JPH04142409A - Apparatus for measuring diameter optically - Google Patents
Apparatus for measuring diameter opticallyInfo
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- JPH04142409A JPH04142409A JP40614390A JP40614390A JPH04142409A JP H04142409 A JPH04142409 A JP H04142409A JP 40614390 A JP40614390 A JP 40614390A JP 40614390 A JP40614390 A JP 40614390A JP H04142409 A JPH04142409 A JP H04142409A
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-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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- G01B11/10—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters of objects while moving
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Abstract
Description
[0001] [0001]
この発明は、細長い対象物の直径を測定するための装置
に関する。
[0002]The present invention relates to a device for measuring the diameter of elongated objects. [0002]
例えば、細長い対象物としては、ワイヤ或いはファイバ
などがある。
[0003]
上記測定装置は、高速且つ正確である必要があるととも
に、装置を通過する対象物の速度に影響を与えるもので
あってはならない。
[0004]
この種の測定装置では、対象物は、光線領域を走行する
。この光線領域は、光源及び第一レンズによって形成さ
れる。上記領域は、対象物が通過することで遮られると
ともに、第二レンズによって光電計測セルに導かれる。
上記遮られた上記領域の一部分は、対象物の直径と上記
遮られた長さとの積に正比例する。上記遮られた長さが
一定であるならば、上記面(領域の一部分)は、対象物
の直径に比例する。
[0005]
また、対象物と概ね平行なレーザビームが利用されて、
対象物に対してレーザビームが投影される方法がある。
この方法は、米国特許第3,851,180号及び西独
特許公開第2,026,803号等に開示されている。
[0006]For example, the elongated object may be a wire or fiber. [0003] The measurement device described above must be fast and accurate, and must not affect the speed of the object passing through the device. [0004] In this type of measuring device, the object travels in a light beam region. This beam field is formed by the light source and the first lens. The area is blocked by the object passing through it and guided to the photoelectric measurement cell by the second lens. The portion of the area occluded is directly proportional to the product of the object diameter and the occluded length. If the occluded length is constant, the surface (part of the area) is proportional to the diameter of the object. [0005] Also, a laser beam that is approximately parallel to the object is used,
There is a method in which a laser beam is projected onto an object. This method is disclosed in US Pat. No. 3,851,180 and German Patent Publication No. 2,026,803, among others. [0006]
上記光電変換プロセスによれば、大きな問題が呈される
。上記計測によって得られた量(直径)は、周囲の温度
に支配される。従って、例えば、正の温度特性(pos
itive temperature coeffic
ient= P T C)を有する抵抗を介して給電さ
れる光源等、温度を補償するための手法が利用される。
しかしながら、安定且つ正確な計測量が得られない。
[0007]
上記光電変換プロセスによる第二の問題点は、上記対象
物の状態によって上記光線ビームの強度が一定にならな
い(ことである)。対象物が正規のコースから逸脱した
場合、例えば、振動によって変位した場合には、直径の
変化がないにもかかわらず、異なる直径として計測され
る。
[0008]
上記光電変換プロセスによる第三の問題点は、はこりっ
ぽい環境下では、計測が非常に困難である(ことである
)。現実として、はこり(ごみ)がある場合には、光線
ビームの強度が減少しないとは言いきれない。
[0009]
一方、上記レーザビームが利用されている第二の方法で
は、上記第一及び第二の問題点は解決される。しかしな
がら、はこり (ごみ)の多い環境下では、直径の計測
が困難になる(即ち上記第三の問題点)。この問題点を
解決するために利用される装置は、非常に高価である。
[0010]The photoelectric conversion process described above presents a major problem. The quantity (diameter) obtained by the above measurement is governed by the ambient temperature. Therefore, for example, a positive temperature characteristic (pos
itive temperature coeffic
Techniques are utilized to compensate for temperature, such as a light source powered through a resistor with ient=PTC). However, stable and accurate measured quantities cannot be obtained. [0007] A second problem with the photoelectric conversion process is that the intensity of the light beam does not become constant depending on the state of the object. If the object deviates from its normal course, for example if it is displaced by vibration, it will be measured as a different diameter even though there is no change in diameter. [0008] The third problem with the above photoelectric conversion process is that measurement is extremely difficult in a lumpy environment. In reality, it cannot be said that the intensity of the light beam will not decrease if there is debris. [0009] On the other hand, in the second method in which the laser beam is used, the first and second problems are solved. However, in an environment with a lot of debris (dust), it becomes difficult to measure the diameter (ie, the third problem above). The equipment utilized to solve this problem is very expensive. [0010]
この発明は、上記問題点を正すものである。
[0011]
この発明によれば、細長い対象物の直径を測定するため
の装置が提供される。
上記装置は、光源、第一レンズ、この第一レンズに近接
して配置される第一の絞り、第二の絞り、この第二の絞
りに近接して配置される第二レンズ、及び、計測部を備
えている。上記第一レンズと上記第一の絞りとを覆う第
一のチューブ、及び、上記第二レンズと上記第二の絞り
とを覆う第二のチューブが、それぞれ、配置されている
。また、加圧されている空気を供給する手段が上記第一
及び第二のチューブに接続されている。
[0012]
この発明の実施例によれば、上記(空気を供給する)手
段は、単パイプまたは複数のパイプによって構成される
。それぞれのチューブは、少なくとも2つのパイプ(一
方は、それ以外よりも細い)からなるパイプに接続され
ている。細いパイプの開口部は、上記レンズと上記絞り
との間に位置されている。太いパイプの開口部は、上記
レンズから上記レンズと上記絞りとの距離よりも離れて
位置されている。
[0013]
この発明の別の実施例によれば、上記装置は、上記対象
物が上記光線(の領域)から消失した場合に、上記対象
物と上記発生された光線ビームとの位置関係を変える手
段、上記対象物が振動などによって上記光線(の領域)
から消失した場合に、計測された量の変動を補償するた
めの測定量調整手段、及び、上記対象物を光線ビーム(
の領域)に復帰させる手段を備えている。
[00143
上記対象物は、例えば、2つの小型ピストンの間が僅か
に変動することで、或いは、小型のガイドホイール手段
が配置されることで、光線ビームから消失した場合であ
っても、別の場所に位置される。上記対象物が非可撓性
である場合には上記(2つの小型ピストンの)間で変化
させることは困難である。この場合、光路即ち光源−レ
ンズー計測絞す−レンズーセルが移動されることから、
上記光線ビームが上記対象物から外れることはなくなる
。
[0015]
上記対象物が上記光線ビームから消失した場合には、上
記光線ビームが遮られることがなくなるとともに、計測
された量はO(ゼロ)にならなければならない。しかし
ながら、外的影響、例えば、温度(の変動)或いはほこ
り等によって上記のように(計測された量がOになる)
なることはない。上記装置における計測量をOになるよ
う調整する場合、異なる手法が利用される。
[0016]
第一には、例えば、電気的な方法であって、上記計測量
がO(ゼロ)になるまで光源の強度を変化させる。他の
方法は、調整のために記憶されている実際に測定された
直径の測定値の補償量がOになるまで、コンピュータプ
ログラムによって補正する。
[0017]
上記対象物が上記光線ビームから外れてしまった場合に
は、直径が既に分かっている基準対象物が代わりに光線
ビーム(の領域に)に導入される。この場合、O平衡の
状態は得られないが、計測された量を上記基準量に一致
させることができる。
[0018]
上記調整は、非常に簡単(数秒で済む)であって、上記
対象物は、再び、上記光線ビーム(の領域に)に導入さ
れる。
[0019]
上記O(ゼロ)調整は、直径が計測される周囲の状況に
依存して、周期的に発生される。
[0020]
極限環境、例えば、亜鉛槽の出口のような環境で鉄線の
直径を計測する場合には、(計測)ミスが生じやすいこ
とから、上記周期的な調整は高頻度になる。
[0021]
また、対象物の位置とは別に、光線ビームの強度の差を
補償する計測絞りとしての実施例がある。図示されてい
る例では、対象物の種類によって計測結果に影響が生じ
ることのないよう構成されている。
[0022]This invention corrects the above problems. [0011] According to the invention, an apparatus for measuring the diameter of an elongated object is provided. The above device includes a light source, a first lens, a first aperture disposed close to the first lens, a second aperture, a second lens disposed proximate to the second aperture, and a measurement device. It has a department. A first tube that covers the first lens and the first aperture, and a second tube that covers the second lens and the second aperture are respectively arranged. Means for supplying pressurized air is also connected to the first and second tubes. [0012] According to an embodiment of the invention, said means (for supplying air) are constituted by a pipe or a plurality of pipes. Each tube is connected to a pipe consisting of at least two pipes, one narrower than the other. A narrow pipe opening is located between the lens and the diaphragm. The opening of the thick pipe is located further away from the lens than the distance between the lens and the diaphragm. [0013] According to another embodiment of the invention, the apparatus changes the positional relationship between the object and the generated light beam when the object disappears from (the area of) the light beam. Means, the above object is caused by vibration etc. (area of) the above light beam
a measured quantity adjustment means for compensating for fluctuations in the measured quantity when the object disappears from the light beam (
It is equipped with a means for returning to the area of [00143] Even if the object disappears from the light beam, for example by a slight movement between two small pistons or by the arrangement of small guide wheel means, another located in the place. It is difficult to change between the two small pistons if the object is inflexible. In this case, since the optical path, that is, light source - lens - measurement stop - lens - cell is moved,
The light beam no longer deviates from the object. [0015] If the object disappears from the light beam, the light beam is no longer obstructed and the measured quantity must be O (zero). However, due to external influences, such as (fluctuations in) temperature or dust, as mentioned above (the measured amount becomes O)
It won't happen. When adjusting the measured quantity in the above device to O, different techniques are used. [0016] The first method is, for example, an electrical method, in which the intensity of the light source is changed until the measured quantity becomes O (zero). Another method is to correct by a computer program until the compensation amount of the actually measured diameter measurements stored for adjustment is O. [0017] If the object falls out of the light beam, a reference object whose diameter is already known is introduced into (in the region of) the light beam instead. In this case, a state of O equilibrium cannot be obtained, but the measured amount can be made to match the reference amount. [0018] The adjustment is very simple (takes only a few seconds) and the object is again introduced into (the area of) the light beam. [0019] The O (zero) adjustment is generated periodically depending on the surrounding conditions in which the diameter is measured. [0020] When measuring the diameter of the iron wire in an extreme environment, for example, an environment such as the outlet of a zinc tank, (measurement) errors are likely to occur, so the above-mentioned periodic adjustment becomes frequent. [0021] In addition, there is an embodiment as a measurement diaphragm that compensates for the difference in intensity of the light beam, independent of the position of the object. In the illustrated example, the configuration is such that the measurement results are not affected by the type of object. [0022]
以下図面をもとに、この発明を更に詳細に説明する。
[0023]
図1には、ワイヤ4の直径を測定するための装置2が示
されいる。装置2は、例えば、発光ダイオード(LED
)のような光源6、この光源6から放射された光線が透
過されるすりガラス8、細長い気密室10を含んでいる
。この細長い気密室10は、(光線の)領域断面におけ
るすべての領域において一定の強度を有する光線の領域
を生成するために可能なかぎり長く形成される。レンズ
12及び絞り1416によって形成された光線ビーム1
8は、上記ワイヤ4に対して直交する方向から照射され
る。絞り20及び計測絞り22を通過した上記ビーム1
8は、レンズ24を介して光電計測セル28へ集束され
る。チューブ30.32は、2つのレンズ12.24を
(覆うとともに)上記ワイヤ4の方向に(向かわせるよ
う)、それぞれ、保持している。このチューブ30.3
2は、パイプ34及び圧搾空気によって(提供される)
高圧下にさらされている。上記圧搾空気の大部分は、絞
り14と絞り16との間のパイプ36及び絞り20と絞
り22との間のパイプ38を介して排出される。上記圧
搾空気の残りの部分は、レンズ12と絞り14との間の
パイプ40及び絞り22とレンズ24との間のパイプ4
2を介して排出される。
[0024]
上述した装置2によれば、チューブ30.32における
太いパイプ36.38の開口部の周囲の壁面には、僅か
であるがほこりが残ることが確認されている。一方、細
いパイプ40.42の開口部の周囲の壁面では、完全に
除去されることが確認されている。このことから、レン
ズ12.24に対しては、可能なかぎりほこりが除去さ
れうよう細いパイプを用いて噴出させている。
[0025]
図2における(a)及び(b)には、上記ビーム18と
上記ワイヤ4との相対的な位置関係を変化させる装置が
概略的に示されている。図2(a)によれば、ワイヤ4
は、2つの小型ガイドホイール44.46に沿ってビー
ム18(の領域)を通過するよう真直ぐに走行する。ワ
イヤ4の周囲には、2つの小型エアピストン48゜50
が配置されている。上記(a)では、小型エアピストン
48.50は、加圧されていない。図2(b)では、小
型エアピストン48.50に所望の圧力が与えられた状
態が示されている。小型エアピストン48.50は、ワ
イヤ4が走行路(ビーム18の領域を通過する通常の状
態)を通過する必要がない場合には、ワイヤ4を上記走
行路から離脱させる。(ワイヤ4に対して)調整の必要
が生じた場合には、(a)に示されている状態に戻され
る。
[0026]
図3における(a)及び(b)によれば、絞り22が調
整されない場合及び絞り22が調整された場合が、それ
ぞれ、示されている。図3(a)及び図3(b)におけ
る同心円は、それぞれ、(ビーム18における)等光強
度(光線ビーム18の断面において、実質的に等しい光
強度を有する点を集合的にとらえ、それぞれの点を結ん
だ線)曲線である。上記光強度は、中心部が周縁部より
も僅かに高くなる。従って、円182の光強度は円18
4の光強度よりも高く、円184の光強度は円186の
光強度よりも高く、・・・・・・以下同様(数字の小さ
い円の光強度は数字の大きい円の光強度よりも高く)に
なる。図3(a)によれば、(I)の位置にあるワイヤ
4は、(II)の位置にあるワイヤ4よりも、高い光強
度(のビーム)にさらされる。上記(I)の位置では、
上記(II)の位置よりも増大された直径が計測される
。この場合、計測絞り22におけるエツジ222及び2
24が図3(b)のように調整されることで、ワイヤ4
の位置がどの位置にある場合であっても、同一の光強度
として受は止められることから、上記問題点が除去され
る。結果的に、計測絞り22が調整されることで、ワイ
ヤ4の位置が本来の位置から移動した場合であっても直
径が計測される。
[0027]
図4は、光源6の強度が変動した場合に、所望の条件で
計測された量を補償するための電気的手法の一例を示し
ている。
[0028]
光電変換計測装置28は、光線ビームを受光し、受光し
た光の強度に比例する電流iを発生する。この電流iは
、増幅器60及び抵抗62を介して電圧に変換される。
この電圧は、増幅器64を介してさらに増幅される。抵
抗66、68を介してO(ゼロ)電圧が設定され、抵抗
70を介して増幅定数が規定される。上記増幅された電
圧は、スイッチ72によって増幅器74及びアナログ出
カフ6へ導かれる。上記増幅された電圧の一部は、スク
リーン78へ読込まれる。
[0029]
通常の工程によって生産されたワイヤ4の直径は、スイ
ッチ72が閉じられ、スイッチ84が開放されて、計測
される。発振器86及びトランジスタ87によっである
特定の条件が与えられた場合、即ち、ワイヤ4が光線ビ
ームから逸脱した(図2における(b)の状態)場合に
は、スイッチ72が開放され、スイッチ84が閉じられ
る。この場合、通常の観点に立てば、増幅器74の出力
は、0(ゼロ)にならなければならない。しかしながら
、希に、周辺環境の変動が生じる場合がある。上記増幅
器74の出力が増幅器64の出力よりも小さくなった場
合には、抵抗81によって増幅定数が規定される増幅器
82に一15Vが出力される。この電圧は、ツェナダイ
オードによってOにされ、スイッチ90が閉じられて、
抵抗89に電流が供給される。正のパルスがオシレータ
93を介してカウンタ94に供給される。
[0030]
上記カウンタ94は、デジタル−アナログ変換器96に
接続され、上記光源6には、抵抗98を介して(現在よ
りも)大きな電流が供給される。上記正のパルスは、平
衡に達するまで供給される。上記増幅器64の出力がO
より大きくなった場合、上記増幅器82の出力が+15
Vになり、スイッチ92が閉じられて、シュミットトリ
ガ91が出力される。カウンタ94には、今度は、負の
パルスが平衡するまで(電流が)供給される。この場合
、光源6には、上記抵抗98を介して(現在よりも)小
さな電流が供給される。
[0031]
電気的手法(回路)は、さらに、2つの調整装置の間の
温度変化を補償するための、正の温度係数を有する抵抗
100を含んでいる。
[0032]
試験
以下に、この発明の装置における測定結果とレーザビー
ムが利用されている現状の測定装置における測定結果と
の比較例を示す。
[0033]
測定速度(@度)を1回/秒、この発明の装置による装
置の調整を2分毎に実施した。上記調整は、(1回当り
)数秒である。
[0034]
表
基準直径=0.300mm
この発明の装置 レーザビーム装置発散性(μ
m) 0.200〜0.300 0.300〜0
.400価値
100以上の結果、この発明の測定装置に
よれば、レーザビーム装置よりも8倍以上の精度が得ら
れた。上記測定結果は、概ね真円形のワイヤの直径(を
測定する場合)には、高精度になる。また、外径が非円
形の(ワイヤについて測定される)場合には、互いに異
なる角度で配置された2台の装置の間にワイヤが挿入さ
れてもよい。
[0035]The present invention will be explained in more detail below based on the drawings. [0023] In FIG. 1, a device 2 for measuring the diameter of a wire 4 is shown. The device 2 is, for example, a light emitting diode (LED).
), a frosted glass 8 through which light rays emitted from the light source 6 are transmitted, and an elongated airtight chamber 10. This elongated hermetic chamber 10 is formed as long as possible in order to produce a region of the light beam that has a constant intensity in all regions in the area cross-section (of the light beam). Light beam 1 formed by lens 12 and aperture 1416
8 is irradiated from a direction perpendicular to the wire 4 . The beam 1 that has passed through the aperture 20 and the measurement aperture 22
8 is focused through lens 24 onto photoelectric measurement cell 28 . The tube 30.32 holds (covers) and (orients) the two lenses 12.24 in the direction of the wire 4, respectively. This tube 30.3
2 (provided) by pipe 34 and compressed air
Exposed to high pressure. Most of the compressed air is discharged via a pipe 36 between the throttles 14 and 16 and a pipe 38 between the throttles 20 and 22. The remaining part of the compressed air is supplied to a pipe 40 between the lens 12 and the diaphragm 14 and a pipe 40 between the diaphragm 22 and the lens 24.
2. [0024] According to the device 2 described above, it has been confirmed that a small amount of dust remains on the wall surface around the opening of the thick pipe 36.38 in the tube 30.32. On the other hand, it has been confirmed that the walls around the openings of the thin pipes 40 and 42 are completely removed. For this reason, a thin pipe is used to blow out the dust to the lens 12.24 so that as much dust as possible can be removed. [0025] In FIGS. 2A and 2B, a device for changing the relative positional relationship between the beam 18 and the wire 4 is schematically shown. According to FIG. 2(a), the wire 4
runs straight through (the area of) the beam 18 along two small guide wheels 44,46. Around the wire 4, there are two small air pistons 48°50
is located. In (a) above, the small air piston 48.50 is not pressurized. In FIG. 2(b), the small air piston 48,50 is shown with the desired pressure applied. A small air piston 48,50 causes the wire 4 to leave the travel path when it is not necessary to pass through said travel path (the normal situation in which it passes through the area of the beam 18). If the need for adjustment arises (for wire 4), it is returned to the state shown in (a). [0026] FIGS. 3A and 3B show a case where the aperture 22 is not adjusted and a case where the aperture 22 is adjusted, respectively. The concentric circles in FIGS. 3(a) and 3(b) respectively collectively capture points having substantially equal light intensities (in the cross section of the light beam 18) of equal light intensity (in the beam 18); A line connecting points) is a curve. The light intensity is slightly higher at the center than at the periphery. Therefore, the light intensity of circle 182 is
4, the light intensity of circle 184 is higher than the light intensity of circle 186, and so on (the light intensity of circles with small numbers is higher than the light intensity of circles with large numbers). )become. According to FIG. 3(a), the wire 4 in position (I) is exposed to a higher light intensity (beam) than the wire 4 in position (II). In position (I) above,
An increased diameter is measured from position (II) above. In this case, the edges 222 and 2 in the measurement diaphragm 22
24 is adjusted as shown in FIG. 3(b), the wire 4
Since the same light intensity is received regardless of the position of the light, the above-mentioned problem is eliminated. As a result, by adjusting the measurement aperture 22, the diameter can be measured even if the position of the wire 4 moves from its original position. [0027] FIG. 4 shows an example of an electrical method for compensating the amount measured under desired conditions when the intensity of the light source 6 varies. [0028] The photoelectric conversion measurement device 28 receives the light beam and generates a current i that is proportional to the intensity of the received light. This current i is converted into a voltage via an amplifier 60 and a resistor 62. This voltage is further amplified via amplifier 64. An O (zero) voltage is set via resistors 66 and 68, and an amplification constant is defined via resistor 70. The amplified voltage is directed by switch 72 to amplifier 74 and analog output cuff 6 . A portion of the amplified voltage is read into screen 78. [0029] The diameter of the wire 4 produced by the normal process is measured with switch 72 closed and switch 84 opened. If a certain condition is given by the oscillator 86 and the transistor 87, i.e. when the wire 4 deviates from the light beam (state (b) in FIG. 2), the switch 72 is opened and the switch 84 is opened. is closed. In this case, from a normal point of view, the output of the amplifier 74 should be 0 (zero). However, in rare cases, changes in the surrounding environment may occur. When the output of the amplifier 74 becomes smaller than the output of the amplifier 64, -15V is output to the amplifier 82 whose amplification constant is defined by the resistor 81. This voltage is brought to O by the Zener diode, switch 90 is closed,
Current is supplied to resistor 89. A positive pulse is supplied to counter 94 via oscillator 93. [0030] The counter 94 is connected to a digital-to-analog converter 96, and the light source 6 is supplied with a larger current (than presently) via a resistor 98. The positive pulses are applied until equilibrium is reached. The output of the amplifier 64 is O
If the output of the amplifier 82 becomes +15
V, the switch 92 is closed, and the Schmitt trigger 91 is output. Counter 94 is now supplied with current until the negative pulses balance out. In this case, a smaller current (than present) is supplied to the light source 6 via the resistor 98. [0031] The electrical scheme (circuit) further includes a resistor 100 with a positive temperature coefficient to compensate for temperature changes between the two regulating devices. [0032] Test The following is a comparison example between the measurement results obtained by the apparatus of the present invention and the measurement results obtained by the current measurement apparatus using a laser beam. [0033] The measurement rate (@degrees) was 1 time/second, and the adjustment of the device by the device of the present invention was performed every 2 minutes. The above adjustment takes several seconds (per time). [0034] Table standard diameter = 0.300 mm Device of this invention Laser beam device divergence (μ
m) 0.200~0.300 0.300~0
.. 400 value
As a result of more than 100, the measuring device of the present invention achieved an accuracy more than 8 times that of the laser beam device. The above measurement results are highly accurate when measuring the diameter of a wire that is approximately perfectly circular. Also, if the outer diameter is non-circular (measured on the wire), the wire may be inserted between two devices placed at different angles to each other. [0035]
この発明によれば、比較的安価な光電変換プロセス及び
測定された結果を補償するためのプロセスが利用されて
いる。従って、所望の時期毎に周囲環境の変動が補償さ
れる。According to the invention, a relatively inexpensive photoelectric conversion process and a process for compensating the measured results are utilized. Therefore, changes in the surrounding environment are compensated for at each desired time.
【図1】この発明の装置を示す長手方向断面図。FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing the device of the invention.
【図2】光線ビームと対象物の相対位置とを変化させる
装置を示す概略図。FIG. 2 is a schematic diagram showing an apparatus for varying the relative position of a light beam and an object;
【図3】計測絞りを示す概略図。FIG. 3 is a schematic diagram showing a measurement aperture.
【図4】光源の強度を調整する装置を示す概略図。FIG. 4 is a schematic diagram showing a device for adjusting the intensity of a light source.
2・・・直径計測装置、4・・・ワイヤ、6・・・光源
、8・・・すりガラス、10・・・気密室、12・・・
第一レンズ、14.16・・・絞り、18・・・光線ビ
ーム、20・・・絞り、22・・・計測絞り、24・・
・第二レンズ、28・・・光電計測セル、30.32・
・・チューブ、34・・・パイプ、36、38.40.
42・・・(接続)パイプ。2... Diameter measuring device, 4... Wire, 6... Light source, 8... Ground glass, 10... Airtight chamber, 12...
First lens, 14.16...Aperture, 18...Light beam, 20...Aperture, 22...Measurement aperture, 24...
・Second lens, 28... Photoelectric measurement cell, 30.32.
...Tube, 34...Pipe, 36, 38.40.
42... (connection) pipe.
【図1】 図面 ↑[Figure 1] drawing ↑
【図2】[Figure 2]
【図3】 (a) (b)[Figure 3] (a) (b)
【図4】[Figure 4]
Claims (4)
に配置される第一の絞りと、上記第一レンズとこの第一
の絞りとを覆うように配置される第一のチューブと、第
二の絞りと、この絞りの後段に配置される第二レンズと
、上記第二の絞りとこの第二レンズとを覆うように配置
される第二のチューブと、計測部と、上記第一のチュー
ブ及び上記第二のチューブに対して圧力を提供するため
の手段と、を備える細長い対象物の直径を測定する装置
。1. A light source, a first lens, a first aperture disposed after the lens, and a first tube disposed so as to cover the first lens and the first aperture. , a second diaphragm, a second lens disposed after the diaphragm, a second tube disposed so as to cover the second diaphragm and the second lens, a measuring section, and the second lens. an apparatus for measuring the diameter of an elongated object, comprising: a tube; and means for providing pressure to the second tube.
手段と、複数のパイプ部材とを備え、上記第一及び第二
のチューブは、それぞれ、上記パイプ手段と上記複数の
パイプ部材であって、一方は他方よりも細く形成される
とともに、この細いパイプ部材の開口部は、上記レンズ
と上記絞りとの間に配置され、他方の太いパイプ部材の
開口部は、上記レンズから上記のレンズと上記絞りとの
距離よりも離れた位置に配置されている、少なくとも2
つのパイプ部材によって接続されている請求項1記載の
装置。2. The means for supplying pressure comprises a pipe means and a plurality of pipe members, and the first and second tubes are respectively comprised of the pipe means and the plurality of pipe members. The opening of the thin pipe member is arranged between the lens and the diaphragm, and the opening of the other thick pipe member extends from the lens to the lens. and the aperture, the at least two
2. The device of claim 1, wherein the device is connected by two pipe members.
場合に、上記対象物と上記発生された光線ビームとの位
置関係を変える手段と、上記対象物が振動などによって
上記光線ビームから消失した場合に、計測された量の変
動を補償するための測定量調整手段と、上記対象物を光
線ビームに復帰させる手段と、を備える請求項1または
2記載の装置。3. Means for changing the positional relationship between the object and the generated light beam when the object disappears from the light beam, and when the object disappears from the light beam due to vibration or the like. 3. The device as claimed in claim 1, further comprising means for adjusting the measured quantity for compensating for variations in the measured quantity and means for returning the object to the light beam.
っても、計測された出力を上記対象物の位置と独立に補
償できる計測絞りを備える請求項1、2、3のいずれか
に記載の装置4. A measuring diaphragm according to claim 1, further comprising a measuring diaphragm capable of compensating the measured output independently of the position of the object even when the intensity of the light beam varies. equipment
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|---|---|---|---|
| BE9000019A BE1003275A5 (en) | 1990-01-08 | 1990-01-08 | Optical diameter measurement. |
| BE9000019 | 1990-01-08 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04142409A true JPH04142409A (en) | 1992-05-15 |
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Family Applications (1)
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| US4659937A (en) * | 1985-11-12 | 1987-04-21 | Canadian Patents And Development Limited | Optical device for measuring the diameter and detecting surface defects of moving wire |
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- 1990-01-08 BE BE9000019A patent/BE1003275A5/en not_active IP Right Cessation
- 1990-12-25 JP JP40614390A patent/JPH04142409A/en active Pending
-
1991
- 1991-01-07 BR BR9100041A patent/BR9100041A/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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