JP7498171B2 - 表面被覆蛍光体粒子、及び発光装置 - Google Patents
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Description
蛍光体を含む粒子と、
前記粒子の表面を被覆する被覆部と、
を含む表面被覆蛍光体粒子であって、
前記蛍光体は、一般式M1 aM2 bM3 cAl3N4-dOd(ただし、M1はSr、Mg、CaおよびBaから選ばれる1種以上の元素であり、M2はLi、NaおよびKから選ばれる1種以上の元素であり、M3はEu、CeおよびMnから選ばれる1種以上の元素である。)で表される組成を有し、前記a、b、c、およびdが次の各式を満たすものであり、
0.850≦a≦1.150
0.850≦b≦1.150
0.001≦c≦0.015
0≦d≦0.40
0≦d/(a+d)<0.30
前記被覆部は、前記粒子の最表面の少なくとも一部を構成するとともに、AlF3を含み、
Cu-Kα線を用いて測定した当該表面被覆蛍光体粒子のX線回折パターンにおいて、2θが23°以上26°以下の範囲内ある最大ピークAの発光強度をIAとし、2θが36°以上39°以下の範囲内ある最大ピークBの発光強度をIBとしたとき、
IA、IBが、IA/IB≦0.10を満たすものである、
表面被覆蛍光体粒子が提供される。
0.850≦a≦1.150
0.850≦b≦1.150
0.001≦c≦0.015
0≦d≦0.40
0≦d/(a+d)<0.30
M3のモル比cの下限は0.001以上が好ましく、0.005以上がより好ましい。一方、M3のモル比cの上限は0.015以下が好ましく、0.010以下がより好ましい。M3のモル比cの下限を上記範囲とすることにより、十分な発光強度を得ることができる。また、M3のモル比cの上限を上記範囲とすることにより、濃度消光を抑制し、発光強度を十分な値に保つことができる。
また、蛍光体中の酸素元素の含有量は2質量%未満が好ましく、1.8質量%以下がより好ましい。酸素元素の含有量を2質量%未満とすることにより、蛍光体の結晶状態を安定化させ、発光強度を十分な値に保つことができる。
このとき、本実施形態の表面被覆蛍光体粒子において、IA、IBが、IA/IB≦0.10を満たすものである。
(X線回折パターンの測定方法)
表面被覆蛍光体粒子について、下記の測定条件に基づいてX線回折装置を用いて回折パターンを測定する。
(測定条件)
X線源:Cu-Kα線(λ=1.54184Å)、
出力設定:40kV・40mA
光学系:集中法
検出器:半導体検出器
測定時光学条件:発散スリット=2/3°
散乱スリット=8mm
受光スリット=開放
回折ピークの位置=2θ(回折角)
測定範囲:2θ=20°~70°
スキャン速度:2度(2θ)/sec,連続スキャン
走査軸:2θ/θ
試料調製:粉末状の表面被覆蛍光体粒子をサンプルホルダーに載せる。
ピーク強度はバックグラウンド補正を行って得た値とする。
詳細なメカニズムは定かではないが、蛍光体粒子の表面層が安定化して、高温高湿条件下でも発光特性の低下が抑制されるため、と考えられる。
また、表面被覆蛍光体粒子において、蛍光スペクトルのピーク波長における光照射に対する拡散反射率が、例えば、80%以上、好ましくは83%以上、より好ましくは85%以上である。
このような拡散反射率を備えることにおり、さらに発光効率が高くなり発光強度が向上する。
このような特性を備えることにより、優れた色再現性が期待できる。x値が0.680以上であれば色純度の良い赤色発光をさらに期待でき、x値が0.735以上の値はCIE-xy色度図内の最大値を超えるため、上記範囲を満たすことが好ましい。
各工程について詳述する。
混合工程は、目的とする表面被覆蛍光体粒子が得られるように秤量した各原料を混合して粉末状の原料混合物を得る。
なお、空気中の水分や酸素と激しく反応する窒化ストロンチウム、窒化リチウム等は、内部が不活性雰囲気で置換されたグローブボックス内や混合装置を用いて取り扱うことが適切である。
焼成工程は、上述した原料混合物を、例えば焼成容器の内部に充填して焼成する。
焼成工程における焼成温度の下限は、900℃以上が好ましく、1000℃以上がより好ましく、1100℃以上がさらに好ましい。一方、焼成温度の上限は、1500℃以下が好ましく、1400℃以下がより好ましく、1300℃以下がさらに好ましい。焼成温度を上記範囲とすることにより、焼成工程終了後の未反応原料を少なくでき、また主結晶相の分解を抑制することができる。
焼成工程における焼成雰囲気ガスの種類としては、例えば元素としての窒素を含むガスを好ましく用いることができる。具体的には、窒素および/またはアンモニアを挙げることができ、特に窒素が好ましい。また同様に、アルゴン、ヘリウム等の不活性ガスも好ましく用いることができる。なお焼成雰囲気ガスは1種類のガスで構成されていても、複数の種類のガスの混合ガスであっても構わない。
焼成雰囲気ガスの圧力は、焼成温度に応じて選択されるが、通常0.1MPa・G以上10MPa・G以下の範囲の加圧状態である。焼成雰囲気ガスの圧力が高いほど、蛍光体の分解温度は高くなるが、工業的生産性を考慮すると0.5MPa・G以上1MPa・G以下とすることが好ましい。
焼成工程における焼成時間は、未反応物が多く存在したり、蛍光体の粒子が成長不足であったり、或いは生産性の低下という不都合が生じない時間範囲が選択される。焼成時間の下限は、0.5時間以上が好ましく、1時間以上がより好ましく、2時間以上がさらに好ましい。また、焼成時間の上限は、48時間以下が好ましく、36時間以下がより好ましく、24時間以下がさらに好ましい。
粉砕工程は、焼成工程後の原料混合物(焼成物)を、粉砕して粉砕物を得る。
酸処理工程は、粉砕物に対して、酸を含む溶液を用いて酸処理する。
フッ酸処理は、酸処理工程後の粉砕物に、フッ酸処理を施す。
フッ酸水溶液の濃度の下限は、20質量%以上が好ましく、25質量%以上がより好ましく、30質量%以上がさらに好ましい。一方、フッ酸水溶液の濃度の上限は、40%質量以下が好ましく、38質量%以下がより好ましく、35質量%以下がさらに好ましい。
フッ酸水溶液の濃度を上記下限値以上とすることにより、蛍光体を含む粒子の最表面の少なくとも一部に(NH4)3AlF6を含む被覆部を形成することができる。一方、フッ酸水溶液の濃度を上記上限値以下とすることにより、粒子とフッ酸との反応が激しくなり過ぎることを抑制することができる。
上記粉砕物とフッ酸水溶液との混合時間の下限は、5分以上が好ましく10分以上がより好ましく、15分以上がさらに好ましい。一方、上記焼成物とフッ酸水溶液との混合時間の上限は、30分以下が好ましく、25分以下がより好ましく、20分以下がさらに好ましい。
上記粉砕物とフッ酸水溶液との混合時間を上記範囲とすることにより、蛍光体を含む粒子の最表面の少なくとも一部に(NH4)3AlF6を含む被覆部を安定的に形成することができる。
加熱処理は、フッ酸処理後の粉砕物を、大気中で加熱する。
(NH4)3AlF6→AlF3+3NH3+3HF・・・(1)
本実施形態に係る発光装置は、表面被覆蛍光体粒子と発光素子とを有する。
他の発光色の蛍光体粒子として、青色発光蛍光体粒子、緑色発光蛍光体粒子、黄色発光蛍光体粒子、橙色発光蛍光体粒子、赤色蛍光体があり、例えば、Ca3Sc2Si3O12:Ce、CaSc2O4:Ce、β-SiAlON:Eu、Y3Al5O12:Ce、Tb3Al5O12:Ce、(Sr、Ca、Ba)2SiO4:Eu、La3Si6N11:Ce、α-SiAlON:Eu、Sr2Si5N8:Eu等が挙げられる。
(比較例1)
[混合工程]
大気中で、AlN(トクヤマ社製)、Eu2O3(信越化学工業社製)およびLiF(富士フィルム和光純薬製)を秤量、混合したのち、目開き150μmのナイロン篩で凝集を解砕し、プレ混合物を得た。
プレ混合物を、水分1ppm以下、酸素1ppm以下とした不活性雰囲気を保持しているグローブボックス中に移動させた。その後、化学量論比(a=1、b=1)でaの値が15%過剰、bの値が20%過剰になるように、Sr3N2(太平洋セメント社製)およびLi3N(Materion社製)を秤量後、追加配合して混合後、目開き150μmのナイロン篩で凝集を解砕して蛍光体の原料混合物を得た。SrおよびLiは焼成中に飛散しやすいため、理論値より多めに配合した。
ここで、Alのモル比を3としたときのSrの仕込み量をモル比で1.15とするとともに、Euの仕込み量をモル比で0.01とした。前記原料混合物とフラックスの合計量100質量%に対して、5質量%のLiFを添加した。なお、Euは前述したようにAlのモル比を3としたときの仕込み量をモル比で0.01とした。
次いで、原料混合物を蓋付きの円筒型BN製容器(デンカ株式会社製)に充填した。
次いで、蛍光体の原料混合物を充填した容器をグローブボックスから取り出した後、グラファイト断熱材を備えたカーボンヒーター付きの電気炉(富士電波工業社製)にセットし、焼成工程を実施した。
焼成工程の開始にあっては、電気炉内を真空状態まで一旦脱ガスしたのち、室温から0.8MPa・Gの加圧窒素雰囲気下で焼成を開始した。電気炉内の温度が1100℃に到達後は、8時間温度を保ちながら焼成を続け、その後室温まで冷却した。
得られた焼成物は乳鉢で粉砕後、目開き75μmのナイロン篩で分級し、回収した。
得られた焼成物の粉体を、MeOH(99%)(国産化学株式会社製)にHNO3(60%)(和光純薬社)を加えた混合溶液中に加えて3時間撹拌した後、分級し、蛍光体粉末を得た。
得られた蛍光体粉末を30%フッ酸水溶液中に加え、15分間撹拌することでフッ酸処理工程を実施した。フッ酸処理工程の後、目開き45μmの篩を全通させることで、凝集を解き、比較例1の蛍光体粒子を得た。
フッ酸処理が施された後、目開き45μmの篩を全通させることで凝集を解いた蛍光体粉末に対して、大気雰囲気下で200℃、4時間の加熱処理を実施したこと以外は、比較例1と同様な原料の仕込み量および手順にて比較例2の蛍光体粒子を得た。
フッ酸処理が施された後、目開き45μmの篩を全通させることで凝集を解いた蛍光体粉末に対して、大気雰囲気下で250℃、4時間の加熱処理を実施したこと以外は、比較例1と同様な原料の仕込み量および手順にて実施例1の蛍光体粒子を得た。
フッ酸処理が施された後、目開き45μmの篩を全通させることで凝集を解いた蛍光体粉末に対して、大気雰囲気下で300℃、4時間の加熱処理を実施したこと以外は、比較例1と同様な原料の仕込み量および手順にて実施例2の蛍光体粒子を得た。
フッ酸処理が施された後、目開き45μmの篩を全通させることで凝集を解いた蛍光体粉末に対して、大気雰囲気下で400℃、4時間の加熱処理を実施したこと以外は、比較例1と同様な原料の仕込み量および手順にて比較例3の蛍光体粒子を得た。
各蛍光体粒子のa~dの数値を表1に示す。
得られた蛍光体粒子について、X線回折装置(株式会社リガク製UltimaIV)を用い、Cu-Kα線を用いて、下記の測定条件でX線回折パターン測定した。また、得られたX線回折パターンから蛍光体粒子の結晶構造を確認した。
(測定条件)
X線源:Cu-Kα線(λ=1.54184Å)、
出力設定:40kV・40mA
光学系:集中法
検出器:半導体検出器
測定時光学条件:発散スリット=2/3°
散乱スリット=8mm
受光スリット=開放
回折ピークの位置=2θ(回折角)
測定範囲:2θ=20°~70°
スキャン速度:2度(2θ)/sec,連続スキャン
走査軸:2θ/θ
試料調製:粉末状の蛍光体粒子をサンプルホルダーに載せた。
ピーク強度はバックグラウンド補正を行って得た値とした。
実施例1,2、及び比較例1~3において、2θが36.5°以上37.5°以下の範囲に、SLANに対応するピーク(最大ピークB)が確認された。
最大ピークAの発光強度をIAとし、最大ピークBの発光強度をIBとしたときの、IA/IBを算出した。結果を表1に示す。
得られた蛍光体粒子について、XPSによる表面分析を実施した。
実施例1,2、及び比較例1について、蛍光体粒子の最表面において、AlとFが存在し、AlとFとが共有結合していることが確認された。
実施例1、及び実施例2は、蛍光体粒子の最表面の少なくとも一部をAlF3が構成した表面被覆蛍光体粒子であった。
比較例1は、蛍光体粒子では、蛍光体粒子の最表面の少なくとも一部を(NH4)3AlF6が構成した表面被覆蛍光体粒子であった。
拡散反射率は、日本分光社製紫外可視分光光度計(V-550)に積分球装置(ISV-469)を取り付けて測定した。標準反射板(スペクトラロン)でベースライン補正を行い、得られた蛍光体粒子を充填した固体試料ホルダーを取り付けて、300nmおよびピーク波長の光に対する拡散反射率の測定を行った。
色度xは、分光光度計(大塚電子株式会社製MCPD-7000)により測定し、以下の手順で算出した。
得られた蛍光体粒子を凹型セルの表面が平滑になるように充填し、積分球を取り付けた。この積分球に、発光光源(Xeランプ)から455nmの波長に分光した青色単色光を、光ファイバーを用いて導入した。この青色単色光を励起源として、蛍光体の試料に照射し、試料の蛍光スペクトル測定を行った。
得られた蛍光スペクトルデータからピーク波長およびピークの半値幅を求めた。
また、色度xは蛍光スペクトルデータの465nmから780nmの範囲の波長域データからJIS Z 8724:2015に準じ、JIS Z 8781-3:2016で規定されるXYZ表色系におけるCIE色度座標x値(色度x)を算出した。
実施例1,2、比較例1~3で得られた蛍光体粒子について、高温高湿試験を開始する前の発光強度(I0)を下記の手順で測定した。
続いて、60℃、90%RHの環境下で、100時間又は200時間載置した(高温高湿試験)。
100時間の高温高湿試験後の発光強度(I100)、200時間の高温高湿試験後の発光強度(I200)を下記の手順で測定した。
得られた測定値を用いて発光強度比を、次の式:I100/I0(%)、I200/I0(%)から算出した。発光強度比の結果を表1に示す。
ローダミンBと副標準光源により補正した分光蛍光光度計(日立ハイテクノロジーズ社製、F-7000)を用いて、蛍光体粒子の発光強度を測定した。なお、分光蛍光光度計に付属の固体試料ホルダーを使用し、励起波長455nmでの蛍光スペクトルを使用した。
各実施例および各比較例の蛍光体粒子の蛍光スペクトルのピーク波長は656nmであった。蛍光スペクトルのピーク波長における強度値を蛍光体粒子の発光強度とした。
Claims (6)
- 蛍光体を含む粒子と、
前記粒子の表面を被覆する被覆部と、
を含む表面被覆蛍光体粒子であって、
前記蛍光体は、一般式M1 aM2 bM3 cAl3N4-dOd(ただし、M1はSr、Mg、CaおよびBaから選ばれる1種以上の元素であり、M2はLi、NaおよびKから選ばれる1種以上の元素であり、M3はEu、CeおよびMnから選ばれる1種以上の元素である。)で表される組成を有し、前記a、b、c、およびdが次の各式を満たすものであり、
0.850≦a≦1.150
0.850≦b≦1.150
0.001≦c≦0.015
0<d≦0.40
0<d/(a+d)<0.30
前記被覆部は、前記粒子の最表面の少なくとも一部を構成するとともに、AlF3を含み、
Cu-Kα線を用いて測定した当該表面被覆蛍光体粒子のX線回折パターンにおいて、2θが23°以上26°以下の範囲内ある最大ピークAの発光強度をIAとし、2θが36°以上39°以下の範囲内ある最大ピークBの発光強度をIBとしたとき、
IA、IBが、IA/IB≦0.10を満たすものである、
表面被覆蛍光体粒子。 - 請求項1に記載の表面被覆蛍光体粒子であって、
前記M1は、少なくともSrを含み、前記M2は、少なくともLiを含み、前記M3は、少なくともEuを含む、表面被覆蛍光体粒子。 - 請求項1または2に記載の表面被覆蛍光体粒子であって、
波長300nmの光照射に対する拡散反射率が56%以上であり、蛍光スペクトルのピーク波長における光照射に対する拡散反射率が80%以上である、表面被覆蛍光体粒子。 - 請求項1~3のいずれか一項に記載の表面被覆蛍光体粒子であって、
波長455nmの青色光で励起した場合、ピーク波長が640nm以上670nm以下の範囲にあり、半値幅が45nm以上60nm以下である、表面被覆蛍光体粒子。 - 請求項1~4のいずれか一項に記載の表面被覆蛍光体粒子であって、
波長455nmの青色光で励起した場合、発光色の色純度がCIE-xy色度図において、x値が0.680≦x<0.735を満たす、表面被覆蛍光体粒子。 - 請求項1~5のいずれか一項に記載の表面被覆蛍光体粒子と、発光素子とを有する発光装置。
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