JP7370265B2 - 加工方法及び加工装置 - Google Patents
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Description
本発明の実施形態1に係る加工装置を図面に基づいて説明する。図1は、実施形態1に係る加工装置の構成例を示す斜視図である。図2は、図1に示された加工装置の保持ユニットと撮像カメラを示す斜視図である。
図4は、図3に示された加工方法のテーブル撮像ステップを一部断面で示す側面図である。図5は、図3に示された加工方法のテーブル撮像ステップで得た異物撮像画像の一例を示す図である。
図6は、図3に示された加工方法の保持ステップを一部断面で示す側面図である。図7は、図6中のVII部を拡大して一部断面で示す側面図である。
撮像位置決定ステップST3は、アライメントを遂行する際、即ち被加工物撮像ステップST4において被加工物撮像カメラ50で撮像する被加工物200の位置である撮像位置と、カーフチェックを遂行する際、即ち第2被加工物撮像ステップST7において被加工物撮像カメラ50で撮像する被加工物200の位置である撮像位置とを決定するステップである。
図8は、図3に示された加工方法の被加工物撮像ステップを一部断面で示す側面図である。図9は、図3に示された加工方法の被加工物撮像ステップで得た被加工物撮像画像を示す図である。
加工位置特定ステップST5は、被加工物撮像ステップST4を実施した後、加工ステップST6を実施する前に、被加工物撮像画像500をもとに被加工物200の加工位置207を特定、即ちアライメントを遂行するステップである。加工位置特定ステップST5では、加工装置1は、制御ユニット100が、被加工物撮像画像500からストリート203を検出し、切削を施す際の加工位置207(図9中に破線で示す)を特定してアライメントを遂行する。加工位置特定ステップST5では、加工位置207を特定すると加工ステップST6に進む。なお、実施形態1では、加工位置207は、切削を施す際の切削ブレード21の切り刃の厚み方向の中央が通る位置を示し、ストリート203の幅方向の中央である。
図10は、図3に示された加工方法の加工ステップを一部断面で示す側面図である。図11は、図3に示された加工方法の第2被加工物撮像ステップで得た被加工物撮像画像を示す図である。
洗浄搬送ステップST9は、切削後の被加工物200を洗浄ユニット92で洗浄し、カセット90に収容するステップである。洗浄搬送ステップST9では、加工装置1は、制御ユニット100がX軸移動ユニット31をして保持テーブル12を搬入出領域4まで移動し、真空吸引源を制御して、被加工物200及び環状フレーム210の吸引保持を停止する。洗浄搬送ステップST9では、加工装置1は、制御ユニット100が搬送ユニットを制御して被加工物200を洗浄ユニット92に搬送し、洗浄ユニット92で洗浄した後、カセット90に収容して、実施形態1に係る加工方法を終了する。加工装置1は、カセット90内の全ての被加工物200を切削するまで図3に示された加工方法を繰り返す。
本発明の実施形態2に係る加工方法を図面に基づいて説明する。図12は、実施形態2に係る加工方法の流れを示すフローチャートである。図12は、実施形態1と同一部分に同一符号を付して説明を省略する。
本発明の実施形態3に係る加工方法を図面に基づいて説明する。図13は、実施形態3に係る加工方法の流れを示すフローチャートである。図14は、図13に示された加工方法の第2被加工物撮像ステップで得た被加工物撮像画像を示す図である。図15は、図14に示された被加工物撮像画像から異物を除去した被加工物撮像画像を示す図である。図13、図14及び図15は、実施形態1と同一部分に同一符号を付して説明を省略する。
12 保持テーブル
20 切削ユニット(加工ユニット)
50 被加工物撮像カメラ
60 検出用カメラ
123 透明部
124 保持面
200 被加工物
202 表面(被保持面)
300 異物撮像画像
301,302 異物
500,501,502,503 被加工物撮像画像
ST1 テーブル撮像ステップ
ST2 保持ステップ
ST4 被加工物撮像ステップ
ST5 加工位置特定ステップ
ST6 加工ステップ
ST7 第2被加工物撮像ステップ(被加工物撮像ステップ)
ST8 確認ステップ
ST10 画像処理ステップ
Claims (7)
- 被加工物に加工を施す加工方法であって、
少なくとも保持面の一部に透明部材からなる透明部を有した保持テーブルの該透明部の異物を撮像し異物撮像画像を形成するテーブル撮像ステップと、
該テーブル撮像ステップを実施した後、被加工物を該保持テーブルで保持する保持ステップと、
該保持テーブルで保持された被加工物を、該透明部を介して撮像し被加工物撮像画像を形成する被加工物撮像ステップと、
該保持テーブルで保持された被加工物に加工ユニットで加工を施す加工ステップと、を備え、
該被加工物撮像ステップでは該テーブル撮像ステップで撮像した該透明部の該異物を除いて撮像する、加工方法。 - 該異物撮像画像から該異物の位置を特定し、該被加工物撮像ステップでは、該異物の位置を避けて撮像する、請求項1に記載の加工方法。
- 該異物撮像画像をもとに該被加工物撮像画像上から該異物を除く画像処理ステップを更に備えた、請求項1に記載の加工方法。
- 該被加工物撮像ステップを実施した後、該加工ステップを実施する前に、該被加工物撮像画像をもとに被加工物の加工位置を特定する加工位置特定ステップを更に備えた、請求項1から請求項3のうちいずれか一項に記載の加工方法。
- 該被加工物撮像ステップを実施した後、該加工ステップの実施中または実施後に、該被加工物撮像画像をもとに被加工物の加工状態を確認する確認ステップを更に備えた、請求項1から請求項3のうちいずれか一項に記載の加工方法。
- 請求項1から請求項5のうちいずれか一項に記載の加工方法に用いられる加工装置であって、
少なくとも保持面の一部に透明部材からなる透明部を有した保持テーブルと、
該保持テーブルで保持された被加工物に加工を施す加工ユニットと、
該異物を検出する検出用カメラと、を備えた、加工装置。 - 該保持テーブルで保持された被加工物の被保持面を該透明部を介して撮像する被加工物撮像カメラを更に有し、
該検出用カメラは、該保持テーブルを挟んで該被加工物撮像カメラと反対側に配置される、請求項6に記載の加工装置。
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|---|---|---|---|---|
| JP7733495B2 (ja) * | 2021-08-03 | 2025-09-03 | 株式会社ディスコ | 加工装置、被加工物の撮像方法、及び、加工方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000216227A (ja) | 1999-01-25 | 2000-08-04 | Disco Abrasive Syst Ltd | チャックテ―ブル検査方法 |
| JP2009130287A (ja) | 2007-11-27 | 2009-06-11 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造装置及び半導体装置の製造方法 |
Family Cites Families (28)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5539514A (en) * | 1991-06-26 | 1996-07-23 | Hitachi, Ltd. | Foreign particle inspection apparatus and method with front and back illumination |
| JP3183046B2 (ja) * | 1994-06-06 | 2001-07-03 | キヤノン株式会社 | 異物検査装置及びそれを用いた半導体デバイスの製造方法 |
| US5515167A (en) * | 1994-09-13 | 1996-05-07 | Hughes Aircraft Company | Transparent optical chuck incorporating optical monitoring |
| US5978078A (en) * | 1996-12-17 | 1999-11-02 | Texas Instruments Incorporated | System and method for detecting particles on substrate-supporting chucks of photolithography equipment |
| JP3330089B2 (ja) * | 1998-09-30 | 2002-09-30 | 株式会社大協精工 | ゴム製品の検査方法及び装置 |
| JP2000208448A (ja) * | 1999-01-11 | 2000-07-28 | Hitachi Ltd | 回路基板製造方法および回路基板製造装置 |
| US6134014A (en) * | 1999-02-08 | 2000-10-17 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Apparatus and method of inspecting phase shift masks using comparison of a mask die image to the mask image database |
| US6836560B2 (en) * | 2000-11-13 | 2004-12-28 | Kla - Tencor Technologies Corporation | Advanced phase shift inspection method |
| JP2002289563A (ja) * | 2001-03-26 | 2002-10-04 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 研磨用ワーク保持盤の検査方法、研磨用ワーク保持盤の検査装置及びワークの研磨方法 |
| JP2005254390A (ja) * | 2004-03-11 | 2005-09-22 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 研磨装置及び研磨方法 |
| JP2008109015A (ja) * | 2006-10-27 | 2008-05-08 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの分割方法および分割装置 |
| JP2009032830A (ja) * | 2007-07-25 | 2009-02-12 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板検出装置および基板処理装置 |
| JP5274966B2 (ja) * | 2008-09-30 | 2013-08-28 | 株式会社ディスコ | 加工装置 |
| JP5198203B2 (ja) * | 2008-09-30 | 2013-05-15 | 株式会社ディスコ | 加工装置 |
| JP5324232B2 (ja) * | 2009-01-08 | 2013-10-23 | 日東電工株式会社 | 半導体ウエハのアライメント装置 |
| KR101119278B1 (ko) * | 2009-10-29 | 2012-03-16 | 삼성전기주식회사 | 기판검사시스템 및 기판검사방법 |
| JP2012179642A (ja) * | 2011-03-02 | 2012-09-20 | Disco Corp | レーザー加工装置 |
| US8934091B2 (en) * | 2012-09-09 | 2015-01-13 | Kla-Tencor Corp. | Monitoring incident beam position in a wafer inspection system |
| JP2016095244A (ja) * | 2014-11-14 | 2016-05-26 | 株式会社ディスコ | チャックテーブルの汚れの判定方法 |
| JP6672053B2 (ja) * | 2016-04-18 | 2020-03-25 | 株式会社ディスコ | ウェーハの加工方法 |
| JP6692578B2 (ja) * | 2016-06-30 | 2020-05-13 | 株式会社ディスコ | ウェーハの加工方法 |
| JP2018121031A (ja) | 2017-01-27 | 2018-08-02 | 株式会社ディスコ | レーザー加工装置 |
| JP2018176320A (ja) * | 2017-04-07 | 2018-11-15 | 株式会社ディスコ | 加工装置 |
| JP7017949B2 (ja) * | 2018-03-02 | 2022-02-09 | 株式会社ディスコ | 加工装置 |
| JP7126849B2 (ja) * | 2018-04-13 | 2022-08-29 | 株式会社ディスコ | 加工装置 |
| JP7217165B2 (ja) * | 2019-02-14 | 2023-02-02 | 株式会社ディスコ | チャックテーブル及び検査装置 |
| JP7282461B2 (ja) * | 2019-04-16 | 2023-05-29 | 株式会社ディスコ | 検査装置、及び加工装置 |
| JP7325897B2 (ja) * | 2019-04-18 | 2023-08-15 | 株式会社ディスコ | 加工装置及び被加工物の加工方法 |
-
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-
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Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000216227A (ja) | 1999-01-25 | 2000-08-04 | Disco Abrasive Syst Ltd | チャックテ―ブル検査方法 |
| JP2009130287A (ja) | 2007-11-27 | 2009-06-11 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造装置及び半導体装置の製造方法 |
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