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JPH0513404B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0513404B2
JPH0513404B2 JP61239365A JP23936586A JPH0513404B2 JP H0513404 B2 JPH0513404 B2 JP H0513404B2 JP 61239365 A JP61239365 A JP 61239365A JP 23936586 A JP23936586 A JP 23936586A JP H0513404 B2 JPH0513404 B2 JP H0513404B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
converter
output
bit
analog
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP61239365A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS6394717A (en
Inventor
Kunio Morimoto
Tadao Imai
Toshio Hayashi
Kuniharu Uchimura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
NTT Inc
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp, Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP61239365A priority Critical patent/JPS6394717A/en
Publication of JPS6394717A publication Critical patent/JPS6394717A/en
Publication of JPH0513404B2 publication Critical patent/JPH0513404B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、複数ビツト出力のオーバーサンプリ
ング形アナログ・デイジタル(A/D)変換器に
おける交流特性を評価・測定する方法に関するも
のである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a method for evaluating and measuring AC characteristics in an oversampling type analog-to-digital (A/D) converter with multiple bit output.

(従来の技術) 従来より、オーバーサンプリング形A/D変換
器における信号対雑音比(S/N)等の交流特性
をアナログ系の測定器を用いて評価・測定しよう
とする場合、該オーバーサンプリング形A/D変
換器の出力デイジタル信号を、速度変換用デイジ
タルフイルタを通してそのサンプリング速度を落
し、この後、デイジタル・アナログ(D/A)変
換器を用いてアナログ信号となし、さらに測定帯
域に対して通過域となる特性をもつたアナログフ
イルタを通して得た信号を用いて行なつていた。
(Prior Art) Conventionally, when trying to evaluate and measure AC characteristics such as signal-to-noise ratio (S/N) in an oversampling type A/D converter using an analog measuring instrument, the oversampling The output digital signal of the A/D converter is passed through a speed converting digital filter to reduce its sampling speed, and then converted into an analog signal using a digital-to-analog (D/A) converter. This was done using a signal obtained through an analog filter with a passband characteristic.

(発明が解決しようとする問題点) 前記方法によれば、速度変換用デイジタルフイ
ルタにより、サンプリング速度が低速となるた
め、低速用のD/A変換器を使用できるが、反
面、精度の劣化なしにサンプリング速度を落とす
ためには、デイジタル信号のビツト数を増加させ
る必要があり、このため、速度変換用デイジタル
フイルタのハード規模が大きくなり、また、多数
ビツトのD/A変換器が必要になるという問題点
があつた。
(Problems to be Solved by the Invention) According to the above method, the digital filter for speed conversion reduces the sampling speed, so a low speed D/A converter can be used, but on the other hand, there is no deterioration in accuracy. In order to reduce the sampling speed, it is necessary to increase the number of bits of the digital signal, which increases the hardware size of the speed conversion digital filter and requires a multi-bit D/A converter. There was a problem.

本発明は前記問題点を除去し、速度変換用デイ
ジタルフイルタやD/A変換器を用いることな
く、簡単な手段によりアナログ信号を得て、オー
バーサンプリング形A/D変換器の交流特性を測
定する方法を提供することを目的とする。
The present invention eliminates the above-mentioned problems and measures the AC characteristics of an oversampling type A/D converter by obtaining an analog signal by simple means without using a digital filter for speed conversion or a D/A converter. The purpose is to provide a method.

(問題点を解決するための手段) 本発明では前記問題点を解決するため、複数ビ
ツト出力のオーバーサンプリング形A/D変換器
の出力デイジタル信号をアナログ信号に変換して
測定するオーバーサンプリング形A/D変換器の
交流特性測定法において、前記オーバーサンプリ
ング形A/D変換器よりサンプリング周期毎に出
力される複数ビツトのデイジタル信号をそれぞれ
デコードし、各デコード出力をその数値に応じて
パルス幅を有する信号となし、これらを一定の時
間間隔で同一の信号線上に出力して1ビツトの2
値信号となし、該1ビツトの2値信号を、測定帯
域の信号のみを通過させるアナログフイルタを通
してアナログ信号を変換し、該アナログ信号から
交流特性を測定するようになした。
(Means for Solving the Problem) In order to solve the above problem, the present invention uses an oversampling type A that converts the output digital signal of an oversampling type A/D converter with multiple bit output into an analog signal and measures it. In the method for measuring the AC characteristics of a /D converter, each of the multiple-bit digital signals output from the oversampling type A/D converter at each sampling period is decoded, and the pulse width of each decoded output is adjusted according to the numerical value. 2 signals of 1 bit by outputting them on the same signal line at fixed time intervals.
The 1-bit binary signal is converted into an analog signal through an analog filter that passes only signals in the measurement band, and AC characteristics are measured from the analog signal.

(作用) 本発明によれば、オーバーサンプリング形A/
D変換器より出力された複数ビツトのデイジタル
信号は、そのビツト数をnとした時、2n通りの信
号のいずれかにデコードされ、さらに該2n通りの
各信号毎にその数値に応じたパルス幅を有する信
号に変換され、これらが一定の時間間隔で同一の
信号線上に出力されて1ビツトの2値信号に変換
され、さらに測定に必要な帯域だけを通過させる
アナログフイルタによつてアナログ信号に変換さ
れ、該アナログ信号からオーバーサンプリング形
A/D変換器の交流特性が測定される。
(Function) According to the present invention, oversampling type A/
A multi-bit digital signal output from a D converter is decoded into one of 2 n signals, where n is the number of bits, and then decoded into one of 2 n signals according to its numerical value. It is converted into a signal with a pulse width, outputted on the same signal line at regular time intervals, converted into a 1-bit binary signal, and then converted into an analog signal by an analog filter that passes only the band necessary for measurement. The analog signal is converted into a signal, and the AC characteristics of the oversampling type A/D converter are measured from the analog signal.

(実施例) 第1図は本発明の一実施例を示すもので、図
中、1は入力端子、2はオーバーサンプリング形
A/D変換器(以下、A/D変換器と称す。)、3
はエンコード回路、4はマルチプレクサ、5はア
ナログローパスフイルタ(以下、アナログLPF
と称す。)、6はクロツク発生器、7は分周器、8
はパルス発生器、9は出力端子である。
(Embodiment) FIG. 1 shows an embodiment of the present invention, in which 1 is an input terminal, 2 is an oversampling type A/D converter (hereinafter referred to as A/D converter), 3
is an encoder circuit, 4 is a multiplexer, and 5 is an analog low-pass filter (hereinafter referred to as analog LPF).
It is called. ), 6 is a clock generator, 7 is a frequency divider, 8
is a pulse generator, and 9 is an output terminal.

A/D変換器2は、評価・測定の対象となるも
ので、入力端子1から入力されたアナログ信号を
複数、例えばnビツトのデイジタル信号に変換す
る。
The A/D converter 2 is a target for evaluation and measurement, and converts the analog signal input from the input terminal 1 into a plurality of, for example, n-bit digital signals.

エンコード回路3は、前記nビツトのデイジタ
ル信号を2n通りの信号にデコードし、さらに後述
する如く該2n通りの各信号毎にその数値に応じて
重み付けを行なう。
The encoding circuit 3 decodes the n-bit digital signal into 2 n signals, and weights each of the 2 n signals according to its numerical value, as will be described later.

マルチプレクサ4は、2n個の入力端子と1個の
出力端子を有する周知のもので、前記重み付けさ
れた信号を時分割多重化し、1ビツト(ライン)
の信号に変換する。
The multiplexer 4 is a well-known type having 2 n input terminals and 1 output terminal, and time-division multiplexes the weighted signals to form one bit (line).
signal.

アナログLPF5は、A/D変換器2の交流特
性を評価・測定するため、所定のカツトオフ周波
数cで信号の帯域を制限するもので、前記1ビツ
トの信号を周波数c以下のアナログ信号に変換
し、出力端子9に送出する。なお、このアナログ
LPF5は従来の測定方法においても用いられる
ものである。
The analog LPF 5 limits the signal band at a predetermined cutoff frequency c in order to evaluate and measure the AC characteristics of the A/D converter 2, and converts the 1-bit signal to an analog signal with a frequency of c or less. , is sent to output terminal 9. Furthermore, this analog
LPF5 is also used in conventional measurement methods.

クロツク発生器6は、周波数1および2のクロ
ツクパルスP1およびP2を発生し、クロツクパル
スP1を分周器7に送出し、クロツクパルスP2を
パルス発生器8に送出する。ここで、クロツクパ
ルスP1およびP2の位相は同期しており、その周
波数1,2は次の関係を持つ。
Clock generator 6 generates clock pulses P1 and P2 of frequencies 1 and 2, sends clock pulse P1 to frequency divider 7, and sends clock pulse P2 to pulse generator 8. Here, the phases of clock pulses P1 and P2 are synchronized, and their frequencies 1 and 2 have the following relationship.

k1=2 (但し、kは1以上の値で、評価の精度によつ
て決定される。) 分周器7は、周波数1のクロツクパルスP1を
1/2nに分周して、A/D変換器2に対するサン
プリングパルスP3を発生する。またパルス発生
器8は、周波数2のクロツクパルスP2を分周あ
るいはデコードし、マルチプレクサ4において、
時分割多重化に必要なm個の制御クロツクパルス
を発生する。
k1=2 (However, k is a value of 1 or more and is determined by the accuracy of evaluation.) The frequency divider 7 divides the clock pulse P1 of frequency 1 into 1/2 n , and divides the clock pulse P1 of frequency 1 into 1/2 n. Generate sampling pulse P3 for converter 2. Further, the pulse generator 8 divides or decodes the clock pulse P2 of frequency 2, and the multiplexer 4 divides or decodes the clock pulse P2.
Generate m control clock pulses necessary for time division multiplexing.

第2図は、n=2(ビツト)とした場合のエン
コード回路3およびマルチプレクサ4の具体的な
回路の一例を示すもので、エンコード回路3は、
周知の2line−to−4lineデコーダ31と、2入力
オアゲート32,33,34とからなり、また、
マルチプレクサ4は周知の4line−to−1lineマル
チプレクサで構成される。この場合、マルチプレ
クサ4には周波数3,3/2の2(m=2)つの
制御クロツクパルスがパルス発生器8より供給さ
れることになる。
FIG. 2 shows an example of a specific circuit of the encoder circuit 3 and the multiplexer 4 when n=2 (bits).
It consists of a well-known 2line-to-4line decoder 31 and 2-input OR gates 32, 33, and 34, and
The multiplexer 4 is composed of a well-known 4 line-to-1 line multiplexer. In this case, the multiplexer 4 is supplied with two (m=2) control clock pulses having a frequency of 3 and 3/2 from the pulse generator 8.

第3図は、第2図に示す回路によつて得られる
1ビツトの出力波形を示す。
FIG. 3 shows a 1-bit output waveform obtained by the circuit shown in FIG.

以下、c=4kHz、1=2=3=4MHz(k=
1)として、動作を説明する。
Below, c=4kHz, 1=2=3=4MHz (k=
The operation will be explained as 1).

A/D変換器2には、分周器7より4MHzの
1/22、即ち1MHzのサンプリングパルスP3が供
給され、その出力には該1MHz毎に2ビツトのデ
イジタル信号が出力される。
The A/D converter 2 is supplied with a sampling pulse P3 of 1/2 2 of 4 MHz, that is, 1 MHz, from the frequency divider 7, and a 2-bit digital signal is outputted every 1 MHz.

この出力は2ビツトであるから、第3図に示す
ように「11」,「10」,「01」,「00」の4値のうちの
いずれかの値をとる。
Since this output is 2 bits, it takes one of the four values "11", "10", "01", and "00" as shown in FIG.

A/D変換器2より出力される2ビツト値が
「11」の場合、デコーダ31の該当出力端子“11”
からハイ(H)レベルの信号が送出され、オアゲート
32,33,34によりマルチプレクサ4の全て
の入力端子「3」,「2」,「1」,「0」にハイレベ
ルの信号が入力される。
When the 2-bit value output from the A/D converter 2 is “11”, the corresponding output terminal of the decoder 31 is “11”.
A high (H) level signal is sent from the multiplexer 4, and the high level signal is input to all input terminals "3", "2", "1", and "0" of the multiplexer 4 by the OR gates 32, 33, and 34. .

同様に2ビツト値が「10」の場合、デコーダ3
1の出力端子“10”からハイレベルの信号が送出
され、マルチプレクサ4の入力端子「2」,「1」,
「0」にハイレベルの信号が入力され、また、2
ビツト値が「01」の場合、デコーダ31の出力端
子“01”からハイレベルの信号が送出され、マル
チプレクサ4の入力端子「2」,「1」にハイレベ
ルの信号が入力され、さらにまた、2ビツト値が
「00」の場合、デコーダ31の出力端子“00”か
らハイレベルの信号が送出され、マルチプレクサ
4の入力端子「2」にのみハイレベルの信号が入
力される。
Similarly, if the 2-bit value is "10", the decoder 3
A high level signal is sent from the output terminal "10" of the multiplexer 4, and the input terminals "2", "1",
A high level signal is input to “0”, and 2
When the bit value is "01", a high level signal is sent from the output terminal "01" of the decoder 31, a high level signal is input to the input terminals "2" and "1" of the multiplexer 4, and furthermore, When the 2-bit value is "00", a high level signal is sent from the output terminal "00" of the decoder 31, and a high level signal is input only to the input terminal "2" of the multiplexer 4.

一方、マルチプレクサ4には、前記A/D変換
器2のサンプリングパルスP3に同期した4MHzお
よび2MHzの制御クロツクパルスが入力されてい
るため、A/D変換器2より1MHzのタイミング
で所定の2ビツト値が出力され続けている間に、
その入力端子「0」,「1」,「2」,「3」が4MHz
のタイミングで順次選択されることになる。
On the other hand, since the multiplexer 4 receives 4MHz and 2MHz control clock pulses synchronized with the sampling pulse P3 of the A/D converter 2, the A/D converter 2 outputs a predetermined 2-bit value at a timing of 1MHz. While continues to be output,
Its input terminals "0", "1", "2", "3" are 4MHz
They will be selected sequentially at the following timings.

このため、前記2ビツト値が「11」の場合は
4MHzの各タイムスロツトにおいて、その出力は
全てハイレベルとなり、また、「10」の場合は
「0」,「1」,「2」のタイムスロツトにおいてハ
イレベルとなり、また、「01」の場合は「1」,
「2」のタイムスロツトにおいてハイレベルとな
り、さらにまた、「00」の場合は「2」のタイム
スロツトにおいてのみハイレベルとなり、第3図
に示すように、時間軸上において重み付けされた
1ビツトの波形に変換される。
Therefore, if the 2-bit value is "11",
In each time slot of 4MHz, all the outputs are high level, and in the case of "10", the output is high level in the time slots "0", "1", and "2", and in the case of "01", the output is high level. "1",
It becomes a high level in the time slot of "2", and in the case of "00", it becomes a high level only in the time slot of "2", and as shown in Fig. 3, the value of 1 bit weighted on the time axis. Converted to waveform.

なお、重み付けは、前記波形のように、2ビツ
ト値の値が「00」の時の波形の面積を「α」とし
た時、「01」は「2α」、「10」は「3α」、「11」は
「4α」というように、2ビツトの数値に対して比
例した値とする。
Furthermore, as in the above waveform, when the area of the waveform when the value of the 2-bit value is "00" is "α", "01" is "2α", "10" is "3α", "11" is a value proportional to a 2-bit numerical value, such as "4α".

而して、この1ビツト化された信号をアナロ
LPF5を通すことにより、帯域0〜4kHzのアナ
ログ信号に復元することができ、アナログ測定器
による評価・測定が可能となる。
Then, convert this 1-bit signal into an analog signal.
By passing the signal through the LPF 5, it can be restored to an analog signal with a band of 0 to 4 kHz, making it possible to evaluate and measure it with an analog measuring instrument.

(発明の効果) 以上説明したように本発明によれば、オーバー
サンプリング形A/D変換器の出力である複数ビ
ツトのデイジタル信号を、そのビツトが表わす数
値に応じたパルス幅を有する信号に変換し、これ
を一定の時間間隔で同一の信号線上に出力して1
ビツトの2値信号に変換し、さらにアナログフイ
ルタを通すことによつてアナログ信号に変換する
ようになしたので、アナログ系の測定機を用いた
評価・測定に際し、速度変換用デイジタルフイル
タ、多ビツトのD/A変換器を使用する必要がな
くなり、評価・測定のための回路を簡略化できる
という利点がある。
(Effects of the Invention) As explained above, according to the present invention, a multi-bit digital signal, which is the output of an oversampling type A/D converter, is converted into a signal having a pulse width corresponding to the numerical value represented by the bit. and outputs this on the same signal line at regular time intervals.
Since it is converted into a bit binary signal and then converted into an analog signal by passing it through an analog filter, it is possible to use a digital filter for speed conversion and a multi-bit signal when evaluating and measuring using an analog measuring device. This eliminates the need to use a D/A converter, and has the advantage that the circuit for evaluation and measurement can be simplified.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明方法の一実施例を示す構成図、
第2図はエンコード回路およびマルチプレクサの
具体的回路の一例を示す図、第3図は出力波形の
一例を示す図である。 1……入力端子、2……オーバーサンプリング
形A/D変換器、3……エンコード回路、4……
マルチプレクサ、5……アナログローパスフイル
タ、6……クロツク発生器、7……分周器、8…
…パルス発生器、9……出力端子。
FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of the method of the present invention;
FIG. 2 is a diagram showing an example of a specific circuit of an encoder circuit and a multiplexer, and FIG. 3 is a diagram showing an example of an output waveform. 1...Input terminal, 2...Oversampling type A/D converter, 3...Encoding circuit, 4...
Multiplexer, 5... Analog low-pass filter, 6... Clock generator, 7... Frequency divider, 8...
...Pulse generator, 9...Output terminal.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 複数ビツト出力のオーバーサンプリング形
A/D変換器の出力デイジタル信号をアナログ信
号に変換して測定するオーバーサンプリング形
A/D変換器の交流特性測定法において、 前記オーバーサンプリング形A/D変換器より
サンプリング周期毎に出力される複数ビツトのデ
イジタル信号をそれぞれデコードし、 各デコード出力をその数値に応じたパルス幅を
有する信号となし、 これらを一定の時間間隔で同一の信号線上に出
力して1ビツトの2値信号となし、 該1ビツトの2値信号を、測定帯域の信号のみ
を通過させるアナログフイルタを通してアナログ
信号に変換し、 該アナログ信号から交流特性を測定するように
なした ことを特徴とするオーバーサンプリング形A/D
変換器の交流特性測定法。
[Scope of Claims] 1. A method for measuring AC characteristics of an oversampling type A/D converter in which an output digital signal of an oversampling type A/D converter with multiple bit output is converted into an analog signal and measured, comprising the steps of: The multi-bit digital signals outputted from the A/D converter at each sampling period are each decoded, each decoded output is made into a signal with a pulse width corresponding to its numerical value, and these signals are output at the same time interval at regular intervals. Output on the signal line to make a 1-bit binary signal, convert the 1-bit binary signal to an analog signal through an analog filter that passes only signals in the measurement band, and measure AC characteristics from the analog signal. An oversampling type A/D characterized by the following:
Method for measuring AC characteristics of converters.
JP61239365A 1986-10-09 1986-10-09 One bit measuring method for over-sampling type a/d converter Granted JPS6394717A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61239365A JPS6394717A (en) 1986-10-09 1986-10-09 One bit measuring method for over-sampling type a/d converter

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Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6394717A JPS6394717A (en) 1988-04-25
JPH0513404B2 true JPH0513404B2 (en) 1993-02-22

Family

ID=17043679

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JP61239365A Granted JPS6394717A (en) 1986-10-09 1986-10-09 One bit measuring method for over-sampling type a/d converter

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JPH04126924A (en) * 1990-09-19 1992-04-27 Takenaka Komuten Co Ltd Hot water supply system

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60246122A (en) * 1984-05-22 1985-12-05 Nec Corp Differentiation gain measuring circuit

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JPS6394717A (en) 1988-04-25

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