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JP6829271B2 - Measurement operation parameter adjustment device, machine learning device and system - Google Patents

Measurement operation parameter adjustment device, machine learning device and system Download PDF

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JP6829271B2 JP2019001207A JP2019001207A JP6829271B2 JP 6829271 B2 JP6829271 B2 JP 6829271B2 JP 2019001207 A JP2019001207 A JP 2019001207A JP 2019001207 A JP2019001207 A JP 2019001207A JP 6829271 B2 JP6829271 B2 JP 6829271B2
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Description

本発明は、測定動作パラメータ調整装置、機械学習装置及びシステムに関する。 The present invention relates to a measurement operation parameter adjusting device, a machine learning device and a system.

従来、図11に例示されるように、接触式のタッチセンサ等や非接触式の視覚センサ等を機械的な機構部に取付けて、該機構部を移動させることでセンサを移動させて、測定対象物の位置を測定することが行われている。図11に示した例では、接触式センサを用いる場合には、接触式センサがワークに接触したことを検知した時の機構部を座標値に基づいて測定対象物の位置を測定し、非接触センサを用いる場合には、非接触センサに対抗する物体の距離が変化した時、即ち非接触センサが測定対象物の端部に差し掛かった時の機構部を座標値に基づいて測定対象物の位置を測定することができる。 Conventionally, as illustrated in FIG. 11, a contact type touch sensor or the like or a non-contact type visual sensor or the like is attached to a mechanical mechanical part, and the sensor is moved by moving the mechanical part for measurement. The position of the object is being measured. In the example shown in FIG. 11, when the contact type sensor is used, the position of the object to be measured is measured based on the coordinate value of the mechanical part when the contact type sensor detects that the work is in contact with the work, and the contact is not made. When a sensor is used, the position of the object to be measured is measured based on the coordinate value of the mechanical part when the distance of the object facing the non-contact sensor changes, that is, when the non-contact sensor approaches the end of the object to be measured. Can be measured.

機械的な機構部に取付けられたセンサにより測定対象物の位置を検出する際には、測定動作開始時における機構部の位置や測定動作時の機構部の移動の速度を予め決定しておく必要がある。この様な位置と速度を決定する従来技術として、例えば特許文献1には、測定を行う前に測定対象物に対してセンサを接触させ、その時の位置に基づいて測定動作開始時における機構部の位置等を決定する技術が開示されている。 When detecting the position of the object to be measured by the sensor attached to the mechanical mechanism, it is necessary to determine in advance the position of the mechanism at the start of the measurement operation and the moving speed of the mechanism during the measurement operation. There is. As a conventional technique for determining such a position and speed, for example, in Patent Document 1, a sensor is brought into contact with a measurement object before measurement is performed, and a mechanism unit at the start of measurement operation is based on the position at that time. A technique for determining a position or the like is disclosed.

特開2010−217182号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2010-217182

特許文献1に開示される技術は、測定対象物の大きさや設置位置にバラつきが無い場合には有効では有るものの、実際の現場では接触式センサが接触する位置や非接触センサが距離の変化を検出する位置は同品種の測定対象物であってもバラつきが発生する。例えば、下部に穴部を備え、該穴部を台の上に設けられた突部に嵌合させて設置された測定対象物の位置を測定する場合、理想的には常に同じ位置に設置されていると考えられるが、実際には穴部と突部の間にあそびが設けられ、測定対象物の設置位置には若干ではあるがずれが生じる。また、測定対象物の形状そのものにバラつきがある場合や、同じ測定機構で異なる品種の測定対象物の位置を測定する場合もある。この様な状況に対応するためには、特許文献1に開示される技術では、最もバラつきが大きい場合を想定してマージンを持たせた測定動作開始位置を一律に設定するしかなく、状況に応じてタクトタイムを短くすることが難しい。 Although the technique disclosed in Patent Document 1 is effective when there is no variation in the size and installation position of the object to be measured, in the actual field, the position where the contact sensor contacts and the non-contact sensor change the distance. The detection position varies even if the measurement target is of the same type. For example, when measuring the position of a measurement object having a hole at the bottom and fitting the hole into a protrusion provided on a table, ideally, the hole is always installed at the same position. However, in reality, a play is provided between the hole and the protrusion, and the installation position of the object to be measured is slightly displaced. In addition, the shape of the object to be measured may vary, or the position of the object to be measured of different types may be measured by the same measuring mechanism. In order to deal with such a situation, in the technique disclosed in Patent Document 1, there is no choice but to uniformly set the measurement operation start position with a margin assuming the case where the variation is the largest, depending on the situation. It is difficult to shorten the tact time.

また、接触式センサが測定対象物に接触してデジタル信号を検出するまでの時間や、非接触式センサが測定対象物の端部に差し掛かってからデジタル信号を検出するまでの時間は、センサの種類が同じであっても個体差があるためにバラつきがあり、このバラつきを考慮してセンサの移動速度を設定しなければ、(接触式)センサが測定対象物にぶつかってセンサ、機構部、測定対象物が損傷する問題や、測定対象物の設置位置がずれてしまうという問題が生じる場合がある。更に、測定動作におけるセンサを移動させる速度は一定の速度でないと測定される測定対象物の位置にバラつきが生じるので、測定動作におけるセンサを移動させる速度は全体を考慮すれば一定の遅い速度に設定することとなるが、それではタクトタイムが遅くなってしまうという別の問題が有る。 In addition, the time it takes for the contact sensor to come into contact with the object to be measured and detect the digital signal, and the time it takes for the non-contact sensor to reach the end of the object to be measured until the digital signal is detected are determined by the sensor. Even if the type is the same, there are variations due to individual differences, and if the movement speed of the sensor is not set in consideration of this variation, the (contact type) sensor will hit the object to be measured and the sensor, mechanism, etc. There may be a problem that the object to be measured is damaged or a problem that the installation position of the object to be measured is displaced. Furthermore, if the speed at which the sensor is moved in the measurement operation is not a constant speed, the position of the object to be measured will vary, so the speed at which the sensor is moved in the measurement operation is set to a constant slow speed when the whole is taken into consideration. However, there is another problem that the tact time is delayed.

そこで、測定対象物の設置位置や大きさ、品種にバラつきが有る場合であっても効率よく測定対象物の設置位置を測定することを可能とする測定動作パラメータ調整装置、機械学習装置及びシステムが望まれている。 Therefore, a measurement operation parameter adjusting device, a machine learning device, and a system that enable efficient measurement of the installation position of the measurement object even if there are variations in the installation position, size, and type of the measurement object are provided. It is desired.

本発明の一態様は、測定対象物の設置位置を測定する測定装置で実行される測定動作の測定動作パラメータを調整する測定動作パラメータ調整装置であって、前記測定動作の測定動作パラメータを示す測定動作パラメータデータ、及び該測定動作に掛かる時間を示す測定時間データを、環境の現在状態を表す状態変数として観測し、該状態変数に基づいて、前記測定動作パラメータの調整をモデル化した学習モデルを用いた学習乃至意思決定をする機械学習装置を備え、前記機械学習装置は、前記測定動作の測定動作パラメータを示す測定動作パラメータデータ、及び該測定動作に掛かる時間を示す測定時間データを、環境の現在状態を表す状態変数として観測する状態観測部と、前記測定動作の測定動作パラメータに基づいて実行された測定動作の適否を判定する測定動作判定データを、前記測定動作の適否判定結果を示す判定データとして取得する判定データ取得部と、前記状態変数と前記判定データとを用いて、前記測定動作に掛かる時間と、前記測定動作の測定動作パラメータの調整とを関連付けて学習した前記学習モデルを生成する学習部と、を備える、測定動作パラメータ調整装置である。 One aspect of the present invention is a measurement operation parameter adjusting device that adjusts the measurement operation parameters of the measurement operation executed by the measurement device that measures the installation position of the measurement object, and is a measurement indicating the measurement operation parameters of the measurement operation. An operation parameter data and measurement time data indicating the time required for the measurement operation are observed as state variables representing the current state of the environment, and a learning model modeling the adjustment of the measurement operation parameters based on the state variables is obtained. A machine learning device for learning or making a decision is provided , and the machine learning device obtains measurement operation parameter data indicating the measurement operation parameters of the measurement operation and measurement time data indicating the time required for the measurement operation in an environment. The state observation unit that observes as a state variable representing the current state, and the measurement operation judgment data that determines the suitability of the measurement operation executed based on the measurement operation parameters of the measurement operation are determined to indicate the suitability judgment result of the measurement operation. Using the determination data acquisition unit acquired as data, the state variable, and the determination data, the learning model learned by associating the time required for the measurement operation with the adjustment of the measurement operation parameter of the measurement operation is generated. a learning unit for, Ru provided with a measurement operation parameter adjustment device.

本発明の他の態様は、測定対象物の設置位置を測定する測定装置で実行される測定動作の測定動作パラメータを示す測定動作パラメータデータ、及び該測定動作に掛かる時間を示す測定時間データを、環境の現在状態を表す状態変数として観測し、該状態変数に基づいて、前記測定動作パラメータの調整をモデル化した学習モデルを用いた学習乃至意思決定をする、機械学習装置であって、前記測定動作の測定動作パラメータを示す測定動作パラメータデータ、及び該測定動作に掛かる時間を示す測定時間データを、環境の現在状態を表す状態変数として観測する状態観測部と、前記測定動作の測定動作パラメータに基づいて実行された測定動作の適否を判定する測定動作判定データを、前記測定動作の適否判定結果を示す判定データとして取得する判定データ取得部と、前記状態変数と前記判定データとを用いて、前記測定動作に掛かる時間と、前記測定動作の測定動作パラメータの調整とを関連付けて学習した前記学習モデルを生成する学習部と、を備える機械学習装置である。 In another aspect of the present invention, measurement operation parameter data indicating the measurement operation parameters of the measurement operation executed by the measurement device for measuring the installation position of the measurement object, and measurement time data indicating the time required for the measurement operation are obtained. A machine learning device that observes as a state variable representing the current state of the environment, and based on the state variable, learns or makes a decision using a learning model that models the adjustment of the measurement operation parameter. Measurement of operation The measurement operation parameter data indicating the operation parameter and the measurement time data indicating the time required for the measurement operation are used as the state observation unit for observing the current state of the environment as a state variable and the measurement operation parameter of the measurement operation. Using the determination data acquisition unit that acquires the measurement operation determination data for determining the suitability of the measurement operation executed based on the determination data as the determination data indicating the suitability determination result of the measurement operation, and the state variable and the determination data, It is a machine learning device including a learning unit for generating the learning model learned by associating the time required for the measurement operation with the adjustment of the measurement operation parameters of the measurement operation.

本発明の他の態様は、複数の装置がネットワークを介して相互に接続されたシステムであって、前記複数の装置は、少なくとも請求項1に記載された第1の測定動作パラメータ調整装置を含むシステムである。 Another aspect of the present invention is a system in which a plurality of devices are connected to each other via a network, and the plurality of devices include at least the first measurement operation parameter adjusting device according to claim 1. It is a system.

本発明の他の態様は、測定対象物の設置位置を測定する測定動作の測定動作パラメータを示す測定動作パラメータデータ、及び該測定動作に掛かる時間を示す測定時間データを、環境の現在状態を表す状態変数として観測し、該状態変数に基づいて、前記測定動作パラメータの調整をモデル化した学習モデルを用いた学習乃至意思決定をするステップを、測定対象物の設置位置を測定する測定装置で実行する測定動作パラメータの調整の学習乃至意思決定をする方法であって、前記学習モデルを用いた学習乃至意思決定をするステップは、前記測定動作の測定動作パラメータを示す測定動作パラメータデータ、及び該測定動作に掛かる時間を示す測定時間データを、環境の現在状態を表す状態変数として観測するステップと、前記測定動作の測定動作パラメータに基づいて実行された測定動作の適否を判定する測定動作判定データを、前記測定動作の適否判定結果を示す判定データとして取得するステップと、前記状態変数と前記判定データとを用いて、前記測定動作に掛かる時間と、前記測定動作の測定動作パラメータの調整とを関連付けて学習する学習するステップと、を実行する測定動作パラメータの調整の学習乃至意思決定をする方法である。 In another aspect of the present invention, the measurement operation parameter data indicating the measurement operation parameter of the measurement operation for measuring the installation position of the measurement object and the measurement time data indicating the time required for the measurement operation represent the current state of the environment. The step of observing as a state variable and learning or making a decision using a learning model that models the adjustment of the measurement operation parameter based on the state variable is executed by a measuring device that measures the installation position of the measurement object. It is a method of learning or making a decision on adjustment of measurement motion parameters to be performed, and a step of learning or making a decision using the learning model is a measurement motion parameter data indicating the measurement motion parameter of the measurement motion and the measurement. The step of observing the measurement time data indicating the time required for the operation as a state variable representing the current state of the environment, and the measurement operation judgment data for determining the suitability of the measurement operation executed based on the measurement operation parameters of the measurement operation. , The step of acquiring as the judgment data indicating the suitability judgment result of the measurement operation, and the time required for the measurement operation and the adjustment of the measurement operation parameter of the measurement operation are associated with each other by using the state variable and the judgment data. It is a method of learning or making a decision on the adjustment of measurement motion parameters to be executed .

本発明により、測定対象物の設置位置や大きさ、品種にバラつきが有る場合であっても、そのバラつき具合を機械学習装置により学習させることで、効率よく測定対象物の設置位置を測定することを可能となる。 According to the present invention, even if there are variations in the installation position, size, and product type of the measurement object, the installation position of the measurement object can be efficiently measured by learning the degree of variation with a machine learning device. Is possible.

一実施形態による測定動作パラメータ調整装置の概略的なハードウェア構成図である。It is a schematic hardware block diagram of the measurement operation parameter adjustment apparatus by one Embodiment. 一実施形態による測定動作パラメータ調整装置の概略的な機能ブロック図である。It is a schematic functional block diagram of the measurement operation parameter adjustment apparatus by one Embodiment. 測定動作パラメータ調整装置の一形態を示す概略的な機能ブロック図である。It is a schematic functional block diagram which shows one form of the measurement operation parameter adjustment apparatus. 機械学習方法の一形態を示す概略的なフローチャートである。It is a schematic flowchart which shows one form of the machine learning method. ニューロンを説明する図である。It is a figure explaining a neuron. ニューラルネットワークを説明する図である。It is a figure explaining a neural network. クラウドサーバ、フォグサーバ、エッジコンピュータを含む3階層構造のシステムの例を示す図である。It is a figure which shows the example of the system of the three-layer structure including a cloud server, a fog server, and an edge computer. 測定動作パラメータ調整装置を組み込んだシステムの一形態を示す概略的な機能ブロック図である。It is a schematic functional block diagram which shows one form of the system which incorporated the measurement operation parameter adjustment device. 測定動作パラメータ調整装置を組み込んだシステムの他の形態を示す概略的な機能ブロック図である。It is a schematic functional block diagram which shows other form of the system which incorporated the measurement operation parameter adjustment device. 図8で示したコンピュータの概略的なハードウェア構成図である。It is a schematic hardware configuration diagram of the computer shown in FIG. 測定動作パラメータ調整装置を組み込んだシステムの他の形態を示す概略的な機能ブロック図である。It is a schematic functional block diagram which shows other form of the system which incorporated the measurement operation parameter adjustment device. 測定装置による測定対象物の設置位置の測定動作を説明する図である。It is a figure explaining the measurement operation of the installation position of the measurement object by a measuring device.

以下、本発明の実施形態を図面と共に説明する。
図1は一実施形態による測定動作パラメータ調整装置の要部を示す概略的なハードウェア構成図である。測定動作パラメータ調整装置1は、例えばロボット等の製造機械等を制御する制御装置や、製造機械等に併設されたパソコンとして実装することができる。また、測定動作パラメータ調整装置1は、製造機械等に有線/無線のネットワークを介して接続されたセルコンピュータ、エッジコンピュータ、フォグコンピュータ、ホストコンピュータ、クラウドサーバ等のコンピュータとして実装することができる。本実施形態では、測定動作パラメータ調整装置1を、製造機械等に併設されたパソコンとして実装した場合の例を示す。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a schematic hardware configuration diagram showing a main part of a measurement operation parameter adjusting device according to an embodiment. The measurement operation parameter adjusting device 1 can be mounted as, for example, a control device for controlling a manufacturing machine such as a robot, or a personal computer attached to the manufacturing machine or the like. Further, the measurement operation parameter adjusting device 1 can be implemented as a computer such as a cell computer, an edge computer, a fog computer, a host computer, or a cloud server connected to a manufacturing machine or the like via a wired / wireless network. In this embodiment, an example is shown in which the measurement operation parameter adjusting device 1 is mounted as a personal computer attached to a manufacturing machine or the like.

本実施形態による測定動作パラメータ調整装置1が備えるCPU11は、測定動作パラメータ調整装置1を全体的に制御するプロセッサである。CPU11は、ROM12に格納されたシステム・プログラムをバス20を介して読み出し、該システム・プログラムに従って測定動作パラメータ調整装置1の全体を制御する。RAM13には一時的な計算データやディスプレイ等の表示装置70に表示する表示データ、キーボードやマウス、タッチパネル等の入力装置71を介してオペレータが入力した各種データ等が一時的に格納される。 The CPU 11 included in the measurement operation parameter adjusting device 1 according to the present embodiment is a processor that controls the measurement operation parameter adjusting device 1 as a whole. The CPU 11 reads the system program stored in the ROM 12 via the bus 20 and controls the entire measurement operation parameter adjusting device 1 according to the system program. The RAM 13 temporarily stores temporary calculation data, display data to be displayed on the display device 70 such as a display, and various data input by the operator via the input device 71 such as a keyboard, mouse, and touch panel.

不揮発性メモリ14は、例えば図示しないバッテリでバックアップされるなどして、測定動作パラメータ調整装置1の電源がオフされても記憶状態が保持されるメモリとして構成される。不揮発性メモリ14には、入力装置71を介して入力されたプログラム、測定動作パラメータ調整装置1の各部やセンサを把持したロボット等の測定装置2から取得された各種データ(例えば、測定装置2が測定する座標系内での測定装置2の位置、測定装置2が備えるセンサの測定動作開始時の位置、測定装置2が備えるセンサの測定動作時の移動速度、測定動作時のセンサが測定対象物を検出するまでの測定動作会指示からの時間、測定対象物の品種、作業者が入力したセンサや測定対象物の状態情報等)が記憶されている。不揮発性メモリ14に記憶されたプログラムや各種データは、実行時/利用時にはRAM13に展開されても良い。また、ROM12には、公知の解析プログラムなどの各種のシステム・プログラム(後述する機械学習装置100とのやりとりを制御するためのシステム・プログラムを含む)があらかじめ書き込まれている。 The non-volatile memory 14 is configured as a memory in which the storage state is maintained even when the power of the measurement operation parameter adjusting device 1 is turned off, for example, by backing up with a battery (not shown). In the non-volatile memory 14, various data (for example, the measuring device 2) acquired from the measuring device 2 such as a program input via the input device 71, each part of the measuring operation parameter adjusting device 1 and a robot holding the sensor The position of the measuring device 2 in the coordinate system to be measured, the position of the sensor provided in the measuring device 2 at the start of the measurement operation, the moving speed of the sensor provided in the measuring device 2 during the measurement operation, and the sensor during the measurement operation are the objects to be measured. The time from the measurement operation meeting instruction until the detection is detected, the type of the measurement object, the state information of the sensor and the measurement object input by the operator, etc.) are stored. The program and various data stored in the non-volatile memory 14 may be expanded in the RAM 13 at the time of execution / use. Further, various system programs (including a system program for controlling interaction with the machine learning device 100, which will be described later) such as a known analysis program are written in advance in the ROM 12.

インタフェース21は、測定動作パラメータ調整装置1と機械学習装置100とを接続するためのインタフェースである。機械学習装置100は、機械学習装置100全体を統御するプロセッサ101と、システム・プログラム等を記憶したROM102、機械学習に係る各処理における一時的な記憶を行うためのRAM103、及び学習モデル等の記憶に用いられる不揮発性メモリ104を備える。機械学習装置100は、インタフェース21を介して測定動作パラメータ調整装置1で取得可能な各情報(例えば、測定装置2が測定する座標系内での測定装置2の位置、測定装置2が備えるセンサの測定動作開始時の位置、測定装置2が備えるセンサの測定動作時の移動速度、測定動作時のセンサが測定対象物を検出するまでの測定動作会指示からの時間、測定対象物の品種、作業者が入力したセンサや測定対象物の状態情報等)を観測することができる。また、測定動作パラメータ調整装置1は、機械学習装置100から出力される測定動作パラメータの調整指令を受けて、測定装置2による測定動作パラメータの設定を行う。 The interface 21 is an interface for connecting the measurement operation parameter adjusting device 1 and the machine learning device 100. The machine learning device 100 stores a processor 101 that controls the entire machine learning device 100, a ROM 102 that stores a system program and the like, a RAM 103 that temporarily stores each process related to machine learning, a learning model, and the like. The non-volatile memory 104 used for the above is provided. The machine learning device 100 has each information that can be acquired by the measurement operation parameter adjusting device 1 via the interface 21 (for example, the position of the measuring device 2 in the coordinate system measured by the measuring device 2 and the sensor included in the measuring device 2). The position at the start of the measurement operation, the moving speed of the sensor provided in the measuring device 2 during the measurement operation, the time from the measurement operation meeting instruction until the sensor during the measurement operation detects the measurement object, the type of the measurement object, and the work. It is possible to observe the sensor input by the person, the state information of the object to be measured, etc.). Further, the measurement operation parameter adjusting device 1 receives the adjustment command of the measurement operation parameter output from the machine learning device 100, and sets the measurement operation parameter by the measuring device 2.

図2は、一実施形態による測定動作パラメータ調整装置1と機械学習装置100の概略的な機能ブロック図である。図2に示した各機能ブロックは、図1に示した測定動作パラメータ調整装置1が備えるCPU11、及び機械学習装置100のプロセッサ101が、それぞれのシステム・プログラムを実行し、測定動作パラメータ調整装置1及び機械学習装置100の各部の動作を制御することにより実現される。 FIG. 2 is a schematic functional block diagram of the measurement operation parameter adjusting device 1 and the machine learning device 100 according to the embodiment. In each functional block shown in FIG. 2, the CPU 11 included in the measurement operation parameter adjusting device 1 shown in FIG. 1 and the processor 101 of the machine learning device 100 execute their respective system programs, and the measurement operation parameter adjusting device 1 And it is realized by controlling the operation of each part of the machine learning device 100.

本実施形態の測定動作パラメータ調整装置1は、機械学習装置100から出力された測定動作パラメータの調整指令に基づいて測定装置2を制御する測定動作パラメータ設定部34を備える。測定動作パラメータ設定部34は、測定装置2による測定動作で用いられる測定動作パラメータの調整をする機能手段である。測定動作パラメータ設定部34は、少なくとも測定装置2が測定対象物の位置を測定する際の測定動作開始位置と測定動作速度とを設定することができる。 The measurement operation parameter adjusting device 1 of the present embodiment includes a measurement operation parameter setting unit 34 that controls the measuring device 2 based on the measurement operation parameter adjustment command output from the machine learning device 100. The measurement operation parameter setting unit 34 is a functional means for adjusting the measurement operation parameters used in the measurement operation by the measurement device 2. The measurement operation parameter setting unit 34 can set at least the measurement operation start position and the measurement operation speed when the measurement device 2 measures the position of the measurement object.

一方、測定動作パラメータ調整装置1が備える機械学習装置100は、測定動作に掛かる時間に対する測定動作の測定動作パラメータの調整を、いわゆる機械学習により自ら学習するためのソフトウェア(学習アルゴリズム等)及びハードウェア(プロセッサ101等)を含む。測定動作パラメータ調整装置1が備える機械学習装置100が学習するものは、測定動作に掛かる時間と、測定動作の測定動作パラメータの調整との、相関性を表すモデル構造に相当する。 On the other hand, the machine learning device 100 included in the measurement operation parameter adjusting device 1 is software (learning algorithm, etc.) and hardware for self-learning the adjustment of the measurement operation parameter of the measurement operation with respect to the time required for the measurement operation by so-called machine learning. (Processor 101 and the like) are included. What the machine learning device 100 included in the measurement operation parameter adjusting device 1 learns corresponds to a model structure showing a correlation between the time required for the measurement operation and the adjustment of the measurement operation parameter of the measurement operation.

図2に機能ブロックで示すように、測定動作パラメータ調整装置1が備える機械学習装置100は、測定動作の測定動作パラメータを示す測定動作パラメータデータS1、及び測定動作に掛かる時間を示す測定時間データS2を含む環境の現在状態を表す状態変数Sとして観測する状態観測部106と、調整された測定動作の測定動作パラメータに基づいて実行された測定動作の良否を判定するための測定動作判定データD1を含む判定データDを取得する判定データ取得部108と、状態変数Sと判定データDとを用いて、測定動作に掛かる時間と、測定動作の測定動作パラメータの調整を関連付けて学習する学習部110とを備える。 As shown by the functional block in FIG. 2, the machine learning device 100 included in the measurement operation parameter adjusting device 1 has measurement operation parameter data S1 indicating the measurement operation parameter of the measurement operation and measurement time data S2 indicating the time required for the measurement operation. The state observation unit 106 for observing as the state variable S representing the current state of the environment including the above, and the measurement operation determination data D1 for determining the quality of the measurement operation executed based on the measurement operation parameters of the adjusted measurement operation. A determination data acquisition unit 108 for acquiring the included determination data D, and a learning unit 110 for learning by associating the time required for the measurement operation with the adjustment of the measurement operation parameters of the measurement operation using the state variable S and the determination data D. To be equipped.

状態観測部106が観測する状態変数Sのうち、測定動作パラメータデータS1は、測定装置2において行われる測定動作の測定動作パラメータとして取得することができる。測定動作の測定動作パラメータは、例えば測定装置2による測定動作の開始時のセンサの位置、測定装置2による測定動作におけるセンサの移動速度等が例示される。これらの測定動作パラメータは、測定装置2に設定されている現在のパラメータや測定装置2を動作させるプログラムを解析して得られたパラメータ、測定動作パラメータ調整装置1に設定され、不揮発性メモリ14等のメモリに記憶されている1学習周期前に測定装置2に設定した測定動作パラメータ等から取得することができる。 Of the state variables S observed by the state observation unit 106, the measurement operation parameter data S1 can be acquired as the measurement operation parameters of the measurement operation performed by the measurement device 2. Examples of the measurement operation parameters of the measurement operation include the position of the sensor at the start of the measurement operation by the measurement device 2, the moving speed of the sensor in the measurement operation by the measurement device 2, and the like. These measurement operation parameters are set in the measurement operation parameter adjustment device 1, the current parameters set in the measurement device 2, the parameters obtained by analyzing the program for operating the measurement device 2, the non-volatile memory 14, etc. It can be acquired from the measurement operation parameters and the like set in the measuring device 2 before one learning cycle stored in the memory of.

測定動作パラメータデータS1は、機械学習装置100が学習部110の学習結果に基づいて1つ前の学習周期における測定動作に掛かる時間に対して、当該学習周期において調整した測定動作の測定動作パラメータをそのまま用いることができる。このような手法を取る場合には、機械学習装置100は測定動作の測定動作パラメータを学習周期毎にRAM103に一時的に記憶しておき、状態観測部106は、RAM103から1つ前の学習周期での測定動作の測定動作パラメータを今回の学習周期の測定動作パラメータデータS1として取得するようにしても良い。 The measurement operation parameter data S1 is a measurement operation parameter of the measurement operation adjusted in the learning cycle with respect to the time required for the measurement operation in the previous learning cycle by the machine learning device 100 based on the learning result of the learning unit 110. It can be used as it is. When such a method is adopted, the machine learning device 100 temporarily stores the measurement operation parameters of the measurement operation in the RAM 103 for each learning cycle, and the state observation unit 106 temporarily stores the measurement operation parameters of the measurement operation in the learning cycle immediately before the RAM 103. The measurement operation parameter of the measurement operation in the above may be acquired as the measurement operation parameter data S1 of the current learning cycle.

状態観測部106が観測する状態変数Sのうち、測定時間データS2は、不揮発性メモリ14に記録された測定装置2で実行された測定動作の開始時からセンサが測定対象物を検出するまでにかかった時間をとして取得することができる。 Of the state variables S observed by the state observation unit 106, the measurement time data S2 is from the start of the measurement operation executed by the measurement device 2 recorded in the non-volatile memory 14 until the sensor detects the object to be measured. You can get the time taken as.

判定データ取得部108は、測定動作判定データD1として、調整された測定動作の測定動作パラメータに基づいて測定動作が行われた場合の該測定動作の適否の判定結果を用いることができる。判定データ取得部108が用いる測定動作判定データD1としては、例えば、調整された測定動作パラメータで測定動作を行った場合に、測定動作時のセンサの移動距離が予め定めた所定の閾値よりも小さいか(適)、大きいか(否)、測定動作時により測定対象物や測定装置2の機構部乃至センサが破損したか(否)、測定動作時により測定対象物が動いてしまったか(否)といったものを使用すれば良い。 The determination data acquisition unit 108 can use, as the measurement operation determination data D1, the determination result of suitability of the measurement operation when the measurement operation is performed based on the measurement operation parameters of the adjusted measurement operation. The measurement operation determination data D1 used by the determination data acquisition unit 108 includes, for example, that the moving distance of the sensor during the measurement operation is smaller than a predetermined threshold value when the measurement operation is performed with the adjusted measurement operation parameters. (Appropriate) or large (No), whether the object to be measured or the mechanical part or sensor of the measuring device 2 is damaged during the measurement operation (No), or whether the object to be measured has moved during the measurement operation (No) You can use something like.

なお、判定データ取得部108は、学習部110による学習の段階では必須の構成となるが、学習部110による測定動作に掛かる時間と測定動作の測定動作パラメータの調整とを関連付けた学習が完了した後には必ずしも必須の構成ではない。例えば、学習が完了した機械学習装置100を顧客に出荷する場合等には、判定データ取得部108を取り外して出荷するようにしても良い。 The determination data acquisition unit 108 has an indispensable configuration at the stage of learning by the learning unit 110, but the learning that associates the time required for the measurement operation by the learning unit 110 with the adjustment of the measurement operation parameters of the measurement operation is completed. Later, it is not always an essential configuration. For example, when the machine learning device 100 for which learning has been completed is shipped to the customer, the determination data acquisition unit 108 may be removed before shipping.

学習部110に対して同時に入力される状態変数Sは、学習部110による学習周期で考えた場合、判定データDが取得された1学習周期前のデータに基づくものとなる。このように、測定動作パラメータ調整装置1が備える機械学習装置100が学習を進める間、環境においては、測定時間データS2の取得、取得した各データに基づいて調整された測定動作パラメータデータS1に基づいた測定装置2による測定動作の実行、判定データDの取得が繰り返し実施される。 The state variable S simultaneously input to the learning unit 110 is based on the data one learning cycle before the determination data D was acquired, when considered in the learning cycle by the learning unit 110. In this way, while the machine learning device 100 included in the measurement operation parameter adjusting device 1 advances learning, in the environment, the measurement time data S2 is acquired, and based on the measurement operation parameter data S1 adjusted based on each acquired data. The measurement operation is executed by the measuring device 2 and the determination data D is acquired repeatedly.

学習部110は、機械学習と総称される任意の学習アルゴリズムに従い、測定動作に掛かる時間に対する、測定動作の測定動作パラメータの調整を学習する。学習部110は、前述した状態変数Sと判定データDとを含むデータ集合に基づく学習を反復実行することができる。測定動作に掛かる時間に対する、測定動作の測定動作パラメータの学習サイクルの反復中、状態変数Sは、上記したように1学習周期前における測定動作に掛かる時間、及び1学習周期前において調整された測定動作の測定動作パラメータから取得し、また判定データDは、調整された測定動作の測定動作パラメータに基づいて行われた測定動作の適否判定結果とする。 The learning unit 110 learns to adjust the measurement operation parameters of the measurement operation with respect to the time required for the measurement operation according to an arbitrary learning algorithm collectively called machine learning. The learning unit 110 can repeatedly execute learning based on the data set including the above-mentioned state variable S and the determination data D. During the repetition of the learning cycle of the measurement motion parameters of the measurement motion with respect to the time required for the measurement motion, the state variable S is the time required for the measurement motion one learning cycle before and the measurement adjusted before one learning cycle as described above. The determination data D obtained from the measurement operation parameters of the operation is the suitability determination result of the measurement operation performed based on the measurement operation parameters of the adjusted measurement operation.

このような学習サイクルを繰り返すことにより、学習部110は、測定動作に掛かる時間と、測定動作の測定動作パラメータの調整との相関性を暗示する特徴を識別することができるようになる。学習アルゴリズムの開始時には測定動作に掛かる時間と、測定動作の測定動作パラメータの調整の相関性は実質的に未知であるが、学習部110は、学習を進めるに従い徐々に特徴を識別して相関性を解釈する。測定動作に掛かる時間と、測定動作の測定動作パラメータの調整との相関性が、ある程度信頼できる水準まで解釈されると、学習部110が反復出力する学習結果は、現在状態(つまり測定動作に掛かる時間)に対して、測定動作の測定動作パラメータをどう調整するべきかという行動の選択(つまり意思決定)を行うために使用できるものとなる。つまり学習部110は、学習アルゴリズムの進行に伴い、測定動作に掛かる時間に対して測定動作の測定動作パラメータをどのように調整するべきかという行動との、相関性を最適解に徐々に近づけることができる。 By repeating such a learning cycle, the learning unit 110 can identify a feature that implies a correlation between the time required for the measurement operation and the adjustment of the measurement operation parameter of the measurement operation. At the start of the learning algorithm, the correlation between the time required for the measurement operation and the adjustment of the measurement operation parameters of the measurement operation is practically unknown, but the learning unit 110 gradually identifies the features and correlates as the learning progresses. To interpret. When the correlation between the time required for the measurement operation and the adjustment of the measurement operation parameters of the measurement operation is interpreted to a certain reliable level, the learning result repeatedly output by the learning unit 110 depends on the current state (that is, the measurement operation). It can be used to make action selections (ie, decisions) on how to adjust the measurement motion parameters of the measurement motion with respect to time). That is, as the learning algorithm progresses, the learning unit 110 gradually brings the correlation with the action of how to adjust the measurement motion parameter of the measurement motion with respect to the time required for the measurement motion closer to the optimum solution. Can be done.

意思決定部122は、学習部110が学習した結果に基づいて、測定動作の測定動作パラメータを調整し、調整した測定動作の測定動作パラメータを測定動作パラメータ設定部34へと出力する。意思決定部122は、学習部110による学習が測定動作パラメータの調整に利用可能な状態になった段階において、機械学習装置100に測定動作に掛かる時間が入力されると、測定動作の測定動作パラメータ(測定動作開始時のセンサの位置及びセンサの移動速度の少なくともいずれか等)を出力する。意思決定部122は、状態変数Sと学習部110が学習した結果に基づいて、適切な測定動作の測定動作パラメータを調整する。 The decision-making unit 122 adjusts the measurement operation parameter of the measurement operation based on the result learned by the learning unit 110, and outputs the measurement operation parameter of the adjusted measurement operation to the measurement operation parameter setting unit 34. When the time required for the measurement operation is input to the machine learning device 100 at the stage when the learning by the learning unit 110 becomes available for adjusting the measurement operation parameter, the decision unit 122 determines the measurement operation parameter of the measurement operation. (At least one of the position of the sensor at the start of the measurement operation and the moving speed of the sensor, etc.) is output. The decision-making unit 122 adjusts the measurement operation parameters of the appropriate measurement operation based on the state variable S and the result learned by the learning unit 110.

上記したように、測定動作パラメータ調整装置1が備える機械学習装置100は、状態観測部106が観測した状態変数Sと判定データ取得部108が取得した判定データDとを用いて、学習部110が機械学習アルゴリズムに従い、測定動作に掛かる時間に対する測定動作の測定動作パラメータの調整を学習するものである。状態変数Sは、測定動作パラメータデータS1、及び測定時間データS2といったデータで構成され、また判定データDは、測定装置2による測定動作時に取得された情報から一義的に求められる。したがって、測定動作パラメータ調整装置1が備える機械学習装置100によれば、学習部110の学習結果を用いることで、測定動作に掛かる時間に応じた、測定動作の測定動作パラメータの調整を、自動的かつ正確に行うことが可能となる。 As described above, in the machine learning device 100 included in the measurement operation parameter adjusting device 1, the learning unit 110 uses the state variable S observed by the state observation unit 106 and the determination data D acquired by the determination data acquisition unit 108. According to the machine learning algorithm, the adjustment of the measurement operation parameter of the measurement operation with respect to the time required for the measurement operation is learned. The state variable S is composed of data such as measurement operation parameter data S1 and measurement time data S2, and the determination data D is uniquely obtained from the information acquired during the measurement operation by the measurement device 2. Therefore, according to the machine learning device 100 included in the measurement operation parameter adjusting device 1, by using the learning result of the learning unit 110, the measurement operation parameter of the measurement operation is automatically adjusted according to the time required for the measurement operation. And it is possible to do it accurately.

そして、測定動作の測定動作パラメータの調整を、自動的に行うことができれば、測定動作に掛かる時間(測定時間データS2)を把握するだけで、測定動作の測定動作パラメータの適切な値を迅速に調整することができる。したがって、測定動作の測定動作パラメータの調整を効率よく行うことができる。 Then, if the measurement operation parameters of the measurement operation can be automatically adjusted, the appropriate value of the measurement operation parameters of the measurement operation can be quickly obtained only by grasping the time required for the measurement operation (measurement time data S2). Can be adjusted. Therefore, the measurement operation parameters of the measurement operation can be efficiently adjusted.

測定動作パラメータ調整装置1が備える機械学習装置100の一変形例として、状態観測部106は、測定動作パラメータデータS1、及び測定時間データS2に加えて、測定対象物の品種情報を示す品種データS3を、状態変数Sとして観測するようにしても良い。品種データS3としては、測定対象物の種類が一意に定まるように付与した識別番号等を用いることができる。品種データS3を状態変数Sとして用いることにより、測定対象物の品種に応じた測定動作の開始時のセンサの位置や移動速度を学習し、測定動作パラメータの調整に反映することができるようになる。 As a modification of the machine learning device 100 included in the measurement operation parameter adjusting device 1, the state observing unit 106, in addition to the measurement operation parameter data S1 and the measurement time data S2, has the product type data S3 showing the product type information of the measurement object. May be observed as the state variable S. As the product type data S3, an identification number or the like assigned so that the type of the object to be measured is uniquely determined can be used. By using the product type data S3 as the state variable S, it becomes possible to learn the position and moving speed of the sensor at the start of the measurement operation according to the product type of the measurement target object and reflect it in the adjustment of the measurement operation parameters. ..

測定動作パラメータ調整装置1が備える機械学習装置100の他の変形例として、状態観測部106は、測定動作パラメータデータS1、及び測定時間データS2に加えて、測定動作が実行される時間帯や季節、温度、湿度等の測定環境を示す測定環境データS4を、状態変数Sとして観測するようにしても良い。測定対象物によっては、温度や湿度、時期等によって大きさや強度のバラつきが変化する物(パンや餅等の加工食品や、果物、野菜等)があり、このような測定対象物を観測する測定動作においては、状態変数として測定環境データS4を観測して用いることで、より適切な測定動作パラメータの調整を行うことができるようになる。 As another modification of the machine learning device 100 included in the measurement operation parameter adjusting device 1, the state observation unit 106 adds the measurement operation parameter data S1 and the measurement time data S2 to the time zone and season when the measurement operation is executed. , The measurement environment data S4 indicating the measurement environment such as temperature and humidity may be observed as the state variable S. Depending on the object to be measured, there are objects (processed foods such as bread and rice cakes, fruits, vegetables, etc.) whose size and strength vary depending on temperature, humidity, time, etc., and measurement to observe such objects In the operation, by observing and using the measurement environment data S4 as a state variable, more appropriate measurement operation parameters can be adjusted.

上記構成を有する機械学習装置100では、学習部110が実行する学習アルゴリズムは特に限定されず、機械学習として公知の学習アルゴリズムを採用できる。図3は、図2に示す測定動作パラメータ調整装置1の一形態であって、学習アルゴリズムの一例として強化学習を実行する学習部110を備えた構成を示す。強化学習は、学習対象が存在する環境の現在状態(つまり入力)を観測するとともに現在状態で所定の行動(つまり出力)を実行し、その行動に対し何らかの報酬を与えるというサイクルを試行錯誤的に反復して、報酬の総計が最大化されるような方策(本願の機械学習装置では測定動作の測定動作パラメータ)を最適解として学習する手法である。 In the machine learning device 100 having the above configuration, the learning algorithm executed by the learning unit 110 is not particularly limited, and a learning algorithm known as machine learning can be adopted. FIG. 3 is a form of the measurement operation parameter adjusting device 1 shown in FIG. 2, and shows a configuration including a learning unit 110 that executes reinforcement learning as an example of a learning algorithm. Reinforcement learning is a trial-and-error cycle of observing the current state (that is, input) of the environment in which the learning target exists, executing a predetermined action (that is, output) in the current state, and giving some reward to that action. It is a method of repeatedly learning a measure that maximizes the total reward (measurement operation parameter of measurement operation in the machine learning device of the present application) as an optimum solution.

図3に示す測定動作パラメータ調整装置1が備える機械学習装置100において、学習部110は、状態変数Sに基づいて測定動作の測定動作パラメータの調整がされ、調整された測定動作の測定動作パラメータに基づく測定装置2による測定動作の適否判定結果(状態変数Sが取得された次の学習周期で用いられる判定データDに相当)に関連する報酬Rを求める報酬計算部112と、報酬Rを用いて、測定動作の測定動作パラメータの価値を表す関数Qを更新する価値関数更新部114とを備える。学習部110は、価値関数更新部114が関数Qの更新を繰り返すことによって測定動作に掛かる時間に対する測定動作の測定動作パラメータの調整を学習する。 In the machine learning device 100 included in the measurement operation parameter adjusting device 1 shown in FIG. 3, the learning unit 110 adjusts the measurement operation parameters of the measurement operation based on the state variable S, and sets the adjusted measurement operation parameters of the measurement operation. Using the reward calculation unit 112 for obtaining the reward R related to the suitability judgment result (corresponding to the judgment data D used in the next learning cycle in which the state variable S is acquired) of the measurement operation by the measuring device 2 based on the measurement device 2, and the reward R. , A value function update unit 114 that updates a function Q representing the value of the measurement operation parameter of the measurement operation is provided. The learning unit 110 learns the adjustment of the measurement operation parameter of the measurement operation with respect to the time required for the measurement operation by the value function update unit 114 repeating the update of the function Q.

学習部110が実行する強化学習のアルゴリズムの一例を説明する。この例によるアルゴリズムは、Q学習(Q−learning)として知られるものであって、行動主体の状態sと、その状態sで行動主体が選択し得る行動aとを独立変数として、状態sで行動aを選択した場合の行動の価値を表す関数Q(s,a)を学習する手法である。状態sで価値関数Qが最も高くなる行動aを選択することが最適解となる。状態sと行動aとの相関性が未知の状態でQ学習を開始し、任意の状態sで種々の行動aを選択する試行錯誤を繰り返すことで、価値関数Qを反復して更新し、最適解に近付ける。ここで、状態sで行動aを選択した結果として環境(つまり状態s)が変化したときに、その変化に応じた報酬(つまり行動aの重み付け)rが得られるように構成し、より高い報酬rが得られる行動aを選択するように学習を誘導することで、価値関数Qを比較的短時間で最適解に近付けることができる。 An example of the reinforcement learning algorithm executed by the learning unit 110 will be described. The algorithm according to this example is known as Q-learning, and acts in the state s with the state s of the action subject and the action a that the action subject can select in the state s as independent variables. This is a method of learning a function Q (s, a) that represents the value of an action when a is selected. The optimum solution is to select the action a having the highest value function Q in the state s. By starting Q-learning in a state where the correlation between the state s and the action a is unknown and repeating trial and error to select various actions a in an arbitrary state s, the value function Q is repeatedly updated and optimized. Get closer to the solution. Here, when the environment (that is, the state s) changes as a result of selecting the action a in the state s, a reward (that is, weighting of the action a) r corresponding to the change is obtained, and a higher reward is obtained. By inducing learning to select the action a in which r is obtained, the value function Q can be approached to the optimum solution in a relatively short time.

価値関数Qの更新式は、一般に下記の数1式のように表すことができる。数1式において、st及びatはそれぞれ時刻tにおける状態及び行動であり、行動atにより状態はst+1に変化する。rt+1は、状態がstからst+1に変化したことで得られる報酬である。maxQの項は、時刻t+1で最大の価値Qになる(と時刻tで考えられている)行動aを行ったときのQを意味する。α及びγはそれぞれ学習係数及び割引率であり、0<α≦1、0<γ≦1で任意設定される。 The update formula of the value function Q can be generally expressed as the following formula 1. In equation (1), s t and a t is a state and behavior at each time t, the state by action a t is changed to s t + 1. r t + 1 is a reward obtained by the state changes from s t in s t + 1. The term of maxQ means the Q when the action a which becomes the maximum value Q at the time t + 1 (which is considered at the time t) is performed. α and γ are learning coefficients and discount rates, respectively, and are arbitrarily set with 0 <α ≦ 1 and 0 <γ ≦ 1.

Figure 0006829271
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学習部110がQ学習を実行する場合、状態観測部106が観測した状態変数S及び判定データ取得部108が取得した判定データDは、更新式の状態sに該当し、現在状態(つまり、測定動作に掛かる時間)に対する測定動作の測定動作パラメータをどのように調整するべきかという行動は、更新式の行動aに該当し、報酬計算部112が求める報酬Rは、更新式の報酬rに該当する。よって価値関数更新部114は、現在状態に対する測定動作の測定動作パラメータの価値を表す関数Qを、報酬Rを用いたQ学習により繰り返し更新する。 When the learning unit 110 executes Q learning, the state variable S observed by the state observation unit 106 and the judgment data D acquired by the judgment data acquisition unit 108 correspond to the update type state s and correspond to the current state (that is, measurement). The action of how to adjust the measurement motion parameter of the measurement motion with respect to the time required for the motion) corresponds to the update-type action a, and the reward R required by the reward calculation unit 112 corresponds to the update-type reward r. To do. Therefore, the value function update unit 114 repeatedly updates the function Q representing the value of the measurement operation parameter of the measurement operation with respect to the current state by Q learning using the reward R.

報酬計算部112が求める報酬Rは、例えば、測定動作の測定動作パラメータを調整した後に行われる、調整された測定動作の測定動作パラメータに基づいて行われた測定動作の適否判定結果が「適」と判定される場合(例えば、測定動作に掛かる時間が予め定めた所定の閾値以下である場合等)に正(プラス)の報酬Rとし、測定動作の測定動作パラメータを調整した後に行われる、調整された測定動作の測定動作パラメータに基づいて行われた測定動作の適否判定結果が「否」と判定される場合(例えば、測定動作に掛かる時間が予め定めた所定の閾値を超える場合、センサが測定対象物に衝突した場合、測定対象物が動いてしまった場合等)に負(マイナス)の報酬Rとすることができる。正負の報酬Rの絶対値は、互いに同一であってもよいし異なっていてもよい。また、判定の条件として、判定データDに含まれる複数の値を組み合わせて判定するようにしても良い。 For the reward R obtained by the reward calculation unit 112, for example, the suitability determination result of the measurement operation performed based on the measurement operation parameter of the adjusted measurement operation, which is performed after adjusting the measurement operation parameter of the measurement operation, is “appropriate”. When it is determined that (for example, when the time required for the measurement operation is less than or equal to a predetermined threshold value), a positive (plus) reward R is set, and the adjustment is performed after adjusting the measurement operation parameters of the measurement operation. When the suitability judgment result of the measurement operation performed based on the measurement operation parameter of the measured operation is determined to be "No" (for example, when the time required for the measurement operation exceeds a predetermined threshold value, the sensor When the object to be measured collides with the object to be measured, or when the object to be measured has moved, etc.), the reward R can be negative (minus). The absolute values of the positive and negative rewards R may be the same or different from each other. Further, as a judgment condition, a plurality of values included in the judgment data D may be combined for judgment.

また、調整された測定動作パラメータに基づく測定動作の適否判定結果を、「適」及び「否」の二通りだけでなく複数段階に設定することができる。例として、測定動作に掛かる時間の閾値がTmaxである場合、測定動作に掛かる時間Tが、0≦T<Tmax/5のときは報酬R=5を与え、Tmax/5≦T<Tmax/2のときは報酬R=3を与え、Tmax/2≦T<Tmaxのときは報酬R=1を、Tmax≦Tのときは報酬R=−3(マイナスの報酬)を与えるような構成とすることができる。 Further, the suitability determination result of the measurement operation based on the adjusted measurement operation parameter can be set not only in two ways of "appropriate" and "no" but also in a plurality of stages. As an example, when the threshold value of the time required for the measurement operation is T max , when the time T required for the measurement operation is 0 ≦ T <T max / 5, the reward R = 5 is given, and T max / 5 ≦ T < When T max / 2, reward R = 3, give reward R = 1 when T max / 2 ≤ T <T max , and when T max ≤ T, reward R = -3 (minus reward). It can be configured to give.

更に、学習の初期段階は判定に用いる閾値を比較的大きく設定し、学習が進行するにつれて判定に用いる閾値を縮小する構成とすることもできる。 Further, the threshold value used for the determination may be set relatively large in the initial stage of learning, and the threshold value used for the determination may be reduced as the learning progresses.

価値関数更新部114は、状態変数Sと判定データDと報酬Rとを、関数Qで表される行動価値(例えば数値)と関連付けて整理した行動価値テーブルを持つことができる。この場合、価値関数更新部114が関数Qを更新するという行為は、価値関数更新部114が行動価値テーブルを更新するという行為と同義である。Q学習の開始時には環境の現在状態と測定動作の測定動作パラメータの調整との相関性は未知であるから、行動価値テーブルにおいては、種々の状態変数Sと判定データDと報酬Rとが、無作為に定めた行動価値の値(関数Q)と関連付けた形態で用意されている。なお報酬計算部112は、判定データDが分かれば、これに対応する報酬Rを直ちに算出でき、算出した値Rが行動価値テーブルに書き込まれる。 The value function update unit 114 can have an action value table in which the state variable S, the determination data D, and the reward R are arranged in association with the action value (for example, a numerical value) represented by the function Q. In this case, the act of the value function update unit 114 updating the function Q is synonymous with the act of the value function update unit 114 updating the action value table. Since the correlation between the current state of the environment and the adjustment of the measurement operation parameter of the measurement operation is unknown at the start of Q learning, various state variables S, judgment data D, and reward R are absent in the action value table. It is prepared in a form associated with the action value value (function Q) determined by the act. If the determination data D is known, the reward calculation unit 112 can immediately calculate the reward R corresponding to the determination data D, and the calculated value R is written in the action value table.

測定装置2の動作の適否判定結果に応じた報酬Rを用いてQ学習を進めると、より高い報酬Rが得られる行動を選択する方向へ学習が誘導され、選択した行動を現在状態で実行した結果として変化する環境の状態(つまり状態変数S及び判定データD)に応じて、現在状態で行う行動についての行動価値の値(関数Q)が書き換えられて行動価値テーブルが更新される。この更新を繰り返すことにより、行動価値テーブルに表示される行動価値の値(関数Q)は、適正な行動(本発明の場合、測定対象物、測定装置2の機構部やセンサが壊れたり、測定対象物が動かない範囲で、測定動作開始時のセンサの位置を測定対象物に近づけたり、センサの移動速度を増加させたり等、測定動作の測定動作パラメータを調整する行動)であるほど大きな値となるように書き換えられる。このようにして、未知であった環境の現在状態(測定動作に掛かる時間)とそれに対する行動(測定動作の測定動作パラメータの調整)との相関性が徐々に明らかになる。つまり行動価値テーブルの更新により、測定動作に掛かる時間と、測定動作の測定動作パラメータの調整との関係が最適解に徐々に近づけられる。 When Q-learning is advanced using the reward R according to the suitability determination result of the operation of the measuring device 2, the learning is guided in the direction of selecting the action that can obtain the higher reward R, and the selected action is executed in the current state. The action value value (function Q) for the action performed in the current state is rewritten and the action value table is updated according to the state of the environment that changes as a result (that is, the state variable S and the determination data D). By repeating this update, the value of the action value (function Q) displayed in the action value table is measured by proper action (in the case of the present invention, the object to be measured, the mechanical part of the measuring device 2 or the sensor is broken, or the sensor is broken. The larger the value, the larger the value (action to adjust the measurement operation parameters of the measurement operation, such as moving the sensor position at the start of the measurement operation closer to the measurement object or increasing the movement speed of the sensor within the range where the object does not move). It is rewritten so that In this way, the correlation between the current state of the unknown environment (time required for the measurement operation) and the behavior for it (adjustment of the measurement operation parameters of the measurement operation) is gradually clarified. In other words, by updating the action value table, the relationship between the time required for the measurement operation and the adjustment of the measurement operation parameters of the measurement operation is gradually brought closer to the optimum solution.

図4を参照して、学習部110が実行する上記したQ学習のフロー(つまり機械学習方法の一形態)をさらに説明する。まずステップSA01で、価値関数更新部114は、その時点での行動価値テーブルを参照しながら、状態観測部106が観測した状態変数Sが示す現在状態で行う行動として測定動作の測定動作パラメータの調整行動を無作為に選択する。次に価値関数更新部114は、ステップSA02で、状態観測部106が観測している現在状態の状態変数Sを取り込み、ステップSA03で、判定データ取得部108が取得している現在状態の判定データDを取り込む。次に価値関数更新部114は、ステップSA04で、判定データDに基づき、調整された測定動作の測定動作パラメータによる測定動作が適当であったか否かを判断し、適当であった場合、ステップSA05で、報酬計算部112が求めた正の報酬Rを関数Qの更新式に適用し、次いでステップSA06で、現在状態における状態変数S及び判定データDと報酬Rと行動価値の値(更新後の関数Q)とを用いて行動価値テーブルを更新する。ステップSA04で、調整された測定動作の測定動作パラメータによる測定動作が適当でなかったと判断した場合、ステップSA07で、報酬計算部112が求めた負の報酬Rを関数Qの更新式に適用し、次いでステップSA06で、現在状態における状態変数S及び判定データDと報酬Rと行動価値の値(更新後の関数Q)とを用いて行動価値テーブルを更新する。学習部110は、ステップSA01〜SA07を繰り返すことで行動価値テーブルを反復して更新し、測定動作の測定動作パラメータの調整の学習を進行させる。なお、ステップSA04からステップSA07までの報酬Rを求める処理及び価値関数の更新処理は、判定データDに含まれるそれぞれのデータについて実行される。 With reference to FIG. 4, the above-mentioned Q-learning flow (that is, one form of the machine learning method) executed by the learning unit 110 will be further described. First, in step SA01, the value function update unit 114 adjusts the measurement operation parameter of the measurement operation as an action to be performed in the current state indicated by the state variable S observed by the state observation unit 106 while referring to the action value table at that time. Randomly select actions. Next, the value function update unit 114 takes in the state variable S of the current state observed by the state observation unit 106 in step SA02, and the determination data of the current state acquired by the determination data acquisition unit 108 in step SA03. Take in D. Next, the value function update unit 114 determines in step SA04 whether or not the measurement operation based on the measurement operation parameters of the adjusted measurement operation is appropriate based on the determination data D, and if it is appropriate, in step SA05. , The positive reward R obtained by the reward calculation unit 112 is applied to the update formula of the function Q, and then in step SA06, the state variable S in the current state, the determination data D, the reward R, and the value of the action value (the updated function). Update the action value table using Q) and. When it is determined in step SA04 that the measurement operation based on the measurement operation parameter of the adjusted measurement operation is not appropriate, the negative reward R obtained by the reward calculation unit 112 is applied to the update formula of the function Q in step SA07. Next, in step SA06, the action value table is updated using the state variable S in the current state, the determination data D, the reward R, and the action value value (updated function Q). The learning unit 110 iteratively updates the action value table by repeating steps SA01 to SA07, and advances learning for adjusting the measurement motion parameters of the measurement motion. The process of obtaining the reward R and the process of updating the value function from step SA04 to step SA07 are executed for each data included in the determination data D.

前述した強化学習を進める際に、例えばニューラルネットワークを応用することができる。図5Aは、ニューロンのモデルを模式的に示す。図5Bは、図5Aに示すニューロンを組み合わせて構成した三層のニューラルネットワークのモデルを模式的に示す。ニューラルネットワークは、例えば、ニューロンのモデルを模した演算装置や記憶装置等によって構成できる。 For example, a neural network can be applied when advancing the reinforcement learning described above. FIG. 5A schematically shows a neuron model. FIG. 5B schematically shows a model of a three-layer neural network constructed by combining the neurons shown in FIG. 5A. The neural network can be configured by, for example, an arithmetic unit or a storage device that imitates a neuron model.

図5Aに示すニューロンは、複数の入力x(ここでは一例として、入力x1〜入力x3)に対する結果yを出力するものである。各入力x1〜x3には、この入力xに対応する重みw(w1〜w3)が掛けられる。これにより、ニューロンは、次の数2式により表現される出力yを出力する。なお、数2式において、入力x、出力y及び重みwは、すべてベクトルである。また、θはバイアスであり、fkは活性化関数である。 The neuron shown in FIG. 5A outputs the result y for a plurality of inputs x (here, as an example, inputs x 1 to inputs x 3 ). Each input x 1 ~x 3, the weight w corresponding to the input x (w 1 ~w 3) is multiplied. As a result, the neuron outputs the output y expressed by the following equation (2). In the equation 2, the input x, the output y, and the weight w are all vectors. Further, θ is a bias and f k is an activation function.

Figure 0006829271
Figure 0006829271

図5Bに示す三層のニューラルネットワークは、左側から複数の入力x(ここでは一例として、入力x1〜入力x3)が入力され、右側から結果y(ここでは一例として、結果y1〜結果y3)が出力される。図示の例では、入力x1、x2、x3のそれぞれに対応の重み(総称してW1で表す)が乗算されて、個々の入力x1、x2、x3がいずれも3つのニューロンN11、N12、N13に入力されている。 In the three-layer neural network shown in FIG. 5B, a plurality of inputs x (here, as an example, inputs x1 to input x3) are input from the left side, and a result y (here, as an example, result y1 to result y3) is input from the right side. It is output. In the illustrated example, each of the inputs x1, x2, x3 is multiplied by the corresponding weight (collectively represented by W1), and the individual inputs x1, x2, x3 are all three neurons N11, N12, N13. It has been entered.

図5Bでは、ニューロンN11〜N13の各々の出力を、総称してz1で表す。z1は、入カベクトルの特徴量を抽出した特徴ベクトルと見なすことができる。図示の例では、特徴ベクトルz1のそれぞれに対応の重み(総称してW2で表す)が乗算されて、個々の特徴ベクトルz1がいずれも2つのニューロンN21、N22に入力されている。特徴ベクトルz1は、重みW1と重みW2との間の特徴を表す。 In FIG. 5B, the outputs of neurons N11 to N13 are collectively represented by z1. z1 can be regarded as a feature vector obtained by extracting the feature amount of the input vector. In the illustrated example, each of the feature vectors z1 is multiplied by a corresponding weight (collectively represented by W2), and each of the individual feature vectors z1 is input to the two neurons N21 and N22. The feature vector z1 represents a feature between the weights W1 and W2.

図5Bでは、ニューロンN21〜N22の各々の出力を、総称してz2で表す。z2は、特徴ベクトルz1の特徴量を抽出した特徴ベクトルと見なすことができる。図示の例では、特徴ベクトルz2のそれぞれに対応の重み(総称してW3で表す)が乗算されて、個々の特徴ベクトルz2がいずれも3つのニューロンN31、N32、N33に入力されている。特徴ベクトルz2は、重みW2と重みW3との間の特徴を表す。最後にニューロンN31〜N33は、それぞれ結果y1〜y3を出力する。
なお、三層以上の層を為すニューラルネットワークを用いた、いわゆるディープラーニングの手法を用いることも可能である。
In FIG. 5B, the outputs of the neurons N21 to N22 are collectively represented by z2. z2 can be regarded as a feature vector extracted from the feature amount of the feature vector z1. In the illustrated example, each of the feature vectors z2 is multiplied by a corresponding weight (collectively represented by W3), and each of the individual feature vectors z2 is input to the three neurons N31, N32, and N33. The feature vector z2 represents a feature between the weights W2 and W3. Finally, the neurons N31 to N33 output the results y1 to y3, respectively.
It is also possible to use a so-called deep learning method that uses a neural network consisting of three or more layers.

測定動作パラメータ調整装置1が備える機械学習装置100においては、ニューラルネットワークをQ学習における価値関数として用い、状態変数Sと行動aとを入力xとして、学習部110が上記したニューラルネットワークに従う多層構造の演算を行うことで、当該状態における当該行動の価値(結果y)を出力することもできる。なお、ニューラルネットワークの動作モードには、学習モードと価値予測モードとがあり、例えば学習モードで学習データセットを用いて重みwを学習し、学習した重みwを用いて価値予測モードで行動の価値判断を行うことができる。なお価値予測モードでは、検出、分類、推論等を行うこともできる。 In the machine learning device 100 included in the measurement operation parameter adjusting device 1, the neural network is used as a value function in Q-learning, the state variable S and the action a are input x, and the learning unit 110 has a multi-layer structure according to the above-mentioned neural network. By performing the calculation, the value (result y) of the action in the state can be output. The operation mode of the neural network includes a learning mode and a value prediction mode. For example, the weight w is learned using the learning data set in the learning mode, and the value of the action is used in the value prediction mode using the learned weight w. You can make a judgment. In the value prediction mode, detection, classification, inference, and the like can also be performed.

上記した測定動作パラメータ調整装置1の構成は、プロセッサ101が実行する機械学習方法(或いはソフトウェア)として記述できる。この機械学習方法は、測定動作の測定動作パラメータの調整を学習する機械学習方法であって、コンピュータのCPUが、測定動作パラメータデータS1、及び測定時間データS2を、測定装置2が動作する環境の現在状態を表す状態変数Sとして観測するステップと、調整された測定動作の測定動作パラメータに基づく測定動作の適否判定結果を示す判定データDを取得するステップと、状態変数Sと判定データDとを用いて、測定時間データS2と、測定動作の測定動作パラメータの調整とを関連付けて学習するステップとを有する。 The configuration of the measurement operation parameter adjusting device 1 described above can be described as a machine learning method (or software) executed by the processor 101. This machine learning method is a machine learning method for learning the adjustment of the measurement operation parameters of the measurement operation, and the CPU of the computer uses the measurement operation parameter data S1 and the measurement time data S2 in the environment in which the measurement device 2 operates. The step of observing as the state variable S representing the current state, the step of acquiring the judgment data D indicating the suitability judgment result of the measurement operation based on the measurement operation parameter of the adjusted measurement operation, and the state variable S and the judgment data D It has a step of learning by associating the measurement time data S2 with the adjustment of the measurement operation parameter of the measurement operation.

以下の第2〜4の実施形態では、第1の実施形態による測定動作パラメータ調整装置1が、クラウドサーバやホストコンピュータ、フォグコンピュータ、エッジコンピュータ(ロボットコントローラ、制御装置等)を含む複数の装置と有線/無線のネットワークを介して相互に接続した実施形態について説明する。図6に例示されるように、以下の第2〜4の実施形態では、複数の装置のそれぞれがネットワークに接続された状態でクラウドサーバ6等を含む層、フォグコンピュータ7等を含む層、エッジコンピュータ8(セル9に含まれるロボットコントローラ、制御装置等)等を含む層の、3つの階層に論理的に分けて構成されているシステムを想定する。この様なシステムにおいて、測定動作パラメータ調整装置1は、クラウドサーバ6、フォグコンピュータ7、エッジコンピュータ8のいずれの上にも実装することが可能であり、それぞれの複数の装置との間でネットワークを介して相互に学習データを共有して分散学習をしたり、生成した学習モデルをフォグコンピュータ7やクラウドサーバ6に収集して大規模な解析を行ったり、更に、生成した学習モデルの相互再利用等をしたりすることができる。図6に例示されるシステムにおいて、セル9は各地の工場にそれぞれ複数設けられ、それぞれのセル9を所定の単位(工場単位、同じ製造業者の複数の工場単位等)で上位層のフォグコンピュータ7が管理する。そして、これらフォグコンピュータ7が収集、解析したデータを、更に上位層のクラウドサーバ6で収集、解析等を行い、その結果として得られた情報を各々のエッジコンピュータの制御等に活用することができる。 In the following second to fourth embodiments, the measurement operation parameter adjusting device 1 according to the first embodiment includes a plurality of devices including a cloud server, a host computer, a fog computer, and an edge computer (robot controller, control device, etc.). An embodiment in which they are connected to each other via a wired / wireless network will be described. As illustrated in FIG. 6, in the following second to fourth embodiments, a layer including a cloud server 6 and the like, a layer including a fog computer 7 and the like, and an edge in a state where each of the plurality of devices is connected to a network. It is assumed that a system is logically divided into three layers including a computer 8 (robot controller, control device, etc. included in cell 9) and the like. In such a system, the measurement operation parameter adjusting device 1 can be mounted on any of the cloud server 6, the fog computer 7, and the edge computer 8, and a network is formed between each of the plurality of devices. The learning data is shared with each other for distributed learning, the generated learning model is collected in the fog computer 7 or the cloud server 6 for large-scale analysis, and the generated learning model is mutually reused. Etc. can be done. In the system illustrated in FIG. 6, a plurality of cells 9 are provided in each of the factories in each region, and each cell 9 is set in a predetermined unit (factory unit, a plurality of factory units of the same manufacturer, etc.) in an upper layer fog computer 7. Manages. Then, the data collected and analyzed by these fog computers 7 can be further collected and analyzed by the cloud server 6 in the upper layer, and the information obtained as a result can be utilized for the control of each edge computer and the like. ..

図7は、測定動作パラメータ調整装置1を備えた第2の実施形態によるシステム170を示す。システム170は、エッジコンピュータやフォグコンピュータ、ホストコンピュータ、クラウドサーバ等のコンピュータの一部として実装された少なくとも1台の測定動作パラメータ調整装置1と、測定動作パラメータの調整の対象となる複数の測定装置2と、測定動作パラメータ調整装置1、測定装置2を互いに接続する有線/無線のネットワーク172とを備える。 FIG. 7 shows a system 170 according to a second embodiment including the measurement operation parameter adjusting device 1. The system 170 includes at least one measurement operation parameter adjusting device 1 mounted as a part of a computer such as an edge computer, a fog computer, a host computer, or a cloud server, and a plurality of measuring devices to be adjusted for the measurement operation parameters. 2 and a wired / wireless network 172 that connects the measurement operation parameter adjusting device 1 and the measuring device 2 to each other.

上記構成を有するシステム170は、機械学習装置100を備える測定動作パラメータ調整装置1が、学習部110の学習結果を用いて、測定動作に掛かる時間に対する測定動作の測定動作パラメータの調整を、それぞれの測定装置2毎に自動的かつ正確に求めることができる。また、測定動作パラメータ調整装置1の機械学習装置100が、複数の測定装置2のそれぞれについて得られた状態変数S及び判定データDに基づき、全ての測定装置2に共通する測定動作の測定動作パラメータの調整を学習し、その学習結果を全ての測定装置2の動作において共有するように構成できる。したがってシステム170によれば、より多様なデータ集合(状態変数S及び判定データDを含む)を入力として、測定動作の測定動作パラメータの調整の学習の速度や信頼性を向上させることができる。 In the system 170 having the above configuration, the measurement operation parameter adjusting device 1 including the machine learning device 100 adjusts the measurement operation parameters of the measurement operation with respect to the time required for the measurement operation by using the learning result of the learning unit 110. It can be calculated automatically and accurately for each measuring device 2. Further, the machine learning device 100 of the measurement operation parameter adjusting device 1 is based on the state variables S and the determination data D obtained for each of the plurality of measuring devices 2, and the measurement operation parameters of the measurement operation common to all the measuring devices 2. It can be configured to learn the adjustment of and share the learning result in the operation of all the measuring devices 2. Therefore, according to the system 170, it is possible to improve the speed and reliability of learning the adjustment of the measurement operation parameters of the measurement operation by inputting a more diverse data set (including the state variable S and the determination data D).

図8は、測定動作パラメータ調整装置1を備えた第3の実施形態によるシステム170を示す。システム170は、セルコンピュータやフォグコンピュータ、ホストコンピュータ、クラウドサーバ等のコンピュータ5の上に実装された少なくとも1台の機械学習装置100’と、測定装置2が設置されている機械3を制御する制御装置(エッジコンピュータ)として実装された少なくとも1台の測定動作パラメータ調整装置1と、コンピュータ5及び測定動作パラメータ調整装置1を互いに接続する有線/無線のネットワーク172とを備える。 FIG. 8 shows a system 170 according to a third embodiment including the measurement operation parameter adjusting device 1. The system 170 controls at least one machine learning device 100'mounted on a computer 5 such as a cell computer, a fog computer, a host computer, or a cloud server, and a machine 3 on which the measuring device 2 is installed. It includes at least one measurement operation parameter adjusting device 1 mounted as a device (edge computer), and a wired / wireless network 172 that connects the computer 5 and the measurement operation parameter adjusting device 1 to each other.

上記構成を有するシステム170では、機械学習装置100’を備えるコンピュータ5が、各々の機械3を制御する測定動作パラメータ調整装置1(制御装置)から、該測定動作パラメータ調整装置1が備える機械学習装置100による機械学習の結果として得られた学習モデルを取得する。そして、コンピュータ5が備える機械学習装置100’は、これら複数の学習モデルに基づく知識の最適化や効率化の処理を行うことで、新たに最適化乃至効率化された学習モデルを生成し、生成した学習モデルを各々の機械3(測定装置2)を制御する測定動作パラメータ調整装置1に対して配布する。 In the system 170 having the above configuration, the computer 5 provided with the machine learning device 100'from the measurement operation parameter adjusting device 1 (control device) that controls each machine 3 to the machine learning device included in the measuring operation parameter adjusting device 1. The learning model obtained as a result of machine learning by 100 is acquired. Then, the machine learning device 100'provided by the computer 5 generates and generates a newly optimized or efficient learning model by performing knowledge optimization and efficiency improvement processing based on these plurality of learning models. The learned learning model is distributed to the measurement operation parameter adjusting device 1 that controls each machine 3 (measuring device 2).

機械学習装置100’が行う学習モデルの最適化乃至効率化の例としては、各測定動作パラメータ調整装置1から取得した複数の学習モデルに基づいた蒸留モデルの生成が挙げられる。この場合、本実施形態による機械学習装置100’は、学習モデルに対して入力する入力データを作成し、該入力モデルを各々の学習モデルに対して入力した結果として得られる出力を用いて、1から学習を行うことで新たに学習モデル(蒸留モデル)を生成する。このようにして生成された蒸留モデルは、上記でも説明したように、外部記憶媒体やネットワーク等を介した他の装置に対する配布により適している。 An example of optimizing or improving the efficiency of the learning model performed by the machine learning device 100'is to generate a distillation model based on a plurality of learning models acquired from each measurement operation parameter adjusting device 1. In this case, the machine learning device 100'according to the present embodiment creates input data to be input to the learning model, and uses the output obtained as a result of inputting the input model to each learning model. A new learning model (distillation model) is generated by learning from. The distillation model thus generated is more suitable for distribution to other devices via an external storage medium, network, or the like, as described above.

機械学習装置100’が行う学習モデルの最適化乃至効率化の他の例としては、各測定動作パラメータ調整装置1から取得した複数の学習モデルに対して蒸留を行う過程において、入力データに対する各学習モデルの出力の分布を一般的な統計的手法で解析し、入力データと出力データの組の外れ値を抽出し、該外れ値を除外した入力データと出力データの組を用いて蒸留を行うことも考えられる。このような過程を経ることで、それぞれの学習モデルから得られる入力データと出力データの組から例外的な推定結果を除外し、該例外的な推定結果を除外した入力データと出力データの組を用いて蒸留モデルを生成することができる。このようにして生成された蒸留モデルは、複数の測定動作パラメータ調整装置1で生成された学習モデルから、当該測定動作パラメータ調整装置1が制御する機械3(測定装置2)に対して汎用的な蒸留モデルを生成することができる。
なお、他の一般的な学習モデルの最適化乃至効率化の手法(各学習モデルを解析し、その解析結果に基づいて学習モデルのハイパパラメータを最適化する等)も適宜導入することが可能である。
As another example of optimizing or improving the efficiency of the learning model performed by the machine learning device 100', each learning for input data is performed in the process of distilling a plurality of learning models acquired from each measurement operation parameter adjusting device 1. Analyzing the distribution of the output of the model by a general statistical method, extracting outliers of the set of input data and output data, and performing distillation using the set of input data and output data excluding the outliers. Is also possible. By going through such a process, an exceptional estimation result is excluded from the set of input data and output data obtained from each training model, and the set of input data and output data excluding the exceptional estimation result is obtained. Can be used to generate a distillation model. The distillation model generated in this way is general-purpose for the machine 3 (measuring device 2) controlled by the measuring operation parameter adjusting device 1 from the learning model generated by the plurality of measuring operation parameter adjusting devices 1. A distillation model can be generated.
In addition, it is possible to appropriately introduce other general learning model optimization or efficiency methods (such as analyzing each learning model and optimizing the hyper parameters of the learning model based on the analysis results). is there.

本実施形態によるシステムでは、例えばエッジコンピュータとしての複数の測定動作パラメータ調整装置1の管理をするために設けられたフォグコンピュータとしてのコンピュータ5の上に機械学習装置100’を配置し、各々の測定動作パラメータ調整装置1で生成された学習モデルをフォグコンピュータ上に集約して記憶しておき、記憶した複数の学習モデルに基づいた最適化乃至効率化を行った上で、最適化乃至効率化された学習モデルを必要に応じて各測定動作パラメータ調整装置1に対して再配布するという運用を行うことができる。 In the system according to the present embodiment, for example, the machine learning device 100'is arranged on the computer 5 as a fog computer provided for managing a plurality of measurement operation parameter adjusting devices 1 as an edge computer, and each measurement is performed. The learning models generated by the operation parameter adjusting device 1 are aggregated and stored on a fog computer, optimized or streamlined based on the plurality of stored learning models, and then optimized or streamlined. The learning model can be redistributed to each measurement operation parameter adjusting device 1 as needed.

また、本実施形態によるシステムでは、例えばフォグコンピュータとしてのコンピュータ5の上に集約して記憶された学習モデルや、フォグコンピュータ上で最適化乃至効率化された学習モデルを、更に上位のホストコンピュータやクラウドサーバ上に集め、これら学習モデルを用いて工場や測定装置2のメーカでの知的作業への応用(上位サーバでの更なる汎用的な学習モデルの構築及び再配布、学習モデルの解析結果に基づく測定装置2の保守作業の支援、各々の測定装置2の性能等の分析、新しい機械の開発への応用等)を行うことができる。 Further, in the system according to the present embodiment, for example, a learning model that is aggregated and stored on the computer 5 as a fog computer, or a learning model that is optimized or streamlined on the fog computer is stored in a higher-level host computer. Collect on a cloud server and use these learning models to apply them to intellectual work at factories and manufacturers of measuring devices 2 (construction and redistribution of more general-purpose learning models on higher-level servers, analysis results of learning models) Support for maintenance work of the measuring device 2 based on the above, analysis of the performance of each measuring device 2, application to the development of a new machine, etc.) can be performed.

図9は、図8で示したコンピュータ5の概略的なハードウェア構成図である。
コンピュータ5が備えるCPU511は、コンピュータ5を全体的に制御するプロセッサである。CPU511は、ROM512に格納されたシステム・プログラムをバス520を介して読み出し、該システム・プログラムに従ってコンピュータ5全体を制御する。RAM513には一時的な計算データ、入力装置531を介して作業者が入力した各種データ等が一時的に格納される。
FIG. 9 is a schematic hardware configuration diagram of the computer 5 shown in FIG.
The CPU 511 included in the computer 5 is a processor that controls the computer 5 as a whole. The CPU 511 reads the system program stored in the ROM 512 via the bus 520, and controls the entire computer 5 according to the system program. Temporary calculation data, various data input by the operator via the input device 531, and the like are temporarily stored in the RAM 513.

不揮発性メモリ514は、例えば図示しないバッテリでバックアップされたメモリやSSD(Solid State Drive)等で構成され、コンピュータ5の電源がオフされても記憶状態が保持される。不揮発性メモリ514には、コンピュータ5の動作に係る設定情報が格納される設定領域や、入力装置531から入力されたデータ、各測定動作パラメータ調整装置1から取得される学習モデル、図示しない外部記憶装置やネットワークを介して読み込まれたデータ等が記憶される。不揮発性メモリ514に記憶されたプログラムや各種データは、実行時/利用時にはRAM513に展開されても良い。また、ROM512には、各種データを解析するための公知の解析プログラム等を含むシステム・プログラムが予め書き込まれている。 The non-volatile memory 514 is composed of, for example, a memory backed up by a battery (not shown), an SSD (Solid State Drive), or the like, and the storage state is maintained even when the power of the computer 5 is turned off. The non-volatile memory 514 includes a setting area for storing setting information related to the operation of the computer 5, data input from the input device 531, a learning model acquired from each measurement operation parameter adjusting device 1, and an external storage (not shown). Data and the like read via the device and network are stored. The programs and various data stored in the non-volatile memory 514 may be expanded in the RAM 513 at the time of execution / use. Further, a system program including a known analysis program for analyzing various data is written in the ROM 512 in advance.

コンピュータ5は、インタフェース516を介してネットワーク172と接続されている。ネットワーク172には、少なくとも1つの測定動作パラメータ調整装置1や他のコンピュータ等が接続され、コンピュータ5との間で相互にデータのやり取りを行っている。 The computer 5 is connected to the network 172 via the interface 516. At least one measurement operation parameter adjusting device 1 and another computer are connected to the network 172, and data is exchanged with and from the computer 5.

表示装置530には、メモリ上に読み込まれた各データ、プログラム等が実行された結果として得られたデータ等がインタフェース517を介して出力されて表示される。また、キーボードやポインティングデバイス等から構成される入力装置531は、作業者による操作に基づく指令、データ等をインタフェース518を介してCPU511に渡す。
なお、機械学習装置100については、コンピュータ5のCPU511と協働して学習モデルの最適化乃至効率化に用いられる点を除けば、図1で説明したものと同様のハードウェア構成を備える。
On the display device 530, each data read on the memory, data obtained as a result of executing the program, etc. are output and displayed via the interface 517. Further, the input device 531 composed of a keyboard, a pointing device, and the like passes commands, data, and the like based on operations by the operator to the CPU 511 via the interface 518.
The machine learning device 100 has the same hardware configuration as that described with reference to FIG. 1 except that it is used for optimizing or improving the efficiency of the learning model in cooperation with the CPU 511 of the computer 5.

図10は、測定動作パラメータ調整装置1を備えた第4の実施形態によるシステム170を示す。システム170は、測定装置2が設置されている機械3を制御する制御装置(エッジコンピュータ)として実装された少なくとも1台の測定動作パラメータ調整装置1と、複数台の他の測定装置2が設置されている機械3を制御する制御装置4と、これらを互いに接続する有線/無線のネットワーク172とを備える。 FIG. 10 shows a system 170 according to a fourth embodiment including the measurement operation parameter adjusting device 1. In the system 170, at least one measurement operation parameter adjusting device 1 mounted as a control device (edge computer) for controlling the machine 3 on which the measuring device 2 is installed, and a plurality of other measuring devices 2 are installed. It includes a control device 4 that controls the machine 3 and a wired / wireless network 172 that connects them to each other.

上記構成を有するシステム170では、機械学習装置100を備える測定動作パラメータ調整装置1は、制御対象となる機械3(測定装置2)から取得された状態データや判定データ、(機械学習装置100を備えていない)他の制御装置4から取得した状態データや判定データに基づいた機械学習を行い、学習モデルを生成する。このようにして生成された学習モデルは、自身の制御する機械(測定装置2)の測定動作における測定動作パラメータの調整に用いられる他、機械学習装置100を備えていない他の機械3(測定装置2)を制御する制御装置4からの要求に応じて該他の機械3(測定装置2)における測定動作パラメータの調整にも用いられる。また、新たに学習モデル生成前の機械学習装置100を備えた測定動作パラメータ調整装置1が導入された際には、ネットワーク172を介して学習モデルを備えた他の測定動作パラメータ調整装置1から該学習モデルを取得して利用することも可能となる。 In the system 170 having the above configuration, the measurement operation parameter adjusting device 1 including the machine learning device 100 includes state data, determination data, and (machine learning device 100) acquired from the machine 3 (measuring device 2) to be controlled. (Not) Machine learning is performed based on the state data and determination data acquired from the other control device 4, and a learning model is generated. The learning model generated in this way is used for adjusting the measurement operation parameters in the measurement operation of the machine (measurement device 2) controlled by itself, and is also used for another machine 3 (measurement device 3) that does not have the machine learning device 100. It is also used for adjusting measurement operation parameters in the other machine 3 (measuring device 2) in response to a request from the control device 4 for controlling 2). Further, when the measurement operation parameter adjusting device 1 newly provided with the machine learning device 100 before the learning model is generated is introduced, the measurement operation parameter adjusting device 1 provided with the learning model via the network 172 It is also possible to acquire and use a learning model.

本実施形態によるシステムでは、いわゆるエッジコンピュータとしての複数の測定動作パラメータ調整装置1や制御装置4の間で学習に用いるデータや学習モデルを共有して活用することが可能となるため、機械学習の効率の向上や、機械学習にかけるコストの削減(1台の制御装置(測定動作パラメータ調整装置1)にのみ機械学習装置100を導入し、他の制御装置4との間で共有するなど)をすることができる。 In the system according to the present embodiment, data and a learning model used for learning can be shared and utilized among a plurality of measurement operation parameter adjusting devices 1 and control devices 4 as a so-called edge computer, so that machine learning can be performed. Improvement of efficiency and reduction of cost for machine learning (introduction of machine learning device 100 to only one control device (measurement operation parameter adjustment device 1), sharing with other control devices 4, etc.) can do.

以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明は上述した実施の形態の例のみに限定されることなく、適宜の変更を加えることにより様々な態様で実施することができる。 Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the examples of the above-described embodiments, and can be implemented in various embodiments by making appropriate changes.

例えば、機械学習装置100が実行する学習アルゴリズムや演算アルゴリズム、測定動作パラメータ調整装置1が実行する制御アルゴリズム等は、上述したものに限定されず、様々なアルゴリズムを採用できる。 For example, the learning algorithm and the calculation algorithm executed by the machine learning device 100, the control algorithm executed by the measurement operation parameter adjusting device 1, and the like are not limited to those described above, and various algorithms can be adopted.

また、上記した実施形態では測定動作パラメータ調整装置1と機械学習装置100が異なるCPUを有する装置として説明しているが、機械学習装置100は測定動作パラメータ調整装置1が備えるCPU11と、ROM12に記憶されるシステム・プログラムにより実現するようにしても良い。 Further, in the above-described embodiment, the measurement operation parameter adjusting device 1 and the machine learning device 100 are described as devices having different CPUs, but the machine learning device 100 is stored in the CPU 11 included in the measurement operation parameter adjusting device 1 and the ROM 12. It may be realized by the system program to be implemented.

1 測定動作パラメータ調整装置
2 測定装置
3 機械
4 制御装置
5 コンピュータ
6 クラウドサーバ
7 フォグコンピュータ
8 エッジコンピュータ
9 セル
11 CPU
12 ROM
13 RAM
14 不揮発性メモリ
17,18,19 インタフェース
20 バス
21 インタフェース
70 表示装置
71 入力装置
100 機械学習装置
101 プロセッサ
102 ROM
103 RAM
104 不揮発性メモリ
106 状態観測部
108 判定データ取得部
109 ラベルデータ取得部
110 学習部
112 報酬計算部
114 価値関数更新部
122 意思決定部
170 システム
172 ネットワーク
511 CPU
512 ROM
513 RAM
514 不揮発性メモリ
516、516,517 インタフェース
520 バス
530 表示装置
531 入力装置
1 Measurement operation parameter adjustment device 2 Measurement device 3 Machine 4 Control device 5 Computer 6 Cloud server 7 Fog computer 8 Edge computer 9 Cell 11 CPU
12 ROM
13 RAM
14 Non-volatile memory 17, 18, 19 interface 20 Bus 21 Interface 70 Display device 71 Input device 100 Machine learning device 101 Processor 102 ROM
103 RAM
104 Non-volatile memory 106 State observation unit 108 Judgment data acquisition unit 109 Label data acquisition unit 110 Learning unit 112 Reward calculation unit 114 Value function update unit 122 Decision-making unit 170 System 172 Network 511 CPU
512 ROM
513 RAM
514 Non-volatile memory 516, 516,517 Interface 520 Bus 530 Display device 531 Input device

Claims (14)

測定対象物の設置位置を測定する測定装置で実行される測定動作の測定動作パラメータを調整する測定動作パラメータ調整装置であって、
前記測定動作の測定動作パラメータを示す測定動作パラメータデータ、及び該測定動作に掛かる時間を示す測定時間データを、環境の現在状態を表す状態変数として観測し、該状態変数に基づいて、前記測定動作パラメータの調整をモデル化した学習モデルを用いた学習乃至意思決定をする機械学習装置を備え
前記機械学習装置は、
前記測定動作の測定動作パラメータを示す測定動作パラメータデータ、及び該測定動作に掛かる時間を示す測定時間データを、環境の現在状態を表す状態変数として観測する状態観測部と、
前記測定動作の測定動作パラメータに基づいて実行された測定動作の適否を判定する測定動作判定データを、前記測定動作の適否判定結果を示す判定データとして取得する判定データ取得部と、
前記状態変数と前記判定データとを用いて、前記測定動作に掛かる時間と、前記測定動作の測定動作パラメータの調整とを関連付けて学習した前記学習モデルを生成する学習部と、を備える、
測定動作パラメータ調整装置。
It is a measurement operation parameter adjustment device that adjusts the measurement operation parameters of the measurement operation executed by the measurement device that measures the installation position of the object to be measured.
The measurement operation parameter data indicating the measurement operation parameter of the measurement operation and the measurement time data indicating the time required for the measurement operation are observed as state variables representing the current state of the environment, and the measurement operation is based on the state variable. Equipped with a machine learning device that makes learning and decisions using a learning model that models parameter adjustment .
The machine learning device
A state observation unit that observes measurement operation parameter data indicating the measurement operation parameters of the measurement operation and measurement time data indicating the time required for the measurement operation as state variables representing the current state of the environment.
A determination data acquisition unit that acquires measurement operation determination data for determining the suitability of a measurement operation executed based on the measurement operation parameters of the measurement operation as determination data indicating the suitability determination result of the measurement operation.
Using said decision data and the state variables, time required for the measuring operation, and a learning unit configured to generate the learning model trained in association with adjustment of the measuring operation parameters of the measuring operation, Ru provided with,
Measurement operation parameter adjustment device.
前記状態観測部は、更に前記測定対象物の品種情報を示す品種データを、環境の現在状態を表す状態変数として観測し、
前記学習部は、前記測定動作に掛かる時間及び前記測定対象物の品種情報と、前記測定動作の測定動作パラメータの調整とを関連付けて学習する、
請求項1に記載の測定動作パラメータ調整装置。
The state observing unit further observes the variety data indicating the variety information of the measurement object as a state variable representing the current state of the environment.
The learning unit learns by associating the time required for the measurement operation, the type information of the measurement object, and the adjustment of the measurement operation parameters of the measurement operation.
The measurement operation parameter adjusting device according to claim 1 .
前記学習部は、
前記適否判定結果に関連する報酬を求める報酬計算部と、
前記報酬を用いて、前記測定動作に掛かる時間に対する前記測定動作の測定動作パラメータの調整行動の価値を表す関数を更新する価値関数更新部と、
を備え、
前記報酬計算部は、前記測定動作に掛かる時間が短い程、高い報酬を与え、前記測定動作に掛かる時間が遅い程、また、前記測定対象物、前記測定装置に破損が生じた場合、前記測定対象物が動いてしまった場合、低い報酬を与える、
請求項1又は2に記載の測定動作パラメータ調整装置。
The learning unit
The remuneration calculation unit that obtains the remuneration related to the suitability judgment result,
Using the reward, a value function update unit that updates a function representing the value of the adjustment action of the measurement action parameter of the measurement action with respect to the time required for the measurement action, and
With
The reward calculation unit gives a higher reward as the time required for the measurement operation is shorter, and when the measurement object and the measuring device are damaged, the measurement is performed as the time required for the measurement operation is slower. If the object moves, give a low reward,
The measurement operation parameter adjusting device according to claim 1 or 2 .
前記学習部は、前記状態変数と前記判定データとを多層構造で演算する、
請求項1又は2に記載の測定動作パラメータ調整装置。
The learning unit calculates the state variable and the determination data in a multi-layer structure.
The measurement operation parameter adjusting device according to claim 1 or 2 .
前記機械学習装置は、
前記状態観測部が観測した状態変数と、前記学習モデルとに基づいて、測定動作の測定動作パラメータの調整を決定する意思決定部をさらに備える、
請求項1に記載の測定動作パラメータ調整装置。
The machine learning device
A decision-making unit that determines adjustment of measurement operation parameters of measurement operation based on the state variables observed by the state observation unit and the learning model is further provided.
The measurement operation parameter adjusting device according to claim 1 .
前記機械学習装置は、クラウドサーバに存在する、
請求項1〜5のいずれか1つに記載の測定動作パラメータ調整装置。
The machine learning device exists in the cloud server.
The measurement operation parameter adjusting device according to any one of claims 1 to 5 .
測定対象物の設置位置を測定する測定装置で実行される測定動作の測定動作パラメータを示す測定動作パラメータデータ、及び該測定動作に掛かる時間を示す測定時間データを、環境の現在状態を表す状態変数として観測し、該状態変数に基づいて、前記測定動作パラメータの調整をモデル化した学習モデルを用いた学習乃至意思決定をする、The measurement operation parameter data indicating the measurement operation parameters of the measurement operation executed by the measuring device for measuring the installation position of the measurement object and the measurement time data indicating the time required for the measurement operation are state variables representing the current state of the environment. Based on the state variable, learning or making a decision using a learning model that models the adjustment of the measurement operation parameters.
機械学習装置であって、It ’s a machine learning device,
前記測定動作の測定動作パラメータを示す測定動作パラメータデータ、及び該測定動作に掛かる時間を示す測定時間データを、環境の現在状態を表す状態変数として観測する状態観測部と、 A state observation unit that observes measurement operation parameter data indicating the measurement operation parameters of the measurement operation and measurement time data indicating the time required for the measurement operation as state variables representing the current state of the environment.
前記測定動作の測定動作パラメータに基づいて実行された測定動作の適否を判定する測定動作判定データを、前記測定動作の適否判定結果を示す判定データとして取得する判定データ取得部と、A determination data acquisition unit that acquires measurement operation determination data for determining the suitability of a measurement operation executed based on the measurement operation parameters of the measurement operation as determination data indicating the suitability determination result of the measurement operation.
前記状態変数と前記判定データとを用いて、前記測定動作に掛かる時間と、前記測定動作の測定動作パラメータの調整とを関連付けて学習した前記学習モデルを生成する学習部と、A learning unit that generates the learning model learned by associating the time required for the measurement operation with the adjustment of the measurement operation parameter of the measurement operation using the state variable and the determination data.
を備える機械学習装置。A machine learning device equipped with.
前記状態観測部が観測した状態変数と、前記学習モデルとに基づいて、測定動作の測定動作パラメータの調整を決定する意思決定部と、
を備える請求項7に記載の機械学習装置。
A decision-making unit that determines adjustment of measurement operation parameters of measurement operation based on the state variables observed by the state observation unit and the learning model.
7. The machine learning device according to claim 7 .
複数の装置がネットワークを介して相互に接続されたシステムであって、
前記複数の装置は、少なくとも請求項1に記載された第1の測定動作パラメータ調整装置を含む
システム
A system in which multiple devices are connected to each other via a network.
The plurality of devices include at least the first measurement operation parameter adjusting device according to claim 1.
System .
前記複数の装置は、機械学習装置を備えたコンピュータを含み、
前記コンピュータは、前記測定動作パラメータ調整装置の前記学習部における学習により生成された少なくとも1つの学習モデルを取得し、
前記コンピュータが備える機械学習装置は、取得した前記学習モデルに基づいて最適化乃至効率化を行う、
請求項9に記載のシステム
The plurality of devices include a computer equipped with a machine learning device.
The computer acquires at least one learning model generated by learning in the learning unit of the measurement operation parameter adjusting device.
The machine learning device included in the computer optimizes or improves efficiency based on the acquired learning model.
The system according to claim 9 .
前記複数の装置は、前記第1の測定動作パラメータ調整装置とは異なる第2の測定動作パラメータ調整装置を含み、
前記第1の測定動作パラメータ調整装置が備える学習部による学習モデルは、前記第2の測定動作パラメータ調整装置と共有される、
請求項9に記載のシステム。
The plurality of devices include a second measurement operation parameter adjusting device different from the first measurement operation parameter adjusting device.
The learning model by the learning unit included in the first measurement operation parameter adjusting device is shared with the second measurement operation parameter adjusting device.
The system according to claim 9 .
前記複数の装置は、測定装置を制御する制御装置を含み、
前記制御装置において取得された前記測定装置に係るデータは、前記ネットワークを介して前記第1の測定動作パラメータ調整装置が備える学習部による学習に利用可能である、請求項9に記載のシステム。
The plurality of devices include a control device for controlling the measuring device.
The system according to claim 9, wherein the data related to the measuring device acquired by the control device can be used for learning by the learning unit included in the first measuring operation parameter adjusting device via the network .
測定対象物の設置位置を測定する測定動作の測定動作パラメータを示す測定動作パラメータデータ、及び該測定動作に掛かる時間を示す測定時間データを、環境の現在状態を表す状態変数として観測し、該状態変数に基づいて、前記測定動作パラメータの調整をモデル化した学習モデルを用いた学習乃至意思決定をするステップを、測定対象物の設置位置を測定する測定装置で実行する測定動作パラメータの調整の学習乃至意思決定をする方法であって、
前記学習モデルを用いた学習乃至意思決定をするステップは、
前記測定動作の測定動作パラメータを示す測定動作パラメータデータ、及び該測定動作に掛かる時間を示す測定時間データを、環境の現在状態を表す状態変数として観測するステップと、
前記測定動作の測定動作パラメータに基づいて実行された測定動作の適否を判定する測定動作判定データを、前記測定動作の適否判定結果を示す判定データとして取得するステップと、
前記状態変数と前記判定データとを用いて、前記測定動作に掛かる時間と、前記測定動作の測定動作パラメータの調整とを関連付けて学習する学習するステップと、
を実行する測定動作パラメータの調整の学習乃至意思決定をする方法
The measurement operation parameter data indicating the measurement operation parameters of the measurement operation for measuring the installation position of the measurement object and the measurement time data indicating the time required for the measurement operation are observed as state variables representing the current state of the environment, and the state is observed. Learning the adjustment of measurement operation parameters by executing the step of learning or making a decision using the learning model that models the adjustment of the measurement operation parameters based on the variables with the measuring device that measures the installation position of the measurement object. Or a way to make decisions
The step of learning or making a decision using the learning model is
A step of observing measurement operation parameter data indicating the measurement operation parameters of the measurement operation and measurement time data indicating the time required for the measurement operation as state variables representing the current state of the environment.
A step of acquiring measurement operation determination data for determining the suitability of a measurement operation executed based on the measurement operation parameters of the measurement operation as determination data indicating the suitability determination result of the measurement operation.
A learning step of learning by associating the time required for the measurement operation with the adjustment of the measurement operation parameter of the measurement operation using the state variable and the determination data.
A method of learning or making decisions about the adjustment of measurement operating parameters .
前記学習モデルを用いた学習乃至意思決定をするステップは、
観測した状態変数と、測定動作に掛かる時間及び測定動作の測定動作パラメータの調整を関連付けて学習した学習結果とに基づいて、測定動作の測定動作パラメータの調整を決定するステップを更に実行する、
請求項13に記載の測定動作パラメータの調整の学習乃至意思決定をする方法
The step of learning or making a decision using the learning model is
Further performing a step of determining the adjustment of the measurement motion parameter of the measurement motion based on the observed state variable and the learning result learned by associating the time required for the measurement motion and the adjustment of the measurement motion parameter of the measurement motion.
The method for learning or making a decision on adjustment of measurement operation parameters according to claim 13 .
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