JPH0487042A - 光学ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ、産業上の利用分野 本発明は、例えば光磁気ディスクに書込まれた情報信号
を読出す光学ピックアップ装置に関する。

Ｂ９発明の概要 本発明は、例えば光磁気ディスク等の記録媒体に書込ま
れた情報信号を読出す光学ビ、クア２ツブ装置において
、記録媒体に照射された光束の反射光束を、−側面が偏
光反射となされ他側面が全反射面となされた平板状透明
部材に一側面より傾斜して入射させ、この光束の平板状
透明部材の一側面及び他側面による反射光を光検出素子
によって検出するようにして、構成の簡素化を図るもの
である。

Ｃ０従来の技術 従来、情報信号を記録する記録媒体として、いわゆる垂
直磁化が可能な信号記録層を有してなり、この信号記録
層の磁化方向の差異によって情報信号の書込みが行える
ように構成されたいわゆる光磁気ディスクが提案されて
いる。

この光磁気ディスクに対して情報信号を書込むには、上
記信号記録層に対してレーザビームを集光して照射する
等の手段によって該信号記録層の微小領域のみをキュリ
ー温度以上に加熱して保磁力を消失させるとともに、こ
の微小領域に外部磁界を印加することによって、該微小
領域の磁化方向を変化させる。このようにして、上記信
号記録層の磁化方向を微小領域毎に変化させることによ
って、情報信号の書込みが行われる。

そして、このようにして光磁気ディスクに書込まれた情
報信号を読取るには、上記信号記録層にレーザビーム等
の単一の偏光方向を有する光束を集光して照射して、こ
の光束の反射光の偏光方向を検出する。上記光束は、上
記信号記録層において反射されるときに、いわゆるカー
効果により、磁化の方向に応じて偏光方向を変化させら
れる。

そのため、この光束の反射光の偏光方向を検出すること
によって、上記信号記録層を磁化方向の差異を検出する
ことができる。

したがって、上記光磁気ディスクより情報信号を読取る
にあたっては、第９図に示すように、上記光磁気ディス
ク１の信号記録層１ａにレーザビームを照射するととも
に、この信号記録層１ａよりの反射光を検出するように
構成された光学ピ・７クアノブ装置が用いられる。

この光学ピックアップ装置は、半導体レーザ等の光源１
０２を有し、この光源１０２より発する光束を、コリメ
ータレンズ１０３、ビームスプリッタ１０４及び対物レ
ンズ１０５等の光学デバイスを介して、上記信号記録層
１ａの表面に集光して照射するように構成されている。

また、この光学ピックアップ装置は、上記信号記録層１
ａの表面に照射された光束の反射光を、上記対物レンズ
１０５及びビームスプリッタ１０４の反射面１０４ａを
介して検出光学系に導き、該反射光の偏光方向を検出す
るように構成されている。

この光学ビックア・７プ装置における上記検出光学系と
して、この検出光学系に入射された光束を収束させる検
出レンズ１０７と、複数の受光面を有する第１及び第２
の光検出素子１０９．１１０と、これら検出レンズ１０
７と各光検出素子１０９．１１０との間の光路中に配設
されるプリズム１０８とを有してなるものがある。

このプリズム１０８は、平行四辺形プリズム１０８ａと
三角プリズム１０８ｂとが偏光反射面１０８ｃを介して
互いに接合されて、略台形のプリズムに構成されている
。上記検出レンズ１０７を透過した光束は、まず、上記
プリズムｌＯ８の上底面部をなす上記平行四辺形プリズ
ム１０８ａの一辺部に略垂直に入射し、上記偏光反射面
１０８Ｃに対して傾斜して入射する。この光束は、上記
偏光反射面１０８ｃにおいて、偏光方向に応して、一部
が反射され、残る一部が透過する。この反射光と透過光
の比率は、上記光束の偏光方向に応して変化する。

上記偏光反射面１０８Ｃを透過した光束は、上記プリズ
ム１０８の下底面部の一部をなす上記三角プリズム１０
８ｂに取付けられた上記第１の光検出素子１０９により
第１のビームスボンドＳ１として検出される。一方、上
記偏光反射面１０８Ｃにより反射された光束は、上記プ
リズム１０８の斜面部をなす上記平行四辺形プリズム１
０８ａの斜面部１０８ｄにより反射され、上記プリズム
１０８の下底面部の他部をなす上記平行四辺形プリズム
１０日ａに取付けられた上記第２の光検出素子１１０に
より第２のビームスボッ）Ｓ２として検出される。

このように上記偏光反射面１０８ｃにより分離される光
束をそれぞれに対応して検出する上記各光検出素子１０
９．１１０より出力される光検出信号の差信号、すなわ
ち、上記各ビームスポットＳ、、Ｓ、の光量の差が、上
記光磁気ディスク１に書込まれた情報信号の読取り信号
となる。

また、上記各光検出素子１０９，１１０は、第１０図に
示すように、それぞれ平行に並列された３面の受光面を
有して構成されている。すなわち、上記第１の光検出素
子１０９は第１乃至第３の受光面１０９ａ、１０９ｂ、
１０９ｃををしてなり、上記第２の光検出素子１１０は
第４乃至第６の受光面１１０ａ、１１０ｂ、１１０ｃを
有してなる。

ここで、これら光検出素子１０９，１１０の受光面にお
ける該光束の集光状態は、上記光磁気ディスク１の信号
記録層１ａの表面におけるこの表面に照射される光束の
焦点ずれに応じて変化する。

したがって、上記各光検出素子１０９．１１０における
中央部の受光面１０９ｂ、１１０ｂよりの光検出出力と
、上記各光検出素子１０９，１１０における両側側の受
光面１０９ａ、１０９ｃ、１１０ａ、１０９ｃよりの光
検出出力との差信号を求めると、いわゆる内外差法によ
って、上記光磁気ディスク１の信号記録層１ａの表面に
おける焦点ずれの量を示すいわゆるフォーカスエラー信
号を得ることができる。すなわち、上記第１乃至第６の
受光面］、０９ａ、１０９ｂ、１０９ｃ、１１０ａ、１
１．Ｏｂ、１１０ｃよりの光検出出力をそれぞれＡ、Ｂ
、Ｃ，Ｄ、Ｅ、Ｆとすると、フォーカスエラー信号Ｆｅ
は、 Ｆｅ−（Ｂ−（Ａ＋Ｃ））　　（Ｅ　　（Ｄ＋Ｆ））に
より求めることができる。

Ｄ１発明が解決しようとする課題 ところで、上述のような偏光反射面１０８ｃを有するプ
リズム１０８を有して構成される光学ピックアップ装置
においては、上記第１及び第２の光検出素子１０９，１
１０は、第１０図に示すように、各受光面の境界線の方
向が互いに傾斜されている。これは、上記各光検出素子
１０９，１１０は上記プリズム１０８に接着等の手段に
より取付けられるので、各光検出素子１０９．１１０の
取付は位置を高精度に維持することが困難であり、予め
これら光検出素子１０９，１１０を互いに傾斜させて取
付け、上記プリズム１０８の位置を調整することによっ
て、これら光検出素子１０９゜１１０上に上記各ビーム
スポットｓ、、ｓ、が形成されるようにしているためで
ある。

そのため、この光学ピンクアップ装置においては、上記
光磁気ディスク１の信号記録層１ａ上に形成される記録
トラックに対してこの信号記録層１ａに照射される光束
がずれるいわゆるトラックずれが生じたときに、上記各
光検出素子１０９１１０においては、上記各ビームスポ
ットＳＳ２が、各光検出素子１０９．１１０をなす受光
面の境界線に対して傾斜した方向に移動するため、いわ
ゆるフォーカスオフセットが生ずる。このフォーカスオ
フセットが生している状態とは、上記信号記録層１ａの
表面部において実際に焦点ずれが生じていないにもかか
わらず、この焦点ずれが生したかのようなフォーカスエ
ラー信号が出力される状態である。

ここで、このフォーカスオフセットの発生を防止するた
めに、上記各光検出素子１０９．１１０をそれぞれ位置
調整して取付け、これら光検出素子１０９．１１０をな
す受光面の境界線が互いに平行となるようにすることが
考えられる。しかしながら、このように構成される光学
ピンクアンプ装置は、構成が複雑化し、組立て、製造が
煩雑となされる。

そこで、本発明は、上述の実情に鑑みて提案されるもの
であって、構成を複雑化することなく、フォーカスオフ
セットの発生が防止され、記録媒体に書込まれた情報信
号の良好な読出しが行える光学ビックアップ装置を揚供
することを目的とすＥ１課題を解決するための手段 上述の課題を解決し上記目的を達成するため、本発明に
係る光学ピックアップ装置は、−側面が偏光反射面とな
され他側面が全反射面となされ記録媒体に照射される光
束の該記録媒体よりの反射光が一側面側より傾斜して入
射される平板状透明部材と、この平板状透明部材に入射
された光束の該平板状透明部材の一側面及び他側面によ
る反射光束を検出する光検出素子とを備えてなるもので
ある。

Ｆ、作用 本発明に係る光学ビックアンプ装置においては、−側面
が偏光反射面となされ他側面が全反射面となされた平板
状透明部材に対し一側面側より傾斜して入射される記録
媒体よりの反射光は、上記偏光反射面となされた一側面
において偏光方向に応じて分離され、この−側面におい
て反射された光束と、この−側面を透過して全反射面と
なされた上記他側面において反射される光束とが、それ
ぞれ光検出素子により検出されるので、これら各光束の
光強度を比較することにより、上記記録媒体よりの反射
光の偏光方向を検出することができる。

Ｇ、実施例 以下、本発明の具体的な実施例を図面を参照しながら説
明する。

この例は、本発明に係る光学ビックアンプ装置を、記録
媒体となる光磁気ディスクに書込まれた情報信号を読取
る光学ビックアンプ装置として構成した例である。

この光学ピックアップ装置は、第１図に示すように、光
磁気ディスク１の信号記録層１ａの表面部に光束を集光
して照射するとともに、この光束の上記信号記録層１ａ
による反射光を光検出素子９によって検出するように構
成されている。

すなわち、この光学ピンクアンプ装置は、半導体レーザ
等の単一波長かつ単一の偏光方向を有する光束を発する
光源２を有している。この光′ｔＡ２より発せられた光
束は、コリメータレンズ３により平行光束となされる。

このコリメータレンズ３を透過した光束は、ビームスプ
リンタ４を透過し、対物レンズ５に入射される。この対
物レンズ５は、入射された光束を上記光磁気ディスクｌ
の信号記録層１ａの表面部に集光させる。

この対物レンズ５は、図示しない対物レンズ駆動装置に
支持されることにより、光軸方向に移動操作可能となさ
れている。この対物レンズ駆動装置は、上記対物レンズ
５により光束が集光されて形成されるビームスボンドと
上記信号記録層１ａの表面部との距離、すなわち焦点ず
れの量を示すフォーカスエラー信号に基づいて上記対物
レンズ５を移動操作することにより、該ビームスポット
が常に上記信号記録層１ａの表面部に形成されるように
する。

また、上記信号記録層１ａは、いわゆる垂直磁化が可能
となされて形成されており、書込まれた情報信号に応し
て、微小領域毎に磁化方向が変化させられている。そし
て、この信号記録層１ａの表面部に集光されて照射され
た光束の反射光は、この信号記録層１ａの磁化方向に応
して、いわゆるカー効果によって、偏光方向を変化させ
られる。

上記信号記録層１ａの表面部に照射された光束は、この
表面部により反射され、再び上記対物レンズ５に入射す
る。この上記対物レンズ５に再入射した光束は、平行光
線となされて上記ビームスプリンタ４に戻る。このビー
ムスプリッタ４に戻った光束は、このビームスプリッタ
４の反射面４ａにより反射され、上記コリメータレンズ
３の側に戻らずに、１／２波長板６を介して検出レンズ
７に入射する。上記１／２波長板６は、いわゆる旋光子
であって、入射する光束の偏光方向を９０’回転させる
。上記検出レンズ７は、入射された光束を収束させる。

上記検出レンズ７を透過した光束は、プリズム８に入射
される。このプリズム８は、三角プリズム８ａと、この
三角プリズム８ａの斜辺部に接合される平板状透明部材
８ｂとを有してなる。これら三角プリズム８ａと平板状
透明部材８ｂとは、同一の屈折率を有する同一の光学材
料により形成されている。この平板状透明部材８ｂの上
記三角プリズム８ａに接合される側である一側面部は、
誘電体膜等が被着されていわゆる偏光反射面８Ｃとなさ
れおり、入射する光束の偏光方向に応して反射率が異な
るように形成されている。また、この平板状透明部材８
ｂの上記偏光反射面８Ｃに対向する他側面部は、いわゆ
る全反射面８ｄとなされおり、上記偏光反射面８Ｃを透
過した光束を反射するように形成されている。

このプリズム８に上記三角プリズム８ａより入射された
光束は、偏光方向に応して、一部が上記平板状透明部材
８ｂの偏光反射面８Ｃにより反射され、残る一部がこの
偏光反射面８ｃを透過する。

上記偏光反射面８ｃにより反射された光束は、上記三角
プリズム８ａ中を透過してこのプリズム８より射出され
る。上記偏光反射面８Ｃを透過した光束は、上記全反射
面８ｄにより反射されて、この平板状透明部材８ｂ及び
上記三角プリズム８ａ中を透過してこのプリズム８より
射出される。このようにして上記プリズム８を透過した
光束は、上記偏光反射面８Ｃにおいて、偏光方向の差異
に応して、光路を分離されている。

上記光検出素子９の受光面は、第２図に示すように、上
記プリズム８により光路を分離された光束をそれぞれ受
光する複数の受光面を有している。

この光検出素子９は、複数の受光面により個々に上記光
束を受光し、図示しない複数のリード線を介して、それ
ぞれの受光面における光強度に対応する光検出信号を独
立して出力することができる。

この光検出素子９においては、上記偏光反射面８ｃにお
いて反射された第１の光束の形成する第１のビームスポ
ットＳ１は、第１乃至第３の受光面９ａ、９ｂ、９ｃ上
に形成される。また、上記偏光反射面８Ｃを透過した第
２の光束の形成する第２のビームスポットＳ２は、第４
乃至第６の受光面９ｄ、９ｅ、９ｆ上に形成される。な
お、上記第１のビームスポットＳ、は、上記検出レンズ
７による焦点の直前位置で上記各受光面に受光される。

一方、上記第２のビームスポットＳ２は、上記検出レン
ズ７による焦点の直後位置で上記各受光面に受光される
。

上記第１乃至第３の受光面９ａ、９ｂ、’９ｃは、それ
ぞれ略長方形に形成され、短辺方向に順次並列に配列さ
れている。また、第４乃至第６の受光面９ｄ、９ｅ、９
ｆも、同様に、それぞれ略長方形に形成され、短辺方向
に順次並列に配列されている。そして、上記第１乃至第
３の受光面９ａ９ｂ、９ｃの境界線方向と、上記第４乃
至第６の受光面９ｄ、９ｅ、９ｆの境界線方向とは、互
いに平行となされている。

ここで、上記第１乃至第６の受光面９ａ、９ｂ９ｃ、９
ｄ、９ｅ、９ｆより出力される光検出出力をそれぞれＥ
ａ、Ｅｓ、ＩＥｃ、、Ｅゎ、Ｅ、、ＥＦとし、上記光磁
気ディスクｌの信号記録層１ａの表面における焦点ずれ
の量を示すいわゆるフォーカスエラー信号をＦｅとする
と、このフォーカスエラー信号Ｆｅは、 Ｆ　ｅ　−（Ｅ＋＋　　　（Ｅａ　＋　Ｅｃ　））（Ｂ
Ｅ　　　（Ｅｏ　＋Ｅｒ　）） により得ることができる。このフォーカスエラー信号Ｆ
ｅは、上記対物レンズ駆動装置を制御するサーボ回路に
送られる。

そして、上記第１及び第２のビームスポットＳ５２の光
強度は、上記信号記録層１ａの表面部よりの反射光の偏
向方向の変化により、一方が増大するときには他方が減
少し、一方が減少するときには他方が増大する。したが
って、上記光磁気ディスク１に書込まれた情報信号の読
取り信号をＭＯとすると、この読取り信号をＭＯは、 Ｍ　Ｏ＝（Ｅ４　＋　Ｅ１＋　＋　Ｅｃ　）（Ｅｏ＋Ｅ
ｃ↑Ｅ、） により得ることができる。

この光学ビックアップ装置においては、上記光検出素子
９の各受光面の境界線の方向が、上記光磁気ディスク１
の信号記録層ｌａ上に形成される記録トラックの接線方
向に対応する方向となるようになされている。そのため
、上記信号記録層１ａの表面においてこの信号記録層１
ａの表面に照射される光束が、第１図中矢印Ｔ０で示す
上記記録トラックを横切る方向にずれるいわゆるトラン
クずれが起きた場合に、フォーカスエラー信号Ｆｅが変
動することが防止されている。すなわち、上記トラック
ずれが生じると、上記プリズム８に入射する光束が第１
図中矢印下、で示す方向に偏向されて、上記光検出素子
９の受光面上においては、上記第１及び第２のビームス
ポットＳ＋　、Ｓｔは、第１図中矢印Ｔ２で示す方向に
移動する。このとき、上記光検出素子９の受光面上にお
いては、上記各ビームスポットＳ、、Ｓ、は、第２図中
に矢印Ｔ、及びＴ４で示すように、上記各受光面の境界
線方向に移動するようになされている。

したがって、この光学ピックアップ装置においては、い
わゆるガルバノミラ−等の光偏向装置を用いて、上記光
磁気ディスク１に照射する光束を上記記録トラックを横
切る方向に大きく移動させても、良好にフォーカスエラ
ー信号を得ることができる。すなわち、本発明に係る光
学ピックアップ装置においては、簡素な構成にもかかわ
らず、いわゆるトランクずれによるフォーカスオフセッ
トの発生を防止することができる。

また、この光学ピックアップ装置においては、第３図に
示すように、各光学デバイスを上記光磁気ディスク１に
沿う方向に配列し、この光磁気ディスク１の厚み方向に
ついて薄型化を図ることができる。この光学ピックアッ
プ装置においては、上記光源２より上記光磁気ディスク
１に沿う方向に発せられた光束は、コリメータレンズ３
により平行光束となされた後、ビームスプリッタ４の反
射面４ａにより反射されて、反射ミラー１０に入射され
る。この反射ミラー１０は、入射された光束を反射して
、上記光磁気ディスク１に対向して配設される対物レン
ズ５に入射させる。この対物レンズ５は、入射されこ光
束を上記光磁気ディスク１の信号記録層ｌａ上に集光さ
せる。

上記信号記録層１ａにより反射された光束は、上記対物
レンズ５及び上記反射ミラー１０を介して上記ビームス
プリッタ４に戻る。ここで、上記信号記録層１ａにより
反射された光束は、上記反射面４ａを透過し、１／２波
長板６を介して検出レンズ７に入射される。この検出レ
ンズ７は、入射された光束を収束させて、プリズム１１
に入射させる。

上記プリズム１１は、平行四辺形プリズム１１ａと、こ
の平行四辺形プリズムｌｌａの一方の斜辺部に接合され
る平板状透明部材１１ｂとを有してなる。これら平行四
辺形プリズムｌｌａと平板状透明部材１１ｂとは、同一
の屈折率を有する同一の光学材料により形成されている
。この平板状透明部材１１ｂの上記平行四辺形プリズム
ｌｌａに接合される側である一側面部は、偏光反射面１
１ｃとなされおり、入射する光束の偏光方向に応じて反
射率が異なるように形成されている。また、この平板状
透明部材１１ｂの上記偏光反射面１１Ｃに対向する他側
面部は、全反射面ｌｉｄとなされおり、上記偏光反射面
１１ｃを透過した光束を反射するように形成されている
。

このプリズム１１に上記平行四平形プリズム１１ａの底
面部より入射された光束は、偏光方向に応して、一部が
上記平板状透明部材１１ｂの偏光反射面１１ｃにより反
射され、残る一部がこの偏光反射面１１Ｃを透過する。

上記偏光反射面１１Ｃにより反射された光束は、上記平
行四辺形プリズムＩｌａ中を透過し、さらに、上記平行
四辺形プリズムｌｌａの他方の斜辺部で反射されて、こ
のプリズム１１より射出される。上記偏光反射面１１ｃ
を透過した光束は、上記全反射面ｌｉｄにより反射され
て、この平板状透明部材１１ｂ及び上記平行四辺形プリ
ズムｌｌａ中を透過し、さらに、上記平行四辺形プリズ
ムｌｌａの他方の斜辺部で反射されて、このプリズム１
１より射出される。このようにして上記プリズム１１を
透過した光束は、上記偏光反射面１１ｃにおいて、偏光
方向の差異に応じて、光路を分離されている。

上記プリズム１１を透過した光束を検出するよに配設さ
れる光検出素子１２の受光面は、第４図に示すように、
上記プリズム１１により光路を分離された光束をそれぞ
れ受光する複数の受光面を有している。この光検出素子
１２は、複数の受光面により個々に上記光束を受光し、
図示しない複数のリード線を介して、それぞれの受光面
における光強度に対応する光検出信号を独立して出力す
ることができる。

この光検出素子１２においては、上記偏光反射面１１ｃ
において反射された第１の光束の形成する第１のビーム
スボンドＳ１は、第１乃至第３の受光面１２ａ、１２ｂ
、１２ｃ上に形成される。

また、上記偏光反射面１１ｃを透過した第２の光束の形
成する第２のビームスポットＳ２は、第４乃至第６の受
光面１２ｄ、１２ｅ、１２ｆ上に形成される。

上記第１乃至第３の受光面１２ａ、１２ｂ、１２ｃは、
それぞれ略長方形に形成され、短辺方向に順次並列に配
列されている。また、第４乃至第６の受光面１２ｄ、１
２ｅ、１２ｆも、同様に、それぞれ略長方形に形成され
、短辺方向に順次並列に配列されている。そして、上記
第１乃至第３の受光面１２ａ、１２ｂ、１２ｃの境界線
方向と、上記第４乃至第６の受光面１２ｄ、１２ｅ、１
２ｆの境界線方向とは、互いに平行となされている。

ここで、上記第１乃至第６の受光面１２ａ、１２ｂ、］
、２ｃ、１２ｄ、１２ｅ、１２ｆより出力される光検出
出力をそれぞれＥＡ＋Ｅｌ＋ＥＣ１Ｅｎ　、Ｅｔ　、Ｅ
ｒとし、上記光磁気ディスク１の信号記録層１ａの表面
における焦点ずれの量を示すいわゆるフォーカスエラー
信号をＦｅとすると、このフォーカスエラー信号Ｆｅは
、前述した光学ビックアンプ装置におけると同様に、 Ｆ　ｅ＝　（Ｅｍ−（ＥＡ　＋ＥＣ））（Ｅｔ　−（Ｆ
、　＋ＥＦ　）） により得ることができる。

そして、上記第１及び第２のビームスボッ）Ｓ、。

Ｓ２の光強度は、上記信号記録層１ａの表面部よりの反
射光の偏向方向の変化により、一方が増大するときには
他方が減少し、一方が減少するときには他方が増大する
。したがって、上記光磁気ディスク１に書込まれた情報
信号の読取り信号をＭ。

とすると、この読取り信号をＭｏは、 ＭＯ＝　ＣＥｓ　＋Ｅ、＋Ｅｃ　） （ＥＤ　＋　ＥＥ　＋ＥＦ　） により得ることができる。

そして、この光学ビックアンプ装置においても、上記光
検出素子１２の各受光面の境界線の方向が、上記記録ト
ラックの接線方向に対応する方向となるようになされて
いる。そのため、上記信号記録層１ａの表面においてこ
の信号記録層１ａの表面に照射される光束が、第３図中
矢印下ゆで示す上記記録トランクを横切る方向にずれる
いわゆるトラックずれが起きた場合に、フォーカスエラ
ー信号Ｆｅが変動することが防止されている。すなわち
、上記トラックずれが生しると、上記第１及び第２のビ
ームスポットＳ、、Ｓ、は、第４図中矢印Ｔ、及びＴ、
で示すように、上記各受光面の境界線方向に移動するよ
うになされている。

上述のように、この光学ピックアップ装置においても、
簡素な構成にもかかわらず、いわゆるトラックずれによ
るフォーカスオフセットの発生を防止することができる
。

さらに、本発明に係る光学ビックアンプ装置は、第５図
に示すように、上記光磁気ディスク１に反射された光束
が上記光検出素子に至る光路中に、シリンドリカルレン
ズ１３を配設することによって、該光束に非点収差を発
生させ、この非点収差の状態により、上記フォーカスエ
ラー信号を検出するように構成してもよい。

この光学ピンクアンプ装置は、前述した光学ピンクアッ
プ装置と同様に、光源２、コリメータレンズ３、ビーム
スプリンタ４及び対物レンズ５等を有して構成され、上
記光磁気ディスク１の信号記録層１ａの表面部に光束を
照射するように構成されている。

そして、この光学ピックアップ装置においては、上記信
号記録層１ａの表面部で反射され、上記対物レンズ５及
び上記ビームスプリッタ４を介して上記検出レンズ７に
到達した光束は、この検出レンズ７を透過すると、シリ
ンドリカルレンズ１３を透過して、上記プリズム８に入
射される。

そして、上記プリズム８において、偏光方向に応して光
路を分離された光束は、光検出素子１４により検出され
る。この光検出素子１４は、第６図に示すように、上記
プリズム８により光路を分離された光束をそれぞれ受光
する複数の受光面を有している。この光検出素子１４は
、複数の受光面により個々に上記光束を受光し、図示し
ない複数のリード線を介して、それぞれの受光面におけ
る光強度に対応する光検出信号を独立して出力すること
ができる。

この光検出素子１４においては、上記偏光反射面８Ｃに
おいて反射された第１の光束の形成する第１のビームス
ポットＳ、は、第１乃至第４の受光面１４ａ、１４ｂ、
１４ｃ、１４ｄ上に形成される。また、上記偏光反射面
１１ｃを透過した第２の光束の形成する第２のビームス
ポットＳ２は、第５乃至第８の受光面１２ｅ、１２ｆ、
１２ｇ１４ｈ上に形成される。

上記第１乃至第４の受光面１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、１
４ｄは、上記第１のビームスポットＳＩの中心からこの
第１のビームスポットＳ１を放射状に４等分した領域内
の光をそれぞれ受光するように配設されている。これら
第１乃至第４の受光面１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、１４ｄ
が上記第１のビームスポットＳ１を分割する線の方向は
、上記シリンドリカルレンズ１３の円筒軸の方向に対し
、４５″となされている。

上記第５乃至第８の受光面１４ｅ、１４ｆ、１４ｇ、１
４ｈは、上記第２のビームスポットＳ２の中心からこの
第２のビームスポットＳ２を放射状に４等分した領域内
の光をそれぞれ受光するように配設されている。これら
第５乃至第８の受光面１４ｅ、１４ｆ、１４ｇ、１４ｈ
が上記第２のビームスポットＳ２を分割する線の方向は
、上記第１乃至第４の受光面１４ａ、１４ｂ、１４ｃ。

１４ｄと同様に、上記シリンドリカルレンズ１３の円筒
軸の方向に対し、４５″となされている。

上記シリンドリカルレンズ１３がこのシリンドリカルレ
ンズ１３を透過する光束に対して生しさせる非点収差は
、このシリンドリカルレンズ１３の円筒軸の方向及びこ
の円筒軸の方向に直交する方向に生ずる。したがって、
上記第１乃至第４の受光面１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、１
４ｄより出力される光検出出力をそれぞれＥ、、Ｅ、、
ＥＣＥゎとすると、上記フォーカスエラー信号をＦｅは
、 Ｆｅ＝　　（ＥＡ　　＋Ｅｃ　　）−（Ｅｌ　　＋４．
　　）により得ることができる。なお、ここで、上記第
１乃至第４の受光面１４ａ、１４ｂ、＋４ｃ、１４ｄは
、順次隣接するように配設され、第１及び第３の受光面
１４ａ、１４ｃと、第２及び第４の受光面１４ｂ　　１
４ｄとは、それぞれ上記第１のビームスポットＳｌの中
心を挟んで対向する位置に配設されている。

また、上記第５乃至第８の受光面１４ｅ、１４ｆ、１４
ｇ、１４ｈより出力される光検出出力をそれぞれＥｘ　
、Ｅｒ　、ＥＧ、Ｅｅｌ　とすると、上記フォーカスエ
ラー信号をＦｅは、 Ｆ　ｅ　−（ＥＥ　＋Ｅｒ　）　　　（ＥＧ　＋ＥＭ　
）によっても得ることができる。なお、ここで、上記第
５乃至第８の受光面１４ｅ、１４１．１４ｇ１４ｈは、
順次隣接するように配設され、第５及び第７の受光面１
４ｅ、１４ｇと、第６及び第８の受光面１４　ｆ　、　
　１４　ｈとは、それぞれ上記第２のビームスポットｓ
ｚの中心を挾んで対向する位置に配設されている。

この光学ピックアップ装置においては、上記偏光反射面
８Ｃにより反射された光束と、上記偏光反射面８ｃを透
過した光束との双方より、上記フォーカスエラー信号が
得られるので、これらの変動を互いに相殺させることに
より、上記光磁気ディスク１０基材中におけるいわゆる
複屈折の影響を受けることなく、正確なフォーカスエラ
ー信号を得ることができる。

また、この光学ピックアップ装置においては、読取り信
号をＭｏは、 Ｍ　Ｏ−（ＥＡ　＋　Ｅｌ　＋　ＥＣ十ＥＤ）（ＥＥ　
＋　ＥＦ　＋　Ｅｃ　＋　Ｅｅｌ　）により得ることが
できる。

上述のように、本発明に係る光検出器７を用いて構成さ
れた光学ピックアップ装置においては、簡素な構成によ
り、フォーカスエラー信号Ｆｅ及び光磁気ディスク１に
書込まれた情報信号の読取り信号Ｍｏを得ることができ
る。

さらに、本発明に係る光学ピンクアップ装置は、第７図
に示すように、上記プリズム８．１１に代えて、平板状
透明部材１５を用いて構成してもよい この先学ピックアップ装置は、前述した光学ピックアッ
プ装置と同様に、光Ｒ２、コリメータレンズ３、ビーム
スプリンタ４及び対物レンズ５等を有して構成され、上
記光磁気ディスクｌの信号記録層１ａの表面部に光束を
照射するように構成されている。

そして、この光学ピンクアップ装置においては、上記信
号記録層１ａの表面部で反射され、上記対物レンズ５及
び上記ビームスプリッタ４を介して上記検出レンズ７に
到達した光束は、この検出レンズ７を透過すると、シリ
ンドリカルレンズ１３を透過して、上記平板状透明部材
１５に傾斜して入射される。

上記平板状透明部材１５の上記光束が入射される側であ
る一側面部は、誘電体膜等が被着されて偏光反射面１５
ａとなされおり、入射する光束の偏光方向に応じて反射
率が異なるように形成されている。また、この平板状透
明部材１５の上記偏光反射面１５ａに対向する他側面部
は、全反射面１５ｂとなされおり、上記偏光反射面１５
ａを透過した光束を反射するように形成されている。

この平板状透明部材１５に入射された光束は、偏光方向
に応して、一部が上記偏光反射面１５ａにより反射され
、残る一部がこの偏光反射面１５ａを透過する。上記偏
光反射面１５ａにより反射された光束は、光検出素子１
６の受光面上に照射される。上記偏光反射面１５ａを透
過した光束は、上記全反射面１５ｂにより反射されて、
この平板状透明部材１５中を透過してこの平板状透明部
材１５より射出され、光検出素子１６の受光面上に照射
される。このようにして上記平板状透明部材１５により
反射され、または、この平板状透明部材１５を透過した
光束は、上記偏光反射面１５ａにおいて、偏光方向の差
異に応じて、光路を分離されている。

上記光検出素子１６の受光面は、第８図に示すように、
上記平板状透明部材１５により光路を分離された光束を
それぞれ受光する複数の受光面を有している。この光検
出素子１６は、複数の受光面により個々に上記光束を受
光し、図示しない複数のリード線を介して、それぞれの
受光面における光強度に対応する光検出信号を独立して
出力することができる。

この光検出素子１６においては、上記偏光反射面１５ａ
において反射された第１の光束の形成する第１のビーム
スポットＳ１は、第１乃至第４の受光面１６ａ　　１６
ｂ、１６ｃ、１６ｄ上に形成される。また、上記偏光反
射面１５ａを透過した第２の光束の形成する第２のビー
ムスポットＳ！は、第５の受光面１６ｅ上に形成される
。

上記第１乃至第４の受光面１６ａ、１６ｂ、１６ｃ、１
６ｄは、上記第１のビームスポットＳの中心からこの第
１のビームスポットＳ１を放射状に４等分した領域内の
光をそれぞれ受光するように配設されている。これら第
１乃至第４の受光面１６ａ、１６ｂ、１６ｃ、１６ｄが
上記第１のビームスポットＳ１を分割する線の方向は、
上記シリンドリカルレンズ１３の円筒軸の方向に対し、
４５°となされている。

上記シリンドリカルレンズ１３がこのシリンドリカルレ
ンズ１３を透過する光束に対して生しさせる非点収差は
、このシリンドリカルレンズ１３の円筒軸の方向及びこ
の円筒軸の方向に直交する方向に住する。したがって、
上記第１乃至第４の受光面１６ａ、１６ｂ、１６ｃ、１
６ｄより得られる光検出出力を、それぞれＥＡ、Ｅ、、
Ｅ、。

Ｅ、とすると、上記フォーカスエラー信号をＦｅは、 Ｆ　ｅ　＝　（Ｅａ　＋Ｅｃ　）　　　（Ｅ＋＋　＋　
ＥＤ　）により得ることができる。なお、ここで、上記
第１乃至第４の受光面１６ａ、１６ｂ、１６ｃ、１６ｄ
は、順次隣接するように配設され、第１及び第３の受光
面１６ａ、１６ｃと、第２及び第４の受光面１６ｂ、１
６ｄとは、それぞれ上記第１のビームスポットＳ１の中
心を挾んで対向する位置に配設されている。

そして、この光学ピンクアンプ装置においては、読取り
信号をＭｏは、上記第５の受光面１６ｅより得られる光
検出出力をＥ、とすると、Ｍｏ＝　（Ｅ４　＋Ｅ、＋Ｅ
ｃ　＋Ｅｏ　）　　Ｅｔにより得ることができる。

Ｈ１発明の効果 上述のように、本発明に係る光検出器においては、−側
面が偏光反射面となされ他側面が全反射面となされた平
板状透明部材に対し一側面側より傾斜して入射される記
録媒体よりの反射光は、上記偏光反射面となされた一側
面において偏光方向に応じて分離され、この−側面にお
いて反射された光束と、この−側面を透過して全反射面
となされた上記他側面において反射される光束とが、そ
れぞれ光検出素子により検出される。

そのため、上記光検出素子の光検出出力に基づき、上記
−側面において反射された光束の光強度と、この−側面
を透過した光束の光強度とを比較することにより、上記
記録媒体よりの反射光の偏光方向を検出することができ
る。

また、この光学ピンクアップ装置においては、構成が簡
素化されるため、上記各受光面を適宜配置することによ
り、上記記録媒体上における光束の焦点ずれの量を示す
フォーカスエラー信号等を、いわゆるトラックずれによ
りオフセットの発生や、上記記録媒体におけるいわゆる
複屈折による影響を受けることなく、良好に検出するこ
とができる。

すなわち、本発明は、構成を複雑化することなく、フォ
ーカスオフセットの発生が防止され、記録媒体に書込ま
れた情報信号の良好な読出しが行える光学ピックアップ
装置を提供することができるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る光学ピックアップ装置の構成を模
式的に示す側面図であり、第２図は上記光学ピックアッ
プ装置を構成する光検出素子を示す拡大平面図である。 第３図は上記光学ビックアンプ装置の構成の他の例を模
式的に示す側面図であり、第４図は上記第３図に示した
光学ビックアンプ装置を構成する光検出素子を示す拡大
平面図である。 第５図は上記光学ピックアップ装置の構成のさらに他の
例を模式的に示す側面図であり、第６図は上記第５図に
示した光学ピックアップ装置を構成する光検出素子を示
す拡大平面図である。 第７図は上記光学ビックアンプ装置の構成のさらに他の
例を模式的に示す側面図であり、第８図は上記第７図に
示した光学ビックアンプ装置を構成する光検出素子を示
す拡大平面図である。 第９図は従来の光学ピックアップ装置の構成を模式的に
示す側面図であり、第１０図は上記従来の光学ビックア
ンプ装置を構成する光検出素子を示す拡大平面図である
。 １・・・・・・・・・・・・・・・・光磁気ディスク２
・・・・・・・・・・・・・・・・光源４・・・・・・
・・・・・・・・・・ビームスプリンタ・・・・・・・
・・・・・・・・・光検出素子ｂ １ｂ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 一側面が偏光反射面となされ、他側面が全反射面となさ
   れ、記録媒体に照射される光束の該記録媒体よりの反射
   光が一側面側より傾斜して入射される平板状透明部材と
   、 上記平板状透明部材に入射された光束の該平板状透明部
   材の一側面及び他側面による反射光束を検出する光検出
   素子とを備えてなる光学ピックアップ装置。