[go: up one dir, main page]

JP6871095B2 - ガラスインターポーザの製造方法 - Google Patents

ガラスインターポーザの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6871095B2
JP6871095B2 JP2017137823A JP2017137823A JP6871095B2 JP 6871095 B2 JP6871095 B2 JP 6871095B2 JP 2017137823 A JP2017137823 A JP 2017137823A JP 2017137823 A JP2017137823 A JP 2017137823A JP 6871095 B2 JP6871095 B2 JP 6871095B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
glass substrate
groove
glass
back surface
forming step
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017137823A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2019021720A (ja
Inventor
翼 小幡
翼 小幡
哲 熊澤
哲 熊澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Corp filed Critical Disco Corp
Priority to JP2017137823A priority Critical patent/JP6871095B2/ja
Priority to TW107119100A priority patent/TWI756437B/zh
Priority to SG10201805783SA priority patent/SG10201805783SA/en
Priority to KR1020180077625A priority patent/KR102433150B1/ko
Priority to CN201810757318.2A priority patent/CN109256369B/zh
Priority to US16/034,630 priority patent/US10796926B2/en
Publication of JP2019021720A publication Critical patent/JP2019021720A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6871095B2 publication Critical patent/JP6871095B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00Severing cooled glass
    • C03B33/02Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor
    • C03B33/023Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor the sheet or ribbon being in a horizontal position
    • C03B33/033Apparatus for opening score lines in glass sheets
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/0006Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring taking account of the properties of the material involved
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/08Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/36Removing material
    • B23K26/362Laser etching
    • B23K26/364Laser etching for making a groove or trench, e.g. for scribing a break initiation groove
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/36Removing material
    • B23K26/40Removing material taking account of the properties of the material involved
    • B23K26/402Removing material taking account of the properties of the material involved involving non-metallic material, e.g. isolators
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/50Working by transmitting the laser beam through or within the workpiece
    • B23K26/53Working by transmitting the laser beam through or within the workpiece for modifying or reforming the material inside the workpiece, e.g. for producing break initiation cracks
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00Severing cooled glass
    • C03B33/02Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor
    • C03B33/0222Scoring using a focussed radiation beam, e.g. laser
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00Severing cooled glass
    • C03B33/07Cutting armoured, multi-layered, coated or laminated, glass products
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00Severing cooled glass
    • C03B33/07Cutting armoured, multi-layered, coated or laminated, glass products
    • C03B33/074Glass products comprising an outer layer or surface coating of non-glass material
    • H10W70/05
    • H10W70/095
    • H10W70/635
    • H10W70/65
    • H10W70/69
    • H10W70/692
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K2101/00Articles made by soldering, welding or cutting
    • B23K2101/36Electric or electronic devices
    • B23K2101/40Semiconductor devices
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K2101/00Articles made by soldering, welding or cutting
    • B23K2101/36Electric or electronic devices
    • B23K2101/42Printed circuits
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K2103/00Materials to be soldered, welded or cut
    • B23K2103/16Composite materials, e.g. fibre reinforced
    • B23K2103/166Multilayered materials
    • B23K2103/172Multilayered materials wherein at least one of the layers is non-metallic
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K2103/00Materials to be soldered, welded or cut
    • B23K2103/30Organic material
    • B23K2103/42Plastics
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K2103/00Materials to be soldered, welded or cut
    • B23K2103/50Inorganic material, e.g. metals, not provided for in B23K2103/02 – B23K2103/26
    • B23K2103/54Glass
    • H10W70/685

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Oil, Petroleum & Natural Gas (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Re-Forming, After-Treatment, Cutting And Transporting Of Glass Products (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Dicing (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Processing Of Stones Or Stones Resemblance Materials (AREA)

Description

本発明は、ガラス基板を用いたガラスインターポーザの製造方法に関する。
近年、シリコンで形成されるインターポーザを介して複数の半導体チップを実装する実装技術がある。シリコンからなるインターポーザは、微細な配線を形成するときに半導体製造プロセス技術を活用することができ有用性が大きいし、熱伝導率が高く放熱性に優れている(例えば、下記の特許文献1を参照)。しかし、エポキシ樹脂で形成されるインターポーザと比較して高価である。
そこで、シリコンと同じく無機材料で低価格なガラス基板でインターポーザを形成する技術が提案されている(例えば、下記の特許文献2及び3を参照)。このインターポーザは、ガラス基板の表面と裏面とに絶縁層(樹脂層)と金属の配線層とからなる積層体と、ガラス基板を貫通する複数の貫通電極とを備えている。そして、ガラス基板を分割してインターポーザを得るためには、予め設定されている分割予定ラインに沿って例えば切削ブレードを切り込ませて積層体とガラス基板とを分割している。
特開2004−158776号公報 特開2015−198212号公報 特開2015−146401号公報
ここで、絶縁層は、ガラス基板の表面と裏面とに形成される配線層に広げ冷却し硬化させ形成する。樹脂を冷却するときに収縮するので絶縁層には収縮する力の応力が残存している。その後、分割予定ラインに沿って切削して個々のインターポーザ分割すると、積層体がガラス基板から剥がれるという問題がある。これは、切削した切削断面(カーフ)に発生しているチッピング(凹部)が起点となって、積層体がガラス基板から剥がれていると考えられる。そのため、細かい砥粒で形成した高番手の切削ブレードで切削し側面のチッピングの凸凹を小さくすると積層体の剥がれを抑制できるが、剥がれを完全に阻止することはできず、加工時間が増加してしまう。また、積層体とガラス基板とを同時に切削すると、切削ブレードが積層体に引っ掛かって積層体をガラス基板から剥がしてしまうため、積層体とガラス基板とを別々に切削する必要があり、加工時間が増加するという問題がある。
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたもので、ガラス基板を分割するときにガラス基板から積層体が剥がれないようにすることを目的としている。
本発明は、表面及び裏面を貫通した複数の貫通電極と、表面及び裏面に配線層と樹脂層とを交互に形成した積層体と、格子状に設定された複数の分割予定ラインとを備えるガラス基板を該分割予定ラインに沿って分割し小片化したガラスインターポーザの製造方法であって、該ガラス基板の表面及び裏面に形成した積層体を該分割予定ラインに沿って加工して第1の幅で該ガラス基板に達しない深さの第1の溝を形成し、該第1の溝の底に樹脂残し部を残す第1の溝形成工程と、該樹脂層に対して吸収性を有する波長のレーザビームを該第1の溝形成工程で形成した該第1の溝の底に照射し該樹脂残し部をアブレーション加工して該ガラス基板の表面及び裏面を露出させ該第1の幅より狭い第2の幅を有する第2の溝を形成する第2の溝形成工程と、該ガラス基板に対して透過性を有する波長のレーザビームを該ガラス基板の表面または裏面の該第2の溝から該ガラス基板内部に集光して該分割予定ラインに沿って照射することにより該ガラス基板内部に改質層を形成する改質層形成工程と、該ガラス基板に外力を与えて該改質層を起点に該ガラス基板を分割する分割工程と、を備え、該ガラス基板が分割され小片化した該ガラスインターポーザは、表面及び裏面に該第1の溝形成工程で形成された該樹脂残し部が外周部分に形成され該積層体を備えることを特徴とする。
上記第1の溝形成工程は、切削ブレードを用いて上記第1の溝を形成することが望ましい。
本発明に係るガラスインターポーザの製造方法は、ガラス基板の表面及び裏面に形成した積層体を分割予定ラインに沿って加工して第1の幅でガラス基板に達しない深さの第1の溝を形成し、第1の溝の底に樹脂残し部を残す第1の溝形成工程と、樹脂層に対して吸収性を有する波長のレーザビームを第1の溝の底に照射し樹脂残し部をアブレーション加工してガラス基板の表面及び裏面を露出させ第1の幅より狭い第2の幅を有する第2の溝を形成する第2の溝形成工程と、ガラス基板に対して透過性を有する波長のレーザビームをガラス基板の表面または裏面の第2の溝からガラス基板内部に集光して分割予定ラインに沿って照射することによりガラス基板内部に改質層を形成する改質層形成工程と、ガラス基板に外力を与えて改質層を起点にガラス基板を分割する分割工程とを備え、ガラス基板が分割され小片化したガラスインターポーザは、表面及び裏面に第1の溝形成工程で形成された樹脂残し部が外周部分に形成された積層体を備えるため、ガラス基板を分割する際に、樹脂残し部に応力が作用することがなく、ガラス基板から積層体が剥がれるのを防止でき、所望のガラスインターポーザを効率よく取得することができる。
また、上記第1の溝形成工程は、切削ブレードを用いて第1の溝を形成するため、加工時間を短縮することができる。さらに、本発明によれば、切削ブレードで積層体とガラス基板とを同時に分割しないため、切削ブレードが積層体に引っ掛かってガラス基板から積層体が剥がれるおそれがなく、加工時間を増加させることがない。
ガラス基板の一部拡大断面図である。 第1の溝形成工程を示す一部拡大断面図である。 切削ブレードを用いて第1の溝を形成する状態を示す一部拡大断面図である。 第2の溝形成工程を示す一部拡大断面図である。 改質層形成工程を示す一部拡大断面図である。 改質層形成工程を実施した後のガラス基板の一部拡大断面図である。 分割工程を示す一部拡大断面図である。 ガラスインターポーザを示す斜視図である。
1 ガラス基板
図1に示すガラス基板1は、例えば、ソーダライムガラス、無アルカリガラス、石英ガラスなどの材質で円板状に形成されている。ガラス基板1は、格子状に設定され複数の領域に区画した分割予定ライン2(点線で図示)と、ガラス基板1の表面1a及び裏面1bを貫通した複数の貫通電極3と、ガラス基板1の表面1a及び裏面1bに配線層5と樹脂層6とを交互に形成した積層体4とを備えている。
樹脂層6は絶縁層であり、配線層5は金属等の導体で構成されている。隣接する配線層5の間は、樹脂層6によって絶縁されている。本実施形態に示すガラス基板1では、ガラス基板1の表面1aに積層された積層体4の露出面4aが半導体チップの積層面となっている。一方、ガラス基板1の裏面1bに積層された積層体4の露出面4bは、基板実装面となっている。表面1a側の配線層5と裏面1b側の配線層5とは、貫通電極3によって接続されている。
2 ガラスインターポーザの製造方法
次に、上記のガラス基板1を複数のガラスインターポーザに小片化するガラスインターポーザの製造方法について詳述する。
(1)第1の溝形成工程
図2に示すように、分割予定ライン2に沿って表面1a及び裏面1bを加工することにより第1の幅L1でガラス基板1に達しない深さの第1の溝20を形成する切削加工を行う。第1の溝形成工程では、図3に示すように、例えば切削ブレード10を用いて第1の溝20を形成することが望ましい。
切削ブレード10は、例えばダイヤモンド砥粒やCBN(Cubic Boron Nitride)砥粒をボンド材で固めた切り刃によって構成されている。切削ブレード10を構成する砥粒やボンド材の材質は、積層体4の材質等に応じて適宜設定されている。切削ブレード10に含まれる砥粒の粒径は、特に限定されないが、例えば、20μm〜40μm程度、より好ましくは25μm〜35μm程度となっている。また、切削ブレード10の幅についても、特に限定されず、例えば、150μm〜500μm程度、より好ましくは200μm〜300μm程度に設定されている。切削ブレード10は、図示していないが、水平方向に対して平行な軸心を有するスピンドルの先端に装着され、スピンドルが回転することにより切削ブレード10も回転する構成となっている。
まず、ガラス基板1の表面1a側を上向きにして、裏面1b側を図示しない保持テーブルで保持する。図3(a)に示すように、ガラス基板1を切削ブレード10の下方側に移動させ、切削ブレード10と切削すべき分割予定ライン2との位置合わせを行う。続いて、切削ブレード10を回転させながら、積層体4の露出面4a側からガラス基板1に達しない深さまで切削ブレード10の刃先10aを切り込ませ、ガラス基板1と切削ブレード10とを相対的に水平移動させる。そして、回転する切削ブレード10で分割予定ライン2に沿って図2に示す第1の幅L1でガラス基板1に達しない深さの第1の溝20を形成し、第1の溝20の底20aに厚みTを有する樹脂残し部60を残す。
第1の幅L1は、切削ブレード10の幅に応じた大きさとなっている。第1の溝20の底20aに残った樹脂残し部60の厚みTは、例えば20μm程度の薄い厚みとなっている。全ての分割予定ライン2に沿ってガラス基板1の表面1a側の積層体4に第1の溝20を形成したら、図3(b)に示すように、ガラス基板1の表裏を反転させ、上記同様に、切削ブレード10を回転させながら、積層体4の露出面4b側からガラス基板1に達しない深さまで切削ブレード10の刃先10aを切り込ませ、ガラス基板1と切削ブレード10とを相対的に水平移動させることで、第1の溝20を形成し、図2に示した第1の溝20の底20aに樹脂残し部60を残す。そして、全ての分割予定ライン2に沿ってガラス基板1の裏面1b側の積層体4に第1の溝20を形成したら、第1の溝形成工程が完了する。
本実施形態では、切削ブレード10を用いてガラス基板1の表面1aに積層された積層体4に第1の溝20を形成した後に、切削ブレード10を用いてガラス基板1の裏面1bに積層された積層体4に第1の溝20を形成した場合を説明したが、この場合に限定されない。したがって、ガラス基板1の裏面1bに積層された積層体4に第1の溝20を形成してから、ガラス基板1の表面1aに積層された積層体4に第1の溝20を形成してもよい。
切削ブレード10を用いて第1の溝形成工程を実施することにより、1本の分割予定ライン2を1パス(1回の加工送り)の切削動作で第1の溝20を形成することができるため、加工時間の短縮化を図れる。なお、第1の溝形成工程は、レーザビームの照射によるアブレーション加工によって実施してもよいが、切削ブレード10により第1の溝20を形成する場合と比較してレーザビームの照射のパス数が多くなり、加工時間がかかるため、切削ブレード10を用いて第1の溝形成工程を実施することがより好ましい。
(2)第2の溝形成工程
図4に示すように、レーザビーム照射手段30を用いて第1の溝形成工程で形成した第1の溝20の底20aにアブレーション加工を行う。レーザビーム照射手段30は、樹脂層6に対して吸収性を有する波長のレーザビームLB1を照射する図示しない加工ヘッドと、加工ヘッドに内蔵されレーザビームLB1を集光するための集光レンズ31と、レーザビームLB1の集光点の位置を調節するための位置調整ユニット(図示せず)とを備えている。
アブレーション加工を行う際には、ガラス基板1の裏面1b側を保持テーブルで保持し、ガラス基板1の表面1aに積層された積層体4の露出面4aを上向きに露出させる。次いで、第1の溝20とレーザビーム照射手段30の加工ヘッドとの位置合わせを行い、レーザビームLB1の集光点をガラス基板1の表面1aの高さ位置に調整する。
レーザビーム照射手段30とガラス基板1とを相対的にガラス基板1に対して平行な方向に移動させつつ、加工ヘッドから第1の溝20の底20aに対して吸収性の波長を有するレーザビームLB1を照射することにより、樹脂残し部60をアブレーション加工してガラス基板1の表面1aを露出させ、図2に示した第1の幅L1より狭い第2の幅L2を有する第2の溝21を形成する。第2の幅L2は、特に限定されるものではなく、例えば、50μm〜150μmに設定される。
全ての第1の溝20に沿ってガラス基板1の表面1a側の積層体4に第2の溝21を形成したら、ガラス基板1の表裏を反転させ、レーザビーム照射手段30とガラス基板1とを相対的にガラス基板1に対して平行な方向に移動させつつ、上記同様に樹脂残し部60にアブレーション加工を行い、ガラス基板1の裏面1bを露出させる第2の溝21を形成する。そして、全ての第1の溝20に沿ってガラス基板1の裏面1b側の積層体4にも第2の溝21を形成したら、第2の溝形成工程が完了する。なお、レーザビームLB1の照射のパス数は特に限定されず、1本の第1の溝20に沿って複数回に分けてレーザビームLB1を照射することにより、第2の溝21を形成してもよい。
本実施形態では、ガラス基板1の表面1a側の積層体4に第1の溝20に沿った第2の溝21を形成した後に、ガラス基板1の裏面1b側の積層体4に第1の溝20に沿った第2の溝21を形成した場合を説明したが、この場合に限定されない。したがって、ガラス基板1の裏面1b側の積層体4に第1の溝20に沿った第2の溝21を形成してから、ガラス基板1の表面1a側の積層体4に第1の溝20に沿った第2の溝21を形成してもよい。
(3)改質層形成工程
図5に示すように、レーザビーム照射手段30Aを用いて、ガラス基板1に対して透過性を有する波長のレーザビームLB2をガラス基板1に向けて照射し、改質層40を形成する。レーザビーム照射手段30Aは、ガラス基板1に対して吸収性を有する波長のレーザビームLB2を照射する図示しない加工ヘッドと、加工ヘッドに内蔵されレーザビームLB1を集光するための集光レンズ32と、レーザビームLB2の集光点の位置を調節するための位置調整ユニット(図示せず)とを備えている。
まず、粘着テープ7をガラス基板1の裏面1bに積層された積層体4の露出面4bに貼着してから、粘着テープ7を介してガラス基板1の裏面1b側を保持テーブルで保持し、表面1aに積層された積層体4の露出面4aを上向きに露出させる。なお、粘着テープ7は、エキスパンド性を有していればよく、例えば、ポリオレフィンやポリ塩化ビニル等の基材層に粘着層が積層されたエキスパンドテープを用いることができる。
次いで、レーザビーム照射手段30Aは、集光レンズ32をガラス基板1に接近する方向に下降させ、レーザビームLB2の集光点をガラス基板1の内部に位置づける。レーザビームLB2の集光点をガラス基板1の内部に位置づけた状態で、レーザビーム照射手段30Aとガラス基板1とを相対的にガラス基板1に対して平行な方向に移動させつつ、加工ヘッドは、レーザビームLB2をガラス基板1の表面1aの第2の溝21から図1に示した分割予定ライン2に沿って照射することにより改質層40を形成する。改質層40は、レーザビームLB2の照射によってガラス基板1の内部の強度や物理的な特性が変化した領域であり、分割起点となる。全ての分割予定ライン2に沿ってレーザビームLB2を繰返し照射することにより、ガラス基板1の内部に改質層40を形成する。
ここで、ガラス基板1の内部の厚み方向に形成される改質層40の数は、1層でもよいし、2層以上でもよい。したがって、ガラス基板1の内部に複数の改質層40を形成する場合は、レーザビーム照射手段30Aは、集光レンズ32の位置をずらして、よりガラス基板1の裏面1b側にレーザビームLB2の集光点を位置づけてレーザビームLB2を照射して改質層40を形成する。次いで、レーザビーム照射手段30Aは、集光レンズ32の位置を上方側にずらして、裏面1b側から表面1a側へと均等な間隔をあけてレーザビームLB2を照射することにより、複数の改質層40を形成する。このようにして、レーザビームLB2の照射による改質層40の形成を繰り返し行い、例えば、図6に示すように、ガラス基板1の内部に3層の改質層40を形成してもよい。
本実施形態では、ガラス基板1の表面1a側から改質層40を形成したが、ガラス基板1の裏面1b側からガラス基板1内部にレーザビームLB2を分割予定ライン2に沿って照射することにより改質層40を形成してもよい。
(5)分割工程
図7に示すように、ガラス基板1に外力を与えて改質層40を起点にガラス基板1を分割する。例えば、粘着テープ7をガラス基板1の面方向に拡張することができる拡張装置を用いて、粘着テープ7の周縁側を外側に引っ張って拡張させる。粘着テープ7の拡張にともないガラス基板1に外力が付与されると、図6に示した改質層40が分割起点となりガラス基板1が分割されて複数のガラスインターポーザ8に小片化される。
図8に示すように、ガラスインターポーザ8は、ガラス基板1の表面1a及び裏面1bに上記第1の溝形成工程で形成された樹脂残し部60が外周部分に形成された積層体4を備えている。ここで、積層体4を構成する樹脂層6には、積層体4の形成時(冷却・硬化)において収縮して残留応力が存在しているが、図7に示す第1の溝20の底20aに残った樹脂残し部60は薄いことから、ガラス基板1に外力を付与して分割するときに樹脂残し部60に応力が作用しない。したがって、ガラス基板1から積層体4が剥がれることなく、ガラス基板1から複数のガラスインターポーザ8を小片化できる。
ガラス基板1に外力を付与する装置としては、上記した拡張装置に限られず、例えば、ブレーキングブレードにより曲げ応力を加えながらガラス基板1を破断して個々のガラスインターポーザ8に分割することができるブレーキング装置を用いてもよい。
このように、本発明に係るガラスインターポーザの製造方法では、ガラス基板1の表面1a及び裏面1bに形成した積層体4を分割予定ライン2に沿って加工して第1の幅L1でガラス基板1に達しない深さの第1の溝20を形成して第1の溝20の底20aに樹脂残し部60を残した後、樹脂残し部60をアブレーション加工してガラス基板1の表面1a及び裏面1bを露出させ第1の幅L1より狭い第2の幅L2を有する第2の溝21を形成し、第2の溝21から分割予定ライン2に沿ってレーザビームLB2を照射することによりガラス基板1内部に改質層40を形成し、ガラス基板1に外力を与えて改質層40を起点にガラス基板1を分割するように構成したため、ガラス基板1を分割する際に、第1の溝20の底20aに残った樹脂残し部60に応力が作用することがなく、ガラス基板1から積層体4が剥がれるのを防止でき、所望のガラスインターポーザ8を効率よく取得することができる。
また、本発明では、切削ブレード10を用いて第1の溝形成工程を実施するため、加工時間を短縮することができる。さらに、本発明によれば、切削ブレード10で積層体4とガラス基板1とを同時に分割しないため、切削ブレード10が積層体4に引っ掛かってガラス基板1から積層体4が剥がれるおそれがなく、加工時間を増加させることがない。
1:ガラス基板 1a:表面 1b:裏面 2:分割予定ライン 3:貫通電極
4:積層体 5:配線層 6:樹脂層 60:樹脂残し部 7:粘着テープ
8:ガラスインターポーザ
10:切削ブレード 10a:刃先 20:第1の溝 20a:底 21:第2の溝
30,30A:レーザビーム照射手段 31,32:集光レンズ 40:改質層

Claims (2)

  1. 表面及び裏面を貫通した複数の貫通電極と、表面及び裏面に配線層と樹脂層とを交互に形成した積層体と、格子状に設定された複数の分割予定ラインとを備えるガラス基板を該分割予定ラインに沿って分割し小片化したガラスインターポーザの製造方法であって、
    該ガラス基板の表面及び裏面に形成した積層体を該分割予定ラインに沿って加工して第1の幅で該ガラス基板に達しない深さの第1の溝を形成し、該第1の溝の底に樹脂残し部を残す第1の溝形成工程と、
    該樹脂層に対して吸収性を有する波長のレーザビームを該第1の溝形成工程で形成した該第1の溝の底に照射し該樹脂残し部をアブレーション加工して該ガラス基板の表面及び裏面を露出させ該第1の幅より狭い第2の幅を有する第2の溝を形成する第2の溝形成工程と、
    該ガラス基板に対して透過性を有する波長のレーザビームを該ガラス基板の表面または裏面の該第2の溝から該ガラス基板内部に集光して該分割予定ラインに沿って照射することにより該ガラス基板内部に改質層を形成する改質層形成工程と、
    該ガラス基板に外力を与えて該改質層を起点に該ガラス基板を分割する分割工程と、を備え、
    該ガラス基板が分割され小片化した該ガラスインターポーザは、表面及び裏面に該第1の溝形成工程で形成された該樹脂残し部が外周部分に形成され該積層体を備えることを特徴とするガラスインターポーザの製造方法。
  2. 前記第1の溝形成工程は、切削ブレードを用いて前記第1の溝を形成する請求項1記載のガラスインターポーザの製造方法。
JP2017137823A 2017-07-14 2017-07-14 ガラスインターポーザの製造方法 Active JP6871095B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017137823A JP6871095B2 (ja) 2017-07-14 2017-07-14 ガラスインターポーザの製造方法
TW107119100A TWI756437B (zh) 2017-07-14 2018-06-04 玻璃中介層之製造方法
SG10201805783SA SG10201805783SA (en) 2017-07-14 2018-07-04 Method of manufacturing glass interposer
KR1020180077625A KR102433150B1 (ko) 2017-07-14 2018-07-04 유리 인터포저의 제조 방법
CN201810757318.2A CN109256369B (zh) 2017-07-14 2018-07-11 玻璃中介层的制造方法
US16/034,630 US10796926B2 (en) 2017-07-14 2018-07-13 Method of manufacturing glass interposer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017137823A JP6871095B2 (ja) 2017-07-14 2017-07-14 ガラスインターポーザの製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019021720A JP2019021720A (ja) 2019-02-07
JP6871095B2 true JP6871095B2 (ja) 2021-05-12

Family

ID=65000191

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017137823A Active JP6871095B2 (ja) 2017-07-14 2017-07-14 ガラスインターポーザの製造方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10796926B2 (ja)
JP (1) JP6871095B2 (ja)
KR (1) KR102433150B1 (ja)
CN (1) CN109256369B (ja)
SG (1) SG10201805783SA (ja)
TW (1) TWI756437B (ja)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11387130B2 (en) * 2019-01-25 2022-07-12 Semiconductor Components Industries, Llc Substrate alignment systems and related methods
KR102412292B1 (ko) 2019-03-07 2022-06-22 앱솔릭스 인코포레이티드 패키징 기판 및 이를 포함하는 반도체 장치
CN113261094B (zh) 2019-03-07 2024-04-16 爱玻索立克公司 封装基板及包括其的半导体装置
JP2022523898A (ja) 2019-03-12 2022-04-27 アブソリックス インコーポレイテッド パッケージング基板及びその製造方法
PL3916771T3 (pl) 2019-03-12 2025-09-01 Absolics Inc. Podłoże opakowaniowe i urządzenie półprzewodnikowe zawierające takie podłoże
US11967542B2 (en) 2019-03-12 2024-04-23 Absolics Inc. Packaging substrate, and semiconductor device comprising same
WO2020185020A1 (ko) 2019-03-12 2020-09-17 에스케이씨 주식회사 유리를 포함하는 기판의 적재 카세트 및 이를 적용한 기판의 적재방법
WO2020204473A1 (ko) 2019-03-29 2020-10-08 에스케이씨 주식회사 반도체용 패키징 유리기판, 반도체용 패키징 기판 및 반도체 장치
WO2021040178A1 (ko) 2019-08-23 2021-03-04 에스케이씨 주식회사 패키징 기판 및 이를 포함하는 반도체 장치
KR20220148197A (ko) * 2020-03-11 2022-11-04 닛토덴코 가부시키가이샤 복합재의 분단 방법
CN114425653A (zh) * 2020-10-29 2022-05-03 大族激光科技产业集团股份有限公司 一种封装基板的激光加工方法及激光加工系统
WO2023034260A1 (en) 2021-08-30 2023-03-09 Absolics, Inc. Packaging substrate, semiconductor package, packaging substrate preparation method, and semiconductor package preparation method
US20240112971A1 (en) * 2022-09-30 2024-04-04 Intel Corporation Singulation of integrated circuit package substrates with glass cores
CN119096704A (zh) * 2022-10-13 2024-12-06 株式会社力森诺科 薄型配线部件的制造方法、薄型配线部件及配线基板的制造方法
KR102883018B1 (ko) 2024-02-20 2025-11-10 이운경 마이크로채널 플레이트 기반의 비아를 갖는 반도체 기판 구조물 및 그 제조 방법
KR102888357B1 (ko) 2024-06-14 2025-11-18 경북대학교 산학협력단 유리 인터포저용 마이크로 홀 가공 장치 및 그 방법
KR102833095B1 (ko) 2024-06-14 2025-07-10 경북대학교 산학협력단 유리 인터포저용 마이크로 홀 가공 장치 및 그 방법
KR102833094B1 (ko) 2024-06-19 2025-07-10 경북대학교 산학협력단 유리 인터포저용 마이크로 홀 가공 장치 및 그 방법
KR20250178795A (ko) 2024-06-20 2025-12-29 경북대학교 산학협력단 유리 인터포저용 고집적 마이크로 홀 가공 장치 및 그 방법
KR102833097B1 (ko) 2024-06-20 2025-07-10 경북대학교 산학협력단 유리 인터포저용 마이크로 홀 가공 장치 및 그 방법
KR20260001912A (ko) 2024-06-28 2026-01-06 경북대학교 산학협력단 유리 인터포저용 고집적 마이크로 홀 가공방법
JP7768615B1 (ja) * 2024-08-23 2025-11-12 株式会社ミクロ技術研究所 ガラス配線基板の製造方法
CN119400776B (zh) * 2024-10-25 2025-10-17 厦门安捷利美维科技有限公司 一种降低应力的玻璃基板及其制作方法

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1027971A (ja) * 1996-07-10 1998-01-27 Nec Corp 有機薄膜多層配線基板の切断方法
JP2004158776A (ja) 2002-11-08 2004-06-03 Disco Abrasive Syst Ltd 半導体デバイスの製造方法
JP2007012733A (ja) * 2005-06-29 2007-01-18 Seiko Epson Corp 基板の分割方法
JP5064711B2 (ja) * 2006-04-07 2012-10-31 Agcテクノグラス株式会社 ガラス基板の切断方法及び光学フィルタ
KR102144324B1 (ko) * 2013-02-04 2020-08-13 에이지씨 가부시키가이샤 유리 기판의 절단 방법, 유리 기판, 근적외선 커트 필터 유리, 유리 기판의 제조 방법
JP2014159352A (ja) * 2013-02-20 2014-09-04 Nitto Denko Corp 可撓性フィルムの製造方法
JP2015092525A (ja) * 2013-11-08 2015-05-14 株式会社ディスコ ウエーハの加工方法
JP2015146401A (ja) 2014-02-04 2015-08-13 大日本印刷株式会社 ガラスインターポーザー
JP2015198212A (ja) 2014-04-03 2015-11-09 凸版印刷株式会社 ガラスインターポーザ
JP2016166120A (ja) * 2015-03-06 2016-09-15 三星ダイヤモンド工業株式会社 積層基板の加工方法及びレーザ光による積層基板の加工装置
JP6561566B2 (ja) * 2015-04-30 2019-08-21 三星ダイヤモンド工業株式会社 貼り合わせ基板の分割方法及び分割装置
JP2017073424A (ja) * 2015-10-05 2017-04-13 日本特殊陶業株式会社 配線基板及びその製造方法
JP6805511B2 (ja) * 2016-03-14 2020-12-23 凸版印刷株式会社 配線基板、およびその製造方法
US10414685B2 (en) * 2016-11-15 2019-09-17 Via Mechanics, Ltd. Substrate processing method

Also Published As

Publication number Publication date
KR102433150B1 (ko) 2022-08-17
TWI756437B (zh) 2022-03-01
CN109256369B (zh) 2023-08-18
US10796926B2 (en) 2020-10-06
TW201926567A (zh) 2019-07-01
JP2019021720A (ja) 2019-02-07
US20190019692A1 (en) 2019-01-17
KR20190008103A (ko) 2019-01-23
CN109256369A (zh) 2019-01-22
SG10201805783SA (en) 2019-02-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6871095B2 (ja) ガラスインターポーザの製造方法
JP4959422B2 (ja) ウエーハの分割方法
JP5259121B2 (ja) レーザー加工方法を用いた半導体装置の製造方法
JP2005064230A (ja) 板状物の分割方法
JP6775880B2 (ja) ウェーハの加工方法
JP2005064231A (ja) 板状物の分割方法
TWI673783B (zh) 封裝基板之加工方法
CN105047612A (zh) 晶片的加工方法
JP6523882B2 (ja) ウエーハの加工方法
JP6779574B2 (ja) インターポーザの製造方法
JP2018182260A (ja) 被加工物の加工方法
JP6808282B2 (ja) インターポーザの製造方法
JP6837709B2 (ja) デバイスウェーハのレーザ加工方法
JP7726690B2 (ja) チップの製造方法
JP6991475B2 (ja) 加工対象物切断方法
JP7486973B2 (ja) ウエーハの加工方法
JP2019102688A (ja) ウェーハの加工方法
JP6435140B2 (ja) ウエーハの分割方法
JP2015149445A (ja) ウェーハの加工方法
JP2015107491A (ja) レーザー加工方法
JP2011134799A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2018206795A (ja) ウェーハの加工方法
JP2024058321A (ja) ウエーハの加工方法
JP2019075504A (ja) ウェーハ及び接着フィルムの分割方法
KR20100067860A (ko) 형상화된 레이저 빔을 이용한 웨이퍼 가공 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200515

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210318

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210323

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210415

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6871095

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250