JPH0512445B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は開俵機のストリツパが水平方向に俵列
の俵の上方を順次移動し、高さ測定のため例えば
センサ、光障壁などが利用され、俵に対して複数
回の高さ測定を行い、平均値を求め、個々の測定
後に測定装置を装備したデリツクが所定距離だけ
自動的に次の測定位置へ移動する繊維俵の高さを
検知するように開俵機を操作する方法に係わり、
この方法を実施するための装置にも係わる。

＜従来の技術＞ 本発明と同一の出願人によつて出願され、特開
昭55−16982号公報に開示されたではストリツパ
が俵上面から間隔を保つ高さを俵に沿つて移動
し、繊維俵までの距離が反射光障壁によつて測定
される。繊維俵の高さは光障壁の高さと光障壁か
ら俵頂面までの距離との差から求められる。この
行程は測定行程（から行程）でしかなく、俵から
繊維材料は全く掻取られない。また、俵の高さが
間接的に、即ち、測定装置から俵頂面までの距離
を介して求められるという点でも不便である。

＜発明が解決しようとする問題点＞ 本発明の目的は特に単位時間当りの繊維材料生
産量を高め、繊維俵の高さを簡単に求めることの
できる頭書のような方法を提供して上記問題点を
解消することにある。

＜問題点を解決するための手段＞ 本発明の目的は俵高測定が俵頂面からの繊維材
料掻取りと同時に行われ、且つ俵の上端をセンサ
により直接検知することによつて行われることを
特徴とする開俵機の作方法によつて達成される。

本発明では繊維俵の高さ測定が繊維材料の掻取
りと同時に行われる。即ち、測定のためのから行
程が回避され、一定の時間インターバルで繊維材
料掻取りと測定の両作業が同時に行われる。測定
作業中にストリツパ装置が繊維俵と間隔を保つの
ではなく、俵頂面と咬合している。従つて、俵上
端がセンサによつて直接検知され、繊維俵の高さ
が簡単に直接測定される。俵頂面のあらゆる凹凸
がセンサによつてほとんど直接的に追従される。
測定動作中にすでに俵から繊維材料が掻取られ、
直ちに生産される。高さ検知のため、俵上端が２
個のセンサ間を走行することが好ましい。

本発明は本発明の方法を実施するための装置に
も係わり、この装置においては、移動可能な台車
がタワーと共に一連の無拘束状態に設置された繊
維俵に沿つて、またストリツパ装置、例えば高速
回転研削装置が前記繊維俵列上をそれぞれ往復移
動し、前記ストリツパ装置が俵頂面から繊維材料
を掻取り、俵列の高さを求めるため移動自在なセ
ンサ、光障壁などが電気信号を発し、この信号が
制御装置に供給される。本発明装置はデリツクま
たはタワーガ少なくとも２個の垂直方向に互いに
間隔を保つセンサを具備することと、デリツクの
長手方向位置を検知するための行程または時間依
存装置を設けたことを特徴とする。俵上端が両セ
ンサの以下または下方を通過するとセンサ位置が
自動修正され、降下または上昇する。このセンサ
は送信機及び受信機で構成すればよく、可視光、
赤外線光、超音波などを利用することができる。
長手方向位置測定装置は、デリツクの長手方向位
置を検知するために設けられる。例えば比較的高
い俵の次にこれよりもはるかに低い俵が現われた
場合、デリツクの全幅がこの低い俵の上方位置に
達した時に初めてデリツクを低い俵へ降下させる
ことができる。

センサは研削装置と平行に配置した２組の光障
壁であることが好ましく、この場合、各光障壁は
発光器と受光器とから成る。俵境界が両光障壁間
を通過すると下方の受光器が遮断され、上方受光
器が解放される。光障壁のこの位置関係から俵高
が得られる。ところが両方の光障壁が共に俵境界
の上方または下方に位置する場合には、俵境界が
再び光障壁間に位置するように光障壁位置を修正
しなければならない。光障壁はデリツクの前面に
配置することが好ましい。また、光障壁間の距離
は調節できることが好ましい。他の好ましい実施
態様では上方の光障壁を作業方向に下方光障壁よ
りも前方に配置する。デリツクの長手方向位置を
検知する装置としては光障壁を利用することが好
ましい。この光障壁はデリツクの背面に配置する
ことが好ましい。高さ方向の光障壁位置を検知す
る測定装置を設けることが好ましく、この場合、
光障壁を制御装置または測定装置と、測定装置を
制御装置とそれぞれ接続する。他の好ましい実施
態様では制御装置を記憶装置と接続する。記憶装
置としてはバツフアメモリを使用することが好ま
しい。光障壁の長手方向位置を検知する測定装置
を制御装置に接続することが好ましい。

＜実施例＞ 以下添付図面に示す実施例に基づいて本発明を
さらに詳細に説明する。

第１図において、繊維俵列２，３から繊維材料
を掻取るための装置、例えばトリユツチユラー・
ブレンドマートは移動可能な台車５上に回転自在
に支持され、台車と共に車輪を介して往復移動可
能なタワー４を含む。タワー４は上下方向に移動
自在な（第２ａ図、デリツク７に記入の双頭矢
印）ストリツパ装置７を装備したデリツクを一方
の側に具備する。例えば研削装置９を含むことの
できるストツパ装置７は繊維俵２，３の頂面から
繊維材料を掻取る。タワー４及び台車５の下には
掻取られた繊維材料を収容して搬出するためのダ
クト８を設けてある。

運転時に台車５はタワー４と共に一連の無拘束
状態に設置された繊維俵２，３に沿つて、また、
ストリツパ装置７はこの繊維俵列の上方をそれぞ
れ往復移動する。俵列２の始端Ａ１から台車５は
終端Ｅ１まで移動する（往路）。この位置Ｅ１で
タワー４及びストリツパ装置７が垂直軸を中心に
第１図上時計方向に180°だけ回転する。その結
果、ストリツパ装置７は俵列３の始端Ａ２に達す
る。俵列３の始端Ａ２から台車５は終端Ｅ２まで
移動する（復路）。

デリツク７の前面７ａには発光器１２及び受光
器１３から成る第１光障壁及び研削ローラ９と平
行な発光器１４及び受光器１５から成る第２光障
壁を設ける。第２ａ，３ａ図から明らかなよう
に、光障壁１２，１３及び１４，１５は垂直方向
に互いに間隔ａを保つ。また、上方の光障壁１
４，１５は作業方向に（第２ａ図、タワー４に記
入した水平矢印）下方光障壁１２，１３よりも前
方に配置する。デリツク７の長手方向位置を検知
する長手方向位置測定装置として、デリツク７の
背面７ｂに発光器１６及び受光器１７から成る光
障壁を配置する。

第２ｂ図はそれぞれが同一種類の複数繊維俵を
含む２つのグループＫ１，Ｋ２（成分）から成る
俵列２を示す。両グループＫ１，Ｋ２間に繊維材
料のない空隙が介在している。

第３図に示すように、受光器１３，１５，１７
はインターフエース１８を介して制御装置１９、
例えば、マイクロプロセツサを含むマイクロコン
ピユータと接続する。デリツク７の高さ方向位置
（ｙ軸）を検知する測定装置２０はインターフエ
ース２１を介して制御装置１９と接続している。
制御装置１９は記憶装置２２と接続する。さら
に、制御装置１９にはインターフエース２３を介
して、台車５の長手方向位置（ｘ軸）を検知する
長手方向位置測定装置２４を接続する。

運転時にストリツパ装置７は先ず俵列の始端を
越えて移動させ、ストリツパ装置７をその全幅に
亘つて降下させて少なくとも前方支持ローラ１０
を俵列の頂面と接触させる。次いで第１光障壁１
２，１３の光線が遮断されるまでストリツパ装置
７を俵列へ降下させる。この動作を受光器１３が
コンピユータ１９に通報すると、コンピユータは
ストリツパ測定装置２０からストリツパ装置７の
高さ値を求め、これを記憶装置２２に記憶させ
る。これと同時に台車５が俵列の終端Ｅ１にむか
つて移動する。俵頂面２ａの状態例えば凹みによ
つて光線の遮断が解かれると、デリツク７は光線
が再び遮断されるまで降下する。この新しい高さ
値も記憶装置２２に記憶される。ただしこの降下
は後方光障壁１６，１７の光線が遮断されない範
囲で可能である。比較的高い俵により前方の、即
ち上方光障壁１４，１５の光線が遮断されると、
台車５は停止状態のまま、デリツク７が光障壁１
４，１５の光線は遮断されないが光障壁１２，１
３の光線が遮断される範囲まで上昇する。この新
しい高さ値が記憶され、台車移動と測定動作が継
続される。このように構成したから、全成分Ｋ
１，Ｋ２、即ち、俵列の頂面凹凸が走査され、記
憶される。俵列の始端Ｅ１に達すると、成分Ｋ
１，Ｋ２において測定された高さについて平均値
が計算され、成分Ｋ１，Ｋ２の初期高さとして記
憶される。より適正な平均値を得るため、デリツ
ク位置に変化がなくても一定間隔で値を記憶す
る。平均値は測定値の数と密接に関連するから、
測定値の数が多ければ多いほど、平均値は適正か
つ正確になる。また多少の誤差があつても重大な
問題ではない。平均値を表わす式は下記の通りで
ある。

＝１／Ｎ_N 〓ⁱ⁼¹ Xi 成分Ｋ１またはＫ２内に所定量以上の高さの差
が検知されたら、オペレータは（通信により）補
正を指令される。所定量以上の差でなければ全成
分Ｋ１またはＫ２の平均値は自動的に上限位置か
ら所定量だけ低い高さに設定される。これによ
り、俵の立て方が悪くても開綿機１に過剰な負荷
はかからない。

測定は１回だけ、即ち、開綿プロセス開始時に
行われる。

【図面の簡単な説明】

第１図はデリツクに３組の光障壁を設置してあ
る開俵機を略示する俯瞰図；第２ａ図は第１図に
示した開俵機の側面図；第２ｂ図は光障壁の受光
器、俵上端及び２つの繊維俵グループを示す詳細
図；第３図は繊維俵の高さを求める電気回路のブ
ロツクダイヤグラムである。 １……開俵機、２，３……俵列、４……タワ
ー、５……台車、７……ストリツパ装置またはデ
リツク、１２，１３；１４，１５；１６，１７…
…光障壁、１８，２１……インターフエース、１
９……制御装置、２０，２４……測定装置、２２
……記憶装置。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 開俵機のストリツパが水平方向に俵列の俵の
   上方を順次移動し、センサ、光障壁などを利用し
   て、俵に対して複数回の高さ測定を行い、平均値
   を求め、個々の測定後に測定装置を装備したデリ
   ツクが所定距離だけ自動的に次の測定位置へ移動
   する、繊維俵の高さを検知するように開俵機を操
   作する方法において、センサによる俵高測定が俵
   頂面からの繊維材料掻取りと同時に行われ、且
   つ、俵の上端をセンサにより直接検知することに
   よつて行われることを特徴とする開俵機の操作方
   法。 ２ 高さ検知のため俵の上端がセンサ間を通過す
   ることを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載
   の方法。 ３ 移動可能な台車がタワーと共に一連の無拘束
   状態に設置された繊維俵に沿つて、高速回転研削
   装置の如きストリツパ装置が前記繊維俵列上をそ
   れぞれ往復移動し、前記ストリツパ装置が俵頂面
   から繊維材料を掻取り、俵列の高さを求めるため
   移動自在なセンサ、光障壁などが電気信号を発
   し、この信号が制御装置に供給されるように構成
   した、綿、化繊などから成る繊維俵の高さを検知
   するように開俵機を操作するための装置におい
   て、デリツク７またはタワー４が少なくとも２個
   の垂直方向に互いに間隔ａを保つセンサを具備す
   ることと、デリツクの長手方向位置を検知するた
   めの長手方向位置測定装置を設けたことを特徴と
   する開俵機操作装置。 ４ センサが研削装置９と平行に設けた２個の光
   障害１２，１３；１４，１５であることを特徴と
   する特許請求の範囲第３項に記載の装置。 ５ 光障壁１２，１３；１４，１５をデリツク７
   の前面７ａに配置したことを特徴とする特許請求
   の範囲第３項または第４項に記載の装置。 ６ 光障壁１２，１３；１４，１５間の距離ａを
   調節できることを特徴とする特許請求の範囲第３
   項から第５項までのいずれか１項に記載の装置。 ７ 上方の光障壁１４，１５を作業方向に下方光
   障壁１２，１３よりも前方に設けたことを特徴と
   する特許請求の範囲第３項から第６項までのいず
   れか１項に記載の装置。 ８ デリツク７の長手方向位置を検知する装置が
   光障壁１６，１７であることを特徴とする特許請
   求の範囲第３項から第７項までのいずれか１項に
   記載の装置。 ９ 光障壁１６，１７をデリツク７の背面７ｂに
   配置したことを特徴とする特許請求の範囲第３項
   から第８項までのいずれか１項に記載の装置。 １０ 高さ方向の光障壁１２，１３；１４，１５
   の位置を検知のため測定装置２０を設け、光障壁
   を制御装置１９と、測定装置２０を制御装置１９
   とそれぞれ接続したことを特徴とする特許請求の
   範囲第３項から第９項までのいずれか１項に記載
   の装置。 １１ 制御装置１９を記憶装置２２と接続したこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第３項から第１０
   項までのいずれか１項に記載の装置。 １２ バツフア・メモリ２２を使用することを特
   徴とする特許請求の範囲第３項から第１１項まで
   のいずれか１項に記載の装置。 １３ 制御装置１９に、デリツク７の長手方向位
   置を検知する長手方向位置測定装置２４を接続し
   たことを特徴とする特許請求の範囲第３項から第
   １２項までのいずれか１項に記載の装置。