JPH04164348A - Trimming data storage circuit - Google Patents
Trimming data storage circuitInfo
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- JPH04164348A JPH04164348A JP29157290A JP29157290A JPH04164348A JP H04164348 A JPH04164348 A JP H04164348A JP 29157290 A JP29157290 A JP 29157290A JP 29157290 A JP29157290 A JP 29157290A JP H04164348 A JPH04164348 A JP H04164348A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はトリミングデータ記憶回路に関し、特にアナロ
グ回路等のトリミングを行うためのデータを保持する不
揮発性記憶素子を備えたトリミングデータ記憶回路に関
する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a trimming data storage circuit, and more particularly to a trimming data storage circuit equipped with a nonvolatile storage element that holds data for trimming an analog circuit or the like.
増幅器や基準電圧発生回路等のアナログ回路を含むLS
Iは、その製造ばらつきにより所望の特性が得られない
ことがあり、LSI内部に不揮発性の記憶素子を設け、
この記憶素子にアナログ回路の特性を補正するためのデ
ータを書込み、このデータにより所望の特性に近づける
トリミング手段を有している。このトリミングデータを
記憶しておくのがトリミングデータ記憶回路であり、ト
リミングデータの適否を確認するために第3図に示すよ
うな回路が用いられていた。LS including analog circuits such as amplifiers and reference voltage generation circuits
I may not be able to obtain the desired characteristics due to manufacturing variations, so a non-volatile memory element is provided inside the LSI,
A trimming means is provided for writing data for correcting the characteristics of the analog circuit into this memory element and using this data to bring the characteristics closer to desired characteristics. A trimming data storage circuit stores this trimming data, and a circuit as shown in FIG. 3 has been used to confirm the suitability of the trimming data.
このトリミングデータ記憶回路は、Nビットのトリミン
グデータTDJ (J=1〜N、以下同様)の各ビッ
トとそれぞれ対応して設けられたビット別データ記憶回
路IJxにより構成されている。This trimming data storage circuit is constituted by a bit-by-bit data storage circuit IJx provided corresponding to each bit of N-bit trimming data TDJ (J=1 to N, the same applies hereinafter).
各ビット別データ記憶回路IJxは、ラッチ信号CKに
より入力されたトリミングデータの対応するビット(I
DJ)をラッチし出力するラッチ回路1xと、書込み信
号として書込み用電源電圧Vppが印加されるとラッチ
回路1xの出力データを記憶して出力し書込み状態とな
り、書込み用電源電圧VPPが一度も印加されず非書込
み状態のときは出力が非能動レベル(低レベル)である
電気的に書込み可能な不揮発性記憶素子2と、選択信号
SELによりラッチ回路1x又は不揮発性記憶素子2の
出力を選択してトリミングデータの1ビツトT D J
として出力する切換え回路4とを備えた構成となってい
る。Each bit data storage circuit IJx stores a corresponding bit (I
DJ), and when a write power supply voltage Vpp is applied as a write signal, the output data of the latch circuit 1x is memorized and output, and the circuit enters a write state, and the write power supply voltage VPP is never applied. The output of the electrically writable non-volatile memory element 2 is at an inactive level (low level) when it is in a non-writing state, and the output of the latch circuit 1x or the non-volatile memory element 2 is selected by the selection signal SEL. 1 bit of trimming data T D J
The configuration includes a switching circuit 4 that outputs as follows.
次に、この回路の動作について説明する。Next, the operation of this circuit will be explained.
まず、入力されたトリミングデータをラッチ回路1xに
取り込み、この取り込まれたデータがトリミングデータ
として妥当か否かを、実際にトリミング回路へ供給して
確認する。First, the input trimming data is taken into the latch circuit 1x, and whether or not the taken-in data is valid as trimming data is checked by actually supplying it to the trimming circuit.
このとき切換え回路4は、ラッチ回路1xの出力を選択
する。At this time, the switching circuit 4 selects the output of the latch circuit 1x.
このトリミングデータが妥当であれば各不揮発性記憶素
子2に書込み用電源電圧VPPを印加し対応するラッチ
回路1xの出力データを不揮発性記憶素子2に書込み、
選択信号SELのレベルを反転して切換回路4により不
揮発性記憶素子2の出力を選択するようにする。If this trimming data is valid, apply the write power supply voltage VPP to each nonvolatile memory element 2, write the output data of the corresponding latch circuit 1x to the nonvolatile memory element 2,
The output of the nonvolatile memory element 2 is selected by the switching circuit 4 by inverting the level of the selection signal SEL.
こうして妥当なトリミングデータが各不揮発性記憶素子
2に記憶され、この記憶されたデータがトリミング回路
へ供給されることとなる。In this way, appropriate trimming data is stored in each nonvolatile storage element 2, and this stored data is supplied to the trimming circuit.
なお、切換え回路4は、具体的には第4図に示すような
回路となっており、この例では、3個のNANDゲート
01〜G3と1個のインバータ■Vlにより構成されて
いる。The switching circuit 4 is specifically a circuit as shown in FIG. 4, and in this example, it is composed of three NAND gates 01 to G3 and one inverter Vl.
上述した従来のトリミングデータ記憶回路は、トリミン
グデータの各ビットと対応してそれぞれビット別データ
記憶回路IJxが設けられ、これらビット別データ記憶
回路IJxはそれぞれ切換え回路4を備えた構成となっ
ているので、この切換回路4が3個のNANDゲート0
1〜G3と1個のインバータ■1とで構成されるため、
トリミングデータのビット数が増加すると共に回路規模
が大きくなり、LSIの小型化が困難になるという欠点
がある。The above-described conventional trimming data storage circuit has a configuration in which a bit-specific data storage circuit IJx is provided corresponding to each bit of the trimming data, and each of these bit-specific data storage circuits IJx is provided with a switching circuit 4. Therefore, this switching circuit 4 connects three NAND gates 0
Since it is composed of 1 to G3 and one inverter ■1,
There is a drawback that as the number of bits of trimming data increases, the circuit scale also increases, making it difficult to miniaturize the LSI.
本発明の目的は、トリミングデータのビット数が増加し
ても回路規模が増大するのを抑え、LSIの小型化が容
易となるトリミングデータ記憶回路を提供することにあ
る。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a trimming data storage circuit that suppresses an increase in circuit scale even when the number of bits of trimming data increases and facilitates miniaturization of an LSI.
本発明のトリミングデータ記憶回路は、トリミングデー
タの各ビットとそれぞれ対応して設けられ、ラッチ信号
により入力された前記トリミングデータの対応するビッ
トをラッチして出力しクリア信号により出力を非能動レ
ベルにするラッチ回路、書込み信号が印加されると対応
する前記ラッチ回路の出力データを記憶して出力し書込
み状態となり非書込み状態では出力が非能動レベルであ
る電気的に書込み可能な不揮発性記憶素子、及び対応す
る前記ラッチ回路の出力と対応する前記不揮発性記憶素
子の出力との論理和をとる論理和回路を備えたビット別
データ記憶回路と、これらビット別データ記憶1回路の
不揮発性記憶素子に書込み状態のものがあるか否かを検
出し書込み状態のものがあるとき前記クリア信号を出力
する書込み検出回路とを有している。The trimming data storage circuit of the present invention is provided corresponding to each bit of trimming data, latches and outputs the corresponding bit of the inputted trimming data by a latch signal, and sets the output to an inactive level by a clear signal. an electrically writable nonvolatile memory element that stores and outputs the output data of the corresponding latch circuit when a write signal is applied, becomes in a write state, and has an output at an inactive level in a non-write state; and a bit-by-bit data storage circuit comprising an OR circuit that performs a logical sum of the output of the corresponding latch circuit and the corresponding output of the non-volatile storage element, and a non-volatile storage element of the one bit-based data storage circuit. and a write detection circuit that detects whether or not there is a write state and outputs the clear signal when there is a write state.
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明の第1の実施例を示す回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram showing a first embodiment of the present invention.
ビット別データ記憶回路IJ(J=1〜N、以下同様)
は、トリミングデータの各ビットとそれぞれ対応して設
けられ、ラッチ信号CKにより入力されたトリミングデ
ータの対応するビット■D、をラッチして出力しクリア
信号CLRにより出力を非能動レベル(低レベル)にす
るラッチ回路1と、書込み信号の書込み電源電圧Vpp
が印加されると対応するラッチ回路1の出力データを記
憶して出力し書込み状態となり非書込み状態では出力が
非能動レベル(低レベル)である電気的に書込み可能な
不揮発性記憶素子2と、対応するラッチ回路1の出力と
対応する不揮発性記憶素子2の出力との論理和をとりト
リミングデータの1ビツトT D Jを出力するORゲ
ート3とを備えた構成となっている。Bit-by-bit data storage circuit IJ (J=1 to N, the same applies below)
is provided corresponding to each bit of the trimming data, and latches and outputs the corresponding bit D of the input trimming data by the latch signal CK, and sets the output to an inactive level (low level) by the clear signal CLR. latch circuit 1 and write power supply voltage Vpp of the write signal.
an electrically writable non-volatile memory element 2 which stores and outputs the output data of the corresponding latch circuit 1 when is applied and enters a write state, and whose output is at an inactive level (low level) in a non-write state; The configuration includes an OR gate 3 that performs the logical sum of the output of the corresponding latch circuit 1 and the output of the corresponding non-volatile memory element 2 and outputs 1-bit TDJ of trimming data.
書込み検出回路20は、書込み信号の書込み電源電圧V
ppが印加されると能動レベル(電源電圧VDDの高レ
ベル)のデータを記憶してクリア信号CLRを出力し書
込み状態となり、非書込み状態では出力か非能動レベル
である電気的に書込み可能な不揮発性記憶素子で構成さ
れ、ビット別データ記憶回路IJの不揮発性記憶素子2
に書込み状態のものがあるか否かを検出し書込み状態の
ものがあるときクリア信号CLRを出力する。The write detection circuit 20 detects the write power supply voltage V of the write signal.
When pp is applied, it stores active level data (high level of power supply voltage VDD) and outputs a clear signal CLR to enter the write state, and in the non-write state it is an output or inactive level. Non-volatile memory element 2 of the bit-based data memory circuit IJ
It detects whether or not there is a write state in the write state, and outputs a clear signal CLR when there is a write state in the write state.
次に、この実施例の動作について説明する。Next, the operation of this embodiment will be explained.
まず、入力されたトリミングデータの各ビットIDJを
各ビット別データ記憶回路IJのラッチ回路1に取り込
む。このとき各不揮発性記憶素子2は非書込み状態とな
っているので、これらの出力は低レベルとなっており、
従って各ORゲート3の出力(TD、+)は対応するラ
ッチ回路1の出力データ(I D 、+”’)となる。First, each bit IDJ of the input trimming data is taken into the latch circuit 1 of each bit-specific data storage circuit IJ. At this time, each nonvolatile memory element 2 is in a non-writing state, so their outputs are at a low level.
Therefore, the output (TD, +) of each OR gate 3 becomes the output data (I D , +''') of the corresponding latch circuit 1.
これら出力データをトリミング回路へ供給し、トリミン
グデータとして妥当であるか否かを確認する。These output data are supplied to the trimming circuit and checked to see if they are valid as trimming data.
この結果、入力されたトリミングデータが妥当であれば
、各不揮発性記憶素子2及び書込み検出回路に書込み電
源電圧VPPを印加し、各ラッチ回路1の出力データを
対応する不揮発性記憶素子2へ書込むと共に書込み検出
回路2oに能動レベル(電源電圧VDD)のデータを書
込み、これにより書込み検出回路20からクリア信号C
LRが出力される。As a result, if the input trimming data is valid, the write power supply voltage VPP is applied to each nonvolatile memory element 2 and the write detection circuit, and the output data of each latch circuit 1 is written to the corresponding nonvolatile memory element 2. At the same time, data at an active level (power supply voltage VDD) is written to the write detection circuit 2o, thereby causing the write detection circuit 20 to output a clear signal C.
LR is output.
クリア信号CLRが出力されると各ラッチ回路1の出力
は低レベルとなり、従って各ORゲートの出力(TDJ
)は対応する不揮発性記憶素子2の出力データとなる
。When the clear signal CLR is output, the output of each latch circuit 1 becomes low level, and therefore the output of each OR gate (TDJ
) is the output data of the corresponding nonvolatile memory element 2.
こうして妥当なトリミングデータが各不揮発性記憶素子
2に記憶され、この記憶されたデータがトリミング回路
へ供給されることになる。In this way, appropriate trimming data is stored in each nonvolatile storage element 2, and this stored data is supplied to the trimming circuit.
この実施例においては、従来例の切換え回路4と対応す
る部分がORゲート3の1個であり、従ってこの部分の
面積はほぼ1/4となる。また、従来例にはなかった書
込み検出回路2oは不揮発性記憶素子1個であるので、
これらを含めた面積は本発明の方が大幅に小さくなり、
その差はトリミングデータのビット数が多くなるに従っ
て大きくなる。その上、従来例で必要とした選択信号S
ELが不要となる。In this embodiment, the portion corresponding to the conventional switching circuit 4 is one OR gate 3, and therefore the area of this portion is approximately 1/4. In addition, since the write detection circuit 2o, which was not found in the conventional example, has one nonvolatile memory element,
The area including these is significantly smaller in the present invention,
The difference increases as the number of bits of trimming data increases. Moreover, the selection signal S required in the conventional example
EL becomes unnecessary.
第2図は本発明の第2の実施例を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing a second embodiment of the present invention.
この実施例は、書込み検出回路2oAを、全ビット別デ
ータ記憶回路IJ(この実施例ではに1.2)の不揮発
性記憶素子2の出力の論理和をとりクリア信号CLRと
するORゲートで構成したもので、基本的な動作及び効
果は第1の実施例と同様である。In this embodiment, the write detection circuit 2oA is constituted by an OR gate that ORs the outputs of the nonvolatile memory elements 2 of all the bit-by-bit data storage circuits IJ (1.2 in this embodiment) and generates a clear signal CLR. The basic operation and effects are the same as in the first embodiment.
以上説明したように本発明は、ビット別データ記憶回路
の不揮発性記憶素子に書込み状態のものがあるか否かを
検出し、書込み状態のものがあるときクリア信号を発生
してラッチ回路をクリアし、不揮発性記憶素子の出方と
ラッチ回路の出方との論理和をとってトリミング回路へ
供給する構成とすることにより、各ビット別データ記憶
回路の不揮発性記憶素子の出力とラッチ回路の出方との
切換がORゲート1個で済むので、トリミングデータの
ビット数が増加しても回路規模が増大するのを抑えるこ
とができ、LSIの小型化が容易になるという効果があ
る。この効果はトリミングデータのビット数が増大する
と共に大きくなる。As explained above, the present invention detects whether or not there is a nonvolatile memory element in a bit-by-bit data storage circuit in a write state, and when there is a nonvolatile memory element in a write state, a clear signal is generated to clear the latch circuit. By taking the logical sum of the output of the non-volatile memory element and the output of the latch circuit and supplying it to the trimming circuit, the output of the non-volatile memory element of each bit-based data storage circuit and the output of the latch circuit are Since only one OR gate is required for switching between output and output, it is possible to suppress an increase in circuit scale even if the number of bits of trimming data increases, and this has the effect of facilitating miniaturization of LSI. This effect increases as the number of bits of trimming data increases.
また従来必要とした選択信号の発生回路が不要になると
いう効果もある。Another advantage is that the selection signal generation circuit that was conventionally required is no longer necessary.
第1図及び第2図はそれぞれ本発明の第1及び第2の実
施例を示す回路図、第3図及び第4図はそれぞれ従来の
トリミングデータ記憶回路の一例を示叩路図及びこの例
の切換え回路の具体例を示す回路図である。
1.1x・・・ラッチ回路、2・・・不揮発性記憶素子
、3・・・ORゲート、4・・・切換回路、11〜IN
、IJx・・・ビット別データー記憶回路、20゜\
20^・・・書込み検出回路、Gl〜G3・・・NAN
Dゲート、IVI・・・インバータ。1 and 2 are circuit diagrams showing first and second embodiments of the present invention, respectively, and FIGS. 3 and 4 are circuit diagrams showing an example of a conventional trimming data storage circuit, respectively, and this example. FIG. 2 is a circuit diagram showing a specific example of a switching circuit. 1.1x...Latch circuit, 2...Nonvolatile memory element, 3...OR gate, 4...Switching circuit, 11~IN
, IJx...Bit-specific data storage circuit, 20゜\20^...Write detection circuit, Gl~G3...NAN
D gate, IVI...inverter.
Claims (1)
けられ、ラッチ信号により入力された前記トリミングデ
ータの対応するビットをラッチして出力しクリア、信号
により出力を非能動レベルにするラッチ回路、書込み信
号が印加されると対応する前記ラッチ回路の出力データ
を記憶して出力し書込み状態となり非書込み状態では出
力が非能動レベルである電気的に書込み可能な不揮発性
記憶素子、及び対応する前記ラッチ回路の出力と対応す
る前記不揮発性記憶素子の出力との論理和をとる論理和
回路を備えたビット別データ記憶回路と、これらビット
別データ記憶回路の不揮発性記憶素子に書込み状態のも
のがあるか否かを検出し書込み状態のものがあるとき前
記クリア信号を出力する書込み検出回路とを有すること
を特徴とするトリミングデータ記憶回路。 2、書込み検出回路が、書込み信号が印加されると能動
レベルのデータを記憶してクリア信号を出力し書込み状
態となり非書込み状態では出力が非能動レベルである電
気的に書込み可能な不揮発性記憶素子で構成され請求項
1記載のトリミングデータ記憶回路。 3、書込み検出回路が、全ビット別データ記憶回路の不
揮発性記憶素子の出力の論理和をとりクリア信号とする
論理和回路で構成された請求項1記載のトリミングデー
タ記憶回路。[Claims] 1. Provided corresponding to each bit of the trimming data, latches and outputs and clears the corresponding bit of the trimming data inputted by a latch signal, and sets the output to an inactive level by the signal. an electrically writable nonvolatile memory element that stores and outputs the output data of the corresponding latch circuit when a write signal is applied, becomes in a write state, and has an output at an inactive level in a non-write state; and a bit-by-bit data storage circuit including an OR circuit that takes the logical sum of the output of the corresponding latch circuit and the corresponding output of the non-volatile storage element, and writing to the non-volatile storage element of the bit-based data storage circuit. 1. A trimming data storage circuit comprising: a write detection circuit which detects whether or not there is a data in a write state and outputs the clear signal when there is a data in a write state. 2. When a write signal is applied, the write detection circuit stores data at an active level and outputs a clear signal to become a write state. In a non-write state, the output is an inactive level. Electrically writable nonvolatile memory. 2. The trimming data storage circuit according to claim 1, wherein the trimming data storage circuit comprises an element. 3. The trimming data storage circuit according to claim 1, wherein the write detection circuit is constituted by an OR circuit which takes the logical sum of the outputs of the nonvolatile storage elements of all the bit-based data storage circuits and generates a clear signal.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29157290A JPH04164348A (en) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | Trimming data storage circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29157290A JPH04164348A (en) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | Trimming data storage circuit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04164348A true JPH04164348A (en) | 1992-06-10 |
Family
ID=17770661
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29157290A Pending JPH04164348A (en) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | Trimming data storage circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04164348A (en) |
-
1990
- 1990-10-29 JP JP29157290A patent/JPH04164348A/en active Pending
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