JP7369761B2 - 光半導体素子封止用シート - Google Patents
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Description
上記シートは、光拡散層と反射防止層とを含む封止部を備え、
上記シートの片面に機能層を積層した状態において、上記機能層側から10°視野、光源D65の条件で測定した際のL*a*b*(SCE)におけるL*(SCE)、a*(SCE)、b*(SCE)をそれぞれL* 1、a* 1、b* 1とし、上記シート側から10°視野、光源D65の条件で測定した際のL*a*b*(SCE)におけるL*(SCE)、a*(SCE)、b*(SCE)をそれぞれL* 2、a* 2、b* 2としたとき、上記L* 1、a* 1、b* 1、L* 2、a* 2、およびb* 2はそれぞれ下記式(1)~(3)を満たす値である、光半導体素子封止用シートを提供する。
-5<L* 1-L* 2<5 (1)
-5<a* 1-a* 2<5 (2)
-5<b* 1-b* 2<5 (3)
本発明の光半導体素子封止用シートは、光拡散層と反射防止層とを含む封止部を少なくとも備える。上記光拡散層および上記反射防止層は互いに異なる層であり、上記封止部は光拡散層および反射防止層の少なくとも2層を含む。なお、本明細書において、光半導体素子封止用シートとは、基板上に配置された1以上の光半導体素子を封止部により封止するためのシートをいうものとする。また、本明細書において、「光半導体素子を封止する」とは、光半導体素子の少なくとも一部を封止部内に埋め込むこと、または、上記封止部により追従し被覆することをいう。上記封止部は、光半導体素子の少なくとも一部を埋め込む、または、上記封止部により追従し被覆することが可能な柔軟性を有する。
-5<L* 1-L* 2<5 (1)
-5<a* 1-a* 2<5 (2)
-5<b* 1-b* 2<5 (3)
上記反射防止層は着色剤を少なくとも含むことが好ましい。上記反射防止層は、樹脂で構成される樹脂層であることが好ましい。上記着色剤は、上記反射防止層に溶解または分散可能なものであれば、染料でも顔料でもよい。少量の添加でも低いヘイズが達成でき、顔料のように沈降性がなく均一に分布させやすいことから、染料が好ましい。また、少量の添加でも色発現性が高いことから、顔料も好ましい。着色剤として顔料を使用する場合は、導電性が低いか、ないものが好ましい。上記着色剤は、一種のみを使用してもよいし、二種以上を使用してもよい。
上記光拡散層は、光を拡散する機能を有する層であり、樹脂で構成される樹脂層であることが好ましい。上記光拡散層は、限定されないが、光拡散剤を含むことが好ましい。すなわち、上記光拡散層は、樹脂層中に分散した光拡散剤を含むことが好ましい。上記光拡散剤は、一種のみを使用してもよいし、二種以上を使用してもよい。
上記非光拡散層は、光を拡散する機能を発揮することを目的しない無色透明の層であり、樹脂で構成される樹脂層であることが好ましい。
上記反射防止層、上記光拡散層、および上記非光拡散層が上記樹脂層である場合、上記樹脂層を構成する樹脂としては、公知乃至慣用の樹脂が挙げられ、例えば、アクリル系樹脂、ウレタンアクリレート系樹脂、ウレタン系樹脂、ゴム系樹脂、エポキシ系樹脂、エポキシアクリレート系樹脂、オキセタン系樹脂、シリコーン樹脂、シリコーンアクリル系樹脂、ポリエステル系樹脂、ポリエーテル系樹脂(ポリビニルエーテル等)、ポリアミド系樹脂、フッ素系樹脂、酢酸ビニル/塩化ビニルコポリマー、変性ポリオレフィンなどが挙げられる。上記樹脂は、一種のみを使用してもよいし、二種以上を使用してもよい。上記反射防止層、上記光拡散層、および上記非光拡散層を構成する樹脂は、互いに同一であってもよいし異なっていてもよい。
上記基材部は、上記光半導体素子封止用シートにおいて上記封止部の支持体となり、上記基材部を備えることにより上記光半導体素子封止用シートの取り扱い性に優れる。上記基材部は、単層であってもよいし、同一または組成や厚さ等が異なる複層であってもよい。上記基材部が複層である場合、各層は粘着剤層などの他の層により貼り合わせられていてもよい。なお、基材部に使用される基材層は、光半導体素子封止用シートを用いて光半導体素子を封止する際には、封止部とともに光半導体素子を備える基板に貼付される部分であり、光半導体素子封止用シートの使用時(貼付時)に剥離されるはく離ライナーや、基材部表面を保護するに過ぎない表面保護フィルムは「基材部」には含まない。基材部は、例えば第三封止層に積層される。
上記光半導体素子封止用シートは、上述のように、表面処理層(例えば、上記アンチグレア処理層、上記反射防止処理層、上記ハードコート処理層等)等の上記機能層を備えていてもよい。このような構成を有することにより、上記光半導体装置をディスプレイに適用した際において、ディスプレイの光沢や光の反射を抑制し、ディスプレイの見栄えをより良くしたり、ディスプレイ表面の耐傷性を向上させることができる。上記アンチグレア処理層、上記反射防止処理層、および上記ハードコート処理層は、これらのうちの2以上の機能を備える単一層であってもよいし、互いに異なる層であってもよい。上記機能層は上記基材部の表面(特に、上記封止部とは反対側の面)に備えられることが好ましい。上記アンチグレア処理層、反射防止処理層、およびハードコート処理層は、それぞれ、一層のみ有していてもよいし、二層以上を有していてもよい。
<光拡散効果確認試験>
スクリーン上にLEDランプを設置し、ガラス板をLEDランプに密着させてLEDランプからガラス板を介してスクリーン上に光照射した際、上記スクリーン上に直径が16mmとなる円状の光が現れる位置をLEDランプの位置とする。そして、上記光半導体素子封止用シートの封止部(第一封止層)をガラス板に貼り合わせた測定サンプルのガラス板側をLEDランプに密着させた状態で、LEDランプからガラス板および光半導体素子封止用シートを介してスクリーン上に光照射した際に現れる円状の光の直径を測定する。
上記はく離ライナーは、上記光半導体素子封止用シート表面を被覆して保護するための要素であり、光半導体素子が配置された基板に光半導体素子封止用シートを貼り合わせる際には当該シートから剥がされる。
本発明の光半導体素子封止用シートの製造方法の一実施形態について説明する。例えば、図1に示す光半導体素子封止用シート1は、例えば、上述のようにして、それぞれ2枚のはく離ライナーの剥離処理面に挟持された、第一封止層21、第二封止層22、および、第三封止層23を個別に作製する。第一封止層21に貼り合わせられた一方のはく離ライナーははく離ライナー3である。
本発明の光半導体素子封止用シートを用いて光半導体装置を作製することができる。本発明の光半導体素子封止用シートを用いて製造される光半導体装置は、基板と、上記基板上に配置された光半導体素子と、上記封止部により上記光半導体素子を封止する本発明の光半導体素子封止用シートまたは当該シートが硬化した硬化物と、を備える。上記硬化物は、本発明の光半導体素子封止用シートが放射線硬化性樹脂層を備える場合において上記放射線硬化性樹脂層が放射線照射により硬化した硬化物である。
上記光半導体装置は、例えば、基板と、上記基板上に配置された光半導体素子と、上記光半導体素子を封止する、本発明の光半導体素子封止用シートまたは放射線硬化性樹脂層が硬化した硬化物と、を備える積層体をダイシングして光半導体装置を得るダイシング工程とを少なくとも備える製造方法により製造することができる。上記硬化物は、本発明の光半導体素子封止用シートが放射線照射により硬化した硬化物であり、具体的には、本発明の光半導体素子封止用シートが備え得る放射線硬化性樹脂層が放射線照射により硬化した硬化物を備える。
上記封止工程では、本発明の光半導体素子封止用シートを、光半導体素子が配置された基板に貼り合わせ、封止部により光半導体素子を封止する。上記封止工程では、具体的には、図4に示すように、はく離ライナー3を剥離した光半導体素子封止用シート1の第一封止層21を、基板5の光半導体素子6が配置された面に対向するように配置し、光半導体素子封止用シート1を基板5の光半導体素子6が配置された面に貼り合わせ、図5に示すように光半導体素子6を封止部2に埋め込む。
上記放射線照射工程では、上記光半導体素子が配置された上記基板に上記光半導体素子封止用シートが貼り合わせられた積層体(例えば、上記封止工程で得られた積層体)に対し、放射線を照射して、上記放射線硬化性樹脂層を硬化させる。上記放射線としては上述のように、電子線、紫外線、α線、β線、γ線、X線などが挙げられる。中でも、紫外線が好ましい。放射線照射時の温度は、例えば室温から100℃の範囲内であり、照射時間は例えば1分~1時間である。
上記ダイシング工程では、基板と、上記基板上に配置された光半導体素子と、上記光半導体素子を封止する、本発明の光半導体素子封止用シートまたは放射線硬化性樹脂層が硬化した硬化物と、を備える積層体をダイシングする。ここで、上記積層体が上記硬化物を備える場合、ダイシング工程に付す積層体において、光半導体素子封止用シートの硬化物および基板5は、上述のように、最終的に得られる光半導体装置10よりも平面方向に広く延びている。そして、上記ダイシング工程では、光半導体素子封止用シートの硬化物および基板の側端部をダイシングして除去する。具体的には、図6に示す鎖線の位置でダイシングを行い、側端部を除去する。上記ダイシングは、公知乃至慣用の方法により行うことができ、例えば、ダイシングブレードを用いた方法や、レーザー照射により行うことができる。このようにして、例えば図2に示す光半導体装置10を製造することができる。
上記タイリング工程では、上記ダイシング工程で得られた複数の光半導体装置を平面方向に接触するように並べてタイリングする。このようにして、例えば図3に示す光半導体装置20を製造することができる。
(非光拡散層1の作製)
アクリル酸ブチルアクリレート(BA)67質量部、アクリル酸シクロヘキシル(CHA)14質量部、アクリル酸4-ヒドロキシブチル(4HBA)27質量部、アクリル酸2-ヒドロキシエチル(HEA)9質量部、2,2-ジメトキシ-1,2-ジフェニル-1-オン(商品名「omnirad 651」、IGM Resins Italia Srl社製)0.05質量部、および1-ヒドロキシ-シクロヘキシル-フェニル-ケトン(商品名「omnirad 184」、IGM Resins Italia Srl社製)0.05質量部を、4つ口フラスコに投入し、窒素雰囲気下で紫外線に曝露して部分的に光重合することによって、重合率10%の部分重合物(モノマーシロップ)を得た。この部分重合物100質量部に、イソシアネート化合物(商品名「タケネートD-101A」、三井化学株式会社製、固形分75質量%)を固形分換算で0.1質量部添加した後、これらを均一に混合して光重合性組成物を調製した。
(反射防止層1の作製)
アクリル酸ブチルアクリレート(BA)67質量部、アクリル酸シクロヘキシル(CHA)14質量部、アクリル酸4-ヒドロキシブチル(4HBA)27質量部、アクリル酸2-ヒドロキシエチル(HEA)9質量部、2,2-ジメトキシ-1,2-ジフェニル-1-オン(商品名「omnirad 651」、IGM Resins Italia Srl社製)0.05質量部、および1-ヒドロキシ-シクロヘキシル-フェニル-ケトン(商品名「omnirad 184」、IGM Resins Italia Srl社製)0.05質量部を、4つ口フラスコに投入し、窒素雰囲気下で紫外線に曝露して部分的に光重合することによって、重合率10%の部分重合物(モノマーシロップ)を得た。この部分重合物100質量部に、イソシアネート化合物(商品名「タケネートD-101A」、三井化学株式会社製、固形分75質量%)を固形分換算で0.1質量部および黒色顔料分散液(商品名「9050Black」、株式会社トクシキ製)9.2質量部添加した後、これらを均一に混合して光重合性組成物を調製した。
(光拡散層1の作製)
アクリル酸ブチルアクリレート(BA)67質量部、アクリル酸シクロヘキシル(CHA)14質量部、アクリル酸4-ヒドロキシブチル(4HBA)27質量部、アクリル酸2-ヒドロキシエチル(HEA)9質量部、2,2-ジメトキシ-1,2-ジフェニル-1-オン(商品名「omnirad 651」、IGM Resins Italia Srl社製)0.05質量部、および1-ヒドロキシ-シクロヘキシル-フェニル-ケトン(商品名「omnirad 184」、IGM Resins Italia Srl社製)0.05質量部を、4つ口フラスコに投入し、窒素雰囲気下で紫外線に曝露して部分的に光重合することによって、重合率10%の部分重合物(モノマーシロップ)を得た。この部分重合物83質量部に、イソシアネート化合物(商品名「タケネートD-101A」、三井化学株式会社製、固形分75質量%)を固形分換算で1.2質量部、シリコーン樹脂(商品名「トスパール145」、モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・ジャパン社製、屈折率:1.42、平均粒径:4.5μm)を30質量部、3-フェノキシベンジルアクリレート(商品名「ライトアクリレートPOB-A」、共栄社化学株式会社製)を16質量部、および商品名「Omnirad651」を1質量部添加した後、これらを均一に混合して光重合性組成物を調製した。
(光拡散層2の作製)
アクリル酸ブチルアクリレート(BA)67質量部、アクリル酸シクロヘキシル(CHA)14質量部、アクリル酸4-ヒドロキシブチル(4HBA)27質量部、アクリル酸2-ヒドロキシエチル(HEA)9質量部、2,2-ジメトキシ-1,2-ジフェニル-1-オン(商品名「omnirad 651」、IGM Resins Italia Srl社製)0.05質量部、および1-ヒドロキシ-シクロヘキシル-フェニル-ケトン(商品名「omnirad 184」、IGM Resins Italia Srl社製)0.05質量部を、4つ口フラスコに投入し、窒素雰囲気下で紫外線に曝露して部分的に光重合することによって、重合率10%の部分重合物(モノマーシロップ)を得た。この部分重合物83質量部に、イソシアネート化合物(商品名「タケネートD-101A」、三井化学株式会社製、固形分75質量%)を固形分換算で0.08質量部、シリコーン樹脂(商品名「トスパール145」、モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・ジャパン社製、屈折率:1.42、平均粒径:4.5μm)を30質量部、3-フェノキシベンジルアクリレート(商品名「ライトアクリレートPOB-A」、共栄社化学株式会社製)を16質量部、および商品名「Omnirad651」を1質量部添加した後、これらを均一に混合して光重合性組成物を調製した。
(非光拡散層2の作製)
アクリル酸ブチルアクリレート(BA)67質量部、アクリル酸シクロヘキシル(CHA)14質量部、アクリル酸4-ヒドロキシブチル(4HBA)27質量部、アクリル酸2-ヒドロキシエチル(HEA)9質量部、2,2-ジメトキシ-1,2-ジフェニル-1-オン(商品名「omnirad 651」、IGM Resins Italia Srl社製)0.05質量部、および1-ヒドロキシ-シクロヘキシル-フェニル-ケトン(商品名「omnirad 184」、IGM Resins Italia Srl社製)0.05質量部を、4つ口フラスコに投入し、窒素雰囲気下で紫外線に曝露して部分的に光重合することによって、重合率10%の部分重合物(モノマーシロップ)を得た。この部分重合物100質量部に、イソシアネート化合物(商品名「タケネートD-101A」、三井化学株式会社製、固形分75質量%)を固形分換算で1.5質量部添加した後、これらを均一に混合して光重合性組成物を調製した。
(光拡散層3の作製)
アクリル酸ブチルアクリレート(BA)67質量部、アクリル酸シクロヘキシル(CHA)14質量部、アクリル酸4-ヒドロキシブチル(4HBA)27質量部、アクリル酸2-ヒドロキシエチル(HEA)9質量部、2,2-ジメトキシ-1,2-ジフェニル-1-オン(商品名「omnirad 651」、IGM Resins Italia Srl社製)0.05質量部、および1-ヒドロキシ-シクロヘキシル-フェニル-ケトン(商品名「omnirad 184」、IGM Resins Italia Srl社製)0.05質量部を、4つ口フラスコに投入し、窒素雰囲気下で紫外線に曝露して部分的に光重合することによって、重合率10%の部分重合物(モノマーシロップ)を得た。この部分重合物100質量部に、イソシアネート化合物(商品名「タケネートD-101A」、三井化学株式会社製、固形分75質量%)を固形分換算で0.1質量部および酸化チタン(商品名「Tipure R706」、デュポン社製、屈折率:約2.5、平均粒径:0.36μm)3質量部添加した後、これらを均一に混合して光重合性組成物を調製した。
(光拡散層4の作製)
アクリル酸ブチルアクリレート(BA)67質量部、アクリル酸シクロヘキシル(CHA)14質量部、アクリル酸4-ヒドロキシブチル(4HBA)27質量部、アクリル酸2-ヒドロキシエチル(HEA)9質量部、2,2-ジメトキシ-1,2-ジフェニル-1-オン(商品名「omnirad 651」、IGM Resins Italia Srl社製)0.05質量部、および1-ヒドロキシ-シクロヘキシル-フェニル-ケトン(商品名「omnirad 184」、IGM Resins Italia Srl社製)0.05質量部を、4つ口フラスコに投入し、窒素雰囲気下で紫外線に曝露して部分的に光重合することによって、重合率10%の部分重合物(モノマーシロップ)を得た。この部分重合物100質量部に、イソシアネート化合物(商品名「タケネートD-101A」、三井化学株式会社製、固形分75質量%)を固形分換算で1.5質量部および酸化チタン(商品名「Tipure R706」、デュポン社製、屈折率:約2.5、平均粒径:0.36μm)3質量部添加した後、これらを均一に混合して光重合性組成物を調製した。
(光半導体素子封止用シートの作製)
製造例1で得られた光拡散層1からはく離ライナー(商品名「MRF38」)を剥離し、粘着面を露出させた。上記光拡散層1の露出面を基材フィルム(商品名「ダイアホイル T912E75(UE80-)」、三菱ケミカル株式会社製、ポリエチレンテレフタレートフィルムの片面に易接着処理が施されたもの、厚さ75μm)の易接着処理面に貼り合わせ、基材フィルム上に光拡散層1からなる第三封止層を形成した。
次に、第三封止層(光拡散層1)表面からはく離ライナー(商品名「MRA50」)を剥離し、粘着面を露出させた。製造例2で得られた反射防止層1からはく離ライナー(商品名「MRF38」)を剥離して露出させた粘着面を、第三封止層の露出面に貼り合わせ、第三封止層上に反射防止層1からなる第二封止層を形成した。
次に、第二封止層(反射防止層1)表面からはく離ライナー(商品名「MRA50」)を剥離し、粘着面を露出させた。製造例3で得られた非光拡散層1からはく離ライナー(商品名「MRF38」)を剥離して露出させた粘着面を、第二封止層の露出面に貼り合わせ、第二封止層上に非光拡散層1からなる第一封止層を形成した。
そして、室温(23℃)においてハンドローラーで気泡が入らないように貼り合わせ、遮光下で二日間放置した。このようにして、[はく離ライナー/非光拡散層1/反射防止層1/光拡散層1/基材フィルム]からなる光半導体素子封止用シートを得た。
(光半導体素子封止用シートの作製)
第一封止層、第二封止層、および第三封止層として、表に示す層を形成したこと以外は実施例1と同様にして光半導体素子封止用シートを得た。
実施例および比較例で得られた光半導体素子封止用シート、およびこれらの光半導体素子封止用シートの基材フィルム表面に機能層としての防眩処理層を設けたシートについて、以下の評価を行った。結果を表に示す。表中、「シート全体(防眩処理層なし)」は実施例および比較例で得られた光半導体素子封止用シートを示し、「シート全体(防眩処理層あり)」は基材フィルム表面に防眩処理が施された光半導体素子封止用シートを示す。
防眩処理層形成材料に含まれる樹脂として、紫外線硬化型多官能アクリレート樹脂(商品名「UA-53H」、新中村化学工業株式会社製)40質量部、およびペンタエリスリトールトリアクリレートを主成分とする多官能アクリレート(商品名「ビスコート#300」大阪有機化学工業株式会社製)60質量部を準備した。上記樹脂の樹脂合計固形分100質量部あたり、防眩処理層形成粒子としてアクリルとスチレンの共重合粒子(商品名「テクポリマーSSX-103DXE」、積水化成品工業株式会社製)を7.0質量部、シリコーン樹脂(商品名「TOSPEARL130」、モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・ジャパン社製)を3質量部、チキソトロピー付与剤として合成スメクタイト(商品名「スメクトンSAN」、クニミネ工業株式会社製)を2.5質量部、光重合開始剤(商品名「OMNIRAD907」、BASF社製)を3質量部、およびレベリング剤(商品名「GRANDIC PC4100」、DIC株式会社製)を0.15質量部混合した。この混合物を固形分濃度が40質量%となるように、トルエン/シクロペンタノン混合溶媒(質量比80/20)で希釈して、防眩処理層形成材料(塗工液)を調製した。
実施例および比較例で使用した各粘着層(2枚のはく離ライナーの挟持された形態)から片側のはく離ライナーを剥離し、露出した各粘着層表面をガラス板(スライドグラス、品番「S-9112」、松浪硝子工業株式会社製)に貼り合わせた。そして、他方のはく離ライナーを剥がし[ガラス板/粘着層]の層構成を有する測定サンプルを作製した。上記測定サンプルについて、ヘーズメータ(装置名「HM-150」、株式会社村上色彩技術研究所製)により、全光線透過率を測定した。粘着層側から測定光を入射し、測定を行った。
上記(1)全光線透過率を測定するために作製した測定サンプルについて、ヘーズメータ(装置名「HM-150」、株式会社村上色彩技術研究所製)により、全光線透過率および拡散透過率を測定した。そして、測定サンプルのヘイズ値を、「拡散透過率/全光線透過率×100」の式により求め、初期ヘイズ値とした。
光半導体素子封止用シートからはく離ライナーを剥離し、露出した粘着層面をガラス板(スライドグラス、品番「S-9112」、松浪硝子工業株式会社製)に貼り合わせて測定サンプルを作製した。上記測定サンプルについて、ヘーズメータ(装置名「HM-150」、株式会社村上色彩技術研究所製)により、全光線透過率を測定した。基材フィルム側(第一面側)から測定光を入射し、測定を行った。
上記(3)全光線透過率を測定するために作製した測定サンプルについて、ヘーズメータ(装置名「HM-150」、株式会社村上色彩技術研究所製)により、全光線透過率および拡散透過率を測定した。そして、測定サンプルのヘイズ値を、「拡散透過率/全光線透過率×100」の式により求め、ヘイズ値とした。基材フィルム側(第一面側)から測定光を入射し、測定を行った。
光半導体素子封止用シートを基材フィルム側が表を向くように黒板(アクリル製、黒色、サイズ:45mm×50mm×1mm、水ノ上災害防具株式会社製)の平らな面に静置させた。そして、基材フィルム側(第一面側)から分光測色計(商品名「CM-26dG」、コニカミノルタ株式会社製)でL*(SCE)、a*(SCE)、およびb*(SCE)の測定を行った。また、光半導体素子封止用シートをはく離ライナー面が表を向くように黒板の平らな面に静置させた。そして、はく離ライナー面側(第二面側)から分光測色計(商品名「CM-26dG」、コニカミノルタ株式会社製)でL*(SCE)、a*(SCE)、およびb*(SCE)の測定を行った。なお、測色計の測定域が測定サンプルの中央に来るように設置し、下記条件で測定した。また、上記分光測色計で測定を行う前には、ゼロ点校正、白色校正、GROSS校正をメーカーマニュアルに従い実施した。なお、封止部に貼り合わせられているはく離ライナーのヘイズ値は10.2%、全光線透過率は91.2%である。
<測定条件>
測定方法:色&光沢
ジオメトリー: di:8°、de:8°
正反射光処理:SCI+SCE
観察光源:D65
観察条件:10°視野
測定径:MAV(8mm)
UV条件:100%Full
自動平均測定:3回
ゼロ校正スキップ:有効
光半導体素子封止用シートから封止部に貼り合わせられたはく離ライナーを剥離し、黒板(アクリル製、黒色、サイズ:45mm×50mm×1mm、水ノ上災害防具株式会社製)に露出した封止部を貼り合わせ、ハンドローラーを用いて基材フィルム上を片道1回、気泡が入らないように加圧し、封止部を黒板に密着させた。そして、上記基材フィルム側が表を向くように黒板の平らな面に静置させた。そして、基材フィルム側(第一面側)から分光測色計(商品名「CM-26dG」、コニカミノルタ株式会社製)でL*(SCE)、a*(SCE)、およびb*(SCE)の測定を行った。また、光半導体素子封止用シートから封止部に貼り合わせられたはく離ライナーを剥離し、露出した封止部面側が表を向くように黒板の平らな面に静置させた。そして、封止部面側(第二面側)から分光測色計(商品名「CM-26dG」、コニカミノルタ株式会社製)でL*(SCE)、a*(SCE)、およびb*(SCE)の測定を行った。なお、測色計の測定域が測定サンプルの中央に来るように設置し、上記(5)の評価と同条件で測定した。また、上記分光測色計で測定を行う前には、ゼロ点校正、白色校正、GROSS校正をメーカーマニュアルに従い実施した。
光半導体素子封止用シートのはく離ライナーを剥離し、ハンドローラーを用いて気泡が入らないようにガラス板(スライドガラス、品番「S-9112」、松浪硝子工業株式会社製、76mm×52mm×1.0~1.2mm)に貼り合わせた。貼り合わせた後、25℃で30分間遮光下で放置した。貼り付けた光半導体素子封止用シートのサイズはガラス板と同様のサイズとなるように適当にカットし、測定サンプルを作製した。スクリーンの上部に高さが2.4cmになるようにLEDランプ(商品名「LK-3PG」、株式会社イーケイジャパン製)を設置した。LEDランプに得られた測定サンプルのガラス板側を密着させた。LEDランプに電池ボックス(商品名「AP-180」、株式会社イーケイジャパン製)を繋いでLEDランプを点灯させ、スクリーンに映し出された円状の映像の直径を測定した。光半導体素子封止用シートなしでガラス板のみで測定した場合、スクリーンに映った光の直径は、16mmであった。光半導体素子封止用シートを介して測定した際、光径が20mm以上となった場合に、光拡散効果があると判断した。
上記評価(3)および(6)(防眩処理層あり)の結果に基づき、光取り出し効率および光拡散効果として、以下の基準に基づき判定した。そして、総合判定として、防眩処理層を備える光半導体封止用シートについて、光取り出し効率が○または△であり且つ光拡散効果が○の場合を○、1つでも×である場合を×とした。
光取り出し効率:全光線透過率が3%以上の場合を○、全光線透過率が2%以上3%未満の場合を△、全光線透過率が2%未満の場合を×とする。
光拡散効果:20mm以上の場合を○、20mm未満の場合を×とする。
2 封止部
21 第一封止層
22 第二封止層
23 第三封止層
3 はく離ライナー
4 基材部
41 基材フィルム
42 機能層
5 基板
6 光半導体素子
10,20 光半導体装置
Claims (8)
- 基板上に配置された1以上の光半導体素子を封止するためのシートであって、
前記シートは、光拡散層と反射防止層とを有する封止部を備え、
前記封止部は、前記光半導体素子に接触する第一封止層と、前記第一封止層に積層された第二封止層と、前記第二封止層に積層された第三封止層とを備え、
前記第一封止層、前記第二封止層、および前記第三封止層のうち、少なくとも一層が前記反射防止層であり、他の少なくとも一層が前記光拡散層であり、
前記光拡散層は、シリコーン樹脂で構成される光拡散剤を含み、
前記反射防止層は粘着性および/または接着性を有しており、
前記シートの前記光半導体素子と接触する面とは反対側の表面に機能層を備えていてもよく、
前記シートが前記機能層を備えない場合は別途、前記シートの前記光半導体素子と接触する面とは反対側の表面に前記機能層を積層した状態において、前記機能層側から10°視野、光源D65の条件で測定した際のL*a*b*(SCE)におけるL*(SCE)、a*(SCE)、b*(SCE)をそれぞれL* 1、a* 1、b* 1とし、前記シート側から10°視野、光源D65の条件で測定した際のL*a*b*(SCE)におけるL*(SCE)、a*(SCE)、b*(SCE)をそれぞれL* 2、a* 2、b* 2としたとき、前記L* 1、a* 1、b* 1、L* 2、a* 2、およびb* 2はそれぞれ下記式(1)~(3)を満たす値であり、
前記機能層はアンチグレア処理層、反射防止処理層、およびハードコート処理層の少なくとも一層を含む、光半導体素子封止用シート。
-5<L* 1-L* 2<5 (1)
-5<a* 1-a* 2<5 (2)
-5<b* 1-b* 2<5 (3) - 前記シートの片面に前記機能層を積層した状態の前記機能層側から測定される全光線透過率は2~30%である、請求項1に記載の光半導体素子封止用シート。
- 前記封止部は、前記光拡散層と、前記反射防止層と、前記光拡散層または光拡散機能を発揮することを目的としない無色透明層とをこの順に有する、請求項1または2に記載の光半導体素子封止用シート。
- 前記光拡散剤は屈折率1.4~1.7である、請求項1~3のいずれか1項に記載の光半導体素子封止用シート。
- 前記機能層は表面処理層を含む請求項1~4のいずれか1項に記載の光半導体素子封止用シート。
- 基板と、前記基板上に配置された光半導体素子と、前記封止部により前記光半導体素子を封止する、請求項1~5のいずれか1項に記載の光半導体素子封止用シートと、を備える光半導体装置。
- 自発光型表示装置である請求項6に記載の光半導体装置。
- 請求項7に記載の自発光型表示装置を備える画像表示装置。
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