JP7242191B2 - Ｘ線診断装置 - Google Patents

Description

本発明の実施形態は、Ｘ線診断装置に関する。

Ｘ線循環器診断装置において、線量低減の機能として関心領域（Ｒｅｇｉｏｎ ｏｆ Ｉｎｔｅｒｅｓｔ：以下、ＲＯＩと呼ぶ）の周辺部に設けられたＸ線フィルタを用いて、リアルタイム画像を提供する透視（以下、ＲＯＩ透視と呼ぶ）がある。このような透視では、Ｘ線フィルタによる線量の減弱度合いが１／１０であって、Ｘ線照射範囲の全領域に対するＲＯＩの割合が１／９の場合、ＲＯＩ透視によるＸ線の線量は、Ｘ線フィルタなしでＸ線照射範囲の全領域にＸ線を照射する場合に比べて、１／５（＝１／９×１＋１／９×１／１０×８）に低減される。一方、Ｘ線循環器診断装置において、Ｘ線照射範囲の全領域に対して非関心領域に対応する範囲を絞り羽根で限定して、リアルタイム画像を提供する透視（以下、ＳＰＯＴ透視と呼ぶ）がある。

ＳＰＯＴ透視によるＸ線の線量は、Ｘ線フィルタなしでＸ線照射範囲の全領域にＸ線を照射する場合に比べて、１／９（＝１／９×１＋１／９×０）に低減される。すなわち、ＲＯＩ透視によるＸ線の線量低減は、ＳＰＯＴ透視によるＸ線の線量低減に比べて、線量の低減度合は半分程度である。ＳＰＯＴ透視は、ＲＯＩ透視より線量低減の優位性があるが、ＲＯＩ周辺部の画像情報を有していない。

特開２００７－１５９９１３号公報 特開２０１５－１９８７８３号公報 特開２００６－２８８５５４号公報 特開２００５－２７８２３号公報 特開２０１３－９０９１２号公報 特開平１０－２３４７１４号公報

目的は、ＳＰＯＴ透視の実行時において、ＳＰＯＴ透視に相当する線量低減を行いつつ、ＲＯＩ周辺部の画像を表示可能なＸ線診断装置を提供することにある。

本実施形態に係るＸ線診断装置によれば、Ｘ線検出器と、Ｘ線絞り装置と、制御部と、画像発生部と、表示制御部と、を具備する。
前記Ｘ線検出器は、Ｘ線を発生するＸ線管に対向し、前記Ｘ線を検出する。
前記Ｘ線絞り装置は、他の領域よりもＸ線の透過率が大きい部分領域または開口領域を有するＸ線フィルタと前記Ｘ線を遮蔽する絞り羽根とを有する。
前記制御部は、前記Ｘ線フィルタを用いた第１透視から、照射範囲を限定するために前記絞り羽根を用いた第２透視への移行時において、前記Ｘ線フィルタの前記開口領域又は前記部分領域外を通過する前記Ｘ線を遮蔽するように前記Ｘ線絞り装置を制御する。
前記画像発生部は、前記第１透視の実行中における前記Ｘ線検出器からの出力に基づいて第１透視画像を発生し、前記第２透視の実行中における前記Ｘ線検出器からの出力に基づいて第２透視画像を発生し、前記第２透視の実行中において、前記第１透視画像における、前記開口領域又は前記部分領域外を通過したＸ線の照射領域に対応する非関心領域画像と、前記第２透視画像における、前記開口領域又は前記部分領域を通過したＸ線の照射領域に対応する関心領域画像とを合成した合成画像を発生する。
前記表示制御部は、前記第１透視の実行中において前記第１透視画像を表示部に表示させ、前記第２透視の実行中において前記合成画像を表示部に表示させる。

図１は、本実施形態に係るＸ線診断装置の構成を示す構成図である。 図２は、本実施形態におけるＸ線絞り装置の構成の一例を示す図である。 図３は、本実施形態において、ＲＯＩ透視の実行中におけるＸ線の照射範囲をＸ線放射窓側から見た図である。 図４は、本実施形態において、ＳＰＯＴ透視の実行中におけるＸ線の照射範囲をＸ線放射窓側から見た図である。 図５は、本実施形態における合成画像の一例を示す図である。 図６は、本実施形態において、透視機能の処理手順の一例を示すフローチャートである。 図７は、本実施形態において、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視への移行後におけるＸ線の照射範囲をＸ線放射窓側から見た図である。 図８は、本実施形態において、ＳＰＯＴ画像における関心領域の位置の移動に伴うＸ線フィルタの移動と、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視へ移行するための絞り羽根の移動との一例を示す図である。 図９は、本実施形態において、関心領域の位置の移動後におけるＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への移行後におけるＳＰＯＴ透視の実行中のＸ線の照射範囲をＸ線放射窓側から見た図である。 図１０は、本実施形態の第２の変形例において、合成画像における関心領域と、関心領域内の辺縁部分と、非関心領域の一例を示す図である。 図１１は、本実施形態の第３の変形例において、合成画像における関心領域と、関心領域内の辺縁部分と、辺縁部分に隣接しかつ非関心領域に含まれる辺縁部分との一例を示す図である。 図１２は、本実施形態に関する構成の変形例を示す図である。 図１３は、本実施形態において、他のＸ線フィルタの断面の一例を示す図である。 図１４は、本実施形態における他のＸ線フィルタにおいて、ＲＯＩ透視の実行中におけるＸ線の照射範囲をＸ線放射窓側から見た図である。

以下、図面を参照しながら実施形態に係るＸ線診断装置を説明する。なお、以下の説明において、略同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合に行う。

図１は、本実施形態に係るＸ線診断装置１の構成を示す構成図である。Ｘ線診断装置１は、高電圧発生器１１と、Ｘ線管１３と、Ｘ線絞り装置１５と、Ｘ線検出器１７と、支持フレーム１９と、天板２１を有する不図示の寝台と、画像発生回路（画像発生部）２３と、通信インタフェース回路２５と、入力インタフェース回路（入力部）２７と、制御回路（制御部）２９と、記憶回路（記憶部）３１と、表示回路（表示部）３３とを有する。

なお、本実施形態に係るＸ線診断装置１の構成は、図１２に示すように構成されてもよい。図１２は、本実施形態に関する構成の変形例を示す図である。Ｘ線診断装置１は、高電圧発生器１１と、Ｘ線管１３と、Ｘ線絞り装置１５と、Ｘ線検出器１７と、支持フレーム１９と、天板２１を有する不図示の寝台と、通信インタフェース回路２５と、入力インタフェース回路（入力部）２７と、処理回路（処理部）３０と、記憶回路（記憶部）３１と、表示回路（表示部）３３とを有する。図１２における処理回路（ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ ｃｉｒｃｕｉｔｒｙ）３０は、図１における制御回路２９に相当する回路である。すなわち、処理回路３０における各種処理および動作は、制御回路２９に関する各種処理および動作を含む。このため、以下の説明において、処理回路３０に関する説明は、「制御回路２９」を「処理回路３０」に読み替えることで理解できる。また、処理回路３０における画像発生機能（画像発生部）３０１は、図１における画像発生回路２３において実行される各種処理および動作を実行する機能を有する。このため、画像発生機能３０１に関する説明は、「画像発生回路２３」を「処理回路３０における画像発生機能３０１」に読み替えることで理解できる。

高電圧発生器１１は、Ｘ線管１３に供給する管電流と、Ｘ線管１３に印加する管電圧（高電圧）とを発生する。高電圧発生器１１は、制御回路２９による制御のもとで、後述するＸ線照射条件に従って、Ｘ線撮影およびＸ線透視にそれぞれ適した管電流をＸ線管１３に供給する。高電圧発生器１１は、制御回路２９による制御のもとで、後述するＸ線照射条件に従って、Ｘ線撮影およびＸ線透視各々にそれぞれ適した管電圧をＸ線管１３に印加する。

Ｘ線照射条件とは、例えば、Ｘ線照射ごとの管電流、管電圧、照射時間、管電流（ｍＡ）と照射時間（ｓ）との積（以下、管電流時間積（ｍＡｓ）と呼ぶ）などである。なお、高電圧発生器１１による管電圧の印加は、時間的に連続してＸ線管１３に管電圧を印加する方式でもよいし、高電圧のスイッチングによりパルス状の高電圧をＸ線管１３に印加する方式（以下、高電圧パルス印加方式と呼ぶ）であってもよい。以下、高電圧発生器１１は、高電圧パルス印加方式を用いて、Ｘ線透視を行うものとして説明する。

Ｘ線管１３は、高電圧発生器１１から供給された管電流と、高電圧発生器１１により印加された管電圧とに基づいて、Ｘ線の焦点（以下、管球焦点と呼ぶ）から、Ｘ線を発生する。管球焦点から発生されたＸ線は、Ｘ線絞り装置１５により不要な領域のＸ線が遮蔽された状態で、被検体Ｐに照射される。Ｘ線の照射範囲１３１は、点線で示されている。本実施形態におけるＸ線管１３は、回転陽極型のＸ線管であるとして説明する。なお、本実施形態におけるＸ線管１３は、固定陽極型Ｘ線管などの他の型のＸ線管でもよい。Ｘ線管１３は、高電圧のスイッチングによるパルス状の高電圧の印加に伴って、所定の時間間隔で離散したパルスＸ線を発生する。Ｘ線管１３のＸ線放射窓には、管球焦点以外で発生した焦点外Ｘ線を遮断する鉛コーン（ｌｅａｄ ｃｏｎｅ）が取り付けられる。

図２は、本実施形態におけるＸ線絞り装置１５の構成の一例を示す図である。図２に示すように、Ｘ線絞り装置１５は、Ｘ線フィルタ１５１と、Ｘ線フィルタ１５１を駆動するＸ線フィルタ駆動装置１５３と、絞り羽根１５５と、絞り羽根１５５を駆動する絞り羽根駆動装置１５７とを有する。

Ｘ線絞り装置１５は、Ｘ線管１３のＸ線放射窓１３３に隣接して、Ｘ線管１３の前面に設けられる。Ｘ線絞り装置１５は、管球焦点１３５で発生したＸ線の照射範囲を限定する。なお、Ｘ線絞り装置１５は、Ｘ線フィルタ１５１の他に各種フィルタ（線質調整フィルタ、付加フィルタ、線量低減フィルタなど）を有していてもよい。また、Ｘ線フィルタ１５１と絞り羽根１５５との相対的な位置関係は、図２に限定されず、例えば、管球焦点１３５側に、Ｘ線フィルタ１５１が配置され、天板側に絞り羽根１５５が配置されてもよい。

Ｘ線フィルタ１５１は、開口領域を有し、開口領域外を通過するＸ線の線量を低減する。なお、Ｘ線フィルタ１５１は、Ｘ線の照射範囲１３１において被検体Ｐの関心領域（Ｒｅｇｉｏｎ ｏｆ Ｉｎｔｅｒｅｓｔ：ＲＯＩ）の大きさに応じて開口領域の大きさを変更可能なフィルタであってもよい。

なお、Ｘ線フィルタ１５１は、開口領域の替わりに、他の領域よりもＸ線の透過率が大きい部分領域を有していてもよい。図１３は、開口領域を有する上述のＸ線フィルタとは異なる他のＸ線フィルタの断面の一例を示す図である。図１３に示すように、Ｘ線フィルタ１５１は、他の領域１５１ＯＲよりもＸ線の透過率が大きい部分領域１５１ＰＲを有する。このとき、Ｘ線フィルタ１５１は、部分領域外、すなわち他の領域１５１ＯＲを通過するＸ線の線量を、部分領域１５１ＰＲ比べて低減する。すなわち、本実施形態おけるＸ線絞り装置１５は、他の領域よりもＸ線の透過率が大きい部分領域または開口領域を有するＸ線フィルタと前記Ｘ線を遮蔽する絞り羽根とを有する。

Ｘ線フィルタ駆動装置１５３は、制御回路２９におけるＸ線フィルタ制御機能２９１による制御のもとで、Ｘ線フィルタ１５１を駆動する。具体的には、Ｘ線フィルタ駆動装置１５３は、Ｘ線フィルタ制御機能２９１により、図２に示すＸ軸、Ｙ軸に沿ってＸ線フィルタ１５１を並進移動する。また、Ｘ線フィルタ駆動装置１５３は、入力インタフェース回路２７を介した関心領域の拡大指示または縮小指示に従って、Ｘ線フィルタ制御機能２９１により、図２に示すＺ軸に沿ってＸ線フィルタ１５１を並進移動する。なお、Ｘ線フィルタ駆動装置１５３は、関心領域の拡大または縮小指示に従って、Ｘ線フィルタ制御機能２９１により、Ｘ線フィルタ１５１における開口領域の大きさを変更してもよい。

絞り羽根１５５は、例えば複数の羽根により構成され、Ｘ線を遮蔽する。絞り羽根１５５は、管球焦点１３５で発生されたＸ線を撮影対象領域以外に不要な被爆をさせないために、被検体Ｐの体表面にＸ線を照射する照射面積に応じて、Ｘ線の照射範囲１３１を限定する。絞り羽根１５５は、例えば、Ｘ軸方向に移動可能な複数の第１絞り羽根と、Ｙ軸方向に移動可能な複数の第２絞り羽根とを有する。第１、第２絞り羽根各々は、例えば、Ｘ線を遮蔽する鉛により構成される。第１、第２絞り羽根各々は、絞り羽根駆動装置１５７により同期して移動される。なお、絞り羽根１５５は、方形の絞り羽根に限定されず、多角形の絞り羽根であってもよいし、円形の絞り羽根であってもよい。

絞り羽根駆動装置１５７は、制御回路２９における絞り制御機能２９３により、絞り羽根１５５を駆動する。絞り羽根１５５の駆動により、Ｘ線の照射範囲１３１が変更される。例えば、絞り羽根駆動装置１５７は、Ｘ線の照射範囲１３１を関心領域に絞るために、絞り羽根１５５を駆動する。また、絞り羽根駆動装置１５７は、Ｘ線の照射範囲１３１をＸ線フィルタ１５１の開口領域または部分領域１５１ＰＲに合わせるために、絞り羽根１５５を駆動する。

Ｘ線検出器１７は、Ｘ線管１３に対向し、Ｘ線管１３から発生されたＸ線を検出する。Ｘ線検出器１７は、例えば、フラットパネルディテクタ（Ｆｌａｔ Ｐａｎｅｌ Ｄｅｔｅｃｔｏｒ：以下、ＦＰＤと呼ぶ）により構成される。ＦＰＤは、複数の半導体検出素子を有する。なお、Ｘ線検出器１７として、イメージインテンシファイア（Ｉｍａｇｅｉｎｔｅｎｓｉｆｉｅｒ）が用いられてもよい。Ｘ線の入射に伴って複数の半導体検出素子で発生された電気信号は、図示していないアナログディジタル変換器（Ａｎａｌｏｇ ｔｏ
Ｄｉｇｉｔａｌ ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ：以下、Ａ／Ｄ変換器と呼ぶ）に出力される。Ａ／Ｄ変換器は、電気信号をディジタルデータに変換する。Ａ／Ｄ変換器は、ディジタルデータを、画像発生回路２３または処理回路３０に出力する。

支持フレーム１９は、Ｘ線管１３とＸ線検出器１７とを移動可能に支持する。具体的には、支持フレーム１９は、Ｃアームである。Ｃアームは、Ｘ線管１３とＸ線検出器１７とを、互いに向き合うように搭載する。図示していない支柱は、ＣアームのＣ形状に沿う方向（以下、第１方向と呼ぶ）に、ガイドレールおよび直動軸受等を介して、Ｃアームをスライド可能に支持する。支柱は、検査室の床面に設けられる。支柱は、ベアリング等を介して、第１方向に直交する方向（以下、第２方向と呼ぶ）に回転可能にＣアームを支持する。なお、支柱は、ベアリング等を介して、天板２１の短軸方向（のＸ軸）と長軸方向（Ｙ軸）とに平行移動可能に、Ｃアームを支持することも可能である。また、Ｃアームは、Ｘ線管１３における管球焦点１３５とＸ線検出器１７の中心との距離（線源受像面間距離（Ｓｏｕｒｃｅ Ｉｍａｇｅ Ｄｉｓｔａｎｃｅ：以下、ＳＩＤと呼ぶ））を変更可能に、例えばガイドレールおよび直動軸受等を介して、Ｘ線管１３とＸ線検出器１７とを支持する。

なお、支持フレーム１９として、Ｃアームの代わりに、Ωアームが用いられてもよいし、例えばＸ線管１３およびＸ線検出器１７をそれぞれ独立に支持する２つのアーム（例えばロボットアームなど）が用いられてもよい。また、支持フレーム１９は、ＣアームとΩアームとによるバイプレーン構造を有していてもよい。

図示していない寝台は、被検体Ｐが載置される天板２１（臥位テーブルとも言う）を移動可能に支持する。天板２１には、被検体Ｐが載置される。

図示していない駆動装置は、例えば、支持フレーム１９と寝台とを駆動する。駆動装置は、例えば、モータと、モータで発生した力を駆動対象の各種ユニットに伝達する伝達機構（例えば、チェーンドライブ、ベルトドライブ、ボールねじなど）とを有する。駆動装置は、制御回路２９からの制御信号に応じた駆動信号に従って、支持フレーム１９を第１方向にスライド、第２方向に回転させる。Ｘ線透視時およびＸ線撮影時においては、Ｘ線管１３とＸ線検出器１７との間に、天板２１に載置された被検体Ｐが配置される。駆動装置は、制御回路２９の制御のもとで、ＳＩＤを回転軸としてＸ線検出器１７を回転させてもよい。

駆動装置は、制御回路２９の制御のもとで、天板２１を駆動することにより、天板２１を移動させる。具体的には、駆動装置は、制御回路２９からの制御信号に基づいて、天板２１の短軸方向（Ｘ軸方向）、および天板２１の長軸方向（Ｙ軸方向）に、ベアリング、ガイドレール、直動軸受等を介して天板２１をスライドさせる。また、駆動装置は、鉛直方向（Ｚ軸方向）に関して、ベアリング、ガイドレール、直動軸受等を介して天板２１を昇降する。加えて、駆動装置は、長軸方向と短軸方向とのうち少なくとも一つの方向を回転軸として天板２１を傾けるために、ベアリング、ガイドレール、直動軸受等を介して、天板２１を回転してもよい。

画像発生回路２３（処理回路３０における画像発生機能３０１）は、Ｘ線検出器１７からの出力に基づいて各種画像を発生する。画像発生回路２３は、発生した各種Ｘ線画像を、例えば、制御回路２９、記憶回路３１、および表示回路３３等の各回路に出力する。画像発生回路２３は、処理回路（Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ ｃｉｒｃｕｉｔｒｙ）で実現され、例えば、記憶回路３１から各種プログラムを読み出し、実行することで、読み出したプログラムに対応する各種画像処理を実現するプロセッサである。なお、上記説明においては、単一の処理回路において画像発生に関する各種機能が実行されるものとして説明したが、複数の独立したプロセッサを組み合わせて処理回路を構成し、各プロセッサがプログラムを実行することにより各種機能を実現するものとしても構わない。

通信インタフェース回路２５は、例えば、ネットワーク、図示していない外部記憶装置に関するインタフェース機能を有する回路である。本Ｘ線診断装置１によって得られた各種画像のデータは、通信インタフェース回路２５およびネットワークを介して他の装置に転送可能である。

入力インタフェース回路２７は、操作者からの各種指示・命令・情報・選択・設定を本Ｘ線診断装置１に取り込む。入力インタフェース回路２７は、スイッチボタン、マウス、キーボード、操作面へ触れることで入力操作を行うタッチパッド、および表示画面とタッチパッドとが一体化されたタッチパネルディスプレイ等によって実現される。入力インタフェース回路２７は、操作者から受け取った入力操作を電気信号に変換する。なお、本明細書において入力インタフェース回路２７は、マウス、キーボードなどの物理的な操作部品を備えるものだけに限らない。例えば、本Ｘ線診断装置１とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、受け取った電気信号を各種回路へ出力するような電気信号の処理回路も入力インタフェース回路２７の例に含まれる。

具体的には、入力インタフェース回路２７は、操作者が所望するＸ線撮影の撮影条件およびＸ線透視の透視条件などのＸ線照射条件、透視・撮影位置、照射範囲、Ｘ線画像における関心領域の位置および大きさなどを、操作者の指示により入力する。例えば、関心領域の位置は、Ｘ線の照射範囲１３１の中央部分に限定されず、照射範囲における非中心の位置などの任意の位置に設定可能である。

制御回路（Ｃｏｎｔｒｏｌｌｉｎｇ ｃｉｒｃｕｉｔｒｙ）２９は、図示していないＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）とメモリを備える。制御回路２９は、本Ｘ線診断装置１における各種回路、駆動装置等を制御するための各種プログラムを記憶回路３１から読み出して、読み出したプログラムを実行することで、各種機能を実現する。制御回路２９は、入力インタフェース回路２７から送られてくる操作者の指示、撮影条件・透視条件などのＸ線照射条件などの情報を、図示していなメモリに一時的に記憶する。制御回路２９は、メモリに記憶された操作者の指示、透視・撮影位置、Ｘ線照射条件などに従って、Ｘ線撮影・Ｘ線透視（パルスＸ線撮影）を実行するために、高電圧発生器１１、Ｘ線絞り装置１５、駆動装置などを制御する。

制御回路２９は、Ｘ線フィルタ制御機能２９１に関するフィルタ制御プログラムを記憶回路３１から読み出して、読み出したフィルタ制御プログラムを実行することで、Ｘ線フィルタ制御機能２９１を実現する。Ｘ線フィルタ制御機能２９１とは、関心領域の移動および関心領域の大きさの変更などに伴ってＸ線フィルタ駆動装置１５３を制御することにより、Ｘ線フィルタ１５１を移動させる機能である。

制御回路２９は、絞り制御機能２９３に関する絞り制御プログラムを記憶回路３１から読み出して、読み出した絞り制御プログラムを実行することで、絞り制御機能２９３を実現する。絞り制御機能２９３とは、Ｘ線フィルタ１５１の開口領域または部分領域１５１ＰＲにＸ線の照射範囲１３１を合わせるため、またはＸ線の最大照射範囲まで絞り羽根１５５を開放するために絞り羽根駆動装置１５７を制御することにより、絞り羽根１５５を移動させる機能である。

制御回路２９は、自動輝度調整（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｂｒｉｇｈｔｎｅｓｓ Ｃｏｎｔｒｏｌ：ＡＢＣ）に関するプログラム（以下、ＡＢＣプログラムと呼ぶ）を記憶回路３１から読み出して、読み出したＡＢＣプログラムを実行することで、自動輝度調整機能２９５を実現する。自動輝度調整とは、Ｘ線画像における適切な輝度（以下、輝度レベルと呼ぶ）を得るための技術である。自動輝度調整は、例えば、あるフレームのＸ線画像における関心領域内の画素値の平均値もしくは重み付け平均値を次のフレームの目標範囲内に近づけるように次のフレームのＸ線照射条件を変化させて、輝度レベルを目標範囲内で一定に保つための動的な制御である。なお、自動輝度調整の対象領域は、関心領域に限定されず、Ｘ線画像の全域に対して実行されてもよい。自動輝度調整は、例えば、動きのある透視対象部位、Ｘ線の照射範囲１３１において透過線量が大きく変わる部位を有する場合などにおいて実施される。また、自動輝度調整は、サブトラクション処理を行う場合などでは、実行されないこともある。このとき、Ｘ線照射条件は固定されたままとなる。

制御回路２９は、判定機能２９７に関する判定プログラムを記憶回路３１から読み出して、読み出した判定プログラムを実行することで、判定機能２９７を実現する。判定機能２９７とは、Ｘ線の最大照射範囲まで絞り羽根１５５を開放しＸ線フィルタ１５１を用いて透視を行う第１透視（以下、ＲＯＩ透視と呼ぶ）から、Ｘ線の照射範囲１３１を絞り羽根１５５によりＸ線フィルタ１５１の開口領域または部分領域１５１ＰＲに限定して透視を行う第２透視（以下、ＳＰＯＴ透視と呼ぶ）への移行の判定、およびＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視への移行の判定を実行する機能である。本実施形態における上記機能については後程詳述する。

なお、上記説明においては、制御回路２９において各種機能が単一の回路で実行されるものとして説明したが、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路２９を構成し、各プロセッサがプログラムを実行することにより各種機能を実現するものとしても構わない。

また、本実施形態の各種回路（各部）におけるプロセッサは、プロセッサごとにそれぞれ単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その各種機能を実現するようにしてもよい。すなわち、制御回路２９において実行される各種機能は、それぞれ異なる処理回路により実行されてもよい。更に、例えば、制御回路２９と画像発生回路２３とを１つのプロセッサ（図１２に示す処理回路３０）へ統合してその機能を実現するようにしてもよい。

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（ｃｅｎｔｒａｌ ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（ｇｒａｐｈｉｃｓ ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ ｕｎｉｔ）、或いは、特定用途向け集積回路（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Ｓｉｍｐｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Ｃｏｍｌｅｘ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ：ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。

プロセッサは、後述する記憶回路３１に保存されたプログラムを読み出して実行することで、各種機能を実現する。なお、記憶回路３１にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むように構成しても構わない。この場合、プロセッサは、回路内に組み込まれたプログラムを読み出して実行することで、各種機能を実現する。

なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その各種機能を実現するようにしてもよい。更に、図１における複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。

記憶回路３１は、各種メモリ、ＨＤＤ（ハードディスクドライブ）、ＳＳＤ（ソリッドステートドライブ）、磁気ディスク（フロッピー（登録商標）ディスク、ハードディスクなど）、光ディスク（ＣＤ－ＲＯＭ、ＤＶＤなど）、半導体メモリなどにより構成される。記憶回路３１は、画像発生回路２３により発生された種々のＸ線画像、本Ｘ線診断装置１のシステム制御プログラム、画像発生回路２３において実行される各種画像発生プログラム、制御回路２９において実行されるフィルタ制御プログラム、絞り制御プログラム、ＡＢＣプログラム、および判定プログラムを記憶する。また、記憶回路３１は、診断プロトコル、入力インタフェース回路２７から送られてくる操作者の指示、Ｘ線撮影に関する撮影条件および透視条件などの各種データ群、通信インタフェース回路２５とネットワークとを介して送られてくる種々のデータなどを記憶する。

表示回路３３は、例えばディスプレイ、モニタ等の表示デバイスに対応する。ディスプレイは、Ｘ線画像や透視画像を表示する。ディスプレイは、ＲＯＩ透視およびＳＰＯＴ透視における撮影のフレームレートにしたがって、複数の透視画像を動画表示する。ディスプレイは、透視・撮影位置、Ｘ線照射条件などの入力に関する入力画面を表示する。

以上が本実施形態におけるＸ線診断装置１の全体構成についての説明である。続いて、本実施形態の詳細について説明する。本実施形態におけるＸ線診断装置１における制御回路２９は、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への移行時において、Ｘ線フィルタ１５１の開口領域外または部分領域１５１ＰＲ外を通過するＸ線を遮蔽するようにＸ線絞り装置１５を制御する。なお、Ｘ線管１３とＸ線フィルタ１５１と絞り羽根１５５との位置関係によっては、制御回路２９は、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への移行時において、Ｘ線フィルタ１５１の開口領域外または部分領域１５１ＰＲ外を通過しようとするＸ線、または通過したＸ線を遮蔽するようにＸ線絞り装置１５を制御してもよい。例えば、Ｘ線管１３の前面にＸ線フィルタ１５１が配置され、かつＸ線フィルタ１５１の前面に絞り羽根１５５が配置される場合、制御回路２９は、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への移行時において、Ｘ線フィルタ１５１の開口領域外または部分領域１５１ＰＲ外を通過したＸ線を遮蔽するようにＸ線絞り装置１５を制御する。また、Ｘ線管１３の前面に絞り羽根１５５が配置され、かつ絞り羽根１５５の前面にＸ線フィルタ１５１が配置される場合、制御回路２９は、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への移行時において、Ｘ線フィルタ１５１の開口領域外または部分領域１５１ＰＲ外を通過しようとするＸ線を遮蔽するようにＸ線絞り装置１５を制御する。

図３および図１４は、ＲＯＩ透視の実行中におけるＸ線の照射範囲１３１をＸ線放射窓１３３側から見た図である。図３および図１４において、絞り羽根１５５は、ＲＯＩ透視の実行中においてＸ線の最大照射範囲まで開放されているため、図示されていない。図３におけるＸ線フィルタ１５１の開口領域１５２および図１４における部分領域１５１ＰＲは、Ｘ線の照射範囲１３１の中心部分に配置されているが、これに限定されない。すなわち、Ｘ線フィルタ１５１の開口領域１５２および部分領域１５１ＰＲは、関心領域の位置に応じて、制御回路２９におけるＸ線フィルタ制御機能２９１の制御のもとで、Ｘ線フィルタ駆動装置１５３により移動されてもよい。

図４は、ＳＰＯＴ透視の実行中におけるＸ線の照射範囲１３１をＸ線放射窓１３３側から見た図である。図４において、絞り羽根１５５の開口領域１５４は、ＳＰＯＴ透視の実行中において、Ｘ線フィルタ１５１の開口領域１５２および部分領域１５１ＰＲと一致する。すなわち、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への移行時において、絞り羽根１５５は、絞り制御機能２９３による制御された絞り羽根駆動装置１５７により、Ｘ線フィルタ１５１の開口領域１５２および部分領域１５１ＰＲと絞り羽根１５５の開口領域１５４とが合うようにＸ線の照射範囲１３１を絞り込むよう駆動される（図４の矢印１５６）。

画像発生回路２３は、ＲＯＩ透視の実行中におけるＸ線検出器１７からの出力に基づいて、第１透視画像（以下、ＲＯＩ透視画像と呼ぶ）を発生する。画像発生回路２３は、ＳＰＯＴ透視の実行中におけるＸ線検出器１７からの出力に基づいて、第２透視画像（以下、ＳＰＯＴ透視画像と呼ぶ）を発生する。画像発生回路２３は、ＳＰＯＴ透視の実行中において、ＲＯＩ透視画像における、開口領域外または部分領域１５１ＰＲ外を通過したＸ線の照射領域に対応する非関心領域画像（以下、非ＲＯＩ画像と呼ぶ）とＳＰＯＴ透視画像における、前記開口領域または部分領域１５１ＰＲを通過したＸ線の照射領域に対応する関心領域画像（以下、ＲＯＩ画像と呼ぶ）とを合成した合成画像を発生する。

図５は、合成画像２３１の一例を示す図である。図５における領域２３３は、ＳＰＯＴ透視画像における関心領域に対応する。図５における領域２３５は、非ＲＯＩ画像に対応する。図５に示すように、ＳＰＯＴ透視の実行中において、ＳＰＯＴ透視により得られたＲＯＩ画像と、ＲＯＩ透視により得られた非ＲＯＩ画像とを合成した合成画像２３１がディスプレイに表示される。

図６は、本実施形態における透視機能の処理手順の一例を示すフローチャートである。以下、本フローチャートにおける説明において、図３に示すように、開口領域１５２を有するＸ線フィルタ１５１が用いられるものとして説明する。なお、部分領域を有するＸ線フィルタ１５１が用いられる場合、以下の説明において、「Ｘ線フィルタ１５１の開口領域１５２」を「Ｘ線フィルタ１５１の部分領域１５１ＰＲ」に読み替えることで理解される。

（ステップＳａ１）
入力インタフェース回路２７を介した操作者の指示により、関心領域が設定される。制御回路２９は、Ｘ線フィルタ制御機能２９１により、ＲＯＩ透視の実行に先立って、設定された関心領域にＸ線フィルタ１５１の開口領域１５２を合わせるために、Ｘ線フィルタ駆動装置１５３を制御する。Ｘ線フィルタ駆動装置１５３は、Ｘ線フィルタ制御機能２９１により、Ｘ線フィルタ１５１を移動させる。これにより、Ｘ線フィルタ１５１の開口領域１５２は関心領域に一致する。次いで、制御回路２９は、所定の透視条件に従ってＲＯＩ透視を実行する。画像発生回路２３は、Ｘ線検出器１７からの出力に基づいてＲＯＩ透視画像を発生する。処理回路３０は、表示制御機能３０３により、ＲＯＩ透視の実行中においてＲＯＩ透視画像をディスプレイに表示させる。表示回路３３は、ＲＯＩ透視画像を表示する。表示制御機能３０３は、表示制御部の一例である。

ＲＯＩ透視が繰り返される場合、ＲＯＩ透視画像は、パルスＸ線の発生に応じて更新されることにより、動画表示される。なお、ＲＯＩ透視が１回のパルスＸ線により実行されてもよい。このとき、１枚のＲＯＩ透視画像が表示される。また、ＲＯＩ透視において、自動輝度調整機能２９５が実行されてもよい。このとき、制御回路２９は、自動輝度調整機能２９５により、ＲＯＩ透視画像の全域または関心領域などの一部領域において輝度レベルが目標範囲内で所定の時間に亘って一定となるまで、すなわち自動輝度調整によりＲＯＩ透視画像における輝度値が落ち着くまで、透視条件を変化させてＲＯＩ透視を繰り返し実行する。なお、当該所定の時間は、装置の設置までの段階で設定される場合だけでなく、ユーザが使用中に設定・変更したり、ユーザによる操作の履歴に基づいて自動的に設定・変更されたりしてもよい。すなわち、当該所定の時間は、本実施形態における透視機能の実行前までに設定されていればよい。

（ステップＳａ２）
画像発生回路２３は、ＲＯＩ透視画像に基づいて、非ＲＯＩ画像を発生する。具体的には、画像発生回路２３は、ＲＯＩ透視画像における、開口領域外を通過したＸ線の照射領域（非関心領域）に対応する複数の画素値のコントラストを、Ｘ線フィルタ１５１を用いたＸ線の線量の低減に応じて補償すること（以下、線量補償処理と呼ぶ）により、非ＲＯＩ画像を発生する。線量補償処理は、例えば、Ｘ線フィルタ１５１を用いない透視とＸ線フィルタ１５１を用いた透視とにおける画素値の差を、Ｘ線フィルタ１５１を用いた透視における画素値に補填する処理である。

なお、ＲＯＩ透視により複数枚のＲＯＩ透視画像が発生された場合、画像発生回路２３は、複数枚のＲＯＩ透視画像の画素値を同一位置の画素についてリカーシブフィルタなどの時間的なフィルタを用いて加算後、平均化し、平均化された画素値に対して線量補償処理を実行することにより、非ＲＯＩ画像を発生してもよい。また、透視対象部位が、例えば心臓などの所定の周期（心拍）で動作する臓器である場合、所定の周期に亘ってＲＯＩ透視を実行することにより、時系列に沿った一連のＲＯＩ透視画像が発生される。このとき、非ＲＯＩ画像は、所定の周期における時相（例えば心電波形における心位相）と関連づけられて、記憶回路３１等に一時的に記憶される。

なお、ＲＯＩ透視に対して自動輝度調整が実行された場合、画像発生回路２３は、例えば、最後に変更された透視条件により実行されたＲＯＩ透視に対応するＲＯＩ透視画像に基づいて、線量補償処理を実行することにより、非ＲＯＩ画像を発生する。非ＲＯＩ画像は、記憶回路３１等に一時的に記憶される。

（ステップＳａ３）
制御回路２９は、判定機能２９７による判定結果に基づいて、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視に移行し、ＳＰＯＴ透視を実行する。具体的には、制御回路２９は、所定のタイミングを契機として、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への移行期間において、開口領域外（非関心領域）のＸ線を遮蔽する絞り制御機能２９３により、Ｘ線絞り装置１５を制御する。ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への移行期間におけるＸ線絞り装置１５の制御の説明は、図４のフィルタを用いた上記説明と重複するため、省略する。所定のタイミングとは、例えば、ＲＯＩ透視において、１枚のＲＯＩ透視画像を発生した場合、複数枚のＲＯＩ透視画像を発生した場合、または自動輝度調整が完了した場合などである。すなわち、制御回路２９は、ＲＯＩ透視の実行中において、１枚のＲＯＩ透視画像の発生、複数枚のＲＯＩ透視画像の発生、または自動輝度調整の完了を契機として、Ｘ線絞り装置１５を制御する。

Ｘ線フィルタ１５１の開口領域１５２と絞り羽根１５５の開口領域１５４とが合うようにＸ線の照射範囲が絞り込まれたとき、制御回路２９は、ＳＰＯＴ透視を実行する。なお、制御回路２９は、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への移行時における絞り羽根１５５の動作期間において、Ｘ線管１３への高電圧の印加を停止させるように、高電圧発生器１１を制御してもよい。このとき、制御回路２９は、直前のＲＯＩ透視（第１透視）において取得したＲＯＩ透視画像（第１透視画像）を継続して表示させるように表示回路３３を制御してもよい。画像発生回路２３は、Ｘ線検出器１７からの出力に基づいてＳＰＯＴ透視画像を発生する。

（ステップＳａ４）
画像発生回路２３は、ＳＰＯＴ透視画像からＲＯＩ画像を抽出する。画像発生回路２３は、非ＲＯＩ画像とＲＯＩ画像とを位置整合して合成することにより、合成画像２３１を発生する。透視対象部位が例えば心臓などの所定の周期（心拍）で動作する臓器である場合、画像発生回路２３は、ＲＯＩ画像に、心電波形に基づく心位相などの時相の情報を付帯させる。このとき、画像発生回路２３は、略同一な心位相のＲＯＩ画像と非ＲＯＩ画像とを位置整合して合成することにより、時系列に沿った合成画像２３１を発生する。処理回路３０は、表示制御機能３０３により、ＳＰＯＴ透視の実行中において合成画像をディスプレイに表示させる。表示回路３３は、ＳＰＯＴ透視中において、合成画像２３１を表示する。

（ステップＳａ５）
ＳＰＯＴ透視の終了指示が、入力インタフェース回路２７を介して入力された場合（ステップＳａ５のＹｅｓ）、本実施形態に係る透視機能の処理は終了する。ＳＰＯＴ透視の終了指示が、入力インタフェース回路２７を介して入力されない場合（ステップＳａ５のＮｏ）、ステップＳａ６の処理に移る。

（ステップＳａ６）
制御回路２９は、判定機能２９７により、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視への切り替えの有無を判定する。具体的には、制御回路２９は、ＳＰＯＴ透視の実行中において、天板２１の移動と、支持フレーム１９の移動と、ＳＰＯＴ画像における関心領域の位置の移動と、関心領域の大きさの変更と、関心領域の拡大または縮小とのうち少なくとも一つの実行に応じて（ステップＳａ６のＹｅｓ）、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視へ移行するように、絞り制御機能２９３によりＸ線絞り装置１５を制御する。なお、制御回路２９は、ＳＰＯＴ透視の実行中において、入力インタフェース回路２７を介した操作者の指示によりＲＯＩ透視の実行指示を受け付けると、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視へ移行するために、Ｘ線絞り装置１５を制御してもよい。

なお、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視への切り替えの有無の判定において、天板２１の移動量と、支持フレーム１９の移動量と、ＳＰＯＴ画像における関心領域の位置の移動量と、関心領域の大きさの変更量と、関心領域の拡大量または縮小量とにそれぞれ対応する複数の所定の閾値が用いられてもよい。例えば、ＳＰＯＴ透視の実行中において制御回路２９または処理回路３０は、判定機能２９７により、上記量を、それぞれ対応する所定の閾値と比較する。上記量のうち少なくとも一つが、対応する閾値を超えた場合、制御回路２９または処理回路３０は、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視へ移行するように、絞り制御機能２９３によりＸ線絞り装置１５を制御する。すなわち、上記量が、ＳＰＯＴ透視の実行中において対応する閾値を超えない場合、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視への切り替えを抑制することができる。換言すれば、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視への切り替えに関するロバスト性を向上させることができる。なお、当該所定の閾値は、装置の設置までの段階で設定される場合だけでなく、ユーザが使用中に設定・変更したり、ユーザによる操作の履歴に基づいて自動的に設定・変更されたりしてもよい。すなわち、当該所定の閾値は、天板２１の移動と、支持フレーム１９の移動と、ＳＰＯＴ画像における関心領域の位置の移動と、関心領域の大きさの変更と、関心領域の拡大または縮小とのうち少なくとも一つが実施されたか否かの判定（ステップＳａ６）の際までに設定されていればよい。

関心領域の拡大は、Ｘ線管１３とＸ線検出器１７とのうち少なくとも一方を被検体Ｐに近づけること、すなわちＳＩＤを短くすることにより相対的に関心領域に含まれる被検体Ｐの部位の大きさを拡大することに対応する。なお、関心領域の拡大は、合成画像２３１における関心領域の拡大であってもよい。関心領域の縮小は、Ｘ線管１３とＸ線検出器１７との少なくとも一方を被検体Ｐから遠ざけること、すなわちＳＩＤを長くすることにより相対的に関心領域に含まれる被検体Ｐの部位の大きさを小さくすることに対応する。なお、関心領域の縮小は、合成画像２３１における関心領域の縮小であってもよい。

具体的には、制御回路２９は、ＲＯＩ透視の実行に先立って入力された関心領域の位置にＸ線フィルタ１５１の開口領域１５２を合わせるために、Ｘ線フィルタ制御機能２９１により、Ｘ線フィルタ駆動装置１５３を制御する。Ｘ線フィルタ駆動装置１５３は、例えば、図４に示すように、制御回路２９の制御のもとでＸ線フィルタ１５１を移動させる。これにより、Ｘ線フィルタ１５１の開口領域１５２は、関心領域に一致する。なお、制御回路２９は、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視への移行時における絞り羽根１５５の動作期間において、Ｘ線管１３への高電圧の印加を停止させるように、高電圧発生器１１を制御してもよい。このとき、制御回路２９は、直前のＳＰＯＴ透視（第２透視）において取得したＳＰＯＴ透視画像（第２透視画像）を継続して表示させるように表示回路３３を制御してもよい。

図７は、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視への移行後におけるＸ線の照射範囲をＸ線放射窓１３３側から見た図である。図７において、絞り羽根１５５は、ＲＯＩ透視において、Ｘ線の最大照射範囲まで開放されている。すなわち、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視への移行時において、絞り羽根１５５は、絞り羽根駆動装置１５７により、Ｘ線の最大照射範囲まで開放される（図７の矢印１５８）。これにより、非関心領域に対してもＸ線が照射されることによりＲＯＩ透視画像が発生される。ＲＯＩ透視画像に基づいて非ＲＯＩ画像が発生される。

図８は、ＳＰＯＴ画像における関心領域の位置の移動に伴うＸ線フィルタ１５１の移動と、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視へ移行するための絞り羽根１５５の移動との一例を示す図である。図８における点線の四角１５２１は、関心領域の位置の移動前におけるＸ線フィルタ１５１の開口領域１５２を示している。関心領域の位置の移動に伴って、Ｘ線フィルタ１５１が、Ｘ線フィルタ制御機能２９１による制御のもとでＸ線フィルタ駆動装置１５３により移動される（図８の矢印１５２３）。Ｘ線フィルタ１５１の移動とともに、絞り羽根１５５は、絞り制御機能２９３による制御のもとで絞り羽根駆動装置１５７により、Ｘ線の最大照射範囲まで開放される（図８の矢印１５９）。

図９は、関心領域の位置の移動後におけるＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への移行後におけるＳＰＯＴ透視の実行中のＸ線の照射範囲１３１をＸ線放射窓１３３側から見た図である。図９において、絞り羽根１５５の開口領域１５４は、ＳＰＯＴ透視の実行中において、Ｘ線フィルタ１５１の開口領域１５２と一致する。すなわち、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への移行時において、絞り羽根１５５は、絞り制御機能２９３による制御された絞り羽根駆動装置１５７により、Ｘ線フィルタ１５１の開口領域１５２と絞り羽根１５５の開口領域１５４とが合うようにＸ線の照射範囲１３１を絞り込む（図９の矢印１６０）。

制御回路２９は、ＳＰＯＴ透視の実行中において、天板２１の移動と、支持フレーム１９の移動と、ＳＰＯＴ画像における関心領域の位置の移動と、関心領域の大きさの変更と、関心領域の拡大または縮小とがすべて実行されない場合、ＳＰＯＴ透視を続行する（ステップＳａ６のＮｏ）。

（ステップＳａ７）
制御回路２９は、ＲＯＩ透視を実行する。画像発生回路２３は、Ｘ線検出器１７からの出力に基づいてＲＯＩ透視画像を発生する。表示回路３３は、ＲＯＩ透視画像を表示する。本ステップにおける処理は、ステップＳａ１とほぼ同様なため、詳細な説明は省略する。

（ステップＳａ８）
画像発生回路２３は、ＲＯＩ透視画像に基づいて、非ＲＯＩ画像を発生する。本ステップにおける処理は、ステップＳａ２とほぼ同様なため、詳細な説明は省略する。非ＲＯＩ画像は、更新され、記憶回路３１等に一時的に記憶される。

（ステップＳａ９）
制御回路２９は、判定機能２９７により、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への切り替えの有無を判定する。具体的には、制御回路２９は、ＳＰＯＴ透視の実行中において、天板２１の移動と、支持フレーム１９の移動と、ＳＰＯＴ画像における関心領域の位置の移動と、関心領域の大きさの変更と、関心領域の拡大または縮小とのうち少なくとも一つがさらに実行されたとき、ＲＯＩ透視を続行する（ステップＳａ９のＮｏ）。制御回路２９は、所定のタイミングを契機として、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視に移行し（ステップＳａ９のＹｅｓ）、ＳＰＯＴ透視を実行する。上記内容は、ステップＳａ３に記載されているため、詳細な説明は省略する。

また、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視への移行後におけるＲＯＩ透視の実行中において、天板２１の移動と、支持フレーム１９の移動と、関心領域の位置の移動と、関心領域の大きさの変更と、関心領域の拡大または縮小とが実行されなければ、制御回路２９は、再度実行されたＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視へ移行するように、絞り制御機能２９３によりＸ線絞り装置１５を制御する（ステップＳａ９のＹＥＳ）。なお、再度実行されたＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視へ移行するためのＸ線絞り装置１５の制御は、ステップＳａ３で記載したように、所定のタイミングも加味して実行されてもよい。

以上に述べた構成によれば、以下のような効果を得ることができる。
本実施形態におけるＸ線診断装置１によれば、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への移行時において、Ｘ線フィルタ１５１の開口領域外または部分領域外を通過するＸ線を遮蔽するようＸ線絞り装置１５を制御し、ＳＰＯＴ透視の実行中において、ＲＯＩ透視画像における、開口領域外または部分領域外を通過したＸ線の照射領域に対応する非ＲＯＩ画像と、ＳＰＯＴ透視画像における、開口領域または部分領域を通過したＸ線の照射領域に対応するＲＯＩ画像とを合成した合成画像２３１を発生し、ＲＯＩ透視の実行中においてＲＯＩ透視画像を表示し、ＳＰＯＴ透視の実行中において合成画像２３１を表示することができる。これにより、ＲＯＩ透視とＳＰＯＴ透視とを併用することで、ＳＰＯＴ透視に近い線量低減を実現しつつ、ＳＰＯＴ透視に置いて関心領域の周辺部（非関心領域）の画像も表示することができる。

また、本実施形態によれば、線量補償処理により、ＲＯＩ透視画像における、開口領域外または部分領域外を通過したＸ線の照射領域に対応する複数の画素値のコントラストをＸ線フィルタ１５１を用いたＸ線の線量（透過率）の低減に応じて補償することにより、非ＲＯＩ画像を発生することができる。これにより、合成画像２３１における関心領域のコントラストに、合成画像２３１における非関心領域のコントラストを近づけることができるため、関心領域と非関心領域との境界の視認性を低減させた合成画像２３１を表示することができる。

また、本実施形態によれば、ＲＯＩ透視の実行中における１枚のＲＯＩ透視画像の発生を契機として、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への移行するようにＸ線絞り装置１５を制御することができる。これにより、ＲＯＩ透視の実行時間を短くすることができ、被検体Ｐにおける非関心領域に対する被曝線量を低減することができる。

また、本実施形態によれば、ＲＯＩ透視の実行中における複数枚のＲＯＩ透視画像の発生を契機として、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への移行するようにＸ線絞り装置１５を制御し、複数枚のＲＯＩ透視画像の画素値を同一位置の画素において平均化することにより非ＲＯＩ画像を発生することができる。これにより、非ＲＯＩ画像におけるノイズを低減させることができ、高画質な合成画像２３１を表示することができる。

また、本実施形態によれば、ＲＯＩ透視の実行中においてＲＯＩ透視画像の輝度レベルが目標範囲内で所定の時間に亘って一定となったことを契機として、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への移行するようにＸ線絞り装置１５を制御するとともに直前のＲＯＩ透視において取得したＲＯＩ透視画像を継続して表示させることができる。これにより、ＲＯＩ透視画像および合成画像２３１の表示に最適な透視条件でＲＯＩ透視およびＳＰＯＴ透視を実行することができ、最適な輝度レベルでＲＯＩ透視画像および合成画像２３１を表示することができる。

また、本実施形態によれば、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への移行時とＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視への移行時とのうち少なくとも一方における絞り羽根１５５の動作期間において、Ｘ線管１３への高電圧の印加を停止させることができる。これにより、絞り羽根１５５の移動期間において、被検体Ｐへの被曝を低減させることができる。

また、本実施形態によれば、ＳＰＯＴ透視の実行中において、天板２１の移動と、支持フレーム１９の移動と、関心領域の位置の移動と、関心領域の大きさの変更と、関心領域の拡大または縮小とのうち少なくとも一つの実行に応じて、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視へ移行するようにＸ線絞り装置１５を制御することができる。すなわち、ＳＰＯＴ透視における関心領域に間接的または直接的に関連する各種動作が発生すれば、合成画像２３１に適した非ＲＯＩ画像を得るためにＲＯＩ透視を実行することができる。これにより、ＳＰＯＴ透視の実行中に表示される合成画像２３１に適した非ＲＯＩ画像を取得することができ、合成画像２３１におけるＲＯＩ画像と非ＲＯＩ画像との間におけるズレを抑制することができる。

また、本実施形態によれば、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視への移行後におけるＲＯＩ透視の実行中において、天板２１の移動と、支持フレーム１９の移動と、関心領域の位置の移動と、関心領域の大きさの変更と、関心領域の拡大または縮小とが実行されなければ、再度実行されたＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視へ移行するようにＸ線絞り装置１５を制御することができる。すなわち、関心領域に間接的または直接的に関連する各種動作が無ければ、基本的にＳＰＯＴ透視を行うことができる。これにより、ＲＯＩ透視の実行時間を短くすることができ、被検体Ｐにおける非関心領域に対する被曝線量を低減することができる。

（第１の変形例）
本実施形態との相違は、ＳＰＯＴ透視の実行時間が所定の期間に到達したとき、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視へ移行するためにＸ線絞り装置１５を制御することにある。なお、本変形例における処理は、上記実施形態における処理に組み合わせることも可能である。

記憶回路３１は、所定の期間を記憶する。所定の期間は、透視対象部位や被検体Ｐの年齢等に応じて任意に設定可能であり、例えば、数分である。なお、当該所定の期間は、装置の設置までの段階で設定される場合だけでなく、ユーザが使用中に設定・変更したり、ユーザによる操作の履歴に基づいて自動的に設定・変更されたりしてもよい。すなわち、当該所定の期間は、ＳＰＯＴ透視をＲＯＩ透視に切り替えるか否かの判定（ステップＳａ６）の際までに設定されていればよい。

制御回路２９は、例えば、ステップＳａ６の処理において、判定機能２９７により、ＳＰＯＴ透視の実行時間が所定の期間に到達したか否かを判定する。制御回路２９は、ＳＰＯＴ透視の実行時間が所定の期間に到達した場合、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視へ移行するためにＸ線絞り装置１５を制御する。

以上のような制御により、本変形例によれば、ＳＰＯＴ透視における関心領域に間接的または直接的に関連する各種動作が発生しなくても、所定の期間ごとにＲＯＩ透視を実行することができるため、合成画像２３１の非関心領域を所定の期間ごとに更新することができる。すなわち、本変形例によれば、被検体Ｐが動いたとしても所定の期間ごとに最新の非ＲＯＩ画像を得ることができるため、合成画像２３１においてＲＯＩ画像と非ＲＯＩ画像との間のズレを抑制することができる。

（第２の変形例）
本実施形態との相違は、ＳＰＯＴ透視画像または合成画像２３１における関心領域の辺縁部分に含まれる少なくとも一つの画素の画素値が所定の範囲から外れたとき、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視へ移行するために、Ｘ線絞り装置１５を制御することにある。なお、本変形例における処理は、上記実施形態および上記第１の変形例における処理に組み合わせることも可能である。

記憶回路３１は、所定の範囲を記憶する。所定の範囲とは、合成画像２３１の関心領域の辺縁部分において、上下限の画素値により規定される画素値の範囲である。上下限の画素値は、例えば、自動輝度調整等により透視条件が変更された場合に画素値に影響が出る程度の値である。なお、本変形例における所定の範囲は、装置の設置までの段階で設定される場合だけでなく、ユーザが使用中に設定・変更したり、ユーザによる操作の履歴に基づいて自動的に設定・変更されたりしてもよい。すなわち、当該所定の範囲は、ＳＰＯＴ透視をＲＯＩ透視に切り替えるか否かの判定（ステップＳａ６）の際までに設定されていればよい。

制御回路２９は、例えば、ステップＳａ６の処理において、判定機能２９７により、ＳＰＯＴ透視画像または合成画像における関心領域の辺縁部分に含まれる少なくとも一つの画素の画素値が画素値の範囲から外れたか否かを判定する。なお、画素値の範囲との比較対象は、辺縁部分に含まれる複数の画素に対応する複数の画素値の平均値または中央値であってもよい。制御回路２９は、ＳＰＯＴ透視の実行中において、辺縁部分に含まれる画素値をモニタリングする。制御回路２９は、辺縁部分に含まれる少なくとも一つの画素の画素値が画素値の範囲から外れた場合、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視へ移行するために、Ｘ線絞り装置１５を制御する。

図１０は、合成画像２３１において、関心領域２３１１と関心領域２３１１内の辺縁部分２３１３と非関心領域２３１５との一例を示す図である。図１０に示すように、関心領域２３１１は、一点鎖線の枠内に対応する。関心領域２３１１内の辺縁部分２３１３は、図１０において点でハッチングされた領域、すなわち一点鎖線と点線とに囲まれた領域に対応する。辺縁部分２３１３の幅は、任意の画素数に予め設定される。

以上のような制御により、本変形例によれば、ＳＰＯＴ透視における関心領域２３１１に間接的または直接的に関連する各種動作が発生しなくても、ＳＰＯＴ透視画像または合成画像２３１における関心領域２３１１の辺縁部分２３１３に含まれる少なくとも一つの画素の画素値が所定の範囲から外れたとき、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視へ移行するために、Ｘ線絞り装置１５を制御することができる。すなわち、本変形例によれば、モニタリングしている画素値が画素値の範囲から外れたとき非ＲＯＩ画像を得ることができ、合成画像２３１においてＲＯＩ画像と非ＲＯＩ画像との間のズレを抑制することができる。

（第３の変形例）
本実施形態との相違は、合成画像２３１における関心領域２３１１の辺縁部分２３１３に含まれる少なくとも一つの画素の画素値と、この画素に隣接する画素であってかつ非関心領域２３１５に含まれる画素の画素値との差分値を計算し、計算された差分値が所定の範囲から外れたとき、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視へ移行するためにＸ線絞り装置１５を制御することにある。なお、本変形例における処理は、上記実施形態および上記変形例における処理に組み合わせることも可能である。

記憶回路３１は、所定の範囲を記憶する。所定の範囲とは、上下限の差分値により規定される差分値の範囲である。上下限の差分値は、例えば、自動輝度調整等により透視条件が変更された場合に、合成画像２３１において関心領域２３１１と非関心領域２３１５との境界が視認される程度の値である。なお、本変形例における所定の範囲は、装置の設置までの段階で設定される場合だけでなく、ユーザが使用中に設定・変更したり、ユーザによる操作の履歴に基づいて自動的に設定・変更されたりしてもよい。すなわち、当該所定の範囲は、ＳＰＯＴ透視をＲＯＩ透視に切り替えるか否かの判定（ステップＳａ６）の際までに設定されていればよい。

制御回路２９は、例えば、ステップＳａ６の処理において、合成画像２３１における関心領域２３１１の辺縁部分２３１３に含まれる少なくとも一つの画素の画素値と、この画素に隣接する画素であってかつ非関心領域２３１５に含まれる画素の画素値との差分値を計算する。次いで、制御回路２９は、判定機能２９７により、計算された差分値が差分値の範囲から外れたか否かを判定する。なお、差分値の範囲との比較対象は、辺縁部分２３１３に含まれる複数の画素に対応する複数の画素値の平均値と、辺縁部分２３１３に隣接し非関心領域２３１５の辺縁部分に含まれる複数の画素に対応する複数の画素値の平均値との差分値であってもよい。また、平均値の代わりに中央値が用いられてもよい。制御回路２９は、ＳＰＯＴ透視の実行中において、計算した差分値をモニタリングする。制御回路２９は、計算された差分値が差分値の範囲から外れた場合、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視へ移行するために、Ｘ線絞り装置１５を制御する。

図１１は、合成画像２３１における関心領域２３１１と、関心領域２３１１内の辺縁部分２３１３と、辺縁部分２３１３に隣接しかつ非関心領域２３１５に含まれる辺縁部分２３１７との一例を示す図である。図１１に示すように、関心領域２３１１は、一点鎖線の枠内に対応する。関心領域２３１１内の辺縁部分２３１３は、図１１において点でハッチングされた領域に対応する。非関心領域２３１５に含まれる辺縁部分２３１７は、図１１において左上から右下にかけての斜線でハッチングされた領域に対応する。辺縁部分２３１３、２３１７の幅は、任意の画素数に予め設定される。

以上のような制御により、本変形例によれば、ＳＰＯＴ透視における関心領域２３１１に間接的または直接的に関連する各種動作が発生しなくても、合成画像２３１における関心領域２３１１の辺縁部分２３１３に含まれる少なくとも一つの画素の画素値と、この画素に隣接する画素であってかつ非関心領域２３１５に含まれる画素の画素値との差分値を計算し、計算された差分値が差分値の範囲から外れたとき、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視へ移行するためにＸ線絞り装置１５を制御することができる。すなわち、本変形例によれば、計算された差分値が差分値の範囲から外れたとき非ＲＯＩ画像を得ることができるため、合成画像２３１においてＲＯＩ画像と非ＲＯＩ画像との間のズレを抑制することができる。

（応用例）
本応用例は、被検体Ｐに挿入されたカテーテルの先端部分に対して、本透視機能を適用することにある。

制御回路２９は、ＲＯＩ透視により発生されたＲＯＩ透視画像において、カテーテルの先端部分を検出する。具体的には、制御回路２９は、ＲＯＩ透視画像に対するエッジ検出処理等により、ＲＯＩ透視画像におけるカテーテルの先端部分を特定する。制御回路２９は、ＲＯＩ透視画像において、カテーテルの先端部分を包含するように、Ｘ線フィルタ１５１における開口領域の位置を設定する。制御回路２９は、ＲＯＩ透視画像における関心領域の位置に応じて、Ｘ線フィルタ１５１の開口領域１５２を関心領域に合わせるために、Ｘ線フィルタ駆動装置１５３を制御する。

制御回路２９は、判定機能２９７により、ＲＯＩ透視画像において、カテーテルの先端部分の移動の有無を判定する。制御回路２９は、例えば、現在のＲＯＩ透視画像から直前に発生したＲＯＩ透視画像を差分することにより、カテーテルの先端部分の移動の有無を決定する。制御回路２９は、ＲＯＩ透視画像において、カテーテルの先端部分の移動を検出すると、カテーテルの先端部分を包含するように関心領域を設定する。このとき、制御回路２９は、上述したように、カテーテルの先端部分を包含する関心領域の位置に応じて、Ｘ線フィルタ１５１の開口領域１５２を関心領域に合わせるために、Ｘ線フィルタ駆動装置１５３を制御する。制御回路２９は、ＲＯＩ透視画像においてカテーテルの先端部分の移動が検出されている期間、すなわちカテーテルの先端部分の移動中において、カテーテルの先端部分に追従して関心領域を移動させながらＲＯＩ透視を実行する。

なお、カテーテルの先端部分の移動によりカテーテルの先端部分がＲＯＩ透視画像の端部近傍に位置した場合、制御回路２９は、カテーテルの先端部分の移動方向および移動距離に基づいて、支持フレーム１９と天板２１とのうち少なくとも一方を移動させるために、駆動装置を制御することも可能である。これにより、本応用例によれば、カテーテルの先端部分の移動に追従して、ＲＯＩ透視画像を発生することができる。また、制御回路２９は、ＲＯＩ透視画像の中心部に関心領域を固定し、カテーテルの先端部分の移動に追従して、カテーテルの先端部分が常に関心領域に包含されるように、支持フレーム１９と天板２１とのうち少なくとも一方の移動を制御することも可能である。

ＲＯＩ透視画像においてカテーテルの先端部分の移動が未検出、すなわちカテーテルの先端部分の移動の停止を契機として、制御回路２９は、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視へ移行するために、Ｘ線絞り装置１５を制御する。制御回路２９は、ＳＰＯＴ透視の実行中に発生された合成画像２３１に対するエッジ検出処理等により、合成画像２３１におけるカテーテルの先端部分を特定する。制御回路２９は、判定機能２９７により、ＳＰＯＴ透視の実行中において、カテーテルの先端部分の移動の有無を判定する。制御回路２９は、例えば、現在の合成画像２３１から直前に発生した合成画像を差分することにより、カテーテルの先端部分の移動の有無を決定する。制御回路２９は、ＳＰＯＴ透視の実行中において、カテーテルの先端部分の移動を検出すると、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視へ移行するために、Ｘ線絞り装置１５を制御する。制御回路２９は、合成画像２３１においてカテーテルの先端部分の移動が未検出となる期間、すなわちカテーテルの先端部分の停止期間において、ＳＰＯＴ透視を実行する。

以下、本実施形態における透視機能が終了するまで、上記処理を繰り返す。なお、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視への移行、およびＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視への移行において、上述の実施形態および変形例における各種処理を併用することも可能である。

以上のような制御により、本応用例によれば、ＲＯＩ透視画像においてカテーテルの先端部分を検出することによりカテーテルの先端部分を含むように開口領域の位置を設定し、カテーテルの先端部分の移動の検出を契機として、ＳＰＯＴ透視からＲＯＩ透視へ移行するためにＸ線絞り装置１５を制御し、カテーテルの先端部分の移動中においてＲＯＩ透視を実行し、カテーテルの先端部分の移動の停止を契機として、ＲＯＩ透視からＳＰＯＴ透視へ移行するためにＸ線絞り装置１５を制御し、カテーテルの先端部分の停止期間において、ＳＰＯＴ透視を実行することができる。これにより、本応用例によれば、カテーテルの先端部分に追従して関心領域を設定することが可能となり、さらにカテーテルの先端部分の移動の有無に応じて、ＲＯＩ透視とＳＰＯＴ透視とを切り替えることができる。

以上述べた実施形態、少なくとも一つの変形例および応用例に記載のＸ線診断装置１によれば、ＳＰＯＴ透視の実行時において、ＳＰＯＴ透視に相当する線量低減を行いつつ、ＲＯＩ周辺部の画像を表示することができる。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１…Ｘ線診断装置、１１…高電圧発生器、１３…Ｘ線管、１５…Ｘ線絞り装置、１７…Ｘ線検出器、１９…支持フレーム、２１…天板、２３…画像発生回路、２５…通信インタフェース回路、２７…入力インタフェース回路、２９…制御回路、３０…処理回路、３１…記憶回路、３３…表示回路、１３１…照射範囲、１３３…Ｘ線放射窓、１３５…管球焦点、１５１…Ｘ線フィルタ、１５２…Ｘ線フィルタの開口領域、１５３…Ｘ線フィルタ駆動装置、１５４…絞り羽根の開口領域、１５５…絞り羽根、１５７…絞り羽根駆動装置、２３１…合成画像、２９１…Ｘ線フィルタ制御機能、２９３…絞り制御機能、２９５…自動輝度調整機能、２９７…判定機能、３０１…画像発生機能、３０３…表示制御機能、２３１１…関心領域、２３１３…関心領域内の辺縁部分、２３１５…非関心領域、２３１７…非関心領域における辺縁部分。

Claims (13)

1. Ｘ線を発生するＸ線管に対向し、前記Ｘ線を検出するＸ線検出器と、
   他の領域よりもＸ線の透過率が大きい部分領域または開口領域を有するＸ線フィルタと前記Ｘ線を遮蔽する絞り羽根とを有するＸ線絞り装置と、
   前記Ｘ線フィルタを用いた第１透視から、照射範囲を限定するために前記絞り羽根を用いた第２透視への移行時において、前記絞り羽根の開口領域が前記Ｘ線フィルタの前記開口領域又は前記部分領域に合うように前記Ｘ線絞り装置を制御する制御部と、
   前記第１透視の実行中における前記Ｘ線検出器からの出力に基づいて第１透視画像を発生し、前記第２透視の実行中における前記Ｘ線検出器からの出力に基づいて第２透視画像を発生し、前記第２透視の実行中において、前記第１透視画像における、前記開口領域又は前記部分領域外を通過したＸ線の照射領域に対応する非関心領域画像と、前記第２透視画像における、前記開口領域又は前記部分領域を通過したＸ線の照射領域に対応する関心領域画像とを合成した合成画像を発生する画像発生部と、
   前記第１透視の実行中において前記第１透視画像を表示部に表示させ、前記第２透視の実行中において前記合成画像を表示部に表示させる表示制御部と、
   を具備するＸ線診断装置。
2. 前記画像発生部は、前記第１透視画像における、前記開口領域又は前記部分領域外を通過したＸ線の照射領域に対応する複数の画素値のコントラストを前記Ｘ線フィルタを用いた線量の低減に応じて補償することにより、前記非関心領域画像を発生する、
   請求項１に記載のＸ線診断装置。
3. 前記制御部は、前記第１透視の実行中における複数枚の前記第１透視画像の発生を契機として、前記Ｘ線絞り装置を制御し、
   前記画像発生部は、前記複数枚の前記第１透視画像の画素値を同一位置の画素において平均化することにより前記非関心領域画像を発生する、
   請求項１または２に記載のＸ線診断装置。
4. 前記制御部は、前記第１透視の実行中において前記第１透視画像の輝度レベルが目標範囲内で所定の時間に亘って一定となったことを契機として、前記Ｘ線絞り装置を制御する、
   請求項１または２に記載のＸ線診断装置。
5. 前記制御部は、前記第１透視から前記第２透視への移行時における前記絞り羽根の動作期間において、前記Ｘ線管への高電圧の印加を停止させるとともに直前の前記第１透視において取得した前記第１透視画像を継続して表示させる、
   請求項１乃至４のうちいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
6. 被検体が載置される天板を移動可能に支持する寝台と、
   前記Ｘ線管と前記Ｘ線検出器とを移動可能に支持する支持フレームとをさらに具備し、 前記制御部は、前記第２透視の実行中において、前記天板の移動と、前記支持フレームの移動と、関心領域の位置の移動と、前記関心領域の大きさの変更と、前記関心領域の拡大または縮小とのうち少なくとも一つの実行に応じて、前記第２透視から前記第１透視へ移行するように前記Ｘ線絞り装置を制御する、
   請求項１乃至５のうちいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
7. 前記制御部は、前記第２透視から前記第１透視への移行後における前記第１透視の実行中において、前記天板の移動と、前記支持フレームの移動と、前記関心領域の位置の移動と、前記関心領域の大きさの変更と、前記関心領域の拡大または縮小とが実行されなければ、再度実行された前記第１透視から前記第２透視へ移行するように前記Ｘ線絞り装置を制御する、
   請求項６に記載のＸ線診断装置。
8. 前記制御部は、前記第２透視の実行時間が所定の期間に到達したとき、前記第２透視から前記第１透視へ移行するように前記Ｘ線絞り装置を制御する、
   請求項１乃至５のうちいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
9. 前記制御部は、前記第２透視画像または前記合成画像における関心領域の辺縁部分に含まれる少なくとも一つの画素の画素値が所定の範囲から外れたとき、前記第２透視から前記第１透視へ移行するように前記Ｘ線絞り装置を制御する、
   請求項１乃至５のうちいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
10. 前記制御部は、前記合成画像における関心領域の辺縁部分に含まれる少なくとも一つの画素の画素値と、前記画素に隣接する画素であってかつ非関心領域に含まれる画素の画素値との差分値を計算し、前記差分値が所定の範囲から外れたとき、前記第２透視から前記第１透視へ移行するように前記Ｘ線絞り装置を制御する、
    請求項１乃至５のうちいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
11. 前記制御部は、前記第２透視から前記第１透視への移行時における前記絞り羽根の動作期間において、前記Ｘ線管への高電圧の印加を停止させる、
    請求項７乃至１０のうちいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
12. 前記開口領域又は前記部分領域は、前記第１透視画像の非中心に設定される、
    請求項１乃至１１のうちいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
13. 前記制御部は、
    前記第１透視画像においてカテーテルの先端部分を検出することにより、前記先端部分を含むように前記開口領域又は前記部分領域の位置を設定し、
    前記先端部分の移動の検出を契機として、前記第２透視から前記第１透視へ移行するように前記Ｘ線絞り装置を制御し、
    前記先端部分の移動中において前記第１透視を実行し、
    前記先端部分の移動の停止を契機として、前記第１透視から前記第２透視へ移行するように前記Ｘ線絞り装置を制御し、
    前記先端部分の停止期間において、前記第２透視を実行する、
    請求項１に記載のＸ線診断装置。

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