り、特に大型
の液晶基板等の板状試料の外観検査を容易に行えるよう
にした顕微鏡に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a microscope, and more particularly to a microscope which enables easy visual inspection of a plate-shaped sample such as a large-sized liquid crystal substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年ラップトップのワープロ、パーソナ
ルコンピュータや車載液晶テレビ等では表示画面の大型
化や高解像化が進んでおり、表示部分を構成する液晶デ
ィスプレイ基板も大型化するとともに、高い製品精度が
要求されるようになっている。このため製品の外観検査
等には例えば一辺が400mm以上の大きな板状試料も載置
できるようなステージを有する顕微鏡が必要になってき
ている。一方、半導体製造工程においても使用するウェ
ハや露光用レチクルのような大型の板状試料の状態を検
査するため、試料のハンドリング等を考慮した顕微鏡も
各種開発されている。
2. Description of the Related Art In recent years, the display screens of laptop word processors, personal computers, in-vehicle liquid crystal televisions, etc. have become larger and have higher resolutions, and the liquid crystal display substrate that constitutes the display portion has also become larger and the products are expensive. Precision is required. For this reason, a microscope having a stage on which a large plate-shaped sample having a side of 400 mm or more can be placed is required for the visual inspection of products. On the other hand, in order to inspect the state of a large plate-shaped sample such as a wafer or an exposure reticle used also in a semiconductor manufacturing process, various microscopes have been developed in consideration of sample handling and the like.

【0003】図4及び図5は従来のこの種の検査用の顕
微鏡を示した側面図及び平面図である。同図において、
符号50はベースを示しており、このベース50は安定
した作業テーブルT上に水平を保持して設置されてい
る。またベース50の上面にはステージ51が載置固定
されている。このステージ51はX、Y軸方向の直交方
向にスライドさせることができ、ステージ51上にセッ
トされた試料52の位置を粗微動調整するようになって
いる。
4 and 5 are a side view and a plan view showing a conventional microscope for inspection of this kind. In the figure,
Reference numeral 50 indicates a base, which is installed horizontally on a stable work table T. A stage 51 is placed and fixed on the upper surface of the base 50. The stage 51 can be slid in the directions orthogonal to the X and Y axis directions, and the position of the sample 52 set on the stage 51 is adjusted roughly and finely.

【0004】一方、このステージ51の上方にはステー
ジ51を跨ぐようにして門型のアーム53が架設されて
いる。その形状としては図5に示したように平面形状は
両脚部がベース50の端部に位置するような略Y字形を
なし、また図5に示したように長い水平スパンの水平梁
部53aとその両端に位置する斜め梁53bと支持部で
ある短柱部53cとからなる門型形状で顕微鏡本体55
の重量を支持するようになっている。このとき顕微鏡本
体55は焦準用昇降機構54により昇降可能にアーム5
3に片持ち状態で支持され、焦準用昇降機構54の駆動
により昇降するようになっている。
On the other hand, above the stage 51, a gate-shaped arm 53 is installed so as to straddle the stage 51. As for the shape, as shown in FIG. 5, the planar shape is substantially Y-shaped so that both legs are located at the ends of the base 50, and as shown in FIG. 5, a horizontal beam portion 53a having a long horizontal span is formed. The microscope main body 55 has a gate-like shape composed of diagonal beams 53b located at both ends thereof and a short column portion 53c which is a supporting portion.
It is designed to support the weight of. At this time, the microscope main body 55 can be raised and lowered by the focusing raising and lowering mechanism 54.
It is supported in a cantilevered state by means of 3 and can be raised and lowered by driving the focusing raising and lowering mechanism 54.

【0005】また、顕微鏡本体55はステージ51上に
載置された基板等の試料52を観察する対物レンズ56
と、複数の対物レンズ56を保持し電動操作によりレン
ズ切り替え可能な電動レボルバユニット57と、対物レ
ンズ56を介して試料面を照明する反射照明装置58
と、対物レンズ56からの結像光線の鉛直光軸A1をス
テージ51のY軸方向に向いた水平光線となるように光
線を偏角してさらにベース50端部の上方に位置する観
察用鏡筒59の位置まで延長するリレー光学系A2を収
容する延長リレー鏡筒60と、この延長リレー鏡筒60
の先端に取着され接眼レンズ61を備えた観察用鏡筒5
9とから構成されている。したがって顕微鏡本体55で
は対物レンズ56からの鉛直光軸A1は、図示しないプ
リズムまたは反射鏡により直角に偏角され、リレー光学
系の水平光軸A2に導かれ、さらに図示しないプリズム
または反射鏡により上方に向けて直角に偏角され、観察
用鏡筒59内を経由して接眼レンズ61に入射するよう
に設定されている。
The microscope main body 55 has an objective lens 56 for observing a sample 52 such as a substrate mounted on the stage 51.
An electric revolver unit 57 that holds a plurality of objective lenses 56 and can switch the lenses by electric operation, and a reflection illuminator 58 that illuminates the sample surface via the objective lenses 56.
And an observation mirror positioned above the end of the base 50 by declining the light beam so that the vertical optical axis A1 of the image-forming light beam from the objective lens 56 becomes a horizontal light beam oriented in the Y-axis direction of the stage 51. An extension relay barrel 60 for accommodating the relay optical system A2 extending to the position of the barrel 59, and this extension relay barrel 60
For observation 5 equipped with an eyepiece lens 61 attached to the distal end of the
It is composed of 9 and 9. Therefore, in the microscope body 55, the vertical optical axis A1 from the objective lens 56 is deviated at a right angle by a prism or reflecting mirror (not shown), is guided to the horizontal optical axis A2 of the relay optical system, and is further upward by a prism or reflecting mirror (not shown). It is set so as to be deviated at a right angle toward the eyepiece and enters the eyepiece lens 61 via the inside of the observation lens barrel 59.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところで、より大型の
試料を検査するためにはその試料を載置可能なステージ
51をベース50上に設けなければならないので、上述
のように構成された顕微鏡本体55ではステージ51の
大きさに比例してリレー光学系の光路長も長くなり、こ
のリレー光学系を収容する延長リレー鏡筒60の長さも
これに合わせて長くなる。
By the way, in order to inspect a larger sample, the stage 51 on which the sample can be placed must be provided on the base 50. Therefore, the microscope main body constructed as described above. At 55, the optical path length of the relay optical system becomes long in proportion to the size of the stage 51, and the length of the extension relay barrel 60 that accommodates this relay optical system also becomes long accordingly.

【0007】また、上述の顕微鏡本体55は、延長リレ
ー鏡筒60のほぼ中央位置において焦準用昇降機構54
を介して支持され、延長リレー鏡筒60の一端には観察
用鏡筒59が取り付けられ、他端には反射照明装置58
と電動レボルバユニット57とが連結されている。これ
らは観察用鏡筒59より重量が大きいので、顕微鏡本体
55の重心位置が支持位置にほぼ一致するような構造に
して全体構造系としてバランスをとっている。
Further, the above-mentioned microscope body 55 has a focusing elevating mechanism 54 at a substantially central position of the extension relay barrel 60.
The observation lens barrel 59 is attached to one end of the extension relay lens barrel 60, and the reflection illumination device 58 is attached to the other end.
And the electric revolver unit 57 are connected. Since these are heavier than the observation lens barrel 59, the structure is such that the position of the center of gravity of the microscope main body 55 substantially coincides with the supporting position, and the overall structural system is balanced.

【0008】ところが、このように水平方向に比較的長
い構造系を水平梁のほぼ中央位置で一点支持しているた
め、アームの水平梁が撓みやすく、その撓みの影響を著
しく受けるとともに、ステージ移動時等の作業時に発生
する振動や検査室を取りまく環境下での常微動等の外部
振動に対して敏感で、アームに支持された顕微鏡本体が
振動し易くなっている。このため観察時に顕微鏡像が揺
れて観察像の像ズレが生じ、検査に支障が出るという問
題がある。
However, since the structural system which is relatively long in the horizontal direction is supported at a substantially central position of the horizontal beam as described above, the horizontal beam of the arm easily bends and is greatly affected by the bending and the stage moves. For example, the microscope main body supported by the arm is apt to vibrate because it is sensitive to vibrations generated during work such as time and external vibrations such as microtremor in the environment surrounding the examination room. For this reason, there is a problem that the microscope image shakes during observation, causing an image shift of the observation image, which interferes with the inspection.

【0009】また、重量のある顕微鏡本体が可動部材で
ある焦準用昇降機構により支持されているので、観察時
等に顕微鏡本体が自重により下降したりしないように焦
準用昇降機構にロック機構等を付加する必要があり、構
造上も複雑で、操作性も悪くなるという問題も生じる。
Further, since the heavy microscope main body is supported by the focusing elevating mechanism which is a movable member, a lock mechanism or the like is provided to the focusing elevating mechanism so that the microscope body does not descend due to its own weight during observation. There is also a problem that it needs to be added, the structure is complicated, and the operability is deteriorated.

【0010】そこで、本発明の目的は上述した従来の技
術が有する問題点を解消し、顕微鏡操作時に振動等の影
響を小さくすることができる構造の顕微鏡を提供するこ
とにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the conventional technique and to provide a microscope having a structure capable of reducing the influence of vibration and the like during the operation of the microscope.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は基台と、該基台上に固定され所定の案内部
材に沿い移動可能なステージと、前記基台に固着され前
記ステージを跨ぐように架設された門型アームと、該ア
ームに固着された焦準用昇降機構により昇降可能に支持
され前記ステージ上に載置された試料に焦準する対物レ
ンズと、該対物レンズからの結像光線を所定方向に偏向
する偏向光学系と、該偏向光学系により偏向された光路
を延長して観察用鏡筒光学系に導くリレー光学系とを備
えた顕微鏡において、前記門型アームは曲線アーチ形状
をなしたことを特徴とするものである。
In order to achieve the above object, the present invention provides a base, a stage fixed on the base and movable along a predetermined guide member, and fixed to the base. A gate-shaped arm that is installed so as to straddle the stage, an objective lens that is supported by a focusing elevating mechanism that is fixed to the arm so as to be able to move up and down, and that focuses on a sample that is placed on the stage; In a microscope having a deflecting optical system for deflecting the image-forming light beam in a predetermined direction, and a relay optical system for extending the optical path deflected by the deflecting optical system and guiding it to the observation lens barrel optical system. Is characterized by having a curved arch shape.

【0012】このとき前記門型アームは、円弧のアーチ
形状をなし、該円弧のほぼ頂点位置に前記焦準用昇降機
構が吊持され、前記リレー光学系を収容する延長リレー
鏡筒が長手方向に一体的に取着され、前記観察用鏡筒光
学系を収容する観察用鏡筒がアーム本体に直接取り付け
られるようにすることが好ましい。
At this time, the gate-shaped arm has an arcuate arch shape, the focusing elevating mechanism is suspended at a substantially apex position of the arc, and an extension relay barrel for accommodating the relay optical system is longitudinally arranged. It is preferable that the observation lens barrel, which is integrally attached and accommodates the observation lens barrel optical system, is directly attached to the arm body.

【0013】[0013]

【作用】本発明によれば、顕微鏡を支持する門型アーム
を曲線アーチ形状とし、前記ステージを跨ぐように架設
してその脚部をベースに固定したので、アームのスパン
中央部に発生する曲げモーメントを最小限に押さえるこ
とができ、これにより撓みをほとんど生じないようにで
きるとともに、外部振動の影響を最小限にすることがで
きる。
According to the present invention, since the gate-shaped arm for supporting the microscope is formed into a curved arch shape and is installed so as to straddle the stage and its legs are fixed to the base, the bending generated at the center portion of the span of the arm. The moment can be kept to a minimum, which makes it possible to produce almost no bending and to minimize the effect of external vibrations.

【0014】また、前記門型アームを特に円弧アーチ形
状とすることにより、曲げモーメントを発生させないよ
うにして部材厚さを薄くすることができ、アームの応力
状態を安定した状態にできるとともに、さらに前記円弧
のほぼ頂点位置に前記焦準用昇降機構を独立して吊持
し、前記延長リレー鏡筒を長手方向にアームに一体的に
取り付け、観察用鏡筒を直接アーム本体に取り付けたこ
とにより、前記焦準用昇降機構及び前記反射照明装置を
アームのほぼ重心位置で支持でき、また該焦準用昇降機
構と延長リレー鏡筒とを分離してアームに固定できるの
で、顕微鏡本体がアームに対して張り出し部のない構造
系をとることができ、顕微鏡本体に作用する外部振動や
観察時に顕微鏡自体の可動部から発生する振動を除去で
き、観察像の像ズレを防ぐことができる。
Further, by making the gate-shaped arm particularly arcuate arch-shaped, it is possible to reduce the member thickness without generating a bending moment, and to stabilize the arm stress state. By independently suspending the focusing elevating mechanism at approximately the apex position of the arc, the extension relay lens barrel is integrally attached to the arm in the longitudinal direction, and the observation lens barrel is directly attached to the arm body, Since the focusing elevating mechanism and the reflection illuminating device can be supported at substantially the center of gravity of the arm, and the focusing elevating mechanism and the extension relay lens barrel can be separated and fixed to the arm, the microscope main body overhangs the arm. It is possible to create a structure system without parts, eliminate external vibration that acts on the microscope main body and vibration that occurs from the movable part of the microscope itself during observation, and thus the image shift of the observed image It is possible to prevent.

【0015】[0015]

【実施例】以下、本発明による顕微鏡の一実施例を図1
及び図2を参照して説明する。図1は本発明による顕微
鏡の側面図を示している。同図において、符号1はベー
スを示しており、このベース1は作業テーブルT上に水
平を保持して設置されている。本実施例ではこの作業テ
ーブルTは内部にエアサーボ等の除振機構を装備してお
り、この除振機構により外部振動を遮断できるようにな
っている。またこのベース1内には照明用光源及びその
安定装置が収容されており、顕微鏡本体の対物レンズ2
直上に装着された反射照明装置3まで図示しない光ファ
イバケーブルを介して照明光を導出できるようになって
いる。なお、ベース1内には併せて透過照明装置も装備
されており、両方の照明系により基板の観察が行えるよ
うになっている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a microscope according to the present invention will be described below with reference to FIG.
2 and FIG. 2. FIG. 1 shows a side view of a microscope according to the invention. In the figure, reference numeral 1 indicates a base, which is installed horizontally on the work table T. In this embodiment, the work table T is internally provided with a vibration isolation mechanism such as an air servo, and the vibration isolation mechanism can block external vibration. In addition, a light source for illumination and a stabilizing device therefor are housed in the base 1, and the objective lens 2 of the microscope main body 2
Illumination light can be led up to the reflection illumination device 3 mounted right above through an optical fiber cable (not shown). A transillumination device is also provided in the base 1 so that the substrate can be observed by both illumination systems.

【0016】さらにこのベース1の上面にはステージ4
が載置固定されている。このステージ4上には図示しな
い試料ホルダが取り付けられており、この試料ホルダに
より観察対象である液晶基板等の板状試料を所定位置に
固定できるようになっている。またステージ4は直交す
るX、Y軸方向の2層に配置された案内レール5、6上
にスライド可能に載置され、図示しない手動のハンドル
及びDCモータとにより移動する。
Further, a stage 4 is provided on the upper surface of the base 1.
Is placed and fixed. A sample holder (not shown) is mounted on the stage 4, and the plate holder such as a liquid crystal substrate to be observed can be fixed at a predetermined position by the sample holder. The stage 4 is slidably mounted on guide rails 5 and 6 arranged in two layers in the X and Y axis directions orthogonal to each other, and is moved by a manual handle and a DC motor (not shown).

【0017】一方、観察者側の前面側から後方に向けて
ステージ4を跨ぐようにして門型のアーム7が架設され
ている。この門型アーム7は上述のステージのY軸方向
に沿ってスパン中央部7aから両方の肩部7bにかけて
大きな半径の緩い円弧形状をなし、肩部7bの小さい曲
率半径のすり付け部分を介して下端のほぼ鉛直な側壁7
cを構成するようになっている。そして側壁7cの下端
においてベース1に図示しないネジ等で固定されてい
る。また平面形状としては図2に示したように側壁7c
がベース1の両端部に位置するような略く字形をなして
いる。なお、この門型アームの平面形状はV字形あるい
はY字形をなしていても構造上何ら問題はない。
On the other hand, a gate-shaped arm 7 is installed so as to straddle the stage 4 from the front side on the observer side to the rear side. The gate-shaped arm 7 has a gentle arc shape with a large radius from the span center portion 7a to both shoulder portions 7b along the Y-axis direction of the above-mentioned stage, and through the rubbed portion of the shoulder portion 7b having a small radius of curvature. Almost vertical side wall 7 at the lower end
c is configured. The lower end of the side wall 7c is fixed to the base 1 with a screw or the like (not shown). Further, as shown in FIG. 2, the side wall 7c has a planar shape.
Has a substantially V-shape that is located at both ends of the base 1. It should be noted that there is no problem structurally even if the plane shape of the gate-shaped arm is V-shaped or Y-shaped.

【0018】また、本実施例のアーム7は一体型のアル
ミニウム合金鋳物で製作されており、シェルを構成する
部分の部材の肉厚は厚さ約12mmに設計されている。
また、図1に示したように端面7dには所定幅のリブが
形成されている。
Further, the arm 7 of this embodiment is made of an integral type aluminum alloy casting, and the wall thickness of the member constituting the shell is designed to be about 12 mm.
Further, as shown in FIG. 1, ribs having a predetermined width are formed on the end surface 7d.

【0019】一方、顕微鏡光学系10の構成部材は、ス
テージ4上に載置された板状試料を観察する対物レンズ
2と、複数の対物レンズ2を保持し電動操作によりレン
ズ切り替え可能な電動レボルバユニット11と、対物レ
ンズ2を介して試料面を照明する反射照明装置3と、対
物レンズ2からの結像光線の鉛直光軸A1をさらにアー
ム7端部の上方に位置する観察用鏡筒13の位置まで延
長するリレー光学系A2を収容する延長リレー鏡筒14
と、この延長リレー鏡筒14の先端に連結され、アーム
上部に固定され接眼レンズ12を備えた観察用鏡筒13
とから構成されている。
On the other hand, the constituent members of the microscope optical system 10 are an objective lens 2 for observing a plate-shaped sample placed on the stage 4, and an electric revolver which holds a plurality of objective lenses 2 and which can be switched by electric operation. The unit 11, the reflection illuminating device 3 that illuminates the sample surface via the objective lens 2, and the observation lens barrel 13 that is positioned above the vertical optical axis A1 of the image-forming light beam from the objective lens 2 further above the end of the arm 7. Extension relay barrel 14 for accommodating the relay optical system A2 extending to the position
And an observation lens barrel 13 connected to the tip of the extension relay lens barrel 14 and fixed to the upper part of the arm and equipped with an eyepiece lens 12.
It consists of and.

【0020】このうち反射照明装置3と、この反射照明
装置3に連結された電動レボルバユニット11とが焦準
用昇降機構15を介してアーム7のほぼ中心位置から吊
持されている。反射照明装置3は図1及び図2に示した
ように直方体形状のハウジングに収容され、このハウジ
ングのほぼ中央位置に吊り点が設けられ、焦準用昇降機
構15の駆動に対して滑らかな昇降が可能となる。反射
照明装置3の機能としてはベース1内の図示しない光源
から光ファイバを介して導かれた照明光が対物レンズ2
の直上位置に設置された図示しないハーフミラーで対物
レンズ2に向けて反射され対物レンズ2内を経由して試
料を照明する。
Of these, the reflection illuminator 3 and the electric revolver unit 11 connected to the reflection illuminator 3 are suspended from a substantially central position of the arm 7 via a focusing elevating mechanism 15. The reflection illumination device 3 is housed in a rectangular parallelepiped housing as shown in FIGS. 1 and 2, and a hanging point is provided at a substantially central position of the housing, so that the lifting / lowering mechanism 15 for focusing can smoothly move up and down. It will be possible. As a function of the reflective illumination device 3, illumination light guided from an unillustrated light source in the base 1 through an optical fiber is used for the objective lens 2.
The sample is illuminated through the inside of the objective lens 2 by being reflected toward the objective lens 2 by a half mirror (not shown) installed immediately above the position.

【0021】また、焦準用昇降機構15は反射照明装置
3側に固着された外筒部15aと、この外筒部15aと
入れ子構造になるアーム7側に固着された内筒部15b
とからなり、内筒部15b内に収容された図示しないD
Cモータによりギヤトレイン等の駆動伝達部を介して外
筒部15aを昇降させることができる。また対物レンズ
2からの結像光線の鉛直光軸A1が通過する鏡筒16も
入れ子式になっており、外筒部16aが上下動して全体
が自由に伸縮し、筒長を自由に設定できるとともに、外
部からの迷光を遮断できるように内筒部15bの外周に
リング状のブラインド部材が装着されている。
Further, the focusing elevating mechanism 15 has an outer cylindrical portion 15a fixed to the reflection illuminating device 3 side, and an inner cylindrical portion 15b fixed to the outer cylindrical portion 15a and the arm 7 side which is nested.
Which is not shown and is housed in the inner cylindrical portion 15b.
The outer cylinder portion 15a can be moved up and down by a C motor via a drive transmission portion such as a gear train. Further, the lens barrel 16 through which the vertical optical axis A1 of the image-forming light beam from the objective lens 2 passes is also nested, and the outer tube portion 16a moves up and down to freely expand and contract, and the tube length can be freely set. In addition, a ring-shaped blind member is attached to the outer circumference of the inner cylindrical portion 15b so as to block stray light from the outside.

【0022】さらに鉛直光軸A1の鏡筒16の直上のア
ーム中央位置7aとの交点近傍には光路切り替え可能な
偏向光学系を構成するプリズムシステム20が装備され
ている。このプリズムシステム20は光軸を観察用鏡筒
13に向けて偏角する全反射偏角プリズム20Aと、対
物レンズ2からの光線を、アーム7の中央位置7aに設
けられた写真用直筒21への光線と観察用鏡筒13への
光線とに所定の分割比で分割するハーフミラー(図示せ
ず)と、写真用直筒21の位置に設置され液晶基板表面
の修復作業等を行う図示しないレーザリペアリング装置
のレーザ光を通過させるための円筒ガラス(図示せず)
とから構成されている。これらのプリズムは切り替えレ
バー22で簡単に切り替えることができる。
Further, near the intersection of the vertical optical axis A1 with the arm center position 7a immediately above the lens barrel 16, there is provided a prism system 20 which constitutes a deflecting optical system capable of switching optical paths. The prism system 20 includes a total reflection deflection angle prism 20A that deviates the optical axis toward the observation lens barrel 13 and a light beam from the objective lens 2 to a photographic straight tube 21 provided at a central position 7a of the arm 7. Half mirror (not shown) that divides the light beam of the above and the light beam to the observation lens barrel 13 at a predetermined division ratio, and a laser (not shown) that is installed at the position of the straight tube 21 for photography and performs repair work of the liquid crystal substrate surface. Cylindrical glass (not shown) for passing the laser light of the repairing device
It consists of and. These prisms can be easily switched by the switching lever 22.

【0023】ここでは上述のプリズムシステム20のう
ち全反射偏角プリズムで光軸を偏角し観察用鏡筒13で
観察する観察光学系の構成を例に説明する。対物レンズ
2からの対物像の結像光線は、反射照明装置3内の図示
しないハーフミラーを通過し、プリズムシステム20の
全反射偏角プリズムに相当する第1の偏角プリズム20
Aで図1及び図2に示したように振れ角α°及び俯角β
°で偏角される。さらにこの偏角された観察光路を観察
用鏡筒13の位置まで延長するために延長リレー鏡筒1
4がアーム7の下面に沿い一体的に固着されている。こ
の延長リレー鏡筒14の内部には複数のリレーレンズ群
が収容され、所定の中間倍率のリレー光学系が構成され
ている。このリレー光学系により光路が延長された光線
は、さらに延長リレー鏡筒14の端部に配置された第2
の偏角プリズム23により鉛直上方に偏角され観察用鏡
筒13を通過して接眼レンズ12に至る。これによりス
テージ4のほぼ中央位置にある対物レンズ2での対物像
をベース1端位置に設けられた接眼レンズ12において
拡大された観察像として観察することができる。
Here, of the prism system 20 described above, the structure of the observation optical system in which the optical axis is deviated by the total reflection declination prism and observation is performed by the observation lens barrel 13 will be described as an example. The image forming light beam of the objective image from the objective lens 2 passes through a half mirror (not shown) in the reflection illuminating device 3, and the first deflection angle prism 20 corresponding to the total reflection deflection angle prism of the prism system 20.
As shown in FIG. 1 and FIG. 2A, the deflection angle α ° and the depression angle β
Declined by °. Further, in order to extend this deviated observation optical path to the position of the observation lens barrel 13, the extension relay lens barrel 1
4 is integrally fixed along the lower surface of the arm 7. A plurality of relay lens groups are housed inside the extension relay barrel 14 to form a relay optical system with a predetermined intermediate magnification. The light beam whose optical path is extended by this relay optical system is the second light beam which is further disposed at the end of the extended relay lens barrel 14.
Is deflected vertically upward by the deflection angle prism 23, passes through the observation lens barrel 13, and reaches the eyepiece lens 12. As a result, the objective image at the objective lens 2 at the substantially central position of the stage 4 can be observed as an enlarged observation image at the eyepiece lens 12 provided at the end position of the base 1.

【0024】アーム7の一部には段部7eが形成され、
この段部7eに観察用鏡筒13が直接固定されている。
これにより接眼レンズ12のアイポイントを低くするこ
とができ、作業者は楽な姿勢で基板等の検査を行うこと
ができる。このとき作業者の体型等のデータをもとにベ
ース1下面からの接眼レンズ12のアイポイントの高さ
をあらかじめ設定し、各光学系で定まっている光学的距
離を考慮してアーム7のアーチ半径を決定することが好
ましい。
A step portion 7e is formed on a part of the arm 7,
The observation lens barrel 13 is directly fixed to the step 7e.
Thereby, the eye point of the eyepiece lens 12 can be lowered, and the operator can inspect the substrate and the like in a comfortable posture. At this time, the height of the eye point of the eyepiece 12 from the lower surface of the base 1 is preset based on the data of the body shape of the operator, and the arch of the arm 7 is considered in consideration of the optical distance determined by each optical system. It is preferable to determine the radius.

【0025】アーチ部分が比較的偏平になるように曲率
半径を大きくすると、対物レンズ2の昇降ストロークは
小さくなってしまうので、その曲率半径は反射照明装置
3や対物レンズ2の電動レボルバユニット11の配置ス
ペースを考慮して設定することが好ましい。またその形
状は円弧アーチに限定されることはなく、偏平な楕円の
一部等、各種の2次曲線をあてはめても良い。
If the radius of curvature is increased so that the arch portion is relatively flat, the up-and-down stroke of the objective lens 2 becomes small. Therefore, the radius of curvature is the reflection illumination device 3 and the electric revolver unit 11 of the objective lens 2. It is preferable to set in consideration of the arrangement space. The shape is not limited to the arcuate arch, and various quadratic curves such as a part of a flat ellipse may be applied.

【0026】このように本実施例ではアーム7を円弧ア
ーチ状に形成し、このアーチに焦準用昇降機構15と、
延長リレー鏡筒14と、観察用鏡筒13とをそれぞれ独
立して取り付けたので、アーム7に付加する構造系を操
作時に発生する可動部からの振動が顕微鏡の他の構造系
に伝播しにくくすることができる。
As described above, in this embodiment, the arm 7 is formed in an arcuate arch shape, and the focusing raising / lowering mechanism 15 is formed in the arch.
Since the extension relay lens barrel 14 and the observation lens barrel 13 are independently attached, vibrations from the movable part generated during operation of the structural system added to the arm 7 are less likely to propagate to other structural systems of the microscope. can do.

【0027】また、アーム7の形状としては上述のアー
チに限らず、2方向に曲率を有するドーム形状としても
良い。図3はアーチ形状とドーム形状とを比較するため
に示したアーム7の概略形状図である。同図(a)は上
述の実施例に示したアーチ形状のアーム7を示してお
り、同図(b)は上述のX軸方向にかけても曲率を有す
るドーム形状をしている。このようなドーム形状にする
ことによりシェルとしての強度が増加するのでアーム7
部材の軽量化を図ることができる。
Further, the shape of the arm 7 is not limited to the arch described above, and may be a dome shape having a curvature in two directions. FIG. 3 is a schematic shape view of the arm 7 shown for comparing the arch shape and the dome shape. The figure (a) shows the arch-shaped arm 7 shown in the above-mentioned embodiment, and the figure (b) shows a dome shape having a curvature even in the X-axis direction. Since the strength of the shell is increased by forming such a dome shape, the arm 7
The weight of the member can be reduced.

【0028】なお、アーム7に取り付けられた焦準用昇
降機構15の構造としては筒状の入れ子式に限らず安定
した昇降動作が行える機構であれば種々の構造の昇降機
構を採用できることは云うまでもない。また、光軸偏角
手段としてプリズムが使用されているが、代替の反射鏡
等により同様の作用が得られればそれらを組み込んで光
学系を構成しても良い。
The focusing lifting mechanism 15 attached to the arm 7 is not limited to the cylindrical telescopic type, and it is needless to say that lifting mechanisms having various structures can be adopted as long as they can perform a stable lifting operation. Nor. Further, although a prism is used as the optical axis deviation means, if an alternative reflecting mirror or the like can achieve the same action, they may be incorporated to form an optical system.

【0029】[0029]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、顕微鏡本体を支持するアームを曲線アーチ形
状にすることによりアームの剛性を高め、装置部材の軽
量化を図ることができるとともに、アームに顕微鏡構成
部品をそれぞれ独立して固定したので、全体構造系自身
が振動源になりにくい構造になり、また外部振動も伝播
しにくくなる等の効果を奏する。
As is apparent from the above description, according to the present invention, the arm supporting the microscope main body has a curved arch shape, whereby the rigidity of the arm can be increased and the weight of the device member can be reduced. At the same time, since the microscope component parts are independently fixed to the arm, the entire structural system itself is less likely to be a vibration source, and external vibration is also less likely to propagate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による顕微鏡の一実施例を示した側面
図。
FIG. 1 is a side view showing an embodiment of a microscope according to the present invention.

【図2】図1に示した顕微鏡の平面図。FIG. 2 is a plan view of the microscope shown in FIG.

【図3】本発明による顕微鏡のアームの形状の例を示し
た概略正面図。
FIG. 3 is a schematic front view showing an example of the shape of an arm of a microscope according to the present invention.

【図4】従来の顕微鏡の一例を示した側面図。FIG. 4 is a side view showing an example of a conventional microscope.

【図5】図4に示した顕微鏡の平面図。5 is a plan view of the microscope shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ベース 2 対物レンズ 3 反射照明装置 4 ステージ 5、6 案内レール 7 アーム 10 顕微鏡光学系 12 接眼レンズ 13 観察用鏡筒 14 延長リレー鏡筒 15 焦準用昇降機構 20 偏向光学系 20A 第1の偏角プリズム A1 対物レンズ鉛直光軸 A2 リレー光学系光軸 A3 鏡筒光軸 1 Base 2 Objective Lens 3 Reflection Illuminator 4 Stage 5, 6 Guide Rail 7 Arm 10 Microscope Optical System 12 Eyepiece 13 Observation Lens Tube 14 Extension Relay Lens Tube 15 Focusing Elevating Mechanism 20 Deflection Optical System 20A First Deflection Angle Prism A1 Objective lens Vertical optical axis A2 Relay optical system optical axis A3 Lens tube optical axis

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】基台と、該基台上に固定され所定の案内部
材に沿い移動可能なステージと、前記基台に固着され前
記ステージを跨ぐように架設された門型アームと、該ア
ームに固着された焦準用昇降機構により昇降可能に支持
され前記ステージ上に載置された試料に焦準する対物レ
ンズと、該対物レンズからの結像光線を所定方向に偏向
する偏向光学系と、該偏向光学系により偏向された光路
を延長して観察用鏡筒光学系に導くリレー光学系とを備
えた顕微鏡において、 前記門型アームは曲線アーチ形状をなしたことを特徴と
する顕微鏡。
1. A base, a stage fixed on the base and movable along a predetermined guide member, a gate-shaped arm fixed to the base so as to straddle the stage, and the arm. An objective lens that is supported by a focusing elevating mechanism that is fixedly attached to the stage so as to be capable of moving up and down, and focuses on a sample placed on the stage; A microscope provided with a relay optical system that extends an optical path deflected by the deflection optical system and guides the optical path to an observation lens barrel optical system, wherein the portal arm has a curved arch shape.
【請求項2】前記門型アームは、円弧のアーチ形状をな
し、該円弧のほぼ頂点位置に前記焦準用昇降機構が吊持
され、前記リレー光学系を収容する延長リレー鏡筒が長
手方向に一体的に取着され、前記観察用鏡筒光学系を収
容する観察用鏡筒がアーム本体に直接取り付けられたこ
とを特徴とする請求項1記載の顕微鏡。
2. The gate-shaped arm has an arcuate arch shape, the focusing elevating mechanism is suspended at a substantially vertex position of the arc, and an extension relay barrel for accommodating the relay optical system is provided in a longitudinal direction. The microscope according to claim 1, wherein the observation lens barrel, which is integrally attached and accommodates the observation lens barrel optical system, is directly attached to the arm body.
JP4148937A 1992-05-18 1992-05-18 microscope Pending JPH05323201A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4148937A JPH05323201A (en) 1992-05-18 1992-05-18 microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4148937A JPH05323201A (en) 1992-05-18 1992-05-18 microscope

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05323201A true JPH05323201A (en) 1993-12-07

Family

ID=15463998

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4148937A Pending JPH05323201A (en) 1992-05-18 1992-05-18 microscope

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05323201A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7085044B2 (en) * 1998-07-10 2006-08-01 1192062 Alberta Ltd. Braced microscope
KR100663194B1 (en) * 2006-04-11 2007-01-05 (주) 랩시스템 Extended eyepiece tube device for large stage microscopes
JP2009250701A (en) * 2008-04-03 2009-10-29 Sii Nanotechnology Inc Apparatus structure and scanning probe microscope including apparatus structure

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7085044B2 (en) * 1998-07-10 2006-08-01 1192062 Alberta Ltd. Braced microscope
KR100663194B1 (en) * 2006-04-11 2007-01-05 (주) 랩시스템 Extended eyepiece tube device for large stage microscopes
JP2009250701A (en) * 2008-04-03 2009-10-29 Sii Nanotechnology Inc Apparatus structure and scanning probe microscope including apparatus structure

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3067331B2 (en) microscope
US4210384A (en) Inverted-design optical microscope
EP0488023B1 (en) Microscope having a focus-adjusting mechanism
JPH0651204A (en) System microscope
JP4558366B2 (en) System microscope
JP2003270537A (en) High stability optical microscope
US4796974A (en) Device for focusing electromagnetic waves or sound
EP0310514B2 (en) Binocular microscope
KR20200054255A (en) Dynamic focus and zoom system for use with wide field of view, confocal and multiphoton microscopes
JPH05323201A (en) microscope
KR20040073306A (en) Examined apparatus
JPH05323200A (en) microscope
JPH05232385A (en) Microscope provided with macrolens
JP2597646Y2 (en) microscope
JP2007041601A (en) Cross-slide stage, and microscope system having cross-slide stage
JPH0358011A (en) Collimating device for microscope
JP3631303B2 (en) Microscope for large specimen observation
JP2008311498A (en) Reflection type exposure device
JP3868026B2 (en) microscope
JP2001083430A (en) Inverted microscope device
KR102715080B1 (en) Alignment device for microscope
JPH0973031A (en) Movable lens barrel microscope
JP3404913B2 (en) Optical path splitting device for microscope
JPH01167817A (en) Optical microscope
JP3092238B2 (en) Stage vertical movement guide device