JP7111041B2 - 積層体の製造方法 - Google Patents
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Description
これらカバーパネルと画像表示部との間には、視認性および機械的強度を向上させるために、光学透明樹脂層が配置されることが多い。
このような場合、硬化性を確保するために加熱設備を用いた昇温工程を追加したり、硬化するまでの静置時間を延長したりする必要が生じ、量産性が低下する懸念や、熱による膨張収縮に伴う部材の反りや樹脂劣化が起こりやすくなる等の懸念がある。しかも、偏光板の種類によって硬化の挙動が変わるため、偏光板を変更するたびに製造プロセスを見直さなければならないという問題もある。
1. 第一の基材と、この第一の基材に積層された接着剤層とを備える積層体の製造方法であって、前記接着剤層を、下記(A)~(C)成分を含有する光硬化型シリコーン組成物に、ピーク波長380~420nmの光を照射して硬化させて形成することを特徴とする積層体の製造方法、
(A)下記平均式(1)で表される直鎖状オルガノポリシロキサン:100質量部
(R1R2 2SiO1/2)a(R2 3SiO1/2)2-a(Ar2SiO2/2)b(R2 2SiO2/2)c (1)
{式中、R1は、それぞれ独立して、置換または非置換のアルケニル基を表し、R2は、それぞれ独立して、置換または非置換のアルキル基を表し、Arは、それぞれ独立して、置換または非置換のアリール基を表し、aは、0.3~2の数を表し、bは、0~100、cは、1~1,000、かつ、b/(b+c)=0~0.7を満たす数を表す。}
(B)下記平均組成式(2)で表される、1分子中に少なくとも2個のSi-H結合を有するオルガノハイドロジェンポリシロキサン:1~200質量部
R3 dHeSiO[(4-d-e)/2] (2)
(式中、R3は、それぞれ独立して、脂肪族不飽和炭化水素基を除く置換または非置換の一価炭化水素基を表し、dおよびeは、0.7≦d≦2.5、0.01≦e≦1.0、かつ、0.8≦d+e≦2.7を満たす数を表す。)
(C)β-ジケトナト基、β-ケトエステラート基、および1,3-ジエステラート基の少なくとも1つを配位子として有する白金化合物
2、 前記(C)成分が、ビスアセチルアセトナト白金(II)である1の積層体の製造方法、
3. (i)光硬化型シリコーン組成物を第一の基材表面に塗布する塗布工程と、
(ii)光硬化型シリコーン組成物にピーク波長380~420nmの光を照射する光照射工程と、
(iii)光硬化型シリコーン組成物を硬化させて接着剤層を形成する硬化工程と、
(iv)光硬化型シリコーン組成物または接着剤層の上に第二の基材を積層して第一および第二の基材を前記接着剤組成物または接着剤層を介して貼り合わせる貼合工程と
を含む1または2の積層体の製造方法、
4. 前記硬化工程が、5~35℃で行われる3の積層体の製造方法、
5. 前記第二の基材が、偏光板または偏光フィルムである3または4の積層体の製造方法、
6. 前記第一の基材が、偏光板または偏光フィルムである1~5のいずれかの積層体の製造方法、
7. 前記光のピーク波長が405nmである1~6のいずれかの積層体の製造方法、
8. 前記積層体が画像表示装置である1~7のいずれかの積層体の製造方法
を提供する。
本発明に係る積層体の製造方法は、第一の基材と、この第一の基材に積層された接着剤層とを備える積層体の製造方法であって、接着剤層を、上記(A)~(C)成分を含有する光硬化型シリコーン組成物に、ピーク波長380~420nmの光を照射して硬化させて形成することを特徴とする。
本発明で用いる光硬化型シリコーン接着剤組成物を構成する各成分について説明する。
[1](A)成分
本発明で用いる光硬化型シリコーン組成物における(A)成分は、下記平均式(1)で表される直鎖状オルガノポリシロキサンである。
(R1R2 2SiO1/2)a(R2 3SiO1/2)2-a(Ar2SiO2/2)b(R2 2SiO2/2)c (1)
このアルケニル基は、特に限定されるものではなく、直鎖、分岐、環状のいずれでもよいが、炭素原子数2~20のものが好ましく、炭素原子数2~10のものがより好ましく、炭素原子数2~6のものがより一層好ましい。
アルケニル基の具体例としては、ビニル、アリル、ブテニル、ペンテニル、ヘキセニル基等が挙げられるが、ビニル基が好ましい。
また、上記アルケニル基の水素原子の一部または全部は、F、Cl、Br等のハロゲン原子、シアノ基等で置換されていてもよい。
このアルキル基は、特に限定されるものではなく、直鎖、分岐、環状のいずれでもよいが、炭素原子数1~20のものが好ましく、炭素原子数1~10のものがより好ましく、炭素原子数1~5のものがより一層好ましい。
アルキル基の具体例としては、メチル、エチル、n-プロピル、i-プロピル、n-ブチル、n-ペンチル、n-ヘキシル、n-ヘプチル基等の直鎖または分岐のアルキル基;シクロヘキシル基等の環状アルキル基などが挙げられる。
また、上記アルキル基の水素原子の一部または全部は、F、Cl、Br等のハロゲン原子、シアノ基等で置換されていてもよく、そのような基の具体例としては、クロロメチル、3-クロロプロピル、3,3,3-トリフルオロプロピル基等のハロゲン置換アルキル基等が挙げられる。
これらの中でも、耐熱性の点からメチル基が好ましい。
このアリール基は、特に限定されるものではないが、炭素原子数6~20のものが好ましく、炭素原子数6~10のものがより好ましい。
アリール基の具体例としては、フェニル、ナフチル、トリル、キシリル、メシチル基等が挙げられる。
また、上記アリール基の水素原子の一部または全部は、F、Cl、Br等のハロゲン原子、シアノ基等で置換されていてもよく、そのような基の具体例としては、クロロフェニル基等が挙げられる。
これらの中でもフェニル基が好ましい。
bは、0~100の数であるが、0~50の数が好ましい。bが100よりも大きいと、粘度が高くなりすぎるおそれがある。
cは、1~1,000の数であるが、1~500の数が好ましく、100~300の数がより好ましい。cが1未満であると、硬化物が硬くなりすぎるおそれがあり、1,000よりも大きいと、粘度が高くなりすぎるおそれがある。
b/(b+c)は0~0.7であるが、0~0.3が好ましい。b/(b+c)が0.7よりも大きいと、粘度が高くなりすぎるおそれがある。
なお、(A)成分のオルガノポリシロキサンは、1種単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
本発明で用いる光硬化型シリコーン組成物における(B)成分は、下記平均組成式(2)で表される、1分子中に少なくとも2個のSi-H結合を有するオルガノハイドロジェンポリシロキサンである。
R3 dHeSiO[(4-d-e)/2] (2)
R3の1価炭化水素基は、脂肪族不飽和炭化水素基を有しないものであれば特に限定はなく、直鎖、分岐、環状のいずれでもよいが、炭素原子数1~20のものが好ましく、炭素原子数1~10のものがより好ましく、炭素原子数1~5のものがより一層好ましい。
その具体例としては、メチル、エチル、n-プロピル、イソプロピル、n-ブチル、tert-ブチル、n-ヘキシル基等の直鎖または分岐のアルキル基;シクロヘキシル基等の環状アルキル基;フェニル、トリル基等のアリール基;ベンジル、フェニルエチル基等のアラルキル基などが挙げられる。
また、これらの1価炭化水素基の水素原子の一部または全部は、F、Cl、Br等のハロゲン原子、シアノ基等で置換されていてもよく、そのような基の具体例としては、3,3,3-トリフルオロプロピル基等のハロゲン置換炭化水素基;2-シアノエチル基等のシアノ置換炭化水素基等が挙げられる。
これらの中でも、メチル基が好ましい。
eは、0.01≦e≦1.0の数であるが、0.02≦e≦1.0の数が好ましく、0.1≦e≦1.0の数がより好ましい。eが0.01未満では、十分な硬度が得られず、1.0を超えると、硬化時に発泡するおそれがあるうえ、経時での硬度変化が大きくなりやすい。
d+eは、0.8≦d+e≦2.7を満たすが、好ましくは1≦d+e≦2.4、より好ましくは1.6≦d+e≦2.2を満たす。d+eが0.8未満では、硬化物が硬く、また脆くなりやすいため接着剤層中にクラックが入りやすく、2.7を超えると硬化物が柔らかくなり、積層体の補強性に乏しくなる。
また、この(B)成分のオルガノハイドロジェンポリシロキサンは、(A)成分中のアルケニル基に対する(B)成分中のケイ素原子結合水素原子(すなわち、SiH基)のモル比が0.5~2モル/モルとなる量で配合することが好ましく、1~1.5モル/モルとなる量で配合することがより好ましい。
なお、(B)成分のオルガノハイドロジェンポリシロキサンは、1種単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
Me2.0H0.1SiO[1.9/2] (6)
Me1.8H0.3SiO[1.9/2] (7)
Me1.7H0.4SiO[1.9/2] (8)
本発明で用いる光硬化型シリコーン組成物における(C)成分は、β-ジケトナト基、β-ケトエステラート基、および1,3-ジエステラート基の少なくとも1つを配位子として有する白金化合物である。この白金化合物は、遮光された状態では不活性であるが、波長380~420nmの光を照射することによって室温で活性な白金触媒に変化し、上述した(A)成分中のアルケニル基と、(B)成分中のケイ素原子結合水素原子とのヒドロシリル化反応を促進する機能を有する。
これらの中でも、ビス(アセチルアセトナト)白金錯体、およびそのアセチルアセトナト基上を修飾した誘導体が好適である。
本発明で用いる光硬化型シリコーン組成物には、必要に応じて(D)成分として、偏光板、ガラス、ポリカーボネート樹脂またはアクリル樹脂等の基材に対して接着性を付与するための接着助剤を添加してもよい。
(D)成分のうち、シロキサン結合を含む接着助剤の具体例としては、ビニルトリメトキシシラン(信越化学工業(株)製、KBM-1003)、γ-(グリシジロキシプロピル)トリメトキシシラン(信越化学工業(株)製、KBM-403)、γ-(メタクリロキシプロピル)トリメトキシシラン(信越化学工業(株)製、KBM-503)、およびそれらの加水分解物、並びに下記構造式で表される化合物等が挙げられる。
なお、(D)成分は、1種単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
本発明で用いる光硬化型シリコーン接着剤組成物には、組成物を調製する際や、組成物を基材に塗工する際などの加熱硬化前に増粘やゲル化を起こさないようにヒドロシリル化反応触媒の反応性を制御する目的で、必要に応じて(E)反応制御剤を添加してもよい。
反応制御剤の具体例としては、3-メチル-1-ブチン-3-オール、3-メチル-1-ペンチン-3-オール、3,5-ジメチル-1-ヘキシン-3-オール、1-エチニルシクロヘキサノール、エチニルメチルデシルカルビノール、3-メチル-3-トリメチルシロキシ-1-ブチン、3-メチル-3-トリメチルシロキシ-1-ペンチン、3,5-ジメチル-3-トリメチルシロキシ-1-ヘキシン、1-エチニル-1-トリメチルシロキシシクロヘキサン、ビス(2,2-ジメチル-3-ブチノキシ)ジメチルシラン、1,3,5,7-テトラメチル-1,3,5,7-テトラビニルシクロテトラシロキサン、1,1,3,3-テトラメチル-1,3-ジビニルジシロキサン等が挙げられ、これらは1種単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
これらの中でも、1-エチニルシクロヘキサノール、エチニルメチルデシルカルビノール、3-メチル-1-ブチン-3-オール、ビス(2,2-ジメチル-3-ブチノキシ)ジメチルシランが好ましい。
本発明で用いる光硬化型シリコーン接着剤組成物は、上記(A)~(E)成分以外にも、本発明の目的を損なわない限り、以下に例示するその他の成分を含有していてもよい。
その他の成分としては、例えば、フュームドシリカ等のチクソ性制御剤;結晶性シリカ等の補強剤;酸化防止剤;光安定剤;金属酸化物、金属水酸化物等の耐熱向上剤;酸化チタン等の着色剤;アルミナ、結晶性シリカ等の熱伝導性付与充填剤;反応性官能基を有しない非反応性シリコーンオイル等の粘度調整剤;銀、金等の金属粉等の導電性付与剤等が挙げられる。
上述した光硬化型シリコーン接着剤組成物を用いる積層体の製造方法について説明する。
上記光硬化型シリコーン接着剤組成物は、光デバイス、ディスプレイ、タッチパネル等の積層体を構成する二枚の基材を、接着層を介して貼り合せる際の接着層形成用組成物として好適に使用できる。
この場合、積層体の製造方法は、塗布工程、光照射工程、硬化工程、および貼合工程を含み、それぞれの工程の詳細としては、例えば、以下に示すものが挙げられる。
塗布工程では、上述した光硬化型シリコーン接着剤組成物を基材(第一の基材)上に塗布する。
塗布方法としては、例えば、スリットコートを利用した塗布や、DAM-Fill法、フィッシュボーン法等による手法が挙げられる。
塗布量は、特に限定されるものではないが、硬化後のシリコーン層の厚さが100~5,000μmとなる量が好ましい。
なお、上記光硬化型シリコーン接着剤組成物は、プライマー処理、プラズマ処理、エキシマ光処理などの周知の前処理工程によって活性化された基材に対しても用いることができる。
光照射工程では、光硬化型シリコーン接着剤組成物に光を照射する。
光照射方法としては、光源としてピーク波長380~420nmのランプを使用し、適量の光を照射する方法等が挙げられる。
光源としては、405nmのUV-LEDランプが好ましい。
照射する光は、ピーク波長が380~420nm、好ましくは395~410nm、より好ましくは405nmの光である。
光照射時の温度は、硬化速度と変色防止の観点から、5~60℃が好ましく、5~35℃がより好ましい。
照射強度は、300~2,000mW/cm2が好ましく、照射線量は硬化性および作業性の点から1,000~20,000mJ/cm2が好ましい。
硬化工程では、光照射した組成物を硬化させる。
硬化方法は、特に限定されるものではないが、例えば、光照射した組成物を所定の環境下に静置して硬化させ、接着剤層を形成する手法等が挙げられる。
硬化温度は、特に限定されるものではないが、積層体の熱膨張/収縮による反りや劣化を抑える観点から、5~60℃が好ましく、5~35℃がより好ましい。
硬化雰囲気は、任意であるが大気雰囲気下が好ましい。
硬化時間は、特に限定されるものではないが、1分~24時間程度が好ましい。
貼合工程では、光硬化型シリコーン接着剤組成物または接着剤層の上に第二の基材を積層して、二枚の基材を接着剤組成物または接着剤層を介して貼り合わせた積層体を形成する。
貼合方法としては、塗布工程、光照射工程および硬化工程を経て、液状から半固体状となった接着剤層-基材積層物や、塗布工程後の光硬化型シリコーン接着剤組成物、あるいは塗布工程および光照射工程後の光硬化型シリコーン接着剤組成物層-基材積層物を、真空あるいは大気圧貼り合わせ装置に設置し、第二の基材を光硬化型シリコーン接着剤組成物または接着剤層の上に積層して貼り合わせて、組成物の場合は残りの工程を行って硬化させて積層体を形成する手法等が挙げられる。
まず、本発明の光硬化型シリコーン組成物を、画像表示パネルを構成する偏光板上に塗布する。その後、波長のピークが405nmにあるUV-LEDランプを用い、光硬化型シリコーン組成物に405nm光を指標とする照射強度100mW/cm2の光を25℃にて100秒間、線量にして10,000mJ/cm2となるように照射する。続いて、25℃の環境で30分間静置してシリコーン組成物を硬化させ接着剤層を形成する。その後、真空貼り合わせ装置を用いて接着剤層の上にカバーパネルを積層することで、カバーパネルと画像表示パネルとを接着剤層を介して貼り合わせた積層体を得る。
また、光照射工程後、先に真空貼り合わせ装置を用いてシリコーン組成物の上にカバーパネルを積層することで、画像表示パネルとカバーパネルとをシリコーン組成物を介して貼り合わせ、次いで25℃の環境で30分間静置してシリコーン組成物を硬化させてもよい。あるいは、カバーパネルが透明であるため、塗布工程後、真空貼り合わせを行い、次いでカバーパネル越しに光照射を行い、硬化させてもよい。また、予め光照射を行ったシリコーン組成物を画像表示パネルに塗布し、カバーパネルと真空貼り合わせ、硬化させてもよい。
なお、下記の例において、MwはTHF溶媒を用いたGPC測定による標準ポリスチレン換算の重量平均分子量を表す。
下記成分を表1に示す配合量(質量部)にて混合し、光硬化型シリコーン組成物を調製した。
(A)成分:
(A-1)下記平均構造式(3)で表されるオルガノポリシロキサン(Mw:28,000)
(ViMe2Si)0.57(Me3SiO)1.43(Me2SiO)220 (5)
(B-1)下記平均組成式(6)で表され、23℃における動粘度が17mm2/sである分子鎖両末端ヒドロジメチルシロキシ基封鎖のジメチルシロキサン
Me2.0H0.1SiO[1.9/2] (6)
(B-2)下記平均組成式(7)で表され、23℃における動粘度が27mm2/sである分子鎖両末端ヒドロジメチルシロキシ基封鎖のジメチルシロキサン
Me1.8H0.3SiO[1.9/2] (7)
(B-3)下記平均組成式(8)で表され、23℃における動粘度が105mm2/sである分子鎖両末端ヒドロジメチルシロキシ基封鎖のジメチルシロキサン
Me1.7H0.4SiO[1.9/2] (8)
(C-1)ビスアセチルアセトナト白金錯体の酢酸2-(2-ブトキシエトキシ)エチル溶液(白金含有量0.5質量%)
(C-2)比較成分 トリメチル(メチルシクロペンタジエニル)白金錯体のトルエン溶液(白金含有量0.5質量%)
(D-1)7-オクテニルトリメトキシシラン(信越化学工業(株)製、KBM-1083)
(D-2)下記構造式(10)で表される化合物
(E-1)下記式(9)で表される化合物
フュームドシリカ(アエロジルNSX-200(平均一次粒子径8nm)、日本アエロジル(株))
上記各製造例および比較製造例で調製した光硬化型シリコーン接着剤組成物について、下記手法によってゲル化時間を評価した。結果を表2に示す。
[ゲル化時間]
UV硬化アクセサリを備えた粘弾性測定装置ARES-G2(ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン(株)製)を用いてゲル化時間を測定した。
調製した各光硬化型シリコーン組成物1mlをステンレススチール製のプレート部、またはこのプレート部上に固定された下記の各偏光板上に塗布し、ピーク波長365nmのUV-LEDランプ(パナソニック(株)製、ANOJ6186)または波長405nmのUV-LEDランプ(パナソニック(株)製、ANOJ6189)を用い、100mW/cm2の光を10,000mJ/cm2となるように25℃で各組成物に照射した。
その後、25℃に温度を保ち、粘弾性を測定した。UV照射を完了してからtanδ=1となるまでに要した時間(分)をゲル化時間とした。
偏光板2:日東電工(株)製NAZ-EFCWQVAG15AR
偏光板3:日東電工(株)製NAZ-EFCWQVAG150
偏光板4:日東電工(株)製NPF-CWQ1463VCUAG15ARS
偏光板5:日東電工(株)製NPF-SWQ1423CUARC380
偏光板6:日東電工(株)製NPF-CWQ1463VCUAG150
一方、本発明の(C)成分以外の付加反応触媒を使用した比較例1,2では、ピーク波長405nmのLED光源を用いた光照射による硬化が起こらず、実施例1,2における光源をピーク波長365nmのLED光源に変更した比較例3,4では、偏光板に起因する硬化阻害が発生する場合があることがわかる。
Claims (8)
- 第一の基材と、この第一の基材に積層された接着剤層とを備える積層体の製造方法であって、
前記接着剤層を、下記(A)~(C)成分を含有する光硬化型シリコーン組成物に、ピーク波長380~420nmの光を照射して硬化させて形成することを特徴とする積層体の製造方法。
(A)下記平均式(1)で表される直鎖状オルガノポリシロキサン:100質量部
(R1R2 2SiO1/2)a(R2 3SiO1/2)2-a(Ar2SiO2/2)b(R2 2SiO2/2)c (1)
{式中、R1は、それぞれ独立して、置換または非置換のアルケニル基を表し、R2は、それぞれ独立して、置換または非置換のアルキル基を表し、Arは、それぞれ独立して、置換または非置換のアリール基を表し、aは、0.3~2の数を表し、bは、0~100、cは、1~1,000、かつ、b/(b+c)=0~0.7を満たす数を表す。}
(B)下記平均組成式(2)で表される、1分子中に少なくとも2個のSi-H結合を有するオルガノハイドロジェンポリシロキサン:1~200質量部
R3 dHeSiO[(4-d-e)/2] (2)
(式中、R3は、それぞれ独立して、脂肪族不飽和炭化水素基を除く置換または非置換の一価炭化水素基を表し、dおよびeは、0.7≦d≦2.5、0.01≦e≦1.0、かつ、0.8≦d+e≦2.7を満たす数を表す。)
(C)β-ジケトナト基、β-ケトエステラート基、および1,3-ジエステラート基の少なくとも1つを配位子として有する白金化合物 - 前記(C)成分が、ビスアセチルアセトナト白金(II)である請求項1記載の積層体の製造方法。
- (i)光硬化型シリコーン組成物を第一の基材表面に塗布する塗布工程と、
(ii)光硬化型シリコーン組成物にピーク波長380~420nmの光を照射する光照射工程と、
(iii)光硬化型シリコーン組成物を硬化させて接着剤層を形成する硬化工程と、
(iv)光硬化型シリコーン組成物または接着剤層の上に第二の基材を積層して第一および第二の基材を前記光硬化型シリコーン組成物または接着剤層を介して貼り合わせる貼合工程と
を含む請求項1または2記載の積層体の製造方法。 - 前記硬化工程が、5~35℃で行われる請求項3記載の積層体の製造方法。
- 前記第二の基材が、偏光板または偏光フィルムである請求項3または4記載の積層体の製造方法。
- 前記第一の基材が、偏光板または偏光フィルムである請求項1~5のいずれか1項記載の積層体の製造方法。
- 前記光のピーク波長が405nmである請求項1~6のいずれか1項記載の積層体の製造方法。
- 前記積層体が画像表示装置である請求項1~7のいずれか1項記載の積層体の製造方法。
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