JP7206950B2 - Optical scanning device and control method for optical scanning device - Google Patents
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Description
本発明は、光走査装置及び光走査装置の制御方法に関し、特に、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)ミラーの制御に関する。 The present invention relates to an optical scanning device and a method of controlling the optical scanning device, and more particularly to control of MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) mirrors.
現在、MEMSミラーを有する光走査装置が開発されている。MEMSミラーは、光走査等値の外部から照射された光を反射する。MEMSミラーの角度を調節することで、光を所望の方向に反射することができる。 Optical scanning devices with MEMS mirrors are currently being developed. The MEMS mirror reflects light emitted from outside the optical scanning isometry. Light can be reflected in a desired direction by adjusting the angle of the MEMS mirror.
特許文献1には、MEMSミラーの一例について記載されている。MEMSミラーは、可動板及びトーションバーを有している。可動板は、トーションバーによって支持されている。トーションバーには、ピエゾ抵抗が一体的に形成されている。ピエゾ抵抗は、トーションバーのねじれに応じた電圧を発生させ、これによって、可動板の角度の検出が可能になる。さらに、ピエゾ抵抗は、バイアス電流によって発熱し、これによって、可動板及びトーションバーによって構成される振動子の共振周波数の調整が可能になる。 Patent Literature 1 describes an example of a MEMS mirror. A MEMS mirror has a movable plate and a torsion bar. The movable plate is supported by torsion bars. A piezoresistor is integrally formed with the torsion bar. The piezoresistors generate a voltage according to the twist of the torsion bar, which makes it possible to detect the angle of the movable plate. Furthermore, the piezoresistors generate heat due to the bias current, which allows adjustment of the resonance frequency of the vibrator composed of the movable plate and the torsion bar.
特許文献2には、MEMSミラーの一例について記載されている。MEMSミラーは、支持体、走査体、第1センサ及び第2センサを有している。走査体は、支持体によって支持されている。第1センサは、走査体が走査体の振動において第1位置を通過する時間を検出し、第2センサは、走査体が走査体の振動において第2位置を通過する時間を検出する。このMEMSミラーでは、走査体が第1位置を通過した時間及び走査体が第2位置を通過した時間の差から、走査体の振動の振幅を算出することができる。
特許文献3には、MEMSミラーとは異なるMEMS素子について記載されている。特許文献3には、可動基板及び固定基板の間のギャップを変更するためのMEMS素子について記載されている。MEMS素子は、静電アクチュエータを有している。静電アクチュエータは、可動基板に形成された可動電極及び固定基板に形成された固定電極の間の静電引力によって、可動基板及び固定基板の間のギャップを変更する。 Patent Document 3 describes a MEMS element different from the MEMS mirror. US Pat. No. 5,300,004 describes a MEMS element for changing the gap between a movable substrate and a fixed substrate. A MEMS element has an electrostatic actuator. The electrostatic actuator changes the gap between the movable substrate and the fixed substrate by electrostatic attraction between the movable electrode formed on the movable substrate and the fixed electrode formed on the fixed substrate.
本発明者は、MEMSミラーにおける振動の振幅を制御するための方法を検討した。 The inventors have investigated methods for controlling the amplitude of vibration in MEMS mirrors.
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、MEMSミラーにおける振動の振幅を新規な方法によって制御することにある。 SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to control the amplitude of vibration in a MEMS mirror by a novel method.
本発明に係る光走査装置は、可動電極、固定電極、直流電圧印加部、矩形波電圧印加部及び制御部を含んでいる。固定電極は、可動電極に対向して配置されている。直流電圧印加部は、可動電極及び固定電極のうちの一方に直流電圧を印加する。矩形波電圧印加部は、可動電極及び固定電極のうちのもう一方に矩形波電圧を印加する。制御部は、矩形波電圧印加部から印加される矩形波電圧のデューティ比を制御する。 An optical scanning device according to the present invention includes a movable electrode, a fixed electrode, a DC voltage application section, a rectangular wave voltage application section, and a control section. The fixed electrode is arranged to face the movable electrode. The DC voltage applying section applies a DC voltage to one of the movable electrode and the fixed electrode. The rectangular wave voltage applying section applies a rectangular wave voltage to the other of the movable electrode and the fixed electrode. The control section controls the duty ratio of the rectangular wave voltage applied from the rectangular wave voltage applying section.
本発明に係る光走査装置の制御方法によれば、可動電極及び固定電極のうちの一方に直流電圧印加部から直流電圧を印加し、可動電極及び固定電極のうちのもう一方に矩形波電圧印加部から矩形波電圧を印加し、矩形波電圧印加部から印加される矩形波電圧のデューティ比を制御部によって制御する。 According to the control method of the optical scanning device according to the present invention, a DC voltage is applied from the DC voltage application unit to one of the movable electrode and the fixed electrode, and a rectangular wave voltage is applied to the other of the movable electrode and the fixed electrode. A rectangular wave voltage is applied from the section, and the duty ratio of the rectangular wave voltage applied from the rectangular wave voltage applying section is controlled by the control section.
本発明によれば、MEMSミラーにおける振動の振幅を新規な方法によって制御することができる。 According to the present invention, the amplitude of vibration in MEMS mirrors can be controlled in a novel way.
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。 BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In addition, in all the drawings, the same constituent elements are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted as appropriate.
図1は、実施形態に係る光走査装置20を示している。
FIG. 1 shows an
図1を用いて、光走査装置20の概要を説明する。光走査装置20は、可動電極120、固定電極140、直流電圧印加部210、矩形波電圧印加部220及び制御部240を含んでいる。固定電極140は、可動電極120に対向して配置されている。直流電圧印加部210は、可動電極120及び固定電極140のうちの一方に直流電圧を印加する。図1に示す例では、直流電圧印加部210は、可動電極120に直流電圧を印加する。矩形波電圧印加部220は、可動電極120及び固定電極140のうちのもう一方に矩形波電圧を印加する。図1に示す例では、矩形波電圧印加部220は、固定電極140に矩形波電圧を印加する。制御部240は、矩形波電圧印加部220から印加される矩形波電圧のデューティ比を制御する。
An overview of the
本実施形態によれば、可動電極120における振動の振幅を、矩形波電圧のデューティ比によって制御することができる。詳細を後述するように、本発明者は、矩形波のデューティ比及び可動電極120における振動の振幅の関係を新規に見出した。本実施形態においては、制御部240は、矩形波電圧のデューティ比、すなわち、可動電極120における振動の振幅を制御することができる。
According to this embodiment, the amplitude of vibration in the
図1に示す例において、光走査装置20は、検出電極150及びチャージアンプ230をさらに含んでいる。検出電極150は、可動電極120に対向して配置されている。チャージアンプ230は、可動電極120及び検出電極150の間の静電容量を電圧に変換する。制御部240は、チャージアンプ230からの出力電圧に応じて、デューティ比を制御する。
In the example shown in FIG. 1, the
本実施形態によれば、チャージアンプ230の利得を一定に保ちつつ、可動電極120における振動の振幅を制御することができる。詳細を後述するように、本発明者は、矩形波電圧印加部220から印加される矩形波電圧のデューティ比を、チャージアンプ230の利得を変動させずに調節可能であることを新規に見出した。本実施形態においては、制御部240は、チャージアンプ230の利得を変動させずに、デューティ比を制御することができる。
According to this embodiment, the amplitude of vibration in the
図1を用いて、光走査装置20の詳細を説明する。
Details of the
光走査装置20は、光走査本体10、直流電圧印加部210、矩形波電圧印加部220、制御部240及びチャージアンプ230を含んでいる。
The
光走査本体10は、枠体110、可動電極120、軸部材130、固定電極140及び検出電極150を含んでいる。
The optical scanning
可動電極120は、反射層(例えば、金属層、具体的には、例えば、アルミニウム層)が形成された反射面を有している。光走査装置20の外部から照射された光は、可動電極120の反射面によって反射される。可動電極120の角度を調節することで、光を所望の方向に向けて反射することができる。
The
可動電極120は、2つの軸部材130によって枠体110に取り付けられている。2つの軸部材130のうちの一方は、可動電極120のうちの対向する2辺のうちの一方に接続されており、2つの軸部材130のうちのもう一方は、可動電極120のうちの対向する2辺のうちのもう一方に接続されている。軸部材130は、可動電極120の回転軸として機能する。
The
可動電極120は、軸部材130が接続された2辺の間にあって櫛歯電極が形成された一辺及び軸部材130が接続された2辺の間にあって櫛歯電極が形成された他の一辺を有している。
The
固定電極140は、櫛歯電極を有している。固定電極140は、固定電極140の櫛歯電極及び可動電極120の櫛歯電極の間に隙間が形成されるように、可動電極120に対向している。図1に示す例では、一の固定電極140が可動電極120の一の櫛歯電極に対向しており、他の一の固定電極140が可動電極120の他の一の櫛歯電極に対向している。可動電極120及び固定電極140間の電圧によって発生する静電力によって、可動電極120は振動する。
The fixed
検出電極150は、櫛歯電極を有している。検出電極150は、検出電極150の櫛歯電極及び可動電極120の櫛歯電極の間に隙間が形成されるように、可動電極120に対向している。図1に示す例では、一の固定電極140を挟んで並ぶ2つの検出電極150が可動電極120の一の櫛歯電極に対向しており、他の一の固定電極140を挟んで並ぶ他の2つの検出電極150が可動電極120の他の一の櫛歯電極に対向している。可動電極120及び検出電極150の間の静電容量は、可動電極120の振動に応じて変動する。したがって、可動電極120及び検出電極150の間の静電容量を検出することで、可動電極120の角度を検出することができる。検出電極150のレイアウトは、図1に示す例に限定されない。例えば、1又は複数の検出電極150が可動電極120の2つの櫛歯電極のうちの一方のみに配置されていてもよい。
The
図1に示す例において、光走査本体10は、導電性材料、例えば、シリコン基板を選択的にエッチングすることで、形成することができる。
In the example shown in FIG. 1, the
直流電圧印加部210は、枠体110に電気的に接続されている。直流電圧印加部210からの直流電圧は、枠体110及び軸部材130を介して、可動電極120に印加される。直流電圧印加部210は、例えば、直流電圧源にすることができる。
DC
矩形波電圧印加部220は、固定電極140に電気的に接続されている。矩形波電圧印加部220からの矩形波電圧は、固定電極140に印加される。矩形波電圧印加部220は、例えば、ファンクションジェネレータにすることができる。
The rectangular wave
チャージアンプ230は、検出電極150に電気的に接続されている。チャージアンプ230は、可動電極120及び検出電極150の間の静電容量を電圧に変換する容量電圧変換器として機能することができる。
チャージアンプ230は、オペアンプ232、抵抗器234及びキャパシタ236を含んでいる。チャージアンプ230の非反転入力端子は、接地されている。チャージアンプ230の反転入力端子は、検出電極150に電気的に接続されている。抵抗器234及びキャパシタ236は、オペアンプ232の出力端子及び反転入力端子の間で並列に接続されている。
制御部240は、チャージアンプ230からの出力電圧に応じて、矩形波電圧印加部220から印加される矩形波電圧のデューティ比を制御する。制御部240は、チャージアンプ230からの出力電圧から、可動電極120が所望の振幅で振動しているかを判断することができる。可動電極120の振幅が種々の要因(例えば、外乱)によって所望の振幅からずれている場合、制御部240は、デューティ比を制御して、可動電極120における振動の振幅を制御することができる。制御部240は、例えば、コンピュータ(例えば、パーソナルコンピュータ又はマイクロコンピュータ)にすることができる。
可動電極120及び検出電極150の間の静電容量CMが角周波数ωで振動する場合、チャージアンプ230からの出力電圧Vchは、以下の式によって表される。
Rf:抵抗器234の抵抗
Cf:キャパシタ236の静電容量
j:虚数単位
チャージアンプ230の利得Gは、以下の式によって表される。
式(1)~(3)から明らかなように、可動電極120及び検出電極150の間の静電容量CMは、チャージアンプ230からの出力電圧Vchから算出することができる。つまり、可動電極120の角度は、チャージアンプ230からの出力電圧Vchから算出することができる。
As is clear from equations (1) to (3), the capacitance CM between the movable electrode 120 and the detection electrode 150 can be calculated from the output voltage Vch from the
本実施形態によれば、チャージアンプ230の利得Gを一定に保ちつつ、可動電極120における振動の振幅を制御することができる。その理由は、以下のとおりである。
According to this embodiment, the amplitude of vibration in the
矩形波電圧印加部220によって印加される矩形波電圧VACは、以下の式によって表される。
Vp:矩形波電圧VACのピーク電圧
The rectangular wave voltage VAC applied by the rectangular wave
矩形波電圧VACは、直流電圧成分(式(4)の下段の右辺の第1項)、交流電圧の基本波成分(式(4)の下段の右辺の第2項)及び交流電圧の高周波成分(式(4)の下段の右辺の第3項及びそれ以降の項)を含んでいる。高周波成分は、可動電極120の振動にほとんど影響しない。矩形波電圧VACの直流電圧成分VM及び基本波ピーク電圧VNは、以下の式によって表される。
図2(a)は、可動電極120及び固定電極140の間の直流電圧差ΔE及び可動電極120の振幅の関係の一例を示すグラフであり、図2(b)は、矩形波電圧印加部220によって印加される矩形波電圧VACの基本波ピーク電圧VN及び可動電極120の振幅の関係の一例を示すグラフである。
2A is a graph showing an example of the relationship between the DC voltage difference ΔE between the
図2(a)において、直流電圧差ΔEは、直流電圧印加部210によって印加される直流電圧VB及び矩形波電圧印加部220によって印加される矩形波電圧VACの直流電圧成分VMによって決定される。
In FIG. 2(a), the DC voltage difference ΔE is determined by the DC voltage component V M of the DC voltage VB applied by the DC
図2(a)に示すように、可動電極120の振幅は、直流電圧差ΔEが大きくなるほど大きくなる。式(5)より、制御部240は、デューティ比Dを制御することで、直流電圧差ΔE(直流電圧成分VM)を制御することができる。
As shown in FIG. 2A, the amplitude of the
図2(b)に示すように、可動電極120の振幅は、基本波ピーク電圧VNが大きくなるほど大きくなる。式(6)より、制御部240は、デューティ比Dを制御することで、基本波ピーク電圧VNを制御することができる。
As shown in FIG. 2B, the amplitude of the
図3(a)は、直流電圧印加部210によって印加される直流電圧VBが20Vであり、かつ矩形波電圧印加部220によって印加される矩形波電圧VACのピーク電圧Vpが20Vである場合における、デューティ比D、直流電圧差ΔE及び基本波ピーク電圧VNの関係を示すグラフであり、図3(b)は、直流電圧印加部210によって印加される直流電圧VBが-20Vであり、かつ矩形波電圧印加部220によって印加される矩形波電圧VACのピーク電圧Vpが20Vである場合における、デューティ比D、直流電圧差ΔE及び基本波ピーク電圧VNの関係を示すグラフである。
In FIG. 3A, the DC voltage VB applied by the DC
図3(a)に示すように、直流電圧VBが20V、すなわち、正電圧であるとき、直流電圧差ΔEは、デューティ比Dが大きくなるほど小さくなり、基本波ピーク電圧VNは、デューティ比0.5において最大値をとり、デューティ比0.5から離れるほど小さくなる。 As shown in FIG. 3A, when the DC voltage VB is 20 V, that is, a positive voltage, the DC voltage difference ΔE decreases as the duty ratio D increases, and the fundamental wave peak voltage VN It takes a maximum value at a duty ratio of 0.5, and decreases as the duty ratio departs from 0.5.
図3(a)より、制御部240は、直流電圧印加部210によって印加される直流電圧VBが正電圧であるとき、デューティ比Dを0.5以上1未満の範囲に制御してもよい。デューティ比Dが0.5以上1未満の範囲においては、直流電圧差ΔE及び基本波ピーク電圧VNの双方とも、デューティ比Dが増加するほど減少する。つまり、この範囲においては、直流電圧差ΔE及び基本波ピーク電圧VNの双方とも、デューティ比Dが増加するほど、可動電極120の振幅が減少するように変化する(図2(a)及び図2(b)参照)。したがって、可動電極120の振幅の制御が容易となる。
3A, when the DC voltage VB applied by the DC
図3(b)に示すように、直流電圧VBが-20V、すなわち、負電圧であるとき、直流電圧差ΔEは、デューティ比Dが大きくなるほど大きくなり、基本波ピーク電圧VNは、デューティ比0.5において最大値をとり、デューティ比0.5から離れるほど小さくなる。 As shown in FIG. 3( b ), when the DC voltage VB is −20 V, that is, a negative voltage, the DC voltage difference ΔE increases as the duty ratio D increases, and the fundamental wave peak voltage VN increases as the duty ratio D increases. It takes a maximum value at a duty ratio of 0.5, and decreases as the duty ratio departs from 0.5.
図3(b)より、制御部240は、直流電圧印加部210によって印加される直流電圧VBが負電圧であるとき、デューティ比Dを0超0.5以下の範囲に制御してもよい。デューティ比Dが0超0.5以下の範囲においては、直流電圧差ΔE及び基本波ピーク電圧VNの双方とも、デューティ比Dが減少するほど減少する。つまり、この範囲においては、直流電圧差ΔE及び基本波ピーク電圧VNの双方とも、デューティ比Dが減少するほど、可動電極120の振幅が減少するように変化する(図2(a)及び図2(b)参照)。したがって、可動電極120の振幅の制御が容易となる。
From FIG. 3B, when the DC voltage VB applied by the DC
本実施形態によれば、制御部240は、チャージアンプ230の利得Gに影響を与えないデューティ比D(式(3)参照)を制御することで、可動電極120における振動の振幅を制御することができる。例えば、可動電極120における振動の振幅を制御するため、直流電圧印加部210によって印加される直流電圧VBを変動させる場合、利得Gも変動する(式(3)参照)。これに対して、本実施形態においては、直流電圧VBを変動させることなく、可動電極120における振動の振幅を制御することができる。
According to this embodiment, the
さらに、本実施形態によれば、デューティ比Dの制御という簡易な制御によって、可動電極120における振動の振幅を制御することができる。例えば、可動電極120における振動の振幅を制御するため、矩形波電圧印加部220に代えて正弦波電圧印加部を用いて、正弦波電圧印加部から印加される正弦波電圧を変動させる場合、複雑な回路が必要になる。これに対して、本実施形態においては、複雑な回路を用いることなく、可動電極120における振動の振幅を制御することができる。
Furthermore, according to the present embodiment, the amplitude of vibration in the
図4は、図1の第1の変形例を示している。図4に示す例は、以下の点を除いて、図1に示した例と同様である。 FIG. 4 shows a first variant of FIG. The example shown in FIG. 4 is similar to the example shown in FIG. 1, except for the following points.
光走査装置20は、図1に示した検出電極150及びチャージアンプ230を含まなくてもよい。制御部240は、可動電極120及び検出電極150(図1)の間の静電容量とは異なる特性(例えば、可動電極120によって反射された光の方向)の検出に応じて、矩形波電圧印加部220によって印加される矩形波電圧のデューティ比を制御してもよい。この場合においても、図1に示した例と同様にして、可動電極120の振動の振幅を、矩形波電圧のデューティ比によって制御することができる。
The
図5は、図1の第2の変形例を示している。図5に示す例は、以下の点を除いて、図4に示した例と同様である。 FIG. 5 shows a second variant of FIG. The example shown in FIG. 5 is similar to the example shown in FIG. 4, except for the following points.
直流電圧印加部210は、固定電極140に直流電圧を印加してもよく、矩形波電圧印加部220は、可動電極120に矩形波電圧を印加してもよい。この場合においても、図1に示した例と同様にして、可動電極120の振動の振幅を、矩形波電圧のデューティ比によって制御することができる。
The DC
以上、図面を参照して本発明の実施形態について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。 Although the embodiments of the present invention have been described above with reference to the drawings, these are examples of the present invention, and various configurations other than those described above can also be adopted.
10 光走査本体
20 光走査装置
110 枠体
120 可動電極
130 軸部材
140 固定電極
150 検出電極
210 直流電圧印加部
220 矩形波電圧印加部
230 チャージアンプ
232 オペアンプ
234 抵抗器
236 キャパシタ
240 制御部
10 Optical scanning
Claims (3)
前記可動電極に対向して配置されている固定電極と、
前記可動電極及び前記固定電極のうちの一方に直流電圧を印加するための直流電圧印加部と、
前記可動電極及び前記固定電極のうちのもう一方に矩形波電圧を印加するための矩形波電圧印加部と、
前記直流電圧が正電圧である場合、前記矩形波電圧のデューティ比を0.5以上1未満の範囲に制御し、前記直流電圧が負電圧である場合、前記矩形波電圧のデューティ比を0超0.5以下の範囲に制御して、制御された前記デューティ比によって前記可動電極における振動の振幅を制御する制御部と、
を含む光走査装置。 a movable electrode;
a fixed electrode arranged to face the movable electrode;
a DC voltage applying unit for applying a DC voltage to one of the movable electrode and the fixed electrode;
a rectangular wave voltage applying unit for applying a rectangular wave voltage to the other of the movable electrode and the fixed electrode;
When the DC voltage is a positive voltage, the duty ratio of the rectangular wave voltage is controlled in the range of 0.5 or more and less than 1, and when the DC voltage is a negative voltage, the duty ratio of the rectangular wave voltage is set to more than 0. a control unit that controls the amplitude of the vibration in the movable electrode by controlling the amplitude in the range of 0.5 or less and using the controlled duty ratio ;
an optical scanning device comprising:
前記可動電極に対向して配置されている検出電極と、
前記可動電極及び前記検出電極の間の静電容量を電圧に変換するためのチャージアンプと、
をさらに含み、
前記直流電圧印加部は、前記可動電極に前記直流電圧を印加し、
前記矩形波電圧印加部は、前記固定電極に前記矩形波電圧を印加する、光走査装置。 The optical scanning device according to claim 1, wherein
a detection electrode arranged to face the movable electrode;
a charge amplifier for converting the capacitance between the movable electrode and the detection electrode into a voltage;
further comprising
The DC voltage application unit applies the DC voltage to the movable electrode,
The optical scanning device, wherein the rectangular wave voltage applying section applies the rectangular wave voltage to the fixed electrode.
前記直流電圧が正電圧である場合、前記矩形波電圧のデューティ比を制御部によって0.5以上1未満の範囲に制御し、前記直流電圧が負電圧である場合、前記矩形波電圧のデューティ比を前記制御部によって0超0.5以下の範囲に制御して、制御された前記デューティ比によって前記可動電極における振動の振幅を前記制御部によって制御することと、
を含む、光走査装置の制御方法。 A DC voltage applying section applies a DC voltage to one of a movable electrode and a fixed electrode arranged to face the movable electrode, and a rectangular wave voltage applying section applies a DC voltage to the other of the movable electrode and the fixed electrode. applying a square wave voltage from
When the DC voltage is a positive voltage, the control unit controls the duty ratio of the rectangular wave voltage to a range of 0.5 or more and less than 1, and when the DC voltage is a negative voltage, the duty ratio of the rectangular wave voltage. is controlled by the control unit to a range of more than 0 and 0.5 or less, and the control unit controls the amplitude of vibration in the movable electrode according to the controlled duty ratio ;
A method of controlling an optical scanning device, comprising:
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