JPH04127411A - 電極素子用キャパシタタンタル表面 - Google Patents
電極素子用キャパシタタンタル表面Info
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- JPH04127411A JPH04127411A JP31654988A JP31654988A JPH04127411A JP H04127411 A JPH04127411 A JP H04127411A JP 31654988 A JP31654988 A JP 31654988A JP 31654988 A JP31654988 A JP 31654988A JP H04127411 A JPH04127411 A JP H04127411A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G9/00—Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
- H01G9/004—Details
- H01G9/04—Electrodes or formation of dielectric layers thereon
- H01G9/042—Electrodes or formation of dielectric layers thereon characterised by the material
- H01G9/0425—Electrodes or formation of dielectric layers thereon characterised by the material specially adapted for cathode
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の分野)
本発明はキャパシタ、より特定的にはタンタル製の表面
をもワた電解キャパシタの対抗電極に関わる。
をもワた電解キャパシタの対抗電極に関わる。
(背景の技術)
ウェット・タイプのタンタル・キャパシタ内の対抗電極
は、もしアノード素子のキャバシタンスが完成品として
のキャパシタのキャパシタンスにおいて決定的な要因で
あるとすれば、AC信号にたいして非常に低いインピー
ダンスを表示するものでなければならない。これは一般
に、全てのタンタル・タイプの場合のように高い固有キ
ャパシタンスをもつ多孔性のタンタルの半融体を使用す
ることによって、または銀ケース・タイプの場合のよう
に白金基金属部材の海綿状の層を析出させることによっ
て成し遂げられる。
は、もしアノード素子のキャバシタンスが完成品として
のキャパシタのキャパシタンスにおいて決定的な要因で
あるとすれば、AC信号にたいして非常に低いインピー
ダンスを表示するものでなければならない。これは一般
に、全てのタンタル・タイプの場合のように高い固有キ
ャパシタンスをもつ多孔性のタンタルの半融体を使用す
ることによって、または銀ケース・タイプの場合のよう
に白金基金属部材の海綿状の層を析出させることによっ
て成し遂げられる。
ケースの内部表面がタンタルでできているキャパシタの
ケースの壁に効果的な表面を作る機能は、全体がタンタ
ル製のケースを用いればある程度経済的に望ましい。こ
の機能は、積層された構造の性質によって多孔性のカソ
ード本体をケース中に焼結させるか溶接することを不可
能にする積層されたケース部品にとっては必要である。
ケースの壁に効果的な表面を作る機能は、全体がタンタ
ル製のケースを用いればある程度経済的に望ましい。こ
の機能は、積層された構造の性質によって多孔性のカソ
ード本体をケース中に焼結させるか溶接することを不可
能にする積層されたケース部品にとっては必要である。
薄い付着性の誘電性の酸化物を形成するタンタルの機能
はタンタル・キャパシタにとっては基本であるがしかし
、対抗電極にタンタル表面を用いるに際して重要な問題
点でもある。実用的な見地からすれば、タンタルの表面
酸化物を離しておくことは困難であり、酸化された表面
の固有キャパシタンスは、平滑なものであれエツチング
したものであれ、充分な対抗電極を作成するには余りに
低すぎる。
はタンタル・キャパシタにとっては基本であるがしかし
、対抗電極にタンタル表面を用いるに際して重要な問題
点でもある。実用的な見地からすれば、タンタルの表面
酸化物を離しておくことは困難であり、酸化された表面
の固有キャパシタンスは、平滑なものであれエツチング
したものであれ、充分な対抗電極を作成するには余りに
低すぎる。
そのうえ、たとえ空気酸化物が最も薄い状態で存在して
も、銀のケースの部品中において従来なされてきたよう
な貴金属の電解性および無電解性の析出物の使用は不可
能となる。この理由は、空気酸化物は伝導性がなく、ま
た析出は酸化物中の小さなブレークにおいてのみ発生す
るからである。
も、銀のケースの部品中において従来なされてきたよう
な貴金属の電解性および無電解性の析出物の使用は不可
能となる。この理由は、空気酸化物は伝導性がなく、ま
た析出は酸化物中の小さなブレークにおいてのみ発生す
るからである。
この問題にたいする1つの解決策は、酸化物を形成する
その機能を破壊するタンタル表面の処理方法を見つける
ことであった。考えられるいかなる方法も、ケース構造
中に存在する全ての物質と物理的および化学的に適合す
るものでなければならない。
その機能を破壊するタンタル表面の処理方法を見つける
ことであった。考えられるいかなる方法も、ケース構造
中に存在する全ての物質と物理的および化学的に適合す
るものでなければならない。
1985年1月11日にRogersに対して許可され
た米国特許4,523,255号は、タンタル表面の薄
い層を炭化タンタルに変換することによって酸化物形成
機能を破壊することを教示している。この層はそれ自身
ではとくに大きな効果的なキャパシタンスをもつもので
はなかったが、より重要なこととして、その非金属的な
性質によって、必要とされる第2の処理に適用可能な選
択肢が制限されたことである。Rogersはさらに、
黒鉛のコロイド分散から炭素層の析出物を用いることを
教示した。しかし、黒鉛の層は炭化タンタル表面に良好
に付着せず、多くの格付けにおいて“減極”剤をキャパ
シタの電解質に付加することに依存していた。
た米国特許4,523,255号は、タンタル表面の薄
い層を炭化タンタルに変換することによって酸化物形成
機能を破壊することを教示している。この層はそれ自身
ではとくに大きな効果的なキャパシタンスをもつもので
はなかったが、より重要なこととして、その非金属的な
性質によって、必要とされる第2の処理に適用可能な選
択肢が制限されたことである。Rogersはさらに、
黒鉛のコロイド分散から炭素層の析出物を用いることを
教示した。しかし、黒鉛の層は炭化タンタル表面に良好
に付着せず、多くの格付けにおいて“減極”剤をキャパ
シタの電解質に付加することに依存していた。
Booeに許可された米国特許3,628,103号は
、実質的に全ての金属上において、ウェット電解キャパ
シタのカソード上に白金の内層を形成することを開示し
ている。特にタンタルは指定されていない。
、実質的に全ての金属上において、ウェット電解キャパ
シタのカソード上に白金の内層を形成することを開示し
ている。特にタンタルは指定されていない。
(発明の要約)
固有の高い効果的なキャパシタンス表面がタンタル上に
形成される対抗電極ならびにその製法を説明する。タン
タル表面の酸化物を形成する機能はタンタル合金の薄い
層および白金属の金属の薄い層を形成することによって
破壊される。合金層を生成するに使用される技法は次に
示すいずれかでよい=1)白金属の金属を、事前に存在
する酸化物を除去するためにタンタル表面を適切に前処
理した後で無電解めっきすることによって析出させる:
2)白金属金属を、スパッタリング処理によって薄膜中
に析出させる;または3)白金属金属をタンタルにたい
してクラッド接着するかまたはロール接着する。合金は
次に適切な熱処理によって形成される。スパッタリング
技法においては、タンタル表面上の酸化物がスパッタリ
ングのステップ以前にグロー放電によって除去されるの
であれば、合金は直接に形成され、従って次の熱処理の
ステップは不必要となる。同様に、ロール接着がホット
・ロール接着技法である場合には、次の段階の熱処理は
実行しなくともよい。−度合金層がそのしかるべき位置
に置かれると、処理されたケースはすなわちそのように
処理された材料から引き出されたケースは、次に従来の
電気化学方法によって対抗電極表面上に析出された白金
属の海綿状の層を有することが可能である。
形成される対抗電極ならびにその製法を説明する。タン
タル表面の酸化物を形成する機能はタンタル合金の薄い
層および白金属の金属の薄い層を形成することによって
破壊される。合金層を生成するに使用される技法は次に
示すいずれかでよい=1)白金属の金属を、事前に存在
する酸化物を除去するためにタンタル表面を適切に前処
理した後で無電解めっきすることによって析出させる:
2)白金属金属を、スパッタリング処理によって薄膜中
に析出させる;または3)白金属金属をタンタルにたい
してクラッド接着するかまたはロール接着する。合金は
次に適切な熱処理によって形成される。スパッタリング
技法においては、タンタル表面上の酸化物がスパッタリ
ングのステップ以前にグロー放電によって除去されるの
であれば、合金は直接に形成され、従って次の熱処理の
ステップは不必要となる。同様に、ロール接着がホット
・ロール接着技法である場合には、次の段階の熱処理は
実行しなくともよい。−度合金層がそのしかるべき位置
に置かれると、処理されたケースはすなわちそのように
処理された材料から引き出されたケースは、次に従来の
電気化学方法によって対抗電極表面上に析出された白金
属の海綿状の層を有することが可能である。
(実施例)
第1図を参照すると、タンタルの“ウェット・スラグキ
ャパシタ中の対抗電極として使用されるタンタル表面を
生成するための方法10が示されている。方法IOは、
IOa 、 lOb 、 10c 、 10dと命名さ
れた4つの経路によって進行し得る。第2A図から2D
図は、本発明の方法IOに従って処理されつつあるタン
タル20の一部の表面を示す、方法10は、そこからケ
ースが引き出される原料に対して用いることができる。
ャパシタ中の対抗電極として使用されるタンタル表面を
生成するための方法10が示されている。方法IOは、
IOa 、 lOb 、 10c 、 10dと命名さ
れた4つの経路によって進行し得る。第2A図から2D
図は、本発明の方法IOに従って処理されつつあるタン
タル20の一部の表面を示す、方法10は、そこからケ
ースが引き出される原料に対して用いることができる。
適切なフィクスチャリング(fixturing)およ
び技法によって、方法1oは、すでに引き出されている
ケースの内部表面または他のいずれかのタンタル表面に
たいして適用することもできる。
び技法によって、方法1oは、すでに引き出されている
ケースの内部表面または他のいずれかのタンタル表面に
たいして適用することもできる。
ブロックllaにおいては、処理されるべきタンタル2
0の表面は、フッ化水素酸を少量含んだ溶液によって処
理され、タンタル20の表面上に形成された既存の空気
酸化物を除去したり破壊したりする。タンタル20の表
面はさらに、第1ずず塩または有機還元剤のような活性
剤によって処理される。活性剤はタンタル20の表面と
反応し、それに湿気をあたえ清浄にし、さらに、タンタ
ル20の表面の酸化機能を破壊するに必要な素材の付着
のためのシーディング(seeding)を提供する。
0の表面は、フッ化水素酸を少量含んだ溶液によって処
理され、タンタル20の表面上に形成された既存の空気
酸化物を除去したり破壊したりする。タンタル20の表
面はさらに、第1ずず塩または有機還元剤のような活性
剤によって処理される。活性剤はタンタル20の表面と
反応し、それに湿気をあたえ清浄にし、さらに、タンタ
ル20の表面の酸化機能を破壊するに必要な素材の付着
のためのシーディング(seeding)を提供する。
ブロック13aにおいては、白金基金属の部材の小さな
アイランド(島)上の構造物22の非連続層が、第2B
図に示すように従来の無電解性めっき溶液技法を用いて
タンタル20の表面上に析出される。白金基部材の連続
層ではなくて、不連続のセクションすなわちアイランド
22が形成されるが、この理由は、活性下の後でさえも
白金基部材を無電解めっき法を用いてタンタル表面上に
析出させるのがきわめて困難であるからである。アイラ
ンド22によって表面のたった20%をカバーするだけ
で充分である。
アイランド(島)上の構造物22の非連続層が、第2B
図に示すように従来の無電解性めっき溶液技法を用いて
タンタル20の表面上に析出される。白金基部材の連続
層ではなくて、不連続のセクションすなわちアイランド
22が形成されるが、この理由は、活性下の後でさえも
白金基部材を無電解めっき法を用いてタンタル表面上に
析出させるのがきわめて困難であるからである。アイラ
ンド22によって表面のたった20%をカバーするだけ
で充分である。
本発明によるキャパシタの対抗電極用に適切であると信
じられている白金基の部材には、Ru、 Rh。
じられている白金基の部材には、Ru、 Rh。
Pd、 Os、 Ir、 Ptなどが含まれる。さらに
、白金基の部材であるパラジウム(Pd)か好まれるが
この理由は、パラジウムを使用すると固有キャパシタン
スが最高になりそれによってもっとも効率的なキャパシ
タンスが提供されるからである。
、白金基の部材であるパラジウム(Pd)か好まれるが
この理由は、パラジウムを使用すると固有キャパシタン
スが最高になりそれによってもっとも効率的なキャパシ
タンスが提供されるからである。
析出物22はブロック15において熱処理によってタン
タル20の表面と合金化され、それによって白金基の部
材とタンタルが分子レベルにおいて混合される。ブロッ
ク15の合金化ステップによって、第2C図に示すよう
に合金層24が形成される。ブロック15の熱処理は、
タンタル20が酸化されるのを防止するために真空中ま
たは不活性雰囲気中において実行される。この合金化を
実行するに必要な温度は、白金基のどの部材が用いられ
るかに依る。白金基の個々の部材の温度の下限は、析出
された白金基の部材の付着を保証するために充分な合金
性を提供する温度である。これは、既に説明した誘電酸
化物を形成するというタンタル表面がもつ機能を破壊す
るために必要である。
タル20の表面と合金化され、それによって白金基の部
材とタンタルが分子レベルにおいて混合される。ブロッ
ク15の合金化ステップによって、第2C図に示すよう
に合金層24が形成される。ブロック15の熱処理は、
タンタル20が酸化されるのを防止するために真空中ま
たは不活性雰囲気中において実行される。この合金化を
実行するに必要な温度は、白金基のどの部材が用いられ
るかに依る。白金基の個々の部材の温度の下限は、析出
された白金基の部材の付着を保証するために充分な合金
性を提供する温度である。これは、既に説明した誘電酸
化物を形成するというタンタル表面がもつ機能を破壊す
るために必要である。
個々のメンバーの上限温度は下限温度を決定するより、
より困難である。バルク合金は好ましくなく、さらに温
度はバルク合金を発生させる水準にまで上昇させるべき
ではないと信じられている。そのうえ、蒸着を通じて素
材が感知できるほどに失われることがないようなレベル
以下に温度を保たなければならない。
より困難である。バルク合金は好ましくなく、さらに温
度はバルク合金を発生させる水準にまで上昇させるべき
ではないと信じられている。そのうえ、蒸着を通じて素
材が感知できるほどに失われることがないようなレベル
以下に温度を保たなければならない。
従って、パラジウムをタンタルと合金させる適切な温度
範囲は約825℃から約1400℃であり、白金をタン
タルと合金させる適切な温度範囲は約925℃から約1
500℃であり、ロジウムをタンタルに合金させる適切
な温度は約975℃から1650℃であると考えられて
いる。さらに、オスミウムとイリジウムとの合金化には
さらに高い温度が必要であると信じられている。この分
野の専門家には、合金化温度は選択された金属同士の特
定の組合せにたいして適切に選択され得ることが理解さ
れるだろう。
範囲は約825℃から約1400℃であり、白金をタン
タルと合金させる適切な温度範囲は約925℃から約1
500℃であり、ロジウムをタンタルに合金させる適切
な温度は約975℃から1650℃であると考えられて
いる。さらに、オスミウムとイリジウムとの合金化には
さらに高い温度が必要であると信じられている。この分
野の専門家には、合金化温度は選択された金属同士の特
定の組合せにたいして適切に選択され得ることが理解さ
れるだろう。
追加すれば、これらの温度は、方法10がそれにたいし
て実行される素材のタイプによって制限される。例えば
、方法lOを、タンタルおよび他の何等かの金属のクラ
ッドの一部分であるタンタル20にたいして実行すると
したら、合金化の最大温度は、クラッド接着が損傷され
るのを防ぐために約1000℃未満でなければならない
。
て実行される素材のタイプによって制限される。例えば
、方法lOを、タンタルおよび他の何等かの金属のクラ
ッドの一部分であるタンタル20にたいして実行すると
したら、合金化の最大温度は、クラッド接着が損傷され
るのを防ぐために約1000℃未満でなければならない
。
析出物22をタンタル20の表面と合金させる場合にお
いては、タンタル20の表面に付着している合金層24
を前述のように形成する。その結果生じる合金層24は
この時点では不連続的であり得る。合金表面は、たった
0、25の原子百分率のものであってもよいし、それで
も満足すべき結果を提示する。合金層24の表面は、合
金層24の上に白金基の1部材を電子析出するに適して
いる。従って次に、電子析出には適していないタンタル
20の表面は、電子析出に適する合金層24によって覆
われ、それによって固有の高い効率的なキャパシタンス
をもつ対抗電極を形成することができる。
いては、タンタル20の表面に付着している合金層24
を前述のように形成する。その結果生じる合金層24は
この時点では不連続的であり得る。合金表面は、たった
0、25の原子百分率のものであってもよいし、それで
も満足すべき結果を提示する。合金層24の表面は、合
金層24の上に白金基の1部材を電子析出するに適して
いる。従って次に、電子析出には適していないタンタル
20の表面は、電子析出に適する合金層24によって覆
われ、それによって固有の高い効率的なキャパシタンス
をもつ対抗電極を形成することができる。
第2B図に示す初期析出物22の場合、白金基の部材は
ブロック13bおよびブロック13cに示すようにタン
タル20の表面上にスパッタリングしてもよい。タンタ
ル20の表面からの最初の酸化物層が、方法10の経路
10cのブロックllcに示すグロー放電によって除去
される場合、ブロック13cのスパッタリングの結果、
タンタルとスパッタリングされた素材が分子レベルにお
いて混合され、それによってブロックI5の合金化ステ
ップを不要なものとし、合金層25が形成されるが、こ
の理由はタンタル20上にスパッタリングされた素材は
、スパッタリング・エネルギが充分に高いときには層2
4を形成するからである。酸化物層がブロック11cに
示すようにタンタル20の表面から除去されない場合、
白金基のスパッタリングされた部材は前述のように析出
物22を形成し、ブロック15の合金化ステップが合金
層24を形成するに必要とされるが、この理由は酸化物
層はスパッタリングされた素材とタンタル20との間に
とどまるからである。
ブロック13bおよびブロック13cに示すようにタン
タル20の表面上にスパッタリングしてもよい。タンタ
ル20の表面からの最初の酸化物層が、方法10の経路
10cのブロックllcに示すグロー放電によって除去
される場合、ブロック13cのスパッタリングの結果、
タンタルとスパッタリングされた素材が分子レベルにお
いて混合され、それによってブロックI5の合金化ステ
ップを不要なものとし、合金層25が形成されるが、こ
の理由はタンタル20上にスパッタリングされた素材は
、スパッタリング・エネルギが充分に高いときには層2
4を形成するからである。酸化物層がブロック11cに
示すようにタンタル20の表面から除去されない場合、
白金基のスパッタリングされた部材は前述のように析出
物22を形成し、ブロック15の合金化ステップが合金
層24を形成するに必要とされるが、この理由は酸化物
層はスパッタリングされた素材とタンタル20との間に
とどまるからである。
追加して述べれば、タンタル・白金基の部材の合金はタ
ンタル20の上に直接にスパッタリングしてもよく、こ
れによってブロック15の合金化ステップが不要となる
と考えられている。
ンタル20の上に直接にスパッタリングしてもよく、こ
れによってブロック15の合金化ステップが不要となる
と考えられている。
経路10d中に示されるように、白金属の金属は、ロー
ル接着でなされるようにタンタルにたいしてクラッド接
着してもよい。このグラッディングによってタンタルと
白金属部分の合金が形成され、この白金属金属が充分に
薄い場合、合金層は、2つの素材の分子が互いに浸透す
るので不連続性となる。
ル接着でなされるようにタンタルにたいしてクラッド接
着してもよい。このグラッディングによってタンタルと
白金属部分の合金が形成され、この白金属金属が充分に
薄い場合、合金層は、2つの素材の分子が互いに浸透す
るので不連続性となる。
グラッディングは、ロール接着によるのが好ましいが、
爆発接着によって実行してもよい。別の選択肢として、
タンタル表面を最初に浄化してもよい。高温または低温
ロール接着を用いてもよい。中間焼きなましを伴う1つ
以上の追加の高温または低温ローリングのステップを、
望みのゲージを得るために実行してもよい。高温ロール
接着技法を、直接に合金を形成するために用いてもよく
、このようにして別途の熱処理/合金ステップ15の必
要性を省くことができる。
爆発接着によって実行してもよい。別の選択肢として、
タンタル表面を最初に浄化してもよい。高温または低温
ロール接着を用いてもよい。中間焼きなましを伴う1つ
以上の追加の高温または低温ローリングのステップを、
望みのゲージを得るために実行してもよい。高温ロール
接着技法を、直接に合金を形成するために用いてもよく
、このようにして別途の熱処理/合金ステップ15の必
要性を省くことができる。
合金化が完了し、タンタルと白金または白金基の部材と
の合金層24がタンタル20上に形成されると、ケース
はブロック17において引き出され第2の層26がブロ
ック19に示すように形成される。第2層26は白金基
のいかなる部材であってもよく、また、合金層24中の
タンタル20と合金化された白金基部材と同一である必
要は必ずしもない。第2層26は、従来の電解性のまた
は無電解性の技法を用いて形成してもよいが、その理由
は、第2層は、タンタル表面にたいしてではなく、白金
または白金基部材の合金層24にたいして付着しなけれ
ばならないからである。
の合金層24がタンタル20上に形成されると、ケース
はブロック17において引き出され第2の層26がブロ
ック19に示すように形成される。第2層26は白金基
のいかなる部材であってもよく、また、合金層24中の
タンタル20と合金化された白金基部材と同一である必
要は必ずしもない。第2層26は、従来の電解性のまた
は無電解性の技法を用いて形成してもよいが、その理由
は、第2層は、タンタル表面にたいしてではなく、白金
または白金基部材の合金層24にたいして付着しなけれ
ばならないからである。
ブロック19に示す第2の析出は、海綿状の物理的な構
造物を発生する条件下で実行される。析出の最中にどの
ような電流水準を選択するか、また層26のために滑ら
かな表面ではなく海綿状の表面を提供するためにどのよ
うにしてめっき溶液を選択するかは、この分野では周知
のことである。海綿状の表面が好ましいが、その理由は
、電解質との電気的な接触のための表面の面積が大きく
なるからである。
造物を発生する条件下で実行される。析出の最中にどの
ような電流水準を選択するか、また層26のために滑ら
かな表面ではなく海綿状の表面を提供するためにどのよ
うにしてめっき溶液を選択するかは、この分野では周知
のことである。海綿状の表面が好ましいが、その理由は
、電解質との電気的な接触のための表面の面積が大きく
なるからである。
層24および26はタンタル20にたいする付着性が高
く、従って、層24および26は方法lOを用いて形成
されたキャパシタのケースの壁にたいする付着性が高い
。これによって、導電性の粒子が自由になり電解質と混
合するという問題がなくなり、従って対抗電極の電気的
特性の安定性が維持される。
く、従って、層24および26は方法lOを用いて形成
されたキャパシタのケースの壁にたいする付着性が高い
。これによって、導電性の粒子が自由になり電解質と混
合するという問題がなくなり、従って対抗電極の電気的
特性の安定性が維持される。
タンタル20には、タンタル20上にある表面24がそ
の固有の高い効果的なキャパシタンスをもつタンタル2
0の酸化機能を破壊する表面層24が付いている。この
固有の高い効果的なキャパシタンスの故に、方法10に
従って処置されたタンタル20と共に製造されたキャパ
シタは分極剤にたいする依存性が減少する。
の固有の高い効果的なキャパシタンスをもつタンタル2
0の酸化機能を破壊する表面層24が付いている。この
固有の高い効果的なキャパシタンスの故に、方法10に
従って処置されたタンタル20と共に製造されたキャパ
シタは分極剤にたいする依存性が減少する。
第3図および第4図を参照すると、本発明の方法10に
従って作成された対抗電極を含み得るキャパシタ50が
示されている。方法10に従って作成された対抗電極は
他のいかなるタイプのウェット・スラグ・キャパシタに
使用することもでき、また、キャパシタ50は単に図示
のために用いられているということがこの分野の専門家
には理解されるだろう。
従って作成された対抗電極を含み得るキャパシタ50が
示されている。方法10に従って作成された対抗電極は
他のいかなるタイプのウェット・スラグ・キャパシタに
使用することもでき、また、キャパシタ50は単に図示
のために用いられているということがこの分野の専門家
には理解されるだろう。
キャパシタ50には、カン42の底部内の振動スペーサ
40の内部に取り付けられている多孔性のタンタル・ア
ノード38か含まれる。ガスケット36とスペーサ40
との間のスペースは、アノード38を含浸する電解質3
7によって満たされる。リード32および34はアノー
ド38および対抗電極のカン42に電気的に結合されて
いる。カン42には拡大された部分図48中に示される
ように、ニッケルまたはニッケルの合金層44、銅層4
6およびタンタル層20が含まれる。タンタル層zOは
本発明の方法lOに従って処理されておりこれによって
合金層24および海綿状の第2の層26が与えられる。
40の内部に取り付けられている多孔性のタンタル・ア
ノード38か含まれる。ガスケット36とスペーサ40
との間のスペースは、アノード38を含浸する電解質3
7によって満たされる。リード32および34はアノー
ド38および対抗電極のカン42に電気的に結合されて
いる。カン42には拡大された部分図48中に示される
ように、ニッケルまたはニッケルの合金層44、銅層4
6およびタンタル層20が含まれる。タンタル層zOは
本発明の方法lOに従って処理されておりこれによって
合金層24および海綿状の第2の層26が与えられる。
方法10を実行するに当たって、方法10の経路10a
に示されるような無電解析出を用いる場合、経路10b
および10cに示されるようなスパッタリングによる場
合、または経路10dに示されるようなりラッディング
による場合のいずれにせよ、方法10の全てのステップ
が、ケース42のようなキャパシタ・ケースの引き出し
以前の短冊状材料、または、そこではブロック17のス
テップが不用である完成されたキャパシタ・ケース、の
いずれかに対して使用され得る。第2層26の層24の
合金化された表面上に対する析出は、しかしながら、層
26にたいする物理的な損傷を防止するために完成され
たケース42上に対して実行しなければならない。 経
路10a 、 lOb 、 IOc 、 lOd間の選
択は部分的には費用 によって決定される。経路10b
。
に示されるような無電解析出を用いる場合、経路10b
および10cに示されるようなスパッタリングによる場
合、または経路10dに示されるようなりラッディング
による場合のいずれにせよ、方法10の全てのステップ
が、ケース42のようなキャパシタ・ケースの引き出し
以前の短冊状材料、または、そこではブロック17のス
テップが不用である完成されたキャパシタ・ケース、の
いずれかに対して使用され得る。第2層26の層24の
合金化された表面上に対する析出は、しかしながら、層
26にたいする物理的な損傷を防止するために完成され
たケース42上に対して実行しなければならない。 経
路10a 、 lOb 、 IOc 、 lOd間の選
択は部分的には費用 によって決定される。経路10b
。
10cのスパッタリングは経路10aの析出に対しては
好ましいと考えられている。しかし、スパッタリング装
置は大きな初期費用がかかる。経路10aの析出を避け
ることは、例えば、短冊状の材料を処理する時には好ま
しい。その理由は、材料のある一方の側を化学的に処理
する時に、他の側をマスクしなければならないからであ
る。
好ましいと考えられている。しかし、スパッタリング装
置は大きな初期費用がかかる。経路10aの析出を避け
ることは、例えば、短冊状の材料を処理する時には好ま
しい。その理由は、材料のある一方の側を化学的に処理
する時に、他の側をマスクしなければならないからであ
る。
そのうえ、方法10は、ニッケル層44および銅層46
を含む積層をもつケース42のような内層のようなタン
タルとの積層されたまたはクラツディングされた構造物
をもつケースだけでなくタンタル・ケース全体にたいし
て実行し得る。もし方法IOをクラッド・カンの作成に
使用する場合、層は最初に接着され、次にスパッタリン
グまたは無電解析出が実行されそして合金化が実行され
るが、合金化は、積層物にたいする損傷を防止するため
に、カンにたいしてであろうと短冊状材料にたいしてで
あろうと1000℃の温度に制限される。合金化が実行
されると、ブロック17中に示すようにカンが引き出さ
れる。方法IOはまた、ホイル・タイプのタンタル・キ
ャパシタ(図示されいない)中の対抗電極のホイル(図
示されていない)にたいして実行してもよい。方法10
は、内部タンタル層20と外部ニッケル合金層44との
間に銅層46が配置されているキャパシタ50のカン4
2のようなトライ・クラッド(tri−clad)のカ
ンに使用するのが好ましい。もっとも通常的には、外部
ニッケル合金層44はニッケルと銅との合金である。
を含む積層をもつケース42のような内層のようなタン
タルとの積層されたまたはクラツディングされた構造物
をもつケースだけでなくタンタル・ケース全体にたいし
て実行し得る。もし方法IOをクラッド・カンの作成に
使用する場合、層は最初に接着され、次にスパッタリン
グまたは無電解析出が実行されそして合金化が実行され
るが、合金化は、積層物にたいする損傷を防止するため
に、カンにたいしてであろうと短冊状材料にたいしてで
あろうと1000℃の温度に制限される。合金化が実行
されると、ブロック17中に示すようにカンが引き出さ
れる。方法IOはまた、ホイル・タイプのタンタル・キ
ャパシタ(図示されいない)中の対抗電極のホイル(図
示されていない)にたいして実行してもよい。方法10
は、内部タンタル層20と外部ニッケル合金層44との
間に銅層46が配置されているキャパシタ50のカン4
2のようなトライ・クラッド(tri−clad)のカ
ンに使用するのが好ましい。もっとも通常的には、外部
ニッケル合金層44はニッケルと銅との合金である。
第1図は対抗電極として使用するためのタンタル表面を
生成させるための本発明による方法のフローチャート表
示、第2A図から第2D図は本発明による対抗電極の形
成ステップ、第3図は第2A図から第2D図の対抗電極
を使用し得る代表的な “ウェット ・スラグ キャパシタの断面図であ る。
生成させるための本発明による方法のフローチャート表
示、第2A図から第2D図は本発明による対抗電極の形
成ステップ、第3図は第2A図から第2D図の対抗電極
を使用し得る代表的な “ウェット ・スラグ キャパシタの断面図であ る。
Claims (6)
- (1)電解キャパシタに用いるタンタル上に固有の高い
効果的なキャパシタンスの対抗電極を提供する方法であ
り: (a)タンタルから既存の酸化物を除去し;(b)タン
タル上に第1の白金属の金属の非連続性の層を析出し:
そして、 (c)析出された第1の金属とタンタルとを合金化して
合金層を形成するステップから成ることを特徴とする方
法。 - (2)上記ステップ(c)の後に: (d)合金層の上に第2の白金属金属の層を析出させる
ステップが続くことを特徴とする請求項1に記載の方法
。 - (3)ステップ(a)でタンタルの表面が酸で処理され
ることを特徴とする請求項1に記載の方法。 - (4)酸がフッ化水素酸から成ることを特徴とする請求
項3に記載の方法。 - (5)タンタル表面上に形成された合金の第1の層を有
し、この第1の層がタンタルおよび白金属の金属を有す
ることを特徴とする、固有の高い効果的なキャパシタン
スの内部タンタル表面をもつタンタル電解キャパシタ用
の対抗電極。 - (6)電解キャパシタ中で使用される、タンタル上に固
有の高い効果的なキャパシタンスの対抗電極表面を提供
する方法であり、白金属金属の薄い層をタンタル上にク
ラッディングさせ、それによって白金属の部材/タンタ
ル合金の層を形成することを特徴とする、前記の方法。
Applications Claiming Priority (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/133,547 US4780797A (en) | 1987-12-16 | 1987-12-16 | Capacitor tantalum surface for use as a counterelectrode device and method |
| US133,547 | 1987-12-16 | ||
| US21863588A | 1988-07-13 | 1988-07-13 | |
| US218,635 | 1988-07-13 | ||
| US07/319,556 US4942500A (en) | 1988-07-13 | 1988-12-12 | Capacitor tantalum surface for use as a counterelectrode device and method |
| US319556 | 1988-12-12 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04127411A true JPH04127411A (ja) | 1992-04-28 |
Family
ID=27384443
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31654988A Pending JPH04127411A (ja) | 1987-12-16 | 1988-12-16 | 電極素子用キャパシタタンタル表面 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0321255B1 (ja) |
| JP (1) | JPH04127411A (ja) |
| DE (1) | DE3881359T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011515849A (ja) * | 2008-03-20 | 2011-05-19 | ヴィシェイ スプラーグ インコーポレイテッド | 電解コンデンサとその製造方法 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2685080B1 (fr) * | 1991-12-17 | 1995-09-01 | Thomson Csf | Capteur mecanique comprenant un film de polymere. |
| CN110957138B (zh) * | 2019-11-18 | 2024-04-16 | 湖南华冉科技有限公司 | 钽电容器外壳的内壁处理方法 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3616445A (en) * | 1967-12-14 | 1971-10-26 | Electronor Corp | Titanium or tantalum base electrodes with applied titanium or tantalum oxide face activated with noble metals or noble metal oxides |
| US4020401A (en) * | 1975-12-19 | 1977-04-26 | General Electric Company | Electrolytic capacitor having a silver plated nickel case |
| US4523255A (en) * | 1983-09-19 | 1985-06-11 | Sprague Electric Company | Cathode for an electrolytic capacitor |
| US4780797A (en) * | 1987-12-16 | 1988-10-25 | Tansitor Electronic, Inc. | Capacitor tantalum surface for use as a counterelectrode device and method |
-
1988
- 1988-12-16 JP JP31654988A patent/JPH04127411A/ja active Pending
- 1988-12-16 EP EP19880311896 patent/EP0321255B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-12-16 DE DE19883881359 patent/DE3881359T2/de not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011515849A (ja) * | 2008-03-20 | 2011-05-19 | ヴィシェイ スプラーグ インコーポレイテッド | 電解コンデンサとその製造方法 |
| JP2014112702A (ja) * | 2008-03-20 | 2014-06-19 | Vishay Sprague Inc | 電解コンデンサとその製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3881359D1 (de) | 1993-07-01 |
| EP0321255A1 (en) | 1989-06-21 |
| EP0321255B1 (en) | 1993-05-26 |
| DE3881359T2 (de) | 1994-01-20 |
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