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JPH052082A - 電磁誘導型検査装置 - Google Patents

電磁誘導型検査装置

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Publication number
JPH052082A
JPH052082A JP3255597A JP25559791A JPH052082A JP H052082 A JPH052082 A JP H052082A JP 3255597 A JP3255597 A JP 3255597A JP 25559791 A JP25559791 A JP 25559791A JP H052082 A JPH052082 A JP H052082A
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JP
Japan
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coil
induction
exciting coil
induction coil
inspection
Prior art date
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Application number
JP3255597A
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English (en)
Other versions
JP3140105B2 (ja
Inventor
Kazuhiko Yasohama
和彦 八十濱
Hiroaki Kohama
博明 小濱
Hirobumi Takahashi
博文 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
KAISEI ENJINIA KK
Original Assignee
KAISEI ENJINIA KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by KAISEI ENJINIA KK filed Critical KAISEI ENJINIA KK
Priority to JP25559791A priority Critical patent/JP3140105B2/ja
Priority to TW084208685U priority patent/TW341328U/zh
Priority to KR1019910018697A priority patent/KR920008489A/ko
Publication of JPH052082A publication Critical patent/JPH052082A/ja
Priority to US08/061,504 priority patent/US5432444A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3140105B2 publication Critical patent/JP3140105B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01VGEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V3/00Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation
    • G01V3/08Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices
    • G01V3/10Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices using induction coils

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  • General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Geophysics (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 誘電体、磁性体を問わずあらゆる検査対象物
を高感度、高精度で検査、検出する。また、食品、薬品
錠剤、合成樹脂製品、工作物などの被検査物の在否のみ
ならず、それらの被検査物に含まれる異物乃至欠陥など
を分解能よく検出する。しかも、被検査物の大きさに関
係なく小型化に対応できる。 【構成】 一次側の励磁コイル13aと二次側の誘導コ
イル13bを同軸で一部を接触させて一体に構成してな
る検出コイル部13に、被検査物Sを近接配置させるこ
とで励磁コイル13aが形成する磁場fが変化し、誘導
コイル13bのインダクタンスに変化が現れる。この電
磁誘導型検査装置により、誘導コイル13bの出力を判
定することで被検査物Sの材質を認識したり、異物の混
入などを検出することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、電磁誘導の変化によ
って被検査物の異常などを検出するための電磁誘導を利
用した検査装置に関し、特に、食品、薬品錠剤、合成樹
脂製品、工作物などの被検査物を励磁コイルによる磁界
中におき、それによる電磁誘導の変化によって被検査物
に混入した異物などを検出する検査装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】交流磁界中に物体をおくと磁束に変化が
生じ、同じ磁場中におかれたコイルのインダクタンスが
変化する。このインダクタンスは、磁場中の物体の誘電
率、透磁率、大きさ、磁場中の位置などの因子に比例し
て変化する。これらのうちのいくつかの既知の因子を一
定にして、物体を磁場中におくと、他の未知因子を正確
に認識することができる。この原理を利用して検体の同
定、物質の在否を認知するなどの非破壊検査機能をもつ
電磁誘導検査装置が多く提案されている。
【0003】この種の従来の検査装置の典型例を図12
に従って説明すると、交流電流の印加によって磁界を発
生する電磁コイル1をブリッジ回路2の一辺に介在させ
た構成のものがある。この検査装置では、コイル1が定
常状態の場合、交流電源3によって励磁される電磁コイ
ル1とこれに対応する辺のインダクタLはインダクタン
スが等しく、且つ、他の2辺の抵抗R1、R2を同一に
設定して平衡を維持している。つまり、平衡状態におい
てブリッジ回路2の出力点a、bの差動電圧をとる差動
増幅器4からの出力Voutは理論的に零になる。
【0004】ところが、電磁コイル1が形成する磁界
(磁束f)に物体Sが入ると、電磁コイル1の自己誘導
インダクタンスが変化する。結果として、ブリッジ回路
2におけるインダクタLと電磁コイル1の平衡が崩れて
出力点a、bに電位差が生じ、物体Sの誘導係数に応じ
た出力Voutが得られる。これによる出力Voutの変化を予
めデータ化しておけば、物体Sの材質、大きさ、更に
は、磁界中を移動する速度などを認識することが可能と
なる。また、既知の検体に対して、その中に混入する異
物も容易に検出できる。この場合、予め規定した基準物
体をインダクタLに対向させておき、正常な被検査物を
電磁コイル1に接近させた時に基準物体と被検査物とが
平衡な定常状態を呈するように設定されている。
【0005】更に、図13に示すような相互インダクタ
ンスを利用した検査装置も提案されている。この従来装
置は、交流電源5に励磁される励磁コイル(一次コイ
ル)6と、励磁コイル6の磁束を受けて起電力を生じる
一対の検出コイル(2次コイル)7a、7bと差動増幅
器8とからなる。検出コイル7a、7bは逆方向に巻回
されて直列に差動接続され、定常状態において励磁コイ
ル6の磁束fを均等に受けて起電力を相殺する構成にな
っている。つまり、定常状態では検出コイル7a、7b
の出力点a、bの差動電圧(差動増幅器8の出力Vout)
は理論的に零である。
【0006】この検査装置では通常、励起コイル6と検
出コイル7a、7bとの間に検査路9を形成し、ここに
物体Sを通過させる。物体Sが励起コイル6からの磁束
fを切ることで検出コイル7a、7bが受ける磁束鎖交
数が変化し、検出コイル7a、7bの夫々の起電力が非
平衡になり、差動出力Voutが現れる。これにより、物体
Sの材質、大きさ、あるいは、工作物の欠陥などを検出
することができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の装置の構成
からも明らかなように、この種の電磁誘導検査装置で
は、誘導コイルを含む平衡回路における誘導インダクタ
ンスの非平衡状態を差動電圧として検出するので、検出
精度を向上させるためには、検体が磁束を鎖交すること
による起電力の変化を高感度に検出する必要がある。
【0008】ところが、前者の自己インダクタンス型の
検査装置では、自己インダクタンスの変化率(基底イン
ダクタンスに対する変化時のインダクタンスとの差)が
極めて小さく、被検査物が十分に大きい誘電率を持つ
か、あるいは、強磁性体などのように大きな磁場変化を
もたらすものでなければ検出が不可能であった。つま
り、検出感度が極めて低く、被検査物の材質の識別ある
いは非金属の検出などのようにインダクタンス変化率が
小さい検査物には対応できなかった。
【0009】一方、後者の相互インダクタンス型の電磁
誘導型検査装置は、励磁コイル(一次コイル)6と検出
コイル(二次コイル)7a、7bの間に検査路9が存在
し、検出コイル7a、7bの誘導効率は検査路9の大き
さ(励磁コイルから検出コイルまでの距離d)に反比例
するので、励磁コイルと検出コイルの間隔(検査路)を
大きくするのにも限界があった。つまり、検査路9を必
要とするために装置の大型化を伴ないながらも、検査対
象の物体の大きさが制限され、実質的に大型の対象物を
検査することは不可能であった。また、励磁コイル6の
励磁性能を高めて検査路9を広げると分解能が低下し、
微小な変化が検出不能である。
【0010】ほかに、相互インダクタンス型の検査装置
が不可避的に内在する欠点がある。たとえば、図13に
示すように、検査時に検出コイル7aの近傍に検体Sが
存在して検出コイル7aに鎖交する磁束に変化を及ぼす
と検出コイル7aのインダクタンスが変化するが、この
時点で基準インダクタンスとなるべき検出コイル7bの
インダクタンスも多かれ少なかれ変化する。すなわち、
物体Sによって検出コイル7aの起電力を、同時に変化
する検出コイル7bの起電力が打ち消すことになる。こ
の起電力の相殺作用は検体Sのコイルに対する相対位置
によって複雑に変化し、所期の起電力変化量が場合によ
っては無視できないほどの検出誤差をもたらす。
【0011】上述したように、従来の電磁誘導型検査装
置では、検査対象物の大きさが制限され、食品に混入す
る異物あるいは工作物の欠陥等の微小対象物の検出に精
度が劣り、被検査物の材質同定などの微妙な検査には到
底対応できないなどの欠点があった。
【0012】この発明は上記した従来装置の欠点を解消
するためになされたもので、その目的とするところは、
誘電体、磁性体を問わずあらゆる検査対象物を高感度、
高精度で検査、検出できる電磁誘導型検査装置を提供す
ることにある。この発明の他の目的は、食品、薬品錠
剤、合成樹脂製品、工作物などの被検査物の在否のみな
らず、それらの被検査物に含まれる異物乃至欠陥などを
分解能よく検出でき、しかも、被検査物の大きさに関係
なく小型化に対応できる高性能電磁誘導型検査装置を提
供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明による電磁誘導型検査装置は、(a)交流
電流の印加により磁場を形成する励磁コイルと、前記励
磁コイルと同軸で一部を接触させた誘導コイルとを一体
に構成してなる検出コイル部、(b)誘導コイルの出力
から被検査物による磁場の変化を検出する検出回路とか
らなる。
【0014】
【作用】誘導コイルは励磁コイルの磁場の磁束に鎖交し
て起電力を誘導し、励磁コイルが形成する磁場中に被検
査物をおくことで変化する磁束鎖交数に対応してインダ
クタンスが変化する。検出回路をブリッジ回路などの平
衡回路、更には、比較器、差動増幅器で構成し、誘導コ
イルのインダクタンスの変化を増幅、判定することで、
インダクタンスの変化量を容易に把握できる。
【0015】誘導コイルを励磁コイルの外周あるいは内
周部分に配設したり、もしくは、並設させることで、誘
導コイルを励磁コイルを一体化した検出コイル部を構成
できる。これによって、励磁コイルの交流磁界による誘
導コイルの電磁誘導が効率よく行なえるばかりか、検査
装置における検出部の構成を小型化でき、しかも、被検
査物の大きさに制約を与えることもない。発明の他の目
的、特徴は添付図面に基づく以下の詳しい説明で明らか
にする。
【0016】
【実施例】この発明の第1の実施例として図1に概略的
に示す電磁誘導型検査装置は、交流電流を出力する交流
電源11と、被検査物に対向して電磁誘導の変化を形成
する検出コイル部13と、検出コイル部13からの出力
から被検査物の態様を判定する検出回路15とからな
る。
【0017】検出コイル部13は、交流電源11からの
交流電流の印加を受けて励磁し交流磁界(磁束f)を形
成する励磁コイル13aと、励磁コイル13aの外周面
の一方端の一部に密接状に同軸巻回され励磁コイル13
aの交流磁界によって電磁誘導して起電力を出力する誘
導コイル13bとからなる。一次側の励磁コイル13a
と二次側の誘導コイル13bが一体になっており、誘導
コイル13bが励磁コイル13aによる励起磁束fの全
てに鎖交するので、極めて高い効率で誘導コイル13b
に相互インダクタンスが起り、大きい交流起電力が出力
される。そこで、図示のように、励磁コイル13aによ
る磁束fを鎖交するように被検査物Sをおくと誘導コイ
ル13bのインダクタンスに変化がみられる。このイン
ダクタンスの変化は被検査物S大きさ、材質などの因子
によって異なる。励磁コイル13aによる磁場に被検査
物Sが存在していない定常状態における誘導コイル13
bのインダクタンスと、同上磁場中に被検査物Sが存在
する場合のインダクタンスとの差を判定することで、単
に被検査物Sの在否乃至大きさのみならず、その材質、
更には、被検査物Sに混入する異物の存在をも正確に識
別することができる。
【0018】検出回路15は誘導コイル13bの出力Vo
utの変化を識別する機能を有するもので、この実施例で
は、定常状態における誘導コイル13bのインダクタン
スを基準値Vrefとして設定し、検査時の誘導コイル13
bの出力値Voutと比較する比較器15aと、比較器15
aからの出力から検査対象を認識する判定回路15bと
からなる。
【0019】上記検出コイル部13は、図2に示すよう
に、ボビン16に導電性線材を多重巻回して励磁コイル
13aを形成し、励磁コイル13aの外周面の一部にア
ルミ箔などの電磁シールド層17と絶縁シート18を層
状に巻きつけ、更に絶縁シート18の外周面に導電性線
材を多重巻回して誘導コイル13bを形成することで構
成できる。検出コイル部13として使用する際は、ボビ
ン16を取り除いてもよい。しかしながら、基本的に励
磁コイルと誘導コイルよりなる検出コイル部の製作方
法、構成要素は特にこれに限定するものではなく、様々
な方法で製作できることは言うまでもない。
【0020】図3に示す第2の実施例では、検出回路1
5を平衡回路22、増幅器24、判定回路25で構成し
ている。交流電源11及び検出回路13の構成は前記第
1の実施例と実質的に同一である。
【0021】平衡回路22では、定常状態における誘導
コイル13bのインダクタンスを実数部Lとして、これ
に直列接続させるインダクタ22aを虚数部−Lとし
て、平衡させておく。つまり、被検査物のない定常状態
では平衡回路22における誘導コイル13bとインダク
タ22aのインダクタンスは打ち消しあい、差動出力電
圧Voutは実質的に零になる。ところが、検出コイル部1
3に被検査物が存在すると誘導コイル13bのインダク
タンスLが変化し、インダクタ22aのインダクタンス
との差分だけを増幅器24に出力する。これにより判定
回路25での判定が容易になる。また、判定回路25に
差動出力の基準を設定しておけば、被検査物の規格検査
を簡単に実行することができる。
【0022】上記実施例の平衡回路22におけるインダ
クタ22aのインダクタンス−Lを構成するには様々な
方法が考えられる。たとえば、図4に示す平衡回路30
のように、検出コイル部13に略々同一構造の平衡イン
ダクタ部23を検出コイル部13と直列接続する。すな
わち、平衡インダクタ部23を、検出コイル部13の励
磁コイル13aと同一構成の励磁コイル23aと、検出
コイル部13の誘導コイル13bと巻回方向以外は同一
構成の誘導コイル23bとで構成する。
【0023】上記検査装置において励磁コイル13a、
23aを共通の交流電源11で励磁して夫々の誘導コイ
ル13b、23bを電磁誘導させると各コイルで等量の
起電力が発生するが、誘導コイル13b、23bの巻回
方向が逆であるため逆符号のインダクタンスとなる。つ
まり、検出コイル13aが定常状態であるかぎり、誘導
コイル13b、23bで発生する起電力は打ち消しあ
い、差動出力は実質的に零となる。ところが、検出コイ
ル部13における励磁コイル13aの磁場中に被検査物
Sを存在させると、誘導コイル13b、23bのインダ
クタンスが非平衡となり差動出力Voutが現れる。これに
より、被検査物の微妙な変化を検出することができる。
【0024】上記した図4の実施例を利用すると、被検
査物中の混入異物、あるいは、工作物内部の欠陥などの
微小異常の検出を容易に行なうことが可能となる。すな
わち、図5に示すように、基準となる製品Srefを平衡イ
ンダクタ部23の磁場中に常設しておき、検出コイル部1
3の磁場中に被検査物Sを置く。この時、基準製品Sref
と被検査物Sが同一である定常状態の場合、つまり、被
検査物Sに異物混入などの異常がなければ、誘導コイル
13b、23bが平衡を保つので差動出力Voutが実質的
に零になる。ところが、被検査物Sの内部に異物eが存
在すると、誘導コイル13b、23bの誘導平衡が崩
れ、差動出力Voutが現れ、これによって、異物eの存在
を認識することができる。言うまでもなく、基準製品Sr
efと被検査物Sは夫々、平衡インダクタ部23と検出コ
イル部13に対して同じ相対位置におく必要がある。
【0025】また、被検査物Sがたとえば金属工作物で
ある場合は、図6に示すように、平衡インダクタ部23に
基準製品Srefを配置し、検出コイル部13の被検査物S
を対向は位置させることで、被検査物Sのクラックなど
の欠陥cの有無を高分解能をもって確実に検出すること
ができる。被検査物Sが金属であり、検査対象がスポッ
ト溶接部分の欠陥である場合、励磁コイル13aが形成
する磁界によって被検査物Sの全体が磁化するが、欠陥
cで発生する渦電流の影響で誘導コイル13bの相互イ
ンダクタンスが変化する。このように、金属の溶接部分
のクラック、ピンホールなど視認検査で発見しにくい欠
陥でも、効果的に欠陥の程度まで検出することができる
など、各種非破壊検査に威力を発揮する。
【0026】評価実験において、長さ2.0cm、内径
5.2cm、厚さ5mmの合成樹脂性のボビンに導線を30
0回巻回して励磁コイル13a、23aを夫々形成し、
更にその上に導線を300回巻回して誘導コイル13
b、23bを夫々形成して検出コイル部13及び平衡イ
ンダクタ部23を構成し、励磁コイル13a、23aに
周波数0.2〜1kHz 、電圧15Vの交流電流を印加し
た。この場合、励磁コイル13a、23aのインダクタ
ンスは5.8mHであり、誘導コイル13b、23bのそ
れは6.5mHであった。この検査装置で対角距離20mm
のナットを被検査物Sとして検査したところ、深さ0.
1mm、長さ3mmの微小クラックが検出できた。
【0027】上記実施例では、検出コイル部13の一次
側励磁コイル13aの外周面の一方端側の一部に誘導コ
イル13bを巻回させた構成であったが、励磁コイルと
誘導コイルを同軸で一部を接触させて一体化させればど
のような構成を採ってもよい。以下に検出コイル部の改
変例を説明する。
【0028】図7の検出コイル部33は、励磁コイル3
3aの外周面の長さ方向の略中央に誘導コイル33bを
設けている。この構成では励磁コイル33aの両端にお
いて同一の相互インダクタンス特性が得られる可逆性を
備えている。ここでは、被検査物Sを励磁コイル33a
の一端部(図中、上端)に対向配置させているが、円筒
形状の励磁コイル33aの内部中空孔34を検査通路と
して被検査物を通過乃至落下させて、その時のインダク
タンス変化を測定するようにしてもよい。
【0029】図8に示す検出コイル部43では励磁コイル
43aの内側に誘導コイル43bを密接状に同軸巻回し
て設けている。この構成によれば、誘導コイル43bが
励磁コイル43aに内蔵されるため、検出コイル部の小
型化、ひいては、検査装置全体の小型化が可能となる。
【0030】図9に示した検出コイル部53は、同一内
外径の励磁コイル53a及び誘導コイル53bを同軸状
に並設した構成である。この構成でも前記実施例のもの
と同様の効果が得られる。
【0031】図10は、励磁コイル63aの外周面に対
をなす誘導コイル63bを設けた検出コイル部63であ
る。あるいは、図11に示すように逆方向に巻回して直
列結線した一対の誘導コイル73bを励磁コイル73a
の内部に収めて検出コイル部73を構成してもよい。ど
ちらの実施例でも、双方の誘導コイルを逆方向に巻回し
て直列接続することで、単体で差動回路を構成すること
ができる。評価実験において、長さ15cm、内径3cm、
厚さ1mmの合成樹脂性のボビンに導線を1000回巻回
して励磁コイル63aを形成し、更にその上に導線を1
000回巻回して両誘導コイル63bを形成して検出コ
イル部63を構成し、励磁コイル63aに周波数0.1
〜1kHz 、電圧15Vの交流電流を印加した。この場
合、励磁コイル、誘導コイルのインダクタンスは夫々、
100mHであった。この検査装置で直径0.1mmの鉄球
が検出できた。
【0032】上記のように検出コイル部を構成する励磁
コイルと誘導コイルの形態を様々に改変させることがで
き、特に図示の実施例のみに限定するものではない。た
とえば、上記したいずれの実施例における誘導コイルも
断面積が励磁コイルより小さいが、反対に誘導コイルの
ほうを大きくしてもよく、導線巻回状態、磁束鎖交条件
などの設計要素によって適宜設定すればよい。
【0033】また、検出コイル部に配置する被検査物
は、励磁コイルの軸方向のいずれか一方端に対向させて
近接させることで磁束鎖交効率を高めることができ、こ
れによって検出感度が高まるが、被検査物の配置位置を
特に限定するものではなく、励磁コイルが形成する磁束
が及ぶ範囲であれば、どの位置に被検査物を置いてもよ
い。たとえば、円筒形状の励磁コイルの内部中空孔を通
路として被検査物を通過乃至落下させてもよい。
【0034】
【発明の効果】以上説明したように、この発明の電磁誘
導型検出装置は、同軸状に一体化した励磁コイルと誘導
コイルとで検出コイル部を構成し、励磁コイルが形成す
る磁界にある被検査物による誘導コイルの相互インダク
タンスの変化を検出するようにしたので、食品、薬品錠
剤、合成樹脂製品、工作物など誘電体、磁性体、導体−
非導体、金属−非金属を問わず各種対象物の在否乃至材
質を判定できるだけでなく、それらの被検査物に含まれ
る微小な異物乃至欠陥などをも分解能よく高感度、高精
度で検査、検出できる。しかも、検出コイルの外部に検
査領域を備えているため、大きさを問わず様々な被検査
物を検査でき、しかも、励磁コイルと誘導コイルを一体
化しているので装置の小型化が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明による電磁誘導型検査装置の第1の実
施例を示す概略図。
【図2】図1における検出コイル部の構成を示す半断面
側面図。
【図3】この発明の第2の実施例を示す概略図。
【図4】第3の実施例を示す概略構成図。
【図5】図4の検査装置による検査適用の一例を示す説
明図。
【図6】図4の検査装置による検査適用の他例を示す説
明図。
【図7】第4の実施例を示す概略図。
【図8】第5の実施例を示す概略図。
【図9】第6の実施例を示す概略図。
【図10】第7の実施例を示す概略図。
【図11】第8の実施例を示す概略図。
【図12】従来の電磁誘導型検査装置の一例を示す概略
説明図。
【図13】従来の電磁誘導型検査装置の他例を示す概略
説明図。
【符号の説明】
11…交流電源、15…検出回路、S…被検査物、f…
磁場、13、33、43、53、63、73…検出コイ
ル部 13a、33a、43a、53a、63a、73a…励
磁コイル、13b、33b、43b、53b、63b、
73b…誘導コイル。

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】a)交流電流を出力する交流電源、 b)交流電流の印加により励磁して磁場を形成する励磁
    コイルと、該励磁コイルと同軸で一部を接触させ該励磁
    コイルの励磁によって電磁誘導して起電力を発生させる
    少なくとも一つの誘導コイルとを一体に構成してなる検
    出コイル部、 c)誘導コイルの出力から被検査物による磁場の変化を
    検出する検出回路とからなる電磁誘導型検査装置。
  2. 【請求項2】該誘導コイルを該励磁コイルの外周面の一
    方端の一部に同軸巻回させた請求項1記載の検査装置。
  3. 【請求項3】該誘導コイルを該励磁コイルの外周面の長
    さ方向の略中央に同軸巻回させた請求項1記載の検査装
    置。
  4. 【請求項4】該誘導コイルを該励磁コイルの内側に同軸
    巻回させた請求項1記載の検査装置。
  5. 【請求項5】同一内外径の該励磁コイルと該誘導コイル
    を同軸状に並設した請求項1記載の検査装置。
  6. 【請求項6】該励磁コイルの外周面に、逆方向に巻回し
    て直列結線した一対の該誘導コイルを同軸状に設けた請
    求項1記載の検査装置。
  7. 【請求項7】該励磁コイルの内周面に、逆方向に巻回し
    て直列結線した一対の該誘導コイルを同軸状に設けた請
    求項1記載の検査装置。
  8. 【請求項8】該検出回路を、定常状態における該誘導コ
    イルのインダクタンスを基準値として設定し検査時の該
    誘導コイルの出力と該基準値を比較する比較器と、比較
    器の出力から被検査物を判定する判定回路とからなる請
    求項1記載の検査装置。
  9. 【請求項9】該検出回路を、該誘導コイルの定常状態の
    インダクタンスに等しいインダクタンスを有するインダ
    クタを該誘導コイルと直列接続してなる平衡回路と、該
    平衡回路からの出力を増幅する増幅器と、該増幅器の出
    力から被検査物を判定する判定回路で構成した請求項1
    記載の検査装置。
  10. 【請求項10】該インダクタが該検出コイル部と同一構
    成である請求項9記載の検査装置。
  11. 【請求項11】該検出コイル部を、ボビンに導線を巻回
    して該励磁コイルを形成し、該励磁コイルの外周面の一
    部に電磁シールド層と絶縁シートを層状に巻きつけ、該
    絶縁シートの外周面に導線を巻回して該誘導コイルを形
    成してなる請求項1記載の検査装置。
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